RU187697U1 - Поляритонное устройство для измерения градиента температуры - Google Patents

Поляритонное устройство для измерения градиента температуры Download PDF

Info

Publication number
RU187697U1
RU187697U1 RU2018144639U RU2018144639U RU187697U1 RU 187697 U1 RU187697 U1 RU 187697U1 RU 2018144639 U RU2018144639 U RU 2018144639U RU 2018144639 U RU2018144639 U RU 2018144639U RU 187697 U1 RU187697 U1 RU 187697U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
waveguides
temperature
measuring
temperature gradient
optical
Prior art date
Application number
RU2018144639U
Other languages
English (en)
Inventor
Артур Валерьевич Трифонов
Алексей Витальевич Кавокин
Павлос Георгиос Саввидис
Сергей Юрьевич Вербин
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ)
Priority to RU2018144639U priority Critical patent/RU187697U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU187697U1 publication Critical patent/RU187697U1/ru

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82BNANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
    • B82B3/00Manufacture or treatment of nanostructures by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K11/00Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
    • G01K11/32Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
    • G01K11/3206Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres at discrete locations in the fibre, e.g. using Bragg scattering

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к устройствам для измерения температуры, а именно к оптическим интерференционным устройствам для измерения температуры, и может быть использована для измерения градиента температуры, а также иных физических величин, измерение которых сводится к измерению этого градиента на расстояниях, не превышающих десятой доли миллиметра, для таких областей применения, как оптические вычисления, микроэлектроника и научные исследования. Заявлено поляритонное устройство для измерения градиента температуры, выполненное в виде двух волноводов, один из которых является сигнальным, а другой является опорным. Оба волновода по обеим концам объединены общими входным и выходным оптическими волноводами. Волноводы выполнены из трехслойной наноструктуры, поверхностные слои которой выполнены в виде распределенных брэгговских отражателей, между которыми расположен слой с квантовыми ямами. Технический результат – увеличение пространственного разрешения определения градиента температуры. 1 ил.

Description

Полезная модель относится к устройствам для измерения температуры, а именно к оптическим интерференционным устройствам для измерения температуры, и может быть использована для измерения градиента температуры, а также иных физических величин, измерение которых сводится к измерению этого градиента, с пространственным разрешением, не превышающим десятых долей миллиметра, для таких областей применения, как оптические вычисления, микроэлектроника и научные исследования.
Известно устройство[1], представляющее собой волоконно-оптическое устройство, включающее в себя вводный волновод, два оптических волновода, одного сигнального, а другого опорного, и выводного волновода. Известное устройство позволяет определять изменения температуры и детектировать внешнее электромагнитное излучение через нагрев в одном из каналов относительно другого посредством наблюдения сдвига интерференционных полос в выводном волноводе. Чувствительность определяется длиной плеч интерферометра, что ограничивает минимальный размер устройства не менее чем несколькими сантиметрами.
Известен волоконно-оптический термометр [2], состоящий из оптического волновода, один конец которого соединен с источником света, а на другой конец нанесено металлическое зеркало. Также внутри волновода помещены полупрозрачные зеркала, ограничивающие область, чувствительную к изменению температуры. Нагрев этой области, представляющей собой интерферометр Фабри-Перо, приводит к изменению ее оптической длины и, тем самым, коэффициента отражения и пропускания. Чувствительность определяется длиной волновода, расположенной между полупрозрачными зеркалами, что также ограничивает минимальный размер устройства не менее чем несколькими сантиметрами.
Техническим решением, наиболее близким к заявленному устройству, является устройство для точного детектирования изменений температуры и давления [3], принятое в качестве прототипа. Устройство состоит из волоконно-оптического интерферометра Маха-Зендера, которое включает в себя источник оптического излучения, соединенного с вводным оптическим волноводом, двух каналов сигнального и опорного, и выводного оптического волновода. Интенсивность детектируемого оптического излучения, выходящего из выходного волновода, определяется взаимной фазой света, прошедшего через сигнальный и опорный каналы. Изменение температуры или механического давления в сигнальном канале, приводит к изменению фазы света, выходящего из сигнального канала по отношению к фазе света, прошедшего через опорный канал. Изменение взаимной фазы детектируется, как изменение интенсивности детектируемого излучения, выходящего из выходного оптического волновода. Общим у известного устройства и заявляемой полезной модели является то, что они представляют собой интерферометр Маха-Зендера, в котором изменение температуры в одном из плечей из-за физического эффекта температурного расширения и изменения показателя преломления приводит к изменению выходной интенсивности излучения. В качестве областей применения системы указываются области, в которых применение иных средств измерения температуры затруднены из-за наличия неблагоприятного химического или электромагнитного окружения.
Основным недостатком прототипа является его малое пространственное разрешение определения градиента температуры, ограниченное минимум несколькими сантиметрами, что не позволяет использовать его в микроэлектронике, нанофотонике и оптических вычислениях.
Заявленная полезная модель свободна от указанных выше недостатков, и ее технический результат состоит в увеличении пространственного разрешения определения градиента температуры.
Указанный технический результат достигается тем, что в заявленной полезной модели используется физический эффект изменения ширины запрещенной зоны полупроводникового кристалла, причем проявление этого явления усилено благодаря использованию полупроводниковой наноструктуры.
Сущность заявленной полезной модели иллюстрируется Фиг.
Схема заявленного устройства пояснена на Фиг. Устройство, выполнено в виде двух волноводов, один из которых является сигнальным (1), а другой является опорным (2), оба волновода по обеим концам объединены общими входным (3) и выходным (4) оптическими волноводами, отличающееся тем, что волноводы выполнены из трехслойной наноструктуры, верхний (5) и нижний (6) слои которой выполнены в виде распределенных Брэгговских отражателей (РБО), между которыми расположен слой с квантовыми ямами (7). Слой (7) имеет толщину L=N/2 λс/n, где N - целое число, n - эффективный показатель преломления материала из которого сделан слой с квантовыми ямами, λс - длина волны света. Для света с такой длиной волны выполняются условия стоячей электромагнитной волны, локализованной между распределенными Брэгговскими отражателями. Параметры квантовых ям (ширина и состав) подбираются такими, чтобы энергия экситонного оптического перехода, EQW, в них равнялась энергии фотонов, Ес, стоячей электромагнитной волны, EQWс=hc/λс, где h - постоянная планка, с - скорость света. В условиях резонанса экситонного перехода и стоячей электромагнитной волны сильное светоэкситонное взаимодействие приводит к перенормировке состояний и образованию гибридных возбуждений, называемых экситонными поляритонами. Фазовый набег для поляритонной волны, распространяющейся по опорному волноводу при температуре волновода Тo, и имеющему длину L, определяется выражением ϕo=2πL/λ, а фазовый набег поляритонной волны, распространяющейся по сигнальному волноводу, и имеющему длину L, при температуре Тс, ϕс=2πL(λ+δλ), где λ и λ+δλ - длины поляритонных волн, распространяющихся в опорном и сигнальном волноводах соответственно. Разность фаз между поляритонными волнами, распространяющимися из входного волновода к выходному, но прошедших через опорный и сигнальный волноводы, Δϕ ≈ 2πL(δλ)λ2=2πL(αΔТ)/λ2, где ΔТ=Тo - Тс - разность температур опорного и сигнального волноводов, а α - коэффициент пропорциональности изменения длины поляритонной волны при изменении температуры. При этом длина поляритонной волны зависит от множества параметров, но в главную очередь от отстройки энергии δ(T)= EQW(T)-Ec, где энергия стоячей световой волны Ес практически не зависит от температуры, тогда как энергия экситонного оптического перехода EQW существенно зависит от температуры, и тем самым изменяет значение отстройки δ(T) и длину поляритонной волны. Реальные значения величин λ и α зависят от конкретной реализации устройства и должны быть определены экспериментально при калибровке устройства.
Работа заявленного устройства осуществляется следующим образом. На устройство из верхнего полупространства на оптический вход падает оптическое излучение. Это излучение, попадая в оптический вход, возбуждает поляритонные волны. Поляритонные волны распространяясь далее по устройству в сторону оптического выхода, проходят через опорный и сигнальные волноводы и интерферируют в выходном волноводе. В результате интерференции поляритонных волн, интенсивность оптического излучения, выходящего из выходного волновода зависит от разницы температур ΔТ опорного и сигнального волноводов I=I0cos(2πLαΔТ)/λ2), т.е. при изменении значения градиента температуры интенсивность выходного излучения будет осциллировать. Причем для устройства, опорный и сигнальный волноводы которого выполнены в виде полуколец радиуса 50 мкм, и имеющего типичные параметры длины поляритонной волны λ=5 мкм и α=1 мкм/К период осцилляции будет соответствовать изменению температуры на 6,8К. В реальных условиях удается определить изменение интенсивности, составляющее 10-3 от максимального, что позволяет оценить чувствительность к изменению температуры как 0,0068 К. Такая чувствительность определения абсолютного значения разности температур соответствует заявленной в прототипе. При этом предлагаемое устройство позволяет определять разницу температур для двух областей пространства удаленных друг от друга на 100 мкм.
Заявленная полезная модель была апробирована в лабораторных условиях Санкт-Петербургского государственного университета в режиме реального времени, что иллюстрируется примерами, представленными ниже. В результате экспериментов было подтверждено достижение указанного технического результата: было достигнуто высокое пространственное разрешение определении градиента температуры, составляющее 100 мкм.
Пример 1.
Было апробировано устройство, выполненное из полупроводниковой наноструктуры, выращенной методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложке GaAs. Нижний распределенный Брэгговский отражатель был выполнен из 35 чередующихся пар слоев AlAs/Al0.15Ga0.85As, верхний распределенный Брэгговский отражатель был выполнен из 32 чередующихся пар слоев AlAs/Al0.15Ga0.85As. Толщина слоя с квантовыми ямами, расположенного между распределенными Брэгговскими отражателями, была выбрана 5/2*λс/n, где λс=808 нм, а n=3,6215. Между распределенными Брэгговскими отражателями в пучностях стоячей электромагнитной волны было помещено 12 квантовых ям Al0.15GaAs/GaAs шириной 10 нм. Энергия экситонных оптических переходов квантовых ям для используемой при апробации температуры 10К составляла 1,5335 эВ и совпадала с энергией фотонов стоячей электромагнитной волны. Для не резонансного возбуждения поляритонных волн во входном волноводе использовалось лазерное излучение с энергией фотонов 1,635 эВ (длина волны 750 нм). Методом вертикального химического травления из описанной выше наноструктуры было изготовлено устройство форма которого, указана на Фигуре. При этом входной и выводной волноводы имели ширину 20 мкм, а длину 40 мкм, а сигнальный и опорный волноводы были выполены в виде полуколец с внешним радиусом 60 мкм и внутренним радиусом 40 мкм, так что радиус центральной части полуколец составлял 50 мкм. Устройство было приклеено к пластине GaAs толщиной 400 мкм, шириной 10 мм и длиной 5 мм, градиент температуры которой определялся при апробации. Градиент температуры пластины GaAs создавался при помощи дополнительного лазерного луча с энергией фотонов 2,33 эВ (532 нм), который был сфокусирован в пятно диаметром 20 мкм вблизи сигнального волновода и нагревал облучаемую область в результате поглощения лазерного излучения. При изменении мощности нагревающего лазерного луча было зарегистрировано изменение интенсивности излучения, выходящего из выходного волновода, что явно демонстрирует возможность определения градиента температуры с пространственным разрешением 100 мкм при помощи заявленного поляритонного устройства, ширина которого составляла 120 мкм и длина 180 мкм. Как показывают результаты испытаний, заявленное устройство позволяет зарегистрировать градиент температуры с увеличенным пространственным разрешением в десятки и/или сотни микрон.
Пример 2.
Для апробации температурной чувствительности и демонстрации того, что заявленная полезная модель имеет схожую температурную чувствительность с прототипом, но со значительно большим пространственным разрешением, была проведена температурная калибровка. Для калибровки методом вертикального химического травления из той же наноструктуры было изготовлено калибровочное устройство, выполненное в виде прямоугольника шириной 20 мкм и длиной 300 мкм. При облучении левого края калибровочного устройства сфокусированным лазерным лучом создавались поляритонные волны, которые распространялись по калибровочному устройству к его правому краю. Достигнув правого края устройства, поляритонные волны отражались от него и распространялись обратно к левому. В результате в калибровочном устройстве наблюдались интерференционные полосы, возникающие при интерференции поляритонных волн распространяющихся в различных направлениях. При этом пространственный период интерференционных полос равняется длине поляритонной волны λ. Калибровка, апробируемого устройства сводилась к определению температурной зависимости длины поляритонной волны λ(Т), и нахождению коэффициента пропорциональности изменения длины поляритонной волны при изменении температуры α. Для апробируемого устройства результаты калибровки дали значение λ=4 мкм для Т=10K, а α=1,1 мкм/К. Для таких параметров чувствительность 10-2К.
Как показали примеры апробации заявленной полезной модели, представленные выше, технико-экономическая эффективность ее состоит в том, что предлагается устройство, позволяющее детектировать градиент температуры с точностью 10-2 К в областях пространства размером в десятые доли миллиметра за счет использования полупроводниковой наноструктуры. Такое увеличение пространственного разрешения измерения градиента температуры позволяет проводить прецизионные измерения и осуществлять эффективное использование устройства в ранее недоступных областях, таких как микроэлектроника, нанофотоника и оптические вычисления.
Список использованной литературы:
1. Mark L. Wilson; Vadnais Height; // Traveling wave fiber optic interferometric sensor and method of polarization poling fiber optic // Патент США US 004929050, 29.05.1990.
2. Charles M. Davis; // Fiber optic interferometric thermometer // Патент США US 004868381, 19.09.1989.
3. Victor Vail; David B. Chang; Patrick C. Brownigg; // System for accurately detecting changes in temperature and pressure // Патент США
US US 005270538 A, 14.12.1993.// (Прототип)

Claims (1)

  1. Поляритонное устройство для измерения градиента температуры, выполненное в виде двух волноводов, один из которых является сигнальным, а другой является опорным, оба волновода по обеим концам объединены общими входным и выходным оптическими волноводами, отличающееся тем, что волноводы выполнены из трехслойной наноструктуры, поверхностные слои которой выполнены в виде распределенных брэгговских отражателей, между которыми расположен слой с квантовыми ямами.
RU2018144639U 2018-12-14 2018-12-14 Поляритонное устройство для измерения градиента температуры RU187697U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018144639U RU187697U1 (ru) 2018-12-14 2018-12-14 Поляритонное устройство для измерения градиента температуры

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018144639U RU187697U1 (ru) 2018-12-14 2018-12-14 Поляритонное устройство для измерения градиента температуры

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU187697U1 true RU187697U1 (ru) 2019-03-14

Family

ID=65759132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018144639U RU187697U1 (ru) 2018-12-14 2018-12-14 Поляритонное устройство для измерения градиента температуры

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU187697U1 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4868381A (en) * 1986-10-03 1989-09-19 Optical Technologies, Inc. Fiber optic interferometric thermometer
US5270538A (en) * 1991-01-04 1993-12-14 Hughes Aircraft Company System for accurately detecting changes in temperature and pressure
WO1998012525A1 (en) * 1995-06-07 1998-03-26 Mcdonnell Douglas Corporation Fiber optic sensor having a multicore optical fiber and an associated sensing method
WO2010114649A1 (en) * 2009-03-30 2010-10-07 General Electric Company Optical sensors, systems, and methods of making
CN103954377A (zh) * 2014-04-17 2014-07-30 深圳大学 基于微结构光纤的温度传感器及其制备方法和测温装置
CN104330101A (zh) * 2014-10-28 2015-02-04 天津理工大学 一种可同时测量温度和微位移的光纤传感器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4868381A (en) * 1986-10-03 1989-09-19 Optical Technologies, Inc. Fiber optic interferometric thermometer
US5270538A (en) * 1991-01-04 1993-12-14 Hughes Aircraft Company System for accurately detecting changes in temperature and pressure
WO1998012525A1 (en) * 1995-06-07 1998-03-26 Mcdonnell Douglas Corporation Fiber optic sensor having a multicore optical fiber and an associated sensing method
WO2010114649A1 (en) * 2009-03-30 2010-10-07 General Electric Company Optical sensors, systems, and methods of making
CN103954377A (zh) * 2014-04-17 2014-07-30 深圳大学 基于微结构光纤的温度传感器及其制备方法和测温装置
CN104330101A (zh) * 2014-10-28 2015-02-04 天津理工大学 一种可同时测量温度和微位移的光纤传感器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6289525B2 (ja) 光学測定装置
US9366808B2 (en) Slow-light sensor utilizing an optical filter and a narrowband optical source
US9347826B2 (en) System and method for measuring perturbations utilizing an optical filter and a narrowband optical source
JP5941555B2 (ja) 低速光ファイバブラッググレーティングセンサを使用した光デバイス、光デバイスを構成する方法、およびファイバブラッググレーティングを使用する方法
US11906368B2 (en) Temperature measurement system and method using optical signal transmission through an optical interferometer
US11815405B2 (en) Photonic device using resonator differencing technique
WO2012033718A1 (en) Slow-light fiber bragg grating sensor
Alonso-Murias et al. Hybrid optical fiber Fabry-Perot interferometer for nano-displacement sensing
CN208595984U (zh) 一种高灵敏度光纤温度传感器
Bhardwaj et al. Silicone rubber-coated highly sensitive optical fiber sensor for temperature measurement
Robalinho et al. Nano-displacement measurement using an optical drop-shaped structure
RU187697U1 (ru) Поляритонное устройство для измерения градиента температуры
JP5311852B2 (ja) センシング装置
Chatzianagnostou et al. Theory and sensitivity optimization of plasmo-photonic Mach-Zehnder interferometric sensors
A Goncharenko et al. Liquid concentration sensor based on slot waveguide microresonators
Dash et al. Enlarge-tapered, micro-air channeled cavity for refractive index sensing in SMF
US11815404B2 (en) High accuracy frequency measurement of a photonic device using a light output scanning system and a reference wavelength cell
Zarei et al. Analysis of a fiber-optic deep-etched silicon Fabry–Perot temperature sensor and modeling its fabrication imperfections
EP3644031B1 (en) Wavelength meter
US20220244168A1 (en) Photothermal gas detector including an integrated on-chip optical waveguide
Wu et al. Design of highly sensitive refractive index sensor based on silicon photonic Mach–Zehnder interferometer
RU2466366C1 (ru) Волоконно-оптический интерференционный датчик температуры
CN114414085A (zh) 一种光纤温度传感器
JP2915636B2 (ja) 変位測定装置
Gut et al. Broad-band difference interferometer as a temperature sensor