JP6189134B2 - 電子レベル - Google Patents
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Description
尚、全てのパターンが等間隔pで繰返されているので、この間隔に対応した信号を基準信号とし、該基準信号を基に視準高さを取得することができる。
又、前記テーブル部28を右測定範囲確認位置に回転させ、前記照準ピン22,23の間から前記照準合わせピン24を覗込み照準を合わせることで、前記測定可能範囲27の右端を確認できる。
2 電子レベル本体
3 照準器
5 標尺
15 視準光学系
21 テーブル部
22,23 照準ピン
24 照準合わせピン
25 左測定範囲確認ピン
26 右測定範囲確認ピン
27 測定可能範囲
28 テーブル部
Claims (3)
- 標尺に刻印されたパターンからの反射光を受光し、視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を求める電子レベルであって、該電子レベルは電子レベル本体と、該電子レベル本体に収納され前記標尺を視準する視準光学系と、前記電子レベル本体の上面に設けられた照準器とを具備し、該照準器は、テーブル部と、該テーブル部上面の周縁部に隣接して設けられた2本の照準ピンと、前記テーブル部上面の前記照準ピンと対向する周縁部に設けられた照準合わせピンと、該照準合わせピンから円周方向に所定距離だけ離れた位置に設けられた2本の測定範囲確認ピンとを有し、前記照準器は少なくとも2方向を照準可能であり、前記照準ピン間の中点に対して2本の前記測定範囲確認ピンが成す角度は前記視準光学系の画角と一致又は略一致することを特徴とする電子レベル。
- 標尺に刻印されたパターンからの反射光を受光し、視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を求める電子レベルであって、該電子レベルは電子レベル本体と、該電子レベル本体に収納され前記標尺を視準する視準光学系と、前記電子レベル本体の上面に設けられた照準器とを具備し、該照準器は、基準位置から左右方向に所定角度だけ回転可能に設けられたテーブル部と、該テーブル部上面の周縁部に隣接して設けられた2本の照準ピンと、前記テーブル部上面の前記照準ピンと対向する周縁部に設けられた照準合わせピンとを有し、前記照準器は少なくとも2方向を照準可能であり、前記照準ピン間の中点に対して、前記基準位置から左右方向に所定角度回転させた前記照準合わせピンが成す角度は前記視準光学系の画角と一致又は略一致することを特徴とする電子レベル。
- 前記照準ピンと前記照準合わせピンとは円錐形状である請求項1又は請求項2の電子レベル。
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