JP6255415B2 - 放射ｘ線監視を備えた、容器を殺菌するための装置及び方法 - Google Patents

Description

本発明は、容器、特にプラスチック容器を殺菌するための装置及び方法に関する。デリケートな飲料で充填されるときには特に、充填前に容器が殺菌されることが従来技術から知られている。例えば、過酢酸または過酸化水素などの殺菌媒体を施与するなどの様々な手順が、この殺菌の目的のために知られている。しかし、より最近では、そのような化学物質の使用を低減する取り組みがなされている。

しかし、通常、容器の殺菌は、実際の充填作動を除くと、特に無菌の瓶詰めシステムにおける主要なプロセスステップであり、本明細書の以下において、容器は、プラスチック容器またはガラス瓶などの両方の仕上げられた容器、及び、例えば瓶になるように膨張されるプラスチックプレフォームを意味すると理解される。ビ−ム、特に電子ビ−ムを用いて容器を消毒するときは、まず、処理の確実性、すなわち各々の個々の容器に対する殺菌効果が重要である。しかし、別の重要な基準はまた、システムのオペレータ及びスタッフの安全性であり、特にその理由は、放射Ｘ線などの望ましくない副次的影響が、例えば電子ビ−ムを施与するときに発生するためである。

前述のように、高エネルギーの電子を容器に照射するときに、放射Ｘ線もまた望ましくない副次的影響を生じる。スタッフや更に機械周囲の電子要素をこの放射線から保護するため、通常は、十分な壁厚さを有する材料から作製されたシールドが取り付けられる。１５０ｋｅＶの領域内のエネルギーを有する電子ビームに対し、５〜１２ｍｍの厚さを有する鉛壁が、放射Ｘ線を遮蔽するために必要とされる（これはまた電流に依存する）。代替策として、例えば鋼などの異なる材料もまた使用可能であるが、鋼の遮蔽効果はかなり低く、したがって壁厚さはそれに応じてより厚くなければならない。

いずれの場合も、規定された放射線パラメータに関して、意図されるようにシステムが使用されるとき、すなわち正常運転中に、１μＳｖ／ｈを上回る残留放射線がシステム外のいずれの地点でも生じないように、システム全体が遮蔽される。しかし、例えばエミッタの１つまたは複数が欠陥品である場合、または間違って制御される場合には、不具合が発生することがあり、それにより増大した放射線が生み出される。この意図されたまたは「正常な」作動を確実にするために、検出器及び／またはセンサ装置が利用される。Ｘ線検出器を用いたこの放射線の監視は、内部の従来技術から知られている。

これらのセンサ装置または放射線検出器は、これらが最終的には機械の放射線安全を監視し、必要であれば緊急停止を起動させるため、長い作動時間にわたって確実に機能する必要がある。正常運転中、過剰放射線のシナリオは、一般的には発生せず、それにより何日もの間、何週もの間、または何カ月もの間、センサは不具合を検出せず、緊急停止を起動させない。したがって、センサ装置の機能を一定時間ごとに確認する必要がある。これを行う幾つかの可能な方法が、従来技術から知られている。

１つの手順において、センサの感受性を電子的に増大させることができ、及び／または、その測定信号を追加的に増幅させることができる。信号の評価は、高すぎると考えられる放射線レベルを示し、これは、エミッタがオフに切り替えられる状態を導かなければならない。別の確認オプションは、増大した放射線レベルにセンサを晒すことにあり、それによって、センサは、必要な場合に、そのタスクに応じて放射線源をオフに切り替える必要がある。簡単な場合には、これは機械の内側で正常な放射線レベルを増大させることによって達成され得る。しかし、これは、放射線安全の理由により回避されなければならない。しかし、上述した可能性は両方とも、システムが操作され、機械の安全基準の構成要素が変更されるという欠点を有する。センサ、つまりセンサ電子装置と、その評価ユニットは、安全技術の一部である。

よって、本発明の目的は、システムのそのような監視を、この目的のために従来技術において必要な操作を安全基準の構成要素上で実施することなく、可能にすることである。

これらの目的は、独立請求項の主題によって本発明によって達成される。

有利な実施形態及びさらなる開発は、従属請求項の主題を形成する。

容器を殺菌するための本発明による装置は、容器を所定の輸送経路に沿って輸送する輸送装置を有する。装置はまた、容器の少なくとも一部のセクション及び／または装置の構成要素に、殺菌目的のために放射線を施与する放射線装置も有する。また、放射線装置によって発せられた放射線の結果として発生する（特にはそれ以上の）放射線を検出するセンサ装置も提供される。

本発明によれば、装置は、装置の作動モードにおいてセンサ装置に到達する放射線を減衰させる遮蔽要素と、前記遮蔽要素をセンサ装置に対して移動させるための、及び／または、センサ装置と遮蔽要素の間の相対移動を生成するための移動装置とを有する。

したがって、本発明により、測定システムまたはエミッタシステムを操作することなく、センサ装置が正常作動中に晒される放射線レベルを増大させることが提案される。この可能性は、遮蔽要素を用いて、正常作動中にセンサ装置に到達する放射線を減衰させることにある。その結果、センサ装置は、機械内に実際に存在するものよりも持続的により弱い放射線信号を受ける。

センサ装置を試験するために、遮蔽要素は、好ましくはセンサ装置から引き離され、機械内の放射線レベルが変化せず（また安全であり）、さらにセンサ装置自体が変更されていない場合であっても、センサ装置はかなり強めのＸ線信号を検出する。その結果、センサ装置は、警告を起動させ、放射線源のオフ切り替えを開始しなければならない。

しかし、遮蔽要素ではなくセンサ装置を移動させること、例えば遮蔽要素によって投げかけられた陰から外にセンサ装置を移動させることもまた可能であり、これは、例えばセンサ装置の線形移動及び／または枢動移動によって起こり得る。

好ましくは、センサ装置によって検出される放射線が放射Ｘ線である。放射Ｘ線は、物質を通り抜けるときにかなり減衰される。放射線は、これが通り抜ける物質と相互作用し、光子のエネルギーは、光電効果及びコンプトン散乱によって材料内に吸収される。通り抜ける放射線の強度は、ランベルトベールの法則（Ｉ＝Ｉ_０ｘｅ^−ｋｘ）にしたがって、材料内で進行した距離に伴って指数関数的に低減する。ここで、質量減衰係数ｋは、通過される材料及び放射線の波長に応じて定まる。そのような減衰係数のための数多くの表が従来技術において知られている。しかし、容器を殺菌するために放射Ｘ線が直接的に使用されることも可能である。本開示の内容の範囲内において、殺菌は、生存する微生物の数を少なくとも或る程度まで低減するように作用するプロセスを意味するものと理解される。

例えば、２ｍｍの厚さを有する鉄のシートは、９０ｋＶの加速電圧を有する電子によって生成された放射Ｘ線の強度を約５０％減衰させると算出され得る。

より詳細には、例えば、９０ｋＶの加速電圧で加速された電子を用いて生み出された放射Ｘ線は、１ｍｍの厚さを有する鉄のシートによって３２％、２ｍｍの厚さを有する鉄のシートによって５３％、３ｍｍの厚さを有する鉄のシートによって６８％、４ｍｍの厚さを有する鉄のシートによって７８％、５ｍｍの厚さを有する鉄のシートによって８５％減衰される。１２５ｋＶの加速電圧において、減衰は、１ｍｍの厚さを有する鉄のシートを用いて１８％、２ｍｍの厚さを有する鉄のシートを用いて３３％、３ｍｍの厚さを有する鉄のシートを用いて４５％、４ｍｍの厚さを有する鉄のシートを用いて５５％、５ｍｍの厚さを有する鉄のシートを用いて６３％である。これらの値は、実験によっても確認され得る。

放射線装置は、好ましくは、固定式に配置された放射線装置であり、容器はここを通り過ぎる。この場合、放射線装置は、特に容器の外表面を照射するように作用する。しかし、放射線装置は、容器の内側を処理するために作用し、例えば容器の内部に導入される棒状体または放射フィンガを有することも可能である。この場合、これらの放射線装置または放射フィンガは、好ましくは容器と共に移動される。

別の有利な実施形態では、装置が、容器の外側を処理するための放射線装置と、容器の内側を処理するための放射線装置の両方を有する。しかし、放射線装置はまた、装置の要素、例えば容器をその殺菌中に保持する把持クランプ、または殺菌装置の他の領域、例えばハウジング壁なども殺菌するように作用することもできる。複数のそのような殺菌装置はまた、異なる目的で使用され得る。

好ましくは、装置が、その内側で容器が殺菌中に輸送されるクリーン室を有する。好都合には、このクリーン室は、少なくとも１つの壁を用いて（特に無菌である）周辺環境から境界付けられる。シーリング装置も設けられていてよく、このシーリング装置は、クリーン室、または互いに対して移動可能であるクリーン室の壁をシールする。このために、例えば、それぞれの他の壁に連結された（特に回転可能な）ブレードを中に浸す、周囲の、液体充填されたチャネルを備えるいわゆるウォーターロックが勘案され得る。

更なる有利な実施形態では、容器を輸送するための輸送装置がキャリアホイールを有し、このキャリアホイール上には、容器を保持するための複数の保持装置が配置される。この実施形態において、容器は、好ましくは、その殺菌中に円形の輸送経路に沿ってガイドされる。

更なる有利な実施形態では、殺菌される容器がプラスチックプリフォームまたはプラスチックボトルである。

更なる有利な実施形態において、移動装置は、センサ装置に到達する放射線のビーム経路から少なくとも部分的に遮蔽要素を移転させることができるように構成される。換言すると、センサ装置または検出器要素は、システムの正常作動中に遮蔽要素によって覆われることが可能であり、遮蔽要素は試験目的にのみ移転されるものでもよい。

この場合、遮蔽要素が継続作動中に移転され、または、通常は遮蔽要素とセンサ装置の間の前記相対移動が継続作動中に実施されることも可能であることが好ましい。このようにして、継続作動中に放射線装置及び／またはセンサ装置を確認することが特に可能である。

好都合には、遮蔽要素が、２００ｍｓ未満、好ましくは１００ｍｓ未満、好ましくは５０ｍｓ未満、特に好ましくは３０ｍｓ未満である所定の時間期間内でビーム経路から移転され得るようにして、移動装置が構成される。好都合には、特に遮蔽要素の移転、実際の測定及び遮蔽要素のその後の再導入を含む作動モード内での、そのような測定は、２００ｍｓより短い、好ましくは１００ｍｓより短い、好ましくは５０ｍｓより短い、好ましくは３０ｍｓより短い期間内、好ましくは２０ｍｓから３０ｍｓの間の範囲内である期間内で可能である。

この場合、好ましくは、センサ装置の確認中、殺菌される容器の位置も考慮に入れる制御装置も設けられる。好ましくは、その制御装置は、それぞれの確認が、常に容器の同じ場所において、つまりセンサ装置に対して所定の一定の位置に容器が配置されるときに常に実施されるように設けられる。このようにして、複数の確認測定の同等性が確実にされ得る。

好都合には、装置はまた、そのような確認測定の測定値が保存され得るメモリ装置も有する。このようにして、長期の測定を実施し、長期ログを記録することが可能である。

しかし、確認測定は、異なる容器位置において実施されることも可能である。しかし、この手順では、殺菌される容器のそれぞれの位置もまた検出される。したがって、装置は、好ましくは、センサ装置の確認中に容器の相対位置を検出する検出装置も有する。

更なる有利な実施形態において、放射線装置は、電子ビームを発する電子放射線装置である。より詳細には、これらは加速された電子である。したがって、好都合には、放射線装置は、電子を加速するための加速装置を有する。好都合には、放射線装置はまた出口窓も有し、この出口窓を通って、加速された電子が、これらが内側で加速されるハウジングから出て行くことができる。この出口窓は、好都合にはチタンから作製される。更なる有利な実施形態では、出口窓は、４μｍから３０μｍの間、好ましくは６μｍから２０μｍの間の厚さを有する。好都合には、装置はまた、この出口窓を冷却するための冷却装置も有する。

更なる有利な実施形態では、５０ｋＶから３００ｋＶの間、好ましくは６０ｋＶから２５０ｋＶの間、好ましくは７０ｋＶから２００ｋＶの間、好ましくは７０ｋＶから１５０ｋＶの間、特に好ましくは８０ｋＶから１５０ｋＶの間の加速電圧で電子が加速される。しかし、他の電荷キャリアを用いる殺菌、例えば陽子やα粒子などを用いる殺菌もまた考えられる。

更なる有利な実施形態において、センサ装置は、Ｘ線を検出するのに適しており、Ｘ線を検出することが意図される。したがって、好都合には、容器に施与される放射線と、センサ装置により検出される放射線とは互いに異なる。しかし、センサ装置により検出される放射線は、好都合には、それによって容器が殺菌される放射線の結果である。特に、これらは、それぞれ制動放射線と放射Ｘ線である。

更なる有利な実施形態では、遮蔽要素が、センサ装置上に衝突する放射線を、少なくとも１０％、好ましくは少なくとも２０％、好ましくは少なくとも３０％、特に好ましくは少なくとも５０％減衰させる。

正常作動中、機械内側の放射線レベルは、３０から５０％の減衰でも、評価するのが非常に容易である非常に高い測定値を依然としてもたらすほど十分に高い。しかし、他方では、センサ装置自体は、正常作動中、（一時的に非常に短い）試験モードの場合に発生する高負荷に晒されない。

好都合には、センサ装置が、特に好ましくは下流側に配置された光電子増倍管を備えたシンチレータ、及び特に好ましくはカウンタチューブも有する。代替的に、センサ装置はまた、カウンタチューブ、または半導体検出器、または放射Ｘ線を定量的に検出するのに適し且つ適切な精度を有する異なる検出器を有してもよい。

持続的で過剰な放射線露出に対してセンサ装置の電子部を保護するために、センサ装置は、好都合には、数ミリメートルの壁厚さの壁を有する耐放射線ハウジング内に収容される。したがって、好ましくは、センサ装置は、これを取り囲むハウジングを有する。このハウジングは、例えば鉛ケーシングとして設計され得る。好都合には、正常作動中に遮蔽要素によって少なくとも部分的に、特に好ましくは完全に閉じられる開口部が、このハウジング内に設けられる。更なる有利な実施形態では、遮蔽要素を閉位置に付勢する付勢手段も設けられる。これは、遮蔽要素が、通常、センサ装置上に衝突する放射線を減衰させることを意味する。

移動装置は、例えば、電気駆動装置、油圧駆動装置、空気式駆動装置などの任意の移動装置であり得る。手動の移動装置もまた移動装置として考えられ、それにより、ユーザは、例えばセンサ装置上に衝突するビーム経路から外に遮蔽要素を手動で移動させることができる。例えば、移動装置は、例えばセンサの正面の孔内に横方向に組み込まれる小さいスライダでよく、これは圧縮された空気によって孔から一時的に移転される。この場合、試験の後で、圧縮ばねが、このスライダを押して開口装置の正面のその位置に戻すことができ、この開口装置を通って放射線がセンサ装置に到達する。

試験が成功した場合（これは、例えば、システムが定められた通りにオフに切り換えられたと表現される）、減衰シートまたは遮蔽要素はビーム経路内に戻して配置されることが可能であり、機械は生産作動に戻されることが可能である。エミッタがオンに切り替えられているにも関わらず、この試験において自動アラームが起動されない場合、これは、センサ装置が意図通りに機能していないこと、または開口装置がビーム経路から（例えば機械的理由によって）移転されていないというサインである。この場合、システムは、やはりオフに切り替えられるべきであり、間違いの検査が行われるべきである。

本発明はまた、容器を殺菌するための方法に関し、この場合、容器は所定の輸送経路に沿って輸送され、容器または装置の構成要素は、放射線に晒されることによって少なくとも一部のセクションにおいて殺菌される。この場合、前記放射線の結果として発生する更なる放射線がセンサ装置によって検出される。

本発明によれば、遮蔽要素が、センサ装置に到達する放射線を減衰させ、この遮蔽要素は、センサ装置に到達する放射線が、より小さい程度に減衰されるように少なくとも時々（センサ装置に対して）移動される。したがって、この方法に関しても、特に正常作動モードまたは殺菌モードにおいて、センサ装置に到達する放射線が持続的に減衰されることが提案される。遮蔽要素は、好都合には、特に試験モードの状況において、センサ装置に到達する放射線が、この遮蔽要素によって減衰されない、またはより小さい程度に減衰されるように移動される。

換言すると、確認の目的で、特にはセンサ装置を確認するため、センサ装置に到達する放射線がより小さい程度に減衰されるように遮蔽要素が移動される。この方法に関しても、センサ装置と遮蔽要素の間の相対移動が、センサ装置を移動させることによって達成されることが可能である。

センサ装置は、好都合には放射Ｘ線を検出する。センサ装置は、好都合には、センサ装置に作用する放射Ｘ線の特性である信号を出力する。

更なる利点及び実施形態は、添付の図から明らかになるであろう。

第１の作動状態における本発明による装置の概略図である。 第２の作動状態における図１の装置を示す図である。 第１の作動状態におけるセンサ装置の概略図である。 第２の作動状態におけるセンサ装置を示す図である。 第２の作動状態における本発明によるセンサ装置を示す図である。 シャッタホイールの形態の遮蔽要素の１つの実施形態を示す図である。 シャッタホイールを用いるときの測定値のグラフである。

図１は、第１の作動状態おける、容器１０を殺菌するための本発明による装置１を示す。容器１０は、この例ではプラスチック瓶またはプラスチックプリフォームであり、ここでは部分的にのみ示され且つ例えば回転可能なキャリアとして構成される輸送装置２によって、所定の輸送経路Ｐに沿って輸送される。輸送中、放射線Ｓ及び特に電子は、放射線装置４によって、特に電子ビーム装置４によって容器１０に施与される。前記電子は、出口窓４４を介して装置４から出て行く。特に、プラスチック容器の外側壁は、この照射の結果として殺菌される。

ここで、参照番号Ｓは、容器に衝突する放射線を示す。容器のこの照射の結果、放射Ｘ線も（副次的影響として）発生し、センサ装置６によって検出される。参照番号８は、センサ装置６に衝突する放射線を、例えばその強度に関して評価する評価装置を示す。この評価装置８は、検出された放射Ｘ線の特性である信号または情報をユーザに出力するディスプレイ装置８２を有する。参照番号８４は、センサ装置６により検出された放射線を所定の参照値と比較する比較装置を示す。参照番号１２は遮蔽要素を示し、この遮蔽要素は、ここでは作動モードにおいて、センサ装置６またはこのセンサ装置６のセンサ要素の正面に配置され、したがってセンサ要素６により検出される放射線を減衰させる。

参照番号１４は、遮蔽要素１２を移動させるように作用する移動装置を示す。また、遮蔽要素１２ではなくセンサ装置６を、遮蔽要素の陰から外に、或る程度まで移動させることも可能である。いずれの場合も、遮蔽要素１２は、もはや、センサ装置６上に衝突するビーム経路内に配置されない。

図２は、図１の装置を示し、ここでは遮蔽要素１２が押し退けられ、したがってビーム経路はセンサ装置６に際限なく衝突することができる。ここで、本質的には、この遮蔽要素１２の如何なる移動も、遮蔽要素１２をビーム経路から少なくとも部分的に移転させるために考えられる。

好都合には、この遮蔽要素は、所定の厚さを有する鋼のシートであり、その結果、放射Ｘ線の適切な所定の遮蔽または減衰もまた達成される。しかし、この遮蔽要素は、可変のまたは変化する厚さを有し、故に様々な遮蔽効果を達成することも可能である。これは、センサ装置の機能の品質を保証するだけでなく、その機能を数量条件で確認しようとすることも望む場合に関連するであろう。例えば、センサ装置の経年劣化の状況についての結果もまた、そのような量的測定から引き出され得る。

図３は、センサ装置６の配置を示す。このセンサ装置は、特に、繊細な電子構成要素を取り囲むハウジング６２を有する。このハウジング内に形成されるのは、開口部または開口６４であり、ここを通って放射Ｘ線が実際のセンサ要素に到達することができる。参照番号Ｒは、センサ装置６によって検出される（Ｘ線）放射線を示す。参照番号６８は、放射Ｘ線が衝突するセンサ装置６のセンサ要素を非常に概略的に示す。

ここで、参照番号６６は溝またはリセスを示し、この中で遮蔽要素が枢動または移動することができる。図３に示す状況では、遮蔽要素が開口部６４を覆うようにして配置されている。遮蔽要素の変位は、例えば圧縮された空気によって可能であり、この例では、圧縮された空気がオフに切り換えられたときに、遮蔽要素が図３に示す位置にある。

図４は、図３の配置を示すが、ここでは、放射線が、遮蔽要素１２によって減衰されることなく、開口部６４を通ってセンサ装置６まで進むことができるように遮蔽要素１２が変位されている。この例において、圧縮された空気は、遮蔽要素１２を変位させるために、例えばリセス６６を通って供給され得る。

図５は、本発明によるセンサ装置の更なる実施形態を示す。ここで、遮蔽要素１２は、レバー上に配置され、このレバーは、両矢印Ｐ１の方向の遮蔽要素１２の変位を可能にする。このようにして、ここでも、放射線は、減衰されずにセンサ装置６に進むことができ、または他の場合遮蔽要素１２によって減衰され、後者では遮蔽要素１２が適切な異なる位置にある。

図６は、本発明による装置の更なる実施形態を示し、ここでは回転可能な要素としてまたはシャッタホイールとして遮蔽要素が構成されている。この遮蔽要素１２は、一定の厚さを有し且つ一定の放射線の遮蔽をもたらすキャリア２０を有する。このキャリアに書き入れられているのは複数の窓２２、２４、２６であり、その各々は異なる厚さを有し、したがって異なるレベルの遮蔽を生じさせる。容器１０は、ここでは矢印Ｐの方向に移動される。この遮蔽要素は、矢印Ｐ２によって示されるように回転可能である。

図７は、図６に示す遮蔽要素の異なる位置の場合の強度曲線の例を示す。キャリア２０は、ここでは５０％の遮蔽または減衰を生じさせることが見受けられる。個々の窓２２、２４、２６は、上記とは異なる減衰、この例では８０％、７０％、６０％、４０％及び３０％の減衰を引き起こす。そのような遮蔽要素１２をシャッタホイールの形態で用いることにより、幾つかの異なる遮蔽効果を設定またはシミュレーションすることが可能である。

本出願人は、この出願の文献に開示されたすべての特徴を、これらが、従来の技術に対して個々にまたは組み合わせにおいて新規である限り、本発明に必須のものとして特許請求する権利を留保する。

１ 装置
２ 輸送装置
４ 放射線装置
６ センサ装置
８ 評価装置
１０ 容器
１２ 遮蔽要素
１４ 移動装置
２０ キャリア
２２、２４、２６ 窓
４４ 出口窓
６２ ハウジング
６４ 開口部
６６ 溝／リセス
６８ センサ要素
８２ ディスプレイ装置
８４ 比較装置
Ｐ 輸送経路／両矢印
Ｓ 放射線
Ｒ 検出される放射線
Ｐ１ 遮蔽要素１２の移動の方向
Ｐ２ 遮蔽要素の回転の方向

Claims (10)

1. 容器（１０）を殺菌するための装置（１）であって、前記容器（１０）を所定の輸送経路（Ｐ）に沿って輸送する輸送装置（２）と、前記容器（１０）の少なくとも一部のセクション及び／または前記装置（１）の構成要素に放射線（Ｓ）を殺菌目的で施与する放射線装置（４）と、前記放射線装置（４）によって発せられた前記放射線（Ｓ）の結果として発生する放射線を検出するセンサ装置（６）とを備える装置（１）において、
   前記装置（１）が、前記装置（１）の作動モードにて前記センサ装置（６）に到達する前記放射線を減衰させる遮蔽要素（１２）と、前記遮蔽要素（１２）を前記センサ装置（６）に対して移動させるための移動装置（１４）とを有することを特徴とする、装置（１）。
2. 前記移動装置（１４）が、前記センサ装置（６）に到達する前記放射線のビーム経路から少なくとも部分的に前記遮蔽要素（１２）を移転させることができるように構成されたことを特徴とする、請求項１に記載の装置（１）。
3. 前記放射線装置（４）が、電子放射線を発する電子ビーム装置であることを特徴とする、請求項１または２に記載の装置（１）。
4. 前記センサ装置（６）が、放射Ｘ線を検出するのに適しており、放射Ｘ線を検出するよう意図されることを特徴とする、請求項１から３のいずれか一項に記載の装置（１）。
5. 前記遮蔽要素（１２）が、前記センサ装置上に衝突する前記放射線を、少なくとも１０％、好ましくは少なくとも２０％、好ましくは少なくとも３０％、好ましくは少なくとも５０％減衰することを特徴とする、請求項１から４のいずれか一項に記載の装置（１）。
6. 前記装置（１）が、前記センサ装置（６）を取り囲むハウジング（６２）を有することを特徴とする、請求項１から５のいずれか一項に記載の装置（１）。
7. 容器（１０）を殺菌するための方法であって、前記容器（１０）が、所定の輸送経路（Ｐ）に沿って輸送され、前記容器（１０）または容器（１０）を殺菌するための装置の構成要素が、放射線に晒されことによって少なくとも一部のセクション内で殺菌され、センサ装置（６）は、前記放射線の結果として発生する放射線を検出する、方法において、
   遮蔽要素（１２）が、前記センサ装置（６）に到達する前記放射線を減衰させ、前記遮蔽要素（１２）は、前記センサ装置（６）に到達する前記放射線がより小さい程度に減衰されるように、前記センサ装置（６）に対して少なくとも時々移動されることを特徴とする、方法。
8. 前記センサ装置（６）を確認する目的で、前記遮蔽要素（１２）が、前記センサ装置（６）に到達する前記放射線がより小さい程度まで減衰されるように、前記センサ装置（６）に対して移動されることを特徴とする、請求項７に記載の方法。
9. 前記センサ装置（６）が放射Ｘ線を検出することを特徴とする、請求項７に記載の方法。
10. 前記放射線装置（４）が、前記容器または前記装置の構成要素に電荷キャリア、特に電子を施与することを特徴とする、請求項７に記載の方法。

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