JP6289353B2 - 波面収差計測装置 - Google Patents
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Description
光学系の性能評価波面収差を測定する測定装置として、シャックハルトマン式波面センサが広く用いられている。シャックハルトマン式波面センサによる光学系の波面収差測定において、瞳径がシャックハルトマン式波面センサの測定口径より大きい光学系を測定する場合、一般的には、被験光学系の瞳径をシャックハルトマン式波面センサの測定口径に縮小する光学系を用いる。
そこで、例えば、特許文献1には、シャックハルトマン式波面センサを被験光学系の瞳径上を走査するように移動させて測定を繰り返し、得られた測定データをつなぎ合わせることで、被験光学系の瞳径をシャックハルトマン式波面センサの測定口径に縮小する光学系を不要とする技術が開示されている。
しかし、シャックハルトマン式波面センサを走査するように移動させて測定を繰り返す場合、シャックハルトマン式波面センサの移動に伴って光に対する角度が変化すると、当該角度の変化は、波面収差による傾きなのか、移動に伴う傾きの変化なのかが判別できず、測定データをつなぎ合わせる処理において測定誤差要因となる。
しかしながら、このような傾き変化測定手段は高精度を要求されるため、高コストであり、また、装置の大型化を招くという課題があった。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1に係る波面収差計測装置1の構成図である。
この実施の形態1では、図1に示すような波面収差計測装置1が、被験レンズ11の波面収差を計測するために、以下に説明するダブルパス測定を行うものとする。すなわち、波面収差計測装置1の内部に備えた光源部2が発生させたレーザービームを被験レンズ11に入射させ、被験レンズ11を透過した光を、高精度に球面に研磨された反射鏡である球面原器12で折り返す。そして、球面原器12で折り返されたレーザービームは、逆向きに伝搬して被験レンズ11を透過し、波面収差計測装置1に戻り、波面収差計測装置1において波面収差を計測する。
光源部2は、略平行光であるレーザービームを発生する。
無偏光ビームスプリッタ3は、光源部2から入射した光の一部を反射、一部を透過させる。
光測定位置走査部4は、内部に、高精度に表裏面が平行に研磨されたガラスである光学平行平面板5a,5bを備える(光学平行平面板5a,5bの詳細は後述する)。
光源部2から放射されたレーザービームの一部は、無偏光ビームスプリッタ3で反射および屈曲されて、光測定位置走査部4に入射する。
光測定位置走査部4は、光学平行平面板5a,5bを回転させることによって、レーザービームの位置15bを、被験レンズ11の波面の測定を行う位置、例えば、15cで示す位置となるよう、移動させる(光学平行平面板5a,5bの回転については後述する)。
被験レンズ11を往復したレーザービームは光測定位置走査部4を逆向きに伝搬し、無偏光ビームスプリッタ3に入射する。なお、図1において、Pで示す点は、被験レンズ11の焦点距離にある点であり、球面原器12の球中心の位置を示す点である。従って、光源部2が発生させ、被験レンズ11を透過したレーザービームは、球面原器12で折り返され、逆向きに伝搬するようになっている。
無偏光ビームスプリッタ3を透過した一部のレーザービームは波面検出部6に入射する。
信号処理部7は、画像信号入力インタフェースを備えた一般的なパーソナルコンピュータであり、波面検出部6で変換された、波面情報を示す画像信号を内部のメモリに取り込み、一般に知られている信号処理により、被験レンズ11の波面収差を演算し、出力する。
光測定位置走査部4においては、光学平行平面板5a,5bにより、レーザービームを移動させる。
光学平行平面板5a,5bは、それぞれ、波面検出部6で検出される光波を透過する。また、光学平行平面板5aと、光学平行平面板5bとは、それぞれ厚さ、屈折率が等しく、かつ、波面検出部6の基準光軸10に対して等しい角度で傾斜する(図1参照)。
なお、光学平行平面板5a,5bは、波面検出部6で検出される光波の空間的な位置を任意に移動可能とする。
なお、図2において、図1で説明したものと同様の構成については、同一の符号を付し、重複した説明を省略する。
図2において、10aで示す点線は、レーザービームの中心(以下、ビーム中心10aとする)の軌跡を示す。
光学平行平面板5aは、基準光軸10に対して波面検出部6側に角度θだけ傾斜しているものとする。また、光学平行平面板5aの厚さをtとする。
なお、角度θ、および、厚さtは任意に設定可能とする。
なお、図2においては図示を省略しているが、光学平行平面板5bの厚さt、傾斜角θ、屈折率も、光学平行平面板5aと一致しており、ビーム中心10aは、光学平行平面板5bの入射前後において長さdxだけ変位する。
光学平行平面板5a,5bが基準光軸10を回転軸として回転すると、θは維持されるため、dxは一定であるが、dxの方位が回転角に応じて変化する。
図3において、光学平行平面板5aを透過したレーザービームの平行移動長さと方位をベクトル51で示す。また、光学平行平面板5bを透過したレーザービームの平行移動長さと方位をベクトル52で示す。また、平行移動長さのベクトル51,52のベクトル和をベクトル53で示す。ベクトル53は、同時に、レーザービームのトータルの平行移動長さ、方位を意味する。
図3に示すように、θa,θbを任意に制御することで、レーザービームのトータルの平行移動長さ、方位のベクトル53は、独立に制御することが可能なことがわかる。
なお、θa,θbの制御は、図示しない制御部が行う。
なお、図4において、図1〜3で説明したものと同様の構成については、同一の符号を付し、重複した説明を省略する。
図4に示すように、光測定位置走査部4は、アンギュラーベアリング20a,20bと、ステッピングモータ(電気モータ)21a,21bと、ピニオンギア23a,23bと、スーパーギア24a,24bと、光学平行平面板ホルダー25a,25bとを備える。
光学平行平面板5a,5bは、光学平行平面板ホルダー25a,25bにそれぞれ固定された後、アンギュラーベアリング20a,20bの回転子に装着される。
なお、アンギュラーベアリング20bと、ステッピングモータ21bと、ピニオンギア23bと、スーパーギア24bと、光学平行平面板ホルダー25bとで、第一の回転駆動部を構成し、アンギュラーベアリング20aと、ステッピングモータ21aと、ピニオンギア23aと、スーパーギア24aと、光学平行平面板ホルダー25aとで、第二の回転駆動部を構成する。
アンギュラーベアリング20a,20bの回転子には、光学平行平面板ホルダー25a,25bと、スーパーギア24a,24bが保持されており、光学平行平面板5a,5bは、回転子と伴って基準光軸10の周りを回転する。
ピニオンギア23a,23bは、ステッピングモータ21a,21bの回転シャフトに直結しており、また、スーパーギア24a,24bと噛み合っている。
上述したように、アンギュラーベアリング20a,20bは、その回転軸が基準光軸10と一致しているので、光学平行平面板5a,5bは、基準光軸10に対して角度を維持したまま回転する。
以上により、光測定位置走査部4の動作に必要な駆動制御が可能となる。
また、光測定位置走査部4では、原理上レーザービームの平行移動のみが生じ、角度変位は生じないため、従来の波面収差計測装置1で必要であったオートコリメータ等の角度補償のための計測手段が不要であり、装置の小型化、低コスト化、信頼性向上が可能となる。
また、光測定位置走査部4において、平行移動長さ、方位に依存せず、光路長が一定であるため、光路長変化に伴う波面収差の変化がなく、測定精度の向上が可能となる。
Claims (3)
- 被験レンズを透過した光源からの光を集光するレンズレットアレイと、当該レンズレットアレイが集光した集光スポット像を受光して画像信号に変換する二次元撮像素子とを内蔵し、波面収差を検出する波面検出部と、前記波面検出部が出力した前記画像信号に対し信号処理を行い、前記被験レンズの前記波面収差を演算する信号処理部とを有する波面収差計測装置であって、
前記波面検出部で検出される光波を各々透過し、厚さ、屈折率が等しく、かつ、前記波面検出部の基準光軸に対し等しい角度で傾斜する第一の光学平行平面板および第二の光学平行平面板と、前記第一の光学平行平面板と前記第二の光学平行平面板とを前記基準光軸のまわりに各々回転させる第一の回転駆動部と第二の回転駆動部とを有する光測定位置走査部
を備えた波面収差計測装置。 - 前記波面検出部は、
シャックハルトマン方式の原理により前記波面収差の検出を行う
ことを特徴とする請求項1記載の波面収差計測装置。 - 前記第一の回転駆動部および前記第二の回転駆動部は、
各々、電気モータと、前記電気モータの回転を前記光学平行平面板の回転に変換する平歯車群と、前記波面検出部の基準光軸と回転軸が一致する回転ベアリングとを有し、
前記第一の光学平行平面板および前記第二の光学平行平面板は、
各々、前記回転ベアリングの回転子に装着される
ことを特徴とする請求項1または請求項2記載の波面収差計測装置。
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