JP2915636B2 - 変位測定装置 - Google Patents

変位測定装置

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JP2915636B2
JP2915636B2 JP20761591A JP20761591A JP2915636B2 JP 2915636 B2 JP2915636 B2 JP 2915636B2 JP 20761591 A JP20761591 A JP 20761591A JP 20761591 A JP20761591 A JP 20761591A JP 2915636 B2 JP2915636 B2 JP 2915636B2
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JP
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grating
displacement measuring
measuring device
light
lambda
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博誠 犬塚
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、構造物内部歪の検出に
適用される変位測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の変位測定装置の一例を図2模式図
に示すと、これは、被測定物21の一端にミラー22を
取付けておき、光源27より出た光をハーフミラー24
により2本に分離しミラー22及び固定ミラー23に入
射させ、それぞれの反射光を再びハーフミラー24を介
して合流させレンズ25によりスクリーン26上に干渉
じまを生じさせるマイケルソン干渉計を基本構造として
持つものである。しかして、被測定物21の長さの変化
によりそこに固定したミラー22からハーフミラー24
までの距離が変化し、ミラー22及び固定ミラー23か
らの反射光のスクリーン26上での位相差が変化し干渉
じまの位置が変化する。この変化量を測定することによ
り光の波長オーダー(数100nm)以下の高精度の変
位検出が可能となる。
【0003】しかしながらこのような装置では、被測定
物の内部で生じた歪の総量としての全長の変化しか検出
できないとともに、干渉計を安定に設置する必要があ
り、橋りょう,高層建造物等一般的な環境での使用が困
難である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
事情に鑑みて提案されたもので、被測定物の局部的な歪
による変位を簡便かつ正確に検出することができる変位
測定装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】そのために本発明は、被
測定物の表面に透明のバッファー層を介して光の導波層
を設け、同導波層の一部に励起光を受ける利得媒質部を
形成するとともに、同利得媒質部の一方の側に格子間隔
一定の第1グレーティング、他方の側に格子間隔が上記
第1グレーティングのそれの2倍を含み連続的に変化す
る第2グレーティングをそれぞれ形成したことを特徴と
する。
【0006】
【作用】上述の構成により、被測定物の局部的な歪によ
る変位を簡便かつ正確に検出することができる変位測定
装置を得ることができる。
【0007】
【実施例】本発明変位測定装置の一実施例を図1断面図
について説明すると、被測定物11の表面に、 SiO2
PMMA(ポリメタクリレート)などの透明のバッファ
ー層12を介してそれより屈折率の高い導波層13を設
け、光導波路を形成する。この導波層13としてはガラ
スや透明な樹脂を用いる。しかしてこの導波層13の一
部に、励起光LP を受ける部分として、利得媒質として
レーザー色素やNd ,Erなどの原子を含む利得媒質部13
0 を形成する。更にこの利得媒質部130 の両側に、一
定の格子間隔Λ1 の第1グレーティング131 と、Λ1
の2倍を含み位置によってなだらかに連続して変化する
格子間隔Λ2(x) を有する第2グレーティング132
形成する。
【0008】このような装置において、利得媒質部13
0 を励起光LP によって励起することによって利得媒質
からある波長範囲の光を持つ蛍光が生ずる。その内の波
長λ0 に対してグレーティング格子間隔Λを導波路中の
光波の位相定数βを用いてΛ=qπ/βの関係を満たす
ようにすれば、グレーティングは反射器としての特性を
示す。ただしqは整数である。
【0009】そしてΛ1 はq=1とした場合であり、Λ
2 はある位置x0 においてΛ2(x0 ) =2Λ1 を持ち連
続的に格子間隔がゆるやかに変化するように選んであ
る。q=2の場合においては2次の回折波が反射波とな
り1次の回折波は導波層表面の法線方向に生ずる。すな
わち波長λ0 の光が第1グレーティング131 と第2グ
レーティング132 のΛ2 =2Λ1 となる領域との間で
くり返し反射されることにより増幅されレーザー発振を
生じ、第2グレーティング132 の1次回折波によって
波長λ0 のレーザー出力L0 が出力される面発光レーザ
ーとなる。
【0010】次に被測定物11が内部歪により変形し表
面の長さが変化した場合について考える。長さの変化量
が第1グレーティング131 の格子間隔Λ1 に対してδ
である(Λ1′=Λ1 +δ)とすると、第2グレーティ
ング132 のx0 における格子間隔Λ2′(x0 ) はΛ
2(x0)+δ=2(Λ1 +δ/2)となり、Λ2′( x0)=
2Λ1′の関係が満たされなくなる。しかし第2グレー
ティング132 の格子間隔は連続的に変化しているた
め、Λ2′(x)=2Λ1′が成り立つ位置xが存在し、
Λ1′に対応する波長λ′のレーザー光が出力される。
かくして被測定物11の変位は連続的な波長の変化とし
て検出される。
【0011】以上説明したように、このような装置によ
れば、被測定物11の表面に面発光分布反射型波長可変
レーザーをバッファー層12を介して形成することによ
って、内部歪によって生じた表面の変位を波長の変化と
して検出できる。またこの装置は光のみで動作させるこ
とが可能であり、励起光LP としてパルス幅が数ns以
下の短光パルスを用いれば励動などによる変動を受けな
い安定な検出ができる。更に面発光レーザーであるため
出力光が直接外部に取り出せることから非接触計測が可
能である。
【0012】
【発明の効果】要するに本発明によれば、被測定物の表
面に透明のバッファー層を介して光の導波層を設け、同
導波層の一部に励起光を受ける利得媒質部を形成すると
ともに、同利得媒質部の一方の側に格子間隔一定の第1
グレーティング、他方の側に格子間隔が上記第1グレー
ティングのそれの2倍を含み連続的に変化する第2グレ
ーティングをそれぞれ形成したことにより、被測定物の
局部的な歪による変位を簡便かつ正確に検出することが
できる変位測定装置を得るから、本発明は産業上極めて
有益なものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明変位測定装置の一実施例の断面図であ
る。
【図2】従来の変位測定装置の模式図である。
【符号の説明】
11 被測定物 12 バッファー層 13 導波層 130 利得媒質部 131 第1グレーティング 132 第2グレーティング

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物の表面に透明のバッファー層を
    介して光の導波層を設け、同導波層の一部に励起光を受
    ける利得媒質部を形成するとともに、同利得媒質部の一
    方の側に格子間隔一定の第1グレーティング、他方の側
    に格子間隔が上記第1グレーティングのそれの2倍を含
    み連続的に変化する第2グレーティングをそれぞれ形成
    したことを特徴とする変位測定装置。
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JPH0526630A JPH0526630A (ja) 1993-02-02
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