JP6221524B2 - 成膜装置及び治具 - Google Patents
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Description
図1に示すように、第1実施形態に係る成膜装置1は、処理容器2、真空ポンプ3、ガス供給部5、及び制御部6等から構成されている。処理容器2は、ステンレス等の金属製であって、気密構造の処理容器である。真空ポンプ3は、圧力調整バルブ7を介して処理容器2の内部を真空排気可能なポンプである。処理容器2の内部には、成膜対象である導電性を有する被加工材料8が、ステンレスや低温焼戻し鋼等で形成された導電性を有する保持治具9により保持されている。保持治具9は本発明の治具の一例である。
通常、表面波励起プラズマを発生させる場合、ある程度以上の電子(イオン)密度におけるプラズマと、これに接する誘電体との界面に沿ってマイクロ波が供給される。供給されたマイクロ波は、この界面に電磁波のエネルギーが集中した状態で表面波として伝播される。その結果、界面に接するプラズマは高エネルギー密度の表面波によって励起され、さらに増幅される。これにより高密度プラズマが生成されて維持される。ただし、この誘電体を導電性材料に換えた場合、導電性材料は表面波の導波路としては機能せず、好ましい表面波の伝播及びプラズマ励起を生ずることはできない。
図2に示すように、温度測定領域92は、保持治具9の外周面に、例えば、正面視略四角形に窪むように形成される。放射温度計29の測定方向93に対して垂直な平面部95が、測定面として正面視略四角形の窪みの底面に形成されている。保持治具9は、被加工材料8の外径とほぼ等しい外径の円柱状に形成されているため、温度測定領域92は被加工材料8の延長線上に沿って設けられている。
図6に示すように、放射率が0.2である物体表面の表面温度を測定した場合には、約180℃の温度誤差が生じている。従って、放射温度計29の放射率を0.9に設定して、成膜処理中における保持治具9の温度測定領域92の表面温度を測定する際、温度測定領域92にDLC膜と同等の放射率を有する皮膜が形成されていない場合には、約180度の温度誤差を生じる可能性がある。
従って、温度測定領域92の平面部95に、DLC膜や炭化ケイ素、NiO、CuO等の皮膜を、厚さ0.5μm以上の厚さで、全面に渡って予め形成する。そして、放射温度計29の放射率を0.9に設定して成膜処理中の温度測定領域92の表面温度を測定した場合には、表面温度の温度誤差を10℃以下にすることが可能となる。
次に、第2実施形態に係る成膜装置41について図7に基づいて説明する。尚、以下の説明において上記図1乃至図6の第1実施形態に係る成膜装置1の構成等と同一符号は、第1実施形態に係る成膜装置1の構成等と同一あるいは相当部分を示すものである。
第2実施形態に係る成膜装置41の概略構成は、第1実施形態に係る成膜装置1とほぼ同じ構成である。
次に、第3実施形態に係る成膜装置51について図8に基づいて説明する。尚、以下の説明において上記図1乃至図6の第1実施形態に係る成膜装置1の構成等と同一符号は、第1実施形態に係る成膜装置1の構成等と同一あるいは相当部分を示すものである。
第3実施形態に係る成膜装置51の概略構成は、第1実施形態に係る成膜装置1とほぼ同じ構成である。
2 処理容器
5 ガス供給部
6 制御部
8 被加工材料
9 保持治具
11 マイクロ波パルス制御部
12 マイクロ波発振器
13 マイクロ波電源
15 負電圧電源
16 負電圧パルス発生部
22 マイクロ波供給口
25 負電圧電極
27 石英窓
29 放射温度計
52 負電圧印加治具
92 温度測定領域
95 平面部
95A 皮膜
Claims (7)
- 導電性を有する被加工材料を内部に配置可能な処理容器と、
前記処理容器に原料ガスと不活性ガスとを供給するガス供給部と、
前記被加工材料の処理表面に沿ってプラズマを生成させるためのマイクロ波を供給するマイクロ波供給部と、
前記被加工材料の処理表面に沿うシース層を拡大させる負のバイアス電圧を前記被加工材料に印加する負電圧印加部と、
前記マイクロ波供給部から供給されるマイクロ波を拡大された前記シース層へ伝搬させるマイクロ波供給口と、
前記負電圧印加部によって印加される負のバイアス電圧を前記被加工材料に印加させる負電極部材と、
前記マイクロ波供給口と前記負電極部材との少なくとも一方と、前記被加工材料との間に配置されて、前記被加工材料に取り付けられる治具と、
前記処理容器に設けられた窓部の外側に配置された放射温度計と、
を備え、
前記被加工材料に取り付けられる前記治具のうち、少なくとも一の前記治具は、前記放射温度計によって測定される温度測定領域を有し、
前記放射温度計によって測定される前記温度測定領域の測定面は、前記被加工材料の処理表面に成膜される皮膜の放射率、又は前記皮膜の放射率に対して±0.1内の放射率を有することを特徴とする成膜装置。 - 前記温度測定領域は、前記マイクロ波供給口と前記被加工材料との間に配置される前記治具に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。
- 前記温度測定領域は、前記被加工材料の延長線上に沿って設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の成膜装置。
- 前記治具の前記マイクロ波の進行方向に垂直な方向の断面外周形状が、前記被加工材料の前記垂直な方向の断面外周形状と同じであることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の成膜装置。
- 前記温度測定領域は、前記放射温度計の測定方向に対して垂直な平面部を有していることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の成膜装置。
- 前記皮膜は、ダイヤモンドライクカーボン膜であることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の成膜装置。
- 導電性を有する被加工材料を内部に配置可能な処理容器と、
前記処理容器に原料ガスと不活性ガスとを供給するガス供給部と、
前記被加工材料の処理表面に沿ってプラズマを生成させるためのマイクロ波を供給するマイクロ波供給部と、
前記被加工材料の処理表面に沿うシース層を拡大させる負のバイアス電圧を前記被加工材料に印加する負電圧印加部と、
前記マイクロ波供給部から供給されるマイクロ波を拡大された前記シース層へ伝搬させるマイクロ波供給口と、
前記負電圧印加部によって印加される負のバイアス電圧を前記被加工材料に印加させる負電極部材と、
前記処理容器に設けられた窓部の外側に配置された放射温度計と、
を備え、
前記負電極部材は、前記放射温度計によって測定される温度測定領域を有し、
前記放射温度計によって測定される前記温度測定領域の測定面は、前記被加工材料の処理表面に成膜される皮膜の放射率、又は前記皮膜の放射率に対して±0.1内の放射率を有することを特徴とする成膜装置。
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- 2013-09-02 JP JP2013181391A patent/JP6221524B2/ja active Active
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