JP6289525B2 - 光学測定装置 - Google Patents
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Description
実施形態に係る装置は、光センシングの分野に関する。
Claims (19)
- 測定領域を測定するための光学測定装置であって、
前記装置は、干渉計を有するフォトニックチップを備え、前記干渉計は、前記チップ上に定められ、
前記干渉計は、第1および第2の導波路と、干渉領域と、を備え、
前記第1および第2の導波路は、信号を前記干渉領域から前記測定領域へ運び、前記干渉領域へと戻し、前記第1の導波路中の信号は、前記測定領域の第1の領域によって反射されて前記干渉領域に戻され、前記第2の導波路中の信号は、前記測定領域の第2の領域によって反射されて前記干渉領域に戻され、
前記装置は、
前記測定領域によって反射された前記第1および第2の導波路中の前記信号間の位相差を変えるように構成された位相調節部と、
前記フォトニックチップ上に定められ、前記測定領域によって反射された後の前記干渉領域からの信号を運ぶように構成された出力導波路であって、前記出力導波路へ移る信号の量は、前記位相調節部によって制御され、前記位相調節部は、前記第1の領域および前記第2の領域の反射特性が一致するときに前記出力導波路へ移る前記信号が最小になるように、前記位相を調節するように構成される、出力導波路と、
をさらに備える、光学測定装置。 - 前記位相調節部は、前記第1の領域および前記第2の領域の反射特性が一致するときに前記干渉領域において最大の干渉があるように、前記位相を調節するように構成される、請求項1に記載の光学測定装置。
- 入力導波路をさらに備え、前記入力導波路は、光信号が前記干渉領域の後に前記第1および第2の導波路に沿って伝搬するように、前記干渉領域に前記光信号を渡すように構成される、請求項1に記載の光学測定装置。
- 検出器が前記出力導波路からの出力を受け取るために設けられる、請求項1に記載の光学測定装置。
- 前記第1および第2の導波路のうちの少なくとも1つの導波路に設けられた可変損失要素をさらに備え、前記可変損失要素は、前記第1および第2の導波路の前記少なくとも1つの導波路中の前記信号の振幅を変えるように構成される、請求項1に記載の光学測定装置。
- 前記測定領域は、表面を有するサンプルを含み、前記サンプルの前記表面は、前記第1および第2の導波路中の前記信号の進行方向に垂直である、請求項1に記載の光学測定装置。
- 前記第1および第2の導波路は単一モード導波路である、請求項1に記載の光学測定装置。
- 光源が前記入力導波路に取り付けられる、請求項3に記載の光学測定装置。
- 前記フォトニックチップ上の前記位相調節部は、前記第1の導波路および第2の導波路のうちの少なくとも1つの導波路の一部を熱するように構成された加熱素子である、請求項1に記載の光学測定装置。
- 前記出力導波路中の出力信号を最小にするために前記位相調節部を制御し、前記出力導波路中の前記信号を最小にするために適用される位相調節を決定するように構成されたコントローラをさらに備える請求項1に記載の光学測定装置。
- 前記第1の領域および前記第2の領域は、入力された光信号の周波数で放射を伝え、前記装置は、前記第1の領域を通過して伝えられる光信号がミラーで反射されて前記第1の導波路へ戻るように設けられたミラーと、前記第2の領域を通過して伝えられる光信号がミラーで反射されて前記第2の導波路へ戻るように設けられたミラーと、をさらに備える、請求項1に記載の光学測定装置。
- 前記第1の領域は、流体を収容するように構成され、前記第2の領域は、流体を収容するように構成され、前記第1および第2の領域は、前記第1の領域中の前記流体と前記第2の領域中の前記流体との間の屈折率の差を決定することを可能にするために、前記第1および第2の領域に収容された前記流体を通過する前記光信号の物理的な経路長が同じであるように構成される、請求項11に記載の光学測定装置。
- 前記測定領域が前記第1および第2の導波路に対して移動可能であるように構成された移動ステージをさらに備える請求項1に記載の光学測定装置。
- 前記測定領域における対象物の配置を測定するように構成され、前記測定領域における前記対象物の前記配置が前記第1の導波路および前記第2の導波路を移動する前記信号間の経路長の差を生じさせるように、前記対象物の位置を定めるように構成された測定ステージをさらに備え、前記装置は、前記出力導波路中の前記信号を期間にわたって測定するように構成された検出器をさらに備える、請求項1に記載の光学測定装置。
- 光学的に作動される量子エミッタを測定するように構成され、前記光学測定装置は、前記量子エミッタが前記第1または第2の導波路の一方に結合されるように、前記測定領域において前記量子エミッタを支持するためのステージをさらに備え、前記位相調節部は、前記入力導波路から前記出力導波路へ移る前記信号を最小にするために、前記第1および第2の導波路中の前記信号間の位相差を変えるように構成される、請求項3に記載の光学測定装置。
- 前記入力導波路から与えられる前記光信号は、前記量子エミッタを励起することができるエネルギーにある、請求項15に記載の光学測定装置。
- 前記出力導波路は、さらなるフォトニック回路に結合される、請求項16に記載の光学測定装置。
- 第1の光学測定装置および第2の光学測定装置を備える光学測定システムであって、前記第1の光学測定装置は、請求項16に記載の光学測定装置を備え、前記第2の光学測定装置は、請求項16に記載の光学測定装置を備え、前記第1の光学測定装置の出力導波路および前記第2の光学測定装置の出力導波路は、カプラーにおいて結合される、光学測定システム。
- 測定領域の光学測定を実行する方法であって、
干渉計を有するフォトニックチップを備える光学測定装置であって、前記干渉計が前記チップ上に定められ、前記干渉計が第1および第2の導波路と干渉領域とを備える、光学測定装置を用意することと、
信号を前記干渉領域から前記第1および第2の導波路を介して前記測定領域に運び、前記第1および第2の導波路を介して前記干渉領域へ戻すことと、前記第1の導波路中の信号は、前記測定領域の第1の領域によって反射されて前記干渉領域に戻され、前記第2の導波路中の信号は、前記測定領域の第2の領域によって反射されて前記干渉領域に戻される、
前記フォトニックチップ上に定められた出力導波路に沿って、前記測定領域によって反射された後の前記干渉領域からの信号を運ぶことと、
前記第1の領域および前記第2の領域の反射特性が一致するときに前記出力導波路へ移る信号の量が最小になるように、前記測定領域によって反射された前記第1および第2の導波路中の前記信号間の位相差を変えることと、
を備える方法。
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