JP6264180B2 - センサー基材の組み合わせ選定システム、タッチパネルセンサーの製造装置及び検査装置 - Google Patents
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Description
れている自動光学検査(AOI:Autmatic Optical Inspection)による外観検査が開示されている(特許文献1)。しかしながら、この検査方法はプリント基板用であり、前記センサー配線のような配線の組合せを調べるものではなく、本発明に係るタッチパネルセンサー用途に適用することは困難である。
前記センサー基材のセンサー配線の画像データを取得する手段と、
画像データから、XY座標上にセンサー配線の配線部有無の情報変換し、センサーラインとショートバーの結線形状を符号化してマップデータに変換し、保存するマップ処理手段と、
前記マップデータの一つであるマップデータAを選択して、その座標系を90°回転させて回転補正し、前記マップデータの他の一つであるマップデータBを選択して、
タッチパネルを組み立てたときと同じ位置関係になるように、位置関係を補正した上でマップデータAとBのセンサーラインがXY座標上で直交しているグリッドエリアを設定し、前記グリッドエリア毎にマップデータAとBの重なり程度を数値化してスコアとし、前記スコアをセンサー基材単位に集計して、マップデータAとBに対応するセンサー基材AとBとの一対の組み合わせの良否を判定する良否判定処理手段とを備えることを特徴とするセンサー基材の組み合わせ選定システムである。
対してセンサー基材AとBの組み合わせの良否を判定し、その判定結果の中から最良の前記組み合わせを選ぶ処理手段を備えることを特徴とする請求項3に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムである。
この金属積層体を用いて、フォトリソ法及びエッチング法によりセンサー配線を形成することができる。
以下、本発明に係る一対の前記センサー基材10の組み合わせを選び出すタッチパネルセンサーの選定システムを具備した検査装置(図2参照)を用いて、図3に示す処理フローに従ってより具体的に説明する。
図4(b)は、図4(a)の画像を二値化処理した状態を示したものである。この二値化処理とは、配線部の階調値を255に、非配線部の階調値を0を割り当てたものである。この階調値には配線部と非配線部で異なっていれば、割り当てる数値は、適宜選択することができる。
サー配線が交差する位置の座標情報がまとめられていて、さらにセンサー基材1枚分の位置情報にまとめて格納されている。
前記センサー基材Bとして、異なる5枚のセンサー基材を用いて、実施例1の良否判定処理手段にて良否判定処理を行い、センサー基材Aと5枚のセンサー基板Bをそれぞれ組み合わせたときのスコアを比較して、最良のスコアを有するセンサー基材Bの1枚を選びだし、これをセンサー基材Aとセンサー基材Bを貼り合わせる装置でセンサー基材Aとセンサー基材Bを貼り合わせて、タッチパネルセンサーを完成させた。
実施例1の良否判定処理手段がセンサー基材Aについて座標系を90゜回転させて回転補正した後、予め設定したXY座標方向にシフトする量を変える毎に、グリッドエリアのスコアを算出し、これらのスコアを比較して、最良のスコアを有するセンサー基材Aのシフト量を選びだし、センサー基材Aとセンサー基材Bを貼り合わせる装置にて、このシフト量に基づく位置でセンサー基材Aとセンサー基材Bを貼り合わせて、タッチパネルセンサーを完成させた。
センサー基材8枚について、マップデータを取得し、8枚のセンサー基材を1枚ずつセンサー基材Aとして、残りの7枚のセンサー基材と組み合わせ、かつ、予め設定したXY座標方向にシフトする量を変えて、グリッドエリアのスコアを算出し、スコアの高い順に8枚のセンサー基材の対を決定して、センサー基材Aとセンサー基材Bを貼り合わせる装置にて、センサー基材の対と、シフト量に基づく位置でセンサー基材Aとセンサー基材Bを貼り合わせて、タッチパネルセンサーを完成させた。
実施例4で完成したタッチパネルセンサーについて、センサー基材の組み合わせ選定システムで得られたスコアが基準値以下のタッチパネルセンサーについて、各グリッド部の静電容量値を測定するフライングプローブ装置と、静電容量値の基準値をクリアしている
グリット部の個数に応じて、分類収集する分類装置を備えた検査装置を構成し、検査、分類を行った。
2・・・・センサーライン
3・・・・ショートバー(複数のセンサーラインを導通する配線部)
A・・・・センサー配線
A1・・1番目のセンサー配線(断線なし)
A2・・2番目のセンサー配線(断線なし)
A3・・3番目のセンサー配線(断線あり)
A4・・4番目のセンサー配線(フローティング配線領域あり)
An・・n番目のセンサー配線
4・・・信号入出力パッド
5・・・信号入出力用引き出し配線
6・・・断線箇所
7・・・フローティング配線領域
8・・・隣接するフローティング領域が重なる領域
9・・・タッチパネル全面
10・・センサー基材
11・・タッチパネル領域
12・・ラインセンサーカメラ
13・・画像処理及びデータ処理装置
14・・断線のないセンサーライン
15・・フローティング配線領域のあるセンサーライン
16・・一端が断線したセンサーライン端部(断線部端点)
17・・両端が断線したセンサーライン端部(フローティング配線領域の両端部)
18・・グリッドエリア
Claims (6)
- 平坦な透明絶縁基材の一方の面に、導電性材料からなる線状で等間隔に形成された複数の微細なセンサーラインの集合体で、その両端部がショートバーにより結線されたセンサー配線の複数が、それぞれの前記センサー配線の両端部で引き出し配線と結線された構成からなるセンサー基材を用いて、前記センサー配線が互いに直交するように一対の前記センサー基材を重ねてなるタッチパネルセンサーに用いられる、前記一対のセンサー基材の組み合わせ選定システムであって、
前記センサー基材のセンサー配線の画像データを取得する手段と、
画像データから、XY座標上にセンサー配線の配線部有無の情報変換し、センサーラインとショートバーの結線形状を符号化してマップデータに変換し、保存するマップ処理手段と、
前記マップデータの一つであるマップデータAを選択して、その座標系を90°回転させて回転補正し、前記マップデータの他の一つであるマップデータBを選択して、
タッチパネルを組み立てたときと同じ位置関係になるように、位置関係を補正した上でマップデータAとBのセンサーラインがXY座標上で直交しているグリッドエリアを設定し、前記グリッドエリア毎にマップデータAとBの重なり程度を数値化してスコアとし、前記スコアをセンサー基材単位に集計して、マップデータAとBに対応するセンサー基材AとBとの一対の組み合わせの良否を判定する良否判定処理手段とを備えることを特徴とするセンサー基材の組み合わせ選定システム。 - 前記センサー基材Bとして、異なるn枚のセンサー基材Bを用いて良否判定処理を行い、前記センサー基材Aに対して最良のスコアを有するセンサー基材Bとの一対の組み合わせを決定する処理手段を備えることを特徴とする請求項1に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システム。
- 前記良否判定処理手段が、前記座標系を90°回転させて回転補正した後、予め設定したXY座標方向にシフトする量を変えてグリッドエリアのスコアを算出することを特徴とする請求項1または2に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システム。
- 複数の異なるシフトする量を用いて、それぞれのシフト量に対してセンサー基材AとBの組み合わせの良否を判定し、その判定結果の中から最良の前記組み合わせを選ぶ処理手段を備えることを特徴とする請求項3に記載のセンサー基材の組み合わせ選定システム。
- 請求項1から4のいずれかに記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムを具備したことを特徴とするタッチパネルセンサーの製造装置。
- 請求項1から4のいずれかに記載のセンサー基材の組み合わせ選定システムで得られたスコアが基準値以下のタッチパネルセンサーについて、各グリッド部について、静電容量値を測定することを特徴とするタッチパネルセンサーの検査装置。
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