JP6335200B2 - スキャン内ダイナミックレンジを改善するための可変窓バンドパスフィルタリングを使用する調査スキャンからのイオンの除去 - Google Patents
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Description
本願は、米国仮特許出願第61/493,364号(2011年6月3日出願)の利益を主張する。該仮出願は、参照によりその全体が本明細書に引用される。
例えば、本願発明は以下の項目を提供する。
(項目1)
ある質量範囲からイオンをバンドパスフィルタリングするためのシステムであって、
質量分析器を含むタンデム質量分析計であって、前記タンデム質量分析計は、異なる調整パラメータ値を使用して、異なる質量選択窓幅でスキャンを行うことが可能であり、ある質量範囲のフルスキャンを行う、タンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、前記プロセッサは、
前記タンデム質量分析計から、前記フルスキャンに対するフルスペクトルを受信することと、
前記フルスペクトルの第1の質量選択窓を選択し、第1の組の調整パラメータ値を選択することと、
前記タンデム質量分析計に、前記第1の組の調整パラメータ値を使用して、前記第1の質量選択窓の第1のスキャンを行うように命令することと、
前記タンデム質量分析計から、前記第1のスキャンに対する第1のスペクトルを受信することと、
前記質量範囲に対するバンドパスフィルタリングされたスペクトルを生成することであって、前記質量範囲に対するバンドパスフィルタリングされたスペクトルは、前記質量範囲の前記第1の質量選択窓に対する前記第1のスペクトルからの値を含む、ことと
を行う、システム。
(項目2)
前記フルスキャンは、事前スキャンを備えている、項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記フルスキャンは、以前の調査スキャンを備えている、項目1または項目2に記載のシステム。
(項目4)
前記プロセッサは、
前記フルスペクトルの1つ以上の追加の質量選択窓を選択し、1つ以上の追加の組の調整パラメータ値を選択することであって、前記第1の質量選択窓および前記1つ以上の追加の質量選択窓は、前記フルスペクトル内で重複しない、ことと、
前記タンデム質量分析計に、前記1つ以上の追加の組の調整パラメータ値を使用して、前記1つ以上の追加の質量選択窓の1つ以上のスキャンを行うように命令することと、
前記タンデム質量分析計から、前記1つ以上のスキャンに対する1つ以上のスペクトルを受信することと、
前記バンドパスフィルタリングされたスペクトルに、前記質量範囲の前記1つ以上の追加の質量選択窓に対する前記1つ以上のスペクトルからの値を追加することと
をさらに行う、項目1〜3のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目5)
前記プロセッサは、
前記フルスペクトルの第2の質量選択窓を選択し、第2の組の調整パラメータ値を選択することであって、前記第1の質量選択窓と前記第2の質量選択窓とは、前記フルスペクトル内で重複しない、ことと、
前記タンデム質量分析計に、前記第2の組の調整パラメータ値を使用して、前記第2の質量選択窓の第2のスキャンを行うように命令することと、
前記タンデム質量分析計から、前記第2のスキャンに対する第2のスペクトルを受信することと、
前記バンドパスフィルタリングされたスペクトルに、前記質量範囲の前記第2の質量選択窓に対する前記第2のスペクトルからの値を追加することと
をさらに行う、項目1〜4のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目6)
プロセッサは、
前記第1の質量選択窓と前記第2の質量選択窓との間の前記フルスペクトルの第3の質量選択窓を選択することと、
前記バンドパスフィルタリングされたスペクトルに、前記質量範囲の前記第3の質量選択窓に対するゼロ値を追加することと
をさらに行う、項目1〜5のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目7)
前記第3の質量選択窓幅は、高強度イオンを備えている、項目1〜6のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目8)
前記第3の質量選択窓幅は、高イオン計数率を備えている、項目1〜7のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目9)
前記第3の質量選択窓幅は、以前に断片化されたイオンのリストからのイオンを備えている、項目1〜8のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目10)
前記第1の質量選択窓、前記第2の質量選択窓、および前記第3の質量選択窓は、同一の幅を有していない、項目1〜9のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目11)
前記第1の組の調整パラメータ値および前記第2の組の調整パラメータ値は、少なくとも1つの値を共有しない、項目1〜10のうちのいずれか一項に記載のシステム。
(項目12)
ある質量範囲から、イオンをバンドパスフィルタリングする方法であって、
質量分析器を含むタンデム質量分析計を使用して、ある質量範囲のフルスキャンに対するフルスペクトルを受信することであって、前記タンデム質量分析計は、異なる調整パラメータ値を使用して、異なる質量選択窓幅でスキャンを行うことが可能である、ことと、
前記フルスペクトルの第1の質量選択窓を選択し、第1の組の調整パラメータ値を選択することと、
前記タンデム質量分析計に、前記第1の組の調整パラメータ値を使用して、前記第1の質量選択窓の第1のスキャンを行うように命令することと、
前記タンデム質量分析計から、前記第1のスキャンに対する第1のスペクトルを受信することと、
前記質量範囲に対するバンドパスフィルタリングされたスペクトルを生成することと
であって、前記質量範囲に対するバンドパスフィルタリングされたスペクトルは、前記質量範囲の前記第1の質量選択窓に対する前記第1のスペクトルからの値を含む、ことと
を含む、方法。
(項目13)
前記フルスキャンは、事前スキャンを備えている、項目12に記載の方法。
(項目14)
前記フルスキャンは、以前の調査スキャンを備えている、項目12または項目13に記載の方法。
(項目15)
有形のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記記憶媒体のコンテンツは、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記命令は、ある質量範囲からイオンをバンドパスフィルタリングする方法を行い、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュールおよびフィルタリングモジュールを備えている、ことと、
質量分析器を含むタンデム質量分析計を使用して、ある質量範囲のフルスキャンに対するフルスペクトルを受信することであって、前記タンデム質量分析計は、前記測定モジュールを使用して、異なる調整パラメータ値を使用し、異なる質量選択窓幅でスキャンを行うことが可能である、ことと、
前記フィルタリングモジュールを使用して、前記フルスペクトルの第1の質量選択窓を選択し、第1の組の調整パラメータ値を選択することと、
前記タンデム質量分析計に、前記測定モジュールを使用して、前記第1の組の調整パラメータ値を使用し、前記第1の質量選択窓の第1のスキャンを行うように命令することと、
前記測定モジュールを使用して、前記タンデム質量分析計から、前記第1のスキャンに対する第1のスペクトルを受信することと、
前記フィルタリングモジュールを使用して、前記質量範囲に対するバンドパスフィルタリングされたスペクトルを生成することであって、前記質量範囲に対するバンドパスフィルタリングされたスペクトルは、前記質量範囲の前記第1の質量選択窓に対する前記第1のスペクトルからの値を含む、ことと
を含む、コンピュータプログラム製品
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を図示するブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するためにバス102と結合されたプロセッサ104とを含む。コンピュータシステム100は、プロセッサ104によって実行される命令を記憶するために、バス102に結合されるランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得るメモリ106も含む。メモリ106は、プロセッサ104によって実行される命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するためにも使用され得る。コンピュータシステム100は、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に結合された読取専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスをさらに含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために提供され、バス102に結合される。
前述のように、自動化方法が、タンデム質量分析計の質量分析器の検出器サブシステムによって生じる飽和を防止または回避するために開発された。しかしながら、そのような自動化方法は、概して、全イオンに等しく影響を及ぼすため、追加の望ましくない影響を生み出し得る。例えば、イオンビームを減衰させ、強力背景イオンの飽和を除去する、自動化方法は、着目イオンからの強度の損失をもたらし得る。
図2は、種々の実施形態による、ある質量範囲から、イオンをバンドパスフィルタリングするためのシステム200を示す、概略図である。システム200は、タンデム質量分析計210およびプロセッサ220を含む。プロセッサ220は、コンピュータ、マイクロプロセッサ、または制御信号およびデータを質量分析計210から送受信し、データを処理可能である、任意のデバイスであることができるが、それらに限定されない。
図3は、種々の実施形態による、ある質量範囲から、イオンをバンドパスフィルタリングする方法300を示す、例示的流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、有形のコンピュータ読み読み取り可能な記憶媒体を含み、そのコンテンツは、ある質量範囲から、イオンをバンドパスフィルタリングする方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む。本方法は、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含む、システムによって行われる。
Claims (20)
- ある質量範囲の前駆体イオン調査スキャンにおいて見つかった前駆体イオンが検出器サブシステム飽和を生み出すことが可能であるか否かに基づいて、前記質量範囲に対する前駆体イオン質量選択窓を選択するためのシステムであって、
前記システムは、
質量分析器を含むタンデム質量分析計であって、前記タンデム質量分析計は、ある質量範囲の前駆体イオン調査スキャンを行って、前記質量範囲に対するフル前駆体イオンスペクトルを生み出す、タンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、
前記タンデム質量分析計から前記フル前駆体イオンスペクトルを受信することと、
前記フル前駆体イオンスペクトルから、除去のために、前記質量分析器の検出器サブシステムにおいて飽和を生み出す前駆体イオンを識別することと、
前記質量範囲にわたって、除去のために識別された前記前駆体イオンに基づいて、可変窓幅を有する非重複前駆体質量選択窓を選択することであって、各前駆体質量選択窓は、除去のために識別された前駆体イオンを含めるように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを防止するように選択されるか、あるいは、除去のために識別された前駆体イオンを含めないように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを可能にし、結果として生じる断片化されたイオンが質量分析されることを可能にするように選択される、ことと
を行う、システム。 - 前記プロセッサは、
前記検出器サブシステムの総イオン計数率を超えるイオン計数率を有する、前記フル前駆体イオンスペクトル内の前駆体イオンを識別することによって、
除去のために、前記検出器サブシステムにおいて飽和を生み出す前駆体イオンを識別する、請求項1に記載のシステム。 - 前記プロセッサは、
前記検出器サブシステムの閾値強度を超える強度を有する、前記フル前駆体イオンスペクトル内の前駆体イオンを識別することによって、
除去のために、前記検出器サブシステムにおいて飽和を生み出す前駆体イオンを識別する、請求項1に記載のシステム。 - 前記プロセッサは、さらに、前記タンデム質量分析計に、
除去のために識別された前駆体イオンを含めないように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを可能にし、結果として生じる断片イオンが質量分析されることを可能にするように選択された前駆体質量選択窓のみの断片イオンを断片化および分析して、複数の断片イオンスペクトルを生み出すように命令する、請求項1に記載のシステム。 - 前記プロセッサは、
前記タンデム質量分析計から前記複数の断片イオンスペクトルを受信し、前記複数の断片イオンスペクトルから、バンドパスフィルタリングされた断片イオンスペクトルを生成する、請求項4に記載のシステム。 - プロセッサは、さらに、前記タンデム質量分析計に、
前記検出サブシステムに対する異なる調整パラメータを使用して、除去のために識別された前駆体イオンを含めないように選択された前記前駆体質量選択窓を断片化するように命令する、請求項1に記載のシステム。 - 前記調整パラメータは、前記検出サブシステムの最大総イオン電流を含む、請求項6に記載のシステム。
- 前記調整パラメータは、前記検出サブシステムの最大強度閾値を含む、請求項6に記載のシステム。
- ある質量範囲の前駆体イオン調査スキャンにおいて見つかった前駆体イオンが検出器サブシステム飽和を生み出すことが可能であるか否かに基づいて、前記質量範囲に対する前駆体イオン質量選択窓を選択するための方法であって、
前記方法は、
質量分析器を含むタンデム質量分析計を使用して、ある質量範囲のフルスキャンに対するフルスペクトルを受信することであって、前記タンデム質量分析計は、ある質量範囲の前駆体イオン調査スキャンを行って、前記質量範囲に対する前記フル前駆体イオンスペクトルを生み出す、ことと、
プロセッサを使用して、前記フル前駆体イオンスペクトルから、除去のために、前記質量分析器の検出器サブシステムにおいて飽和を生み出す前駆体イオンを識別することと、
前記プロセッサを使用して、前記質量範囲にわたって、除去のために識別された前記前駆体イオンに基づいて、可変窓幅を有する非重複前駆体質量選択窓を選択することであって、各前駆体質量選択窓は、除去のために識別された前駆体イオンを含めるように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを防止するように選択されるか、あるいは、除去のために識別された前駆体イオンを含めないように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを可能にし、結果として生じる断片化されたイオンが質量分析されることを可能にするように選択される、ことと
を含む、方法。 - 前記識別するステップは、
前記検出器サブシステムの総イオン計数率を超えるイオン計数率を有する、前記フル前駆体イオンスペクトル内の前駆体イオンを識別することを含む、請求項9に記載の方法。 - 前記識別するステップは、
前記検出器サブシステムの閾値強度を超える強度を有する、前記フル前駆体イオンスペクトル内の前駆体イオンを識別することを含む、請求項9に記載の方法。 - 前記タンデム質量分析計に、前記プロセッサを使用して、除去のために識別された前駆体イオンを含めないように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを可能にし、結果として生じる断片イオンが質量分析されることを可能にするように選択された前駆体質量選択窓のみの断片イオンを断片化および分析して、複数の断片イオンスペクトルを生み出すように命令することをさらに含む、請求項9に記載の方法。
- 前記プロセッサを使用して、前記タンデム質量分析計から前記複数の断片イオンスペクトルを受信し、前記複数の断片イオンスペクトルから、バンドパスフィルタリングされた断片イオンスペクトルを生成することをさらに含む、請求項12に記載の方法。
- 前記タンデム質量分析計に、前記プロセッサを使用して、前記検出サブシステムに対する異なる調整パラメータを使用して、除去のために識別された前駆体イオンを含めないように選択された前記前駆体質量選択窓を断片化するように命令することをさらに含む、請求項9に記載の方法。
- 前記調整パラメータは、前記検出サブシステムの最大総イオン電流を含む、請求項14に記載の方法。
- 前記調整パラメータは、前記検出サブシステムの最大強度閾値を含む、請求項14に記載の方法。
- 有形のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記記憶媒体のコンテンツは、命令を伴うプログラムを含み、前記命令は、プロセッサ上で実行されて、ある質量範囲の前駆体イオン調査スキャンにおいて見つかった前駆体イオンが検出器サブシステム飽和を生み出すことが可能であるか否かに基づいて、前記質量範囲に対する前駆体イオン質量選択窓を選択するための方法を行い、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュールおよびフィルタリングモジュールを備えている、ことと、
質量分析器を含むタンデム質量分析計を使用して、ある質量範囲のフルスキャンに対するフルスペクトルを受信することであって、前記タンデム質量分析計は、前記測定モジュールを使用して、ある質量範囲の前駆体イオン調査スキャンを行って、前記質量範囲に対するフル前駆体イオンスペクトルを生み出す、ことと、
前記フィルタリングモジュールを使用して、前記フル前駆体イオンスペクトルから、除去のために、前記質量分析器の検出器サブシステムにおいて飽和を生み出す前駆体イオンを識別することと、
前記フィルタリングモジュールを使用して、前記質量範囲にわたって、除去のために識別された前記前駆体イオンに基づいて、可変窓幅を有する非重複前駆体質量選択窓を選択することであって、各前駆体質量選択窓は、除去のために識別された前駆体イオンを含めるように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを防止するように選択されるか、あるいは、除去のために識別された前駆体イオンを含めないように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを可能にし、結果として生じる断片化されたイオンが質量分析されることを可能にするように選択される、ことと
を含む、コンピュータプログラム製品。 - 前記識別するステップは、
前記検出器サブシステムの総イオン計数率を超えるイオン計数率を有する、前記フル前駆体イオンスペクトル内の前駆体イオンを識別することを含む、請求項17に記載のコンピュータプログラム製品。 - 前記識別するステップは、
前記検出器サブシステムの閾値強度を超える強度を有する、前記フル前駆体イオンスペクトル内の前駆体イオンを識別することを含む、請求項17に記載のコンピュータプログラム製品。 - 前記方法は、
前記タンデム質量分析計に、前記プロセッサを使用して、除去のために識別された前駆体イオンを含めないように、かつ、前駆体イオンが断片化されることを可能にし、結果として生じる断片イオンが質量分析されることを可能にするように選択された前駆体質量選択窓のみの断片イオンを断片化および分析して、複数の断片イオンスペクトルを生み出すように命令することをさらに含む、請求項17に記載のコンピュータプログラム製品。
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WO2018134346A1 (en) * | 2017-01-19 | 2018-07-26 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Mass spectrometry with improved dynamic range |
US10429364B2 (en) * | 2017-01-31 | 2019-10-01 | Thermo Finnigan Llc | Detecting low level LCMS components by chromatographic reconstruction |
EP3586354A4 (en) * | 2017-02-22 | 2020-12-16 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | PHYSICAL ISOLATION OF ADDUCTS AND OTHER COMPLICATING FACTORS IN PREVIOUS ION SELECTION FOR IDA |
DE102018116308A1 (de) * | 2018-07-05 | 2020-01-09 | Analytik Jena Ag | Dynamische Ionenfilterung zur Reduzierung hochabundanter Ionen |
EP4089714A1 (en) * | 2021-05-14 | 2022-11-16 | Universitätsmedizin der Johannes Gutenberg-Universität Mainz | Method and apparatus for combined ion mobility and mass spectrometry analysis |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4837434A (en) * | 1987-07-09 | 1989-06-06 | Hewlett-Packard Company | Mass spectrometry system and method employing measurement/survey scan strategy |
CA2307399C (en) * | 2000-05-02 | 2006-10-03 | Mds Inc., Doing Business As Mds Sciex | Method for reducing chemical background in mass spectra |
US6586727B2 (en) * | 2000-06-09 | 2003-07-01 | Micromass Limited | Methods and apparatus for mass spectrometry |
GB0029040D0 (en) * | 2000-11-29 | 2001-01-10 | Micromass Ltd | Orthogonal time of flight mass spectrometer |
US7038197B2 (en) * | 2001-04-03 | 2006-05-02 | Micromass Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
US6787760B2 (en) * | 2001-10-12 | 2004-09-07 | Battelle Memorial Institute | Method for increasing the dynamic range of mass spectrometers |
GB2388704B (en) * | 2002-05-17 | 2004-08-11 | * Micromass Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
JP4470505B2 (ja) * | 2004-02-04 | 2010-06-02 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
US6958473B2 (en) * | 2004-03-25 | 2005-10-25 | Predicant Biosciences, Inc. | A-priori biomarker knowledge based mass filtering for enhanced biomarker detection |
GB0511083D0 (en) * | 2005-05-31 | 2005-07-06 | Thermo Finnigan Llc | Multiple ion injection in mass spectrometry |
JP5252205B2 (ja) * | 2006-01-05 | 2013-07-31 | エムディーエス インコーポレイテッド | 質量欠損によりトリガされる情報依存収集 |
GB0609253D0 (en) * | 2006-05-10 | 2006-06-21 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US8530828B2 (en) * | 2007-02-02 | 2013-09-10 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Systems and methods for reducing noise from mass spectra |
GB0709799D0 (en) * | 2007-05-22 | 2007-06-27 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP4900048B2 (ja) * | 2007-05-29 | 2012-03-21 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP2009091344A (ja) * | 2007-10-09 | 2009-04-30 | Masahiko Kurano | 渦巻線香の製造方法と製造装置及び成形型 |
US8073635B2 (en) * | 2008-02-15 | 2011-12-06 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method of quantitation by mass spectrometry |
US8335655B2 (en) * | 2008-05-30 | 2012-12-18 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Intelligent saturation control for compound specific optimization of MRM |
JP5107977B2 (ja) * | 2009-07-28 | 2012-12-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析装置 |
WO2011026228A1 (en) * | 2009-09-04 | 2011-03-10 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method, system and apparatus for filtering ions in a mass spectrometer |
CN102074448B (zh) * | 2009-11-20 | 2014-09-24 | 同方威视技术股份有限公司 | 离子迁移谱仪以及提高其检测灵敏度的方法 |
DE102010011974B4 (de) * | 2010-03-19 | 2016-09-15 | Bruker Daltonik Gmbh | Sättigungskorrektur für Ionensignale in Flugzeitmassenspektrometern |
EP2786130A4 (en) * | 2011-11-28 | 2015-08-12 | Waters Technologies Corp | TECHNIQUES FOR QUANTIFICATION OF SAMPLES |
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