JP6177010B2 - 捺印シンボル検査方法、捺印シンボル検査装置、及び電子機器 - Google Patents
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Description
まず、捺印シンボル検査装置は、検査対象の電子部品の捺印シンボルを含む検査領域の画像を取得する(ステップS1)。この検査領域の画像は、捺印シンボル検査装置の内部又は外部に設けられる撮像装置により撮像される。
〔捺印シンボル検査システム〕
図1に、本発明の第1の実施形態における捺印シンボル検査システムの構成例を示す。図1の捺印シンボル検査システムは、電子機器としての電子部品に捺印されたシンボルを検査し、検査結果に応じて電子部品を良品又は不良品に振り分ける。
図2に、捺印シンボル検査装置100の構成例のブロック図を示す。
捺印シンボル検査装置100は、画像取得部110と、マスターパターン登録部120と、マスターパターン記憶部130と、パターン比較部140と、分割数設定部150と、良否判定部160と、基準値設定部170とを備えている。
第1の実施形態では、全分割領域で共通の基準値を用いて良否判定を行っていたが、本発明に係る実施形態は、これに限定されるものではない。第2の実施形態では、分割領域毎に異なる基準値を設定して良否判定を行う。
第1の実施形態又は第2の実施形態では、各分割領域における比較結果を同じ重み付けで扱っていたが、本発明に係る実施形態は、これに限定されるものではない。第3の実施形態では、分割領域に応じて比較結果に重み付けした評価値に基づいて良否判定を行う。
H=k1×P1+k2×P2 ・・・(1)
第1の実施形態〜第3の実施形態では、撮像画像を上下に2つに分割する例を説明したが、本発明に係る実施形態は、これに限定されるものではない。第4の実施形態では、撮像画像を左右に(垂直方向に)2つに分割するものとする。第4の実施形態における捺印シンボル検査装置の動作は、第1の実施形態と同様である。
第1の実施形態〜第4の実施形態では、撮像画像を2つの等面積の領域に分割する例を説明したが、本発明に係る実施形態は、これに限定されるものではない。第5の実施形態では、撮像画像を2つの非等面積の領域に分割するものとする。第5の実施形態における捺印シンボル検査装置の動作は、第1の実施形態と同様である。
第1の実施形態〜第5の実施形態では、分割領域内の全画素が1つの領域内に配置される例を説明したが、本発明に係る実施形態は、これに限定されるものではない。第6の実施形態では、分割領域内の画素が、互いに分離した複数の領域に分かれて配置されている。第6の実施形態における捺印シンボル検査装置の動作は、第1の実施形態と同様である。
第1の実施形態〜第6の実施形態では、撮像画像を2つの領域に分割していたが、本発明に係る実施形態は、撮像画像の分割数に限定されるものではない。第7の実施形態では、撮像画像を3つの領域に分割するものとする。
40…電子部品、 100,100b…捺印シンボル検査装置、
110…画像取得部、 120…マスターパターン登録部、
130…マスターパターン記憶部、 140…パターン比較部、
150…分割数設定部、 160,160b…良否判定部、
170,170b…基準値設定部、 180b…評価値算出部、 190b…係数設定部
Claims (11)
- 電子機器の捺印シンボルを検査する捺印シンボル検査方法であって、
前記捺印シンボルを含む画像を取得する画像取得ステップと、
前記画像を分割した複数の分割領域のうち少なくとも2つの分割領域のそれぞれにおいて、分割領域内の分割画像と当該分割領域に対応したマスターパターンとを比較するパターン比較ステップと、
前記パターン比較ステップにおける各分割領域の比較結果に基づいて前記捺印シンボルの良否判定を行う良否判定ステップと、を含み、
前記分割領域内の分割画像が有する画素数と、当該分割領域に対応した前記マスターパターンが有する画素数と、は同一であり、
前記パターン比較ステップは、
各分割領域内の分割画像と前記マスターパターンとの間において、当該分割領域内の画素毎に、所定レベル以上の輝度値を有する画素が、対応する前記マスターパターンの画素位置に存在するか否かを判別することによって、各画素の一致又は不一致を決定し、
前記良否判定ステップは、
分割領域毎に設定される基準値を基準として、各分割領域内の分割画像と前記マスターパターンとの一致率に基づいて、前記捺印シンボルの良否判定を行うことを特徴とする捺印シンボル検査方法。 - 前記良否判定ステップは、
各分割領域に共通の基準値を基準として、各分割領域内の分割画像と前記マスターパターンとの一致率に基づいて、前記捺印シンボルの良否判定を行うことを特徴とする請求項1に記載の捺印シンボル検査方法。 - 前記良否判定ステップは、
各分割領域内の分割画像と前記マスターパターンとの一致率を重み付けすることにより得られた結果に基づいて、前記捺印シンボルの良否判定を行うことを特徴とする請求項1に記載の捺印シンボル検査方法。 - 前記複数の分割領域を構成する各分割領域は、等面積であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の捺印シンボル検査方法。
- 前記複数の分割領域は、少なくとも2種類の面積を有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の捺印シンボル検査方法。
- 前記画像は、検査対象の前記捺印シンボルに応じて等分又は非等分の複数の分割領域に分割されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の捺印シンボル検査方法。
- 前記複数の分割領域は、前記画像の垂直方向に分割された領域であること特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の捺印シンボル検査方法。
- 前記複数の分割領域は、前記画像の水平方向に分割された領域であること特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の捺印シンボル検査方法。
- 電子機器の捺印シンボルを検査する捺印シンボル検査装置であって、
前記捺印シンボルを含む画像を分割した複数の分割領域のうち少なくとも2つの分割領域のそれぞれにおいて、分割領域内の分割画像と当該分割領域に対応したマスターパターンとを比較するパターン比較部と、
前記パターン比較部による比較結果に基づいて前記捺印シンボルの良否判定を行う良否判定部と、を含み、
前記分割領域内の分割画像が有する画素数と、当該分割領域に対応した前記マスターパターンが有する画素数と、は同一であり、
前記パターン比較部は、
各分割領域内の分割画像と前記マスターパターンとの間において、当該分割領域内の画素毎に、所定レベル以上の輝度値を有する画素が、対応する前記マスターパターンの画素位置に存在するか否かを判別することによって、各画素の一致又は不一致を決定するものであり、
前記良否判定部は、
分割領域毎に設定される基準値を基準として、各分割領域内の分割画像と前記マスターパターンとの一致率に基づいて、前記捺印シンボルの良否判定を行うものであることを特徴とする捺印シンボル検査装置。 - 前記画像を前記複数の分割領域に分割する分割数に対応した情報が設定される分割数設定部を含み、
前記パターン比較部は、
前記分割数設定部に設定された前記分割数に対応した情報に基づいて、前記画像を分割することを特徴とする請求項9に記載の捺印シンボル検査装置。 - 請求項1乃至8のいずれか1項に記載の捺印シンボル検査方法によって前記捺印シンボルが検査されることを特徴とする電子機器。
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