JP6137270B2 - 光測定装置 - Google Patents

光測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6137270B2
JP6137270B2 JP2015210387A JP2015210387A JP6137270B2 JP 6137270 B2 JP6137270 B2 JP 6137270B2 JP 2015210387 A JP2015210387 A JP 2015210387A JP 2015210387 A JP2015210387 A JP 2015210387A JP 6137270 B2 JP6137270 B2 JP 6137270B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample tube
light
measurement
sample
receiving hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2015210387A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017083244A (ja
JP2017083244A5 (ja
Inventor
亨介 山根
亨介 山根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ushio Denki KK
Original Assignee
Ushio Denki KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ushio Denki KK filed Critical Ushio Denki KK
Priority to JP2015210387A priority Critical patent/JP6137270B2/ja
Priority to TW105124996A priority patent/TWI671518B/zh
Priority to PCT/JP2016/077226 priority patent/WO2017073196A1/ja
Publication of JP2017083244A publication Critical patent/JP2017083244A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6137270B2 publication Critical patent/JP6137270B2/ja
Publication of JP2017083244A5 publication Critical patent/JP2017083244A5/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Description

本発明は、例えば吸光度測定器や蛍光測定器などの光測定装置に関する。
近年、ライフサイエンス分野では、吸光度測定器や蛍光測定器などの光測定装置に対する要請として、ポイントオブケア検査に用いることなどを目的に、小型で持ち運びが容易であることが求められている。
例えば特許文献1には、励起光を試料ケース内の測定試料に照射する固体光源と、蛍光を検出する蛍光測定器と、測定試料から放出される蛍光を蛍光測定器に導光する蛍光収集光学系とが、励起光および蛍光を含む光に対して透明な樹脂内に埋設された構造を有する蛍光測定器が記載されている。この蛍光測定器においては、試料ケースとして先端がテーパー状とされたPCRチューブが用いられ、PCRチューブは、前記樹脂によって構成された筐体における試料ケース挿入部に挿入されてセッティングされる。
特開2014−032064号公報
液体状の測定試料が入れられる試料チューブは、様々なサイズや形状のものが知られている。例えば目標試料注入量が例えば0.2ml(PCR用)、1.5ml、2.0mlなどのものがある。このため、特許文献1に記載の蛍光測定器においては、試料チューブの測定器本体に対する設置状態は、使用される試料チューブ毎に異なったものとなる。また、試料チューブには、製造上不可避的に発生する公差があるため、同型式の試料チューブを使用した場合であっても、測定器本体に対する設置状態は異なったものとなりえる。
試料チューブの設置状態が変わると、光源からの光が測定試料を透過する距離である測定光路長が変わることとなり、同一濃度の分析試料について同一の光測定器を使用した場合であっても、測定結果に差が生じるおそれがある。
本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、使用される試料チューブの形状やサイズに拘わらず、測定光路長を実質的に一定の大きさとすることができて、高い測定精度を得ることのできる光測定装置を提供することを目的とする。
本発明の光測定装置は、底部に向かうに従って外径が次第に小さくなるテーパー部を有する試料チューブを受容する円錐台状の試料チューブ受容用穴部と、当該試料チューブ受容用穴部に配置された試料チューブに対する測定用光の入射用開口および当該試料チューブからの検出用光の出射用開口が当該試料チューブ受容用穴部の内周面における互いに対向する位置に開口する導光路空間とを有する構造体を備えており、
前記試料チューブ受容用穴部の内周面に、前記入射用開口が形成されたレベルにおいて前記試料チューブのテーパー部の外周面に当接して当該試料チューブの挿入位置を前記構造体に対して位置決めする突起部を有することを特徴とする。
本発明の光測定装置においては、前記突起部が、前記導光路空間内を通過する測定用光の光軸のレベル位置に位置されていることが好ましい。
本発明の光測定装置によれば、試料チューブの試料チューブ受容用穴部に対する挿入位置が突起部によって構造体に対して位置決めされるので、使用される試料チューブの形状やサイズに拘わらず、測定光路長を実質的に一定の大きさとすることができ、高い精度の測定結果を得ることができる。
本発明の光測定装置に係る構造体の一例における構成の概略を示す断面図である。 図1におけるPQRS包囲部分を示す拡大図である。 本発明の光測定装置に係る構造体の他の例における要部の構成を概略的に示す断面図である。 図3におけるA−A線断面図である。
本発明の光測定装置は、持ち運びが容易な小型なものとして構成されており、例えば、試料チューブ内に収容された液体状の測定試料における測定対象物質の濃度などを測定するためなどに用いられるものである。以下においては、本発明の光測定装置について、吸光度測定器として構成されたものを例に挙げて説明する。測定対象物質としては、例えば大腸菌、タンパク質、ポリメラーゼ連鎖反応(PCR)によって増幅されて得られたDNA、色素などを例示することができる。
本発明の光測定装置は、試料チューブを受容する試料チューブ受容用穴部と、試料チューブ受容用穴部に配置された試料チューブに対する測定用光の入射用開口および当該試料チューブからの検出用光の出射用開口が試料チューブ受容用穴部の内周面における互いに対向する位置に開口する導光路空間とを有する構造体を備えている。
試料チューブ45は、例えばマイクロチューブなどであって、底部に向かうに従って外径が小さくなるテーパー部46を有するものである(図1参照。)。
図1は、本発明の光測定装置に係る構造体の一例における構成の概略を示す断面図である。図2は、図1におけるPQRS包囲部分を示す拡大図である。
この構造体10は、光源部20および受光部25が導光路形成部材11によって保持されると共に試料ブラケット30が導光路形成部材11に設けられて構成されている。
導光路形成部材11は、例えばブロック状であって、円柱状の導光路空間12を形成する底面に対して水平に延びる貫通孔13と、上面に開口する底部に向かって小径となる円錐台状の空間部を形成する中央貫通孔16とを有する。中央貫通孔16の中心軸は、貫通孔13の中心軸と直交している。
導光路形成部材11は、例えば光吸収性を有する材料により構成されていることが好ましく、特に、試料チューブから出射される検出用光以外の光に対して吸収性を有する弾性材料により構成されていることが好ましい。これにより、導光路空間12の壁面において検出用光以外の光の反射、散乱を抑制することができて、受光部25に対して検出用光のみを入射させることができる。
光吸収性を有する弾性材料としては、具体的には、カーボンブラックやカーボンナノチューブなどが分散された、黒色のポリジメチルシロキサン(PDMS)などのシリコーン樹脂を好ましく用いることができる。
導光路形成部材11における貫通孔13の一端には、光源部20が配置されており、貫通孔13の他端には、受光部25が配置されている。
光源部20は、基板21と、基板21に設けられた光源22とにより構成されている。光源22は、導光路形成部材11における導光路空間12内において、その光軸が導光路空間12の中心軸と同軸上に位置された状態で、設けられている。光源22としては、例えば白色光を放射する白色LEDなどを用いることができる。
受光部25は、センサ基板26と、センサ基板26に設けられた受光センサ27とにより構成されている。受光センサ27は、導光路形成部材11における導光路空間12内において受光面が光源22と対向する状態で設けられている。受光センサ27としては、例えばRGBカラーセンサなどのフォトダイオードを用いることができる。
試料ブラケット30は、水平に延びる板状部31と、この板状部31の底面側において板状部31に対して垂直に延びる円錐台状の筒状部32とを有する。この試料ブラケット30は、筒状部32が導光路形成部材11の中央貫通孔16に嵌合されて設けられており、これにより、筒状部32の内部空間によって、試料チューブ受容用穴部18が形成されている。
試料ブラケット30の筒状部32には、筒状部32の内部空間と導光路形成部材11の導光路空間12を連通させる連通孔38a,38bが形成されている。連通孔38a,38bは、導光路形成部材11の導光路空間12の中心軸と同軸上に位置されており、測定用光の入射用開口14aおよび検出用光の出射用開口14bが、試料チューブ受容用穴部18の内周面における互いに対向する位置に開口している。これにより、導光路空間12の中心軸を光軸Oとする、光源22から試料チューブ受容用穴部18を介して受光センサ27に至る測定用光および検出用光の光路が形成されている。
試料ブラケット30の上面には、筒状部32の試料チューブ挿入用開口の周囲を囲むよう円筒状の支持部34が上下方向に延びるよう形成されている。支持部34の内周面には、例えばスポンジなどの弾性体40が設けられている。この支持部34は、試料チューブ受容用穴部18に配置された試料チューブ45の径方向の位置規制部材として機能し、従って、試料チューブ45は、その中心軸が上下方向に延びる姿勢で、試料チューブ受容用穴部18に配置される。支持部34の内周面に弾性体40が設けられていることにより、弾性体40が試料チューブ45の外径寸法に応じて弾性的に変形することによって、用いられる試料チューブ45の寸法差を吸収することができる。
而して、本発明に係る構造体においては、試料チューブ受容用穴部18の内周面に、測定用光の入射用開口14aが形成されたレベルにおいて試料チューブ45のテーパー部46の外周面に当接して試料チューブ45の挿入位置を構造体10に対して位置決めする突起部35を有する。入射用開口14aのレベルとは、入射用開口14aの上縁レベル位置LH と下縁レベル位置LL の範囲内のレベルをいう。突起部35は、当該範囲内のレベルに位置されていればよいが、導光路空間12の中心軸すなわち導光路空間12内を通過する測定用光の光軸Oのレベル位置に位置されていることが好ましい。これにより、使用される試料チューブ45の形状およびサイズの差による測定光路長LO の差を可及的に小さくすることができ、高い精度で測定を行うことができる。測定光路長LO は、測定用光が試料チューブ45内の測定試料を透過する距離であって、この例では、測定用光の光軸O上における試料チューブ45の内径の大きさで示される。
突起部35は、試料チューブ受容用穴部18の中心軸Cおよび導光路空間12の中心軸を含む断面において、試料チューブ受容用穴部18の開口縁位置を通る、筒状部32の外周縁に平行な仮想直線Nに対して、試料チューブ受容用穴部18の中心軸方向に突出する形状とされていればよい。
この例における突起部35は、試料チューブ受容用穴部18の周方向の全周にわたって延びる環状突起により構成されており、頂部が測定用光の光軸Oのレベル位置に位置されている。具体的には、環状突起は、試料チューブ受容用穴部18の中心軸Cおよび導光路の光軸を含む断面において、試料チューブ受容用穴部18の内周面を構成する第一の傾斜面33aおよび第二の傾斜面33bによって形成されている。第一の傾斜面33aおよび第二の傾斜面33bは、試料チューブ受容用穴部18の中心軸に対する傾斜角度が互いに異なっており、当該傾斜面33a,33bによる稜線部分が試料チューブ45のテーパー部46の外周面に当接する。突起部35は凸曲面を有する形状とされていてもよい。
構造体10の一構成例を示すと、導光路形成部材11における貫通孔13(導光路空間12)の内径がφ3.0mmである。試料ブラケット30における連通孔38a,38bの内径はφ1.7mmである。試料チューブ受容用穴部18の試料チューブ挿入用開口の開口径がφ7mm、入射用開口14aのレベルにおける内径がφ3〜φ4mmである。光源22と受光センサ27との距離は35mm、測定光路長LO は2.5〜4.0mmである。
以下、上記の構造体10を備えた光測定装置(吸光度測定器)における光学測定について説明する。
構造体10においては、光源22から出射された測定用光が、試料チューブ受容用穴部18に受容された試料チューブ45内の液体状の測定試料に照射され、試料チューブ45内の測定試料を透過して出射された検出用光が受光センサ27によって検出される。このとき、測定用光は、測定試料に含まれる測定対象物質の濃度に応じて吸収されて光量が低下することとなる。具体的には、測定用光が測定試料を透過する際、その透過率が測定対象物質の濃度に応じて測定光路長に対して指数関数的に減衰する。従って、試料チューブ45内の測定試料を透過して出射される検出用光の光量を検出することにより、測定用光の光量の低下の程度すなわち吸光度に応じた測定対象物質の濃度を測定することができる。測定対象物質の濃度は、例えば、予め既知の濃度の測定対象物質の標準溶液を基準試料として測定を行うことにより検量線を作成しておき、受光センサ27によって検出された検出用光の光量を当該検量線に対照することにより得ることができる。
而して、上記の構造体10を備えた光測定装置においては、構造体10における試料チューブ受容用穴部18の内周面に形成された突起部35によって、試料チューブ受容用穴部18に対する挿入が許容される試料チューブ45の最大外径の大きさが規制される。すなわち、突起部35は、試料チューブ45のテーパー部46における一定の外径寸法を有する位置に当接されることとなる。これにより、試料チューブ45の挿入位置が構造体10に対して位置決めされる。その結果、突起部35は、入射用開口14aのレベルに位置されていることから、使用される試料チューブ45の形状やサイズに拘わらず、測定光路長LO を実質的に一定の大きさとすることができる。従って、上記の光測定装置によれば、試料チューブ45毎に光路長LO が変動することによる測定誤差が生ずることが殆どなく、高い精度の測定結果を得ることができる。
このように、本発明の光測定装置は、持ち運びが容易な小型のものとして構成されたものでありながら、高い精度の測定結果を得ることができ、また、光学調整等も行う必要がないものであるため、例えばポイントオブケア検査に好適なものとなる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、種々の変更を加えることができる。
例えば、突起部は、試料チューブ受容用穴部の内周面における周方向の全周にわたって延びるよう形成された環状突起である必要はなく、例えば柱状突起により構成されていてもよい。
図3は、本発明の光測定装置に係る構造体の他の例における要部の構成を概略的に示す断面図である。図4は、図3におけるA−A線断面図である。この構造体においては、各々入射用開口14aの上縁レベル位置(A−A線の位置)において試料チューブ45のテーパー部46の外周面に当接する複数の柱状突起36により突起部35が構成されている。柱状突起36の数および位置は、特に限定されず、試料チューブ45を適正な姿勢で支持することができればよい。なお、図3および図4は、理解を容易にするために、柱状突起36を強調して描かれているが、実際には、測定用光の光軸O上での、試料チューブ受容用穴部18の内周面と試料チューブ45のテーパー部46の外周面との間の距離は、例えば0.3〜0.5mm程度である。
このような構成の構造体を備えたものであっても、上記実施例に係る構造体を備えた光測定装置と同様の効果を得ることができる。
また、構造体において、試料ブラケットは必須のものではなく、導光路形成部材に対して、試科チューブが直接挿抜される構成とされていてもよい。この場合には、導光路形成部材における中央貫通孔の内周面における所定の位置に突起部を形成すればよい。しかしながら、導光路形成部材が弾性材料によって形成されている場合は、例えばポリプロピレン製の試料チューブとの間の摩擦が大きくなるために挿抜しにくいことがある。従って、本発明の光測定装置においては、構造体は試料ブラケットを備えた構成とされることが好ましい。
さらにまた、本発明の光測定装置においては、試料チューブ内の測定試料を化学的または物理的に加熱処理する、あるいは、試料チューブ内の測定試料を一定の温度条件で光学測定するために加熱する加熱機構が設けられていてもよい。このような構成のものにおいては、さらに、加熱された試料チューブを循環冷却風によって急速に冷却する冷却用ファンやペルチェ素子が設けられていることが好ましい。
以上においては、本発明の光測定装置が吸光度測定器として構成された実施例について説明したが、測定試料から発せられる蛍光を検出用光として検出する蛍光測定器として構成されていてもよい。
10 構造体
11 導光路形成部材
12 導光路空間
13 貫通孔
14a 入射用開口
14b 出射用開口
16 中央貫通孔
18 試料チューブ受容用穴部
20 光源部
21 基板
22 光源
25 受光部
26 センサ基板
27 受光センサ
30 試料ブラケット
31 板状部
32 筒状部
33a 第一の傾斜面
33b 第二の傾斜面
34 支持部
35 突起部
36 柱状突起
38a 連通孔
38b 連通孔
40 弾性体
45 試料チューブ
46 テーパー部

Claims (2)

  1. 底部に向かうに従って外径が次第に小さくなるテーパー部を有する試料チューブを受容する円錐台状の試料チューブ受容用穴部と、当該試料チューブ受容用穴部に配置された試料チューブに対する測定用光の入射用開口および当該試料チューブからの検出用光の出射用開口が当該試料チューブ受容用穴部の内周面における互いに対向する位置に開口する導光路空間とを有する構造体を備えており、
    前記試料チューブ受容用穴部の内周面には、前記入射用開口が形成されたレベルにおいて前記試料チューブのテーパー部の外周面に当接して当該試料チューブの挿入位置を前記構造体に対して位置決めする突起部を有することを特徴とする光測定装置。
  2. 前記突起部が、前記導光路空間内を通過する測定用光の光軸のレベル位置に位置されていることを特徴とする請求項1に記載の光測定装置。
JP2015210387A 2015-10-27 2015-10-27 光測定装置 Expired - Fee Related JP6137270B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015210387A JP6137270B2 (ja) 2015-10-27 2015-10-27 光測定装置
TW105124996A TWI671518B (zh) 2015-10-27 2016-08-05 光測定裝置
PCT/JP2016/077226 WO2017073196A1 (ja) 2015-10-27 2016-09-15 光測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015210387A JP6137270B2 (ja) 2015-10-27 2015-10-27 光測定装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2017083244A JP2017083244A (ja) 2017-05-18
JP6137270B2 true JP6137270B2 (ja) 2017-05-31
JP2017083244A5 JP2017083244A5 (ja) 2017-06-29

Family

ID=58631523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015210387A Expired - Fee Related JP6137270B2 (ja) 2015-10-27 2015-10-27 光測定装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6137270B2 (ja)
TW (1) TWI671518B (ja)
WO (1) WO2017073196A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020051915A (ja) * 2018-09-27 2020-04-02 ウシオ電機株式会社 光学測定装置および光学測定方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009037810A1 (ja) * 2007-09-18 2009-03-26 Panasonic Corporation 測定デバイス、測定装置及び測定方法、並びにサンプリング方法
JP2009080014A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Olympus Corp 検体ラック、検体ラック用アダプタ、試料分注システム
JP5665811B2 (ja) * 2012-08-02 2015-02-04 国立大学法人九州大学 光誘起蛍光測定器

Also Published As

Publication number Publication date
WO2017073196A1 (ja) 2017-05-04
TWI671518B (zh) 2019-09-11
JP2017083244A (ja) 2017-05-18
TW201715220A (zh) 2017-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108698046B (zh) 微流体分析系统、微流体盒和进行分析的方法
US10450603B2 (en) Fluorescence detection device
US10809185B2 (en) Optical measuring device
US20110149286A1 (en) Liquid core waveguide assembly and detecting system including the same
JP6137270B2 (ja) 光測定装置
US20200068683A1 (en) Method to correct signal light intensities measured by a detector of a detection unit in a laboratory instrument
US11119043B2 (en) Analyzer
US10775307B2 (en) Optical fiber fluorescence detection device
JP5524698B2 (ja) 自動分析装置
EP2829866A2 (en) Test apparatus and method of controlling the same
JP6891391B2 (ja) 光学測定器
JP2007127666A (ja) 生体スペクトル測定装置。
JP5805259B2 (ja) 自動分析装置
US20180024045A1 (en) Pipette Tip, Pipette, Apparatus and Kit for Light Measurement
TW201730544A (zh) 光測量裝置
WO2021229874A1 (ja) 自動分析装置および反応容器の挿入方法
KR102009370B1 (ko) 스펙클 검사 장치 및 스펙클 증폭 장치
JP7539977B2 (ja) 検査装置
JP2010008351A (ja) 散乱光測定方法およびそれに用いる散乱光測定装置
JP6578188B2 (ja) 光学測定器
JP6662010B2 (ja) 光測定装置
WO2013064366A1 (en) Vessel with optimized measurement window for optical measurements
NZ744129B2 (en) A microfluidic assay system, a microfluidic cartridge and a method of performing an assay
JPH02150750A (ja) 生化学分析用測定部
JP2013185963A (ja) 蛍光検出装置および生体化学分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170330

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170330

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20170330

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20170331

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170404

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170417

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6137270

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees