JP6237458B2 - サンプリング装置 - Google Patents
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Description
2 試料容器
3 ラック
4 設置部
5 搬送位置
6 ラック搬送路
7 ピアサ
8 プローブ
9 制御部
10 ピアサ移動処理部
11 プローブ移動処理部
12 サンプリング処理部
13 検出値取得処理部
14 電圧検出処理部
15 検出値比較処理部
16 検出値補正処理部
17 液面検知処理部
18 異常検知処理部
19 プローブ位置補正処理部
20 記憶部
21 開口部
22 キャップ
30 表示部
71 ピアサ保持機構
81 プローブ保持機構
711 ピアサアーム
712 回転軸
713 軌道
811 プローブアーム
812 回転軸
813 軌道
814 分注口
815 試薬保持部
Claims (5)
- 試料容器を封止しているキャップを穿孔して、前記試料容器内に挿入される穿孔部材と、
前記穿孔部材内を通って前記試料容器内に挿入され、前記試料容器内の試料を吸引するプローブと、
前記プローブを保持し、当該プローブを移動させることにより前記穿孔部材内に挿入させるプローブ保持機構と、
前記プローブ保持機構を動作させることにより、前記プローブが前記穿孔部材内に挿入されていない第1相対位置、及び、前記プローブが前記穿孔部材内に挿入されて当該穿孔部材から先端が突出した第2相対位置の間で、前記プローブを移動させるプローブ移動処理部と、
前記プローブ移動処理部による前記プローブの移動時に、当該プローブに生じる電圧変化を検出する電圧検出処理部と、
試料吸引動作時よりも前に、前記プローブ移動処理部により前記プローブを移動させ、前記第1相対位置及び前記第2相対位置の間における複数の相対位置で、前記電圧検出処理部の検出値を取得する検出値取得処理部と、
試料吸引動作に伴う前記プローブの移動時に、前記複数の相対位置における前記電圧検出処理部の検出値及び前記検出値取得処理部により取得されている検出値に基づいて、前記試料容器内の試料の液面を検知する液面検知処理部と、
試料吸引動作時に、前記複数の相対位置のうち1つの相対位置である基準相対位置で前記電圧検出処理部の検出値を取得し、当該基準相対位置において前記検出値取得処理部により取得されている検出値と比較することにより、その差分を算出する検出値比較処理部と、
前記検出値比較処理部による比較結果に基づいて、前記検出値取得処理部により取得されている前記複数の相対位置における前記電圧検出処理部の検出値に対して、それぞれ前記差分を加算することにより検出値を補正する検出値補正処理部とを備え、
前記液面検知処理部は、前記複数の相対位置における前記電圧検出処理部の検出値及び前記検出値補正処理部により補正された検出値に基づいて、前記試料容器内の試料の液面を検知することを特徴とするサンプリング装置。 - 前記基準相対位置は、前記プローブが前記穿孔部材内に挿入されていない相対位置であることを特徴とする請求項1に記載のサンプリング装置。
- 前記液面検知処理部は、前記複数の相対位置における前記電圧検出処理部の検出値及び前記検出値補正処理部により補正された検出値の差分を、第1閾値と比較することにより、前記試料容器内の試料の液面を検知することを特徴とする請求項2に記載のサンプリング装置。
- 前記検出値取得処理部により取得される前記複数の相対位置における前記電圧検出処理部の検出値を、第2閾値と比較することにより、異常状態を検知する異常検知処理部をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のサンプリング装置。
- 前記検出値取得処理部により取得される前記複数の相対位置における前記電圧検出処理部の検出値に基づいて、試料吸引動作時の前記プローブの位置を補正するプローブ位置補正処理部をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のサンプリング装置。
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