JP6221688B2 - 磁性体解析装置、磁性体解析プログラムおよび磁性体解析方法 - Google Patents

磁性体解析装置、磁性体解析プログラムおよび磁性体解析方法 Download PDF

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Description

本発明は、磁性体解析装置などに関する。
マイクロメートル(μm)以下の小さい領域の磁性体の磁化構造を数値解析する場合、マイクロマグネティクス解析と呼ばれる解析手法が使用される。マイクロマグネティックス解析は、複数の磁化ベクトルを未知数とする磁化ベクトルの歳差運動方程式(LLG方程式)を解いて、磁化ベクトルの時間変化を計算する。この解析手法は時間に依存する過渡計算であり、時間の経過と共に磁化ベクトルが変化する。ここで、磁化ベクトルとは、例えば、マイクロマグネティックス解析において、LLG方程式の未知数であり、有限要素法や有限差分法で扱うメッシュの個々の要素に定義されるベクトルの値のことをいう。
従来のマイクロマグネティックス解析では、磁化ベクトルを保存する時間間隔の値が設定され計算が開始されると、設定された一定の時間間隔で磁化ベクトルのデータを保存する。
特開2005−83764号公報 特開2004−110212号公報 国際公開第2005/057434号
しかしながら、従来のマイクロマグネティックス解析では、一定の時間間隔で磁化ベクトルのデータを保存するので、磁化ベクトルのデータを効率的に保存することができないという問題がある。例えば、磁化ベクトルにおける時間変化の割合が不均一な場合、つまり磁化ベクトルが変化しない時間領域と磁化ベクトルが急激に変化する時間領域とが混在する場合に、磁化ベクトルのデータを効率的に保存することができない。かかる場合の問題について、図8および図9を参照して説明する。
図8は、磁化ベクトルの変化と保存時間間隔が長い場合の保存のタイミングを示す図である。図8に示すように、一定の時間間隔(保存時間間隔)で磁化ベクトルのデータを保存したとすると、短い時間で磁化ベクトルが大きく変化する過程(変化が急激)の磁化ベクトルのデータを十分な数だけ保存することができない。
図9は、磁化ベクトルの変化と保存時間間隔が短い場合の保存のタイミングを示す図である。図9に示すように、一定の時間間隔(保存時間間隔)で磁化ベクトルのデータを保存したとすると、短い時間で磁化ベクトルが大きく変化する過程(変化が急激)の磁化ベクトルを保存することが可能となる。ところが、保存される磁化ベクトルの大部分は変化しない値であるために、多くの磁化ベクトルのデータを無駄に保存してしまう。
なお、上記課題は、マイクロマグネティックス解析だけではなく、時間の経過と共に磁化ベクトルが変化する磁性体解析に同様に生じる課題である。
1つの側面では、磁性体解析で扱われる磁化ベクトルの保存効率を向上することができる磁性体解析装置、磁性体解析プログラムおよび磁性体解析方法を提供することを目的とする。
第1の案では、磁性体解析装置は、磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に配置される磁化ベクトルについて前記期間の間に変化した変化量を算出する算出部と、前記算出部によって前記期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を、前記期間毎に累計する累計部と、前記累計部によって累計された磁化ベクトルの変化量の累計値が、予め定められた変化幅を超えるか否かを判定する判定部と、前記判定部によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを記憶部に記録する記録部と、を有する。
磁性体解析で扱われる磁化ベクトルの保存効率を向上することができる。
図1は、実施例に係る磁性体解析装置の構成を示す機能ブロック図である。 図2は、単位磁化ベクトルと変化量の総和と保存のタイミングを説明する図である。 図3は、結果データの一例を示す図である。 図4は、実施例に係る磁化ベクトル保存処理のフローチャートを示す図である。 図5は、実施例に係る結果出力処理のフローチャートを示す図である。 図6Aは、磁化ベクトル(Y軸成分)の磁化変化の遷移の一例を示す図(1)である。 図6Bは、磁化ベクトル(Y軸成分)の磁化変化の遷移の一例を示す図(2)である。 図7は、磁性体解析プログラムを実行するコンピュータの一例を示す図である。 図8は、磁化ベクトルの変化と保存のタイミングを示す図(保存時間間隔が長い場合)である。 図9は、磁化ベクトルの変化と保存のタイミングを示す図(保存時間間隔が短い場合)である。
以下に、本願の開示する磁性体解析装置、磁性体解析プログラムおよび磁性体解析方法の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下の実施例では、マイクロマグネティックス解析に適用した場合を示す。しかし、本実施例によりこの発明が限定されるものではなく、磁性体解析に広く適用可能である。
図1は、実施例に係る磁性体解析装置の構成を示す機能ブロック図である。図1に示すように、磁性体解析装置1は、入力部10と、表示部20と、記憶部30と、制御部40とを有する。
磁性体解析装置1は、磁性体解析の際、時間の経過と共に変化する磁化ベクトルのデータを、磁化ベクトルの変化量に応じて保存する。すなわち、磁性体解析装置1は、磁化ベクトルの変化が緩い場合、磁化ベクトルのデータを保存する時間間隔を変化量に応じて大きくし、磁化ベクトルの変化が急激な場合、磁化ベクトルのデータを保存する時間間隔を変化量に応じて小さくする。そして、磁性体解析装置1は、保存された磁化ベクトルのデータを、データが保存された時間間隔(保存時間間隔)に基づいて可視化する。ここで、磁化ベクトルとは、マイクロマグネティックス解析において、例えば、有限要素法や有限差分法で扱うメッシュの個々の要素に定義されるベクトルの値のことをいう。なお、実施例で扱う時間とは、磁性体解析のシミュレーション対象となる物理現象の空間における時間である。
入力部10は、解析を行うユーザが各種の情報や指示を磁性体解析装置1に入力するための入力装置である。例えば、入力部10は、キーボード、マウス、タッチパネルに対応する。表示部20は、各種の情報を表示する表示装置である。例えば、表示部20は、ディスプレイ、タッチパネルに対応する。
記憶部30は、例えば、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ(Flash Memory)などの半導体メモリ素子、または、ハードディスク、光ディスクなどの記憶装置である。記憶部30は、メッシュデータ31と、計算条件データ32と、結果データ33とを記憶する。メッシュデータ31は、解析対象となる磁性体の領域を有限要素法や有限差分法により有限個に分割された複数の要素からなるデータである。要素とは、解析対象となる領域を分割した最小単位の領域であり、複数の節点によって構成される。また、計算条件データ32は、磁性体解析の計算条件に関するデータである。計算条件データ32には、例えば、有限要素法や有限差分法で扱うメッシュの個々の要素の数や、後述する変化量幅の値が含まれる。なお、結果データ33のデータの書式は、後述するものとする。
制御部40は、例えば、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)などの集積回路の電子回路に対応する。また、制御部40は、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro Processing Unit)などの電子回路に対応する。そして、制御部40は、各種の処理手順を規定したプログラムや制御データを格納するための内部メモリを有し、これらによって種々の処理を実行する。例えば、制御部40は、磁性体解析処理を実行する。磁性体解析処理は、記憶部30からメッシュデータ31および計算条件データ32を読み込んで計算を開始する。そして、磁性体解析処理は、過渡計算の過程で、メッシュデータ31の各要素に磁化ベクトルを配置し、配置した磁化ベクトルを場のデータとして記憶部30に保存する。
制御部40は、変化量算出部41と、変化量累計部42と、変化量判定部43と、保存部44と、結果出力部45とを有する。
変化量算出部41は、磁性体解析の際に、解析開始から解析終了までの所定の期間を経た時点毎に、解析対象に配置される磁化ベクトルについて当該期間の間に変化した変化量を算出する。ここでいう所定の期間とは、磁性体解析で扱われる時間における時間刻み幅を意味する。例えば、変化量算出部41は、時間刻み幅分経た直後の時刻で、単位磁化ベクトルの変化量を算出する。ここで、単位磁化ベクトルとは、磁化ベクトルを飽和磁束密度で割った値のことをいう。すなわち、単位磁化ベクトルは、磁化ベクトルの大きさを1に規格化したベクトルである。
一例として、変化量算出部41は、式(1)を用いて、時刻iの単位磁化ベクトルの変化量dmsum を算出する。
式(1)で示されるdmsum は、時刻iにおいてメッシュデータ31の全ての要素(または節点など)に配置される単位磁化ベクトルの変化量の絶対値の平均値である。変化量dm は、j番目の要素(または節点など)における単位磁化ベクトルの物理量が時刻i−1と時刻iとの間に変化する量である。変化量dm は、ベクトルを対象とするため、式(2)のように、変化したベクトルの絶対値で表される。
なお、磁化ベクトルを1の大きさに規格化した単位磁化ベクトルを用いることで、変化量を百分率で定義することができる。
式(2)は、x、y、z成分で表現すると、式(3)のように表される。
変化量累計部42は、所定の期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を、所定の期間毎に累計する。例えば、変化量累計部42は、変化量算出部41によって時間刻み分経た直後の時刻で算出された単位磁化ベクトルの変化量を、これまで算出された単位磁化ベクトルの変化量の総和に加算する。一例として、変化量累計部42は、式(4)を用いて、時刻Tまでの単位磁化ベクトルの変化量の総和を算出する。
なお、磁化ベクトルを1の大きさに規格化した単位磁化ベクトルを用いることで、変化量の総和を百分率で定義することができ、式(4)に示す100を掛けることで変化量の総和をパーセント(%)で定義することができる。
変化量判定部43は、磁化ベクトルの変化量の累計値が、変化量幅を超えるか否かを判定する。変化量幅は、保存のタイミングを決めるために用いられる。なお、変化量幅は、予めユーザによって定められる。例えば、変化量判定部43は、変化量累計部42によって各時刻における単位磁化ベクトルの変化量が累計された結果得られた総和が、変化量幅を超えるか否かを判定する。そして、変化量判定部43は、変化量幅を超えると判定した場合、超えた時刻の磁化ベクトルを保存すべく、保存部44に移行する。
また、変化量判定部43は、後述する保存部44によって超えた時刻の磁化ベクトルが保存されると、超えた時刻以降の磁化ベクトルの変化量の累計値が、新たに変化量幅を超えるか否かを判定する。そして、変化量判定部43は、変化量幅を超えると判定した場合、超えた時刻の磁化ベクトルを保存すべく、保存部44に移行する。なお、変化量判定部43は、変化量幅を超えないと判定した場合、次の時刻の磁化ベクトルの変化量を算出すべく、変化量算出部41に移行する。
保存部44は、磁化ベクトルの変化量の累計値が変化量幅を超えた場合に、超えた時刻の磁化ベクトルを結果データ33に保存する。例えば、保存部44は、変化量判定部43によって変化量幅を超えたと判定された場合に、超えた時刻の単位磁化ベクトルおよび前回超えた時刻から今回超えた時刻までの期間を対応付けて結果データ33に保存する。この期間のことを「保存時間間隔」というものとする。
[単位磁化ベクトルを保存するタイミング]
ここで、単位磁化ベクトルを保存するタイミングについて、図2を参照して説明する。図2は、単位磁化ベクトルと変化量の総和と保存のタイミングを説明する図である。図2に示す折れ線グラフは、X軸を時間、Y軸を単位磁化ベクトルの平均値<m>および単位磁化ベクトルの変化量の総和<msum>として表している。実線の曲線は、時間に対応する単位磁化ベクトルの平均値<m>を表している。破線の曲線は、時間に対応して刻々と変化する単位磁化ベクトルの変化量の総和<msum>を表している。
単位磁化ベクトルの変化量の総和<msum>は、式(4)で表される。単位磁化ベクトルの平均値<m>は、時刻iにおいて全ての要素(または節点など)jに配置される単位磁化ベクトルの平均値を、式(5)で表される。
また、変化量の総和の軸に対して一定の間隔で水平の補助線がある。この水平の補助線の間隔が、変化量幅となる。
このような状況の下、変化量判定部43は、変化量累計部42によって各時刻における単位磁化ベクトルの変化量が累計された結果得られた総和が、変化量幅を超えるか否かを判定する。そして、保存部44は、変化量判定部43によって変化量幅を超えたと判定された場合に、超えた時刻の単位磁化ベクトルおよび前回超えた時刻から今回超えた時刻までの期間(保存時間間隔)を対応付けて結果データ33に保存する。
一例として、変化量判定部43は、時刻t1における単位磁化ベクトルの変化量の総和が、変化量幅を超えると判定する(△で表示)。したがって、保存部44は、超えた時刻t1における単位磁化ベクトルおよび計算開始0から今回超えた時刻t1までの保存時間間隔t1を対応付けて結果データ33に保存する。別の一例として、変化量判定部43は、時刻t2における単位磁化ベクトルの変化量の総和が、変化量幅を超えると判定する(▽で表示)。したがって、保存部44は、超えた時刻t2における単位磁化ベクトルおよび前回超えた時刻t1から今回超えた時刻t2までの保存時間間隔(t2−t1)を対応付けて結果データ33に保存する。
すなわち、変化量幅を示す水平の補助線と、変化量の総和の曲線とが交わる点を通過するように垂直の補助線が生成される。生成された垂直の補助線の時間(例えば、t1、t2)が、単位磁化ベクトルを保存する時刻となる。この時刻の垂直の補助線と、単位磁化ベクトルの平均値の曲線との交点(○で表示)が、保存する時刻の単位磁化ベクトルの平均値<m>となる。
これにより、保存部44は、磁化ベクトルが大きく変化しない時間領域(例えば、0〜t1、t3〜)では、磁化ベクトルの値に変化が小さいので磁化ベクトルのデータを無駄に保存することを防止できる。一方、保存部44は、磁化ベクトルが大きく変化する時間領域(例えばt1〜t3)では、磁化ベクトルのデータを十分な数だけ保存することができる。すなわち、保存部44は、磁化ベクトルの変化量に応じて磁化ベクトルのデータを保存することが可能となる。
[計算データの一例]
ここで、保存部44によって保存される結果データ33の一例を、図3を参照して説明する。図3は、結果データ33の一例を示す図である。図3上図には、解析対象となる磁性体のメッシュデータ31が表されている。メッシュデータ31は、解析対象となる磁性体の領域を15個に分割された複数の要素からなる。各要素の中心には、磁化ベクトルが配置される。このモデルを用いた過渡計算の結果データ33には、保存タイミングの時刻毎に15要素分の磁化ベクトルおよび保存時間間隔の情報が保存される。
図3下図には、結果データ33の一例が示される。結果データ33には、ステップd1と、保存時間間隔d2と、要素番号d3と、磁化ベクトルd4とが含まれる。ステップd1は、保存タイミングの時刻毎に保存された情報の識別番号であり、昇順に付与される。保存時間間隔d2は、変化量幅を前回超えた時刻から今回超えた時刻までの期間を示す。要素番号d3は、要素の番号を示す。要素番号d3の各番号は、式(1)〜式(5)のインデックスjの各値に対応する。磁化ベクトルd4は、要素番号d3が示す番号に対応する磁化ベクトルの値を示す。例えば、磁化ベクトルd4は、x成分の値、y成分の値、z成分の値で示される。
一例として、ステップ(Step)d1が「1」である場合、保存時間間隔(SpanT)d2として「0.01201」を記憶している。そして、要素番号d3が「1」である場合、磁化ベクトルd4について、x成分として「000000e+000」、y成分として「000000e+000」、z成分として「000000e+000」を記憶している。要素番号d3が「15」である場合、磁化ベクトルd4について、x成分として「968024e−001」、y成分として「1.832916e−002」、z成分として「7.777536e−002」を記憶している。
図1に戻って、結果出力部45は、記憶部30に保存された結果データ33を用いて、磁化ベクトルを出力する。例えば、結果出力部45は、記憶部30に保存された順に、結果データ33の保存時間間隔だけスリープさせ、保存時間間隔に対応付けた磁化ベクトルを出力する。具体的には、結果出力部45は、磁化ベクトルを連続的に描画するフレームとフレームとの間に、保存時間間隔の係数倍の時間だけスリープさせる。そして、結果出力部45は、メッシュデータ31に含まれる該当するメッシュ上に磁化ベクトルを配置して出力する。これにより、結果出力部45は、磁化ベクトルの実際の物理的挙動に合うように、可視化することができる。
[磁化ベクトル保存処理のフローチャート]
次に、図4を参照して、磁化ベクトル保存処理のフローチャートを説明する。図4は、実施例に係る磁化ベクトル保存処理のフローチャートを示す図である。
まず、制御部40は、解析要求があったか否かを判定する(ステップS10)。解析要求がなかったと判定した場合(ステップS10;No)、制御部40は、解析要求があるまで、判定処理を繰り返す。
一方、制御部40は、解析要求があったと判定した場合(ステップS10;Yes)、制御部40は、変化量幅d、磁化ベクトルが配置される要素の数Nおよび時間ステップの最大数Tを設定する(ステップS11)。例えば、制御部40は、入力部10から入力された、変化量幅、磁化ベクトルが配置される要素の数および時間ステップの最大数をそれぞれの変数に設定する。
続いて、制御部40は、解析に用いられる各変数を初期化する(ステップS12)。例えば、制御部40は、磁化ベクトルの変化量の総和の設定に用いられる変数msumを0に設定する。制御部40は、ステップの設定に用いられるStepを0に設定する。ここでいうステップとは、保存タイミングの時刻毎に設定される識別番号であり、結果データ33のステップd1に対応する。また、制御部40は、解析内での時間の管理に用いられるTimeに0を設定する。制御部40は、前回超えた時刻の設定に用いられるTimeOldに0を設定する。制御部40は、時間ステップの設定に用いられるiに1を設定する。この時間ステップiは、保存時刻に対応するインデックスとなる。制御部40は、時間ステップiが0である場合の全要素jの磁化ベクトルの値mj に0を設定する。
この後、変化量判定部43は、磁化ベクトルの変化量の総和の設定に用いられる変数msumが、ステップの設定に用いられるStepと変化量幅dを乗じて得た値以上であるか否かを判定する(ステップS13)。すなわち、変化量判定部43は、磁化ベクトルの変化量が累計された結果得られた総和が、変化量幅を超えるか否かを判定する。なお、変数msum、すなわち、磁化ベクトルの変化量が累計された結果得られた総和は、変化量累計部42によって算出される。
変数msumが、Stepと変化量幅dを乗じて得た値未満であると判定した場合(ステップS13;No)、変化量判定部43は、時間を進めるべく、ステップS16に移行する。
一方、変数msumが、Stepと変化量幅dを乗じて得た値以上であると判定した場合(ステップS13;Yes)、保存部44は、今回超えた時刻Timeから前回超えた時刻TimeOldを引いた値を保存時間間隔としてSpanTに設定する。そして、保存部44は、前回超えた時刻TimeOldに今回超えた時刻Timeを設定する(ステップS14)。
そして、保存部44は、今回超えた時刻の磁化ベクトルと保存時間間隔SpanTを結果データ33に保存する。加えて、保存部44は、Stepに設定された値を結果データ33に保存する。そして、保存部44は、Stepに1を加算する(ステップS15)。そして、保存部44は、時間を進めるべく、ステップS16に移行する。
ステップS16では、変化量算出部41が、時間管理に用いられる変数Timeに時間刻み幅dTimeを加算する(ステップS16)。
続いて、変化量算出部41は、時間ステップiの磁化ベクトルの変化量dmsumを初期化すべく0に設定する。また、変化量算出部41は、要素jを1に設定する(ステップS17)。そして、変化量算出部41は、時間ステップiの磁化ベクトルの変化量dmsumを、以下のように算出する。すなわち、変化量算出部41は、今回の時間ステップiと前回の時間ステップi−1との要素jにおける磁化ベクトルの変化量の絶対値の平均値をdmsumに加算する。そして、変化量算出部41は、要素jを1だけ加算する(ステップS18)。
そして、変化量算出部41は、要素jが要素の最大数であるN以下であるか否かを判定する(ステップS19)。要素jが要素の最大数であるN以下であると判定した場合(ステップS19;Yes)、変化量算出部41は、次の要素jの変化量を算出すべく、ステップS18に移行する。
一方、要素jが要素の最大数であるNより大きいと判定した場合(ステップS19;No)、変化量累計部42は、時間ステップiの磁化ベクトルの変化量dmsumを磁化ベクトルの変化量の総和msumに加算する。そして、変化量累計部42は、時間ステップiを1だけ加算する(ステップS20)。すなわち、変化量累計部42は、変化量算出部41によって算出された磁化ベクトルの変化量を、これまで算出された磁化ベクトルの変化量の総和に加算する。
そして、変化量累計部42は、時間ステップiが時間ステップの最大数T以下であるか否かを判定する(ステップS21)。時間ステップiが時間ステップの最大数T以下であると判定した場合(ステップS21;Yes)、変化量累計部42は、変化量を判定すべく、ステップS13に移行する。
一方、時間ステップiが時間ステップの最大数T未満であると判定した場合(ステップS21;No)、制御部40は、磁化ベクトル保存処理を終了する。
[結果出力処理のフローチャート]
次に、図5を参照して、結果出力処理のフローチャートを説明する。図5は、実施例に係る結果出力処理のフローチャートを示す図である。
まず、制御部40は、結果出力要求があったか否かを判定する(ステップS30)。結果出力要求がなかったと判定した場合(ステップS30;No)、制御部40は、結果出力要求があるまで、判定処理を繰り返す。
一方、結果出力部45は、結果出力要求があったと判定した場合(ステップS30;Yes)、結果として出力するフレームのフレーム数StepAllおよびフレーム間でスリープさせるために用いられるスリープ係数Sを設定する(ステップS31)。例えば、結果出力部45は、入力部10から入力された、出力するフレーム数およびスリープ係数をそれぞれの変数に設定する。出力するフレーム数として、結果データ33に設定されたステップd1の最大数を超えない数が入力部10から入力される。
続いて、結果出力部45は、結果出力に用いられる変数を初期化する(ステップS32)。例えば、結果出力部45は、出力するフレーム番号として用いられる変数Stepに1を設定する。
そして、結果出力部45は、結果データ33を読み出して、フレーム番号として示されるStepの磁化ベクトルを可視化する。ここでいうStepは、結果データ33のステップd1に対応する。そして、結果出力部45は、結果データ33のステップd1で表される値のうちStepと一致する値の結果について、保存時間間隔d2で表される時間SpanTだけ、Sleep関数を用いて停止させる(ステップS33)。
そして、結果出力部45は、結果データ33のステップd1で表される値のうちStepと一致する値の結果について、要素番号d3分の磁化ベクトルd4を表示部20に表示する(ステップS34)。なお、結果出力部45は、X軸成分、Y軸成分およびZ軸成分のいずれか1つの成分の磁化ベクトルを表示しても良い。また、結果出力部45は、X軸成分、Y軸成分およびZ軸成分のいずれの2つの成分の磁化ベクトルを表示しても良いし、全成分の磁化ベクトルを纏めて表示しても良い。
そして、結果出力部45は、フレーム番号として用いられる変数Stepに1を加算する(ステップS35)。そして、結果出力部45は、変数Stepがフレーム数を示すStepAll以下であるか否かを判定する(ステップS36)。変数Stepがフレーム数を示すStepAll以下であると判定した場合(ステップS36;Yes)、結果出力部45は、次のフレームを出力すべく、ステップS33に移行する。
一方、変数Stepがフレーム数を示すStepAllより大きいと判定した場合(ステップS36;No)、結果出力部45は、結果出力処理を終了する。
[結果出力の一例]
次に、結果出力部45による結果出力の一例を、図6Aおよび図6Bに示す。図6Aおよび図6Bは、磁化ベクトル(Y軸成分)の磁化変化の遷移の一例を示す図である。なお、結果データ33には、複数要素の磁化ベクトルが時間ステップ(ここでは、15個)分設定されているとする。
図6Aおよび図6Bに示すように、結果出力部45は、結果データ33に設定されたStep1の結果を用いて、磁化ベクトルd4のY成分の磁化ベクトルを出力している。Y成分の磁化ベクトルd4は、要素番号d3に設定される全ての番号の要素について出力される。ここでは、結果出力部45は、Step1の結果を用いて、保存時間間隔d2の係数倍の時間だけスリープさせる。そして、結果出力部45は、Y成分の磁化ベクトルを、各要素の中心に配置して出力している。
次に、結果出力部45は、結果データ33に設定されたStep2の結果を用いて、磁化ベクトルd4のY成分の磁化ベクトルを出力している。Y成分の磁化ベクトルd4は、要素番号d3に設定されている全番号の要素について出力される。ここでは、結果出力部45は、Step2の結果を用いて、保存時間間隔d2の係数倍の時間だけスリープさせる。そして、結果出力部45は、Y成分の磁化ベクトルを、各要素の中心に配置して出力している。
このように、結果出力部45は、結果データ33に設定されたステップd1の値が小さい順に、15個の時間ステップ分の磁化ベクトルを出力している。これにより、結果出力部45は、磁化ベクトルの実際の物理的挙動の変化速度に比例して、磁化ベクトルを可視化することができる。
[実施例の効果]
上記実施例によれば、磁性体解析装置1は、磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に配置される磁化ベクトルについて前記期間の間に変化した変化量を算出する。そして、磁性体解析装置1は、期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を、前記期間毎に累計する。そして、磁性体解析装置1は、累計された磁化ベクトルの変化量の累計が、予め定められた変化量幅を超えるか否かを判定する。そして、磁性体解析装置1は、変化量幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを結果データ33として記憶部30に記録する。かかる構成によれば、磁性体解析装置1は、磁化ベクトルの変化量に応じて磁化ベクトルを保存するので、磁化ベクトルの保存効率を向上することができる。すなわち、磁性体解析装置1は、磁化ベクトルの変化が大きく変化しない期間では、磁化ベクトルを無駄に保存することを防止できる。一方、磁性体解析装置1は、磁化ベクトルが大きく変化する期間では、短期間で磁化ベクトルを保存できるので、刻々と変化する磁化ベクトルを保存することが可能となる。
また、磁性体解析装置1は、超えた時点の磁化ベクトルが記憶部30に記録されると、超えた時点以降の磁化ベクトルの変化量の累計が、新たに変化幅を超えるか否かを判定する。そして、磁性体解析装置1は、変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルおよび前回超えた時点から今回超えた時点までの期間を対応付けて記憶部30に記録する。かかる構成によれば、磁性体解析装置1は、磁化ベクトルの変化量に応じて、刻々と変化する磁化ベクトルを保存できる。
また、磁性体解析装置1は、記憶部30に記憶された記録毎の磁化ベクトルおよび期間を用いて、記録された順に、それぞれ期間だけスリープさせ、当該期間に対応付けた磁化ベクトルを出力する。かかる構成によれば、磁性体解析装置1は、記録された順に、それぞれ期間だけスリープさせることで、実際の物理現象の磁場の変化を可視化することができる。
また、磁性体解析装置1は、所定の期間を経た時点毎に、解析対象が分割される各要素に配置される磁化ベクトルの各変化量を用いて、磁化ベクトルの変化量として磁化ベクトルの変化量の絶対値の平均値を算出する。かかる構成によれば、各時点毎に、解析対象が分割される各要素の磁化ベクトルを用いて解析対象における磁化ベクトルの変化量を算出するので、要素の数を増やす程、精度の良い磁化ベクトルの変化量を算出することが可能となる。
[その他]
なお、上記実施例では、磁性体解析装置1は、記憶部30からメッシュデータ31および計算条件データ32を読み込んで計算を開始し、過渡計算の過程で磁化ベクトルの結果データ33を記憶部30に保存すると説明した。しかしながら、磁性体解析装置1は、磁性体解析装置1と接続された記憶装置からメッシュデータ31および計算条件データ32を取得して計算を開始し、過渡計算の過程で磁化ベクトルの結果データ33を記憶部30に保存するようにしても良い。また、磁性体解析装置1は、ネットワークを介してメッシュデータ31および計算条件データ32を受信して計算を開始し、過渡計算の過程で磁化ベクトルの結果データ33を記憶部30に保存するようにしても良い。
また、図示した磁性体解析装置1の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、磁性体解析装置1の分散・統合の具体的態様は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。例えば、変化量算出部41と変化量累計部42とを1つの部として統合しても良い。また、記憶部30を磁性体解析装置1の外部装置としてネットワーク経由で接続するようにしても良い。
また、上記実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、図1に示した磁性体解析装置1と同様の機能を実現する磁性体解析プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図7は、磁性体解析プログラムを実行するコンピュータの一例を示す図である。
図7に示すように、コンピュータ200は、各種演算処理を実行するCPU203と、ユーザからのデータの入力を受け付ける入力装置215と、表示装置209を制御する表示制御部207とを有する。また、コンピュータ200は、記憶媒体からプログラムなどを読取るドライブ装置213と、ネットワークを介して他のコンピュータとの間でデータの授受を行う通信制御部217とを有する。また、コンピュータ200は、各種情報を一時記憶するメモリ201と、HDD205を有する。そして、メモリ201、CPU203、HDD205、表示制御部207、ドライブ装置213、入力装置215、通信制御部217は、バス219で接続されている。
ドライブ装置213は、例えばリムーバブルディスク211用の装置である。HDD205は、磁性体解析プログラム205aおよび磁性体解析関連情報205bを記憶する。
CPU203は、磁性体解析プログラム205aを読み出して、メモリ201に展開し、プロセスとして実行する。かかるプロセスは、磁性体解析装置1の各機能部に対応する。磁性体解析関連情報205bは、メッシュデータ31、計算条件データ32および結果データ33に対応する。そして、例えばリムーバブルディスク211が、磁性体解析プログラム205aなどの各情報を記憶する。
なお、磁性体解析プログラム205aについては、必ずしも最初からHDD205に記憶させておかなくても良い。例えば、コンピュータ200に挿入されるフレキシブルディスク(FD)、CD−ROM、DVDディスク、光磁気ディスク、ICカードなどの「可搬用の物理媒体」に当該プログラムを記憶させておく。そして、コンピュータ200がこれらから磁性体解析プログラム205aを読み出して実行するようにしても良い。
以上の実施例に係る実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に配置される磁化ベクトルについて前記期間の間に変化した変化量を算出する算出部と、
前記算出部によって前記期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を、前記期間毎に累計する累計部と、
前記累計部によって累計された磁化ベクトルの変化量の累計値が、予め定められた変化幅を超えるか否かを判定する判定部と、
前記判定部によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを記憶部に記録する記録部と、
を有することを特徴とする磁性体解析装置。
(付記2)前記判定部は、前記記録部によって超えた時点の磁化ベクトルが前記記憶部に記録されると、超えた時点以降の磁化ベクトルの変化量の累計値が、新たに前記変化幅を超えるか否かを判定し、
前記記録部は、前記判定部によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルおよび前回超えた時点から今回超えた時点までの期間を対応付けて記憶部に記録する
ことを特徴とする付記1に記載の磁性体解析装置。
(付記3)前記記憶部に記憶された記録毎の磁化ベクトルおよび期間を用いて、記録された順に、それぞれ期間だけスリープさせ、当該期間に対応付けた磁化ベクトルを出力する出力部
を有することを特徴とする付記2に記載の磁性体解析装置。
(付記4)前記算出部は、所定の期間を経た時点毎に、解析対象が分割される各要素に配置される磁化ベクトルの各変化量を用いて、磁化ベクトルの変化量として磁化ベクトルの変化量の絶対値の平均値を算出する
ことを特徴とする付記1に記載の磁性体解析装置。
(付記5)コンピュータに、
磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に配置される磁化ベクトルについて前記期間の間に変化した変化量を算出し、
前記算出する処理によって前記期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を、前記期間毎に累計し、
前記累計する処理によって累計された磁化ベクトルの変化量の累計値が、予め定められた変化幅を超えるか否かを判定し、
前記判定する処理によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを記憶部に記録する
処理を実行させることを特徴とする磁性体解析プログラム。
(付記6)コンピュータが、
磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に配置される磁化ベクトルについて前記期間の間に変化した変化量を算出し、
前記算出する処理によって前記期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を、前記期間毎に累計し、
前記累計する処理によって累計された磁化ベクトルの変化量の累計値が、予め定められた変化幅を超えるか否かを判定し、
前記判定する処理によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを記憶部に記録する
各処理を実行することを特徴とする磁性体解析方法。
1 磁性体解析装置
10 入力部
20 表示部
30 記憶部
31 メッシュデータ
32 計算条件データ
33 結果データ
40 制御部
41 変化量算出部
42 変化量累計部
43 変化量判定部
44 保存部
45 結果出力部

Claims (5)

  1. 磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に含まれる複数の要素に配置される磁化ベクトルを用いて、前記期間の間に変化した磁化ベクトルの変化量を算出する算出部と、
    前記算出部によって前記期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を複数の期間で累計する累計部と、
    前記時点毎に前記累計部によって複数の期間で累計された磁化ベクトルの変化量の累計値が、予め定められた変化幅を超えるか否かを判定する判定部と、
    前記判定部によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを記憶部に記録する記録部と、
    を有することを特徴とする磁性体解析装置。
  2. 前記判定部は、前記記録部によって超えた時点の磁化ベクトルが前記記憶部に記録されると、超えた時点以降の磁化ベクトルの変化量の累計値が、新たに前記変化幅を超えるか否かを判定し、
    前記記録部は、前記判定部によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルおよび前回超えた時点から今回超えた時点までの期間を対応付けて記憶部に記録する
    ことを特徴とする請求項1に記載の磁性体解析装置。
  3. 前記記憶部に記憶された記録毎の磁化ベクトルおよび期間を用いて、記録された順に、それぞれ期間だけスリープさせ、当該期間に対応付けた磁化ベクトルを出力する出力部
    を有することを特徴とする請求項2に記載の磁性体解析装置。
  4. コンピュータに、
    磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に含まれる複数の要素に配置される磁化ベクトルを用いて、前記期間の間に変化した磁化ベクトルの変化量を算出し、
    前記算出する処理によって前記期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を複数の期間で累計し、
    前記時点毎に前記累計する処理によって複数の期間で累計された磁化ベクトルの変化量の累計値が、予め定められた変化幅を超えるか否かを判定し、
    前記判定する処理によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを記憶部に記録する
    処理を実行させることを特徴とする磁性体解析プログラム。
  5. コンピュータが、
    磁性体解析の際に、所定の期間を経た時点毎に、解析対象に含まれる複数の要素に配置される磁化ベクトルを用いて、前記期間の間に変化した磁化ベクトルの変化量を算出し、
    前記算出する処理によって前記期間毎に算出されたそれぞれの磁化ベクトルの変化量を複数の期間で累計し、
    前記時点毎に前記累計する処理によって複数の期間で累計された磁化ベクトルの変化量の累計値が、予め定められた変化幅を超えるか否かを判定し、
    前記判定する処理によって前記変化幅を超えたと判定された場合に、超えた時点の磁化ベクトルを記憶部に記録する
    各処理を実行することを特徴とする磁性体解析方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6384189B2 (ja) * 2014-08-13 2018-09-05 富士通株式会社 磁化解析装置、磁化解析方法および磁化解析プログラム
US20170108469A1 (en) * 2015-06-29 2017-04-20 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. System and method for characterizing ferromagnetic material
US9910108B2 (en) * 2016-06-27 2018-03-06 Daniel Clyde Ross Real-time magnetic field camera
JP7047617B2 (ja) * 2018-06-19 2022-04-05 富士通株式会社 磁界シミュレーションプログラム、情報処理装置および磁界シミュレーション方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09101276A (ja) * 1995-10-02 1997-04-15 Shimadzu Corp デ−タ処理装置
JP2005340300A (ja) * 2004-05-24 2005-12-08 Sony Corp 磁気メモリ装置及びその製造方法
JP2007213384A (ja) * 2006-02-10 2007-08-23 Fujitsu Ltd マイクロ磁化解析プログラム、方法及び装置
JP5136558B2 (ja) * 2007-09-04 2013-02-06 富士通株式会社 データ記録プログラム、データ記録装置およびデータ記録方法
JP5470819B2 (ja) * 2008-11-28 2014-04-16 富士通株式会社 空間データの出力処理方法、そのプログラム及びデータ処理システム
JP5412982B2 (ja) * 2009-06-23 2014-02-12 富士通株式会社 磁界解析装置および磁界解析プログラム
JP5589665B2 (ja) * 2010-08-18 2014-09-17 富士通株式会社 解析装置、解析プログラムおよび解析方法
US8242868B2 (en) * 2010-09-17 2012-08-14 Apple Inc. Methods and apparatus for configuring a magnetic attachment system
JP6105222B2 (ja) * 2012-07-20 2017-03-29 任天堂株式会社 情報処理プログラム、情報処理装置、情報処理システム、および、姿勢算出方法

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