CN105574987A - 卡插入排出口单元、卡处理装置及自动交易装置 - Google Patents

Abstract

一种卡插入排出口单元、卡处理装置及自动交易装置，防止磁卡的磁信息的非法读取，并且维持IC触点检测传感器的性能以不下降。卡插入排出口单元的特征在于，具备：开口，供卡插入及排出；磁场产生部，产生干扰磁场；以及IC触点检测传感器，检测IC触点的有无；以上述IC触点检测传感器的检测方向为与上述干扰磁场的磁场方向不重叠的方向来配置上述IC触点检测传感器。

Description

卡插入排出口单元、卡处理装置及自动交易装置

技术领域

本发明涉及卡插入排出口单元、卡处理装置及自动交易装置，适合在具备磁场产生部及IC触点检测部的卡插入排出口单元、卡处理装置及自动交易装置中使用。

背景技术

在ATM(现金自动存取机)等的交易处理装置中，搭载有对磁卡或IC卡进行信息的处理的卡处理装置。该卡处理装置将从卡插入排出口插入的磁卡或IC卡向主体内取入，将记录在磁卡的磁条中的磁信息用磁头读入，或将记录在IC卡的IC芯片中的信息读入。并且，在交易结束后，将磁卡或IC卡从主体内向卡插入排出口排出。

在ATM中，有将具有具备磁头的假的卡插入排出口的非法装置以盖在正规的卡插入排出口上的方式而设置、从而非法地取得磁卡的磁信息的称作侧录的犯罪。作为侧录的防止对策，例如有通过磁场产生部在正规的卡插入排出口的附近产生磁场、干扰用非法装置的磁头读取磁卡的磁信息的技术(例如专利文献1及2)。

在专利文献1及2中，磁场产生部由线圈及环形天线构成，设置在卡处理装置的主体前面部、或设置于该前面部的卡插入口单元内。此外，在主体内设置有控制磁场产生部的驱动的控制部。

此外，最近安全性比磁卡高的IC卡逐渐被利用，所以有具备检查插入的卡是否是IC卡的功能的卡处理装置(例如专利文献3)。具体而言，在卡处理装置的卡插入排出口单元中具备IC触点检测传感器，检测是否是具有IC触点的卡。以往，在IC触点检测传感器中，较多使用应用了电磁感应的接近开关。

专利文献1：特开2001－67524号公报

专利文献2：特开2005－266999号公报

专利文献3：特开2011－192182号公报

发明内容

但是，在将上述侧录防止装置和IC触点检测功能同时搭载在卡处理装置的卡插入排出口的情况下，由于作为侧录的防止对策的干扰磁场给卡插入排出口单元的IC触点检测传感器带来影响，所以有不能正确地检测IC触点的问题。进而，如果为了检测IC卡而在一定期间中使干扰磁场停止，则有在该期间中插入的磁卡的磁条中记录的磁信息被非法地取得的问题。进而，不仅是干扰磁场，还有因外来的磁场等的影响而IC触点检测传感器误动作的问题。

本发明是鉴于以上的问题而做出的，目的是提供一种在防止磁卡的磁信息的非法的读取的同时、维持IC触点检测传感器的性能以使其不下降的卡插入排出口单元、卡处理装置及自动交易装置。

为了解决该问题，在本发明中，提供一种卡插入排出口单元，其特征在于，具备：开口，供卡插入及排出；磁场产生部，产生干扰磁场；以及IC触点检测传感器，检测IC触点的有无；以上述IC触点检测传感器的检测方向为与上述干扰磁场的磁场方向不重叠的朝向配置上述IC触点检测传感器。

根据该结构，通过由磁场产生部产生干扰磁场，能够防止由非法装置进行的磁卡的磁信息的非法的读取(侧录)。此外，通过IC触点检测传感器能够检测出被插入的卡是否是IC卡，即是否是具有IC触点的卡。

此外，为了解决该问题，在本发明中，提供一种卡处理装置，其特征在于，具有：磁读取部，在卡处理装置的主体内将记录在卡中的磁信息读取；卡输送部，在上述卡处理装置的主体内输送卡；IC卡通信部，在上述卡处理装置的主体内与卡的IC芯片通信；以及卡插入排出口单元，设置在上述卡处理装置的主体的卡出入口部；上述卡插入排出口单元具备：开口，供卡插入及排出；磁场产生部，产生干扰磁场；以及IC触点检测传感器，检测IC触点的有无；以上述IC触点检测传感器的检测方向为与上述干扰磁场的磁场方向不重叠的朝向配置上述IC触点检测传感器。

此外，为了解决该问题，在本发明中，提供一种自动交易装置，搭载有上述卡处理装置。

根据本发明，能够防止磁卡的磁信息被非法读取，并且不使IC触点检测传感器的性能下降而检测插入了具有IC触点的IC卡。

附图说明

图1是表示有关本发明的一实施方式的卡处理装置的结构的框图。

图2是有关该实施方式的卡处理装置的概略构造图。

图3是有关该实施方式的卡处理装置的主体和卡插入排出口单元的分离图。

图4是有关该实施方式的卡插入排出口单元的立体图。

图5是对有关该实施方式的IC触点检测传感器的输出和磁场方向进行说明的说明图。

图6是表示有关该实施方式的IC触点检测传感器的输出方向与环形天线的磁场方向的关系的概念图。

图7是表示有关该实施方式的IC触点检测传感器的输出方向与环形天线的磁场方向的关系的概念图。

图8是表示有关该实施方式的IC触点检测传感器的输出方向与环形天线的磁场方向的关系的概念图。

图9是对有关该实施方式的IC触点检测传感器及干扰磁场的振荡频率进行说明的说明图。

图10是对有关该实施方式的IC触点检测传感器及干扰磁场的振荡频率进行说明的说明图。

图11是有关该实施方式的卡处理装置的插入排出口的俯视图。

图12是说明有关该实施方式的IC触点检测传感器输出的振幅变化的说明图。

图13是有关该实施方式的卡处理装置的插入排出口的俯视图。

图14是对有关该实施方式的IC触点检测传感器及异物检测传感器的振荡频率进行说明的说明图。

图15是对有关该实施方式的IC触点检测传感器及异物检测传感器的振荡频率进行说明的说明图。

附图符号说明

1主体；

1a卡出入口部；

4磁读取部；

5卡输送部；

8卡插入检测传感器；

10卡插入排出口单元；

11磁场产生部；

12环形天线；

13磁场控制部；

20卡通信部；

21触点检测控制部；

22触点检测传感器；

23异物检测传感器；

100卡处理装置；

200IC卡。

具体实施方式

以下，关于附图详细叙述本发明的一实施方式。

(1)卡处理装置的结构

首先，参照图1及图2对有关本实施方式的卡处理装置100的结构进行说明。

卡处理装置100例如搭载于设置在金融机构中的ATM等中。卡处理装置100由受理顾客拥有的磁卡或IC卡、将记录在磁卡中的磁信息或保存在IC卡内的信息读取的读卡器构成。

如图1所示，卡处理装置100具备主体1和卡插入排出口单元10。主体1包括控制部2、存储部3、磁读取部4、卡输送部5、卡位置检测传感器6、主机接口7、卡插入检测传感器8、开闭器驱动部9及IC卡通信部20。此外，卡插入排出口单元10包括磁场控制部13、具备环形天线12的磁场产生部11、IC触点检测控制部21及IC触点检测传感器22。

另外，在主体1的内部，设有控制部2、存储部3、磁读取部4、卡输送部5、卡位置检测传感器6、IC卡通信部20及主机接口7。此外，在主体1的外侧部，设有卡插入检测传感器8及开闭器驱动部9。

控制部2由微型计算机构成，控制各部的动作。存储部3由存储器构成，存储有各种信息。磁读取部4如图2所示，由磁头4a和用来驱动磁头4a的电路(未图示)构成。磁读取部4在主体1内通过磁头4a从卡200的磁条读取磁信息。

卡输送部5如图2所示，由多个辊5a和用来使该辊5a旋转的马达或电路(未图示)构成。卡输送部5在主体1内使卡200夹入到辊5a间，用马达的驱动力使辊5a旋转，将卡200往复输送。

卡位置检测传感器6如图2所示，由多个光传感器6a构成。控制部2基于各卡位置检测传感器6的输出状态，检测主体1内的卡200的位置。主机接口7由对ATM收发信息的电路构成。

卡插入检测传感器8如图2所示，由微型开关8a及小型磁头8b构成。控制部2基于卡插入检测传感器8的输出状态，检测向卡插入排出口单元10的卡200的插入。开闭器驱动部9如图2所示，由用来使开闭器9a开闭的螺线管或电路(未图示)构成。另外，8a也可以是以光电断路器为代表的光检测元件。

IC卡通信部20如图2所示，由IC触点单元20a等构成。IC卡通信部20使用IC触点单元20a与IC卡通信。具体而言，IC卡通信部20将记录在被插入的IC卡的IC芯片中的信息读入，将该信息向控制部2提供。

接着，对卡插入排出口单元10的详细情况进行说明。磁场产生部11包括环形天线12和用来驱动环形天线12的电路(未图示)。磁场产生部11通过使电流流经环形天线12，从环形天线12放射干扰磁场。

磁场控制部13由微型计算机构成。磁场控制部13控制来自磁场产生部11的环形天线12的干扰磁场的发生及停止。

IC触点检测传感器22检测IC触点的有无，检测插入的卡是否是IC卡，即是否是具有IC触点的卡。此外，IC触点检测控制部21基于IC触点检测传感器22的输出，检测被插入的卡是否是IC卡，将检测结果向主体1的控制部2提供。

如图2所示，在卡插入排出口单元10内，将IC触点检测控制部21和IC触点检测传感器22以接近状态配置，用最短的布线路径连接。由此，能够减少由较长的布线路径带来的不必要的寄生电路的发生。

这样，通过将卡插入排出口单元10安装到卡处理装置100的主体1上、由磁场产生部11产生干扰磁场，能够防止由非法装置进行的卡的磁信息的非法的读取(侧录)。此外，通过IC触点检测传感器22能够检测插入的卡是否是IC卡，即是否是具有IC触点的卡。

(2)卡插入排出口单元的构造

接着，参照图3及图4，对有关本实施方式的卡插入排出口单元10的构造进行说明。另外，在卡插入排出口单元10的构造的说明时，适当参照图1及图2。

如图3所示，在卡处理装置100的主体1的前面1f上，设有卡出入口部1a和开闭器驱动部9。卡出入口部1a向前方(图3的T方向)突出，在中央形成有出入口1b。出入口1b如图2所示，连通到主体1内。卡200穿过出入口1b向主体1内出入。

在卡出入口部1a的前端的凸部le上，设有微型开关8a和小型磁头8b。微型开关8a的致动器8c如图3所示，从卡出入口部1a的左侧向出入口1b内突出。通过插入在出入口1b中的卡200的侧缘抵接在致动器8c上，微型开关8a成为开启状态，检测到被插入了规定宽度的卡。

小型磁头8b从卡出入口部1a的下方突出到出入口1b内。通过检测插入在出入口1b中的卡200的磁条，小型磁头8b检测出被插入了记录有磁信息的卡。另外，小型磁头8b有可能受到环形天线12的干扰磁场的影响，但即使不能正确地读取卡200的磁信息，也只要能够将磁信息以规定的电平检测就可以。因此，没有干扰磁场的影响带来的检测性能的障碍。

开闭器机构9b通过图1所示的开闭器驱动部9的驱动力而动作，通过使开闭器9a上下运动，将出入口1b开放或闭锁。在图2中，表示开闭器9a下降而将出入口1b开放的状态。

此外，如图3所示，在卡插入排出口单元10的中央，形成有供卡200插入及排出的开口10b。在卡插入排出口单元10的两侧部形成有贯通孔10c。开口10b和贯通孔10c的进深方向与卡插入方向S平行。

在卡插入排出口单元10中设有环形天线12。如图4中(b)所示，环形天线12以由环部12a将凹部10a的周围包围的方式被用树脂14a、14b埋入在卡插入排出口单元10内。此外，如图2所示，在开口10b的上部、环形天线12的下部设置IC触点检测传感器22。

详细地讲，树脂14a是具有热塑性的合成树脂，构成卡插入排出口单元10的框。树脂14b是在短时间中硬化的环氧等的合成树脂。在对由树脂14a形成的安装部10s安装环形天线12后，以将该环形天线12覆盖的方式涂敷硬化前的树脂14b。并且，通过使树脂14b硬化，将环形天线12埋设到卡插入排出口单元10内。

如果通过微型开关8a及小型磁头8b检测到卡200的插入，则图1所示的控制部2向磁场控制部13发送磁场产生指令。磁场控制部13如果接收到磁场产生指令，则通过磁场产生部11从环形天线12放射干扰磁场。

此外，作为另一例，也可以是当使用者站在ATM之前时从ATM向卡处理装置100发送起动指令。并且，通过主机接口7接收到该起动指令的控制部2也可以向磁场控制部13发送磁场产生指令，通过磁场产生部11放射干扰磁场。在此情况下，从向卡插入排出口单元10插入卡200前或插入同时，通过磁场产生部11放射干扰磁场。此外，作为另一例，也可以不将干扰磁场停止而总是放射。

并且，如果由卡位置检测传感器6检测到卡200被取入到主体1内，则控制部2通过卡输送部5将卡200输送，并向磁场控制部13发送磁场停止指令。磁场控制部13如果接收到磁场停止指令，则通过磁场产生部11使从环形天线12停止放射干扰磁场。作为另一例，也可以在将干扰磁场放射规定时间后使干扰磁场的放射停止。

然后，通过卡输送部5将卡200输送，通过磁读取部4将卡200的磁信息读取。并且，如果对卡200的处理完成，则通过卡输送部5将卡200穿过卡出入口部1a向卡插入排出口单元10输送，从开口10b向T方向(图2)排出。在该卡排出时，磁场控制部13也可以通过磁场产生部11从环形天线12放射干扰磁场。

此外，当将卡200向卡出入口部插入时，在卡200是IC卡的情况下，如果由卡位置检测传感器6检测到卡200被取入到主体1内，则通过IC触点检测传感器22检测出是IC卡。并且，在卡200是IC卡的情况下，通过IC卡通信部20将记录在插入的IC卡的IC芯片中的信息读入，将该信息向控制部2提供。

(3)IC触点检测和磁场的方向

接着，参照图5对IC触点检测传感器22的输出和干扰磁场的方向进行说明。图5表示IC触点检测传感器受到影响的磁场的方向。

如图5中(a)所示，在IC触点检测传感器22的正交方向220与来自环形天线12的干扰磁场的方向120一致的情况下，对于IC触点检测传感器22的输出，干扰磁场的影响为最大。在此情况下，在IC触点检测传感器22的输出中较大地叠加干扰磁场的变化而输出，IC触点的检测变得困难。

此外，如图5中(b)所示，在IC触点检测传感器22的正交方向220和来自环形天线12的干扰磁场的方向120偏离的情况下，对于IC触点检测传感器22的输出，干扰磁场的影响被稍稍减轻。但是，在此情况下，也在IC触点检测传感器22的输出中叠加了干扰磁场的变化而输出，IC触点的检测变得困难。

但是，如图5中(c)所示，如果IC触点检测传感器22的正交方向与来自环形天线12的干扰磁场的方向接近于正交方向，则对于IC触点检测传感器22的输出，干扰磁场的影响被大幅减轻。在此情况下，叠加在IC触点检测传感器22的输出中的干扰磁场的变化变得很小，IC触点的检测正常地发挥功能。

例如，图6表示安装有环形天线12的情况，该环形天线12对于非法装置的磁头50在照射磁场的方向上有效地产生干扰磁场。在此情况下，由于IC触点检测传感器22受到环形天线12的磁场的影响，所以在总是输出干扰磁场的状态下，IC触点检测传感器22不能正常地动作，不能正确地检测IC卡。

图6所示的IC触点检测传感器22的输出方向与环形天线12的磁场方向的关系和图5中(b)的关系是同样的。在图6中，来自环形天线12的干扰磁场虽然对非法装置的磁头50有效地照射磁场，但干扰IC触点检测传感器22的输出而使IC触点检测传感器22的功能下降。

此外，也可以考虑在IC触点检测传感器22检测IC卡的IC触点时使干扰磁场停止，但在使干扰磁场停止的期间，记录在插入的磁卡的磁条中的磁信息有可能被非法装置非法地取得。

所以，在本实施方式中，如图7所示，将环形天线12安装为使IC触点检测传感器22的输出不受磁场的影响那样的磁场的方向。具体而言，以IC触点检测传感器22的正交方向与来自环形天线12的干扰磁场的方向正交的方式配置。图7所示的IC触点检测传感器22的输出方向与环形天线12的磁场方向的关系和图5中(c)的关系是同样的。

如图7所示，通过配置IC触点检测传感器22和环形天线12，来自环形天线12的干扰磁场能够对非法装置的磁头50有效地照射磁场，并且不干扰IC触点检测传感器的输出而维持IC触点检测传感器22的功能。

此外，图8中，以成为使IC触点检测传感器22不受磁场的影响的磁场的方向的方式将环形天线12以包围卡插入排出口的形式安装。在图8中，以IC触点检测传感器22的正交方向与来自环形天线12的干扰磁场的方向正交的方式配置。在图8中，IC触点检测传感器22的输出方向与环形天线12的磁场方向的关系也和图5中(c)的关系是同样的。

(4)IC触点检测传感器的输出

接着，对除了如上述那样配置IC触点检测传感器22以外、还使IC触点检测传感器22的输出稳定、用来更正确地检测IC触点的方法进行说明。作为第1方法，可以举出将来自环形天线12的干扰磁场的振荡频率和IC触点检测传感器22的振荡频率设为充分远离的值的方法。此外，作为第2方法，可以举出以卡插入检测传感器8的检测为契机而正确地检测IC触点的方法，作为第3方法，可以举出在卡插入排出口单元10中设有异物检测传感器23的情况下将异物检测传感器的振荡频率和IC触点检测传感器的振荡频率设为充分远离的值的方法。通过这些方法，能够实现IC触点检测传感器22的输出的稳定。

首先，关于使IC触点检测传感器22的输出稳定的第1方法，对IC触点检测传感器22的振荡频率和来自环形天线12的干扰磁场的振荡频率进行说明。图9表示来自环形天线12的干扰磁场的振荡频率和IC触点检测传感器22的振荡频率为接近的值的情况。在此情况下，通过干扰磁场的干涉，给IC触点检测传感器22的输出的振幅带来影响，由IC触点检测传感器22实现的IC触点的检测功能不正常地动作。

另一方面，图10表示干扰磁场的振荡频率和IC触点检测传感器22的振荡频率为充分远离的值的情况。在此情况下，能够抑制因干扰磁场的干涉带来的对IC触点检测传感器22的输出的振幅的影响，IC触点检测传感器22的输出的振幅稳定。因而，如图10所示，通过将干扰磁场的振荡频率和IC触点检测传感器22振荡频率设为充分远离的值，能够使由IC触点检测传感器22进行的IC触点的检测正常地动作。

具体而言，在干扰磁场的振荡频率是3.0kHz的情况下，将IC触点检测传感器22的检测IC触点的磁场的振荡频率设为300kHz。这样，使干扰磁场的振荡频率和IC触点检测传感器22振荡频率为充分远离的值，降低了因干扰磁场的干涉带来的对IC触点检测传感器22的输出的振幅的影响。

在本实施方式中，如上述图7所示，以使IC触点检测传感器22为不受磁场的影响那样的磁场的方向的方式安装环形天线12，进而，如图10所示，通过干扰磁场的振荡频率和IC触点检测传感器的振荡频率为充分远离的值，能够进一步降低因干扰磁场的干涉带来的对IC触点检测传感器22的输出的振幅的影响，正常地维持IC触点检测传感器22的IC触点的检测功能。

接着，关于使IC触点检测传感器22的输出稳定的第2方法，对以卡插入检测传感器8的输出为契机来检测IC触点的方法进行说明。

图11表示在卡插入排出口单元10中具备检测微型开关8a的动作的卡插入检测传感器8的情况。当IC卡200被插入到卡插入排出口单元10中时，卡插入检测传感器8检测到由卡200将微型开关8a推下，从而检测出IC卡200的插入。并且，在由卡插入检测传感器8检测出IC卡200的插入后，在IC卡200的IC触点与IC触点检测传感器22接近的位置处安装着IC触点检测传感器22。

如图12所示，通过来自环形天线12的干扰磁场以外的磁场及温度变化等的周围的环境，IC触点检测传感器22的输出的振幅变化。这样，如果IC触点检测传感器22的输出的振幅根据周围环境而变化，则有不能正确地检测IC卡200的IC触点的情况。例如，可以想到有尽管是没有被插入IC卡200的状态但检测到IC卡200、或者尽管被插入了IC卡200但不能检测到IC卡200的情况等。

所以，在本实施方式中，以由上述卡插入检测传感器8检测到卡的插入为契机开始IC触点的检测。即，以卡插入检测传感器8的变化点为基准开始IC触点的检测，由此能够由IC触点检测传感器22正确地检测IC卡200的IC触点。具体而言，如图12所示，将卡插入检测传感器8的检测从“无”变化为“有”的点的振幅作为IC触点检测传感器22的输出的基准值。并且，在振幅相对于该基准值的振幅变化为规定的比例的情况下，判定为有IC触点。

例如，在判定为IC触点检测传感器22的输出相对于基准值的振幅变化为规定的比例的情况下，判定为有IC卡200的IC触点。判定为变化的规定的比例例如也可以设为相对于基准值的振幅为7成。另外，关于IC触点检测传感器22的振幅的基准值，既可以是卡插入检测传感器8的变化点，也可以将比变化点靠前的特定的时刻作为基准，也可以将比变化点靠后的特定的时刻作为基准。

这样，通过以卡插入检测传感器8的变化点为基准，能够不受磁场或温度变化等的周围的环境的影响而正确地判定IC卡200的IC触点的有无。

接着，关于使IC触点检测传感器22的输出稳定的第3方法，对在卡插入排出口单元10中设有异物检测传感器23的情况下的异物检测传感器的振荡频率和IC触点检测传感器的振荡频率进行说明。图13表示在卡插入排出口单元10中具备检测异物的异物检测传感器23的情况。异物检测传感器23具有检测IC触点以外的磁性体的有无的功能，例如，检测被插入到卡插入口中的非法装置等的异物。

在图14中，表示异物检测传感器23的振荡频率和IC触点检测传感器22的振荡频率为接近的值的情况。在此情况下，通过异物检测传感器23的输出的干涉，在IC触点检测传感器22的输出的振幅中出现影响，由IC触点检测传感器22进行的IC触点的检测不正常地动作。

另一方面，图15表示异物检测传感器23的振荡频率和IC触点检测传感器22的振荡频率为充分远离的值的情况。在此情况下，能够抑制因异物检测传感器23的输出的干涉带来的对IC触点检测传感器22的输出的振幅的影响，IC触点检测传感器22的输出的振幅稳定，因而，如图15所示，通过使异物检测传感器23的振荡频率和IC触点检测传感器22的振荡频率为充分远离的值，能够使由IC触点检测传感器22进行的IC触点的检测正常地动作。

具体而言，在异物检测传感器23的振荡频率是100kHz的情况下，使IC触点检测传感器22的检测IC触点的磁场的振荡频率为300kHz。通过这样设定IC触点检测传感器22的振荡频率，降低由上述干扰磁场带来的干涉，还降低了异物检测传感器23的输出的干涉。另外，在图15中，使IC触点检测传感器22的振荡频率为比异物检测传感器23的振荡频率高的频率，但并不限定于这样的例子。只要是不受异物检测传感器23的输出的干涉的范围，也可以使IC触点检测传感器22的振荡频率为比异物检测传感器23的振荡频率低的频率，也可以为大致相同的频率。

另外，关于异物检测传感器23，也与IC触点检测传感器22同样，有受到来自环形天线12的干扰磁场的影响而异物检测传感器23的检测功能下降的情况。例如，在如上述图5中(a)或(b)所示那样使异物检测传感器23的输出与干扰磁场的方向重叠的情况下，与IC触点检测传感器22同样，异物检测传感器23的检测功能下降。

所以，为了防止磁卡的磁信息的非法读取，将异物检测传感器23的输出和干扰磁场的方向设为图5中(c)所示的关系。即，使异物检测传感器23的正交方向与来自环形天线12的干扰磁场的方向为正交方向。由此，相对于异物检测传感器23的输出，干扰磁场的影响被较大地减轻。

具备异物检测传感器23，使异物检测传感器23的检测输出的方向与干扰磁场的方向不重叠而降低干扰磁场的影响，强化了对于由非法装置进行的卡200的磁信息的非法读取的防止。进而，通过使干扰磁场的振荡频率、IC触点检测传感器22的振荡频率和异物检测传感器23的振荡频率分别为不同的频率，能够不相互干涉而维持各装置的功能。

另外，如上述那样，干扰磁场和IC触点检测传感器22的振荡频率为3.0kHz和300kHz等充分远离的值，干扰磁场和异物检测传感器23的振荡频率也同样为充分远离的值。并且，IC触点检测传感器22和异物检测传感器23为300kHz和100kHz，有200kHz左右的差。通过相对于干扰磁场的频率这样设定IC触点检测传感器22及异物检测传感器23的频率，能够降低由干扰磁场带来的干涉，强化对于由非法装置进行的卡200的磁信息的非法读取的防止。

进而，异物检测传感器23与IC触点检测传感器22同样，通过来自环形天线12的干扰磁场以外的磁场或温度变化等的周围的环境，异物检测传感器23的输出的振幅变化。这样，如果异物检测传感器23的输出的振幅根据周围环境而变化，则有不能正确地检测非法装置等的异物的情况。

所以，通过以图11所示的卡插入检测传感器8的变化点为基准，能够由异物检测传感器23正确地检测IC卡200的IC触点。具体而言，如图12所示，将卡插入检测传感器8的检测从“无”变化为“有”的点的振幅作为异物检测传感器23的输出的基准值。并且，在振幅相对于该基准值的振幅变化为规定的比例的情况下判定为被插入了异物。

例如，在判定为异物检测传感器23的输出相对于基准值的振幅变化为规定的比例的情况下，判定为被插入了异物。判定为变化的规定的比例例如也可以相对于基准值的振幅为7成。另外，关于异物检测传感器23的振幅的基准值，既可以是卡插入检测传感器8的变化点，也可以将比变化点靠前的特定的时刻作为基准，也可以将比变化点靠后的特定的时刻作为基准。

这样，通过将卡插入检测传感器8的变化点作为基准，能够不受磁场或温度变化等的周围的环境的影响而正确地判定是否被插入了异物。

(5)本实施方式的效果

根据本实施方式，在卡处理装置100的卡插入排出口单元10中，具备供卡插入及排出的开口、通过环形天线12产生干扰磁场的磁场产生部11、和检测IC卡的IC触点的有无的IC触点检测传感器22，配置IC触点检测传感器22，以使IC触点检测传感器22的检测方向为与来自环形天线12的干扰磁场的磁场方向不重叠的方向，即将IC触点检测传感器22的检测方向设为与干扰磁场的磁场方向正交的方向。由此，能够防止磁卡的磁信息的非法读取，并且不使IC触点检测传感器的性能降低而检测插入的卡是否是具有IC触点的卡。

此外，由于能够检测出被插入的卡是具有IC触点的卡，所以通过将卡插入检测传感器8与IC触点检测传感器22组合，能够防止恶作剧或以非法为目的的不具有IC触点的卡的插入。进而，由于能够检测被插入的卡是否是具有IC触点的卡，所以通过仅在能够IC卡交易时进行IC卡交易处理的动作，从而能够实现IC触点单元的长寿命化。

Claims (15)

1.一种卡插入排出口单元，其特征在于，

具备：

开口，供卡插入及排出；

磁场产生部，产生干扰磁场；以及

IC触点检测传感器，检测IC触点的有无；

以上述IC触点检测传感器的检测方向为与上述干扰磁场的磁场方向不重叠的方向来配置上述IC触点检测传感器。

2.如权利要求1所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

以上述IC触点检测传感器的检测方向为与上述干扰磁场的磁场方向正交的方向来配置上述IC触点检测传感器。

3.如权利要求1所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

上述IC触点检测传感器的检测IC触点的磁场的振荡频率是不被上述干扰磁场的振荡频率干涉的频率。

4.如权利要求3所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

上述IC触点检测传感器的检测IC触点的磁场的振荡频率是比上述干扰磁场的振荡频率高的频率。

5.如权利要求1所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

具备卡插入检测传感器；

上述IC触点检测传感器以通过上述卡插入检测传感器检测到卡的插入为契机开始IC触点的检测。

6.如权利要求5所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

以上述卡插入检测传感器检测到卡的插入之前的时刻、或检测到卡的插入之后的时刻、或检测到卡的插入的时刻的上述IC触点检测传感器的输出为基准值，在上述IC触点检测传感器的输出相对于该基准值变化了规定比例的情况下检测出上述IC卡的IC触点。

7.如权利要求1所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

具备检测上述IC触点以外的磁性体的有无的异物检测传感器；

以上述异物检测传感器的磁性体的检测方向为与上述干扰磁场的磁场方向正交的方向来配置上述异物检测传感器。

8.如权利要求7所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

上述IC触点检测传感器的检测IC触点的磁场的振荡频率是不被上述异物检测传感器的振荡频率干涉的频率。

9.如权利要求7所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

上述IC触点检测传感器的检测IC触点的磁场的振荡频率是比上述异物检测传感器的振荡频率高的频率。

10.如权利要求7所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

上述IC触点检测传感器的检测IC触点的磁场的振荡频率是比上述异物检测传感器的振荡频率低的频率。

11.如权利要求7所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

上述IC触点检测传感器的检测IC触点的磁场的振荡频率与上述异物检测传感器的振荡频率大致相同。

12.如权利要求7所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

上述IC触点检测传感器的检测IC触点的磁场的振荡频率是不被上述干扰磁场的振荡频率及上述异物检测传感器的振荡频率干涉的频率；

上述IC触点检测传感器的频率与上述干扰磁场的振荡频率的差比上述IC触点检测传感器的频率与上述异物检测传感器的振荡频率的差大。

13.如权利要求7所述的卡插入排出口单元，其特征在于，

具备卡插入检测传感器；

上述异物检测传感器以通过上述卡插入检测传感器检测到卡的插入为契机，开始是否被插入了异物的检测。

14.一种卡处理装置，其特征在于，

具有：

磁读取部，在卡处理装置的主体内将记录在卡中的磁信息读取；

卡输送部，在上述卡处理装置的主体内输送卡；

IC卡通信部，在上述卡处理装置的主体内与卡的IC芯片进行通信；以及

卡插入排出口单元，设置于上述卡处理装置的主体的卡出入口部；

上述卡插入排出口单元具备：

开口，供卡插入及排出；

磁场产生部，产生干扰磁场；以及

IC触点检测传感器，检测IC触点的有无；

以上述IC触点检测传感器的检测方向为与上述干扰磁场的磁场方向不重叠的方向来配置上述IC触点检测传感器。

15.一种自动交易装置，其特征在于，

搭载有如权利要求14所述的卡处理装置。