JP6125656B2 - X線低減システム - Google Patents
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Description
本特許出願は、2012年11月29日に出願された米国仮特許出願第61/730,987号に関連すると共に、その優先権を主張するものであり、この米国仮特許出願は、その全体が参照により本明細書に組み込まれる。
r1=R1/(D2/D1)
r2=R2/(D2/D1)
1.フレーム読み取りは、タブ514が光センサ516を遮断する瞬間である必要はない。フレーム読み取りは、それが全てのECに対して同じ位相で実施される限りにおいて、コリメータ500の任意の位相で実施することができる。
2.1回のECの間に、複数のフレームを読み取る。ただし、各ECで、整数個のフレームを読み取ることが望ましい。これにより、読み取られたそれらのフレームが、1回のECの完全なデータを含むことによって、少ない手順でモニタ118に表示され得る1つの表示フレームを構築することが容易となる。
a.図28Aを参照する。ステップ2800で、新たなECが開始する。ステップ2805で、現在のフレームからの画素を正規化し、画素和に加算する(ステップ2810)。ステップ2815で、次のフレームを確認する。ECの終わりに達した場合には、表示画像をリフレッシュし(ステップ2825)、プロセスは、新たなECの開始に戻る。このプロセスは、1回のECの全てのフレームの画素値を合算することで、1つの完全な照射画像を生成する。その後、次のECの全てのフレームの画素値を合算することで、次の完全な照射画像を生成する。このようにして、モニタ上の画像は、ECが完了するたびに、時間的に連続する画像で置き換えられる。画素値の正規化は、各フレームに対して別個に実施するか、または図28Bに示すようにフレームの和に対してのみ1回実施するか、またはフレームの他の任意の組み合わせに対して実施することができる。
b.図28Cを参照する。この方法例では、カメラは、1回のECの間に8フレームを供給すると仮定する。ステップ2830で、新たなECが開始する。本例では、1から8までの番号が付された8つの全てのフレームを、フレーム記憶に保存し(ステップ2835〜2845)、これらのフレームから、上述のように(ステップ2850でフレームを合算し、ステップ2855で画素値を正規化して)第1の表示フレームを生成する。そして、結果として得られた画像を、モニタ118に表示する。(ECの1/8の経過後に)フレーム9を取得したら、フレーム記憶のフレーム1をフレーム9で置き換えて(ステップ2870)、フレーム9、2、3、4、5、6、7、8を処理(合算、正規化)することで、第2の表示フレームを生成し、これを、このECの1/8の経過時に、モニタ118に表示することができる。ECのさらなる1/8の経過後に、ステップ2875で、次のフレーム(フレーム10)を取得して、フレーム2の位置に記憶する。そして、フレーム9、10、3、4、5、6、7、8を処理することで、第3の表示フレームを生成する。このように、FIFO(先入れ先出し)法で管理されるフレーム記憶を用いて、センサから新たなフレームを取得するごとに表示フレームを生成することで、ユーザに対してモニタ118上にシネ画像シーケンスを表示する。
c.本発明の別の実施形態では、取得されたフレームの積分時間の間に、コリメータの形状および動きに関する基準に従って、X線の照射を受けた画素についてのみ、フレームの画素の合算を実施する。上記の例bでは、これはEC時間の1/8となる。画像を生成するために合算される画素は、(1)エリア700からの画素、および(2)2×(コリメータの扇形エリア506の角度幅508)程度の角度の扇形の中にある画素である。(2倍する)2×の理由は、積分時間の1/8の間に、コリメータはECの1/8だけ回転するからである。2×(角度508)よりもやや大きな扇形角度が、精度限界を補償するために望ましい場合がある。この合算方法により、合算プロセスに関わる画素の量が大幅に削減され、ひいては計算時間および計算資源が削減される。
d.本発明の別の実施形態では、画素の処理を、上記のcで指定された画素に限定する。この処理方法により、処理に関わる画素の量が大幅に削減され、ひいては計算時間および計算資源が削減される。
e.本発明の別の実施形態では、記憶する画素を、上記のcで指定された画素に限定する。この記憶方法により、記憶に関わる画素の量が大幅に削減され、ひいては必要な記憶量が削減される。
f.本発明の別の実施形態では、本節で(a:一般概念として、b:a、c、d、eの具体例として)説明された方法のいずれかを組み合わせて、これらの方法またはその一部の任意の組み合わせを用いた実施形態とすることが可能である。
3.複数回のEC間に、1つのフレームを読み取る。さらに別の実施形態では、センサから受信する1フレーム当たり整数回のECを提供するように、コリメータを動作させることが可能である。例えば、コリメータによりECが2回実施された後に、1つのフレームをセンサから読み取る。このフレームの画素値を正規化した後に、モニタ118に表示することができる。
上述のように、コリメータ設計および用途ごとに異なるDPPを有する画素は、適切な表示フレームを提供するために正規化される。正規化方式は、X線照射スキーム(すなわち、コリメータの形状、速度、および位置)に応じて構成される。そのような正規化は、理論的パラメータに基づいて実施することができる。例えば、図7および図5に関連して、コリメータ500が一定の速度で回転することによって、扇形エリア702および704を組み込んだ環状部の画素は、円形エリア700の線量の1/10を受ける(本例では、扇形エリア506の角度幅508は36度である)。本例を単純化するため、1回のECが完了する(すなわち、コリメータ500が360度の回転を完了する)たびに、1つのフレームがセンサから読み取られることが仮定される。全てのセンサ画素はイメージインテンシファイア出力に対して同じ感度であり、イメージインテンシファイアは均一な感度を有し、X線管からのX線ビームは均一であることが、さらに仮定される。画素間の差異の、唯一内在する(すなわち、システムレベルの)源は、コリメータおよび、コリメータが動作される方法から生じる。本例では、システム設計に基づく正規化は、DPPの差異を補償する1つまたは2つの係数を画素に乗算することである。
Dij=(Pij−Bi)*(245/Ai)+5 式(1)
Dij=(Pij−Bi)*(255/Ai) 式(2)
127以下の値を有するPijに対して、
Dij=(Pij−Bi)*(127/Mi) 式(3)
127超の値を有するPijに対して、
Dij=(Pij−Bi)*(255/Ai) 式(4)
63以下の値を有するPijに対して、
Dij=(Pij−Bi)*(63/Mi) 式(5)
63超の値を有するPijに対して、
Dij=(Pij−Bi)*(255/Ai) 式(6)
上記の例では、異なる回転速度を有する異なる回転プロファイルが説明された。以下の例では、可変速度の回転プロファイルが、画像におけるROIの文脈において説明される。上記のコリメータの例では、(図6の600および図7の700のような)中央円形エリアがROIとして示され、従って、中央円形エリアは、より低いDPPを受ける扇形エリア702および704の環状部よりも多くのDPPを受けるものであった。これは自明の場合であり、通常、画像の中央エリアはROIでもあるが、そこには画像のより重要な部分が位置している。DPPが高いほど、このエリアでのより高いS/Nに帰着し、従って、そのエリアではより良い画像品質が提供される(より良い識別可能な詳細のような)。普通は、例えばカテーテル挿入処置の間、カテーテルの先端をエリア700の範囲に保つためのプロセスの間に、患者のベッドは移動される。にもかかわらず、画像の中で最も関心のあるエリアは、時々、エリア700から外へ出る。例えば、図17Aに関連して、数字表示符号1700によって表されるエリアへ出る。これは、(1)カテーテル先端がエリア1700に移動したが、患者は、カテーテル先端がエリア700内となるように移動されなかった、(2)オペレータは何らかの理由でエリア1700を見ている、のような多くの理由の結果であり得る。この新しいROI情報は、多くの方法でシステムに入力として供給されるが、この多くの方法とは、カテーテル先端に対する自動追尾または、オペレータが(SR Research Ltd.,Kanata,Ontario,Canadaから入手可能なEyelink1000のような)アイトラッカ装置を用いて見るエリアの追尾を含み、これによって、ユーザの注視点と連携するか、またはコンピュータのマウスを用いることによって、あるべき望ましいROI場所を示す。
1rps*1/4+Xrps*3/4=10rps 式(7)
従って、
Xrps=(10rps−1rps*1/4)/(3/4)=13rps 式(8)
1rps*1/4+2*Yrps*1/8+Xrps*1/2=10rps 式(9)
(図5のコリメータ500の例、および、10rpsでのコリメータの一定回転速度および10fpsの表示フレームリフレッシュレートの動作モードに関して)上記で提示したのは、図7の円形エリア700のDPPは、扇形エリア702および704で構築された環状エリア(略して「環状部」と表す)のDPPよりも10倍高いということである。従って、エリア700でのS/Nもまた、環状エリアでのS/Nよりも101/2倍良好である。画像120(図2)全体のリフレッシュレートは、同じ10fpsである。フレーム全体の時間分解能は0.1秒である。前例では、各表示フレームは、カメラ116から取得された1フレームのデータから構築される。表示装置118上のエリア200は、センサ上のエリア700と等価である。エリア200は、エリア202のDPPの10倍で照射され、エリア200でのS/Nは、環状エリア202でのS/Nよりも101/2倍良好である。コリメータ500の各ECに関して、データはセンサ714から読み取られ、処理されて、モニタ118に表示される。完全な画像120は、その後、0.1秒ごとにリフレッシュされる。
1.各々の環状部#mについて、エリア1822のS/N以上のS/Nを提供する最小限の数の時間的に連続したフレームの画素を加算する(ステップ3100〜3120)。
2.画素補正(上述のようなオフセット、正規化など)を実行する(ステップ3130)。
3.エリア1822よりも高いS/Nの場合に、これを補償するためのノイズを環状部#mの各画素に加える(ステップ3140〜3150)。
(N1822)2=(N#1)2+(Nadd)2 式(10)
Nadd=((N1822)2−(N#1)2)1/2 式(11)
Nadd=(12−((1.81/2)/1.8)2)1/2
Nadd=0.667
SUM=(FRMn)+(FRMn−1)+(FRMn−2)+(FRMn−3)+0.5×(FRMn−4)
そして、この場合、輝度調整では、係数10/4.5を用いる。
r3=A−r1 式(12)
A=B*(D1/D2) 式(13)
1.時間0で、フレームNの最後のフルDPPデータを100%で、その画素として表示する。時間分解能は0.1秒である。
2.時間0.1秒で、フレームNの最後のフルDPPデータを90%で、フレームN+1の新しいDPPデータの100%との加重和を、その画素として表示する。
3.時間0.2秒で、フレームNの最後のフルDPPデータを80%で、フレームN+1のDPPデータの100%と、フレームN+2のDPPデータの100%との加重和を、その画素として表示する。
4. ....
5. ....
6. ....
7. ....
8. ....
9. ....
10.時間0.9秒で、フレームNの最後のフルDPPデータを10%で、フレームN+1,N+2,....,N+9の各々の新しいDPPの100%との加重和を、その画素として表示する。
11.時間1.0秒で、フレームNの最後のフルDPPデータを0%で、フレームN+1,N+2,....,N+9,N+10の各々の新しいDPPデータの100%の加重和を、その画素として表示する。このとき、時間分解能は、1秒に変化している。
12.1/10のDPPの領域の画像改善のための上述の方法に継続する。時間分解能は1秒である。
別の例では、ユーザにより知覚される画像を向上させるために、コリメータの上記の例および画像処理の例(さらには上述されていない例)のいずれかを、アイトラッカと共に用いることができる。典型的な複数フレームX線撮像システムでは、一般に画像の輝度と呼ばれ得るものを決定するために、典型的には、その中心が画像の中心に設定されたエリアが定義される。場合によっては、画像のコントラストも、そのエリアに基づいて決定される。典型的には、そのエリアは、画像全体よりも小さいが、画像全体と同様のサイズのエリアとすることもできる。
1.(連続モードであるか、またはパルスモードであるかに関わりなく)X線管電流
2.X線管ピークキロボルト(PKV)
3.X線パルス長
4.アナログであるか、またはデジタルであるかに関わりなく、AGC(自動利得制御)
5.輝度関数、コントラスト関数、ガンマ関数、オフセット関数、利得関数、n次線形関数、非線形関数などの様々な関数で実現される画像の階調補正または階調調整
図18A〜図18Dを参照して記載したタイプのコリメータを使用することの影響の1つは、ROI(環状部1802)に対して背景(環状部1806)におけるX線照射スペクトルが変化することである。背景フィルタ(環状部1806)を通してX線DPPを低減した結果として、画像のそのエリアにおけるX線スペクトルは、画像のROIエリア(略してROI)と比較して変化する。その結果として、ヒト組織(または他のいずれかの物質)におけるX線の吸収特性が、背景領域とROIとで異なる。図18A〜図18Dに関連したコリメータの例では、さらに、患者またはファントム(図1Aの110)が存在しない場合に背景領域の1画素あたりの光子数がROIにおける1画素当たりの光子数の10%である例を考えると、各々の背景画素値に10を乗算することにより(または、上述のように最新の10個の背景画像を合算することにより)背景画像がROIの画像と同様になることが示唆され得る。これは典型的なケースではない。典型的には、背景画像をROI画像とより同じように見えるようにするためには、より複雑な階調再現関数が必要となる。これについて、図21A〜図21Cを参照して、より詳細に説明する。
以下の例では、背景画像をROIの画像と同様に見えるようにするための階調補正関数を生成するための方法を、より詳細に提示する。本方法では、図33Aを参照する。
1.(ステップ3300)ROI内にあるステップiの画素:AVGri
2.(ステップ3305)背景にあるステップiの画素:AVGbi
F(AVGbi)=AVGri/AVGbi
推定値=背景値E
ここで、「背景の近く」の値の推定の場合はE=0.85であり、「ROIの近く」の値の推定の場合はE=0.07である。
本発明の別の例では、階調補正関数の計算は、(上述のようなファントムの代わりに)リアルタイムの患者データに基づいて、特定の患者に合わせて最適化することができる。本例について説明するために、図22A〜図22Bを参照する。これらの図面は、表示層を示しているが、便宜上、このようにしているにすぎない。これらの図面を参照した解説では、一般に12ビットで処理される画像処理層および画像メモリデータ層についても、さらには、X線分配層および検出層(平面検出器またはイメージインテンシファイアまたは任意の理論的X線検出器のいずれか)についても言及しており、これらの層に関するジオメトリは、図22Aおよび図22Bと、対応する図33Bのフローチャートを参照して記載されるものに完全に類似している。
1.ROI 2202において、図18Aの環状部1806によってフィルタリングされないX線スペクトルについて、画像データを取得して保存する(ステップ3335)(好ましくは12ビットで、ただし8ビットなどの他の精度でも可能である)。
2.背景2206において、図18Aの環状部1806によってフィルタリングされるX線スペクトルについて、画像データを取得して保存する(ステップ3340)(好ましくは12ビットで、ただし8ビットなどの他の精度でも可能である)。
3.ROI 2210において、図18Aの環状部1806によってフィルタリングされないX線スペクトルについて、画像データを取得して保存する(ステップ3350)(好ましくは12ビットで、ただし8ビットなどの他の精度でも可能である)。
4.背景2206(この場合、以前はROI 2204であったエリア2214も含む)において、図18Aの環状部1806によってフィルタリングされるX線スペクトルについて、画像データを取得して保存する(ステップ3360)(好ましくは12ビットで、ただし8ビットなどの他の精度でも可能である)。
Claims (38)
- X線システムであって、
X線源と、
画像検出器と、
モニタと、
コントローラと、
前記検出器、前記モニタ、前記コントローラに接続された画像処理ユニットと、
前記コントローラに接続されたコリメータであって、第1の照射レベルで第1のエリアを照射し、第2の照射レベルで第2のエリアを照射するように構成されたコリメータと、を備え、
前記画像処理ユニットは、階調補正関数を用いて、前記第2のエリアを、前記第1のエリアと同様になるように処理するように、さらに構成されているおり、
前記階調補正関数は、少なくとも2つの階調補正関数のうちの1つであり、前記少なくとも2つの階調補正関数のそれぞれは、特定のPKVに関連付けられており、
前記画像処理ユニットは、階調補正関数を、2つの他の階調補正関数の補間によって作成するように、さらに構成されており、前記他の階調補正関数のそれぞれは、特定のPKVに関連付けられている、X線システム。 - 第1の照射レベルで第1のエリアを照射し、第2の照射レベルで第2のエリアを照射するように構成されたコリメータを通して、X線源から取得したX線画像の表示を最適化する方法であって、
階調補正関数を用いて、前記第2のエリアの画像を、前記第1のエリアの画像と同様になるよう処理することを含むみ、
前記階調補正関数は、少なくとも2つの階調補正関数のうちの1つであり、前記少なくとも2つの階調補正関数のそれぞれは、特定のPKVに関連付けられており、
階調補正関数を、2つの他の階調補正関数の補間によって作成することをさらに含み、前記他の階調補正関数のそれぞれは、特定のPKVに関連付けられている、方法。 - X線照射画像のための階調補正関数を計算するためのシステムであって、
X線源と、
画像検出器と、
コントローラと、
前記検出器および前記コントローラに接続された画像処理ユニットと、
可変吸収ファントムと、を備え、
前記コントローラは、第1のエリアに第1のX線照射を、第2のエリアに第2のX線照射を施すように、前記X線源を制御するように構成されており、このとき、前記第1と第2の照射の少なくとも一部は、前記可変吸収ファントムを介したものであり、前記ファントムの特定の透過レベルのそれぞれで、前記第1のX線照射を受ける少なくとも1つのエリア、および前記第2のX線照射を受ける少なくとも1つのエリアが存在し、
前記画像処理ユニットは、
特定の透過レベルのそれぞれについて、前記第1のエリアにおける平均画素値および前記第2のエリアにおける平均画素値を計算し、
すべての特定の吸収レベルについて、前記2つの平均画素値の比率を計算し、
前記階調補正関数として用いるための関数を、前記計算された比率に適合させる、ように構成されている、システム。 - 前記可変吸収ファントムは、ステップウェッジである、請求項3に記載のシステム。
- 前記可変吸収ファントムは、連続勾配関数の可変厚ファントムである、請求項3に記載のシステム。
- X線照射画像のための階調補正関数を計算する方法であって、
第1のエリアに第1のX線照射を施すことと、
第2のエリアに第2のX線照射を施すことと、を含み、
前記第1と第2のX線照射の少なくとも一部は、可変吸収ファントムを介したものであり、前記ファントムの特定の透過レベルのそれぞれで、前記第1のX線照射を受ける少なくとも1つのエリア、および前記第2のX線照射を受ける少なくとも1つのエリアが存在し、さらに、
特定の透過レベルのそれぞれについて、前記第1のエリアにおける平均画素値および前記第2のエリアにおける平均画素値を計算することと、
すべての特定の吸収レベルについて、前記2つの平均画素値の比率を計算することと、
前記階調補正関数として用いるための関数を、前記計算された比率に適合させることと、を含む方法。 - 前記可変吸収ファントムは、ステップウェッジである、請求項6に記載の方法。
- 前記可変吸収ファントムは、連続勾配関数の可変厚ファントムである、請求項6に記載の方法。
- X線照射画像のための階調補正関数を計算するためのシステムであって、
X線源と、
画像検出器と、
コントローラと、
前記検出器および前記コントローラに接続された画像処理ユニットと、を備え、
前記コントローラは、ヒト組織を介して少なくとも1つのエリアに第1のX線照射を施し、ヒト組織を介して前記少なくとも1つのエリアに第2のX線照射を施すように、前記X線源を制御するように構成されており、
前記画像処理ユニットは、
前記第1のX線照射に対応する前記少なくとも1つのエリア内の少なくとも1つの画素値の、前記第2のX線照射に対応する前記エリア内の対応する画素値に対する比率を計算し、
第1の階調補正関数として用いるための関数を、前記少なくとも1つの計算された比率、および前記第2のX線照射に対応する前記少なくとも1つのエリア内の画素値に適合させる、ように構成されている、システム。 - 前記第1の階調補正関数の計算に用いるデータの取得後に取得したデータを用いて、第2の階調補正関数を計算する、請求項9に記載のシステム。
- 前記第1の階調補正関数の計算に用いるデータは、少なくとも2人の患者からのものである、請求項9に記載のシステム。
- X線照射画像のための階調補正関数を計算する方法であって、
ヒト組織を介して少なくとも1つのエリアに第1のX線照射を施すことと、
ヒト組織を介して前記少なくとも1つのエリアに第2のX線照射を施すことと、
前記第1のX線照射に対応する前記少なくとも1つのエリア内の少なくとも1つの画素値の、前記第2のX線照射に対応する前記エリア内の対応する画素値に対する比率を計算することと、
第1の階調補正関数として用いるための関数を、前記少なくとも1つの計算された比率、および前記第2のX線照射に対応する前記少なくとも1つのエリア内の画素値に適合させることと、を含む方法。 - 前記第1の階調補正関数の計算に用いるデータの取得後に取得したデータを用いて、第2の階調補正関数を計算する、請求項12に記載の方法。
- 前記第1の階調補正関数の計算に用いるデータは、少なくとも2人の患者からのものである、請求項12に記載の方法。
- X線システムであって、
X線源と、
コリメータと、
画像検出器と、
モニタと、
コントローラと、
前記検出器、前記モニタ、前記コントローラに接続された画像処理ユニットと、
前記コリメータの平面に略平行な平面内で前記コリメータを動かすための手段と、を備え、
前記コリメータは、
放射線をすべて通過させるアパーチャと、
通過する放射線を低減させる外側環状部であって、該外側環状部の材料および厚さに依存する量で低減させる外側環状部と、
前記アパーチャと前記外側環状部との間にある内側環状部であって、前記アパーチャの側の小さい厚さで開始して、前記外側環状部の側の前記外側環状部の厚さで終わる、前記アパーチャからの距離の関数として変化する厚さを有する内側環状部と、を有し、
前記画像処理ユニットは、前記内側環状部を通して取得される画像および前記外側環状部を通して取得される画像を、前記アパーチャを通して取得される画像と視覚的に同様に見えるように基本的に調整するために、画像データを修正するように構成されており、前記調整に用いられるパラメータは、前記コリメータの位置に依存する、システム。 - 前記画像処理ユニットは、較正手順によって前記パラメータを取得するように構成されており、前記較正手順は、複数の異なるコリメータ位置で実施される測定を含む、請求項15に記載のシステム。
- 前記複数の異なるコリメータ位置は、該コリメータの平面における複数の異なる位置を含む、請求項16に記載のシステム。
- 前記複数の異なるコリメータ位置は、前記X線源からの複数の異なる距離を含む、請求項16に記載のシステム。
- 前記内側環状部の厚さは、前記外側環状部の2つの外面の略中間に位置する平面に関して、略対称である、請求項15に記載のシステム。
- 前記外側環状部の材料とは異なる材料の層をさらに有し、前記層は、前記アパーチャのエリアに配置される、請求項15に記載のシステム。
- 前記層は、前記内側環状部の少なくとも一部とオーバラップする、請求項20に記載のシステム。
- コリメータを通してX線源から取得したX線画像の表示を最適化する方法であって、前記コリメータは、放射線をすべて通過させるアパーチャと、通過する放射線を低減させる外側環状部であって、該外側環状部の材料および厚さに依存する量で低減させる外側環状部と、前記アパーチャと前記外側環状部との間にある内側環状部であって、前記アパーチャの側の小さい厚さで開始して、前記外側環状部の側の前記外側環状部の厚さで終わる、前記アパーチャからの距離の関数として変化する厚さを有する内側環状部と、を有し、当該方法は、
前記内側環状部を通して取得される画像および前記外側環状部を通して取得される画像を、前記アパーチャを通して取得される画像と視覚的に同様に見えるように調整することを含み、前記調整に用いられるパラメータは、前記コリメータの位置に依存する、方法。 - 較正手順によって前記パラメータを取得することをさらに含み、前記較正手順は、複数の異なるコリメータ位置で実施される測定を含む、請求項22に記載の方法。
- 前記複数の異なるコリメータ位置は、該コリメータの平面における複数の異なる位置を含む、請求項23に記載の方法。
- 前記複数の異なるコリメータ位置は、前記X線源からの複数の異なる距離を含む、請求項23に記載の方法。
- 前記内側環状部の厚さは、前記外側環状部の2つの外面の略中間に位置する平面に関して、略対称である、請求項22に記載の方法。
- コリメータであって、
放射線を通過させるアパーチャと、
通過する放射線を低減させる外側環状部であって、該外側環状部の材料および厚さに依存する量で低減させる外側環状部と、
前記アパーチャと前記外側環状部との間にある内側環状部であって、前記アパーチャの側の小さい厚さで開始して、前記外側環状部の側の前記外側環状部の厚さで終わる、前記アパーチャからの距離の関数として変化する厚さを有する内側環状部と、を有するコリメータ。 - 前記内側環状部の厚さは、前記外側環状部の2つの外面の略中間に位置する平面に関して、略対称である、請求項27に記載のコリメータ。
- 前記外側環状部の材料とは異なる材料の層をさらに有し、前記層は、前記アパーチャのエリアに配置される、請求項27に記載のコリメータ。
- 前記層は、前記内側環状部の少なくとも一部とオーバラップする、請求項29に記載のコリメータ。
- X線システムであって、
X線源と、
画像検出器と、
モニタと、
コントローラと、
前記検出器、前記モニタ、前記コントローラに接続された画像処理ユニットと、
前記コントローラに接続されたコリメータであって、第1の照射レベルで第1のエリアを照射し、第2の照射レベルで第2のエリアを照射するように構成されたコリメータと、を備え、
前記画像処理ユニットは、階調補正関数を用いて、前記第2のエリアを、前記第1のエリアと同様になるように処理するように、さらに構成されており、
前記画像処理ユニットは、前記第2のエリアに使用される階調補正関数から、第3のエリアのための階調補正関数を推定するように、さらに構成されている、X線システム。 - 前記推定では、指数関数計算を使用する、請求項31に記載のX線システム。
- X線システムであって、
X線源と、
画像検出器と、
モニタと、
コントローラと、
前記検出器、前記モニタ、前記コントローラに接続された画像処理ユニットと、
前記コントローラに接続されたコリメータであって、第1の照射レベルで第1のエリアを照射し、第2の照射レベルで第2のエリアを照射するように構成されたコリメータと、を備え、
前記画像処理ユニットは、階調補正関数を用いて、前記第2のエリアを、前記第1のエリアと同様になるように処理するように、さらに構成されており、
前記画像処理ユニットは、X線電流の変更に合わせて、前記階調補正関数の入力スケールを調整するように、さらに構成されている、X線システム。 - 前記調整は、前記X線電流の相対変化に等しい係数を用いて行われる、請求項33に記載のX線システム。
- 第1の照射レベルで第1のエリアを照射し、第2の照射レベルで第2のエリアを照射するように構成されたコリメータを通して、X線源から取得したX線画像の表示を最適化する方法であって、
階調補正関数を用いて、前記第2のエリアの画像を、前記第1のエリアの画像と同様になるよう処理することと、
前記第2のエリアに使用される階調補正関数から、第3のエリアのための階調補正関数を推定することと、を含む方法。 - 前記推定では、指数関数計算を使用する、請求項35に記載の方法。
- 第1の照射レベルで第1のエリアを照射し、第2の照射レベルで第2のエリアを照射するように構成されたコリメータを通して、X線源から取得したX線画像の表示を最適化する方法であって、
階調補正関数を用いて、前記第2のエリアの画像を、前記第1のエリアの画像と同様になるよう処理することと、
X線電流の変更に合わせて、前記階調補正関数の入力スケールを調整することと、を含む方法。 - 前記調整は、前記X線電流の相対変化に等しい係数を用いて行われる、請求項37に記載の方法。
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