JP6264180B2 - センサー基材の組み合わせ選定システム、タッチパネルセンサーの製造装置及び検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、コンピュータの位置入力装置に関し、表示画面に重ねて用いられるセンサー基材の選定システム、タッイパネルセンサーの製造方法及び検査装置に関する。

近年、入力手段としてタッチパネルが広く用いられている。一般にタッチパネルは、入出力する情報を処理する情報処理部並びに情報入力に対するタッチパネルセンサー、タッチパネルセンサー上への接触位置を検出する制御回路およびタッチパネルセンサーと当該情報処理部とを接続する配線を有する基板等を含む。タッチパネルは多くの場合、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）もしくは、有機ＥＬディスプレイ等の表示装置が組み込まれた種々の機器等（例えば、パーソナルコンピュータのディスプレイ、券売機等の販売機、ＡＴＭ（現金自動預け払い機）、携帯電話、携帯情報端末、電子書籍端末、コピー機、デジタルオーディオプレーヤ、ゲーム機およびカーナビゲーション）に対する入力手段として表示装置とともに用いられている。このとき、タッチパネルは表示装置の組み込まれた機器の表示面上に配置され、その機器に対する直接的な入力を可能にする。

タッチパネルには、抵抗膜方式、静電容量方式、超音波方式、光学方式、電磁誘導方式などがあり、これまでは価格の面から抵抗膜方式が主流であった。しかしながら抵抗膜方式には、誤作動が多い等の欠点があり、静電容量方式を採用するメーカーが増えてきている。

一般にタッチパネルセンサーは、透明導電材料で形成された複数のＸ軸方向のセンサー配線とＹ軸方向のセンサー配線とが交差した構造からなる。例えば、携帯電話、携帯情報端末などの小型機器では、透明導電材料として酸化インンジウム・スズ（ＩＴＯ）や酸化スズなどの金属酸化物が、その透明性に優れていることから用いられている。しかしながら、最近では券売機等の販売機、ＡＴＭなどの大型機器でのタッチパネルの需要が増し、前記ＩＴＯなどの金属酸化物では抵抗が大きく、様々な問題が生じている。

そこで大型機器への対応として、低抵抗材料として優れている銅、銀、金などの金属材料が検討されており、特にコストや加工性に優れる銅材が主流となっている。しかしながら、このような金属材料は遮光性（隠蔽性）が強いため、形成した配線パターンの線幅によっては容易に視認できると言う問題がある。そこで、複数のＸ軸方向のセンサー配線やＹ軸方向のセンサー配線を形成するにあたっては、容易に視認できない程度に線幅をより細くする必要がある。具体的には、たとえば線幅１０μｍ以下、ピッチ０．５〜２ｍｍの間隔で形成する必要がある。

上記のような緻密なセンサー配線パターンを微細に形成する方法としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）フィルムと銅箔との積層体を用いて、Ｘ軸方向またはＹ軸方向のセンサー配線をフォトリソ法およびエッチング法により形成する方法が知られている。

しかしながら、市場の要求であるセンサー配線の益々の微細化により、配線幅のバラツキや断線などによる欠陥が、タッチパネルセンサーの品質および生産性の低下に大きく影響し問題となっている。

上記のような配線欠陥を検査する方法として、例えばプリント基板の配線検査に用いら
れている自動光学検査（ＡＯＩ：Ａｕｔｍａｔｉｃ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ）による外観検査が開示されている（特許文献１）。しかしながら、この検査方法はプリント基板用であり、前記センサー配線のような配線の組合せを調べるものではなく、本発明に係るタッチパネルセンサー用途に適用することは困難である。

特開２０１０−１２９６９６号公報

本発明は、平坦な透明絶縁基材の一方の面に、導電性材料からなる線状で等間隔に形成された複数の微細なセンサーラインの集合体で、その両端部がショートバーにより結線されたセンサー配線の複数が、それぞれの前記センサー配線の両端部で引き出し配線と結線した構成からなるセンサー基材を用いて、一対の前記センサー配線が互いに直交するように重ねてなるタッチパネルセンサーにおいて、一対の最良のセンサー基材の組み合わせができる選定システム、タッチパネルセンサーの製造装置及び検査装置の提供を目的とする。

本発明に係る請求項１の発明は、平坦な透明絶縁基材の一方の面に、導電性材料からなる線状で等間隔に形成された複数の微細なセンサーラインの集合体で、その両端部がショートバーにより結線されたセンサー配線の複数が、それぞれの前記センサー配線の両端部で引き出し配線と結線された構成からなるセンサー基材を用いて、前記センサー配線が互いに直交するように一対の前記センサー基材を重ねてなるタッチパネルセンサーに用いられる、前記一対のセンサー基材の組み合わせ選定システムであって、
前記センサー基材のセンサー配線の画像データを取得する手段と、
画像データから、ＸＹ座標上にセンサー配線の配線部有無の情報変換し、センサーラインとショートバーの結線形状を符号化してマップデータに変換し、保存するマップ処理手段と、
前記マップデータの一つであるマップデータＡを選択して、その座標系を９０°回転させて回転補正し、前記マップデータの他の一つであるマップデータＢを選択して、
タッチパネルを組み立てたときと同じ位置関係になるように、位置関係を補正した上でマップデータＡとＢのセンサーラインがＸＹ座標上で直交しているグリッドエリアを設定し、前記グリッドエリア毎にマップデータＡとＢの重なり程度を数値化してスコアとし、前記スコアをセンサー基材単位に集計して、マップデータＡとＢに対応するセンサー基材ＡとＢとの一対の組み合わせの良否を判定する良否判定処理手段とを備えることを特徴とするセンサー基材の組み合わせ選定システムである。

また、請求項２の発明は、前記センサー基材Ｂとして、異なるｎ枚のセンサー基材Ｂを用いて良否判定処理を行い、前記センサー基材Ａに対して最良のスコアを有するセンサー基材Ｂとの一対の組み合わせを決定する処理手段を備えることを特徴とする請求項１に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムである。

また、請求項３の発明は、前記良否判定処理手段が、前記座標系を９０°回転させて回転補正した後、予め設定したＸＹ座標方向にシフトする量を変えてグリッドエリアのスコアを算出することを特徴とする請求項１または２に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムである。

また、請求項４の発明は、複数の異なるシフトする量を用いて、それぞれのシフト量に
対してセンサー基材ＡとＢの組み合わせの良否を判定し、その判定結果の中から最良の前記組み合わせを選ぶ処理手段を備えることを特徴とする請求項３に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムである。

また、請求項５の発明は、請求項１から４のいずれかに記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムを具備したことを特徴とするタッチパネルセンサーの製造装置である。

また、請求項６の発明は、請求項１から４のいずれかに記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムで得られたスコアが基準値以下のタッチパネルセンサーについて、各グリッド部について、静電容量値を測定することを特徴とするタッチパネルセンサーの検査装置である。

本発明に係る請求項１によれば、前記センサー基材のセンサー配線の画像データを取得する手段と、画像データから、ＸＹ座標上にセンサー配線の配線部有無の情報変換し、センサーラインとショートバーの結線形状を符号化してマップデータに変換し、保存するマップ処理手段と、前記マップデータの一つであるマップデータＡを選択して、その座標系を９０°回転させて回転補正し、前記マップデータの他の一つであるマップデータＢを選択して、マップデータＡとＢのセンサーラインがＸＹ座標上で直交しているグリッドエリアを設定し、前記グリッドエリア毎にマップデータＡとＢの重なり程度を数値化してスコアとし、前記スコアをセンサー基材単位に集計して、マップデータＡとＢに対応するセンサー基材ＡとＢとの一対の組み合わせの良否を判定する良否判定処理手段とを備えることにより、従来のセンサー基材では、一本のセンサーラインの欠陥、例えば断線や位置精度の不良があるだけで不良品として扱われていたセンサー基材が、良品として扱える可能性がある。

具体的には、本発明のセンサー基材は、１本のセンサーラインとして１０μｍ以下の細線を０．５〜２．０ｍｍピッチで複数本まとめて、その両端部をショットバーで結線することで一本のセンサー配線とし、さらにこのセンサー配線を略等間隔に複数形成して、その両端部を引き出し線で外部電極に接続する構造であるために、前記センサーラインの一部が断線しても、センサー配線としては両端が繋がっているため、損傷の程度により十分良品として扱うことができる可能性がある。

また、請求項２によれば、任意に選択したセンサー基材Ａを固定し、前記センサー基材Ｂとして、異なるｎ枚のセンサー基材Ｂを用いて良否判定処理を行うことで、前記センサー基材Ａに対して最良のスコアを有するセンサー基材Ｂとの一対の組み合わせを選定することができる。

また、請求項３によれば、前記良否判定処理手段が、前記座標系を９０°回転させて回転補正した後、予め設定したＸＹ座標方向にシフトする量を変えてグリッドエリアのスコアを算出することにより、センサー基材の全面領域に対して詳細な良否判定データを得ることができる。

また、請求項４によれば、複数の異なるシフトする量を用いて、それぞれのシフト量に対してセンサー基材ＡとＢの組み合わせの良否を判定し、その判定結果の中から最良の前記組み合わせを選ぶことができる。

また、請求項５によれば、本発明の前記センサー基材の組み合わせ選定システムを具備することで、品質と生産性に優れたタッチパネルセンサーの製造装置を提供することがきる。

また、請求項６によれば、本発明の前記センサー基材の組み合わせ選定システムで得られたスコアが、基準値以下であるグリッド部について、静電容量値を測定することにより、タッチパネルセンサーのセンシング感度を実際に確認することで、さらに良品への見直しが可能となる。

上記で説明したように、本発明によれば、一対のセンサー基材で構成されるタッチパネルセンサーの組み立てにおいて、前記センサー配線の断線、位置やサイズの不良による歩留まりの低下を防ぐことができ、優れた生産性を有する前記センサー基板の選定システム及び製造装置を提供することができる。

本発明に係るタッチパネルセンサー配線の一実施形態を示す模式図である。 （ａ）センサー基材の一実施形態を示す模式図。 （ｂ）直交する一対のセンサー基材のグリッドエリアを示す模式図。 本発明に係るタッチパネルセンサーの選定システムを具備した検査装置の一実施形態を示す模式図である。 本発明に係るタッチパネルセンサーの選定システムの処理フローを示す。 図３の処理フローに於ける各段階のセンサー配線パターンの模式図である。 （ａ）図２のカメラによる画像取り込みの模式図を示す。 （ｂ）図２の画像処理及びデータ処理装置による（ａ）の二値化の模式図。 （ｃ）前記画像処理及びデータ処理装置による（ｂ）の細線化の模式図。 （ｄ）前記画像処理及びデータ処理装置による（ｃ）のラベリングの模式図。 （ｅ）前記画像処理及びデータ処理装置による（ｄ）の端点座標抽出の模式図。 本発明に係るセンサー基材の選定フローを示す。 （ａ）センサー基材（Ａ，Ｂ）に対する評価フロー。 （ｂ）センサー基材Ａとセンサー基材Ｂ１〜Ｂｎのｎ個に対に対する評価フロー （ｃ）判定結果が基準値以上の組み合わせを抽出するフロー 本発明に係るタッチパネルセンサーの組立てフローを示す。

以下、図に基づいて本発明を具体的に説明する。

本発明は、図１（ａ）に示すように、平坦な透明絶縁基材の一方の面に、複数の線状のセンサーライン２を一つの集合単位（センサー配線Ａ）とし、複数の前記センサー配線Ａが等間隔に形成されたセンサー基材１０の合否判定に係る検査及び選定システムである。前記センサー配線Ａは、導電性材料からなる線状で等間隔に形成された複数の微細なセンサーライン２の集合体で、その両端部がショートバー３により結線されている。

また、本発明に係るタッチパネルセンサーは、図１（ｂ）に示すように、前記センサー基材１０を２枚用いて、センサー配線Ａが互いに直交する位置に重ね合わせることで作製される。本発明は前記センサー基材１０を形成するセンサーライン２及びその集合体であるセンサー配線Ａの欠陥の大きさや位置を、画像データに基づいてマップ化し、合否判定をする選定システムである。

前記センサー配線Ａは、複数の微細なセンサーライン２を両端に設けたショートバー３に接続している。本発明に係るセンサー基材１０は、このような構造からなる前記センサー配線Ａを等間隔にて複数形成することで得られる。具体的には、１番目のセンサー配線Ａ１、２番目のセンサー配線Ａ２、３番目のセンサー配線Ａ３と、ｎ番目のセンサー配線Ａｎまで形成し、さらに各センサー配線はそれぞれ信号入出力配線５（引き出し配線）により信号入出力パッド４に接続される。

一般的にタッチパネルの表面は、各センサー配線Ａが形成された領域はタッチパネルのセンサー配線領域１として透過性が要求される。また、前記引き出し配線５を含めた領域は、通常、加飾した層の下に配置して隠蔽することが要求される。

前記センサーライン２は、例えば、平坦な透明絶縁基材の一方の面に金属箔を積層した基材を用いて、フォトリソ及びエッチング法により金属の微細な配線パターンを形成して得られる。しかしながら前記センサーライン２はより高い透過性が要求されるため、益々微細化する必要がある。

上記の要求に対して、本発明に係るセンサーライン２は、従来の微細なセンサーライン２がそれぞれ単独で前記引き出し配線５と接続するのではなく、前記微細なセンサーライン２を複数束ねて一つのショートバー３に接続することで、一つのセンサー配線Ａを形成することを特徴としている。その結果、例えばセンサー配線Ａ中の一本のセンサーライン２に断線箇所があったとしても、その他複数のセンサーライン２のうち、最低１本がセンサー配線Ａの両端にあるショートバー３と導通していれば、断線している部分もセンサーとして使える場合があるので、従来に比べて、センサー配線Ａの良品率が向上するので、センサー基材１０の良品率も向上する。

前記導電性材料としては、低抵抗及び長期信頼性から、例えば、銅、銀、金、及びこれらの合金の金属箔を用いることが好ましい。コスト面で銅がより好ましい。また、透明絶縁基材としてはポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート、ポリアミドなどのフィルムまたはシートを用いることができる。中でも透明性、熱安定性、コスト面などの面でＰＥＴフィルムが好ましい。

例えば、金属箔として銅を用い、透明絶縁基材としてポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）フィルムまたはシートを用いて、例えばウレタン系の二液硬化型の接着剤を介して、ドライラミネート法で積層することで、金属積層体を得ることができる。
この金属積層体を用いて、フォトリソ法及びエッチング法によりセンサー配線を形成することができる。

より具体的には、一つのセンサー配線Ａとして、一本のセンサーライン２の線幅を１０μｍ以下とし、隣接するセンサーライン２との間隔を０．５〜２．０ｍｍピッチで複数形成（図１では５本）して、その両端をショートバー３に接続して得られる。なお、銅箔の厚みは、抵抗値と透過性を考慮して、３〜７μｍが好ましい。

図１の３番目のセンサー配線Ａ３を構成する５本のセンサーライン２は、上から３本目と５本目とにそれぞれ一箇所の断線箇所６がある。この場合、その間の４本目のセンサーライン２には断線箇所６がないので、センサーライン２上のいずれの場所で導通がとれるため、前記３番目のセンサー配線Ａ３は実用上問題がないセンサー感度を示すことが可能である。

また、例えば、図１の４番目のセンサー配線Ａ４を構成する５本のセンサーライン２は、上から隣接する２本目と３本目に、それぞれ二箇所の断線箇所６があるフローティング配線領域７（センサー配線の両端部が断線している領域）が存在する。この場合、前記センサー配線Ａ３に比べて、一本のセンサーラインの中に二箇所の断線箇所６があるため、この部分はセンサーとして無効となる。しかしながら、隣接する２本目と３本目のセンサーライン２にあるフローティング配線領域７が、あっても残りのセンサー配線が有効であるため、この状態でも実用上問題のないレベルのセンサー感度を示すことが可能である。

一方、例えば、図１のｎ番目のセンサー配線Ａｎを構成する５本のセンサーライン２は、上記４番目のセンサー配線Ａ４と同様に、上から隣接する２本目と３本目のセンサーライン２に、それぞれ二箇所の断線箇所６があるフローティング配線領域７（センサーライン２の両端部が断線している領域）が存在する。すなわちこの場合は、隣接する２本目と３本目のセンサーライン２にあるフローティング配線領域７が、互いに重なる領域８があるため、前記センサー配線Ａ４に比べてより有効な配線が少ないので、実用上のセンサー感度が得られず、不良となる。なお、上記の実用レベルのセンサー感度は発明者らの静電容量の測定結果に基づく判断によるものである。

上記で説明したように、図１に示すセンサー配線Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４、Ａｎの配線密度によるセンサー感度は、センサー配線Ａ１、Ａ２＞センサー配線Ａ３＞センサー配線Ａ４＞センサー配線Ａｎの順となる。ここで上記データに基づき、例えば、センサー配線Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４は良品、センサー配線Ａｎはセンサー感度不適により不良品扱いと規定することができる。

より具体的には、図１（ｂ）に示すように、前記良品扱いのセンサー配線Ａからなるセンサー基材１０を用いて、任意にその一対のセンサー基材１０を選定し、センサー配線Ａが互いに直交するように重ね合わせ、センサー配線Ａ同士で構成されるグリッドエリア１８毎に、さらにセンサー配線の重なり程度を数値化して、スコアとする処理により組み合わせの最適化を図ることができる。

＜実施例１＞
以下、本発明に係る一対の前記センサー基材１０の組み合わせを選び出すタッチパネルセンサーの選定システムを具備した検査装置（図２参照）を用いて、図３に示す処理フローに従ってより具体的に説明する。

図２は本発明に係る検査装置の模式図を示しており、複数の前記センサー配線Ａからなるセンサー基材１０を走行させる機構と、センサー配線Ａを撮像するラインセンサーカメラ１２と、撮像情報を必要なデータに変換する画像処理及びデータ処理装置１３で構成される。

図３は本発明に係るタッチパネルセンサーの選定システムの処理フローを示している。その具体的なフローを図５に示す。すなわち、図３は一つのセンサー基材に対するマップデータの取得フロー、図５（ａ）は一対のセンサー基材Ａ及びセンサー基材Ｂに対する評価フロー、図５（ｂ）はセンサー基材Ａとセンサー基材Ｂ１〜Ｂｎのｎ個に対に対する評価フロー、図５（ｃ）は判定結果が基準値以上の組み合わせを抽出するフローを示している。以下、この処理フローについて、図４に基づき具体的に説明する。

先ず、図２に示すタッチパネル領域１１内のセンサーライン２を、ラインサンサーカメラ１２で撮像して、画像処理及びデータ処理装置１３に画像を取り込む。このときの画像は、例えば、図４（ａ）に示すように、センサーライン２は多値階調の画像として取り込まれる。これにより、断線箇所６や、両端に断線箇所６を有するフローティング配線領域７の位置は確認できるが判断処理するには情報量が多すぎる。

そこで、以下の手順で、処理を行った。
図４（ｂ）は、図４（ａ）の画像を二値化処理した状態を示したものである。この二値化処理とは、配線部の階調値を２５５に、非配線部の階調値を０を割り当てたものである。この階調値には配線部と非配線部で異なっていれば、割り当てる数値は、適宜選択することができる。

次に、図４（ｃ）は、図４（ｂ）の画像を細線化処理したものである。この細線化処理とは、具体的には図４（ｂ）の画像を構成する画素の１つずつを処理対象画素として、以下の様な操作を行った。先ず処理対象画素の階調値が画素部の階調値と同じである場合、隣接する複数の画素（階調値）の中に、非画素部の階調値のものがあったときのみ、処理対象画素を非画素部の階調値に変更するという操作を繰り返し、新たな画像データとしたものである。この細線化処理により、撮像されたセンサーライン２のパターンの位置や前記断線箇所６や両端に断線箇所６を有する前記フローティング配線領域７の位置を保持したまま、この後処理する画像データの情報量を減らすことができる。

次に、図４（ｄ）は、図４（ｃ）の細線化処理した画像データに対してラベリング処理（ラベル付け）を行ったものである。具体的にはショートバー３に相当する画素部の階調値を全て１００に変更し、次に隣接する複数の画像情報の階調情報が、画素の情報と同じ２５５の場合は、その階調値を１００とする処理である。これを画像データ全体の画素に対して行った。こうすることで、ショートバー３と導通している配線部の階調値は１００に、ショートバー３と導通していない配線部の階調値２５５となった。そして、図４（ｄ）は、この処理結果を示したもので、図４（ｃ）の画像情報上に、階調値１００の画素を「ａ」、階調値２５５の画素を「ｂ」または「ｃ」で示したものである。（階調値０の非配線部の表示は省略した。）このラベリング処理したデータがマップデータである。こうすることで、断線のないセンサーライン１４と断線のあるセンサーライン、すなわちフローティング配線領域のあるセンサーライン１５との区別をすることができる。

また、図４（ｅ）は、図４（ｄ）のマップデータについて、１つのセンサー配線の両端にある２つのショートバー３の間で断線した箇所および、２つのショートバー３のいずれとも導通のない配線部の端点を検出して、その座標情報を検出した結果を示した概念図である。

上記したセンサー基材１０のすべてのセンサー配線Ａに関するマップデータをデータ処理装置１３に接続した図示しない記憶装置に保存した。

また、任意に選択した別の１枚のセンサー配線１０についても、上記した手順で撮像を行い、画像データからマップデータを作成して、そのマップデータを前記した図示しない記憶装置に保存した。

こうして図示しない記憶装置に保存されているマップデータの一つをマップデータＡとして選択し、画素データの座標系９０°回転させる回転補正を行った。これに続いて前記記憶装置に記憶されている、もう一つマップデータをマップデータＢとして選択し、先に回転補正したマップデータＡと組み合わせて、タッチパネルとして組み立てたときと同じ位置関係になるように、座標情報を補正した。

次に、予め前記記憶装置に保存しておいたグリッドエリアの座標情報を読み出した。このグリッドエリアの座標情報は、先にマップデータＡを回転補正しているので、こちらも回転補正したマップデータＡに対応するように変換済みである。先に読み出したグリッドエリアとは、センサー基材Ａのセンサー配線上でセンサー配線Ｂのセンサー配線の交差する部分のことである。そのグリッドエリアの座標情報とは、センサー基材Ｂのセンサー配線の交差する部分について、マップデータ上のどの位置に相当するものかを示す位置情報の集合である。

そして、グリッドエリアの座標情報には、センサー基材Ａのセンサー配線の１つと、センサー基材Ｂのセンサー配線の１つが交差する部分を単位グリッドエリアとして、各セン
サー配線が交差する位置の座標情報がまとめられていて、さらにセンサー基材１枚分の位置情報にまとめて格納されている。

次に、前記グリッドエリア毎にマップデータＡとマップデータＢについて、重なり程度の数値化する処理を行った。先ず、単位グリッドエリアの座標情報に指定されている座標におけるマッパデータＡ及びマップデータＢを読み出す。このマップデータはラベル処理した時に設定した値になっているので、ショートバー３と導通している配線部であることを示す１００である場合、単位グリッドエリア毎の集計値に１を加算した。その他の組合せの場合は加算なしとした。この処理を、センサー基材Ａに関する単位グリッドエリア全てに対して行った。

次に、センサー基材Ａとセンサー基材Ｂの組合せの良否判定の処理を行った。予め、単位グリッドエリアのセンサー感度が良品と判断されるものは、単位グリッドエリアの集計値が３００以上であると良品であることを確認していたので、この条件を満たす単位グリッドエリアの個数をカウントして、センサー基材Ａとセンサー基材Ｂの組合せのスコアとした。このスコアは、２９０００が得られ、このスコアについても、予め、２枚のタッチセンサー基材を組み立てた良品のタッイパネルはスコアが２５０００以上であることを確認していたので、得られたスコアが上回る数値であることから、この組合せにより良品タッチパネルが得られると判断した。

そして、センサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせる装置で、センサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせた後、タッチパネルセンサーを完成させた。

＜実施例２＞
前記センサー基材Ｂとして、異なる５枚のセンサー基材を用いて、実施例１の良否判定処理手段にて良否判定処理を行い、センサー基材Ａと５枚のセンサー基板Ｂをそれぞれ組み合わせたときのスコアを比較して、最良のスコアを有するセンサー基材Ｂの１枚を選びだし、これをセンサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせる装置でセンサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせて、タッチパネルセンサーを完成させた。

＜実施例３＞
実施例１の良否判定処理手段がセンサー基材Ａについて座標系を９０゜回転させて回転補正した後、予め設定したＸＹ座標方向にシフトする量を変える毎に、グリッドエリアのスコアを算出し、これらのスコアを比較して、最良のスコアを有するセンサー基材Ａのシフト量を選びだし、センサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせる装置にて、このシフト量に基づく位置でセンサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせて、タッチパネルセンサーを完成させた。

＜実施例４＞
センサー基材８枚について、マップデータを取得し、８枚のセンサー基材を１枚ずつセンサー基材Ａとして、残りの７枚のセンサー基材と組み合わせ、かつ、予め設定したＸＹ座標方向にシフトする量を変えて、グリッドエリアのスコアを算出し、スコアの高い順に８枚のセンサー基材の対を決定して、センサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせる装置にて、センサー基材の対と、シフト量に基づく位置でセンサー基材Ａとセンサー基材Ｂを貼り合わせて、タッチパネルセンサーを完成させた。

＜実施例５＞
実施例４で完成したタッチパネルセンサーについて、センサー基材の組み合わせ選定システムで得られたスコアが基準値以下のタッチパネルセンサーについて、各グリッド部の静電容量値を測定するフライングプローブ装置と、静電容量値の基準値をクリアしている
グリット部の個数に応じて、分類収集する分類装置を備えた検査装置を構成し、検査、分類を行った。

１・・・・タッチパネルのセンサー配線領域
２・・・・センサーライン
３・・・・ショートバー（複数のセンサーラインを導通する配線部）
Ａ・・・・センサー配線
Ａ１・・１番目のセンサー配線（断線なし）
Ａ２・・２番目のセンサー配線（断線なし）
Ａ３・・３番目のセンサー配線（断線あり）
Ａ４・・４番目のセンサー配線（フローティング配線領域あり）
Ａｎ・・ｎ番目のセンサー配線
４・・・信号入出力パッド
５・・・信号入出力用引き出し配線
６・・・断線箇所
７・・・フローティング配線領域
８・・・隣接するフローティング領域が重なる領域
９・・・タッチパネル全面
１０・・センサー基材
１１・・タッチパネル領域
１２・・ラインセンサーカメラ
１３・・画像処理及びデータ処理装置
１４・・断線のないセンサーライン
１５・・フローティング配線領域のあるセンサーライン
１６・・一端が断線したセンサーライン端部（断線部端点）
１７・・両端が断線したセンサーライン端部（フローティング配線領域の両端部）
１８・・グリッドエリア

Claims (6)

1. 平坦な透明絶縁基材の一方の面に、導電性材料からなる線状で等間隔に形成された複数の微細なセンサーラインの集合体で、その両端部がショートバーにより結線されたセンサー配線の複数が、それぞれの前記センサー配線の両端部で引き出し配線と結線された構成からなるセンサー基材を用いて、前記センサー配線が互いに直交するように一対の前記センサー基材を重ねてなるタッチパネルセンサーに用いられる、前記一対のセンサー基材の組み合わせ選定システムであって、
   前記センサー基材のセンサー配線の画像データを取得する手段と、
   画像データから、ＸＹ座標上にセンサー配線の配線部有無の情報変換し、センサーラインとショートバーの結線形状を符号化してマップデータに変換し、保存するマップ処理手段と、
   前記マップデータの一つであるマップデータＡを選択して、その座標系を９０°回転させて回転補正し、前記マップデータの他の一つであるマップデータＢを選択して、
   タッチパネルを組み立てたときと同じ位置関係になるように、位置関係を補正した上でマップデータＡとＢのセンサーラインがＸＹ座標上で直交しているグリッドエリアを設定し、前記グリッドエリア毎にマップデータＡとＢの重なり程度を数値化してスコアとし、前記スコアをセンサー基材単位に集計して、マップデータＡとＢに対応するセンサー基材ＡとＢとの一対の組み合わせの良否を判定する良否判定処理手段とを備えることを特徴とするセンサー基材の組み合わせ選定システム。
2. 前記センサー基材Ｂとして、異なるｎ枚のセンサー基材Ｂを用いて良否判定処理を行い、前記センサー基材Ａに対して最良のスコアを有するセンサー基材Ｂとの一対の組み合わせを決定する処理手段を備えることを特徴とする請求項１に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システム。
3. 前記良否判定処理手段が、前記座標系を９０°回転させて回転補正した後、予め設定したＸＹ座標方向にシフトする量を変えてグリッドエリアのスコアを算出することを特徴とする請求項１または２に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システム。
4. 複数の異なるシフトする量を用いて、それぞれのシフト量に対してセンサー基材ＡとＢの組み合わせの良否を判定し、その判定結果の中から最良の前記組み合わせを選ぶ処理手段を備えることを特徴とする請求項３に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システム。
5. 請求項１から４のいずれかに記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムを具備したことを特徴とするタッチパネルセンサーの製造装置。
6. 請求項１から４のいずれかに記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムで得られたスコアが基準値以下のタッチパネルセンサーについて、各グリッド部について、静電容量値を測定することを特徴とするタッチパネルセンサーの検査装置。

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