JP6225273B2 - カード挿入排出口ユニット、カード処理装置及び自動取引装置 - Google Patents

カード挿入排出口ユニット、カード処理装置及び自動取引装置 Download PDF

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Description

本発明は、カード挿入排出口ユニット、カード処理装置及び自動取引装置に関し、磁界発生部およびＩＣ接点検出部を備えたカード挿入排出口ユニット、カード処理装置及び自動取引装置に適用して好適なるものである。
ＡＴＭ（現金自動預金支払機）などの取引処理装置には、磁気カードもしくはＩＣカードに対して情報の処理を行うカード処理装置が搭載されている。このカード処理装置は、カード挿入排出口から挿入された磁気カードもしくはＩＣカードを本体内に取り込んで、磁気カードの磁気ストライプに記録された磁気情報を磁気ヘッドで読み込んだり、ＩＣカードのＩＣチップに記録された情報を読み込んだりする。そして、取引終了後に、磁気カードもしくはＩＣカードを本体内からカード挿入排出口へ排出する。
ＡＴＭにおいて、磁気ヘッドを備えた偽のカード挿入排出口を有する不正装置を、正規のカード挿入排出口に被せるように設置して、磁気カードの磁気情報を不正に取得する、スキミングと呼ばれる犯罪がある。スキミングの防止対策として、例えば、磁界発生部により正規のカード挿入排出口の近傍に磁界を発生させて、不正装置の磁気ヘッドで磁気カードの磁気情報が読み取られるのを妨害する技術がある（例えば特許文献１及び２）。
特許文献１及び２では、磁界発生部は、コイルやループアンテナから成り、カード処理装置の本体前面部や、該前面部に設置されたカード挿入口ユニット内に設置されている。また、磁界発生部の駆動を制御する制御部は、本体内に設置されている。
また、最近では磁気カードよりセキュリティ性の高いＩＣカードが利用されるようになってきているため、挿入されるカードがＩＣカードであるか検出する機能を備えるカード処理装置がある（例えば特許文献３）。具体的に、カード処理装置のカード挿入排出口ユニットにＩＣ接点検出センサを備え、ＩＣ接点を有するカードであるかを検出する。従来、ＩＣ接点検出センサには、電磁誘導を応用した近接スイッチが多く用いられている。
特開２００１−６７５２４号公報 特開２００５−２６６９９９号公報 特開２０１１−１９２１８２号公報
しかし、上記のスキミング防止装置とＩＣ接点検出機能とを、同時にカード処理装置のカード挿入排出口に搭載した場合、スキミングの防止対策である妨害磁界が、カード挿入排出口ユニットのＩＣ接点検出センサに影響を及ぼすため、ＩＣ接点を正しく検知できないという問題があった。さらに、ＩＣカードを検出するために、一定期間妨害磁界を停止させると、その間に挿入された磁気カードの磁気ストライプに記録された磁気情報が不正に取得されてしまうという問題があった。さらに、妨害磁界だけでなく、外来の磁界などの影響により、ＩＣ接点検出センサが誤動作するという問題があった。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、磁気カードの磁気情報の不正な読み取りを防止しつつ、ＩＣ接点検出センサの性能を低下させないように維持するカード挿入排出口ユニット、カード処理装置及び自動取引装置を提供することである。
かかる課題を解決するために本発明においては、カードを挿入および排出する開口と、妨害磁界を発生する磁界発生部と、ＩＣ接点の有無を検出するＩＣ接点検出センサと、を備え、前記ＩＣ接点検出センサの検出方向が、前記妨害磁界の磁界方向と重畳しない向きに前記ＩＣ接点検出センサを配置することを特徴とする、カード挿入排出口ユニットが提供される。
かかる構成によれば、磁界発生部により妨害磁界を発生させることで、不正装置による磁気カードの磁気情報の不正な読み取り（スキミング）を防止することができる。また、ＩＣ接点検出センサにより、挿入されるカードがＩＣカードであるか、すなわち、ＩＣ接点を有するカードであるかを検出することができる。
また、かかる課題を解決するために本発明においては、カード処理装置の本体内でカードに記録された磁気情報を読み取る磁気読み取り部と、前記カード処理装置の本体内でカードを搬送するカード搬送部と、前記カード処理装置の本体内でカードのＩＣチップと通信するＩＣカード通信部と、前記カード処理装置の本体のカード入出口部に設置されるカード挿入排出口ユニットと、を有し、前記カード挿入排出口ユニットは、カードを挿入および排出する開口と、妨害磁界を発生する磁界発生部と、ＩＣ接点の有無を検出するＩＣ接点検出センサと、を備え、前記ＩＣ接点検出センサの検出方向が、前記妨害磁界の磁界方向と重畳しない向きに前記ＩＣ接点検出センサを配置することを特徴とする、カード処理装置が提供される。
また、かかる課題を解決するために本発明においては、上記カード処理装置を搭載した自動取引装置が提供される。
本発明によれば、磁気カードの磁気情報の不正な読み取りを防止しつつ、ＩＣ接点検出センサの性能を低下させることなく、ＩＣ接点を有するＩＣカードが挿入されたかを検出することができる。
本発明の一実施形態に係るカード処理装置の構成を示すブロック図である。 同実施形態にかかるカード処理装置の概略構造図である。 同実施形態にかかるカード処理装置の本体とカード挿入排出口ユニットの分離図である。 同実施形態にかかるカード挿入排出口ユニットの斜視図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサの出力と磁界方向について説明する説明図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサの出力方向とループアンテナの磁界方向との関係を示す概念図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサの出力方向とループアンテナの磁界方向との関係を示す概念図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサの出力方向とループアンテナの磁界方向との関係を示す概念図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサ及び妨害磁界の発振周波数について説明する説明図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサ及び妨害磁界の発振周波数について説明する説明図である。 同実施形態にかかるカード処理装置の挿入排出口の上面図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサ出力の振幅変化を説明する説明図である。 同実施形態にかかるカード処理装置の挿入排出口の上面図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサ及び異物検知センサの発振周波数について説明する説明図である。 同実施形態にかかるＩＣ接点検出センサ及び異物検知センサの発振周波数について説明する説明図である。
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
（１）カード処理装置の構成
まず、本実施形態にかかるカード処理装置１００の構成について、図１および図２を参照して説明する。
カード処理装置１００は、例えば、金融機関に設置されたＡＴＭなどに搭載される。カード処理装置１００は、顧客が所有する磁気カードまたはＩＣカードを受け付けて、磁気カードに記録された磁気情報またはＩＣカード内に格納されている情報を読み取るカードリーダから構成されている。
図１に示すように、カード処理装置１００は、本体１とカード挿入排出口ユニット１０を備えている。本体１は、制御部２、記憶部３、磁気読み取り部４、カード搬送部５、カード位置検知センサ６、ホストインタフェイス７、カード挿入検知センサ８、シャッタ駆動部９及びＩＣカード通信部２０を含む。また、カード挿入排出口ユニット１０は、磁界制御部１３、ループアンテナ１２を備える磁界発生部１１、ＩＣ接点検出制御部２１及びＩＣ接点検出センサ２２を含む。
なお、本体１の内部に、制御部２、記憶部３、磁気読み取り部４、カード搬送部５、カード位置検知センサ６、ＩＣカード通信部２０及びホストインタフェイス７が設けられている。また、本体１の外側部に、カード挿入検知センサ８およびシャッタ駆動部９が設けられている。
制御部２は、マイクロコンピュータから構成され、各部の動作を制御する。記憶部３は、メモリから構成され、各種の情報を記憶している。磁気読み取り部４は、図２に示すように、磁気ヘッド４ａと、磁気ヘッド４ａを駆動するための回路（図示せず）から構成されている。磁気読み取り部４は、本体１内で磁気ヘッド４ａによりカード２００の磁気ストライプから磁気情報を読み取る。
カード搬送部５は、図２に示すように、複数のローラ５ａと、該ローラ５ａを回転させるためのモータや回路（図示せず）から構成されている。カード搬送部５は、本体１内でローラ５ａ間にカード２００を挟み込み、モータの駆動力でローラ５ａを回転させて、カード２００を往復搬送する。
カード位置検知センサ６は、図２に示すように、複数の光センサ６ａから構成されている。制御部２は、各カード位置検知センサ６の出力状態に基づいて、本体１内におけるカード２００の位置を検知する。ホストインタフェイス７は、ＡＴＭに情報を送受信する回路から構成されている。
カード挿入検知センサ８は、図２に示すように、マイクロスイッチ８ａ及び小型磁気ヘッド８ｂから構成されている。制御部２は、カード挿入検知センサ８の出力状態に基づいて、カード挿入排出口ユニット１０へのカード２００の挿入を検知する。シャッタ駆動部９は、図２に示すように、シャッタ９ａを開閉させるためのソレノイドや回路（図示せず）から構成されている。なお、８ａはフォトインタラプタに代表される光検出素子でもよい。
ＩＣカード通信部２０は、図２に示すように、ＩＣ接点ユニット２０ａなどから構成されている。ＩＣカード通信部２０は、ＩＣ接点ユニット２０ａを用いてＩＣカードと通信する。具体的に、ＩＣカード通信部２０は、挿入されたＩＣカードのＩＣチップに記録された情報を読み込んで、当該情報を制御部２に提供する。
次に、カード挿入排出口ユニット１０の詳細について説明する。磁界発生部１１には、ループアンテナ１２と、ループアンテナ１２を駆動するための回路（図示せず）が含まれている。磁界発生部１１は、ループアンテナ１２に電流を流すことにより、ループアンテナ１２から妨害磁界を放射させる。
磁界制御部１３は、マイクロコンピュータから構成されている。磁界制御部１３は、磁界発生部１１のループアンテナ１２からの妨害磁界の発生および停止を制御する。
ＩＣ接点検出センサ２２は、ＩＣ接点の有無を検出し、挿入されたカードがＩＣカードであるか、すなわち、ＩＣ接点を有するカードであるかを検出する。また、ＩＣ接点検出制御部２１は、ＩＣ接点検出センサ２２の出力をもとに、挿入されたカードがＩＣカードか否かを検出して、検出結果を本体１の制御部２に提供する。
図２に示すように、カード挿入排出口ユニット１０内で、ＩＣ接点検出制御部２１とＩＣ接点検出センサ２２とを、接近状態で配置して、最短の配線経路で接続している。これにより、長い配線経路による不要な寄生回路の発生を低減することができる。
このように、カード挿入排出口ユニット１０をカード処理装置１００の本体１に装着して、磁界発生部１１により妨害磁界を発生させることで、不正装置によるカードの磁気情報の不正な読み取り（スキミング）を防止することができる。また、ＩＣ接点検出センサ２２により、挿入されるカードがＩＣカードであるか、つまりＩＣ接点を有するカードであるかを検出することができる。
（２）カード挿入排出口ユニットの構造
次に、図３及び図４を参照して、本実施形態にかかるカード挿入排出口ユニット１０の構造について説明する。なお、カード挿入排出口ユニット１０の構造の説明に際し、適宜、図１及び図２を参照する。
図３に示すように、カード処理装置１００の本体１の前面１ｆには、カード入出口部１ａとシャッタ駆動部９が設けられている。カード入出口部１ａは、前方（図３のＴ方向）へ突出しており、中央に入出口１ｂが形成されている。入出口１ｂは、図２に示すように、本体１内に連通している。カード２００は、入出口１ｂを通って、本体１内に入出される。
カード入出口部１ａの先端の凸部１ｅには、マイクロスイッチ８ａと小型磁気ヘッド８ｂが設けられている。マイクロスイッチ８ａのアクチュエータ８ｃは、図３に示すように、カード入出口部１ａの左側から入出口１ｂ内に突出している。入出口１ｂに挿入されたカード２００の側縁がアクチュエータ８ｃに当接することにより、マイクロスイッチ８ａはＯＮ状態になり、所定の幅のカードが挿入されたことが検知される。
小型磁気ヘッド８ｂは、カード入出口部１ａの下方から入出口１ｂ内に突出している。入出口１ｂに挿入されたカード２００の磁気ストライプを検出することで、小型磁気ヘッド８ｂは磁気情報が記録されたカードが挿入されたことを検知する。なお、小型磁気ヘッド８ｂは、ループアンテナ１２の妨害磁界の影響を受けるおそれがあるが、カード２００の磁気情報を正確に読み取れなくても、磁気情報を所定のレベルで検知できればよい。このため、妨害磁界の影響による検知性能に支障はない。
シャッタ機構９ｂは、図１に示したシャッタ駆動部９の駆動力により作動して、シャッタ９ａを上下動させることにより、入出口１ｂを開放または閉鎖する。図２では、シャッタ９ａが下降して、入出口１ｂを開放した状態を示している。
また、図３に示すように、カード挿入排出口ユニット１０の中央には、カード２００を挿入および排出する開口１０ｂが形成されている。カード挿入排出口ユニット１０の両側部には、貫通孔１０ｃが形成されている。開口１０ｂと貫通孔１０ｃの奥行き方向は、カード挿入方向Ｓと平行になっている。
カード挿入排出口ユニット１０には、ループアンテナ１２が設けられている。図４（ｂ）に示すように、ループアンテナ１２は、ループ部１２ａで凹部１０ａの周囲を取り囲むように、樹脂１４ａ、１４ｂでカード挿入排出口ユニット１０内に埋め込まれている。また、図２に示すように、開口１０ｂの上部、ループアンテナ１２の下部にＩＣ接点検出センサ２２が設置される。
詳しくは、樹脂１４ａは、熱可塑性を有する合成樹脂であり、カード挿入排出口ユニット１０のフレームを構成している。樹脂１４ｂは、短時間で硬化するエポキシなどの合成樹脂である。樹脂１４ａで形成された装着部１０ｓにループアンテナ１２を装着した後、該ループアンテナ１２を覆うように、硬化前の樹脂１４ｂを塗布する。そして、樹脂１４ｂを硬化させることで、ループアンテナ１２がカード挿入排出口ユニット１０内に埋設される。
マイクロスイッチ８ａおよび小型磁気ヘッド８ｂによりカード２００の挿入が検知されると、図１に示す制御部２が、磁界制御部１３に磁界発生指令を送信する。磁界制御部１３は、磁界発生指令を受信すると、磁界発生部１１によりループアンテナ１２から妨害磁界を放射させる。
また、他の例として、利用者がＡＴＭの前に立ったときに、ＡＴＭからカード処理装置１００に起動指令が送信されるようにしてもよい。そして、該起動指令をホストインタフェイス７により受信した制御部２が、磁界制御部１３に磁界発生指令を送信し、磁界発生部１１により妨害磁界を放射させてもよい。この場合、カード挿入排出口ユニット１０へのカード２００の挿入前から、または挿入と同時に、磁界発生部１１により妨害磁界が放射される。また、他の例として、妨害磁界を停止することなく、常時放射させてもよい。
そして、カード位置検知センサ６により本体１内にカード２００が取り込まれたことが検知されると、制御部２が、カード搬送部５によりカード２００を搬送し、磁界制御部１３に磁界停止指令を送信する。磁界制御部１３は、磁界停止指令を受信すると、磁界発生部１１によりループアンテナ１２からの妨害磁界の放射を停止させる。他の例として、妨害磁界を所定時間放射した後、妨害磁界の放射を停止させるようにしてもよい。
この後、カード搬送部５によりカード２００が搬送され、磁気読み取り部４によりカード２００の磁気情報が読み取られる。そして、カード２００に対する処理が完了すると、カード搬送部５により、カード２００がカード入出口部１ａを通ってカード挿入排出口ユニット１０へ搬送され、開口１０ｂからＴ方向（図２）に排出される。このカード排出時に、磁界制御部１３が、磁界発生部１１によりループアンテナ１２から妨害磁界を放射させてもよい。
また、カード２００がカード入出口部に挿入されるときに、カード２００がＩＣカードである場合には、カード位置検知センサ６により本体１内にカード２００が取り込まれたことが検知されると、ＩＣ接点検出センサ２２によりＩＣカードであることかが検出される。そして、カード２００がＩＣカードである場合には、ＩＣカード通信部２０により、挿入されたＩＣカードのＩＣチップに記録された情報が読み込まれ、当該情報が制御部２に提供される。
（３）ＩＣ接点検出と磁界の方向
次に、図５を参照して、ＩＣ接点検出センサ２２の出力と、妨害磁界の方向について説明する。図５は、ＩＣ接点検出センサが影響を受ける磁界の方向を示している。
図５（ａ）に示すように、ＩＣ接点検出センサ２２の直交方向２２０とループアンテナ１２からの妨害磁界の方向１２０が一致する場合、ＩＣ接点検出センサ２２の出力に対し、妨害磁界の影響が最大となる。この場合、ＩＣ接点検出センサ２２の出力には、妨害磁界の変化が大きく重畳されて出力され、ＩＣ接点の検出が困難となる。
また、図５（ｂ）に示すように、ＩＣ接点検出センサ２２の直交方向２２０とループアンテナ１２からの妨害磁界の方向１２０がずれている場合、ＩＣ接点検出センサ２２の出力に対し、妨害磁界の影響はやや軽減される。しかし、この場合も、ＩＣ接点検出センサ２２の出力には、妨害磁界の変化が重畳されて出力され、ＩＣ接点の検出が困難となる。
しかし、図５（ｃ）に示すように、ＩＣ接点検出センサ２２の直交方向とループアンテナ１２からの妨害磁界の方向が直交方向に近づくと、ＩＣ接点検出センサ２２の出力に対し、妨害磁界の影響は大きく軽減される。この場合、ＩＣ接点検出センサ２２の出力に重畳されている妨害磁界の変化は極僅かとなり、ＩＣ接点の検出は正常に機能する。
例えば、図６は、不正装置の磁気ヘッド５０に対し、効果的に磁界を照射する方向に妨害磁界を発生するループアンテナ１２が取り付けられている場合を示す。この場合、ＩＣ接点検出センサ２２はループアンテナ１２の磁界の影響を受けるため、妨害磁界が常に出力された状態では、ＩＣ接点検出センサ２２は正常に動作できず、正しくＩＣカードを検出することができない。
図６に示すＩＣ接点検出センサ２２の出力方向と、ループアンテナ１２の磁界方向との関係は、図５（ｂ）の関係と同様である。図６では、ループアンテナ１２からの妨害磁界は、不正装置の磁気ヘッド５０に対して効果的に磁界を照射するものの、ＩＣ接点検出センサ２２の出力を妨害してＩＣ接点検出センサ２２の機能を低下させてしまう。
また、ＩＣ接点検出センサ２２がＩＣカードのＩＣ接点を検出する際に妨害磁界を停止させることも考えられるが、妨害磁界を停止させている間に、挿入された磁気カードの磁気ストライプに記録された磁気情報が、不正装置により不正に取得されてしまう可能性がある。
そこで、本実施の形態では、図７に示すように、ＩＣ接点検出センサ２２の出力が磁界の影響を受けないような磁界の方向となるように、ループアンテナ１２を取り付けている。具体的に、ＩＣ接点検出センサ２２の直交方向とループアンテナ１２からの妨害磁界の方向とが直交するように配置している。図７に示すＩＣ接点検出センサ２２の出力方向と、ループアンテナ１２の磁界方向との関係は、図５（ｃ）の関係と同様である。
図７に示すように、ＩＣ接点検出センサ２２とループアンテナ１２を配置することにより、ループアンテナ１２からの妨害磁界は不正装置の磁気ヘッド５０に対して効果的に磁界を照射しつつ、ＩＣ接点検出センサの出力を妨害することなくＩＣ接点検出センサ２２の機能を維持することができる。
また、図８は、ＩＣ接点検出センサ２２が磁界の影響を受けない磁界の方向となるように、ループアンテナ１２がカード挿入排出口を取り囲む形で取り付けている。図８でも、ＩＣ接点検出センサ２２の直交方向とループアンテナ１２からの妨害磁界の方向とが直交するように配置されている。図８においても、ＩＣ接点検出センサ２２の出力方向と、ループアンテナ１２の磁界方向との関係は、図５（ｃ）の関係と同様である。
（４）ＩＣ接点検出センサの出力
次に、上記したようにＩＣ接点検出センサ２２を配置することに加えて、ＩＣ接点検出センサ２２の出力を安定させて、より正しくＩＣ接点を検出するための方法について説明する。第１の方法として、ループアンテナ１２からの妨害磁界の発振周波数とＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とを十分離れた値とする方法が挙げられる。また、第２の方法として、カード挿入検知センサ８の検出を契機として、ＩＣ接点を正しく検出をする方法が挙げられる。また、第３の方法として、カード挿入排出口ユニット１０に異物検知センサ２３を設けた場合に、異物検知センサの発振周波数と、ＩＣ接点検出センサの発振周波数とを十分離れた値とする方法が挙げられる。これらの方法により、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の安定を図ることができる。
まず、ＩＣ接点検出センサ２２の出力を安定させる第１の方法に関して、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とループアンテナ１２からの妨害磁界の発振周波数について説明する。図９は、ループアンテナ１２からの妨害磁界の発振周波数と、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とが近い値の場合を示す。この場合、妨害磁界の干渉によって、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅に影響が出て、ＩＣ接点検出センサ２２によるＩＣ接点の検出機能が正常に動作しない。
一方、図１０は、妨害磁界の発振周波数と、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とが十分離れた値の場合を示す。この場合、妨害磁界の干渉によるＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅への影響を抑えることができ、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅が安定する。したがって、図１０に示すように、妨害磁界の発振周波数とＩＣ接点検出センサ２２発振周波数とを十分離れた値とすることにより、ＩＣ接点検出センサ２２によるＩＣ接点の検出を正常に動作させることができる。
具体的には、妨害磁界の発振周波数が３．０ｋＨｚだった場合、ＩＣ接点検出センサ２２のＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数を３００ｋＨｚとする。このように、妨害磁界の発振周波数とＩＣ接点検出センサ２２発振周波数とを十分離れた値として、妨害磁界の干渉によるＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅への影響を低減させている。
本実施の形態では、上記図７に示すように、ＩＣ接点検出センサ２２が磁界の影響を受けないような磁界の方向となるように、ループアンテナ１２を取り付け、さらに、図１０に示すように、妨害磁界の発振周波数と、ＩＣ接点検出センサの発振周波数とが十分離れている値とすることにより、妨害磁界の干渉によるＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅への影響をさらに低減し、ＩＣ接点検出センサ２２によるＩＣ接点の検出機能を正常に維持することができる。
次に、ＩＣ接点検出センサ２２の出力を安定させる第２の方法に関して、カード挿入検知センサ８の出力を契機として、ＩＣ接点を検出する方法について説明する。
図１１は、カード挿入排出口ユニット１０に、マイクロスイッチ８ａの動作を検知するカード挿入検知センサ８が備えられている場合を示す。カード挿入検知センサ８は、ＩＣカード２００がカード挿入排出口ユニット１０に挿入されたときに、カード２００によりマイクロスイッチ８ａが押下されことを検出して、ＩＣカード２００の挿入を検知する。そして、カード挿入検知センサ８によりＩＣカード２００の挿入が検知された後に、ＩＣカード２００のＩＣ接点がＩＣ接点検出センサ２２に近づく位置にＩＣ接点検出センサ２２が取り付けられている。
図１２に示すように、ループアンテナ１２からの妨害磁界以外の磁界や温度変化などの周囲の環境により、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅は変化する。このように、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅が周囲環境に応じて変化すると、ＩＣカード２００のＩＣ接点を正しく検出することができない場合がある。例えば、ＩＣカード２００が挿入されていない状態にも関わらず、ＩＣカード２００を検出してしまったり、ＩＣカード２００が挿入されているにも関わらずＩＣカード２００を検出できなかったりする場合などが考えられる。
そこで、本実施の形態では、上記したカード挿入検知センサ８によりカードの挿入が検知されたことを契機に、ＩＣ接点の検知を開始することとしている。すなわち、カード挿入検知センサ８の変化点を基準としてＩＣ接点の検知を開始することにより、ＩＣ接点検出センサ２２により正しくＩＣカード２００のＩＣ接点を検出することを可能としている。具体的に、図１２に示すように、カード挿入検知センサ８の検知が「なし」から「あり」に変化した点の振幅を、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の基準値とする。そして、この基準値の振幅に対して、所定の割合に振幅が変化した場合に、ＩＣ接点が有ると判定する。
例えば、基準値の振幅に対して、ＩＣ接点検出センサ２２の出力が所定の割合に変化したと判定した場合に、ＩＣカード２００のＩＣ接点があると判定する。変化したと判定する所定の割合は、例えば、基準値の振幅に対して７割としてもよい。なお、ＩＣ接点検出センサ２２の振幅の基準値については、カード挿入検知センサ８の変化点でもよいし、変化点より前の特定の時点を基準としてもよいし、変化点より後の特定の時点を基準としてもよい。
このように、カード挿入検知センサ８の変化点を基準とすることにより、ＩＣカード２００のＩＣ接点の有無を、磁界や温度変化などの周囲の環境の影響を受けることなく、正しく判定することが可能となる。
次に、ＩＣ接点検出センサ２２の出力を安定させる第３の方法に関して、カード挿入排出口ユニット１０に異物検知センサ２３を設けた場合の、異物検知センサの発振周波数と、ＩＣ接点検出センサの発振周波数について説明する。図１３は、カード挿入排出口ユニット１０に、異物を検知する異物検知センサ２３が備えられている場合を示す。異物検知センサ２３は、ＩＣ接点以外の磁性体の有無を検出する機能を有し、例えば、カード挿入口に挿入される不正装置などの異物を検知する。
図１４では、異物検知センサ２３の発振周波数と、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とが近い値の場合を示す。この場合、異物検知センサ２３の出力の干渉によって、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅に影響が出て、ＩＣ接点検出センサ２２によるＩＣ接点の検出が正常に動作しない。
一方、図１５は、異物検知センサ２３の発振周波数と、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とが十分離れた値の場合を示す。この場合、異物検知センサ２３の出力の干渉によるＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅への影響を抑えることができ、ＩＣ接点検出センサ２２の出力の振幅が安定する、したがって、図１５に示すように、異物検知センサ２３の発振周波数と、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とを十分離れた値とすることにより、ＩＣ接点検出センサ２２によるＩＣ接点の検出を正常に動作させることができる。
具体的には、異物検知センサ２３の発振周波数が１００ｋＨｚだった場合、ＩＣ接点検出センサ２２のＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数を３００ｋＨｚとする。ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数をこのように設定することにより、上記した妨害磁界による干渉を低減し、さらに、異物検知センサ２３の出力の干渉も低減させている。なお、図１５では、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数を異物検知センサ２３の発振周波数よりも高い周波数としたが、かかる例に限定されない。異物検知センサ２３の出力の干渉を受けない範囲であれば、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数を異物検知センサ２３の発振周波数よりも低い周波数としてもよいし、ほぼ同一の周波数としてもよい。
なお、異物検知センサ２３についても、ＩＣ接点検出センサ２２と同様に、ループアンテナ１２からの妨害磁界の影響を受けて、異物検知センサ２３の検出機能が低下する場合がある。例えば、上記した図５（ａ）や図５（ｂ）に示したように、異物検知センサ２３の出力と妨害磁界の方向とが重畳される場合には、ＩＣ接点検出センサ２２と同様に、異物検知センサ２３の検出機能が低下する。
そこで、磁気カードの磁気情報の不正な読取を防止するために、異物検知センサ２３の出力と妨害磁界の方向とを図５（ｃ）に示す関係とする。すなわち、異物検知センサ２３の直交方向とループアンテナ１２からの妨害磁界の方向とを直交方向とする。これにより、異物検知センサ２３の出力に対し、妨害磁界の影響は大きく軽減される。
異物検知センサ２３を備え、異物検知センサ２３の検出出力の方向と妨害磁界の方向とを重畳させないようにして妨害磁界の影響を低減して、不正装置によるカード２００の磁気情報の不正な読取防止を強化している。さらに、妨害磁界の発振周波数と、ＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数と、異物検知センサ２３の発振周波数とをそれぞれ異なる周波数とすることにより、相互に干渉することなく、各装置の機能を維持することが可能となる。
なお、上記したように、妨害磁界とＩＣ接点検出センサ２２の発振周波数とは、３．０ｋＨｚと３００ｋＨｚなど十分離れた値とし、妨害磁界と異物検知センサ２３の発振周波数も同様に十分離れた値とする。そして、ＩＣ接点検出センサ２２と異物検知センサ２３とは、３００ｋＨｚと１００ｋＨｚと、２００ｋＨｚ程度の差とする。妨害磁界の周波数に対して、ＩＣ接点検出センサ２２及び異物検知センサ２３の周波数をこのように設定することにより、妨害磁界による干渉を低減して、不正装置によるカード２００の磁気情報の不正な読取防止を強化することができる。
さらに、異物検知センサ２３は、ＩＣ接点検出センサ２２と同様に、ループアンテナ１２からの妨害磁界以外の磁界や温度変化などの周囲の環境により、異物検知センサ２３の出力の振幅が変化する。このように、異物検知センサ２３の出力の振幅が周囲環境に応じて変化すると、不正装置などの異物を正しく検出することができない場合がある。
そこで、図１１に示したカード挿入検知センサ８の変化点を基準とすることにより、異物検知センサ２３により正しくＩＣカード２００のＩＣ接点を検出することを可能としている。具体的に、図１２に示すように、カード挿入検知センサ８の検知が「なし」から「あり」に変化した点の振幅を、異物検知センサ２３の出力の基準値とする。そして、この基準値の振幅に対して、所定の割合に振幅が変化した場合に、異物が挿入されたと判定する。
例えば、基準値の振幅に対して、異物検知センサ２３の出力が所定の割合に変化したと判定した場合に、異物が挿入されたと判定する。変化したと判定する所定の割合は、例えば、基準値の振幅に対して７割としてもよい。なお、異物検知センサ２３の振幅の基準値については、カード挿入検知センサ８の変化点でもよいし、変化点より前の特定の時点を基準としてもよいし、変化点より後の特定の時点を基準としてもよい。
このように、カード挿入検知センサ８の変化点を基準とすることにより、異物が挿入されたか否かを、磁界や温度変化などの周囲の環境の影響を受けることなく、正しく判定することが可能となる。
（５）本実施の形態の効果
本実施の形態によれば、カード処理装置１００のカード挿入排出口ユニット１０には、カードを挿入および排出する開口と、ループアンテナ１２により妨害磁界を発生する磁界発生部１１と、ＩＣカードのＩＣ接点の有無を検出するＩＣ接点検出センサ２２と、を備え、ＩＣ接点検出センサ２２の検出方向が、ループアンテナ１２からの妨害磁界の磁界方向と重畳しない向き、すなわち、ＩＣ接点検出センサ２２の検出方向が、妨害磁界の磁界方向と直交する向きにＩＣ接点検出センサ２２が配置される。これにより、磁気カードの磁気情報の不正な読み取りを防止しつつ、ＩＣ接点検出センサの性能を低下させることなく、挿入されたカードがＩＣ接点を有するカードであるかを検出することができる。
また、挿入されたカードがＩＣ接点を有するカードであるかを検出できるため、カード挿入検知センサ８とＩＣ接点検出センサ２２を組み合わせることにより、いたずらや不正を目的とした、ＩＣ接点を有さないカードの挿入を防止することができる。さらに、挿入されたカードがＩＣ接点を有するカードであるかを検出できるため、ＩＣカード取引が可能な時にのみ、ＩＣカード取引処理の動作を行うことにより、ＩＣ接点ユニットの長寿命化を図ることができる。
１ 本体
１ａ カード入出口部
４ 磁気読み取り部
５ カード搬送部
８ カード挿入検知センサ
１０ カード挿入排出口ユニット
１１ 磁界発生部
１２ ループアンテナ
１３ 磁界制御部
２０ カード通信部
２１ 接点検出制御部
２２ 接点検出センサ
２３ 異物検知センサ
１００ カード処理装置
２００ ＩＣカード

Claims (15)

  1. カードを挿入および排出する開口と、
    妨害磁界を発生する磁界発生部と、
    ＩＣ接点の有無を検出するＩＣ接点検出センサと、を備え、
    前記ＩＣ接点検出センサの検出方向が、前記妨害磁界の磁界方向と重畳しない向きに前記ＩＣ接点検出センサを配置する
    ことを特徴とする、カード挿入排出口ユニット。
  2. 前記ＩＣ接点検出センサの検出方向が、前記妨害磁界の磁界方向と直交する向きに前記ＩＣ接点検出センサを配置する
    ことを特徴とする、請求項１に記載のカード挿入排出口ユニット。
  3. 前記ＩＣ接点検出センサのＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数は、前記妨害磁界の発振周波数に干渉されない周波数である、
    ことを特徴とする、請求項１に記載のカード挿入排出口ユニット。
  4. 前記ＩＣ接点検出センサのＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数は、前記妨害磁界の発振周波数より高い周波数である、
    ことを特徴とする、請求項３に記載のカード挿入排出口ユニット。
  5. カード挿入検知センサを備え、
    前記ＩＣ接点検出センサは、前記カード挿入検知センサによりカードの挿入が検知されたことを契機に、ＩＣ接点の検知を開始する、
    ことを特徴とする、請求項１に記載のカード挿入排出口ユニット。
  6. 前記カード挿入検知センサがカードの挿入を検知する前の時点、または検知する後の時点、または検知する時点における前記ＩＣ接点検出センサの出力を基準値とし、該基準値に対して前記ＩＣ接点検出センサの出力が所定割合変化した場合に前記ＩＣカードのＩＣ接点を検出する
    ことを特徴とする、請求項５に記載のカード挿入排出口ユニット。
  7. 前記ＩＣ接点以外の磁性体の有無を検出する異物検知センサを備え、
    前記異物検知センサの磁性体の検出方向が、前記妨害磁界の磁界方向と直交する向きに前記異物検知センサを配置する
    ことを特徴とする、請求項１に記載のカード挿入排出口ユニット。
  8. 前記ＩＣ接点検出センサのＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数は、前記異物検知センサの発振周波数に干渉されない周波数である、
    ことを特徴とする、請求項７に記載のカード挿入排出口ユニット。
  9. 前記ＩＣ接点検出センサのＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数は、前記異物検知センサの発振周波数より高い周波数である、
    ことを特徴とする、請求項７に記載のカード挿入排出口ユニット。
  10. 前記ＩＣ接点検出センサのＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数は、前記異物検知センサの発振周波数より低い周波数である、
    ことを特徴とする、請求項７に記載のカード挿入排出口ユニット。
  11. 前記ＩＣ接点検出センサのＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数は、前記異物検知センサの発振周波数と略同一である、
    ことを特徴とする、請求項７に記載のカード挿入排出口ユニット。
  12. 前記ＩＣ接点検出センサのＩＣ接点を検出する磁界の発振周波数は、前記妨害磁界の発振周波数及び前記異物検知センサの発振周波数に干渉されない周波数であり、
    前記ＩＣ接点検出センサの周波数と前記妨害磁界の発振周波数との差は、前記ＩＣ接点検出センサの周波数と前記異物検知センサの発振周波数との差よりも大きい
    ことを特徴とする、請求項７に記載のカード挿入排出口ユニット。
  13. カード挿入検知センサを備え、
    前記異物検知センサは、前記カード挿入検知センサによりカードの挿入が検知されたことを契機に、異物が挿入されたか否かの検知を開始する、
    ことを特徴とする、請求項７に記載のカード挿入排出口ユニット。
  14. カード処理装置の本体内でカードに記録された磁気情報を読み取る磁気読み取り部と、
    前記カード処理装置の本体内でカードを搬送するカード搬送部と、
    前記カード処理装置の本体内でカードのＩＣチップと通信するＩＣカード通信部と、
    前記カード処理装置の本体のカード入出口部に設置されるカード挿入排出口ユニットと、
    を有し、
    前記カード挿入排出口ユニットは、
    カードを挿入および排出する開口と、
    妨害磁界を発生する磁界発生部と、
    ＩＣ接点の有無を検出するＩＣ接点検出センサと、を備え、
    前記ＩＣ接点検出センサの検出方向が、前記妨害磁界の磁界方向と重畳しない向きに前記ＩＣ接点検出センサを配置する
    ことを特徴とする、カード処理装置。
  15. 請求項１４に記載のカード処理装置を搭載した自動取引装置。
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