JP6256154B2 - Laminated body, touch panel using the laminated body, and method for manufacturing the laminated body - Google Patents

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本発明は、積層体、該積層体を用いたタッチパネル及び積層体の製造方法に関する。   The present invention relates to a laminate, a touch panel using the laminate, and a method for manufacturing the laminate.

タブレット型PCならびにスマートフォンに代表される双方向の通信機能を備え、かつ情報表示ならびに情報入力用の透明タッチパネルを搭載したモバイル型の情報端末機器が、世界中で広く普及してきている。
透明タッチパネルとしては、コスト的に優れた抵抗膜方式があるが、マルチタッチ等のジェスチャー操作、透過率向上による表示デバイスの画質維持が可能である等の点で、情報端末機器の爆発的な普及もトリガーとなり、静電容量方式のタッチパネル、特に、投影型静電容量方式のタッチパネルの需要が拡大してきている。
Mobile information terminal devices equipped with a transparent touch panel for information display and information input, which have bidirectional communication functions represented by tablet PCs and smartphones, have been widely spread all over the world.
As a transparent touch panel, there is a resistive film method that excels in cost, but the explosive spread of information terminal equipment is possible because gesture operations such as multi-touch and the image quality of display devices can be maintained by improving the transmittance. As a trigger, the demand for capacitive touch panels, in particular, projected capacitive touch panels, is increasing.

投影型静電容量方式のタッチパネルの基本構造は、通常、透明なプラスチックのパネル基材上の両面に、マルチタッチ機能(多点検出;複数のタッチ位置を同時検出する)を付与するため、各面の所定の位置に所定のパターン(ライン&スペース等)を有するITO(酸化インジウムスズ)等からなる透明導電層が積層されたものであり、液晶表示デバイス、有機EL表示デバイス等の前面に配置され使用されている。
近年、端末機器のさらなる軽量化ならびに薄型化等に伴う透明基材の厚みの低減化、かつ表示画素の高精細化ならびにタッチ検出精度の高精度化に伴うITO層等の透明導電層のパターンの高精細化ならびに多様化等の要求もでてきている。
このような中、上記タッチパネル等に用いられる透明導電性フィルムの透明導電層には、低消費電力、高速応答性、視認性等の観点から、主として低表面抵抗率、高透明性、色味の抑制等が要求されている。
The basic structure of a projected capacitive touch panel usually has a multi-touch function (multi-point detection; simultaneously detects multiple touch positions) on both sides of a transparent plastic panel substrate. A transparent conductive layer made of ITO (Indium Tin Oxide) or the like having a predetermined pattern (line & space, etc.) is laminated at a predetermined position on the surface, and placed on the front of liquid crystal display devices, organic EL display devices, etc. Is being used.
In recent years, the pattern of transparent conductive layers such as ITO layers has been reduced with further reductions in the thickness of transparent substrates due to further weight reduction and thinning of terminal devices, as well as higher definition of display pixels and higher accuracy of touch detection. There are also demands for higher definition and diversification.
Under such circumstances, the transparent conductive layer of the transparent conductive film used for the touch panel and the like mainly has low surface resistivity, high transparency, and tint from the viewpoints of low power consumption, high-speed response, and visibility. Suppression etc. are required.

透明導電性フィルムは、ポリエチレンテレフタレートフィルム等の透明基材及び硬化層等からなる基体上に、ITO層等の透明導電層を有する基本構成からなる。このような透明導電性フィルムは、透明導電層を高温で結晶化する工程や、透明導電層を成膜した後に銀ペースト(取り出し電極)を高温で焼結する工程において、基体と透明導電層との熱膨張率差又は熱収縮率差を起因として、基体から透明導電層が剥がれたり、透明導電層表面に微細なクラック等が生じる場合がある。
特許文献1には、上記問題を解消するために、透明導電層を成膜する前に、ポリエチレンテレフタレートフィルムにあらかじめ加熱処理を施し、該ポリエチレンテレフタレートフィルムの熱収縮率(長手方向MD及び横手方向TDの収縮率)を0.5%程度に低減させておく旨の技術が開示されている。
A transparent conductive film consists of a basic composition which has transparent conductive layers, such as an ITO layer, on the base | substrate which consists of transparent base materials, such as a polyethylene terephthalate film, and a hardened layer. Such a transparent conductive film includes a substrate and a transparent conductive layer in a step of crystallizing the transparent conductive layer at a high temperature and a step of sintering a silver paste (extraction electrode) at a high temperature after forming the transparent conductive layer. Due to the difference in thermal expansion coefficient or thermal contraction ratio, the transparent conductive layer may be peeled off from the substrate or fine cracks may be generated on the surface of the transparent conductive layer.
In Patent Document 1, in order to solve the above problem, before the transparent conductive layer is formed, the polyethylene terephthalate film is preliminarily heat-treated, and the thermal shrinkage rate (longitudinal direction MD and transverse direction TD) of the polyethylene terephthalate film is disclosed. (Shrinkage ratio) of about 0.5% is disclosed.

特開2007−133839号公報JP 2007-133839 A 特開2013−89181号公報JP 2013-89181 A

特許文献1の実施例では、基体の上に成膜した透明導電層はパターニングせず、ベタ層(膜)を用いて行っており、該透明導電層の表面積と該基体の表面積との比は1:1の関係である。
しかし、近年、タッチパネルの主流が抵抗膜式から静電容量式に切り替わったことに伴い、透明導電層はパターニングされることが多くなり、また、表示素子の高精細化に伴い、透明導電層のパターニングも高精細化しているところ、特許文献1では、このように透明導電層をパターニングした場合に、基体とパターニングされた透明導電層との間で、どのような相互作用(熱応力による歪み等)が生じるのか、全く検討がなされていなかった。
さらに、前述したように、透明基材の厚みの低減化の要求があるなかで、特許文献1のように、たとえポリエチレンテレフタレートフィルムの熱収縮率を0.5%以下に低減させておいたとしても、上述の問題(透明導電層を高温で結晶化する工程や、透明導電層を成膜した後に取り出し電極を高温で焼結する工程において、基体から透明導電層が剥がれたり、透明導電層表面に微細なクラック等が生じる問題)は解消するものの新たな問題が生じた。
In the example of Patent Document 1, the transparent conductive layer formed on the substrate is not patterned, but is formed using a solid layer (film). The ratio of the surface area of the transparent conductive layer to the surface area of the substrate is The relationship is 1: 1.
However, in recent years, as the mainstream of touch panels has been switched from the resistive film type to the capacitive type, the transparent conductive layer is often patterned. As the patterning has also been refined, in Patent Document 1, when the transparent conductive layer is patterned in this way, what kind of interaction (distortion due to thermal stress, etc.) occurs between the substrate and the patterned transparent conductive layer. ) Has not been studied at all.
Furthermore, as described above, while there is a demand for a reduction in the thickness of the transparent substrate, as in Patent Document 1, even if the thermal shrinkage rate of the polyethylene terephthalate film has been reduced to 0.5% or less. However, in the above-mentioned problems (in the process of crystallizing the transparent conductive layer at a high temperature and in the process of forming the transparent conductive layer and sintering the extraction electrode at a high temperature, the transparent conductive layer may peel off from the substrate, However, a new problem has occurred, although the problem of generating fine cracks and the like has been solved.

上記の新たな問題として、透明導電層をパターニングした直後に透明導電層表面にうねりが生じる現象が挙げられる。
該うねりの問題は、特許文献2のように、透明基材の反対側の面に補強基材を貼り合わせることにより解消し得る。しかし、補強基材を貼り合わせた場合、全体の重量及び厚みが増し、近年求められている軽量化及び薄型化の流れに逆行してしまう。
さらに、上記の新たな問題として、パターニングした透明導電層に対して高温長時間の熱処理(透明導電層の結晶化あるいは取り出し電極の焼成)を行った際に、前述したうねりとは異なる、洗濯板のようなさざ波状の凹凸面(以下、ウォッシュボードリップル又はWBRと称することがある。)が発生する現象が挙げられる。該ウォッシュボードリップルは、特許文献2のように補強基材を貼り合せても解消できない場合がある。そして、該ウォッシュボードリップルは、外観性状の低下はもとより、後の工程において、例えばタッチパネルを構成するカバーガラス等と貼り合わせる際に気泡を巻き込む等の新たな問題を生じてしまう。
また、上述したうねりやウォッシュボードリップルを防止するために、単に基体の強度を高くした場合、屈曲等により容易にクラックを生じてしまう。
As a new problem, there is a phenomenon in which undulation is generated on the surface of the transparent conductive layer immediately after the patterning of the transparent conductive layer.
The problem of the swell can be solved by attaching a reinforcing base material to the opposite surface of the transparent base material as in Patent Document 2. However, when a reinforcing base material is bonded, the overall weight and thickness increase, and this goes against the trend of weight reduction and thinning that has been demanded in recent years.
Further, as a new problem described above, a washing board that differs from the above-described undulation when subjected to high-temperature and long-time heat treatment (crystallization of the transparent conductive layer or firing of the extraction electrode) on the patterned transparent conductive layer. Such a phenomenon that a rippled uneven surface (hereinafter sometimes referred to as “washboard ripple” or “WBR”) occurs. The washboard ripple may not be eliminated even if a reinforcing base material is bonded as in Patent Document 2. The washboard ripple causes a new problem such as entrapment of bubbles when bonded to, for example, a cover glass constituting a touch panel in a later process, as well as a decrease in appearance properties.
Further, in order to prevent the above-mentioned swell and washboard ripple, if the strength of the substrate is simply increased, cracks are easily generated due to bending or the like.

本発明は、上記問題点に鑑み、パターニングされた透明導電層に対しさらに高温長時間の熱処理を施した場合において、ウォッシュボードリップルの発生を抑制するとともに、屈曲時等によるクラックの発生を抑制した積層体及びその製造方法を提供することを課題とする。   In view of the above problems, the present invention suppresses the generation of washboard ripple and the generation of cracks during bending when the patterned transparent conductive layer is further subjected to heat treatment for a long time at a high temperature. It is an object to provide a laminate and a method for manufacturing the same.

上記課題を解決するために、本発明は、以下の[1]〜[11]の積層体、該積層体を用いたタッチパネル及び積層体の製造方法を提供する。
[1]透明基材の片面又は両面に透明層を有する基体上に、パターニングされた透明導電層を有してなる積層体であって、該基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が、4.0×104≦Et≦10.5×104である、積層体。
[2]前記透明層の貯蔵弾性率が、前記透明基材の貯蔵弾性率より大きい、上記[1]に記載の積層体。
[3]前記透明基材の厚みをdS(m)、前記透明層の厚みをdL(m)とした場合、下記の関係を満たす、上記[1]又は[2]に記載の積層体。
0.005≦dL/(dS+dL)≦0.7
[4]前記透明基材の厚みが15〜125μm、前記透明層の総厚みが2.0〜24μmである、上記[1]〜[3]のいずれかに記載の積層体。
[5]前記基体がさらに光学調整層を有する、上記[1]〜[4]のいずれかに記載の積層体。
[6]前記基体が、前記透明基材上に前記透明層及び前記光学調整層を有してなり、該光学調整層上に前記パターニングされた透明導電層を有する上記[5]に記載の積層体。
[7]前記光学調整層が高屈折率層と低屈折率層とからなり、該高屈折率層の屈折率が1.55〜1.75であり、該低屈折率層の屈折率が1.30〜1.55である、上記[5]又は[6]に記載の積層体。
[8]前記透明層がハードコート層である、上記[1]〜[7]のいずれかに記載の積層体。
[9]上記[1]〜[8]のいずれかに記載の積層体を構成部材として有するタッチパネル。
[10]前記積層体が、前記透明基材上に前記ハードコート層及び前記光学調整層を有してなり、該光学調整層上に前記パターニングされた透明導電層を有してなる上記[9]に記載のタッチパネル。
[11]透明基材の片面又は両面に透明層を有する基体上に、パターニングされた透明導電層を有してなる積層体を製造する方法であって、
該基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が4.0×104≦Et≦10.5×104となるように、該透明基材上に、該透明層を形成する基体形成工程、該基体上に透明導電層を形成する透明導電層形成工程、該透明導電層をパターニングするパターン形成工程、透明導電層を加熱し結晶化させる結晶化工程を含む、積層体の製造方法。
In order to solve the above problems, the present invention provides the following laminates [1] to [11], a touch panel using the laminate, and a method for producing the laminate.
[1] A laminate having a transparent conductive layer patterned on a substrate having a transparent layer on one or both sides of a transparent substrate, the storage elastic modulus Ec (N / m of the substrate at 130 ° C.) 2 ) Et (N / m) obtained by multiplying the substrate thickness d (m) is 4.0 × 10 4 ≦ Et ≦ 10.5 × 10 4 .
[2] The laminate according to [1], wherein the storage elastic modulus of the transparent layer is larger than the storage elastic modulus of the transparent substrate.
[3] The laminate according to [1] or [2], which satisfies the following relationship, where d S (m) is the thickness of the transparent substrate and d L (m) is the thickness of the transparent layer. .
0.005 ≦ d L / (d S + d L ) ≦ 0.7
[4] The laminate according to any one of [1] to [3], wherein the transparent substrate has a thickness of 15 to 125 μm, and the transparent layer has a total thickness of 2.0 to 24 μm.
[5] The laminate according to any one of [1] to [4], wherein the substrate further includes an optical adjustment layer.
[6] The laminate according to [5], wherein the base includes the transparent layer and the optical adjustment layer on the transparent base material, and the patterned transparent conductive layer is provided on the optical adjustment layer. body.
[7] The optical adjustment layer includes a high refractive index layer and a low refractive index layer, the refractive index of the high refractive index layer is 1.55 to 1.75, and the refractive index of the low refractive index layer is 1. The laminate according to the above [5] or [6], which is 30 to 1.55.
[8] The laminate according to any one of [1] to [7], wherein the transparent layer is a hard coat layer.
[9] A touch panel having the laminate according to any one of [1] to [8] as a constituent member.
[10] The above [9], wherein the laminate includes the hard coat layer and the optical adjustment layer on the transparent substrate, and the patterned transparent conductive layer on the optical adjustment layer. ] The touch panel as described in.
[11] A method for producing a laminate having a patterned transparent conductive layer on a substrate having a transparent layer on one or both sides of a transparent substrate,
Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is 4.0 × 10 4 ≦ Et ≦ 10.5. A substrate forming step for forming the transparent layer on the transparent substrate, a transparent conductive layer forming step for forming the transparent conductive layer on the substrate, and pattern formation for patterning the transparent conductive layer so as to be × 10 4 The manufacturing method of a laminated body including the crystallization process of heating and crystallizing a process and a transparent conductive layer.

本発明の積層体及び積層体の製造方法は、パターニングされた透明導電層に対しさらに高温長時間の熱処理を施した場合において、ウォッシュボードリップルの発生を抑制することができる。また、本発明の積層体及び積層体の製造方法は、ウォッシュボードリップルの発生を抑制できるため、タッチパネルを構成するカバーガラス等との貼り合わせ時に気泡の巻き込みがなく、外観性状及び視認性を良好にすることができる。さらに本発明の積層体及び積層体の製造方法は、屈曲時等にクラックが生じることを抑制できる。   The laminate and the method for producing the laminate of the present invention can suppress the occurrence of washboard ripple when the patterned transparent conductive layer is further subjected to heat treatment for a long time at a high temperature. In addition, since the laminate and the laminate manufacturing method of the present invention can suppress the occurrence of washboard ripple, there is no entrainment of bubbles when bonding with a cover glass or the like constituting the touch panel, and the appearance and visibility are good. Can be. Furthermore, the laminate and the method for producing the laminate of the present invention can suppress the occurrence of cracks during bending.

本発明の積層体の一例を示し、(a)は積層体の構成を示し、上側が平面図、下側が断面図であり、(b)は透明導電層をパターニングした後の平面図及び断面図であり、(c)は取り出し電極として銀ペーストをパターン印刷した後の平面図及び断面図であり、(d)は銀ペーストを焼成した後の平面図及び断面図である。An example of the laminated body of this invention is shown, (a) shows the structure of a laminated body, an upper side is a top view, a lower side is sectional drawing, (b) is a top view and sectional drawing after patterning a transparent conductive layer (C) is a plan view and a cross-sectional view after pattern printing of a silver paste as an extraction electrode, and (d) is a plan view and a cross-sectional view after firing the silver paste. 本発明に用いる透明導電層のパターンの一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the pattern of the transparent conductive layer used for this invention.

[積層体]
本発明の積層体は、透明基材の片面又は両面に透明層を有する基体上に、パターニングされた透明導電層を有してなる積層体であって、該基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が、4.0×104≦Et≦10.5×104である、積層体である。
上記条件は、積層体を構成する透明基材のMD方向で満たしていることが好ましく、積層体の全方向で満たしていることがより好ましい。なお、MD方向とは透明基材の延伸倍率が最も大きい方向のことを言う。
なお、基体上に成膜した結晶化させていない透明導電層を有する積層体を、以下、積層体前駆体ということがある。
[Laminate]
The laminate of the present invention is a laminate having a patterned transparent conductive layer on a substrate having a transparent layer on one or both sides of a transparent substrate, and the storage elastic modulus Ec of the substrate at 130 ° C. Etching (N / m) obtained by multiplying (N / m 2 ) and the thickness d (m) of the substrate is 4.0 × 10 4 ≦ Et ≦ 10.5 × 10 4. is there.
The above conditions are preferably satisfied in the MD direction of the transparent substrate constituting the laminate, and more preferably satisfied in all directions of the laminate. In addition, MD direction means the direction where the draw ratio of a transparent base material is the largest.
Hereinafter, a laminate having a non-crystallized transparent conductive layer formed on a substrate may be referred to as a laminate precursor.

本発明では、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を特定の範囲に制御することにより、透明基材と、該基体上のパターニングされた透明導電層との、熱処理時の熱応力を含む機械的な相互作用を緩和し、パターニング後の高温長時間の熱処理によるウォッシュボードリップルの発生を抑制することができる。なお、本発明では、透明導電層のパターニング直後のうねりも抑制できる。該うねりが生じる理由は不明であるが、透明導電層のエッチング時のエッチング液による影響や、透明導電層の存在箇所と不存在箇所との応力バランスが崩れることが原因であると考えられる。また、該うねりが生じない場合でもウォッシュボードリップルが発生する場合があり、ウォッシュボードリップルを抑制できる本発明は極めて有用である。 In the present invention, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is controlled within a specific range, Mitigates mechanical interaction between the transparent substrate and the patterned transparent conductive layer on the substrate, including thermal stress during heat treatment, and suppresses the generation of washboard ripple due to high-temperature and long-time heat treatment after patterning can do. In the present invention, the swell immediately after patterning of the transparent conductive layer can also be suppressed. The reason for the occurrence of the undulation is unknown, but it is considered that the cause is that the influence of the etching solution during the etching of the transparent conductive layer and the stress balance between the location where the transparent conductive layer is present and the location where the transparent conductive layer is absent are disrupted. Further, even when the undulation does not occur, washboard ripple may occur, and the present invention that can suppress the washboard ripple is extremely useful.

図1において、(a)は積層体前駆体の一例を示し、該積層体前駆体1(透明導電層:パターン無し;ベタ膜)は、透明基材2と、透明基材2の両面に積層される透明層3a、3bと、該透明層3a上に積層される光学調整層4とからなる基体5と、該基体5に透明導電層6とが積層されたものである。また、(d)は本発明の積層体の透明導電層のパターニング後の一例を示し、積層体11(透明導電層:パターン有り)では、透明導電層パターン6’、銀ペースト等により印刷された焼成後の取り出し電極パターン7’及び焼成後の取り出し電極端子部8’が付与された構成となっている。   In FIG. 1, (a) shows an example of a laminate precursor, and the laminate precursor 1 (transparent conductive layer: no pattern; solid film) is laminated on both the transparent substrate 2 and the transparent substrate 2. The substrate 5 is composed of the transparent layers 3a and 3b and the optical adjustment layer 4 laminated on the transparent layer 3a, and the transparent conductive layer 6 is laminated on the substrate 5. Moreover, (d) shows an example after patterning of the transparent conductive layer of the laminate of the present invention. In the laminate 11 (transparent conductive layer: with pattern), the laminate was printed with a transparent conductive layer pattern 6 ′, silver paste, or the like. It has a configuration in which a fired extraction electrode pattern 7 ′ and a fired extraction electrode terminal portion 8 ′ are provided.

<基体>
本発明の基体は、透明基材の片面又は両面に透明層を有し、必要に応じて後述する光学調整層等の機能層を含む。
<Substrate>
The base | substrate of this invention has a transparent layer on the single side | surface or both surfaces of a transparent base material, and contains functional layers, such as an optical adjustment layer mentioned later as needed.

〈透明基材〉
透明基材としては、光透過性、平滑性、耐熱性を備え、機械的強度に優れたものであることが好ましい。このような透明基材としては、ポリエステル、トリアセチルセルロース(TAC)、セルロースジアセテート、セルロースアセテートブチレート、ポリアミド、ポリイミド、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリプロピレン、ポリメチルペンテン、ポリ塩化ビニル、ポリビニルアセタール、ポリエーテルケトン、ポリメタクリル酸メチル、ポリカーボネート、ポリウレタン及び非晶質オレフィン(Cyclo−Olefin−Polymer:COP)等のプラスチックフィルムが挙げられる。透明基材は、2枚以上のプラスチックフィルムを貼り合わせたものであってもよい。
これらプラスチックフィルムの中でも、延伸加工、特に二軸延伸加工されたポリエステル、例えば、機械特性、寸法安定性、耐薬品性、透明性等の観点からポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレートが好ましい。
なお、ポリエチレンナフタレートは屈折率の異方性が大きいので、延伸により高リタデーションにできる(偏光サングラスへの対応)。また、ポリエチレンテレフタレートは、高い透明性が安定的に得られ、例えば、隣接して積層される透明層の一つであるハードコート層との屈折率差が小さく界面の影響が出にくい等の特徴を有する。
また、透明基材の表面には、接着性向上のために、コロナ放電処理、酸化処理等の物理的な処理の他、アンカー剤又はプライマーと呼ばれる塗料の塗布を予め行ってもよい。
<Transparent substrate>
As a transparent base material, it is preferable that it is provided with light transmittance, smoothness, and heat resistance, and was excellent in mechanical strength. Such transparent substrates include polyester, triacetyl cellulose (TAC), cellulose diacetate, cellulose acetate butyrate, polyamide, polyimide, polyether sulfone, polysulfone, polypropylene, polymethylpentene, polyvinyl chloride, polyvinyl acetal. , Polyether ketone, polymethyl methacrylate, polycarbonate, polyurethane, and amorphous olefin (Cyclo-Olefin-Polymer: COP). The transparent substrate may be a laminate of two or more plastic films.
Among these plastic films, a stretched polyester, particularly a biaxially stretched polyester, for example, polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate are preferable from the viewpoint of mechanical properties, dimensional stability, chemical resistance, transparency, and the like.
In addition, since polyethylene naphthalate has a large refractive index anisotropy, it can be made to have high retardation by stretching (corresponding to polarized sunglasses). In addition, polyethylene terephthalate stably obtains high transparency, for example, features such as a small difference in refractive index from the hard coat layer, which is one of the transparent layers laminated adjacently, and less influence of the interface. Have
In addition to the physical treatment such as corona discharge treatment and oxidation treatment, the surface of the transparent substrate may be preliminarily coated with a coating material called an anchor agent or a primer.

透明基材の製造方法は、特に制限されないが、通常、溶融押し出し法等の公知の方法で製造することができる。耐熱性、透明性、機械的強度、表面の平滑性等の観点から、二軸延伸により製造された透明基材(特にPETフィルム)が好ましい。
二軸延伸の方法としては、未延伸の透明基材を長手方向(流れ方向)あるいは横手方向(流れ方向に対し垂直方向)に延伸し、続いて先のいずれかの延伸方向と直行する方向の延伸を行う逐次二軸延伸や、長手方向、横手方向に一度に延伸する同時二軸延伸があるが、本発明においては、特に制限されず、どちらの二軸延伸で製造された透明基材でも使用することができる。
二軸延伸フィルムは、上述したように、長手方向及び横手方向に延伸され製造されるため、延伸時の残留応力等により、加熱時に大きく収縮してしまう傾向にある。このため、例えば、二軸延伸PETフィルムを基材として使用する際には、予め所定の熱処理を行い、収縮率を0.7%以下に低減して使用することが好ましい。
Although the manufacturing method of a transparent base material is not restrict | limited in particular, Usually, it can manufacture by well-known methods, such as a melt extrusion method. From the viewpoints of heat resistance, transparency, mechanical strength, surface smoothness, etc., a transparent substrate (particularly a PET film) produced by biaxial stretching is preferred.
As a biaxial stretching method, an unstretched transparent substrate is stretched in the longitudinal direction (flow direction) or the transverse direction (perpendicular to the flow direction), and then in a direction perpendicular to any of the preceding stretching directions. There are sequential biaxial stretching for stretching and simultaneous biaxial stretching for stretching in the longitudinal direction and transverse direction at the same time, but in the present invention, it is not particularly limited, and any transparent substrate produced by either biaxial stretching may be used. Can be used.
As described above, the biaxially stretched film is produced by being stretched in the longitudinal direction and the transverse direction, and therefore tends to be greatly contracted during heating due to residual stress during stretching. For this reason, for example, when using a biaxially stretched PET film as a substrate, it is preferable to perform a predetermined heat treatment in advance to reduce the shrinkage rate to 0.7% or less.

本発明で用いる透明基材の厚みは、10〜200μmであることが好ましく、より好ましくは15〜125μm、さらに好ましくは20〜70μmである。透明基材が、10μm未満であると、支持体として強度不足となったり、製造時のハンドリング等に支障をきたす場合がある。また、200μmを超えると、材料コストが増大したり、製品として用いた時に、デバイスの薄型化、軽量化に係る効果が薄れてしまう。
また、透明基材が上記のような薄い厚みの範囲にあるものを用いる場合には、前述したように、透明導電層のパターニング後の高温長時間の熱処理時(例えば、125〜160℃で10〜60分間)に、積層体の基体上にパターニングされた透明導電層にウォッシュボードリップルが発生してしまう。しかし、後述する透明基材の貯蔵弾性率より大きな貯蔵弾性率を有する透明層を積層し、得られた基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を本発明の特定の範囲に制御することにより、パターニングされた透明導電層へのウォッシュボードリップルの発生が阻止できる。
さらに、本発明の積層体の製造工程において、透明基材の厚みが薄いと、ロールの巻き径が小さくとも巻き長さが長大となり、透明導電層の成膜(スパッタ)効率があがる観点から、透明基材の厚みは、上記範囲の中で、薄ければ薄いほど好ましい。
上記により、透明基材の材料コストが減少するとともに、例えば、タッチパネル用の電極板等に用いられた時には、デバイスの薄型化、軽量化に大きく貢献する。
The thickness of the transparent substrate used in the present invention is preferably 10 to 200 μm, more preferably 15 to 125 μm, and still more preferably 20 to 70 μm. If the transparent substrate is less than 10 μm, the strength as a support may be insufficient, or handling during production may be hindered. On the other hand, when the thickness exceeds 200 μm, the material cost increases or the effect of reducing the device thickness and weight when used as a product is reduced.
Further, when the transparent substrate having a thin thickness as described above is used, as described above, during the high-temperature and long-time heat treatment after the patterning of the transparent conductive layer (for example, 10 to 125 to 160 ° C. (~ 60 minutes), washboard ripple occurs in the transparent conductive layer patterned on the substrate of the laminate. However, a transparent layer having a storage elastic modulus larger than the storage elastic modulus of the transparent substrate described later is laminated, and the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the obtained substrate at 130 ° C. and the thickness d (m of the substrate). ) Is controlled to a specific range of the present invention, the occurrence of washboard ripple on the patterned transparent conductive layer can be prevented.
Furthermore, in the manufacturing process of the laminate of the present invention, if the thickness of the transparent substrate is thin, even if the roll diameter is small, the winding length is long, and from the viewpoint of increasing the film formation (sputtering) efficiency of the transparent conductive layer, The thickness of the transparent substrate is preferably as thin as possible within the above range.
As a result, the material cost of the transparent substrate is reduced, and when used for, for example, an electrode plate for a touch panel, it greatly contributes to reducing the thickness and weight of the device.

〈透明層〉
透明層は、基体のEtを上述した範囲に調整する役割を有する。
透明層の貯蔵弾性率は、透明基材が有する貯蔵弾性率より大きく、また積層体の屈曲性が確保できる範囲内で大きければ特に制限されない。
透明基材中にオリゴマー成分が残存している場合、透明導電層の結晶化や取り出し電極の焼成の加熱処理の際に、透明基材中からオリゴマーが析出し、白濁を生じるなどして視認性に悪影響を及ぼす場合がある。特に、透明基材がPET等のポリエステル系フィルムの場合にオリゴマーの析出は顕著である。したがって、透明層は、オリゴマーの析出を防止できることが好ましい。
オリゴマーの析出を防止するため、透明層はハードコート層であることが好ましい。また、ハードコート層は、基体の機械的特性(耐摩耗性、耐擦傷性、高鉛筆硬度性等)を向上できる点でも好適である。
<Transparent layer>
The transparent layer has a role of adjusting the Et of the substrate to the above-described range.
The storage elastic modulus of the transparent layer is not particularly limited as long as it is larger than the storage elastic modulus of the transparent substrate and within a range in which the flexibility of the laminate can be ensured.
When the oligomer component remains in the transparent substrate, the oligomer is precipitated from the transparent substrate during the crystallization of the transparent conductive layer and the heat treatment for the extraction electrode, and the cloudiness is caused, so that the visibility is increased. May be adversely affected. In particular, when the transparent substrate is a polyester-based film such as PET, oligomer precipitation is significant. Therefore, it is preferable that the transparent layer can prevent oligomer precipitation.
In order to prevent oligomer precipitation, the transparent layer is preferably a hard coat layer. The hard coat layer is also preferable in that it can improve the mechanical properties (abrasion resistance, scratch resistance, high pencil hardness, etc.) of the substrate.

ハードコート層としては、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を本発明の特定の範囲とする観点から、電離放射線硬化性樹脂を含む電離放射線硬化性樹脂組成物から形成することが好ましい。
電離放射線硬化性樹脂としては、例えば、一つ又は二つ以上の不飽和結合を有するアクリレート系化合物を挙げることができる。一つの不飽和結合を有する化合物としては、例えば、エチル(メタ)アクリレート、エチルヘキシル(メタ)アクリレート、スチレン、メチルスチレン、N−ビニルピロリドン等が挙げられる。また、二つ以上の不飽和結合を有する化合物としては、例えば、ポリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオール(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート等の多官能化合物、その変成物、及び、これらの多官能化合物と(メタ)アクリレート等との反応生成物(例えば、多価アルコールのポリ(メタ)アクリレートエステル)、等を挙げることができる。なお、本明細書において、(メタ)アクリレートは、メタクリレート及びアクリレートを意味するものである。
As the hard coat layer, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is a specific range of the present invention. Therefore, it is preferable to form an ionizing radiation curable resin composition containing an ionizing radiation curable resin.
Examples of the ionizing radiation curable resin include acrylate compounds having one or two or more unsaturated bonds. Examples of the compound having one unsaturated bond include ethyl (meth) acrylate, ethylhexyl (meth) acrylate, styrene, methylstyrene, N-vinylpyrrolidone and the like. Examples of the compound having two or more unsaturated bonds include polymethylolpropane tri (meth) acrylate, hexanediol (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, penta Multifunctional compounds such as erythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, modified products thereof, and these The reaction product (for example, poly (meth) acrylate ester of polyhydric alcohol) of a polyfunctional compound and (meth) acrylate etc. can be mentioned. In the present specification, (meth) acrylate means methacrylate and acrylate.

上記化合物のほかに、不飽和二重結合を有する比較的低分子量のポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、ポリブタジエン樹脂等も上記電離放射線硬化性樹脂として使用することができる。   In addition to the above compounds, relatively low molecular weight polyester resins having unsaturated double bonds, polyether resins, acrylic resins, epoxy resins, urethane resins, polybutadiene resins, and the like can also be used as the ionizing radiation curable resins. .

上記の電離放射線硬化性樹脂の中でも、ハードコート層を極端に厚くすることなく、該基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)、及び該貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を本発明の範囲内にしやすいという観点から、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレートが好ましい。
上記電離放射線硬化性樹脂は、単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
Among the above-mentioned ionizing radiation curable resin, without extremely thick hard coat layer, the storage elastic modulus Ec at 130 ° C. of the base body (N / m 2), and said storage modulus Ec (N / m 2) From the viewpoint that Et (N / m) obtained by multiplying the thickness d (m) of the substrate easily falls within the scope of the present invention, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetra Acrylate and trimethylolpropane triacrylate are preferred.
The ionizing radiation curable resin may be used alone or in combination of two or more.

なお、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)、及び貯蔵弾性率Ec(N/m2)と基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が高すぎる場合、電離放射線硬化性組成物にソフト成分を混合して、Ec及びEtを制御できる。なお、ソフト成分の配合は、カールの発生や層の脆さを防止することができる。
ソフト成分としては、例えば、ウレタンアクリレートオリゴマー、アクリルポリマー等が挙げられる。
上記の電離放射線硬化性樹脂組成物を構成する樹脂成分は、各成分をそれぞれ複数併用した樹脂としてもよい。
Note that Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. and the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) by the thickness d (m) of the substrate. When it is too high, Ec and Et can be controlled by mixing a soft component with the ionizing radiation curable composition. The blending of the soft component can prevent curling and layer brittleness.
Examples of the soft component include a urethane acrylate oligomer and an acrylic polymer.
The resin component constituting the ionizing radiation curable resin composition may be a resin in which a plurality of components are used in combination.

電離放射線硬化性樹脂組成物の調製に用いる溶剤としては、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、又はエチレングリコール等のアルコール類、アセトン、又はメチルエチルケトン等のケトン類、トルエン、又はキシレン等の芳香族炭化水素、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、カルビトール、又はプロピレングリコールモノエチルエーテル等のグリコールエーテル類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート等の酢酸エステル等を適宜使用することができる。   Examples of the solvent used for preparing the ionizing radiation curable resin composition include alcohols such as methanol, ethanol, n-propanol, and ethylene glycol; ketones such as acetone or methyl ethyl ketone; and aromatics such as toluene and xylene. Hydrocarbon, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, carbitol, glycol ethers such as propylene glycol monoethyl ether, and acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, and cellosolve acetate can be used as appropriate.

電離放射線硬化性樹脂が電子線硬化性ではなく光硬化性の場合、電離放射線硬化性樹脂組成物には光重合開始剤を添加する。
光重合開始剤としては、特に限定されないが、例えば、アセトフェノン類、ベンゾフェノン類、ミヒラーベンゾイルベンゾエート、α−アミノキシムエステル、テトラメチルチウラムモノサルファイド、チオキサントン類等が挙げられる。
光重合開始剤の含有量は特に限定されないが、電離放射線硬化性樹脂組成物中の1〜10質量%が好ましく、3〜7質量%がより好ましい。
When the ionizing radiation curable resin is not electron beam curable but photocurable, a photopolymerization initiator is added to the ionizing radiation curable resin composition.
Although it does not specifically limit as a photoinitiator, For example, acetophenones, benzophenones, Michler benzoyl benzoate, (alpha) -amino oxime ester, tetramethyl thiuram monosulfide, thioxanthones, etc. are mentioned.
Although content of a photoinitiator is not specifically limited, 1-10 mass% in an ionizing radiation curable resin composition is preferable, and 3-7 mass% is more preferable.

ハードコート層は、透明基材の片面に形成されていても、両面に形成されていてもよい。また、ハードコート層が、透明基材の両面に形成される場合、形成材料としては、同じであっても、異なっていてもよい。製造効率、コスト、性能の観点から、同一材料で形成することが好ましい。   The hard coat layer may be formed on one side of the transparent substrate or may be formed on both sides. Moreover, when a hard-coat layer is formed in both surfaces of a transparent base material, as a forming material, it may be the same or may differ. From the viewpoint of manufacturing efficiency, cost, and performance, it is preferable to form the same material.

ハードコート層に代表される透明層が、透明基材の片面に形成され、透明基材の厚みが15〜125μm(好ましくは20〜70μm)である場合(例えば、図1の(a)における3aのみの場合)、透明層の厚みは、好ましくは2〜12μm、より好ましくは4〜12μm、さらに好ましくは8〜12μmである。透明層の厚みが、2μm以上であれば、Et(N/m)を本発明の範囲に制御しやすくでき、12μm以下であれば、屈曲性の低下によるクラックや剥離の発生を防ぎやすくすることができる。また、透明層の厚みがこの範囲にあれば、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を本発明の範囲に容易に制御できる。 A transparent layer typified by a hard coat layer is formed on one side of a transparent substrate, and the thickness of the transparent substrate is 15 to 125 μm (preferably 20 to 70 μm) (for example, 3a in FIG. 1A). Only), the thickness of the transparent layer is preferably 2 to 12 μm, more preferably 4 to 12 μm, and still more preferably 8 to 12 μm. If the thickness of the transparent layer is 2 μm or more, Et (N / m) can be easily controlled within the range of the present invention, and if it is 12 μm or less, it is easy to prevent the occurrence of cracks and peeling due to a decrease in flexibility. Can do. If the thickness of the transparent layer is within this range, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is obtained. It can be easily controlled within the scope of the present invention.

ハードコート層に代表される透明層が、厚み15〜125μm(好ましくは20〜70μm)の透明基材の両面に形成され、透明層の形成材料が同一の場合(例えば、図1の(a)における3a、3bの場合)、透明層の総厚みは、好ましくは2〜24μm、より好ましくは4〜24μm、さらに好ましくは8〜24μmである。両面に形成される透明層のそれぞれ各面上での厚みは、上記総厚みの範囲内で、積層体のカールの発生の影響が少なく、かつ透明層が有する、透明基材からのオリゴマー成分の析出抑制を確保できる範囲で、適宜調整すればよく、それらの厚みは同じであっても、異なっていてもよい。透明導電層が配置される側の一方の透明基材の面上の透明層の厚みが1〜12μm、かつ透明導電層が配置されない側の他方の透明基材の面上の透明層の厚みが1〜12μmが好ましく、より好ましくは、該一方の透明基材の面上の厚みが2〜12μm、かつ該他方の透明基材の面上の厚みが2〜12μmである。透明層の厚みがこの範囲にあれば、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を本発明の範囲に容易に制御でき、かつ屈曲性の低下によるクラックや剥離の発生がない。
上記で、透明層の形成材料が両面間で異なる場合は、総厚み及び各面でのそれぞれの厚みを適宜調整することにより、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を本発明の範囲とすることができる。
When the transparent layer represented by the hard coat layer is formed on both surfaces of a transparent substrate having a thickness of 15 to 125 μm (preferably 20 to 70 μm), and the transparent layer is formed of the same material (for example, (a) in FIG. 1) 3a and 3b), the total thickness of the transparent layer is preferably 2 to 24 μm, more preferably 4 to 24 μm, still more preferably 8 to 24 μm. The thickness of each of the transparent layers formed on both surfaces is within the range of the total thickness, and is less affected by the curling of the laminate, and the transparent layer has an oligomer component from the transparent substrate. The thickness may be adjusted as appropriate within a range in which precipitation suppression can be ensured, and the thicknesses thereof may be the same or different. The thickness of the transparent layer on the surface of one transparent substrate on the side where the transparent conductive layer is disposed is 1 to 12 μm, and the thickness of the transparent layer on the surface of the other transparent substrate on the side where the transparent conductive layer is not disposed is 1-12 micrometers is preferable, More preferably, the thickness on the surface of this one transparent base material is 2-12 micrometers, and the thickness on the surface of this other transparent base material is 2-12 micrometers. If the thickness of the transparent layer is within this range, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is the present invention. It can be easily controlled within this range, and there is no occurrence of cracks or peeling due to a decrease in flexibility.
In the above, when the material for forming the transparent layer is different between both surfaces, the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. and the thickness are adjusted by appropriately adjusting the total thickness and the thickness of each surface. Et (N / m) obtained by multiplying the thickness d (m) of the substrate can be within the scope of the present invention.

透明基材の厚みが本発明の範囲で、かつハードコート層に代表される透明層の厚みが上記の範囲にあれば、透明基材上に透明層を積層して基体とした時に、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を容易に制御できる。
これにより、パターニングされた透明導電層に高温の熱処理工程を有していても、ウォッシュボードリップルの発生を阻止することができる。
If the thickness of the transparent substrate is within the range of the present invention and the thickness of the transparent layer typified by the hard coat layer is within the above range, when the transparent layer is laminated on the transparent substrate to form the substrate, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate can be easily controlled.
Thereby, even if the patterned transparent conductive layer has a high-temperature heat treatment step, generation of washboard ripple can be prevented.

本発明において、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)は、4.0×104≦Et≦10.5×104である。Et(N/m)は4.1×104〜10.3×104が好ましく、6.0×104〜10.2×104がより好ましい。
Etが4.0×104(N/m)未満であると、該基体が塑性変形しやすくなる傾向となり、加熱工程時に発生する応力によって容易に変形し、パターニングされた透明導電層にウォッシュボードリップルが発生する。Etが10.5×104(N/m)を超えると、パターニングされた透明導電層と基体との応力バランスが保ちやすい傾向となり、ウォッシュボードリップルをより抑制できるが、屈曲性が低下するため、タッチパネル等に使用した時には、多数回のタッチ操作により、透明層にクラックが入ったり、剥離しやすくなる。Etが上記の範囲にあると、該基体とパターニングされた透明導電層との熱処理時の熱応力を含む機械的な相互作用が緩和され、パターニングされた透明導電層にウォッシュボードリップルが発生することがなく、同時に屈曲性が保たれる。
基体の貯蔵弾性率Ecは、後述する実施例で記載するが、動的粘弾性測定装置(UBM社製、装置名:Rheogel−E4000)を用いて測定した。
なお、基体の150℃における貯蔵弾性率Ec150(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt150(N/m)は、2.5×104〜10.0×104が好ましく、3.0×104〜9.0×104がより好く、4.5×104〜9.0×104がさらに好ましい。
In the present invention, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is 4.0 × 10 4 ≦ Et. ≦ 10.5 × 10 4 . Et (N / m) is preferably 4.1 × 10 4 to 10.3 × 10 4, and more preferably 6.0 × 10 4 to 10.2 × 10 4 .
When Et is less than 4.0 × 10 4 (N / m), the substrate tends to be plastically deformed, and is easily deformed by the stress generated during the heating process, and the patterned transparent conductive layer is washed with the washboard. Ripple occurs. When Et exceeds 10.5 × 10 4 (N / m), the stress balance between the patterned transparent conductive layer and the substrate tends to be maintained, and the washboard ripple can be further suppressed, but the flexibility is lowered. When used for a touch panel or the like, the transparent layer is easily cracked or peeled off by a number of touch operations. When Et is in the above range, mechanical interaction including thermal stress during heat treatment between the substrate and the patterned transparent conductive layer is relaxed, and washboard ripple occurs in the patterned transparent conductive layer. And flexibility is maintained at the same time.
Although the storage elastic modulus Ec of a base | substrate is described in the Example mentioned later, it measured using the dynamic-viscoelasticity measuring apparatus (The product made from UBM, apparatus name: Rheogel-E4000).
The Et 150 (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec 150 (N / m 2 ) of the substrate at 150 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is 2.5 × 10 4 to 10 0.0 × 10 4 is preferable, 3.0 × 10 4 to 9.0 × 10 4 is more preferable, and 4.5 × 10 4 to 9.0 × 10 4 is more preferable.

また、本発明の効果を得やすくする観点から、透明層の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と、透明基材の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)との比[透明層の130℃における貯蔵弾性率/透明基材の130℃における貯蔵弾性率]は、2.0〜5.0であることが好ましく、2.5〜4.5であることがより好ましい。
透明層のx℃の貯蔵弾性率は、基体が透明基材及び透明層からなる場合、以下の式で近似できる。なお、以下の式の「透明層の厚み」は、透明層が2層の場合は、透明層の合計厚みである。
透明層のx℃貯蔵弾性率=(基体のx℃貯蔵弾性率×基体の厚み−透明基材のx℃貯蔵弾性率×透明基材の厚み)/透明層の厚み
さらに、本発明の効果を得やすくする観点から、透明層の150℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と、透明層の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)との比[透明層の150℃における貯蔵弾性率/透明層の130℃における貯蔵弾性率]は、0.80以上であることが好ましく、0.85以上であることがより好ましい。
From the viewpoint of easily obtaining an effect of the present invention, the storage elastic modulus Ec at 130 ° C. of the transparent layer (N / m 2), and the storage elastic modulus Ec at 130 ° C. of the transparent base material (N / m 2) The ratio [the storage elastic modulus of the transparent layer at 130 ° C./the storage elastic modulus of the transparent substrate at 130 ° C.] is preferably 2.0 to 5.0, more preferably 2.5 to 4.5. preferable.
The storage elastic modulus at x ° C. of the transparent layer can be approximated by the following formula when the substrate is composed of a transparent substrate and a transparent layer. The “thickness of the transparent layer” in the following formula is the total thickness of the transparent layer when there are two transparent layers.
X ° C. storage elastic modulus of transparent layer = (x ° C. storage elastic modulus of substrate × thickness of substrate−x ° C. storage elastic modulus of transparent base material × thickness of transparent base material) / thickness of transparent layer from the viewpoint of easily obtained, and the storage elastic modulus Ec at 0.99 ° C. of the transparent layer (N / m 2), at 0.99 ° C. ratio [transparent layer of the storage elastic modulus Ec at 130 ° C. of the transparent layer (N / m 2) The storage elastic modulus / storage elastic modulus of the transparent layer at 130 ° C.] is preferably 0.80 or more, and more preferably 0.85 or more.

基体の透明基材の厚みをdS(m)、前記透明層の厚み(両面に形成する場合は、総厚み)をdL(m)とした場合、0.005≦dL/(dS+dL)≦0.700、を満たすことが好ましい。薄い透明基材であっても、dL/(dS+dL)の値が、0.005以上であると、Etの確保が容易であり、0.700以下であれば、屈曲性が保たれる。dL/(dS+dL)は0.030以上0.500以下であることがより好ましく、0.100以上0.350以下であることがさらに好ましい。 0.005 ≦ d L / (d S ) where d S (m) is the thickness of the transparent base material of the substrate, and d L (m) is the total thickness of the transparent layer (when formed on both sides). + D L ) ≦ 0.700 is preferably satisfied. Even in the case of a thin transparent substrate, it is easy to secure Et if the value of d L / (d S + d L ) is 0.005 or more, and if it is 0.700 or less, the flexibility is maintained. Be drunk. d L / (d S + d L ) is more preferably 0.030 or more and 0.500 or less, and further preferably 0.100 or more and 0.350 or less.

なお、透明層の厚みは、断面を電子顕微鏡(SEM、TEM)等で観察することにより得られた値である。
また、透明層の屈折率は、干渉縞防止の観点から、透明基材、又は透明基材上に必要に応じて形成するプライマー層等との屈折率差を0.15以内とすることが好ましく、0.10以内とすることがより好ましく、0.08以内とすることがさらに好ましい。ただし、透明層の屈折率が前記条件を満たさなくても、透明基材と透明層との界面を凹凸にしたり、透明基材やプライマー層に透明層の成分を浸透したりすることにより、干渉縞を低減することができる。
The thickness of the transparent layer is a value obtained by observing the cross section with an electron microscope (SEM, TEM) or the like.
Further, the refractive index of the transparent layer is preferably within 0.15 of the difference in refractive index from the transparent substrate or a primer layer formed on the transparent substrate as necessary from the viewpoint of preventing interference fringes. , More preferably within 0.10, and even more preferably within 0.08. However, even if the refractive index of the transparent layer does not satisfy the above conditions, the interference between the transparent substrate and the primer layer can be prevented by making the interface between the transparent substrate and the transparent layer uneven, or by infiltrating the components of the transparent layer into the transparent substrate or primer layer. Stripes can be reduced.

<機能層>
基体は、さらに機能層を有していてもよい。機能層としては、特に制限されず、積層体の特性を損なうことがない範囲で用いることができ、例えば、光学調整層が挙げられる。なお、機能層は透明基材上に直接設けてもよい。
<Functional layer>
The substrate may further have a functional layer. It does not restrict | limit especially as a functional layer, It can use in the range which does not impair the characteristic of a laminated body, For example, an optical adjustment layer is mentioned. The functional layer may be provided directly on the transparent substrate.

〈光学調整層〉
光学調整層は、例えば、透明導電層のパターンを見えづらくするために、透明層と透明導電層との間に設けることができる。また、積層体の透明導電層を有さない側の面に、反射防止性のために光学調整層を設けることができる。
<Optical adjustment layer>
For example, the optical adjustment layer can be provided between the transparent layer and the transparent conductive layer in order to make the pattern of the transparent conductive layer difficult to see. Further, an optical adjustment layer can be provided on the surface of the laminate that does not have the transparent conductive layer for antireflection.

上記光学調整層としては、高屈折率層及び低屈折率層の二層構造、高屈折率層、中屈折率層及び低屈折率層の三層構造、あるいは四層以上の多層構造が挙げられるが、費用対効果の観点から、高屈折率層及び低屈折率層の二層構造が好適である。   Examples of the optical adjustment layer include a two-layer structure of a high refractive index layer and a low refractive index layer, a three-layer structure of a high refractive index layer, a medium refractive index layer and a low refractive index layer, or a multilayer structure of four or more layers. However, from the viewpoint of cost effectiveness, a two-layer structure of a high refractive index layer and a low refractive index layer is preferable.

低屈折率層を形成する手法としては、ウェット法とドライ法とに大別できる。ウェット法は生産効率の点で優れている。
ウェット法としては、金属アルコキシド等を用いてゾルゲル法により形成する手法、フッ素樹脂のような低屈折率のバインダーを塗工して形成する手法、バインダー樹脂に低屈折率粒子を含有させた組成物を塗工して形成する手法が挙げられる。ドライ法としては、後述する低屈折率粒子の中から所望の屈折率を有する粒子を選び、物理気相成長法又は化学気相成長法により形成する手法が挙げられる。
Methods for forming the low refractive index layer can be broadly classified into wet methods and dry methods. The wet method is excellent in terms of production efficiency.
As a wet method, a method of forming by a sol-gel method using a metal alkoxide, a method of forming by applying a low refractive index binder such as a fluororesin, a composition containing low refractive index particles in a binder resin The method of coating and forming is mentioned. Examples of the dry method include a method in which particles having a desired refractive index are selected from low-refractive-index particles described later and formed by physical vapor deposition or chemical vapor deposition.

ゾルゲル法に用いる材料としては、金属アルコキシドが挙げられ、該金属アルコキシドを加水分解並びに縮合重合することにより低屈折率層を形成させる。金属アルコキシドとしては、機械的強度や安定性、透明導電層や基材等との密着性に優れている観点から、チタニウムアルコキシド、ジルコニウムアルコキシド又はアルコキシシランが挙げられ、屈折率の観点からアルコキシシランが好ましく用いられる。   Examples of the material used for the sol-gel method include metal alkoxide, and the low refractive index layer is formed by hydrolysis and condensation polymerization of the metal alkoxide. Examples of the metal alkoxide include titanium alkoxide, zirconium alkoxide, or alkoxysilane from the viewpoint of excellent mechanical strength and stability, and adhesion to a transparent conductive layer, a base material, and the like. Preferably used.

バインダー樹脂として用いる材料としては、電離放射線硬化性樹脂又は熱硬化性樹脂が挙げられる。
電離放射線硬化性樹脂としては、前述したハードコート層に用いるものと同様のものが挙げられる。
熱硬化型樹脂としては、ウレタン系熱硬化性樹脂、メラミン系熱硬化性樹脂、フェノキシ系熱硬化性樹脂、エポキシ系熱硬化性樹脂が挙げられる。これらの中でも、ウレタン系熱硬化性樹脂が靭性を上げ易く、耐久性が良好である観点から好ましく用いられる。
バインダーとして本発明において最も好ましいのは、製造効率がよく、物性や後述する低及び高屈折率微粒子の分散性が良好となる電離放射線硬化型樹脂である。
Examples of the material used as the binder resin include an ionizing radiation curable resin and a thermosetting resin.
Examples of the ionizing radiation curable resin are the same as those used for the hard coat layer described above.
Examples of the thermosetting resin include urethane thermosetting resins, melamine thermosetting resins, phenoxy thermosetting resins, and epoxy thermosetting resins. Among these, urethane thermosetting resins are preferably used from the viewpoint of easy toughness and good durability.
The most preferable binder in the present invention is an ionizing radiation curable resin having good production efficiency and good physical properties and dispersibility of low and high refractive index fine particles described later.

低屈折率粒子としては、金属フッ化物からなるMgF2、LiF、又はSiO2が挙げられ、耐湿熱安定性の観点からSiO2が好ましく用いられる。
低屈折率粒子の一次粒子径は100nm以下のものを用い、5〜60nmであるものが好ましい。上記範囲であれば、塗膜が白化することなく良好な光学干渉層を形成することができる。なお、添加量は、所望の屈折率に合わせ、適宜調整する。
Examples of the low refractive index particles include MgF 2 , LiF, or SiO 2 made of a metal fluoride, and SiO 2 is preferably used from the viewpoint of moist heat resistance.
The primary particle size of the low refractive index particles is 100 nm or less, preferably 5 to 60 nm. If it is the said range, a favorable optical interference layer can be formed, without a coating film whitening. The amount added is appropriately adjusted according to the desired refractive index.

高屈折率層を形成する手法としては、ウェット法とドライ法とに大別できる。ウェット法は生産効率の点で優れている。
ウェット法としては、低屈折率層と同様、金属アルコキシド等を用いてゾルゲル法により形成する手法、バインダー樹脂に高屈折率粒子を含有させた組成物を塗工して形成する手法が挙げられる。ドライ法としては、後述する高屈折率粒子の中から所望の屈折率を有する材料を選び、物理気相成長法又は化学気相成長法により形成する手法が挙げられる。
Methods for forming the high refractive index layer can be broadly classified into wet methods and dry methods. The wet method is excellent in terms of production efficiency.
Examples of the wet method include a method of forming by a sol-gel method using a metal alkoxide or the like, as in the case of the low refractive index layer, and a method of forming by applying a composition containing a high refractive index particle in a binder resin. Examples of the dry method include a method in which a material having a desired refractive index is selected from high-refractive index particles to be described later and formed by physical vapor deposition or chemical vapor deposition.

ゾルゲル法に用いる材料としては、金属アルコキシドが挙げられ、該金属アルコキシドを加水分解並びに縮合重合することにより高屈折率層を形成させる。金属アルコキシドとしては、機械的強度や安定性、透明導電層や基材等との密着性に優れている観点から、チタニウムアルコキシド又はジルコニウムアルコキシドが挙げられる。これらのなかでも、ジルコニウムアルコキシドが、屈折率の観点から好ましく用いられる。
バインダー樹脂として用いる材料としては、電離放射線硬化性樹脂、熱硬化型樹脂が挙げられ、いずれも低屈折率層で用いたものと同様のものを用いることができる。
Examples of the material used for the sol-gel method include metal alkoxide, and the high refractive index layer is formed by hydrolysis and condensation polymerization of the metal alkoxide. Examples of the metal alkoxide include titanium alkoxide and zirconium alkoxide from the viewpoint of excellent mechanical strength and stability, and adhesion to a transparent conductive layer and a substrate. Among these, zirconium alkoxide is preferably used from the viewpoint of refractive index.
Examples of the material used as the binder resin include ionizing radiation curable resins and thermosetting resins, and the same materials as those used in the low refractive index layer can be used.

高屈折率粒子としては、酸化亜鉛(1.90)、酸化チタン(2.3〜2.7)、酸化セリウム(1.95)、スズドープ酸化インジウム(1.95〜2.00)、アンチモンドープ酸化スズ(1.75〜1.85)、酸化イットリウム(1.87)、酸化ジルコニウム(2.10)などが挙げられ、適度に高い屈折率を有し、耐光性などの耐久安定性が高いという観点から酸化ジルコニウムが好ましく用いられる。上記かっこ内は、各粒子の材料の屈折率を示す。
高屈折率粒子の一次粒子径は100nm以下のものを用い、10〜60nmであるものが好ましい。上記範囲であれば、塗膜が白化することなく良好な光学干渉層を形成することができる。なお、添加量は、所望の屈折率に合わせ、適宜調整する。
As high refractive index particles, zinc oxide (1.90), titanium oxide (2.3 to 2.7), cerium oxide (1.95), tin-doped indium oxide (1.95 to 2.00), antimony doped Examples thereof include tin oxide (1.75 to 1.85), yttrium oxide (1.87), and zirconium oxide (2.10). It has a moderately high refractive index and high durability stability such as light resistance. From the viewpoint, zirconium oxide is preferably used. The parentheses indicate the refractive index of the material of each particle.
The primary particle diameter of the high refractive index particles is 100 nm or less, and preferably 10 to 60 nm. If it is the said range, a favorable optical interference layer can be formed, without a coating film whitening. The amount added is appropriately adjusted according to the desired refractive index.

高屈折率層は、厚みが200nm以下で、屈折率が1.55〜1.75であることが好ましい。低屈折率層は、厚みが200nm以下で、屈折率は高屈折率層の屈折率よりも低く、1.30〜1.55であることが好ましい。高屈折率層の屈折率は1.58〜1.70であることがより好ましく、低屈折率層の屈折率は1.35〜1.51であることがより好ましい。また、透明導電層のパターンをより見えづらくするために、低屈折率層の厚みが3〜100nm、高屈折率層の厚みが10〜100nmであることがより好ましく、低屈折率層の厚みが10〜40nm、高屈折率層の厚みが10〜70nmであることがさらに好ましい。屈折率及び厚みが上記の範囲にあれば、優れた反射防止効果を有すると同時に、不可視化層としての効果を有する。
〈添加剤〉
上述した透明層、光学調整層中には、本発明の効果を阻害しない範囲で、帯電防止剤、防汚剤、ブロッキング防止剤、紫外線吸収剤等の添加剤を含有してもよい。
The high refractive index layer preferably has a thickness of 200 nm or less and a refractive index of 1.55 to 1.75. The low refractive index layer has a thickness of 200 nm or less, and the refractive index is preferably lower than the refractive index of the high refractive index layer and is 1.30 to 1.55. The refractive index of the high refractive index layer is more preferably 1.58 to 1.70, and the refractive index of the low refractive index layer is more preferably 1.35 to 1.51. Further, in order to make the pattern of the transparent conductive layer more difficult to see, it is more preferable that the thickness of the low refractive index layer is 3 to 100 nm, the thickness of the high refractive index layer is 10 to 100 nm, and the thickness of the low refractive index layer is More preferably, the thickness is 10 to 40 nm and the thickness of the high refractive index layer is 10 to 70 nm. If the refractive index and thickness are in the above ranges, it has an excellent antireflection effect and at the same time, an effect as an invisible layer.
<Additive>
The transparent layer and the optical adjustment layer described above may contain additives such as an antistatic agent, an antifouling agent, an antiblocking agent, and an ultraviolet absorber as long as the effects of the present invention are not impaired.

上述した基体は、例えば以下の(A)、(B)が挙げられる。透明層としてはハードコート層が好ましい。光学調整層は、高屈折率層及び低屈折率層の2層構造が好ましい。
(A)透明層/透明基材/透明層/光学調整層
(B)光学調整層/透明層/透明基材/透明層/光学調整層
Examples of the substrate described above include the following (A) and (B). As the transparent layer, a hard coat layer is preferable. The optical adjustment layer preferably has a two-layer structure of a high refractive index layer and a low refractive index layer.
(A) Transparent layer / Transparent substrate / Transparent layer / Optical adjustment layer (B) Optical adjustment layer / Transparent layer / Transparent substrate / Transparent layer / Optical adjustment layer

<透明導電層>
本発明に用いる透明導電層は、本発明の基体上に積層される。必要に応じて、光学特性に影響のない範囲で、基体と透明導電層との間にSiO2等からなる無機層を形成し、製造工程で基体から発生又は析出するガス、オリゴマー成分等を封止してもよい。
本発明で用いる透明導電層としては、特に制限されないが、金属酸化物が挙げられる。この中で、スズドープ酸化インジウム(ITO)、アンチモンドープ酸化スズ(ATO)、リンドープ酸化スズ(PTO)、フッ素ドープ酸化スズ(FTO)、インジウムドープ酸化亜鉛(IZO)が挙げられる。この中で、スズドープ酸化インジウム(ITO)、アンチモンドープ酸化スズ(ATO)、インジウムドープ酸化亜鉛(IZO)が好まししい。特に、透明性、導電性がともに優れることから、スズドープ酸化インジウム(ITO)が好ましい。
<Transparent conductive layer>
The transparent conductive layer used in the present invention is laminated on the substrate of the present invention. If necessary, an inorganic layer made of SiO 2 or the like is formed between the substrate and the transparent conductive layer within a range that does not affect the optical characteristics, and the gas, oligomer components, etc. generated or deposited from the substrate in the manufacturing process are sealed. You may stop.
Although it does not restrict | limit especially as a transparent conductive layer used by this invention, A metal oxide is mentioned. Among these, tin-doped indium oxide (ITO), antimony-doped tin oxide (ATO), phosphorus-doped tin oxide (PTO), fluorine-doped tin oxide (FTO), and indium-doped zinc oxide (IZO) are exemplified. Among these, tin-doped indium oxide (ITO), antimony-doped tin oxide (ATO), and indium-doped zinc oxide (IZO) are preferable. In particular, tin-doped indium oxide (ITO) is preferable because both transparency and conductivity are excellent.

積層体前駆体の150℃30分間加熱後における長手方向(MD)及び横手方向(TD)の熱収縮率は、いずれも0.7%以下であることが好ましく、より好ましくは0.6%以下であり、さらに好ましくは0.5%以下であり、よりさらに好ましくは0.4%以下である。熱収縮率が上記範囲であれば、高温環境下で、透明導電層の剥がれやクラックの発生を抑制できる。   The heat shrinkage in the longitudinal direction (MD) and the transverse direction (TD) after heating the laminated body precursor at 150 ° C. for 30 minutes is preferably 0.7% or less, more preferably 0.6% or less. More preferably, it is 0.5% or less, More preferably, it is 0.4% or less. If the heat shrinkage is in the above range, peeling of the transparent conductive layer and generation of cracks can be suppressed under a high temperature environment.

透明導電層の形成方法としては、スパッタ法、真空蒸着法、イオンプレーティング法等の物理気相成長法、又は化学気相成長法、その他印刷法、塗工法等種々あるが、光学特性、電気特性の観点から物理気相成長法、化学気相成長法が好ましく、特に、化学気相成長法に比べ、より低温度で処理できる物理気相成長法がより好ましい。   There are various methods for forming a transparent conductive layer, such as a physical vapor deposition method such as sputtering, vacuum vapor deposition, ion plating, or chemical vapor deposition, other printing methods, coating methods, etc. From the viewpoint of characteristics, physical vapor deposition and chemical vapor deposition are preferable, and physical vapor deposition that can be processed at a lower temperature is more preferable than chemical vapor deposition.

通常、スパッタ法で成膜したスズドープ酸化インジウム(ITO)は、非結晶であるが、積層体の耐熱温度の範囲内で、例えば、100〜150℃で加熱することにより、結晶化を進めることができ、加熱時間等を適宜調整することにより、50%以上結晶化させることができる。この結晶化により、ITO層の表面抵抗率を低下させることができる。また同時に、密着強度を向上させたり、貯蔵弾性率を増加させたりすることもできる。   Usually, tin-doped indium oxide (ITO) formed by sputtering is amorphous, but the crystallization can be promoted by heating at a temperature of 100 to 150 ° C. within the heat resistant temperature range of the laminate. It is possible to crystallize 50% or more by appropriately adjusting the heating time and the like. By this crystallization, the surface resistivity of the ITO layer can be reduced. At the same time, the adhesion strength can be improved and the storage elastic modulus can be increased.

透明導電層は、厚み10〜200nm、屈折率1.90〜3.00で、表面抵抗率が300Ω/□以下、好ましくは150Ω/□以下である。厚み、屈折率及び表面抵抗率が上記範囲であれば、タッチパネルとして用いた場合、高い光透過率、低消費電力及び大面積化された場合においても高速応答性が確保できる。   The transparent conductive layer has a thickness of 10 to 200 nm, a refractive index of 1.90 to 3.00, and a surface resistivity of 300Ω / □ or less, preferably 150Ω / □ or less. When the thickness, refractive index, and surface resistivity are within the above ranges, when used as a touch panel, high light transmittance, low power consumption, and high-speed response can be ensured even when the area is increased.

透明導電層は、パターニングにより所定のパターンを形成して用いる。パターンの形状は、例えば、タッチパネルとして使用する際、所定の位置検出機能が付与でき、かつ視認性の低下が可能な限り最小となるような形状及び配置であれば、特に制限されない。
透明導電層のパターンのピッチは5mm以下であることが好ましく、より好ましくは2mm以下である。パターンのピッチがこの範囲であると、表示画素の高精細化ならびにタッチ検出精度の高精度化に対応でき、また基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)を本発明の範囲にすることで、結晶化後のパターニングされた透明導電層に対し、さらに熱処理を施してもウォッシュボードリップルの発生がない。
The transparent conductive layer is used by forming a predetermined pattern by patterning. The shape of the pattern is not particularly limited as long as it is a shape and arrangement that can provide a predetermined position detection function and minimize the degradation of visibility when used as a touch panel, for example.
The pattern pitch of the transparent conductive layer is preferably 5 mm or less, more preferably 2 mm or less. When the pitch of the pattern is within this range, it is possible to cope with high definition of display pixels and high touch detection accuracy, and the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. and the thickness d of the substrate. By making Et (N / m) obtained by multiplying (m) within the scope of the present invention, even if heat treatment is applied to the patterned transparent conductive layer after crystallization, generation of washboard ripples will occur. Absent.

図2に、本発明に用いる透明導電層のパターンの一例を示す。パターン層100は多数の横方向に電気的に連結されたX電極部111〜116と、多数の縦方向に電気的に連結されたY電極部211〜214とが互いに、透明基材、透明層等の絶縁層を介して交差して配置される。例えば、(i)一枚の透明基材の一方の面にX電極部、他方の面にY電極部を形成すること、(ii)一枚の透明基材にX電極部、別の透明基材にY電極部を形成し、両基材を貼り合わせること、により、絶縁体を介してX電極部及びY電極部が交差される。   In FIG. 2, an example of the pattern of the transparent conductive layer used for this invention is shown. The pattern layer 100 includes a plurality of X electrode portions 111 to 116 electrically connected in the horizontal direction and a number of Y electrode portions 211 to 214 electrically connected in the vertical direction. Are arranged so as to cross each other through an insulating layer. For example, (i) forming an X electrode portion on one surface of a transparent substrate and a Y electrode portion on the other surface, (ii) an X electrode portion and another transparent substrate on a transparent substrate By forming the Y electrode portion on the material and pasting both base materials together, the X electrode portion and the Y electrode portion are crossed through the insulator.

投影型静電容量式タッチパネルに用いられるパターンとしては、通常、透明導電層からなる複数の直線状の電極Xと複数の直線状の電極Yとが絶縁層(透明基材、ハードコート層等)を介し互いに略直交するよう配置されている。電極X、電極Yのパターンの具体例としては、メッシュ状で、且つ、直線(電極X、電極Yともに所定のピッチで並列に配列)が略直交した形態の直線格子パターン、交差部間の導電部分が少なくとも1つの湾曲を有する波線格子パターン、ダイヤモンド状のパターン(図2と類似したパターン)等が挙げられる。   As a pattern used for a projected capacitive touch panel, usually a plurality of linear electrodes X and a plurality of linear electrodes Y made of a transparent conductive layer are insulating layers (transparent substrate, hard coat layer, etc.) It arrange | positions so that it may mutually orthogonally cross. As a specific example of the pattern of the electrode X and the electrode Y, a linear lattice pattern having a mesh shape and straight lines (both electrodes X and Y are arranged in parallel at a predetermined pitch) and substantially perpendicular to each other, conductivity between intersections Examples thereof include a wavy lattice pattern in which the portion has at least one curve, a diamond-like pattern (a pattern similar to FIG. 2), and the like.

本発明の積層体は、例えば以下の(A)、(B)が挙げられる。透明層としてはハードコート層が好ましい。光学調整層は、高屈折率層及び低屈折率層の2層構造が好ましい。
(A)透明層/透明基材/透明層/光学調整層/パターニングされた透明導電層
(B)パターニングされた透明導電層/光学調整層/透明層/透明基材/透明層/光学調整層/パターニングされた透明導電層
As for the laminated body of this invention, the following (A) and (B) are mentioned, for example. As the transparent layer, a hard coat layer is preferable. The optical adjustment layer preferably has a two-layer structure of a high refractive index layer and a low refractive index layer.
(A) Transparent layer / transparent substrate / transparent layer / optical adjustment layer / patterned transparent conductive layer (B) patterned transparent conductive layer / optical adjustment layer / transparent layer / transparent substrate / transparent layer / optical adjustment layer / Patterned transparent conductive layer

本発明の積層体は、タッチパネルの構成部材として好適に使用できる。タッチパネルとしては、抵抗膜式タッチパネル、静電容量式タッチパネル等が挙げられ、特に静電容量式タッチパネルの構成部材として好適に使用できる。
タッチパネルに積層体を組み込む場合、積層体は上記(A)及び(B)の構成を有することが好ましい。
The laminated body of this invention can be used conveniently as a structural member of a touch panel. Examples of the touch panel include a resistance film type touch panel and a capacitive touch panel, and can be suitably used particularly as a constituent member of the capacitive touch panel.
When incorporating a laminated body in a touch panel, it is preferable that a laminated body has the structure of said (A) and (B).

タッチパネルのより具体的な構成としては、上記(A)の積層体を2枚用い、粘着剤を介しハードコート層側同士を重ねた構成、又はハードコート層側と透明導電層側とを粘着剤PSAを介し重ねた構成に対して、カバーガラス等の保護板を積層した構成(GFF構成)が挙げられる。
また、透明導電層を有するガラス基板の透明導電層側と、上記(A)の積層体の透明導電層側とを粘着剤を介して積層した構成(G1F構成)が挙げられる。
さらに、上記(B)の積層体を単独で用いる構成(GF2構成)が挙げられる。
As a more specific configuration of the touch panel, two laminates of the above (A) are used, and the hard coat layer side is overlapped with the adhesive, or the hard coat layer side and the transparent conductive layer side are used as the adhesive. The structure (GFF structure) which laminated | stacked protective plates, such as a cover glass, with respect to the structure piled up through PSA is mentioned.
Moreover, the structure (G1F structure) which laminated | stacked the transparent conductive layer side of the glass substrate which has a transparent conductive layer, and the transparent conductive layer side of the laminated body of said (A) through an adhesive is mentioned.
Furthermore, the structure (GF2 structure) which uses the said laminated body of (B) independently is mentioned.

[積層体の製造方法]
本発明の積層体の製造方法は、透明基材の片面又は両面に透明層を有する基体上に、パターニングされた透明導電層を有してなる積層体を製造する方法であって、該基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が4.0×104≦Et≦10.5×104となるように、該透明基材上に、該透明層を形成する基体形成工程、該基体上に透明導電層を形成する透明導電層形成工程、該透明導電層をパターニングするパターン形成工程、透明導電層を加熱し結晶化させる結晶化工程を含む、積層体の製造方法である。
[Manufacturing method of laminate]
The method for producing a laminate of the present invention is a method for producing a laminate having a patterned transparent conductive layer on a substrate having a transparent layer on one or both sides of a transparent substrate, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is 4.0 × 10 4 ≦ Et ≦ 10.5 × 10 4. A substrate forming step of forming the transparent layer on the transparent substrate, a transparent conductive layer forming step of forming a transparent conductive layer on the substrate, a pattern forming step of patterning the transparent conductive layer, transparent It is a manufacturing method of a laminated body including the crystallization process of heating and crystallizing a conductive layer.

(1)基体形成工程
透明基材の片面又は両面に透明層を形成し、基体を形成する工程である。また、該工程において、基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が4.0×104≦Et≦10.5×104となるようにする。図1の(a)においては、透明基材2上に透明層3a及び透明層3bを形成している。
(1) Substrate formation step This is a step of forming a substrate by forming a transparent layer on one or both sides of a transparent substrate. In this step, Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is 4.0 × 10 4 ≦ Et ≦ 10.5 × 10 4 . In FIG. 1A, a transparent layer 3 a and a transparent layer 3 b are formed on a transparent substrate 2.

透明層として、前述したハードコート層を用いる場合、透明基材上に、電離放射線硬化性樹脂組成物を塗布して塗膜を形成し、乾燥させた後、塗膜を硬化させることにより形成することができる。
ハードコート層形成用の電離放射線硬化性樹脂組成物を塗布する方法としては、ロールコート法、バーコート法、グラビアコート法等の塗布方法が挙げられる。
塗布後の乾燥条件は、特に限定されないが、通常40〜200℃で20〜120秒間行うとよい。塗膜を硬化させる方法は、特に限定されず、公知の方法であればよい。
なお、トータルの照射量を一定として、照射強度を可変することで、ハードコート層の分子の架橋形態や架橋密度を変えることにより分子の均一性を向上させ、貯蔵弾性率を制御することも可能である。また、貯蔵弾性率は、材料組成によるだけではなく、硬化条件によっても制御できる。例えば、貯蔵弾性率を高めるためには、後述するヒュージョン紫外線ランプ等を使用して、照射光量密度を高め、急激に多量のラジカルを発生させることで架橋密度を上げることが好ましい。又、照射光量密度を低く照射時間を長くすることで、急激なラジカル密度の上昇を押さえ、架橋密度を抑えることで、貯蔵弾性率を抑え、屈曲性を高めることが出来る。
When the above-described hard coat layer is used as the transparent layer, it is formed by applying an ionizing radiation curable resin composition on a transparent substrate to form a coating film, drying it, and then curing the coating film. be able to.
Examples of the method for applying the ionizing radiation curable resin composition for forming the hard coat layer include application methods such as a roll coating method, a bar coating method, and a gravure coating method.
Although the drying conditions after application | coating are not specifically limited, Usually, it is good to carry out for 20 to 120 second at 40-200 degreeC. The method for curing the coating film is not particularly limited and may be a known method.
It is also possible to improve the uniformity of the molecules and control the storage modulus by changing the cross-linking form and cross-linking density of the hard coat layer by changing the irradiation intensity while keeping the total irradiation amount constant. It is. Further, the storage elastic modulus can be controlled not only by the material composition but also by the curing conditions. For example, in order to increase the storage elastic modulus, it is preferable to increase the irradiation light density by using a fusion ultraviolet lamp, which will be described later, and increase the crosslinking density by rapidly generating a large amount of radicals. Further, by lowering the irradiation light amount density and increasing the irradiation time, it is possible to suppress a rapid increase in radical density and suppress the crosslinking density, thereby suppressing the storage elastic modulus and enhancing the flexibility.

電離放射線を照射する方法としては、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、低圧水銀灯、カーボンアーク、メタルハライドランプ、ヒュージョンランプ等から発せられる100〜400nm、好ましくは200〜400nmの波長領域の紫外線を照射する。これらのランプの中でも、ヒュージョンランプが好適である。照射量は、積算で通常100〜500mJ/cm2である。また、走査型やカーテン型の電子線加速器から発せられる100nm以下の波長領域の電子線を照射することにより行うことができる。電子線としては、50〜1000eVのエネルギーを持つものが好ましく、より好ましくは100〜300eVである。
なお、透明基材には、接着性向上のために、コロナ放電処理、酸化処理等の表面処理を予め行ってもよい。
As a method of irradiating with ionizing radiation, ultraviolet rays in a wavelength region of 100 to 400 nm, preferably 200 to 400 nm, emitted from an ultrahigh pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp, a carbon arc, a metal halide lamp, a fusion lamp or the like are irradiated. Among these lamps, a fusion lamp is preferable. The amount of irradiation is usually 100 to 500 mJ / cm 2 by integration. Moreover, it can carry out by irradiating the electron beam of a wavelength range below 100 nm emitted from a scanning type or a curtain type electron beam accelerator. As an electron beam, what has the energy of 50-1000 eV is preferable, More preferably, it is 100-300 eV.
In addition, you may perform surface treatments, such as a corona discharge process and an oxidation process, previously in order to improve adhesiveness to a transparent base material.

(1’)光学調整層形成工程
基体形成工程で形成した透明層上に、さらに、光学調整層を形成する工程を行ってもよい。なお、必要に応じて、透明基材上に、光学調整層等を直接形成してもよい。図1の(a)においては、透明層3a上に光学調整層4を形成している。
光学調整層は、前述したバインダーとして用いる電離放射線硬化型樹脂又は熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物等を用い塗布して塗膜を形成し、乾燥させた後、塗膜を硬化させることにより形成することができる。塗布する方法としては、例えば、マイクログラビヤコート法、ロールコート法、カーテンコート法、スプレーコート法、ダイコート法、ナイフコート法、スピンコート法等が挙げられる。また、金属酸化物、金属フッ化物を用いた場合の形成方法としては、物理気相成長法で行う場合、スパッタ法、真空蒸着法又はイオンプレーティング法等が用いられる。化学気相成長法で行う場合は、比較的低温で処理できるプラズマCVD等が用いられる。なお、光学調整層が複数層の場合は、各層を異なる方法で形成してもよい。
(1 ′) Optical Adjustment Layer Formation Step A step of further forming an optical adjustment layer may be performed on the transparent layer formed in the substrate formation step. In addition, you may form an optical adjustment layer etc. directly on a transparent base material as needed. In FIG. 1A, the optical adjustment layer 4 is formed on the transparent layer 3a.
The optical adjustment layer is formed by applying a resin composition containing an ionizing radiation curable resin or a thermosetting resin used as the binder described above to form a coating film, drying the coating, and then curing the coating film. can do. Examples of the coating method include a micro gravure coating method, a roll coating method, a curtain coating method, a spray coating method, a die coating method, a knife coating method, and a spin coating method. In addition, as a formation method in the case of using a metal oxide or a metal fluoride, a sputtering method, a vacuum evaporation method, an ion plating method, or the like is used when the physical vapor deposition method is used. In the case of chemical vapor deposition, plasma CVD or the like that can be processed at a relatively low temperature is used. In addition, when the optical adjustment layer has a plurality of layers, each layer may be formed by a different method.

(2)透明導電層形成工程
透明導電層形成工程は、基体上に、金属酸化物等からなる透明導電層を形成する工程である。図1の(a)においては、光学調整層4上に透明導電層5を形成している。
透明導電層の形成方法としては、スパッタ法、真空蒸着法、イオンプレーティング法等の物理気相成長法、又は化学気相成長法、その他印刷法、塗工法等種々あるが、光学特性、電気特性の観点から物理気相成長法、化学気相成長法が好ましく、特に、化学気相成長法に比べ、より低温度で処理できる物理気相成長法が好ましい。
(2) Transparent conductive layer formation process A transparent conductive layer formation process is a process of forming the transparent conductive layer which consists of a metal oxide etc. on a base | substrate. In FIG. 1A, a transparent conductive layer 5 is formed on the optical adjustment layer 4.
There are various methods for forming a transparent conductive layer, such as a physical vapor deposition method such as sputtering, vacuum vapor deposition, ion plating, or chemical vapor deposition, other printing methods, coating methods, etc. From the viewpoint of characteristics, physical vapor deposition and chemical vapor deposition are preferable, and physical vapor deposition that can be processed at a lower temperature is particularly preferable as compared with chemical vapor deposition.

(3)結晶化工程
透明導電層を温度加熱により、結晶化させる工程である。この結晶化工程は、透明導電層形成工程後、又は後述する透明導電層のパターン形成工程後、或いは、後述する取り出し電極形成工程と同時のいずれかのタイミングで行えばよい。使用する金属酸化物のエッチングの容易性、製造効率等の観点から、適宜選択する。
加熱温度は、使用する金属酸化物により異なるが、通常100〜200℃であり、好ましくは120〜160℃である。また、加熱時間は、通常、5分間〜24時間であり、製造効率や結晶化度(機械的特性、表面抵抗率値等に影響を及ぼす)を考慮して適宜調整すればよい。加熱方法は、特に制限されることはなく、公知の方法で行うことができるが、金属酸化物としてITOを用いる場合は、空気中で加熱炉、赤外線ランプヒーター等を用いて行うことが好ましい。
(3) Crystallization step This is a step of crystallizing the transparent conductive layer by temperature heating. This crystallization step may be performed after the transparent conductive layer forming step, after the transparent conductive layer pattern forming step described later, or at the same time as the extraction electrode forming step described later. It selects suitably from viewpoints, such as the ease of the etching of the metal oxide to be used, and production efficiency.
Although heating temperature changes with metal oxides to be used, it is 100-200 degreeC normally, Preferably it is 120-160 degreeC. The heating time is usually 5 minutes to 24 hours, and may be appropriately adjusted in consideration of production efficiency and crystallinity (which affects mechanical properties, surface resistivity values, etc.). The heating method is not particularly limited and can be performed by a known method. However, when ITO is used as the metal oxide, it is preferably performed in the air using a heating furnace, an infrared lamp heater, or the like.

(4)パターン形成工程
パターン形成工程は、透明導電層を所定のパターンにパターニングする工程であり、例えば、図1の(b)に示すようなパターンが並列に配置されたストライプパターンを形成する工程である。パターニングは公知の方法で行うことができ、通常、フォトリソ法で行われる。具体的には、フォトレジストを透明導電層上に塗布し、所定パターンを有するフォトマスクを介して露光を行い、アルカリ溶液等の現像液を用い現像を行い、レジストパターンを形成し、さらにウェット又はドライエッチング法により不要となる透明導電層をエッチングした後、レジストを剥離することにより、所定の透明導電層のパターンを形成することができる。
以上により、本発明の積層体を製造することができる。なお、さらに以下の取り出し電極形成工程を行うことが好ましい。
(4) Pattern formation step The pattern formation step is a step of patterning the transparent conductive layer into a predetermined pattern. For example, a step of forming a stripe pattern in which patterns as shown in FIG. It is. Patterning can be performed by a known method, and is usually performed by a photolithography method. Specifically, a photoresist is applied on the transparent conductive layer, exposed through a photomask having a predetermined pattern, developed using a developer such as an alkaline solution, and a resist pattern is formed. After the unnecessary transparent conductive layer is etched by the dry etching method, the resist is peeled off to form a predetermined transparent conductive layer pattern.
As described above, the laminate of the present invention can be produced. Further, it is preferable to further perform the following extraction electrode forming step.

(5)取り出し電極形成工程
取り出し電極形成工程は、パターン形成工程で得られたパターンを有する透明導電層に、所定のパターンを有する取り出し電極を形成する工程であり、例えば、図1の(c)においては、透明導電層パターン膜6’から所定の取り出し電極パターン(焼成前)7を形成している。
本工程では、銀ペースト等の導電性を有する材料を形成し、配線に係る電極パターンを形成させる。電極パターンの形成方法は、特に制限はなく、公知の手法で行うことができ、通常、スクリーン印刷法で行われる。得られた電極パターンは、使用した溶媒の乾燥を含め、電極パターンの導電性を向上させるために、高温度で焼成(加熱処理による焼結)される(図1の(d)においては、取り出し電極パターン(焼成後)7’)。加熱処理条件は、125〜150℃、10〜60分間である。加熱処理条件がこの範囲であれば、電極パターンの導電性が向上し、かつ本発明によれば、透明導電層パターンにウォッシュボードリップルが発生することもない。加熱方法は、特に制限されることはなく、公知の方法で行うことができる。通常、加熱炉、真空加熱炉、赤外線ランプヒーター等を用いて行われる。
(5) Extraction Electrode Formation Step The extraction electrode formation step is a step of forming an extraction electrode having a predetermined pattern on the transparent conductive layer having the pattern obtained in the pattern formation step. For example, FIG. , A predetermined extraction electrode pattern (before firing) 7 is formed from the transparent conductive layer pattern film 6 ′.
In this step, a conductive material such as silver paste is formed, and an electrode pattern related to the wiring is formed. There is no restriction | limiting in particular in the formation method of an electrode pattern, It can carry out by a well-known method and is normally performed by the screen printing method. The obtained electrode pattern is fired at high temperature (sintered by heat treatment) in order to improve the conductivity of the electrode pattern, including drying of the solvent used (in FIG. 1 (d), it is taken out). Electrode pattern (after firing) 7 ′). The heat treatment conditions are 125 to 150 ° C. and 10 to 60 minutes. When the heat treatment condition is within this range, the conductivity of the electrode pattern is improved, and according to the present invention, no washboard ripple occurs in the transparent conductive layer pattern. The heating method is not particularly limited and can be performed by a known method. Usually, a heating furnace, a vacuum heating furnace, an infrared lamp heater or the like is used.

本発明の製造方法によれば、パターニングされた透明導電層に対しさらに熱処理を施した場合においても、ウォッシュボードリップルの発生がなく、例えば、タッチパネルを構成するカバーガラス等との貼り合わせ時に気泡の巻き込みのない、優れた外観性状及び視認性を有する積層体が得られる。   According to the manufacturing method of the present invention, even when the patterned transparent conductive layer is further subjected to heat treatment, no washboard ripple is generated, for example, when bubbles are bonded to a cover glass or the like constituting the touch panel. A laminate having excellent appearance properties and visibility without entanglement is obtained.

次に、本発明を実施例により、さらに詳細に説明するが、本発明は、この例によって何ら限定されるものではない。なお、文中、「部」又は「%」とあるのは特に断りのない限り、質量基準である。   EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited at all by this example. In the text, “part” or “%” is based on mass unless otherwise specified.

実施例及び比較例で得られた基体の貯蔵弾性率の測定、また、パターニングされた透明導電層を有する積層体の表面凹凸(ウォッシュボードリップル)及び屈曲性の評価は、以下の方法で行った。   The measurement of the storage elastic modulus of the substrates obtained in Examples and Comparative Examples, and the evaluation of the surface irregularities (washboard ripple) and the flexibility of the laminate having the patterned transparent conductive layer were performed by the following methods. .

(1)貯蔵弾性率
透明基材/透明層からなる基体を、試験片として5mm×20mmの大きさに切り出し、130℃及び150℃における(透明基材のMD方向)の貯蔵弾性率(Ec)を、動的粘弾性測定装置(UBM社製、装置名:Rheogel−E4000)を用いて以下の条件で、測定した。
(測定条件)
周波数:10Hz、測定治具:引っ張り、荷重:50g、加振状態:連続加振
歪み制御:10μm、測定温度範囲:25℃〜200℃、昇温速度:2℃/分。
(1) Storage elastic modulus A substrate composed of a transparent substrate / transparent layer is cut into a size of 5 mm × 20 mm as a test piece, and storage elastic modulus (Ec) at 130 ° C. and 150 ° C. (MD direction of the transparent substrate). Was measured under the following conditions using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus (manufactured by UBM, apparatus name: Rheogel-E4000).
(Measurement condition)
Frequency: 10 Hz, measurement jig: tension, load: 50 g, vibration state: continuous vibration distortion control: 10 μm, measurement temperature range: 25 ° C. to 200 ° C., temperature increase rate: 2 ° C./min.

(2)積層体表面凹凸(ウォッシュボードリップル)
積層体表面のパターニングされた透明導電層の凹凸を、蛍光灯の光を用い、蛍光灯の反射像の映りこみ具合を目視観察することにより評価した。評価基準は以下のようにした。
凹凸が全く見えないレベル:◎
凹凸がわずかにしか見えないレベル:○
凹凸が容易に見えるレベル:×
(2) Laminate surface irregularities (washboard ripple)
The unevenness of the patterned transparent conductive layer on the surface of the laminate was evaluated by visually observing the reflected state of the reflected image of the fluorescent lamp using the light of the fluorescent lamp. The evaluation criteria were as follows.
Level where no irregularities are visible: ◎
Level where unevenness is only slightly visible: ○
Level where irregularities can be easily seen: ×

(3)屈曲性
直径6mmの円柱状の棒(マンドレル棒)に、実施例及び比較例で得られた積層体を巻き、ビデオライトの光を照射して、クラックの発生の状況を、以下に示す評価基準で、目視観察することにより評価した。
クラックが発生しない:〇
クラックが発生する:×
(3) Flexibility The laminated body obtained in the example and the comparative example is wound around a cylindrical rod (mandrel rod) having a diameter of 6 mm, and irradiated with video light. Evaluation was performed by visual observation according to the evaluation criteria shown.
Cracks do not occur: ○ Cracks occur: ×

(実施例1)
透明基材であるPETフィルム(帝人デュポンフィルム社製、商品名:KEL86W、プライマー層付、厚み:50μm(二軸延伸))の片方の面に、下記透明層塗工液(1)をワイヤーバーを用いて塗工したものを、温度70℃の熱オーブン中で40秒間乾燥し、塗膜中の溶剤を蒸発させ、ヒュージョンランプを用いて紫外線を積算光量が160mJ/cm2になるように照射して、塗膜を硬化させた。同様に、PETフィルムの一方の片面にも、透明層塗工液をワイヤーバーを用いて塗工し、塗膜を硬化させることにより、片面あたり厚みが12μm、両面で厚み24μmの透明層を形成した。
なお、透明層の厚みは、デジマチックマイクロメーター(ミツトヨ社製、型名:MDC−SB)で測定した。
Example 1
On one side of a transparent PET film (made by Teijin DuPont Films, trade name: KEL86W, with primer layer, thickness: 50 μm (biaxial stretching)), apply the following transparent layer coating solution (1) to the wire bar The coating is dried for 40 seconds in a heat oven at a temperature of 70 ° C., the solvent in the coating film is evaporated, and ultraviolet rays are irradiated using a fusion lamp so that the integrated light quantity becomes 160 mJ / cm 2. Then, the coating film was cured. Similarly, the transparent layer coating solution is applied to one side of the PET film using a wire bar, and the coating film is cured to form a transparent layer having a thickness of 12 μm per side and a thickness of 24 μm on both sides. did.
In addition, the thickness of the transparent layer was measured with a Digimatic micrometer (Mitutoyo Corporation, model name: MDC-SB).

<透明層塗工液の調製>
光重合開始剤(Lamberti社製、Esacure One)を4質量部、希釈溶剤(MIBK/シクロヘキサノン=9/1)を300質量部入れ、溶け残りがなくなるまで撹拌した。ここに光硬化樹脂(日本化薬社製、DPHA)を100質量部入れ撹拌し、溶け残りがなくなるまで撹拌した。最後にレベリング剤(大日精化工業社製、セイカビーム10−28(MB))を0.25質量部入れ撹拌した。
<Preparation of transparent layer coating solution>
4 parts by weight of a photopolymerization initiator (Lamberti, Esacure One) and 300 parts by weight of a diluting solvent (MIBK / cyclohexanone = 9/1) were added and stirred until there was no undissolved residue. Here, 100 parts by mass of a photocurable resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., DPHA) was added and stirred, and stirred until there was no undissolved residue. Finally, 0.25 parts by mass of a leveling agent (Seika Beam 10-28 (MB) manufactured by Dainichi Seika Kogyo Co., Ltd.) was added and stirred.

次いで、一方の透明層上に、下記の高屈折率層塗布液を塗布、乾燥、紫外線照射して、高屈折率層(厚み50nm、屈折率1.66)を形成し、さらに高屈折率層上に、スパッタ装置を用いてSiO2を成膜(厚み:30nm、屈折率1.46)し、基体(透明層/透明基材/透明層/高屈折率層/低屈折率層)を得た。得られた基体の130℃における、貯蔵弾性率を測定した。結果を表1に示す。 Next, on the one transparent layer, the following high refractive index layer coating solution is applied, dried, and irradiated with ultraviolet rays to form a high refractive index layer (thickness 50 nm, refractive index 1.66). A SiO 2 film was formed on the top using a sputtering apparatus (thickness: 30 nm, refractive index 1.46) to obtain a substrate (transparent layer / transparent substrate / transparent layer / high refractive index layer / low refractive index layer). It was. The storage elastic modulus at 130 ° C. of the obtained substrate was measured. The results are shown in Table 1.

<高屈折率層塗布液>
・ペンタエリスリトールトリアクリレート 10部
(日本化薬社製、KAYARAD−PET−30)
・光重合開始剤 0.7部
(BASF社製、イルガキュア127)
・シリコーン系レベリング剤 0.3部
(大日精化工業社製、セイカビーム10−28、固形分10%)
・高屈折率粒子(酸化ジルコニウム) 50部
(住友大阪セメント社製、MZ−230X、固形分32.5%)
(平均一次粒子径:25nm)
・メチルイソブチルケトン 500部
・シクロヘキサノン 250部
・メチルエチルケトン 500部
<High refractive index layer coating solution>
Pentaerythritol triacrylate 10 parts (Nippon Kayaku Co., Ltd., KAYARAD-PET-30)
-0.7 parts of photopolymerization initiator (BASF, Irgacure 127)
・ 0.3 parts of silicone leveling agent (Daiichi Seika Kogyo Co., Ltd., Seika Beam 10-28, solid content 10%)
・ High refractive index particles (zirconium oxide) 50 parts (manufactured by Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd., MZ-230X, solid content 32.5%)
(Average primary particle size: 25 nm)
・ Methyl isobutyl ketone 500 parts ・ Cyclohexanone 250 parts ・ Methyl ethyl ketone 500 parts

次に、得られた基体の低屈折率層上に、スパッタ装置を用いてスズドープ酸化インジウム(ITO)からなる透明導電層を成膜(厚み:23nm)し、温度150℃のオーブン中で30分間、熱処理することにより、透明導電層を結晶化させた。   Next, a transparent conductive layer made of tin-doped indium oxide (ITO) is formed on the low refractive index layer of the obtained substrate using a sputtering apparatus (thickness: 23 nm), and is placed in an oven at a temperature of 150 ° C. for 30 minutes. The transparent conductive layer was crystallized by heat treatment.

さらに、透明導電層上に、ストライプ状パターンのフォトレジストを形成し、塩酸に浸漬してエッチング処理を施した。エッチング処理後、120℃で5分間乾燥して、高さ23nm、幅1.0mm、ピッチ1.0mmのストライプ状にパターニングされた透明導電層を形成し、積層体を得た。その後、さらに熱処理(130℃30分間)を行うことにより、パターニングされた透明導電層を有する積層体を作製した。
得られた積層体のパターニングされた表面凹凸(ウォッシュボードリップル)及び屈曲性を評価した。結果を表1に示す。
Further, a striped pattern of photoresist was formed on the transparent conductive layer and immersed in hydrochloric acid for etching. After the etching treatment, the film was dried at 120 ° C. for 5 minutes to form a transparent conductive layer patterned in a stripe shape having a height of 23 nm, a width of 1.0 mm, and a pitch of 1.0 mm, thereby obtaining a laminate. Then, the laminated body which has the patterned transparent conductive layer was produced by performing heat processing (130 degreeC for 30 minutes) further.
Patterned surface irregularities (washboard ripple) and flexibility of the obtained laminate were evaluated. The results are shown in Table 1.

(実施例2〜6)
実施例1において、透明層の厚みを、順に10、8.5、4、2、1μmに代えた以外は、実施例1と同様に透明基材と透明層からなる基体を得、さらにパターニングされた透明導電層を有する積層体を作製した。
得られたそれぞれの基体の130℃及び150℃における貯蔵弾性率を測定した。また、積層体のパターニングされた表面凹凸(ウォッシュボードリップル)及び屈曲性を評価した。結果を表1に示す。
(Examples 2 to 6)
In Example 1, except that the thickness of the transparent layer was changed to 10, 8.5, 4, 2, 1 μm in order, a substrate composed of a transparent substrate and a transparent layer was obtained in the same manner as in Example 1, and further patterned. A laminate having a transparent conductive layer was prepared.
The storage elastic modulus at 130 ° C. and 150 ° C. of each of the obtained substrates was measured. Moreover, the surface unevenness | corrugation (washboard ripple) and the flexibility which were patterned of the laminated body were evaluated. The results are shown in Table 1.

(比較例1〜3)
実施例1において、透明層の厚みを、順に0.5、0、15μmに代えた以外は、実施例1と同様に透明基材と透明層からなる基体(正確には比較例2は透明基材のみからなる基体)を作製し、さらにパターニングされた透明導電層を有する積層体を作製した。
得られた基体の130℃における貯蔵弾性率を測定した。また、積層体のパターニングされた表面凹凸(ウォッシュボードリップル)及び屈曲性を評価した。結果を表1に示す。
(Comparative Examples 1-3)
A substrate comprising a transparent substrate and a transparent layer in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the transparent layer was changed to 0.5, 0, and 15 μm in this order in Example 1 (to be exact, Comparative Example 2 is a transparent substrate) (Substrate made of only material) and a laminated body having a patterned transparent conductive layer.
The storage elastic modulus at 130 ° C. of the obtained substrate was measured. Moreover, the surface unevenness | corrugation (washboard ripple) and the flexibility which were patterned of the laminated body were evaluated. The results are shown in Table 1.

表1より、本発明の実施例1〜6のパターニングされた透明導電層を有する積層体は、その表面の透明導電層にウォッシュボードリップルの発生がなく、かつ優れた外観性状及び視認性を有することがわかった。
一方、比較例1及び2の積層体表面の透明導電層にはウォッシュボードリップルが発生し、比較例3の積層体は耐屈曲性がなく、クラックが発生した。
なお、実施例1〜6及び比較例1〜3の積層体をガラス基板に貼り合わせたところ、実施例1〜6及び比較例3のものは貼り合わせ時に気泡を巻き込みにくいのに対して、比較例1及び2のものは気泡を巻き込みやすかった。
From Table 1, the laminated body which has the patterned transparent conductive layer of Examples 1-6 of this invention does not generate | occur | produce a washboard ripple in the transparent conductive layer of the surface, and has the outstanding external appearance property and visibility. I understood it.
On the other hand, washboard ripples occurred in the transparent conductive layer on the surface of the laminates of Comparative Examples 1 and 2, and the laminate of Comparative Example 3 had no bending resistance and cracks.
In addition, when the laminated bodies of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 3 were bonded to the glass substrate, the ones of Examples 1 to 6 and Comparative Example 3 were less likely to entrain air bubbles during bonding, whereas Examples 1 and 2 were easy to entrain bubbles.

本発明の積層体は、タッチパネルの構成部材として好適に使用することができ、静電容量式タッチパネルの構成部材として特に好適に使用することができる。   The laminate of the present invention can be suitably used as a constituent member of a touch panel, and can be particularly suitably used as a constituent member of a capacitive touch panel.

1:積層体前駆体(透明導電層:パターン無し;ベタ膜)
2:透明基材
3a,3b:透明層
4:光学機能層
5:基体
6:透明導電層ベタ膜(パターニング無し)
6’:透明導電層パターン膜
7:取り出し電極パターン(焼成前)
7’:取り出し電極パターン(焼成後)
8:取り出し電極端子部(焼成前)
8’:取り出し電極端子部(焼成後)
11:透明導電性フィルム(透明導電層:パターン有り)
100:パターン層
110:二軸延伸されたポリエステルフィルムの延伸倍率が大きい方向(MD;X電極部用)
111〜116:X電極部(透明導電層パターン)
210:二軸延伸されたポリエステルフィルムの延伸倍率が大きい方向(MD;Y電極部用)
211〜214:Y電極部(透明導電層パターン)
1: Laminate precursor (transparent conductive layer: no pattern; solid film)
2: Transparent base materials 3a, 3b: Transparent layer 4: Optical functional layer 5: Substrate 6: Transparent conductive layer solid film (no patterning)
6 ': Transparent conductive layer pattern film 7: Extraction electrode pattern (before firing)
7 ': Extraction electrode pattern (after firing)
8: Extraction electrode terminal (before firing)
8 ': Extraction electrode terminal part (after baking)
11: Transparent conductive film (transparent conductive layer: with pattern)
100: Pattern layer 110: Direction in which the stretch ratio of the biaxially stretched polyester film is large (MD; for X electrode portion)
111-116: X electrode part (transparent conductive layer pattern)
210: Direction in which the draw ratio of the biaxially stretched polyester film is large (MD; for Y electrode portion)
211-214: Y electrode part (transparent conductive layer pattern)

Claims (11)

透明基材の片面又は両面に透明層を有する基体上に、パターニングされた透明導電層を有してなる積層体であって、該基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が、4.0×104≦Et≦10.5×104である、積層体。 A laminated body having a patterned transparent conductive layer on a substrate having a transparent layer on one or both sides of a transparent substrate, the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. A laminate in which Et (N / m) obtained by multiplying the thickness d (m) of the substrate is 4.0 × 10 4 ≦ Et ≦ 10.5 × 10 4 . 前記透明層の貯蔵弾性率が、前記透明基材の貯蔵弾性率より大きい、請求項1に記載の積層体。   The laminate according to claim 1, wherein the storage elastic modulus of the transparent layer is larger than the storage elastic modulus of the transparent substrate. 前記透明基材の厚みをdS(m)、前記透明層の厚みをdL(m)とした場合、下記の関係を満たす、請求項1又は2に記載の積層体。
0.005≦dL/(dS+dL)≦0.7
Wherein the thickness of the transparent substrate d S (m), if the thickness of the transparent layer was d L (m), satisfy the following relationship, the laminated body according to claim 1 or 2.
0.005 ≦ d L / (d S + d L ) ≦ 0.7
前記透明基材の厚みが15〜125μm、前記透明層の総厚みが2.0〜24μmである、請求項1〜3のいずれかに記載の積層体。   The laminated body in any one of Claims 1-3 whose thickness of the said transparent base material is 15-125 micrometers, and the total thickness of the said transparent layer is 2.0-24 micrometers. 前記基体がさらに光学調整層を有する、請求項1〜4のいずれかに記載の積層体。   The laminated body in any one of Claims 1-4 in which the said base | substrate has an optical adjustment layer further. 前記基体が、前記透明基材上に前記透明層及び前記光学調整層を有してなり、該光学調整層上に前記パターニングされた透明導電層を有する請求項5に記載の積層体。   The laminate according to claim 5, wherein the substrate has the transparent layer and the optical adjustment layer on the transparent substrate, and has the patterned transparent conductive layer on the optical adjustment layer. 前記光学調整層が高屈折率層と低屈折率層とからなり、該高屈折率層の屈折率が1.55〜1.75であり、該低屈折率層の屈折率が1.30〜1.55である、請求項5又は6に記載の積層体。   The optical adjustment layer comprises a high refractive index layer and a low refractive index layer, the refractive index of the high refractive index layer is 1.55 to 1.75, and the refractive index of the low refractive index layer is 1.30. The laminate according to claim 5 or 6, which is 1.55. 前記透明層がハードコート層である、請求項1〜7のいずれかに記載の積層体。   The laminate according to any one of claims 1 to 7, wherein the transparent layer is a hard coat layer. 請求項1〜8のいずれかに記載の積層体を構成部材として有するタッチパネル。   The touch panel which has the laminated body in any one of Claims 1-8 as a structural member. 前記積層体が、前記透明基材上に前記ハードコート層及び前記光学調整層を有してなり、該光学調整層上に前記パターニングされた透明導電層を有してなる請求項9に記載のタッチパネル。   The said laminated body has the said hard-coat layer and the said optical adjustment layer on the said transparent base material, The said patterned transparent conductive layer is formed on this optical adjustment layer of Claim 9. Touch panel. 透明基材の片面又は両面に透明層を有する基体上に、パターニングされた透明導電層を有してなる積層体を製造する方法であって、
該基体の130℃における貯蔵弾性率Ec(N/m2)と該基体の厚みd(m)を乗じることで得られるEt(N/m)が4.0×104≦Et≦10.5×104となるように、該透明基材上に、該透明層を形成する基体形成工程、該基体上に透明導電層を形成する透明導電層形成工程、該透明導電層をパターニングするパターン形成工程、透明導電層を加熱し結晶化させる結晶化工程を含む、積層体の製造方法。
A method for producing a laminate comprising a patterned transparent conductive layer on a substrate having a transparent layer on one or both sides of a transparent substrate,
Et (N / m) obtained by multiplying the storage elastic modulus Ec (N / m 2 ) of the substrate at 130 ° C. by the thickness d (m) of the substrate is 4.0 × 10 4 ≦ Et ≦ 10.5. A substrate forming step for forming the transparent layer on the transparent substrate, a transparent conductive layer forming step for forming the transparent conductive layer on the substrate, and pattern formation for patterning the transparent conductive layer so as to be × 10 4 The manufacturing method of a laminated body including the crystallization process of heating and crystallizing a process and a transparent conductive layer.
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