JP6202904B2 - 被検体情報取得装置、レーザ装置およびその制御方法 - Google Patents

被検体情報取得装置、レーザ装置およびその制御方法 Download PDF

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Description

本発明は、レーザ光を用いて被検体の測定を行う被検体情報取得装置に関する。
パルスレーザ光を被検体に照射し、当該光に起因して被検体内部から発生した音響波を受信し、解析することで被検体内部の情報を画像化する光音響装置が医療分野で研究されている。また、パルスレーザ光を発生させる光源として、フラッシュランプ励起によるレーザ装置が広く用いられている。
フラッシュランプ励起によるレーザ装置は、特許文献1に記載されているように、フラッシュランプ、トリガ回路、シマー回路、メイン回路を含んでいる。
トリガ回路は、放電していないフラッシュランプに対して、数kVの高い電圧を印加することで電極間の絶縁破壊を発生させ、放電を開始させる回路である。また、シマー回路は、シマー放電(主放電をスムーズに行うための予備放電)を行う電流を供給する回路である。
メイン回路は、フラッシュランプを発光させるためのパルス電流を供給する回路である。シマー放電中に大電流パルスを供給することで、短い応答時間でパルス光を発光させることができる。本明細書では、パルス電流を供給するメイン回路をPFN(Pulse Forming Network)と呼ぶ。
レーザ装置は、このような、フラッシュランプを駆動するための回路の他に、Qスイッチやチラーといった周辺回路と、これらを制御する制御回路を含んでいる。さらに、レーザ装置が光音響装置の一部として組み込まれている場合には、制御回路が、光音響装置全体の制御を行うシステム制御装置と通信して協調動作する構成になっている。
このように、高電圧回路を含む複数の回路ないしシステムが協調して動作する場合、ノイズに起因する異常動作を引き起こさないよう、ノイズ対策を万全にする必要がある。例えば、特許文献2には、高電圧によるノイズによって制御回路が異常動作をするのを防ぐため、電源線にシールドを施し、電源線の間にノイズフィルタを介挿するレーザ装置の構成が開示されている。さらに、信号線の耐ノイズ性を向上させるため、信号線を光ケーブルに置き換える構成が開示されている。
特開2001−60732号公報 特開平4−37178号公報
レーザ装置においては、前述したように、高電圧回路から発生したノイズが、他の回路に悪影響を与えるおそれがある。例えば、特許文献1に記載されたレーザ装置では、トリガ回路やPFNから発生したノイズが、制御回路の入出力に悪影響を与えるおそれがある。一方、ノイズを避けるための構成として、特許文献2に記載されたようなシールドやフィルタが一般的に用いられているが、このようなノイズ対策を施すと装置構成が複雑になり、装置の高コスト化を招いてしまう。
本発明はこのような従来技術の課題に鑑みてなされたものであり、レーザ励起光源の駆動によって発生するノイズの影響を抑えた被検体情報取得装置を提供することを目的とす
る。
上記課題を解決するために、本発明に係る被検体情報取得装置は、
レーザ光を発するレーザ媒質に対する励起光を発生させるフラッシュランプの駆動を行う電源回路を制御するレーザ制御手段と前記レーザ光が照射されることにより被検体内で発生する音響波を受信する音響波探触子と、前記レーザ制御手段および前記音響波探触子を制御し、前記受信した音響波に基づいて、前記被検体内の情報を取得する測定制御手段と、を有し、前記測定制御手段は、前記フラッシュランプの発光開始時刻および放電開始時刻の少なくとも一方において、前記レーザ制御手段との入出力を停止することを特徴とする。
また、本発明の第一の形態に係るレーザ装置は、
フラッシュランプから発生した励起光によって発生するレーザ光に関する制御を少なくとも行う周辺回路と、前記フラッシュランプを駆動する電源回路および前記周辺回路を制
御する制御手段と、を有するレーザ装置であって、前記制御手段は、前記フラッシュランプの発光開始時刻において、前記周辺回路との入出力を停止することを特徴とする。
また、本発明の第二の形態に係るレーザ装置は、
フラッシュランプから発生した励起光によって発生するレーザ光に関する制御を少なくとも行う周辺回路と、前記フラッシュランプを駆動する電源回路および前記周辺回路を制御する制御手段と、を有するレーザ装置であって、前記制御手段は、前記フラッシュランプの放電開始時刻において、前記周辺回路の入出力を停止することを特徴とする。
また、本発明に係るレーザ装置の制御方法は、
フラッシュランプから発生した励起光によって発生するレーザ光に関する制御を少なくとも行う周辺回路と、前記フラッシュランプを駆動する電源回路および前記周辺回路を制御する制御手段と、を有するレーザ装置の制御方法であって、前記フラッシュランプの放電開始時刻および発光開始時刻の少なくとも一方において、前記制御手段と前記周辺回路との間の通信を停止することを特徴とする。
また、本発明に係る音響波取得装置は、
レーザ光を発するレーザ媒質に対する励起光を発生させるフラッシュランプの駆動を制御するレーザ制御手段と、前記レーザ光が照射されることにより被検体内で発生する音響波を受信する音響波探触子と、前記レーザ制御手段および前記音響波探触子を制御する制御手段と、を有し、前記制御手段は、前記フラッシュランプに供給される電流が所定の値を超えた場合に、前記レーザ制御手段との入出力を停止することを特徴とする。
本発明によれば、レーザ励起光源の駆動によって発生するノイズの影響を抑えた被検体情報取得装置を提供することができる。
第一の実施形態に係るレーザ装置の構成図。 第一の実施形態におけるレーザ制御処理を表すフローチャート図。 第一の実施形態におけるイグニッション処理のフローチャート図。 第一の実施形態におけるイグニッション時のタイミングチャート図。 第一の実施形態におけるレーザ射出処理のフローチャート図。 第一の実施形態におけるレーザ射出時のタイミングチャート図。 第一の実施形態における入出力処理を表すフローチャート図。 第二の実施形態に係る光音響測定装置の構成図。 第二の実施形態におけるレーザ射出処理のフローチャート図。 第二の実施形態におけるレーザ射出命令発行処理のフローチャート図。
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、同一の構成要素には原則として同一の参照番号を付して、説明を省略する。
(第一の実施形態)
<システム構成>
第一の実施形態に係るレーザ装置は、フラッシュランプによってレーザ媒質を励起させ、パルスレーザを生成する装置である。
図1を参照しながら、第一の実施形態に係るレーザ装置100の構成を説明する。
第一の実施形態に係るレーザ装置100は、CPU101、トリガ回路102、シマー回路103、PFN104、フラッシュランプ105、レーザロッド106、メモリ107、表示部108、入力部109を有している。また、チラー回路110、Qスイッチ回路111、光量計回路113を有している。符号112は信号線(バス)である。
以下、各構成要素について説明する。
レーザロッド106は、レーザ光を発生させる媒質(レーザ媒質)が封入されたロッドである。例えば、レーザ光を発生させる媒質として広く利用されているものに、イットリウムとアルミニウムの複合酸化物からなるYAGがある。YAGは単結晶であってもよいし、セラミックスであってもよい。YAGセラミックスとは、YAG微結晶を固めて作られた多結晶体である。また、レーザロッドは、YAG以外の結晶を用いたものであってもよい。
レーザロッド106の両端には光学研磨されたミラーである共振器が配置されており、励起したレーザ光を増幅させ、射出口から射出できる構成となっている。
フラッシュランプ105は、レーザ媒質を励起させるための光源である。フラッシュランプは、レーザロッド106を囲むようにして配置することが好ましい。光源がレーザロッドを囲むことにより、レーザロッド全体に励起光を均一に照射することができ、レーザの励起効率を高めることができる。
フラッシュランプは、ガラス管の中にキセノンやクリプトンなどの不活性ガスを封入し、両端に電極を配置したものである。特に、キセノンガスを封入したキセノンフラッシュランプは、高い輝度を得られるものとして広く利用されている。
トリガ回路102、シマー回路103、PFN104は、フラッシュランプの駆動を行う手段であり、本発明における電源回路である。トリガ回路102、シマー回路103、PFN104は、それぞれ電源線を介してフラッシュランプ105に接続されている。
トリガ回路102は、フラッシュランプ105に高電圧をかけ、放電を開始させる手段である。フラッシュランプの定格電圧は数十〜数百Vであるが、定格電圧を印加しただけでは放電しない。そこで、トリガ回路102が、フラッシュランプの両電極間に数kVの高電圧(トリガ電圧)を印加することで、電極間の絶縁破壊を発生させ、放電を開始させる。放電を開始させることをイグニッションと呼び、イグニッションを行うトリガ回路はイグナイタとも呼ばれる。
シマー回路103は、予め設定された一定の電流(シマー電流)をフラッシュランプ105に流す手段である。シマー電流は、フラッシュランプ105の迅速な発光を実現するために予め流される微弱な電流である。トリガを用いてフラッシュランプを発光させる場合、フラッシュランプにその都度高電圧を印加してイグニッションを行わなければならない。これに対して、一度イグニッションを行った後、シマー電流を流しておけば、フラッシュランプの放電状態を維持することができるため、高電圧を印加せずとも、即座にランプを発光させることができるようになる。この予備放電をシマー放電と呼ぶ。
PFN104は、パルス回路であり、パルス電流を供給することでフラッシュランプを発光させる手段である。前述したように、フラッシュランプにてシマー放電が行われている場合、パルス電流を供給することで、任意のタイミングでランプを発光させることができる。PFN104は、内蔵されたコンデンサに電荷を蓄え、一気に放電することで大電流パルスをランプに供給する。
次に、周辺回路について説明する。周辺回路とは、レーザ装置に必要な回路であって、フラッシュランプの発光とは直接の関係がない回路である。周辺回路は、励起光によって発生するレーザ光に関する制御を行う回路であり、発生したレーザを増幅する装置や、レーザ光の射出を制御する装置などである。また、レーザ媒質やフラッシュランプを冷却する装置であってもよい。本実施形態では、チラー回路110、Qスイッチ回路111、光量計回路113である。
チラー回路110は、レーザロッド106とフラッシュランプ105を冷却し、一定温度に保つ手段である。具体的には、冷却水を循環させてレーザロッドおよびフラッシュランプに対する冷却を行う。
Qスイッチ回路111は、ジャイアントパルスを得るためのQスイッチを制御する手段である。Qスイッチは、固体レーザにおいて、共振器内の光損失を制御することでパルスの高出力化を図る技術であり、既知のものであるため詳細な説明は省略する。
また、光量計回路113は、射出されたレーザの光量を計測する手段である。
レーザ装置が有するその他の手段について説明する。
メモリ107は、Qスイッチ回路111や、その他の回路に設定するパラメータを保存する手段であり、典型的にはEEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)である。メモリ107には、例えばトリガ電圧やパルス間隔など、レーザ
装置の制御に必要な情報が予め記憶されている。
表示部108は、利用者に装置の状態を通知する手段であり、典型的にはLED等のランプや、液晶ディスプレイ等で構成される。
入力部109は、利用者が行った操作を取得する手段であり、典型的にはスイッチやボタンで構成される。入力部109は、利用者から、レーザのイグニッション開始や、レーザ射出の命令を取得することができる。なお、表示部108および入力部109は、タッチパネルディスプレイ等を用いて一体化してもよい。
CPU101は、レーザ装置が有する各回路を制御する制御手段である。CPU101は、I2Cバス112を介して、トリガ回路102、シマー回路103、PFN104、チラー回路110、Qスイッチ回路111、光量計回路113、メモリ107、表示部108、入力部109と接続されている。I2C(Inter-Integrated Circuit)バスとは、組込みシステムで主に用いられているシリアルバスである。
<レーザ制御処理>
次に、第一の実施形態に係るレーザ装置が行う処理の詳細を、CPU101の処理フローチャートである図2および図3を参照しながら説明する。
レーザ装置の電源が投入されると、まず、イグニッション処理を実行する(ステップS201)。イグニッション処理は、レーザ装置を起動させる処理であり、前述したように、フラッシュランプにトリガ電圧を印加し、放電を開始させた後にシマー放電に移行する処理である。
シマー放電が開始された後は、利用者からの入力があるまで待機する(ステップS202)。そして、入力された内容が、レーザ射出命令であった場合はステップS204に遷移し、終了命令であった場合は終了する。
ステップS204では、指定した数のパルスレーザ(例えば1秒間かけてパルスを20回発光)を射出するレーザ射出処理を行い、その後、ステップS202に戻って再び利用
者からの命令を待つ。
次に、ステップS201で行うイグニッション処理の詳細について説明する。
図3は、CPU101が行うイグニッション処理のフローチャートである。イグニッション処理は、利用者が入力部109を通してイグニッション開始を指示すると開始される。
まず、メモリ107から、トリガ回路102に設定する電圧値を読み込む(ステップS301)。
次に、シマー回路103を起動する(ステップS302)。これにより、シマー電流をフラッシュランプに供給する準備が行われる。
次に、入出力可能フラグをOFFにする(ステップS303)。入出力可能フラグとは、周辺回路に対する入出力を許可するフラグである。CPU101は、周辺回路に対して制御を行うためのスレッドを複数持っているが、入出力可能フラグは、全てのスレッドにおいて共有される。すなわち、入出力可能フラグがOFFである場合、CPU101から周辺回路に対して行われる全ての入出力が停止する。
次に、トリガ回路102を起動し、ステップS301で読み込んだ電圧をフラッシュランプに印加する(ステップS304)。
ここで、イグニッション処理においてCPU101が入出力を停止すべき期間について、図4を参照しながら説明する。図4は、イグニッション時のフラッシュランプ105の両端にかかる電圧、フラッシュランプ105に流れる電流、CPU101の入出力タイミングの関係を表した図である。なお、CPUの入出力タイミングは、電圧や電流ではなく、入出力が行われているタイミングをブロックで表している。
符号401は、CPU101がトリガ回路102を起動するタイミング、すなわち、ステップS304を実行したタイミングを表す。
トリガ回路が起動すると、ランプの両電極にかかる電圧が上昇していき、絶縁破壊が起こると電極間で放電が発生する(符号402、本発明における放電開始時刻)。一度絶縁破壊が発生すると、シマー回路103によって電流が維持され、放電が継続する。符号403は、シマー電流が安定した時刻を表す。すなわち、イグニッション処理の完了時刻である。
放電が発生する瞬間、フラッシュランプ105の両電極にかかる電圧が急激に変動し、ノイズが発生する。このノイズは、CPUと周辺回路との間の通信を妨害する要因となる。
符号402のタイミングで発生するノイズの影響を回避するためには、当該時刻において、CPUと周辺回路との間で行われる入出力を停止すればよい。本実施形態では、トリガ回路の起動(符号401)から、シマー放電が開始される(符号403)までの期間において、入出力を停止する。入出力の停止期間(本発明における所定の期間)は、少なくとも、放電開始時刻を含んでいればよい。本実施形態では、入出力の停止期間は約15ミリ秒である。なお、ノイズの影響を回避することができれば、当該期間の長さは変更してもよい。
処理の説明を続ける。
ステップS305では、シマー回路103から送信される、イグニッションの完了通知を待つ。イグニッションの完了通知は、シマー電流が安定した後、もしくは、予め定められたタイムアウト時間後にシマー回路103から送信される。
ステップS306では、CPU101が当該通知を検知して、入出力可能フラグをONにする。
次に、シマー回路103からイグニッション処理の実行結果を取得する(ステップS3
07)。シマー回路103は、シマー電流が正常に流れている場合は真を返し、正常に流れていない場合は偽を返す。この結果、取得した結果が真であった場合は処理を終了させ、偽であった場合は、ステップS303に処理を遷移させ、イグニッション処理をやり直す(ステップS308)。
以上、ステップS201で行うイグニッション処理について説明した。次に、ステップS204で行うレーザ射出処理について説明する。
図5は、CPU101が行うレーザ射出処理のフローチャートである。レーザ射出処理は、利用者が入力部109を通してレーザ射出指示を行った場合に開始される。本実施形態では、発光周波数が20Hzであるパルスレーザを1秒間射出する。
まず、メモリ107から、Qスイッチ回路111に設定する電圧値、およびPFN104に設定する電圧値を読み込む。また、レーザが正常に射出されたかをチェックする際に用いる、光量の適正範囲を読み込む(ステップS501)。
次に、ステップS501で読み込んだ電圧値をQスイッチ回路111に設定する(ステップS502)。
次に、ステップS501で読み込んだ電圧値をPFN104に設定し、PFN104に対して、内蔵されたコンデンサへの充電開始を指示する(ステップS503)。
ステップS504では、PFN104から送信される、充電完了通知を待つ。充電完了通知は、充電が完了した後にPFN104から送信される。
ステップS505では、CPU101が当該通知を検知して、入出力可能フラグをOFFにする。これにより、CPU101から周辺回路に対して行われる全ての入出力が停止する。
ここで、レーザ射出処理においてCPU101が入出力を停止すべき期間について、図6を参照しながら説明する。
図6は、PFN104に内蔵されたコンデンサに蓄えられた電荷、フラッシュランプ105に流れる電流、CPU101の入出力タイミングの関係を表した図である。
符号601は、PFN104が充電を開始するタイミング、すなわち、ステップS503を実行したタイミングを表す。
PFNが充電を開始すると、コンデンサに蓄えられた電荷が上昇していき、規定値になると充電完了となる(符号602)。そして、放電が開始されると(符号603)、フラッシュランプ105が発光する。この際、フラッシュランプ105に流れる電流が急激に変動し、ノイズが発生する。フラッシュランプに大電流が流れるのは、約100マイクロ秒間である。
放電開始のタイミングで発生するノイズの影響を回避するためには、当該時刻において、CPUと周辺回路との間で行われる入出力を停止すればよい。本実施形態では、PFNが放電を開始する直前(符号603)から、放電が完了するまで(符号604)の期間において、入出力を停止する。符号603から符号604までの時間は1ミリ秒である。
なお、符号603で表したタイミングが本発明における発光開始時刻である。
また、本例では、入出力の停止期間を1ミリ秒としたが、ノイズの影響を回避することができれば、時間は変更してもよい。好ましくは、電流が安定するまで入出力を停止するとよい。
処理の説明を続ける。
ステップS506では、PFN104に対して、コンデンサの放電開始を命令する。
そして、ステップS507で1ミリ秒だけスリープし、その後、入出力可能フラグをONにする(ステップS508)。
次に、光量計回路113を介して、射出されたレーザの光量を取得し(ステップS509)、当該光量が、ステップS501で予め取得した適正範囲にあるかを判断する(ステップS510)。この結果、適正な光量の範囲であった場合はステップS511へ遷移し
、適正範囲外であった場合はステップS512へ遷移する。ステップS512では、表示部108を通して、光量が異常である旨のエラー表示を行う。
ステップS511では、ステップS502からS511までの処理時間が50ミリ秒になるようにウェイトを挿入する。そして、20回分のパルスレーザを射出したかどうか判断し(ステップS513)、完了していたら処理を終了させる。未完了である場合は、処理をステップS502に遷移させ、同様の処理を繰り返す。
次に、入出力可能フラグを参照する側のスレッドの処理について説明する。
図7は、CPU101における定期入出力スレッドの処理フローチャート例である。定期入出力スレッドは、レーザ装置の電源が入っている間、繰り返し実行される。すなわち、図3および図5の処理とは別に、独立したタイミングで実行される。ここでは、チラー回路に対して異常監視を行うスレッドを例に説明するが、他の回路に対する処理と読み替えてもよい。
まず、監視の間隔を表す値をメモリ107から読み込む(ステップS701)。次に、ステップS701で読み込んだ時間(本実施形態では50ミリ秒)だけスリープする(ステップS702)。次に、スレッド間で共有しているフラグである入出力可能フラグを参照し、もしOFFであれば、ONになるまで待機する(ステップS703)。
入出力可能フラグがONであれば、処理はステップS704に進み、チラー回路110からエラーの有無を取得する。そして、ステップS704で取得したエラーの有無に基づき、予め定められたパターンで表示部108に表示を出力し(ステップS705)、処理はステップS702に戻る。
以上説明したように、本発明の第一の実施形態によれば、放電開始または発光開始のタイミングでCPUが入出力を一時的に停止することで、高電圧または大電流に起因して発生するノイズの影響を防ぐことができる。なお、CPUが入出力を停止する期間は、イグニッション時において約15ミリ秒、レーザの射出時において約1ミリ秒であるため、他の処理に大きく影響しない。
なお、実施形態の説明では、入出力可能フラグを設定することで、CPU101から周辺回路に対して行う入出力を停止したが、CPU101に対する入出力を禁止する旨の通知を、CPU101から周辺回路に対して送信するようにしてもよい。
(第二の実施形態)
第二の実施形態は、第一の実施形態に係るレーザ装置を、光音響イメージング装置の一部に組み込んだ実施形態である。
光音響イメージング装置とは、被検体に光を照射し、当該光に起因して発生した音響波を解析することで、被検体内部の情報を取得する装置(被検体情報取得装置)である。
パルスレーザ光などの計測光を被検体である生体に照射すると、計測光が被検体内の生体組織で吸収される際に音響波が発生する。光音響イメージング装置では、この音響波(典型的には超音波)を受信し、解析することにより、被検体内部の光学特性に関連した情報を画像化することができる。
光音響イメージング装置(以下、光音響測定装置)は、レーザ装置を内蔵しているため、当該レーザ装置にて発生したノイズが、装置の制御を行うコンピュータに影響するおそれがある。本実施形態は、これを避けるため、レーザ装置にてノイズの発生が見込まれる場合に、当該コンピュータが行う入出力を一時的に停止する実施形態である。
図8は、第二の実施形態に係る光音響測定装置200の構成図である。本実施形態に係る光音響測定装置200は、レーザ装置100およびシステム制御装置201を含む。
レーザ装置100の構成は、入力部109および表示部108を有さないという点を除き、第一の実施形態と同様である。第二の実施形態では、CPU101が本発明におけるレーザ制御手段である。
また、システム制御装置201は、レーザ装置、音響センサ、信号処理装置などを含めた、光音響測定装置のシステム全体を制御するコンピュータであり、本発明における測定制御手段である。なお、光音響イメージング装置自体は公知なものであるため、レーザ装置100およびシステム制御装置201以外の構成要素については、図示および詳細な説明を省略する。光音響測定装置200は、例えば、レーザ光に起因して被検体内で発生した音響波を受信する音響波探触子や、当該音響波に基づいて、被検体内の光学特性に関連する情報を生成する再構成手段などを含んでおり、システム制御装置201がこれらを制御する。
システム制御装置201とCPU101は、信号線120で接続されており、相互に通信することができる。例えば、システム制御装置201は、レーザ装置(CPU101)に対して、レーザのイグニッション開始や、レーザ射出、レーザ停止の命令を送信することができる。
第二の実施形態において、レーザ装置(CPU101)が行う、全体処理(図2)、イグニッション処理(図3)、レーザ射出処理(図5)についての、第一の実施形態との相違点を説明する。
第二の実施形態では、レーザ装置の制御に関する命令が入力部109ではなくシステム制御装置201から送信されるという点、および、入出力の停止が周辺回路だけでなく、システム制御装置201にも及ぶという点において第一の実施形態と相違する。具体的な例を、レーザ射出処理を挙げて説明する。なお、全体処理およびイグニッション処理についての相違点も同様であるため、当該処理についての説明は省略する。
図9は、CPU101が行うレーザ射出処理(ステップS204)のフローチャートである。ここでは、第一の実施形態(図5)と異なるステップのみを説明する。
レーザ射出処理は、システム制御装置201からレーザ射出命令を受信した際に実行が開始される。また、システム制御装置201からレーザ停止命令を受信すると実行を終了する。
ステップS805では、システム制御装置201に対して通信不可通知を送信する。通信不可通知とは、装置間の通信が禁止される旨を通知する信号である。入出力可能フラグが、レーザ装置100の内部でのみ有効なのに対して、通信不可通知は装置の外部に送信される。
また、ステップS810で、システム制御装置201に対して通信許可通知を送信する。通信許可通知は、装置間の通信が可能となった旨を通知する信号である。本実施形態における通信許可通知および通信不可通知は、第一の実施形態における入出力可能フラグと連動しており、そのタイミングは、図4および図6に示したタイミングと同様である。システム制御装置201は、各通知を受信して内部で状態を保持し、現在、通信許可状態であるか、通信不可状態であるかを判断する。
ステップS815では、システム制御装置201からレーザ停止命令を受信したかを判断する。レーザ停止命令を受信していた場合、処理をステップS816に遷移させ、受信していない場合は、処理をステップS802へ遷移させる。ステップS816では、システム制御装置120に対してレーザ発光が停止した旨の通知を送信する。
図10は、システム制御装置201が、レーザ装置100に対してレーザ射出命令を発行する処理のフローチャートである。まず、ステップS821で、CPU101に対してレーザ射出命令を送信する。ここでは、発光周波数が20Hzであるパルスレーザを射出
する命令を送信するものとする。
次に、1秒スリープする(ステップS822)。本実施形態では、パルスレーザ光の発光周波数は20Hzであるため、この間にパルスレーザ光が20回発光する。
そして、ステップS823で、通信許可状態になるまで待つ。なお、すでに通信許可状態である場合は、すぐに次のステップを開始する。
そして、ステップS824で、CPU101に対してレーザ発光を停止する命令を送信し、ステップS825で、CPU101からレーザ発光が停止した旨の通知が送信されるのを待つ。図10の処理は、必要に応じて繰り返される。
本発明の第二の実施形態によれば、レーザ光源を内蔵した光音響測定装置のように、レーザ装置が他の装置と協働するような形態であっても、第一の実施形態と同様に、高電圧または大電流に起因して発生するノイズの影響を防ぐことができる。また、通信不可通知を装置の外部に送信することで、装置間の入出力を停止させることができる。
なお、第二の実施形態では、レーザ装置100とシステム制御装置201の間の通信を例示したが、システム制御装置201は、光音響測定装置が有する他のデバイスに対して通信を行ってもよい。この場合も、通信許可状態である場合にのみ通信を行い、そうでない場合は通信許可状態になるまで待機するようにしてもよい。
また、本実施形態では、スリープ時間を1秒としたが、例えば、システム制御装置が利用者からの入力を受け付けることで、所望の時間だけレーザを射出させるようにしてもよい。また、所望のパターンでレーザを射出させるようにしてもよい。
(変形例)
なお、各実施形態の説明は本発明を説明する上での例示であり、本発明は、発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更または組み合わせて実施することができる。例えば、本発明は、上記処理の少なくとも一部を含む、被検体情報取得装置やレーザ装置として実施することもできる。また、当該被検体情報取得装置やレーザ装置の制御方法として実施することもできる。また、当該レーザ装置を有する、その他の装置として実施することもできる。上記処理や手段は、技術的な矛盾が生じない限りにおいて、自由に組み合わせて実施することができる。
また、イグニッション時における入出力の停止期間は、ランプの両電極にかかっている電圧が急激に変動する時刻を含んでいれば、例示した期間以外であってもよい。また、レーザ射出時における入出力の停止期間は、ランプに流れる電流が急激に変動する時刻を含んでいれば、例示した期間以外であってもよい。例えば、電圧または電流が所定値以下となった時刻を停止期間の終期としてもよいし、電圧または電流の単位時間あたりの変動幅が所定値以下となった時刻を停止期間の終期としてもよい。その期間は、トリガ回路の容量や、PFNが生成するパルスの幅などに応じて適宜設定すればよい。
また、実施形態の説明では、レーザ装置の制御手段としてCPUを用いたが、制御手段は、FPGAや専用に設計されたハードウェアを用いて実現してもよい。また、実施形態の説明では、信号線112としてI2Cバスを用いた例を挙げたが、これ以外の既知のインタフェースを用いてもよい。例えば、SPI(Serial Peripheral Interface)や、P
CI(Peripheral Component Interconnect)バスなどを利用してもよい。同様に、信号
線120には、USB(Universal Serial Bus)やローカルエリアネットワークなど、既知の通信路を用いてもよい。
また、記憶装置に記録されたプログラムを読み込み実行することで前述した実施形態の機能を実現するシステムや装置のコンピュータ(又はCPU、MPU等のデバイス)によっても、本発明を実施することができる。また、例えば、記憶装置に記録されたプログラ
ムを読み込み実行することで前述した実施形態の機能を実現するシステムや装置のコンピュータによって実行されるステップからなる方法によっても、本発明を実施することができる。
この目的のために、上記プログラムは、例えば、ネットワークを通じて、又は、上記記憶装置となり得る様々なタイプの記録媒体(つまり、非一時的にデータを保持するコンピュータ読取可能な記録媒体)から、上記コンピュータに提供される。したがって、上記コンピュータ(CPU、MPU等のデバイスを含む)、上記方法、上記プログラム(プログラムコード、プログラムプロダクトを含む)、上記プログラムを非一時的に保持するコンピュータ読取可能な記録媒体は、いずれも本発明の範疇に含まれる。
100・・・レーザ装置、101・・・CPU、102・・・トリガ回路、103・・・シマー回路、104・・・PFN、105・・・フラッシュランプ、201・・・システム制御装置

Claims (16)

  1. レーザ光を発するレーザ媒質に対する励起光を発生させるフラッシュランプの駆動を行う電源回路を制御するレーザ制御手段と
    前記レーザ光が照射されることにより被検体内で発生する音響波を受信する音響波探触子と、
    前記レーザ制御手段および前記音響波探触子を制御し、前記受信した音響波に基づいて、前記被検体内の情報を取得する測定制御手段と、
    を有し、
    前記測定制御手段は、前記フラッシュランプの発光開始時刻および放電開始時刻の少なくとも一方において、前記レーザ制御手段との入出力を停止する
    ことを特徴とする、被検体情報取得装置。
  2. 前記レーザ制御手段は、前記測定制御手段との入出力を停止する場合に、前記測定制御手段に対して入出力を禁止する命令を送信し、
    前記測定制御手段は、前記命令に基づいて、前記フラッシュランプの発光開始時刻および前記放電開始時刻の少なくとも一方を含む所定の期間における入出力を停止する
    ことを特徴とする、請求項1に記載の被検体情報取得装置。
  3. 前記測定制御手段が前記入出力を停止する期間の終期は、前記フラッシュランプに印加されている電圧または前記フラッシュランプに流れている電流が所定値以下となった時刻である
    ことを特徴とする、請求項1または2に記載の被検体情報取得装置。
  4. 前記フラッシュランプと、前記電源回路と、をさらに有する
    ことを特徴とする、請求項1から3のいずれか1項に記載の被検体情報取得装置。
  5. フラッシュランプから発生した励起光によって発生するレーザ光に関する制御を少なくとも行う周辺回路と、
    前記フラッシュランプを駆動する電源回路および前記周辺回路を制御する制御手段と、
    を有するレーザ装置であって、
    前記制御手段は、前記フラッシュランプの発光開始時刻において、前記周辺回路との入出力を停止する
    ことを特徴とするレーザ装置。
  6. 前記電源回路は、
    予備放電を行うための電圧を発生させるシマー回路と、
    前記フラッシュランプを発光させるためのパルス電流を発生させるパルス回路と、からなり、
    前記制御手段が前記入出力を停止する期間の終期は、前記フラッシュランプに流れている電流が所定値以下となった時刻である
    ことを特徴とする、請求項5に記載のレーザ装置。
  7. 前記制御手段は、前記周辺回路との入出力を停止する場合に、前記周辺回路に対して入出力を禁止する命令を送信し、
    前記周辺回路は、前記命令に基づいて、前記フラッシュランプの発光開始時刻を含む所定の期間における前記制御手段との入出力を停止する
    ことを特徴とする、請求項5または6に記載のレーザ装置。
  8. フラッシュランプから発生した励起光によって発生するレーザ光に関する制御を少なくとも行う周辺回路と、
    前記フラッシュランプを駆動する電源回路および前記周辺回路を制御する制御手段と、
    を有するレーザ装置であって、
    前記制御手段は、前記フラッシュランプの放電開始時刻において、前記周辺回路との入出力を停止する
    ことを特徴とするレーザ装置。
  9. 前記電源回路は、
    予備放電を行うための電圧を発生させるシマー回路と、
    前記予備放電を開始させるためのトリガ電圧を発生させるトリガ回路と、からなり、
    前記制御手段が前記入出力を停止する期間の終期は、前記フラッシュランプに印加されているトリガ電圧が所定値以下となった時刻である
    ことを特徴とする、請求項8に記載のレーザ装置。
  10. 前記制御手段は、前記周辺回路との入出力を停止する場合に、前記周辺回路に対して入出力を禁止する命令を送信し、
    前記周辺回路は、前記命令に基づいて、前記フラッシュランプの放電開始時刻を含む所定の期間における前記制御手段との入出力を停止する
    ことを特徴とする、請求項8または9に記載のレーザ装置。
  11. フラッシュランプから発生した励起光によって発生するレーザ光に関する制御を少なくとも行う周辺回路と、
    前記フラッシュランプを駆動する電源回路および前記周辺回路を制御する制御手段と、
    を有するレーザ装置の制御方法であって、
    前記フラッシュランプの放電開始時刻および発光開始時刻の少なくとも一方において、前記制御手段と前記周辺回路との間の通信を停止する
    ことを特徴とする、レーザ装置の制御方法。
  12. 前記制御手段と前記周辺回路との間の通信を停止する場合に、前記周辺回路に対して入出力を禁止する命令を送信し、
    前記周辺回路は、前記命令に基づいて、前記フラッシュランプの発光開始時刻および前記放電開始時刻の少なくとも一方を含む所定の期間における入出力を停止する
    ことを特徴とする、請求項11に記載のレーザ装置の制御方法。
  13. 前記通信を停止する期間の終期は、前記フラッシュランプに印加されている電圧または前記フラッシュランプに流れている電流が所定値以下となった時刻である
    ことを特徴とする、請求項11または12に記載のレーザ装置の制御方法。
  14. レーザ光を発するレーザ媒質に対する励起光を発生させるフラッシュランプの駆動を制御するレーザ制御手段と、
    前記レーザ光が照射されることにより被検体内で発生する音響波を受信する音響波探触子と、
    前記レーザ制御手段および前記音響波探触子を制御する制御手段と、を有し、
    前記制御手段は、前記フラッシュランプに供給される電流が所定の値を超えた場合に、前記レーザ制御手段との入出力を停止する
    ことを特徴とする、音響波取得装置。
  15. 前記レーザ制御手段は、前記制御手段との入出力を停止する場合に、前記制御手段に対して入出力を禁止する命令を送信し、
    前記制御手段は、前記命令に基づいて、前記フラッシュランプに供給される電流が所定の値を超えた場合における入出力の停止を実行する
    ことを特徴とする、請求項14に記載の音響波取得装置。
  16. 前記制御手段が前記入出力を停止する期間の終期は、前記フラッシュランプに印加されている電圧または前記フラッシュランプに流れている電流が所定値以下となった時刻である
    ことを特徴とする、請求項14または15に記載の音響波取得装置。
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EP0713613B1 (en) * 1993-02-23 1999-11-03 Electro Optic Systems Pty. Limited Laser adaptable to lightweight construction
JP3088057B2 (ja) * 1993-12-22 2000-09-18 ミヤチテクノス株式会社 フラッシュランプ用トリガ回路
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