JP6278917B2 - 成分濃度測定装置及び成分濃度測定方法 - Google Patents

成分濃度測定装置及び成分濃度測定方法 Download PDF

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本発明は、誘電分光を用いて成分濃度を測定する技術に関する。
高齢化が進み、成人病に対する対応が大きな課題になっている。血糖値などの検査は血液の採取が必要なために患者にとって大きな負担である。そのため、血液を採取しない非侵襲な成分濃度測定装置が注目されている。
非侵襲な成分濃度測定装置として、誘電分光法を用いた装置が提案されている。誘電分光法は、皮膚内に電磁波を照射し、測定対象の血液成分、例えば、グルコース分子と水の相互作用に従い、電磁波を吸収させ、電磁波の周波数に対する振幅及び位相を観測する。観測される電磁波の周波数に対する振幅及び位相から、誘電緩和スペクトルを算定する。一般的には、Cole−Cole式に基づき緩和カーブの線形結合として表現し、複素誘電率を算定する。生体成分の計測では、例えば血液中に含まれるグルコースやコレステロール等の血液成分の量に複素誘電率が相関があり、その変化に対応した電気信号(振幅、位相)として測定される。複素誘電率変化と成分濃度との相関を予め測定することによって検量モデルを構築し、計測した誘電緩和スペクトルの変化から成分濃度の検量を行う。
従来の測定法としては、マイクロ波からミリ波以上の周波数帯では、光電気変換を利用した誘電分光装置がある(特許文献1、非特許文献1参照)。特許文献1の誘電分光装置は、周波数の異なる2つの連続光波が合成された光信号を光電変換して電磁波、例えばテラヘルツ波を発生し、発生したテラヘルツ波を被測定対象物に照射し、被測定対象物を透過したテラヘルツ波を受信するとともに、2つの連続光波のうちの一方の位相を変調して合成した参照光を入力してホモダインミキシングする構成である。ホモダインミキシングする検出器には例えば、光伝導アンテナを用い、参照光の照射によりアンテナ間のコンダクタンスが参照光に含まれる2つの連続光波間の差周波数にて変調されることで実現される。従来の誘電分光装置においては、電磁波をホモダイン検波する際には、検出器で被測定対象物を透過した光信号と参照光をミキシングするときにおける2つの光路長差が一致していることが必要である。そのため、空間を伝搬するテラヘルツ波の伝搬長や光が伝搬するファイルの長さ等を調節する。
また、2つの連続光波の光源を、連続発振した音響光学素子を用いた1つのデュアルモード光源で実現した誘電分光装置も知られている(非特許文献2参照)。
特開2013−32933号公報
Jae-Young Kim, Ho-Jin Song, Katsuhiro Ajito, Makoto Yaita, and Naoya Kukutsu,"Continuous-Wave THz Homodyne Spectroscopy and Imaging System With Electro-Optical Phase Modulation for High Dynamic Range", IEEE Transactions on terahertz science and technology, March 2013, Vol. 3, No. 2, pp.158-164 Steven Jones, JaeYoung Kim, Yoshiyuki Doi, Takashi Yamada, Nobutatsu Koshobu, and Hiroyoshi Togo,"Ultra-Wideband Tunable Dual-Mode Laser for Continuous Wave Teraherts Generation", Journal of Lightwave Technology, 2014, Vol. 32, Issue 20, pp.3461-3467 Andrew P. Gregory, and Robert N. Clarke,"A Review of RF and Microwave Techniques for Dielectric Measurements on Polar Liquids", IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, August 2006, Vol. 13, No. 4, pp.727-743
しかしながら、音響光学素子を用いたデュアルモード光源では、2つの周波数成分が1THz以下に近接すると、2つの周波数の中間の周波数において3つ目の発振ピークが発生する。そのため、2つの所望の周波数の組合せによる差周波ビート信号の他にも差周波ビート信号が発生してしまい、周波数帯で連続したスペクトルが得られないという課題があった。その結果、連続して取得したスペクトルを利用した被測定物質のピーク同定が困難となり、そのピーク強度を利用した濃度定量も困難となる。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、誘電分光法を利用した成分濃度測定装置において連続したスペクトルを得ることを目的とする。
第1の本発明に係る成分濃度測定装置は、周波数の異なる2つの連続光波が合成された光信号を出力するデュアルモード光源と、前記光信号の前記2つの連続光波の中間の周波数をフィルタリングするフィルタと、前記光信号を光電変換して電磁波を発生させ、被測定対象物を透過又は反射した前記電磁波を受信して当該電磁波の振幅を測定する測定手段と、前記2つの連続光波の中間の周波数が前記フィルタがフィルタリングする帯域で固定されるように前記デュアルモード光源を制御して前記2つの連続光波の周波数を変化させる制御手段と、を有することを特徴とする。
上記成分濃度測定装置において、前記フィルタは、前記2つの連続光波の中間の周波数をフィルタリングする光ノッチフィルタであることを特徴とする。
上記成分濃度測定装置において、前記フィルタは、前記2つの連続光波の周波数成分がそれぞれ含まれるように前記光信号を分波する分波器と、一方の分岐先に配置され、前記中間の周波数をフィルタリングする光フィルタと、で構成されることを特徴とする。
上記成分濃度測定装置において、前記測定手段は、ホモダイン検波により前記電磁波の位相を測定することを特徴とする。
第2の本発明に係る成分濃度測定方法は、デュアルモード光源が周波数の異なる2つの連続光波が合成された光信号を出力するステップと、前記光信号の前記2つの連続光波の中間の周波数をフィルタリングするステップと、前記光信号を光電変換して電磁波を発生させ、被測定対象物を透過又は反射した前記電磁波を受信して当該電磁波の振幅を測定するステップと、前記2つの連続光波の中間の周波数が前記フィルタリングするステップでフィルタリングされる帯域で固定されるように前記デュアルモード光源を制御して前記2つの連続光波の周波数を変化させるステップと、を有することを特徴とする。
上記成分濃度測定方法において、前記測定するステップは、ホモダイン検波により前記電磁波の位相を測定することを特徴とする。
本発明によれば、誘電分光法を利用した成分濃度測定装置において連続したスペクトルを得ることができる。
第1の実施の形態における成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。 デュアルモード光源の制御を説明するための図である。 第1の実施の形態における別の成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。 第2の実施の形態における成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。 第2の実施の形態における別の成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。 第3の実施の形態における成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。 第3の実施の形態における別の成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。 第3の実施の形態におけるさらに別の成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。 誘電分光センサの測定系を示す図である。 別の誘電分光センサの測定系を示す図である。
[第1の実施の形態]
図1は、第1の実施の形態における成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。
図1に示す成分濃度測定装置は、デュアルモード光源11、光ノッチフィルタ12、振幅変調器13、発振器14、放射器15、検出器16、ロックインアンプ17、モニタ18、および制御器19を備える。
デュアルモード光源11は、制御器19により制御電圧で制御されて、2つの異なる周波数の連続光波が合成された光信号を出力する。図2は、デュアルモード光源11の制御を説明するための図である。図2に示すように、制御器19は、デュアルモード光源11が出力する2つの連続光波の周波数F1,F2のそれぞれが、F3=193.15THzを中心として、F1=193.125THz以下、F2=193.175THz以上になるように制御電圧を線形に変化させて、放射器15に入力されるF2−F1の差周波ビート信号を線形にスイープする。例えば、0.6THzの電磁波を発生するためには、F1=192.85THz、F2=193.45THzとする。
光ノッチフィルタ12は、光信号の周波数F1,F2の中間の周波数F3をフィルタリングする機能を有する。例えば、フィルタリングする帯域幅は50GHz、中心周波数は193.15THzである。光ノッチフィルタ12は、石英、ポリマー基板上に誘電体多層膜により形成できる。誘電体多層膜の層数を増加させることにより急峻なフィルタ特性を有するフィルタを構成することが可能である。制御器19が、光信号の周波数F1,F2を、中間の周波数F3に対して等しく周波数偏移させることで、3つ目の発振ピークの周波数F3は、光ノッチフィルタ12の中心周波数に固定でき、光ノッチフィルタ12で効率的に3つ目の発振ピークをフィルタリングし、周波数帯で連続したスペクトルを得ることができる。
光ノッチフィルタ12でフィルタリングされた光信号は、電磁波をダイオード検波するため、電気光学効果を用いたマッハツェンダ型の振幅変調器13で発振器14からの周波数w=100kHzに振幅変調される。
放射器15は、2つの異なる周波数の連続光波が合波された光信号の周波数差の電磁波(ミリ波又はテラヘルツ波)を発生させる。放射器15としては、例えば単一走行キャリア・フォトダイオード(UTC−PD:Uni−Traveling−Carrier Photodiode)を利用できる。
検出器16であるアンテナ付きSBD(ショットキー・バリア・ダイオード)でサンプル100を透過した電磁波を受信する。SBDでは包絡線検波により周波数wの電気信号が出力される。この電気信号を同期検波してロックインアンプ17で振幅を検出し、モニタ18で処理する。
図3は、第1の実施の形態における別の成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。
図3に示す例では、デュアルモード光源11の後に光信号を周波数F1,F2に分波する分波器21を備え、分波器21の出力の一方において周波数F1,F2の中間の周波数を除き、周波数F1を含む光フィルタ22を備え、分波器21で分波した周波数F2を含むもう一方の光信号と合波するカプラ23を備える。あるいは、周波数F1,F2の中間の周波数を除き、周波数F2を含むハイパスフィルタを備えてもよい。
光ノッチフィルタ12に比べ、ハイパスまたはローパスの光フィルタ22のほうが誘電体多層膜による急峻なフィルタ特性の実現が容易であり、多層膜の層数を低減し、低廉化を図ることができる。
以上説明したように、本実施の形態によれば、デュアルモード光源11が出力する2つの連続光波が合波された光信号の周波数F1,F2を、周波数F1,F2の中間の周波数F3に対して等しく周波数偏移させるように制御し、デュアルモード光源11の後に中間の周波数F3をフィルタリングする光ノッチフィルタ12を備えることにより、3つ目の発振ピークの周波数F3を光ノッチフィルタ12のフィルタリング帯域内の所定の周波数に固定できるため、効率的に3つ目の発振ピークをフィルタリングし、周波数帯で連続したスペクトルを得ることができる。その結果、連続して取得したスペクトルを利用した被測定物質のピーク同定が可能であり、そのピーク強度を利用した濃度定量も可能となる。
[第2の実施の形態]
図4は、第2の実施の形態における成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。
図4に示す成分濃度測定装置はホモダイン検波を行う成分濃度測定装置であり、デュアルモード光源11、光ノッチフィルタ12、スプリッタ31、振幅変調器32、発振器14、放射器15、検出器16、ロックインアンプ17、モニタ18、および制御器19を備える。
第1の実施の形態と同様に、制御器19は、3つ目の発振ピークの周波数F3が2つの連続光波が合波された光信号の周波数F1,F2の中間となるようにデュアルモード光源11を制御し、光ノッチフィルタ12は、光信号の周波数F1,F2の中間の周波数F3をフィルタリングする。
スプリッタ31で、光ノッチフィルタ12においてフィルタリングされた光信号を分岐する。一方の光信号を放射器15に入力して光電変換し、周波数差に一致する周波数の電磁波(ミリ波又はテラヘルツ波)を発生する。もう一方の光信号は、制御信号により電気的に振幅変調が可能な電気光学結晶を用いたマッハツェンダ式の振幅変調器32に発振器14からの単一周波数w(例えば100kHz)の信号を印加して振幅変調を行い、検出器16に入力する。検出器16でのミキシング時における2つの光信号の光路長差が一致するように光が伝搬するファイバの長さ等を予め調整する。なお、振幅変調は、放射器15であるUTC−PDのバイアスを変調してもよく、テラヘルツ波をチョッパー等で振幅変調してもよい。
検出器16は、放射器15から出力されてサンプル100を透過した透過信号を受信し、ホモダイン検波により、周波数wの電気信号を出力する。この電気信号をロックインアンプ17で同期検波して振幅及び位相を検出し、モニタ18で処理する(非特許文献2参照)。検出器16は、アンテナ付きSBDで構成されるTHzミキサと、アンテナ付きUTC−PDで構成されるフォトミキサとを、光ファイバと同一パッケージに実装することで実現できる。また、検出器16として、光伝導アンテナ(PCA:Photo−Conductive Antenna)を用いてもよい。
テラヘルツ波帯では、放物面鏡33,34を用いた擬似光学系によるフリースペース法により測定対象であるサンプル100にテラヘルツ波を照射し、透過信号から複素誘電率を計測する。
第2の実施の形態では、ホモダイン検波を行うことにより、第1の実施の形態に比べて、位相の検出が可能であり、誘電率の導出精度を向上することができる。
図5は、第2の実施の形態における別の成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。
図5の成分濃度測定装置は、図4の振幅変調器32の代わりに、分波器35、制御信号により電気的に位相変調が可能な電気光学結晶を用いた位相変調器36、およびカプラ37を備えたものである。
位相変調器36に、発振器14からの単一周波数w(例えば20kHz)の信号を印加してセロダイン位相変調を行い、変調周波数wと同等の周波数シフトを光信号に生じさせる。位相変調器36の制御電圧は、整数Nと2Vπ(位相がπ変化する制御電圧:Vπ)の積により、Vm(t)=N2Vπftと表せる。位相変調器36が1つの時、制御電圧の周波数の2N倍の周波数遷移が生じ、検出される信号の周波数は、制御電圧の周波数の2N倍となる(非特許文献1参照)。
検出器16は、ホモダイン検波により、周波数wの電気信号を出力する。この電気信号をロックインアンプ17で同期検波して振幅及び位相を検出し、モニタ18で処理する。
図5の構成は、局部光の位相変調により周波数遷移を行い、ホモダイン検波を行うことで、図4に比べて、局部光の光強度を低減することなくホモダイン検波が可能であり、信号のS/N比を高め、誘電率の導出精度を向上することができる。
[第3の実施の形態]
図6は、第3の実施の形態における成分濃度測定装置の構成を示す機能ブロック図である。
図6に示す成分濃度測定装置はホモダイン検波を行う濃度測定装置であり、デュアルモード光源11、分波器41、スプリッタ42,43、カプラ44,45、位相変調器46、発振器14、放射器15、検出器16、ロックインアンプ17、モニタ18、および制御器19を備える。
第1の実施の形態と同様に、制御器19は、3つ目の発振ピークの周波数F3が2つの連続光波が合波された光信号の周波数F1,F2の中間となるようにデュアルモード光源11を制御する。
分波器41は、周波数F1,F2の中間の周波数F3をカットオフ周波数として、一方の分岐をローパス、他方の分岐をハイパスとして、分波器41のフィルタ特性で中間の周波数F3の成分を抑制する。
スプリッタ42は、周波数F1を含む光信号を2つに分波し、スプリッタ43は、周波数F2を含む光信号を2つに分波する。
カプラ44は、スプリッタ42で分波された周波数F1を含む光信号とスプリッタ43で分波された周波数F2を含む光信号とを合波する。カプラ44で合波された光信号は放射器15に入力される。
位相変調器46は、制御信号により電気的に位相変調が可能な電気光学結晶を用いた位相変調器であり、スプリッタ43とカプラ45の間に配置される。位相変調器46に、発振器14からの単一周波数wの制御信号を印加してセロダイン位相変調を行い、変調周波数wと同等の周波数シフトをスプリッタ43で分波された周波数F2を含む光信号に生じさせる。
カプラ45は、スプリッタ42で分波された周波数F1を含む光信号と位相変調器46で位相変調された周波数F2+wを含む光信号とを合波する。カプラ45で合波された光信号は検出器16に入力される。
放射器15は、カプラ44で合波された光信号を光電変換し、周波数F1,F2の周波数差に一致する周波数の電磁波(ミリ波又はテラヘルツ波)を発生する。
検出器16は、カプラ45で合波された光信号を光電変換して電磁波を発生するとともに、放射器15から放射されてサンプル100を透過した電磁波を受信してホモダインミキシングする。
ロックインアンプ17は、検出器16が出力する電気信号を同期検波して振幅及び位相を検出し、モニタ18は、ロックインアンプ17が検出した振幅及び位相を処理する。
図7は、図6のデュアルモード光源11の後に光ノッチフィルタ12を加えた構成である。
図8は、図6の分波器41の後に光フィルタ22を加えた構成である。
次に、レンズを用いた誘電分光センサの測定系について説明する。
図9は、本実施の形態の誘電分光センサの測定系を示す図である。図9の例では、誘電分光センサの測定系に透過型の配置をして水溶液や油等の液体を透過した透過信号の振幅、位相を測定する。放射器15から放射されたテラヘルツ波は、レンズ51を通過し、固定治具54に保持された誘電率測定用セル53のサンプルセルに入射する。サンプルセルのサイズは、例えば、ビームサイズ以上として数ミリ×数ミリ角以上である。サンプルを固定する窓板52の材料は、高抵抗Si,Zカット水晶、HDPE、TPX、Tsurupica等を用いてもよく、測定周波数に応じて透過率の高い材料を選択する。サンプルセルを通過したテラヘルツ波は、レンズ51を通過し、検出器16で受信される。なお、サンプルセルは、インレットとアウトレットを備えるフローセル構成としてもよい。また、固体を測定してもよい。
図10は、本実施の形態の別の誘電分光センサの測定系を示す図である。図10の例では、シリコンを材料とするATRプリズム55上にサンプルセルを配置し、サンプルセルで反射した反射信号の振幅、位相を測定する。放射器15から放射されたテラヘルツ波は、レンズ51、ATRプリズム55を通過し、固定治具54に保持された誘電率測定用セル53のサンプルセルで反射する。サンプルセルは、窓板52で誘電率測定用セル53に封止される。サンプルセルで反射したテラヘルツ波は、ATRプリズム55、レンズ51を通過し、検出器16で受信される。
11…デュアルモード光源
12…光ノッチフィルタ
13…振幅変調器
14…発振器
15…放射器
16…検出器
17…ロックインアンプ
18…モニタ
19…制御器
21…分波器
22…光フィルタ
23…カプラ
31…スプリッタ
32…振幅変調器
33,34…放物面鏡
35…分波器
36…位相変調器
37…カプラ
41…分波器
42,43…スプリッタ
44,45…カプラ
46…位相変調器
51…レンズ
52…窓板
53…誘電率測定用セル
54…固定治具
55…ATRプリズム
100…サンプル

Claims (6)

  1. 周波数の異なる2つの連続光波が合成された光信号を出力するデュアルモード光源と、
    前記光信号の前記2つの連続光波の中間の周波数をフィルタリングするフィルタと、
    前記光信号を光電変換して電磁波を発生させ、被測定対象物を透過又は反射した前記電磁波を受信して当該電磁波の振幅を測定する測定手段と、
    前記2つの連続光波の中間の周波数が前記フィルタがフィルタリングする帯域で固定されるように前記デュアルモード光源を制御して前記2つの連続光波の周波数を変化させる制御手段と、
    を有することを特徴とする成分濃度測定装置。
  2. 前記フィルタは、前記2つの連続光波の中間の周波数をフィルタリングする光ノッチフィルタであることを特徴とする請求項1記載の成分濃度測定装置。
  3. 前記フィルタは、前記2つの連続光波の周波数成分がそれぞれ含まれるように前記光信号を分波する分波器と、一方の分岐先に配置され、前記中間の周波数をフィルタリングする光フィルタと、で構成されることを特徴とする請求項1記載の成分濃度測定装置。
  4. 前記測定手段は、ホモダイン検波により前記電磁波の位相を測定することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の成分濃度測定装置。
  5. デュアルモード光源が周波数の異なる2つの連続光波が合成された光信号を出力するステップと、
    前記光信号の前記2つの連続光波の中間の周波数をフィルタリングするステップと、
    前記光信号を光電変換して電磁波を発生させ、被測定対象物を透過又は反射した前記電磁波を受信して当該電磁波の振幅を測定するステップと、
    前記2つの連続光波の中間の周波数が前記フィルタリングするステップでフィルタリングされる帯域で固定されるように前記デュアルモード光源を制御して前記2つの連続光波の周波数を変化させるステップと、
    を有することを特徴とする成分濃度測定方法。
  6. 前記測定するステップは、ホモダイン検波により前記電磁波の位相を測定することを特徴とする請求項5記載の成分濃度測定方法。
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