JP6283502B2 - ワーク厚み測定器 - Google Patents

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Description

本発明は、研削中の板状ワークの厚みをリアルタイムで測定するワーク厚み測定器に関する。
板状ワークの研削装置には、研削中の板状ワークの厚みを測定する測定器として、一対の接触式のハイトゲージが設けられている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載のワーク厚み測定器では、第1のハイトゲージの測定子がチャックテーブルの上面に接触されて、チャックテーブルの上面高さが測定され、第2のハイトゲージの測定子が板状ワークの上面に接触されて、板状ワークの上面高さが測定される。そして、第1、第2のハイトゲージの測定値がそれぞれ算出部に入力され、算出部において第1、第2のハイトゲージの測定値の差分から板状ワークの厚みが算出される。
特開2008−073785号公報
しかしながら、特許文献1の研削装置では、第1、第2のハイトゲージによってチャックテーブルの上面高さと板状ワークの上面高さが個別に測定されるため、板状ワークの厚みが個々のハイトゲージの測定精度の影響を受けてしまっていた。また、チャックテーブルの上面高さと板状ワークの上面高さの測定値を個別に取得して、これら測定値の差分を算出する必要があり、制御構成が煩雑になるという問題があった。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、簡易な制御構成で、板状ワークの厚みを高精度に測定することができるワーク厚み測定器を提供することを目的とする。
本発明のワーク厚み測定器は、チャックテーブルで保持する板状ワークの厚みを測定するワーク厚み測定器であって、チャックテーブルの上面に接触する第1の測定子と、第1の測定子をチャックテーブルの上面に対して垂直方向に移動させる第1の移動部と、を備える第1の測定機構と、チャックテーブルの上面に保持される板状ワークの上面に接触させる第2の測定子と、第2の測定子をチャックテーブルの上面に対して垂直方向に移動させる第2の移動部と、を備える第2の測定機構と、第1の測定子の高さと第2の測定子の高さとの差を測定する高さ差測定部と、同一面上に該第1の測定子と該第2の測定子とを接触させた時の該高さ差測定部が測定した測定値をゼロにして該高さ差測定部の原点出しを行なう原点出し部と、で少なくとも構成され、高さ差測定部が測定した測定値を板状ワークの厚みとする。
この構成によれば、第1の測定子と第2の測定子の高さ差から、チャックテーブルの上面から板状ワークの上面までの高さである板状ワークの厚みが直接的に測定される。このため、チャックテーブルの上面高さと板状ワークの上面高さの個別の測定値が不要となり、個別の測定値を用いた算出処理を省略して制御構成を簡略化することができる。また、個別の測定値が不要になるため、チャックテーブル及び板状ワークの上面高さの測定精度の影響を受けることがない。
本発明によれば、第1の測定子と第2の測定子の高さ差を直接的に測定することで、簡易な制御構成で、板状ワークの厚みを高精度に測定することができる。
第1の実施の形態に係るワーク厚み測定器の模式図である。 第1の実施の形態に係る第2の測定機構の第2の測定子の動作説明図である。 第1の実施の形態に係るワーク厚み測定器の測定動作の説明図である。 第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器の模式図である。 第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器の測定動作の説明図である。
以下、添付図面を参照して、ワーク厚み測定器について説明する。図1は、第1の実施の形態に係るワーク厚み測定器の模式図である。なお、図1Aはワーク厚み測定器の正面模式図、図1Bはワーク厚み測定器の側面模式図を示している。図1Bについては、説明の便宜上、第1の測定機構のみを図示している。また、本実施の形態に係るワーク厚み測定器は、図1に示す構成に限定されない。本発明は、一対の測定子を用いて板状ワークの厚みを測定可能な構成であれば、どのように構成されてもよい。
図1に示すように、ワーク厚み測定器1は、研削対象の板状ワークWの厚みとして、チャックテーブル41上の第1の測定子15aと板状ワークW上の第2の測定子15bの高さ位置との差を直接的に測定している。ワーク厚み測定器1は、第1の測定子15aをチャックテーブル41の上面42に接触させる第1の測定機構11aと第2の測定子15bを板状ワークWの上面48に接触させる第2の測定機構11bとを隣接して配置している。第1の測定機構11aは、アーム部18aの先端側の第1の測定子15aを、昇降シリンダ16aの駆動力と上下の板バネ17aの付勢力とによって昇降させるように構成されている。
第1の測定機構11aは、支持台35の側面36に片持ちで支持されており、基端側の固定板21aで支持台35の側面36に固定されている。固定板21aからはチャックテーブル41に向かって上下の板バネ17aが伸びており、板バネ17aの先端には固定板21aに左右方向で対向する可動板23aが支持されている。可動板23aのチャックテーブル41側の表面24aからはチャックテーブル41に向かってアーム部18aが延びており、アーム部18aの先端側にはピン状の第1の測定子15aが固定されている。第1の測定子15aは、チャックテーブル41の上面42における保持面43周囲の環状平面44に接触される。
固定板21aの表面22aには、可動板23a側に向かって延びる載置板26aが片持ちで支持されている。載置板26aの先端側には、シリンダロッド19aを上方に突出させたエアー駆動式の昇降シリンダ16aが載置されている。可動板23aの裏面25aには、載置板26aの先端側に上下方向で対向するように、固定板21a側に向かって延びる操作板27aが片持ちで支持されている。操作板27aは昇降シリンダ16aのシリンダロッド19aの上方に位置しており、操作板27aの下面28aがシリンダロッド19aに離接することで操作板27aが上下方向に操作される。
第1の測定機構11aでは、シリンダロッド19aが上昇して操作板27aを押し上げることで、板バネ17aの付勢力に抗してアーム部18aの先端側の第1の測定子15aが上方に移動される。また、シリンダロッド19aが沈み込んで操作板27aに対するシリンダロッド19aの押圧力が解除されることで、板バネ17aの付勢力によってアーム部18aの先端側の第1の測定子15aが下方に移動される。このように、第1の測定機構11aは、第1の移動部としての昇降シリンダ16aと板バネ17aによってチャックテーブル41の上面42に対して垂直方向に移動される。
第2の測定機構11bも第1の測定機構11aと同様に構成されており、第2の移動部としての昇降シリンダ16bと上下の板バネ17bによって第2の測定子15bをチャックテーブル41の上面42に対して垂直方向に移動される(図2参照)。また、第1の測定機構11aと第2の測定機構11bとの間には、第1の測定子15aの高さと第2の測定子15bの高さとの差を測定する高さ差測定部12が設けられている。高さ差測定部12は、第2の測定機構11bに支持されたセンサ部31を用いて、センサ部31のセンサ面32から第1の測定機構11aに設けられた測定板33までの距離を測定している。
高さ差測定部12は、センサ部31のセンサ面32から測定板33までの距離の変化量に応じて、第1、第2の測定子15a、15bの高さ差を測定している。この場合、高さ差測定部12は、センサ部31に接続された原点出し部13によって原点出しされている。原点出し部13は、板状ワークWを載置する前に、チャックテーブル41の上面42に第1の測定子15aと第2の測定子15bとを接触させたときの高さ差の測定値をゼロにして原点出しを行っている。高さ差測定部12は、このときの高さ差を基準とした第1の測定子15aと第2の測定子15bの高さ差の変化量を測定している。
このように、高さ差測定部12は、第1、第2の測定子15a、15bの個々の高さ位置を測定するのではなく、第1、第2の測定子15a、15bの高さ差だけを測定している。すなわち、チャックテーブル41の上面42に対する第1の測定子15aの接触位置と板状ワークWの上面48に対する第2の測定子15bの接触位置を個々に測定せず、チャックテーブル41の上面42に対する第1の測定子15aの接触位置から板状ワークWの上面48に対する第2の測定子15bの接触位置までの距離だけを直接的に測定している。第1、第2の測定子15a、15bの高さ差は、板状ワークWの厚みに対応している。
高さ差測定部12の測定値は、板状ワークWの厚みとして研削装置(不図示)の制御部に出力されて研削量の制御に使用される。本実施の形態に係る高さ差測定部12では、チャックテーブル41の上面高さと板状ワークWの上面高さを個別に測定する構成ではないため、個々の上面高さ測定時の測定精度の影響を受けることがない。また、板状ワークWの厚みを直接的に測定するための算出処理も不要になっている。
なお、高さ差測定部12のセンサ部31は、第1、第2の測定子15a、15bの高さ差を測定可能な構成であればよく、例えば、渦流センサ、静電容量センサ、超音波センサのいずれで構成されてもよい。センサ部31は、非接触式のセンサに限らず、接触式のセンサで構成されてもよい。第1の測定機構11aに測定板33、第2の測定機構11bにセンサ部31を設ける代わりに、第1の測定機構11aにセンサ部31、第2の測定機構11bに測定板33を設けてもよい。また、センサ部31及び測定板33は、第1、第2の測定子15a、15bと一体に移動すればよく、第1、第2の測定機構11a、11bのどの位置に設けられてもよい。
続いて、図2及び図3を参照して、第1の実施の形態に係るワーク厚み測定器の測定動作について説明する。図2は、第1の実施の形態に係る第2の測定機構の第2の測定子の動作説明図である。図3は、第1の実施の形態に係るワーク厚み測定器の測定動作の説明図である。なお、第1の測定機構の第1の測定子の動作は第2の測定機構の第2の測定子の動作と略同様であるため、ここでは説明を省略する。
まず、第2の測定子の動作について説明する。図2Aに示すように、第2の測定機構11bは、第2の測定子15bをチャックテーブル41の保持面43上に載置する。昇降シリンダ16bのシリンダロッド19bは沈み込んでおり、シリンダロッド19bの上端が操作板27bの下面28bから離れている。このため、上下の板バネ17bの付勢力によって、アーム部18bの先端側の第2の測定子15bが保持面43に押し付けられている。この状態では、第1の測定機構11aの第1の測定子15aもチャックテーブル41の環状平面44に押し付けられており、第1、第2の測定子15a、15bの高さ差測定の原点出しが行われる(図3A参照)。
次に、図2Bに示すように、昇降シリンダ16bのシリンダロッド19bが突出して、シリンダロッド19bの上端が操作板27bの下面28bに当接される。これにより、上下の板バネ17bの付勢力に抗してシリンダロッド19bによって操作板27bが押し上げられて、アーム部18bの先端側の第2の測定子15bがチャックテーブル41の保持面43から離間される。このとき、第2の測定子15bの下端が板状ワークWの厚みよりも僅かに高くなる位置で、操作板27bがシリンダロッド19bの押圧力によって支持されている。この状態で、チャックテーブル41の保持面43に板状ワークWが保持される。
次に、図2Cに示すように、昇降シリンダ16bのシリンダロッド19bが沈み込み、シリンダロッド19bの上端が操作板27bの下面28bから離間される。これにより、操作板27bを支えていたシリンダロッド19bの押圧力が解除され、上下の板バネ17bの付勢力によって操作板27bと共にアーム部18bの先端側の第2の測定子15bが下方に移動される。そして、第2の測定子15bの下端が板状ワークWの上面48に当接され、第2の測定子15bの下端が上下の板バネ17bの付勢力によって板状ワークWの上面48に押し付けられる。このようにして、板状ワークWの上面48に第2の測定子15bが接触される。
続いて、ワーク厚み測定器1の測定動作について説明する。図3Aに示すように、チャックテーブル41上に板状ワークWが保持されていない初期状態では、第1の測定子15aがチャックテーブル41の環状平面44に接触され、第2の測定子15bがチャックテーブル41の環状平面44と同一面上の保持面43に接触されている。この初期状態で、高さ差測定部12によりセンサ部31のセンサ面32と測定板33との距離Lが測定され、距離Lがゼロにされて高さ差測定部12の原点出しが行われる。これにより、第1、第2の測定子15a、15bが同一平面内で接触する際のセンサ面32の高さが原点Oに設定される。
次に、図3Bに示すように、チャックテーブル41上に板状ワークWが保持された状態では、第1の測定子15aがチャックテーブル41の環状平面44に接触され、第2の測定子15bが板状ワークWの上面48に接触されている。そして、高さ差測定部12によりセンサ部31のセンサ面32の原点Oからの距離Lが測定される。この距離Lは、第1の測定子15aと第2の測定子15bの高さ差、すなわち板状ワークWの厚みtに相当している。このように、本実施の形態に係るワーク厚み測定器1では、板状ワークWの厚みtが直接的に測定される。
次に、図3Cに示すように、チャックテーブル41に保持された板状ワークWの上方に研削ユニット46が位置付けられる。そして、研削ユニット46の研削ホイール47が回転しながらチャックテーブル41に近づけられ、研削ホイール47と板状ワークWの上面48とが回転接触することで板状ワークWが研削される。研削中は、ワーク厚み測定器1によって板状ワークWの厚みtがリアルタイムに測定される。そして、ワーク厚み測定器1の測定値が板状ワークWの仕上げ厚みに近づくように研削ユニット46の送り量が制御される。
研削ユニット46の送り量の制御では、ワーク厚み測定器1からは板状ワークWの厚みtが直接的に測定されるため、板状ワークWの厚みtを求めるためにチャックテーブル41の上面高さや板状ワークWの上面高さに関する情報が不要である。よって、研削中に、板状ワークWの厚みtをチャックテーブル41の上面高さと板状ワークWの上面高さからリアルタイムで算出する必要がなく、研削装置の制御構成を簡略化することができる。なお、チャックテーブル41の上面高さに関する情報は、研削ユニット46の送り量の制御には使用されないが、セットアップ等で使用されるように予め装置内に記憶されている。
以上のように、第1の実施の形態に係るワーク厚み測定器1によれば、第1の測定子15aと第2の測定子15bの高さ差から、チャックテーブル41の上面42から板状ワークWの上面48までの高さである板状ワークWの厚みtが直接的に測定される。このため、チャックテーブル41の上面高さと板状ワークWの上面高さの個別の測定値が不要となり、個別の測定値を用いた算出処理を省略して制御構成を簡略化することができる。また、個別の測定値が不要になるため、チャックテーブル41及び板状ワークWの上面高さの測定精度の影響を受けることがない。
次に、図4及び図5を参照して、第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器について説明する。図4は、第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器の模式図である。図5は、第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器の測定動作の説明図である。なお、第2の実施の形態は、片側の昇降シリンダで第1、第2の測定子をチャックテーブルの上面に対して垂直方向に移動させる点でのみ第1の実施の形態と相違している。したがって、主に相違点について詳細に説明する。
図4に示すように、第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器50は、第1の測定機構51aの昇降シリンダ52aの昇降動作に第2の測定機構51bの昇降シリンダ52bの昇降動作が連動するように構成されている。第1、第2の測定機構51a、51bは、それぞれ支持台71の側面72から突出したアーム部73a、73bの先端に支持されている。第1の測定機構51aの昇降シリンダ52aからはシリンダロッドとなる第1の測定子53aが突出している。第1の測定子53aの上端部には、昇降シリンダ52aの内部を上下に仕切るようにピストン54が設けられている。
昇降シリンダ52aの上側には、ピストン54の上方空間にエアを取り込む連通管55が設けられ、昇降シリンダ52aの下側には、ピストン54の下方空間にエアを取り込む連通管56が設けられている。連通管55、56に対する吸排気により、ピストン54を介して第1の測定子53aが昇降される。一方、第2の測定機構51bの昇降シリンダ52bは、第1の測定機構51aの昇降シリンダ52aよりも小径に形成されており、昇降シリンダ52bからはシリンダロッドとなる第2の測定子53bが突出している。第2の測定機構51bの昇降シリンダ52b自体には、第2の測定子53bを昇降させる構成が設けられていない。
第1の測定機構51aと第2の測定機構51bとの間には、第1の測定子53aの高さと第2の測定子53bの高さとの差を測定する高さ差測定部57が設けられている。高さ差測定部57では、第1の測定子53aに測定板61が設けられ、第2の測定子53bに支持板62を介してセンサ部63が設けられている。高さ差測定部57は、第2の測定子53bに支持されたセンサ部63のセンサ面64(図5参照)から第1の測定子53aに支持された測定板61までの距離に基づいて、第1、第2の測定子53a、53bの高さ差を測定している。センサ部63には、高さ差測定部57の原点出しを行う原点出し部65が接続されている。
また、第1の測定子53aに設けられた測定板61は、第2の測定子53bに設けられた支持板62の下側に位置している。このため、第1の測定機構51aの昇降シリンダ52aによって第1の測定子53aが上昇されると、測定板61によって支持板62が持ち上げられて第2の測定子53bも上昇される。また、第1の測定機構51aの昇降シリンダ52aによって第1の測定子53aが下降されると、第2の測定子53bは自重により下降する。このように、第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器50では、第1の測定子53aの昇降動作に第2の測定子53bの昇降動作が連動される。
続いて、ワーク厚み測定器50の測定動作について説明する。図5Aに示すように、チャックテーブル41上に板状ワークWが保持されていない初期状態では、第1の測定子53aがチャックテーブル41の環状平面44に接触され、第2の測定子53bがチャックテーブル41の環状平面44と同一平面上の保持面43に接触されている。このとき、昇降シリンダ52a内に上側の連通管55からエアが供給され、下側の連通管56から昇降シリンダ52a内のエアが排出される。よって、第1の測定子53aはチャックテーブル41の環状平面44に押し付けられている。また、第2の測定子53bは自重によってチャックテーブル41の保持面43に押し付けられている。
この初期状態で、高さ差測定部57によりセンサ部63のセンサ面64と測定板61との距離が測定され、距離がゼロにされて高さ差測定部57の原点出しが行われる。これにより、第1、第2の測定子53a、53bが同一平面内で接触する際のセンサ面64の高さが原点Oに設定される。なお、第2の実施の形態では、第1、第2の測定子53a、53bが同一平面に接触した状態で、測定板61にセンサ面64が接触しているが、この初期状態で測定板61からセンサ面64が離れていてもよい。
次に、図5Bに示すように、昇降シリンダ52a内に下側の連通管56からエアが供給され、上側の連通管55から昇降シリンダ52a内のエアが排出される。そして、昇降シリンダ52a内のピストン54と共に第1の測定子53aが上昇され、第1の測定子53aに設けられた測定板61が第2の測定子53bに設けられた支持板62に下方から当接される。これにより、測定板61によって支持板62が押し上げられて、第1の測定子53aがチャックテーブル41の環状平面44から離間されると共に、第2の測定子53bがチャックテーブル41の保持面43から離間される。このとき、第2の測定子53bの下端が板状ワークWの上方に位置付けられ、チャックテーブル41の保持面43に板状ワークWが保持される。
次に、図5Cに示すように、昇降シリンダ52a内に上側の連通管55からエアが供給され、下側の連通管56から昇降シリンダ52a内のエアが排出される。そして、昇降シリンダ52a内のピストン54と共に第1の測定子53aが下降され、第1の測定子53aがチャックテーブル41の環状平面44に接触される。また、支持板62を支えていた測定板61が下降することで、支持板62に設けられた第2の測定子53bが自重によって下降され、第2の測定子53bが板状ワークWの上面48に接触される。そして、センサ部63のセンサ面64の原点Oからの距離Lが測定され、板状ワークWの厚みtが直接的に測定される。
以上のように、第2の実施の形態に係るワーク厚み測定器50においても、板状ワークWの厚みtが直接的に測定される。このため、チャックテーブル41の上面高さと板状ワークWの上面高さの個別の測定値が不要となり、個別の測定値を用いた算出処理を省略して制御構成を簡略化することができる。また、個別の測定値が不要になるため、チャックテーブル41及び板状ワークWの上面高さの測定精度の影響を受けることがない。また、第1の測定機構51aにのみ駆動式の昇降シリンダ52aを設ければよいので、部品点数を削減することができ、装置構成を簡略化することができる。
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。
例えば、第1の実施の形態において、第1、第2の測定機構11a、11bがそれぞれ昇降シリンダ16a、16bを備える構成としたが、この構成に限定されない。第1、第2の測定機構11a、11bのいずれか一方に昇降シリンダ16を設けて、第1、第2の測定子15a、15bを同時に持ち上げるように構成されてもよい。すなわち、第1、第2の測定機構11a、11bの操作板27a、27bを連結させて、一方の昇降シリンダ16によって昇降した一方の操作板27に他方の操作板27を連動させるようにする。
また、第1の実施の形態では、第1の測定子15aを移動させる第1の移動部が昇降シリンダ16a及び板バネ17aで構成されたが、この構成に限定されない。第1の移動部は、第1の測定子15aをチャックテーブル41の上面42に対して垂直方向に移動可能な構成であれば、どのように構成されてもよい。同様に、第2の移動部は、第2の測定子15bをチャックテーブル41の上面42に対して垂直方向に移動可能な構成であれば、どのように構成されてもよい。
また、第2の実施の形態では、第1の測定子53aを移動させる第1の移動部が昇降シリンダ52aで構成されたが、この構成に限定されない。第1の移動部は、第1の測定子53aをチャックテーブル41の上面42に対して垂直方向に移動可能な構成であれば、どのように構成されてもよい。また、第2の測定子53bを移動させる第2の移動部が昇降シリンダ52bと昇降シリンダ52aで構成されたが、この構成に限定されない。第2の移動部は、第1の移動部の駆動に連動して、第2の測定子53bをチャックテーブル41の上面42に対して垂直方向に移動可能な構成であれば、どのように構成されてもよい。昇降シリンダ52aは、第1、第2の測定子53a、53bを上昇させるときだけ連通管56にエアを供給し、連通管55、56を大気に開放させて第1、第2の測定子53a、53bを自重で下降させてもよい。
また、各実施の形態では、第1の測定子15a、53aがピン状に形成されたが、この構成に限定されない。第1の測定子15a、53aはチャックテーブル41の上面42に対して接触可能な構成であれば、どのように構成されてもよい。同様に、第2の測定子15b、53bは板状ワークWの上面48に対して接触可能な構成であれば、どのように構成されてもよい。
また、各実施の形態では、ワーク厚み測定器1、50が原点出し部13、65を備える構成としたが、この構成に限定されない。ワーク厚み測定器1、50は、原点出しせずに板状ワークWの厚みを測定可能であれば、原点出し部13、65を備えない構成にしてもよい。
また、各実施の形態では、ワーク厚み測定器1、50が研削装置に設けられる構成について説明したが、この構成に限定されない。ワーク厚み測定器1、50は、板状ワークWの厚み測定に用いられる他の加工装置に適用可能である。
また、各実施の形態では、高さ差測定部12、57が第1の測定機構11a、51a及び第2の測定機構11b、51bのいずれか一方にスケールを取り付け、いずれか他方にスケールの値を読み取る読み取り器を設けて測定する構成にしてもよい。
以上説明したように、本発明は、簡易な制御構成で、板状ワークの厚みを高精度に測定することができるという効果を有し、特に、研削中の板状ワークの厚みをリアルタイムで測定するワーク厚み測定器に有用である。
1、50 ワーク厚み測定器
11a、51a 第1の測定機構
11b、51b 第2の測定機構
12、57 高さ差測定部
13、65 原点出し部
15a、53a 第1の測定子
15b、53b 第2の測定子
16a、16b、52a、52b 昇降シリンダ(第1、第2の移動部)
17a、17b 板バネ(第1、第2の移動部)
31、63 センサ部
32、64 センサ面
33、61 測定板
41 チャックテーブル
42 チャックテーブルの上面
48 板状ワークの上面
W 板状ワーク

Claims (1)

  1. チャックテーブルで保持する板状ワークの厚みを測定するワーク厚み測定器であって、
    該チャックテーブルの上面に接触する第1の測定子と、該第1の測定子を該チャックテーブルの上面に対して垂直方向に移動させる第1の移動部と、を備える第1の測定機構と、
    該チャックテーブルの上面に保持される板状ワークの上面に接触させる第2の測定子と、該第2の測定子を該チャックテーブルの上面に対して垂直方向に移動させる第2の移動部と、を備える第2の測定機構と、
    該第1の測定子の高さと該第2の測定子の高さとの差を測定する高さ差測定部と、
    同一面上に該第1の測定子と該第2の測定子とを接触させた時の該高さ差測定部が測定した測定値をゼロにして該高さ差測定部の原点出しを行なう原点出し部と、で少なくとも構成され、
    該高さ差測定部が測定した測定値を板状ワークの厚みとするワーク厚み測定器。
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