JP6122386B2 - データ収集システムおよび質量分析方法 - Google Patents

Description

本発明は、データ収集システムおよび質量スペクトロメータにおいてイオンを検出する方法およびそれに関連する改善に関する。このシステムおよび方法は、質量スペクトロメータ、好ましくは飛行時間型（ＴＯＦ）質量スペクトロメータにとって有益であり、したがって本発明は、さらに、質量スペクトロメータおよびデータ収集システムおよびデータ収集方法を包含する質量分析の方法に関する。この発明は、ハイ・ダイナミック・レンジかつ高解像度の質量スペクトルの生成のために利用することができ、また、これらの質量スペクトルは、有機化合物、たとえば、医薬品有効成分、代謝産物、少量のペプチドおよび／またはタンパク質の特定および／または定量化のために利用することができる。

質量スペクトロメータは、イオンの質量対電荷比（ｍ／ｚ）に基づいてイオンを分離・分析するために広く使用されており、かつ、いろいろな種類の質量スペクトロメータが知られている。本発明は、飛行時間型（ＴＯＦ）質量分析を念頭において意図され、説明のためにＴＯＦ質量分析に関して記述するが、本発明は、他の種類の質量分析にも適用できる。本出願においては、荷電粒子の例としてイオンに言及するが、文脈により要求されない限り、他の種類の荷電粒子は排除されない。

飛行時間型（ＴＯＦ）質量スペクトロメータは、一定の飛行経路沿いのイオンの飛行時間に基づいてイオンの質量対電荷比（ｍ／ｚ）を測定する。これらのイオンは、イオンのショート・パケットの形態でパルス源から発射され、一定の飛行経路沿いに真空領域を経てイオン検出器に向けられる。イオンのパケットはイオンのグループを含むが、一般的に種々の質量対電荷比を含むこのグループは、少なくとも初期において、空間的に局在している。

一定の運動エネルギーをもってパルス源を去ったイオンは、その質量によって決まる時間後に検出器に到達する。質量の大きいイオンほど低速である。ＴＯＦ質量スペクトロメータは、イオン検出器を必要とするが、それは、中でも、早い応答時間および高いダイナミック・レンジという特性、すなわち、小さいイオン流と大きいイオン流の両方を検出する能力を必要とし、また、検出器出力飽和などの問題を伴わずに、これら２つの間で迅速に切り換え得ることが望ましい。コストおよび運用に伴う問題を低減するために、かかる検出器は、あまり複雑であってはならない。

ダイナミック・レンジを達成する既存の方法は、たとえば英国特許第２４５７１１２ Ａ号明細書において記述されているように、２つの異なるレベルに増幅される１つの検出器の出力を使用する。この増幅は、電子増倍装置内において、または前置増幅器ステージにおいて行われる。次に同一検出器からのこれらの２つの増幅出力を使用してハイ・ダイナミック・レンジ・スペクトルを作成する。ＴＯＦ質量スペクトロメータにおける検出器ダイナミック・レンジの課題に対して提案されているその他の解決方法は、電子増倍器から放射される二次電子を集める相異なる表面積の２つの収集電極の使用（米国特許第４，６９１，１６０号明細書、米国特許第６，２２９，１４２号明細書、米国特許第６，７５６，５８７号明細書および米国特許第６，６４６，２５２号明細書）およびいわゆるアノード・フラクションを変更するアノードの近傍における電位または磁界の使用（米国特許第６，６４６，２５２号明細書および米国特許出願公開第２００４／０２２７０７０ Ａ号明細書）を含む。もう１つの解決方法は、入射粒子から生成される二次電子の検出のために２つ以上の別個の完全に独立している検出システムを使用することである（米国特許第７，２６５，３４６号明細書）。さらに別の解決方法は、最終電子検出器の利得を制御するフィードバックを与えるためにＴＯＦ分離領域中に配置される中間検出器の使用である（米国特許第６，６７４，０６８号明細書）。後者の検出に伴う問題は、それが検出器上の利得の急速な変更を必要とすること、および直線性を維持するために利得を追跡することも難しいということである。米国特許出願公開第２００４／０１４９９００Ａ号明細書において提案されているさらに別の検出機構は、ビーム・スプリッタを利用してイオンのビームを別々の検出器により検出される２つの等しくない部分に分割する。すべてにおいて、これらの検出解決方法はその実現が複雑かつ高価になりかねず、および／またはそれらの感度および／またはそれらのダイナミック・レンジは希望値より低くなりかねない。

ＴＯＦ質量スペクトロメータに伴うもう１つの問題は、それがデータを非常に高速で生成することである。検出器出力は、非常に短い時間間隔内に順次発生する非常に多くのイオン検出信号を含んでいるからである。たとえば、ＴＯＦ質量スペクトル全体がたとえば１ ＧＨｚ以上のデータ・サンプリング速度で数ミリセカンド以内に検出されることがある。さらに、所与のサンプルを分析するために、多数のスペクトル、たとえば１００万個以上のスペクトルが必要となることがある。したがって、ＴＯＦ質量スペクトロメータからのデータの収集および処理における改善、たとえば、処理対象データ量およびデータ処理の継続時間を低減する方法および効率の改善も望ましい。

国際公開第２００８／０８８６７号パンフレットは、イオン検出器の出力に数学的変換を施すマイクロプロセッサおよびフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）の使用について記述している。高速適用のために、スペクトルは、このように飛行中に少なくとも前処理される。数学的変換を使用してＦＰＧＡにおいて質量強度対を作成し、次にそれらをコンピュータに転送する方法が米国特許第６，８７０，１５６号明細書において記述されている。かかる方法は、１つの検出器を使用し、上述したように、それを２つのレベルに増幅して異なる利得の２つの信号を得た後、それに数学的変換を適用する。データの集まりを減らす１つの方法は、米国特許第５，９９５，９８９号明細書において記述されているが、それは、連続的に決定される背景雑音閾値の使用を含んでいる。それを使用してデータを濾過し、かつ、次の処理のために保持するべきデータを決定する。この方法における閾値の適用は、したがって連続計算を含んでいる。

種々の測定方法を組み合わせることによるイオン測定のための別の方法が米国特許第７，２２０，９７０号明細書において記述されている。この方法では、コレクタおよびＳＥＭを使用し、イオンを選択的にコレクタまたはＳＥＭに送り込む。米国特許第７，２３８，９３６号明細書において、非ＴＯＦスペクトロメータにおける検出器利得を調整する手段が記述されている。この場合、検出の中間ステージが次の検出ステージを機能停止させるために十分な時間がある。

したがって、質量分析、特にデータ収集システムおよび方法におけるイオンの検出を改善する必要が残っている。上記の背景を考慮して、本発明が行われた。

本発明の１つの態様に従って、質量スペクトロメータにおいてイオンを検出するデータ収集システムが提供され、このシステムは、
検出システムに到着したイオンに応答して別々のチャネルに２つ以上の検出信号を出力するための２つ以上の検出器を含むイオンを検出する検出システムと、
データ処理システムの別々のチャネル中の検出信号を受信・処理し、かつ、処理した検出信号を併合して質量スペクトルを構築するデータ処理システムと
を含み、別々のチャネル中の上記処理は、閾値を検出信号に適用することにより検出信号から雑音を除去することを含む。

本発明の別の態様に従って、質量スペクトロメータにおいてイオンを検出するためのデータ収集方法が提供され、このシステムは、
２つ以上の検出器を含む検出システムを使用してイオンを検出すること、および検出システムへのイオンの到着に応答して２つ以上の検出器から２つ以上の検出信号を別々のチャネルに出力することと、
データ処理システムの別々のチャネル中の検出信号を受信・処理することであて、別々のチャネル中の処理は、閾値を検出信号に適用することにより検出信号から雑音を除去することを含むことと、
処理された検出信号をデータ処理システムにおいて併合して質量スペクトルを構築することと
を含む。

本発明のデータ収集のシステムおよび方法は、ＴＯＦ質量分析におけるハイ・ダイナミック・レンジ質量スペクトルの生成のために特に有益である。検出システムにより生成される２つ以上の検出信号に好ましくは相異なる利得を与え、それにより、別々のチャネルにおける処理後に、これらの信号をデータ処理システムにおいて併合してハイ・ダイナミック・レンジ・スペクトルを形成することができる。これまでに、たとえば１０⁴〜１０⁵のダイナミック・レンジが達成可能であることが見出されている。特にＴＯＦ質量分析において、この発明のシステムおよび方法を使用して収集されるスペクトルは、有機化合物、たとえば、医薬品有効成分、代謝産物、少量のペプチドおよび／またはタンパク質の特定および／または定量化、および／または種の遺伝子型または表現型等の特定のために利用することができる。

処理された信号を併合して質量スペクトルを形成する前に、別々の処理チャネル中の検出信号のそれぞれに関する処理を行うことにより、特に雑音閾値を適用することにより、処理された信号から質量スペクトルを構築する際の融通性が向上する。各個別検出信号に独立にデータ処理の各ステップが施され、それにより処理システムが質量スペクトルの構築のために検出システムの各出力からの検出信号を利用できるからである。少なくとも２つ以上の信号が、相異なる、すなわち、たとえば相異なる雑音レベルおよび相異なるベースラインを有する別々の検出器を起源としており、したがって固有の閾値関数を各信号チャネルに適用することが好ましい。さらに、この方法により個別に保たれた処理後の検出信号は、別々に、たとえばデータ・システム上に格納し、後に、たとえば質量スペクトルのさらなる構築のために使用することができる。したがって、本発明は、検出システムからのデータが改善され、かつ、より効率的な使用を可能にする。別々のチャネルにおける検出信号の並行処理の使用により、本発明により与えられる改善は、処理速度をいささかも犠牲にするものではない。

この質量スペクトロメータはどのような適切なタイプの質量スペクトロメータでもよいが、ＴＯＦ質量スペクトロメータとすることが好ましい。本出願においては、ＴＯＦ質量スペクトロメータという用語は、ＴＯＦ質量分析器（単独質量分析器または１つ以上の他の質量分析器との組み合わせとしての）を含む質量スペクトロメータ、すなわち、単独ＴＯＦ質量スペクトロメータまたはハイブリッドＴＯＦ質量スペクトロメータを意味する。

質量スペクトロメータは、イオンを生成するイオン源を含む。質量分析技術における既知の適切なイオン源を使用することができる。適切なイオン源の例は、限定することなく、エレクトロスプレー・イオン化（ＥＳＩ）、レーザー脱離、マトリックス支援レーザー脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）または大気圧イオン化（ＡＰＩ）を使用してイオンを生成するイオン源を含む。ＴＯＦ質量分析における本発明の好ましい適用を踏まえて、このイオン源は、ＴＯＦ質量スペクトロメータに適切なパルス状インジェクタを有するイオン源、たとえば、上述のタイプの１つ、すなわち、イオンのパケットを生成するパルス状イオン源とすることが好ましい。

このイオン源により生成されるイオン、たとえば、ＴＯＦ質量分析において生成されるイオンのパケットは、質量分析器に転送され、イオンはそれにより質量対電荷比（ｍ／ｚ）に従って分離される。質量スペクトロメータは、したがって、イオン源からイオンを受け取る質量分析器も含んでいる。質量分析技術における既知の適切な質量分析器を使用することができる。適切な質量分析器の例は、限定することなく、ＴＯＦ、４極または多極フィルタ、静電トラップ（ＥＳＴ）、電場、磁場、ＦＴ−ＩＣＲ質量分析器を含む。ＥＳＴの例は、限定することなく、３Ｄイオン・トラップ、リニア・イオン・トラップ、Ｏｒｂｉｔｒａｐ^TM質量分析器などの軌道周回イオン・トラップを含む。ＴＯＦ質量分析における本発明の好ましい適用を踏まえて、質量分析器は、ＴＯＦ質量分析器を含むことが好ましい。タンデム（ＭＳ²）および高次ステージ（ＭＳⁿ）質量分析のために２つ以上の質量分析器を使用することができ、また、質量スペクトロメータは、２種類以上の異なるタイプの質量分析器を含むハイブリッド質量スペクトロメータ、たとえば四重ＴＯＦ質量スペクトロメータとすることができる。したがって、当然のことであるが、本発明は、タンデム質量スペクトロメータ（ＭＳ／ＭＳ）および多段質量処理を行う質量スペクトロメータ（ＭＳⁿ）を含む既知の構成の質量スペクトロメータに適用することができる。

衝突セルなどの付加構成部品を使用して、質量分析器による質量分析の前にイオン群を分断する能力を付与することができる。

質量分析器により質量対電荷比（ｍ／ｚ）に従って分離されたイオンは、検出のために検出システムに到着する。検出システムについて下記においてさらに詳しく説明する。

当然のことであるが、この技術において知られているように、たとえば、イオン・ガイド、イオン・レンズ、イオン・デフレクタ、イオン・アパーチャ等の１つ以上を使用して、イオン源の質量スペクトロメータ、質量分析器および検出システムの種々のステージならびにたとえば衝突セルなどの任意選択のステージをイオン光学構成部品により相互に接続することができる。

質量スペクトロメータは、この技術において知られている他の分析装置と結合することができる。たとえば、それは、クロマトグラフ・システム（たとえば、ＬＣ−ＭＳまたはＧＣ−ＭＳ）またはイオン移動度分光計（すなわちＩＭＳ−ＭＳ）等と結合できる。

本発明のシステムおよび方法は、ハイ・ダイナミック・レンジのイオン検出が要求される場合およびかかる検出が高速で要求される場合（たとえば、ＴＯＦ質量スペクトロメータにおいて要求されるように）にも有益である。本発明は、ＴＯＦ質量スペクトロメータ、好ましくは多重反射ＴＯＦ質量スペクトロメータ、より好ましくは長飛行経路を有する多重反射ＴＯＦ質量スペクトロメータにおけるイオンの検出に特に適している。本発明は、検出対象のピークのピーク幅（半値全幅またはＦＷＨＭ）が約５０ ｎｓ以下の幅であるときにＴＯＦ質量スペクトロメータにおいて使用することができるが、しかし、一部の例では、ピーク幅はこれより長い場合がある。たとえば、ピークのピーク幅は、約４０ ｎｓ以下、約３０ ｎｓ以下および約２０ ｎｓ以下、一般的には０．５〜１５ ｎｓの範囲とすることができる。好ましくは、検出対象のピークのピーク幅は０．５ ｎｓ以上、たとえば１ ｎｓ以上、たとえば２ ｎｓ以上、たとえば３ ｎｓ以上、たとえば４ｎｓ以上、たとえば５ ｎｓ以上である。好ましくは、検出対象のピークのピーク幅は、一般的に１２ ｎｓ以下、たとえば１１ ｎｓ以下、たとえば１０ ｎｓ以下である。ピーク幅は、次の範囲内とすることができる：たとえば１〜１２ ｎｓ、たとえば１〜１０ ｎｓ、たとえば２〜１０ ｎｓ、たとえば３から１０ ｎｓ、たとえば４〜１０ ｎｓ、たとえば５〜１０ ｎｓ。

この検出システムは、好ましくは、ＴＯＦ質量スペクトロメータにおいてイオンを検出するための検出システムである。したがって高速検出器が望ましく、かつ、この技術において知られている。この検出システムは、少なくとも第１および第２検出器を含んでいる。これらは、それぞれ、この検出システムに到着するイオンに応答して別々のチャネルにおいて第１および第２検出信号を生成する。本発明のシステムは、したがって英国特許第２４５７１１２号明細書、国際公開第２００８／０８８６７号パンフレット、米国特許第７，５０１，６２１号明細書および米国特許出願公開第２００９／０９０８６１ Ａ号明細書において記述されている先行技術システム（それは、続いて単に２つの異なる利得で増幅される単一の検出信号を与える単一の検出器を使用する）と対照的に第１および第２独立検出器を含んでいる。

これらの２つ以上の検出器は、好ましくは、同一イオンから時間的に相互にずれている検出信号を生成する。したがって、同一イオンまたはそれから生成される電子などの二次粒子は、最初に第１検出器に到着して第１検出器から信号を生成し、時間遅延の後に第２検出器に到着して第２検出器から信号を生成するので、第２検出器からの信号は、したがって、第１検出器からの信号に対し時間的に遅れている。これは、同一イオンを第１と第２両方の検出器による検出のために利用することによりイオンの効率的な利用を可能にする。第２検出器は、したがって、好ましくは、第１検出器の下流に、より好ましくは第１検出器の背後に配置される。

第１および第２検出器は、同一タイプの検出器または、好ましくは、異なるタイプの検出器を含むことができる。第１および第２検出器は、好ましくは、それぞれ、低利得検出器および高利得検出器である。第１および第２検出器は、好ましくは、それぞれ独立に、荷電粒子検出器（たとえば、到着イオンまたは到着イオンから生成される二次電子の検出器）または光子検出器（たとえば、到着イオンから直接または間接に生成される光子の検出器）である。たとえば、第１および第２検出器のそれぞれが荷電粒子検出器を含むこと、または第１および第２検出器のそれぞれが光子検出器を含むこと、または第１および第２検出器の一方が荷電粒子検出器を含み、第１および第２検出器の他方が光子検出器を含むことが可能である。好ましくは、低利得検出器となり得る第１検出器は、荷電粒子検出器を含む。好ましくは、高低利得検出器となり得る第２検出器は、光子検出器を含む。この装置は、したがって、たとえば、光子検出器より一般的に低い利得の荷電粒子検出器の使用により、出力の飽和が起きる前に雑音はより多いが高率の到着粒子を検出することができる。したがって、ダイナミック・レンジが達成できる。適切なタイプの荷電粒子検出器は電子検出器、たとえば、以下を含む：二次電子増倍器（ＳＥＭ）。このＳＥＭは、検出アノードを有する離散ダイノードＳＥＭまたは連続ダイノードＳＥＭでよい。連続ダイノードＳＥＭは、チャネル電子増倍器（ＣＥＭ）またはより好ましくはマイクロチャネル・プレート（ＭＣＰ）を含むことができる。適切なタイプの光子検出器は、たとえば、以下を含む：フォトダイオードまたはフォトダイオード・アレイ（好ましくはアバランシェ・フォトダイオード（ＡＰＤ）またはアバランシェ・フォトダイオード・アレイ）、光電子増倍管（ＰＭＴ）、電荷結合素子、またはフォトトランジスタ。ソリッド・ステート光子検出器も好ましいが、より好ましい光子検出器はフォトダイオード（好ましくはアバランシェ・フォトダイオード（ＡＰＤ））、フォトダイオード・アレイ（好ましくはＡＰＤアレイ）またはＰＭＴである。この検出システムは、正帯電イオンまたは負帯電イオンの検出のために使用できる。

１つの好ましい構成の検出システムでは、この検出システムは、到着イオンの受け取りに応答して二次電子を生成するＳＥＭを含み、かつ、ＳＥＭにより生成された二次電子に対して透明な検出アノードまたは電極を含む荷電粒子検出器が使用される。透明電極は、その中の電子の通過を把握する。たとえば、電子は、透明電極に結合された電荷または電流の計測器を使用して検出される。薄い導電層（たとえば金属）を含み得る透明電極は、したがって検出システムの第１低利得検出器を形成する。透明電極を通過する電子は、次に第２検出器からの信号を生成する。特に、透明電極を通過する電子はシンチレータに衝突し、シンチレータにより生成された光子が光子検出器により検出される。光子検出器は、したがって検出システムの第２の高利得検出器を形成する。かかる検出器は、本出願に参照により全面的に含まれている内容を有する英国特許第０９１８６２９．７号明細書および英国特許第０９１８６３０．５号明細書において記述されている。かかる検出システムは、電荷検出器により検出される二次電子も光子検出器により検出される光子を生成するために使用されるので、非常に高効率である。光子および光子検出器の使用は、二次電子生成のために使用される高電圧からの減結合も可能にする。これは、たとえば、検出システムのこの部分を加速電圧（および極性）から独立とする。

本出願において第１および第２検出器に言及しているが、これは、１つ以上の別検出器および別々のチャネルにおける１つ以上の別の検出信号の出力、たとえば、場合によっては有益たり得る第３の検出器および検出信号等の使用を排除しない。そのような場合には、かかる１つ以上の別の検出器がそれぞれ１つ以上の別の検出信号生成用であり、かつ、かかる信号がデータ処理システムの１つ以上の別のそれぞれのチャネルにおいて受信・処理されること、すなわち、各検出器がそれ自身のチャネルにおいてそれぞれの検出信号（それ自身のそれぞれの処理チャネルにおいて受信・処理される）を生成すること、および各それぞれの処理された検出信号を使用して質量スペクトルを構築することが好ましい。したがって、本出願における第１および第２検出信号、第１および第２検出器、第１および第２チャネル等に対する言及は、第３（およびそれ以降）検出信号、第３（およびそれ以降）検出器、第３（およびそれ以降）チャネル等を有する場合を含むが、しかし、検出システムは、好ましくは２つの検出器のみを含む。

本発明により使用される検出システムは、したがって、好ましくは、ハイ・ダイナミック・レンジを有する。それは、さらに、単純かつ堅牢かつ低コスト構成の構成部品により与えられ得る。この検出システムは、好ましくは単一粒子計数までの低率の到来イオンに応答する。すなわち、それは、高感度、たとえば、光子検出器などの高利得検出器の使用により与えられる高感度を有する。それは、地電位における光子検出による高利得および低雑音の長所を有する。この検出システムは、さらに、たとえば低雑音の光子検出器より一般的に低い利得の荷電粒子検出器などの低利得検出器の使用により、出力の飽和が起きる前に雑音はより多いが高率の到来粒子を検出することができる。たとえば第１および第２検出器からのデータを併合することにより、１０⁴〜１０⁵のダイナミック・レンジを達成することができる。すなわち、第１および第２検出信号を処理した後に、ハイ・ダイナミック・レンジのスペクトルを生成する。本発明は、したがって非常に小さいピークと非常に大きいピークの両方を検出するために種々の利得で多数のスペクトルを収集する必要性を回避することができる。

かかる構成のさらなる長所は、１つの検出器が実験実行中に動作を停止した場合に他の作動中の検出器から依然として少なくとも一部のデータが収集され得るということである。

このデータ処理システムは、これから詳細に説明する１つ以上の機能を遂行するように設計される。

このデータ・処理システムは、別々のチャネルにおける検出信号の前置増幅を含むことが好ましい。これらの信号は、この方法により、すなわち、同一または相異なる利得、好ましくは相異なる利得を適用して、独立に前置増幅され得る。これは、好ましくは検出システムの第１および第２検出器として相異なる種類の検出器の使用から生ずる利得の区別に加えて、検出信号間の利得のさらなる区別を可能にする。検出器間の固有の利得の差異に加えて、前置増幅器を使用してチャネル間の利得差異を適用することは、ＡＤＣの全範囲を使用することも可能にする。したがって、好ましくは、このデータ処理システムは、前置増幅器、好ましくは各検出信号を独立に前置増幅するための２つ以上のチャネルを有する前置増幅器を含む。これらの前置増幅された検出信号は、別々のチャネルの前置記増幅器からデータ処理システムのさらなる構成要素、好ましくはデジタイザに出力される。これらの検出信号は、その他の処理の前に増幅されることが好ましい。

好ましくは、このデータ処理は、データ処理システムにおける別々のチャネル中の検出信号のデジタル化を含む。これらの信号は、この方法により独立にデジタル化され得る。このシステムは、２つ（またはそれ以上）の別々の（独立した）デジタイザを含むことができる。すなわち、各チャネルについて１つ、または二重チャネル・デジタイザ（または多重チャネル・デジタイザ）を使用し、実際にコスト効率化することができる。本出願のために必要なデータ転送速度および精度を有する適切な二重チャネル・デジタイザを、たとえば、電気通信応用におけるＩ／Ｑ検出のために使用する。これらの検出信号は、したがって、好ましくは、それぞれ、検出信号を独立にデジタル化するために２つ以上のチャネルを有するアナログ−デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）においてデジタル化される。したがって、好ましくは、このデータ処理システムは、デジタイザ（ＡＤＣ）、好ましくは各検出信号を独立にデジタル化するために２つ以上のチャネルを有するデジタイザを含む。これらの検出信号は、好ましくは上述したように別々のチャネルにおいて前置増幅された後に、閾値の適用による雑音除去のステップを含むさらなる処理の前にそれらをデジタル化するために、好ましくはそれぞれにＡＤＣの別々のチャネルに入力される。これらのデジタル化された検出信号は、別々のチャネル中のＡＤＣからこのデータ処理システムのさらなる別の構成要素に出力される。

このデータ処理システムは、検出信号のそれぞれの個別処理のための（特に２つ（またはそれ以上）の処理チャネルにおける並行処理のための）２つ（またはそれ以上）の処理チャネルを有するシステムである。好ましくは、これらの検出信号の処理の大部分は、質量スペクトルを構築するために検出信号を併合する前に、このデータ処理システムの別々のチャネルにおいて行われる。したがって、これらの検出信号の処理は、このデータ処理システムの別々の、すなわち、独立の処理チャネルにおいて、好ましくは並行して（すなわち同時に）行われる。これらの検出信号は、したがって、これらの検出信号を併合することにより質量スペクトルを構築するまで、このデータ処理システム中において別々の状態に維持される。本出願における用語、処理された検出信号は、それらがこのデータ処理システムにより処理された後の検出信号を指す。これらの処理された検出信号は、次にこのデータ処理システムにより併合されて質量スペクトルを構築する。

上述した検出信号の前置増幅およびデジタル化の任意選択のステップ（それらは、好ましくはその他のデータ処理の前に行われる）のほかに、このデータ処理は、好ましくは次のステップの１つ以上を含む（これらのうち、ステップｉｉｉ）が最も重要である）：
ｉ．）検出信号をデシメーションすること
ｉｉ．）雑音を除去するための閾値を計算すること
ｉｉｉ．）閾値を適用することにより検出信号から雑音を除去すること
ｉｖ．）雑音を除去した後に検出信号を圧縮すること
ｖ．）検出信号中のピークを特徴付けること。

ステップを処理する順番は変更することができるが、上記のステップの順序は、これらのステップの好ましい順序を示す。この技術において知られている処理ステップなどのさらなる任意選択のデータ処理ステップは、検出信号を併合する前に別々のチャネルにおいてこのデータ処理システムにより遂行することができる。上述の選択された処理ステップに続くのは、処理された検出信号を併合して質量スペクトルを構築するステップである。

当然のことであるが、このデータ処理システムにより遂行される処理は、質量スペクトルの構築を単純化して促進するために、質量スペクトルを構築する前に検出信号のデータを低減する機能を果たす。この処理ステップについてこれからさらに詳しく説明する。

この処理は、好ましくは、検出信号のそれぞれの標本抽出率を低減するためにこのデータ処理システムの別々のチャネルにおいて行われる検出信号のデシメーションを含む。検出信号のそれぞれの標本抽出率は、たとえば、２または４、またはその他の倍率により低減することができる。デシメーション後の結果の検出信号の標本抽出率は、一般的に少なくとも２５０ＭＨｚ、好ましくは２５０ＭＨｚ〜１ＧＨｚの範囲、より好ましくは２５０ＭＨｚ〜５００ＭＨｚの範囲となり得る。好ましくは、デシメーションは、平均ピーク幅について、たとえば、３、５、７、９または１１程度のピークあたりデータ・ポイントをもたらす。デシメーションは、デジタル化ステップの後に行われる。デシメーションは、その他の処理ステップと同様に、好ましくは検出信号のそれぞれの処理チャネルのそれぞれにおいて並行して行われる。このデータ処理システムは、好ましくは、デシメーションを行うデシメータまたはデシメーション・モジュールを含む。このデシメータまたはデシメーション・モジュールは、好ましくは、ＦＰＧＡ、ＧＰＵまたはＣｅｌｌなどの専用プロセッサ上またはその他の専用デシメーション・ハードウェア上で実現される。デシメーション・モジュールは、好ましくは、任意選択の前置増幅器およびＡＤＣ後に、しかし閾値モジュールが雑音を除去する前に、検出信号を処理する。適切なデシメーション方法は、以下を含む：多数の連続ポイント（すなわち、デシメーション装置に対する入力値）を加え合わせて結果としてのポイント（すなわち、デシメーション装置の出力値）を形成すること（これは、１つの形式の平均である）、ｎ番目ごとにのみ入力値を保持すること。一般的にデシメーションにおいては、ポイント数を低減する前にデジタル・フィルタ（一般的バンドパス・フィルタ）が信号に適用される。信号中の「スパイク」が当面の問題である場合、これは信頼できる解決方法となり得る（しかしながら、メジアン・フィルタなどのその他の解決方法もある）。

この処理は、閾値を検出信号に加えることにより検出信号から雑音を除去する処理を含む。このデータ処理システムは、好ましくは、雑音を除去する閾値を印加するための雑音閾値または雑音除去モジュールを含む。雑音閾値または雑音除去モジュールは、たとえばＦＰＧＡ、ＧＰＵまたはＣｅｌｌなどの専用プロセッサ上で実現できるが、より好ましくは、デシメーションを行う場合にデシメーションを行うために使用された同一の専用プロセッサを使用する。この専用プロセッサは、好ましくは、飛行中の雑音を除去する閾値を適用するためのものである。

雑音除去のステップの結果として、検出信号中のピークのみが残る（すなわち、背景騒音から突出するピーク）。検出信号は、それぞれ、データ・ポイントの時間的シーケンス（すなわち、過渡信号）を含み、その各ポイントは強度値を有し、これらのポイントがデータの集まりを構成する。閾値は、検出信号から雑音を除く機能を果たす。すなわち、それは、閾値未満の強度値を有するポイントを除去する。除去されたポイントは、データ中においてゼロにより事実上置換される。したがって、それは、この閾値未満でない検出信号のポイントのみを検出信号の併合のために転送する。この方法によりデータの転送および格納のために必要な帯域幅が低減される。

このデータ処理システムにより適用される閾値は、閾値未満の強度値を有する検出信号のポイントを拒絶し、それにより１つ以上の閾値以上の強度値を有する検出信号のポイントのみを使用して質量スペクトルを構築する。この閾値は検出信号の雑音の尺度であり、それによりこの閾値を適用することが雑音フィルタとして働く。この閾値は、１つ以上の閾値を含むことができる。単一の閾値を検出信号のすべてのポイントについて使用することもできるが、しかし、好ましくは、特にＴＯＦ適用に関して、複数の閾値を使用する。たとえば、この場合、検出信号の各ポイントまたはポイントのグループをそれ自身の関連閾値を使用して濾過する。すなわち、それは、それに適用されるそれ自身の閾値を有する。したがって、検出信号中のポイントは時系列ポイントであるから、好ましくは、特にＴＯＦ適用に関して、閾値は、検出信号中において時間とともに変化する動的な閾値である。たとえば、それは、ＴＯＦ適用における飛行時間である。

閾値を適用して別々の処理チャネルのそれぞれにおける雑音を除去する。すなわち、それは、検出信号に独立に、好ましくは並行して適用されるようにする。同一または別々の閾値を検出信号のそれぞれに加えることができるが、好ましくは、別々の閾値を検出信号のそれぞれに加える。閾値を第１おおよび第２検出信号に独立に加えることは、より正確な閾値の使用を可能とし、それにより各検出信号からのデータのよりよい使用を可能とする。たとえば、同一の閾値レベルを両方の信号に適用する場合に発生する有益なデータの喪失の確率が低くなり得る。少なくとも、２つの検出信号は相異なる雑音レベルおよび相異なるベースラインを持ち得る相異なる検出器に由来するのであるから、好ましくは、各チャネルのために固有の閾値機能が必要である。閾値適用は、相関ピーク収集も含み得る（すなわち、閾値が各チャネル中の信号に独立に適用されるが、しかし１つのチャネル中の信号にピーク（データ・ポイントのグループにより構成されるピーク）が発見された場合に、データ・ポイントの対応するグループが両方のチャネルにおいて保持される）。

検出信号のために別々の閾値が計算される場合、これらの閾値は並行してまたは順次計算することができるが、好ましくは並行して計算する。閾値は、閾値の適用される検出信号から飛行中に計算され得るか、または１つ以上の先行検出信号から、またはこれまでに構築された１つ以上の質量スペクトルから計算され得る。閾値が閾値の適用される検出信号から飛行中に計算される場合、閾値の計算は、好ましくは、このデータ処理システムの高速処理装置、たとえば、以下においてより詳しく説明されるＦＧＰＡ，ＧＰＵまたはＣｅｌｌにより行う。換言すると、閾値モジュールは、好ましくは上述の高速処理装置上で実現される。閾値が１つ以上の先行検出信号から、またはこれまでに構築された１つ以上の質量スペクトルから計算される場合、閾値の計算は、好ましくは、以下においてより詳しく説明するこのデータ処理システムの計器コンピュータにおいて行われる。

閾値は、好ましくは、特にＴＯＦ適用の場合、たとえば種々の時間範囲を有する参照テーブル（ＬＵＴ）に格納する。閾値は、したがって、単に検出信号をＬＵＴに格納されている閾値と比較することにより適用される。検出信号をＬＵＴに格納されている閾値と比較することは、計算的に単純な処置であり、雑音フィルタとして効果的であることが分かっている。好ましくは各検出信号について別々のＬＵＴを計算して使用する。すなわち、好ましくは各処理チャネルについて別々のＬＵＴを計算する。ＬＵＴは、好ましくは、少なくとも閾値が適用されている間、高速処理装置上に常駐する（特に当該高速処理装置上で計算される場合）。ＬＵＴは、別のプロセッサ、たとえばＣＰＵコア、たとえば計器コンピュータのＣＰＵコア上で計算し、かつ／または格納することができ（特にその別のプロセッサ上で計算される場合）、かつ、この高速プロセッサにアップロードしてこの高速プロセッサをして閾値を適用せしめることができる。この場合、ＬＵＴは、少なくとも当該閾値が適用されている間、この高速処理装置に常駐する。

所与の処理チャネルのために１つのＬＵＴを計算し、そのチャネル中の複数の以降の検出信号を処理するために使用することができる。これは、処理効率の観点から好ましい。それぞれの新しい検出信号について新しいＬＵＴを計算しないからである。別の方法として、特に１つの検出信号（スキャン）から他の信号毎に雑音レベルがかなり変化する場合、各検出信号について新しいＬＵＴを計算して使用することができる。後者の場合、閾値を雑音除去のために適用する高速処理装置上でそれぞれの新しいＬＵＴを計算することが特に好ましい。かかるＬＵＴまたは閾値の飛行中計算は、データが閾値の計算中にキャッシュに格納されることを必要とする。もう１つの方法として、前の（最初の）スキャンからＬＵＴの一般的形状を記憶し、かつ、最初のＬＵＴの構築のために使用したものより少ない個数のポイントに基づいて決定される倍率によりＬＵＴ全体の大きさを決めることもできる。後者の方法は、ＬＵＴが更新されるまで１つ以上のＬＵＴ／スキャン全体をキャッシュに格納することを含むことができる。ある実施形態においては、ＬＵＴの動的変化を制限することにより、変動をスキャンする期待最大スキャンを超えないようにし、かつ、２つ（またはそれ以上）のチャネル間の閾値の相対的拡縮を調整することができる。

雑音除去のための閾値を通過する検出信号、すなわち、そのポイントは、好ましくは、たとえば、より効率的なその後の処理（たとえば、ピークの特徴付け）および／またはこのデータ処理システムの別の装置への転送（たとえば、雑音除去を行った高速専用処理装置からこの計器コンピュータの一部などの汎用コンピュータへの転送）のために、このデータ処理システムにより圧縮される。この圧縮ステップは、好ましくは検出信号のそれぞれについて、すなわち、別々のチャネルのそれぞれにおいて行われ、かつ、一般的に検出信号のより高速のさらなる処理および／または転送を可能とすることを目的とする。データの圧縮は、好ましくはデータのフレームへの圧縮を含む。閾値の適用において、それにより識別された雑音ポイントは、一般的にゼロにより置換される。閾値の適用によりデータ中に残されたゼロは、好ましくは圧縮データでは除去され、データの圧縮を可能にする。圧縮されたデータ中に残るデータの位置は、好ましくは、たとえばタイム・スタンプまたはその他の位置的値（たとえば信号中のデータの連続番号）により指示される。好ましくは、各フレームの幅に融通をもたせて、各フレームが最小サイズから最大サイズにわたるサイズを有し、かつ、最小サイズに達した場合にフレーム中にピークが存在しない限り各フレームが最小サイズからなるようにする。このようなピークが存在する場合には、そのフレームは、ピークが終了するまで、当該フレームが上記最大サイズを超えないことを条件として、上記最小サイズを超えて拡張される。これにより、最大サイズに達したときにピークが存在する場合に、このピークのポイントが次のフレームに続くようにする。このデータ圧縮のより詳しい説明および例示は、本出願の後段において行う。本出願において記述する方法によるデータの縮減およびこのデータ処理システム上の縮減データの圧縮は、このデータ処理システム内における高速転送、たとえばＦＰＧＡ、ＧＰＵまたはＣｅｌｌなどの専用飛行中プロセッサから計器コンピュータへの転送およびその後の高速処理を容易にする。

本発明は、好ましくは、閾値の適用による雑音除去のステップに続いて検出信号中のピークの検出および特徴付に進む。雑音除去後にデータが圧縮された場合、データは、好ましくは、ピーク検出および／または特徴付けを行う前に、解凍される。この解凍は、好ましくはゼロのデータ中への再導入を含まないが、ピーク・データは好ましくはフレーム中から抽出される。ピーク検出は、閾値適用後に残ったデータ中の特定のピークを識別するために行われる。このピーク識別は、検出されたピークの特徴付けの前に行われるが、この特徴付けは、以下のステップの一方または好ましくは両方を含み得る：
ａ）当該ピークの１つ以上の品質係数を生成すること、および
ｂ）たとえば、質量中心決定アルゴリズムを使用して、これらのピークの質量中心を決定すること。

品質係数は、ピークの決定された質量中心が現在または将来信頼できるか否か、さらなる措置、たとえば、別の（たとえば、より精緻な）ピーク検出および／または質量中心決定アルゴリズムを適用すること、または再度ピークを収集すること、すなわち新しい検出信号から収集することが必要であるか否か決定するために使用することができる。好ましくは、ピークの品質係数は、ピークの平滑度および／または形状の評価を含み、また、任意選択的にピークの平滑度および／または形状の期待またはモデル平滑度および／または形状との比較を含む。ピークの検出および特徴付けのさらなる詳細については、後述する。十分に高い品質係数で最終的に収集できないピーク（たとえば、任意選択の再収集後または高度ピーク検出方法の後においても）は、最終併合スペクトルから放棄されるか（たとえば、最終併合スペクトルを形成するために使用されない）または併合スペクトル中に残存するが任意選択的に低品質として標識を付されるかのいずれでもよい。

本発明は、好ましくは、２つ以上の検出信号を整列させた後にそれらを併合する。この整列は、別々のチャネル間の時間遅延を補正するためである。１つ以上の検出信号を時間軸上で一定のオフセットだけ移動する。このオフセットは、較正ステップにおいて決定されているであろう。

較正ステップは、好ましくは、検出信号のピークの時間座標をｍ／ｚ比に変換するために行われる。この較正は、検出信号を併合して質量スペクトルを構築する前または後に行うことができる。換言すると、ＴＯＦ適用の場合、本発明は、飛行時間をｍ／ｚに変換する検出信号および／または質量スペクトルの較正を含んでいる。較正方法はこの技術において既知であり、本発明において使用することができる。以下においてより詳しく述べるように内部較正および／または外部較正を使用できる。

処理された検出信号をこのデータ処理装置により併合して質量スペクトル、好ましくはハイ・ダイナミック・レンジ（ＨＤＲ）の質量スペクトルを構築する。かかる質量スペクトルは、本出願においては、併合された質量スペクトルと称する。処理された検出信号は、好ましくは高利得信号および低利得信号を含む。たとえば、検出信号が少なくとも本質的に異なる利得を有する第１および第２検出器により生成されることおよび／または前置増幅器により与えられる異なる利得のためである。本出願の他の場所で述べたように、高利得検出信号は、好ましくは、光子検出器である検出器から由来し、かつ、低利得信号は、好ましくは、荷電粒子検出器である検出器から由来する。特に前述の検出器タイプからの高利得信号および低利得信号の使用は、ＨＤＲスペクトルの採集を可能にする。

高利得検出信号および低利得信号を併合して（ハイ・ダイナミック・レンジ）質量スペクトルを形成するステップは、好ましくは、高利得検出信号が飽和してない場合に高利得検出信号を使用して質量スペクトル中のデータ・ポイントの質量スペクトルを構築し、かつ、高利得検出信号が飽和している場合に低利得検出信号を使用して質量スペクトル中のデータ・ポイントの質量スペクトルを構築することを含む。低利得検出信号を使用して質量スペクトルを形成する場合の質量スペクトル中のデータ・ポイントに関して、低利得検出信号は、好ましくは高利得検出信号の低利特検出信号に対する相対的増幅度により拡大される。

併合ステップ中のデータ転送速度は、たとえば、検出信号の質量中心のみを使用して検出信号を併合することにより低減され得る。この場合、検出信号の質量中心強度対のみ併合され得る。

併合することは、十分に高い品質係数を有するピークのみを併合することを含み得る。低すぎる品質係数のピークについては、十分に高い品質係数が達成された後に任意選択的にそれらを併合して質量スペクトルを構築することとし、品質係数を改善するために高度の検出および／またはピークの再収集を施すこともできる。実際には、１つの検出信号のみ、十分に高い品質係数を有するピークを含む必要がある。したがって、好ましくは、所与のピークについて、そのピークの最高品質係数がそれ自身十分高いことを条件として、当該ピークの最高品質係数を有する信号のみを使用して併合スペクトルを得る。

各チャネルについて、２つ以上の、好ましくは多数の、そのチャネルにおいて処理された検出信号を合計してから、別々のチャネルからの検出信号を併合して最終質量スペクトルを形成することができる。検出信号の合計は、データ処理の任意の適切な時点において行うことができる。たとえば、検出信号の合計は、デシメーション後に、たとえば、本出願において記述された高速プロセッサ上において、雑音除去より前に行うことができる。すなわち、これにより、１つの雑音除去ステップが複数の検出信号の合計に対してなされるようにする。他の例では、処理ステップが各信号について行われた後に、しかし、各チャネルからの信号を併合して併合質量スペクトルを形成する前に、複数の処理された検出信号を合計することができる。

別の方法として、または追加として、２つ以上、好ましくは多数の併合された質量スペクトルを合計して最終質量スペクトルを形成することができる。

本出願における質量スペクトルに対する言及は、その範囲中に、たとえばＴＯＦ質量スペクトロメータの場合の時間領域、周波数領域などのｍ／ｚ以外の領域を有するがｍ／ｚに関係づけられるその他のスペクトルに対する言及を含む。

要するに、このデータ処理システムによる処理は、好ましくは、以下の処理ステップを含み得る：
別々のチャネルにおける検出信号のデジタル化、
検出信号が処理されるデータ処理システムの各別々のチャネル中において検出信号に参照テーブル（ＬＵＴ）を適用すること（ただし、ＬＵＴは、雑音レベルを表す閾値を定義する）
たとえば、ＦＰＧＡ、ＧＰＵまたはＣｅｌｌなどの高速専用プロセッサを使用してＬＵＴ中の閾値を適用することにより別々のチャネル中の検出信号から雑音を除去すること（この場合、閾値通過閾値以上の検出信号のポイントのみ転送される）
たとえば高速プロセッサを使用して閾値を通過した検出信号のポイントを圧縮し、かつ、圧縮したポイントを計器コンピュータに転送すること
検出信号のポイントを計器コンピュータ上で解凍し、かつ、検出信号中のピークを検出すること
検出されたピークの質量中心を計器コンピュータを使用して見出すこと
検出されたピークの１つ以上の品質係数を決定すること、任意選択のステップとしてこれらの品質係数を使用してさらなるどれかのデータ処理ステップまたはさらなるデータ収集ステップを行うか決定すること（すなわち、これらの品質係数をデータ依存決定のために使用する）、および
たとえば、較正中に決定された値を使用してこれらの検出信号を整列させる。これらの処理ステップに続くのは、処理された検出信号を併合して質量スペクトルを構築するステップである。

このデータ処理システムは、適切なデータ処理装置を含み得る少なくとも１つのデータ処置装置を含む。このデータ処理システムは、好ましくは、特に飛行中検出システムからの検出信号の高速処理のための、少なくとも１つの専用処理装置を含む。専用処理装置は、一般的に速度が重視されるステップのためにのみ必要であり、かつ／またはそのために使用される。そのようなステップは、データ圧縮ステップまでであり、それらを任意選択的に含んでよい。好ましくは、上記の少なくとも１つの専用プロセッサは、少なくともデシメーションおよび閾値を使用する雑音濾過を行うように設計される。それ以降のステップは、オフラインを含めて随時効果的に行うことができる（システムにおいてデータ依存収集決定のために情報が要求されない限り）。このデータ処理システムの専用処理装置は、特に、そこにおいて並行計算を行うための２つ以上のチャネルを有する高速処理装置である。この専用処理装置の主な特徴は、それが要求される計算ステップを必要な（デシメーションされた）データ転送速度で行うことが可能でなければならないことである。かかる高速専用処理装置の好ましい例は、以下を含む：デジタル受信シグナル・プロセッサ（ＤＲＳＰ）、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ），デジタル・シグナル・プロセッサ（ＤＳＰ）、グラフィックス・プロセッシング・ユニット（ＧＰＵ）、セル広帯域エンジン・プロセッサ（Ｃｅｌｌ）等。好ましくは、このデータ処理システムは、ＦＰＧＡ、ＧＰＵおよびＣｅｌｌからなるグループから選択された専用処理装置を含む。このデータ処理システムは、たとえば、ＦＰＧＡ、ＧＰＵおよびＣｅｌｌのグループから選択された２つ以上の専用データ処理装置を含むことができ、かつ、これらの２つ以上の専用データ処理装置は同じ装置（たとえば、２つのＦＰＧＡ）または異なる装置（たとえば、ＦＰＧＡおよびＧＰＵ）とすることができる。しかし、このデータ処理システムにおいて２つ以上のかかる専用処理装置を使用することは、それほど好ましくない。これらの装置間のバス接続がデータのボトルネックとなる可能性があり、また、一般的に単一のかかる装置が必要なデータ処理を行うことができるからである。したがって、このデータ処理システムは、好ましくは、ＦＰＧＡ、ＧＰＵおよびＣｅｌｌのグループから選択された装置などの１つの専用データ処理装置を有する。上記の少なくとも１つの専用処理装置は、好ましくは飛行中処理または計算のために使用する。

上記の少なくとも１つの専用処理装置は、検出信号の一部の処理を行うこと（すなわち、処理ステップのすべてではなく一部）または場合によっては検出信号の処理のすべてを行うこともできる。上記の少なくとも１つの専用処理装置は、好ましくは、少なくとも閾値の適用により検出信号から雑音を除去するステップのために使用される。上述したように、専用処理装置は、一般的に、スピードが重視されるステップのためにのみ必要であり、かつ／または使用される。そのようなステップは、データ圧縮ステップまでのステップであり、任意選択的にそれらを含んでよい。これらのステップは、閾値の適用により検出信号から雑音を除去するステップを含む。上記の少なくとも１つの専用処理装置は、したがってさらに、好ましくは、本出願において記述される少なくとも次のデータ処理ステップのために使用される：
・検出信号のデシメーション
・閾値の適用による検出信号からの雑音の除去
・雑音を除去した後の検出信号の圧縮。

上記の少なくとも１つの専用処理装置は、以下のステップの１つ以上を含むその他のデータ処理ステップのためにも使用することができる：
・雑音を除去するための閾値を計算すること
・検出信号中のピークを特徴付けること（たとえば、雑音除去後）
・検出信号を併合して質量スペクトルを構築すること。

雑音除去のための閾値を計算するステップは、閾値を飛行中に計算する必要がある場合、たとえば、性能上の理由から閾値を定義する新しいＬＵＴが各検出信号について必要である場合に、好ましくは専用処理装置上で行われる。その他の場合、閾値／ＬＵＴは、好ましくは、別の、好ましくは多目的コンピュータ、たとえば、マルチコア・プロセッサ、ＣＰＵまたは埋め込みＰＣ上で計算され（これは、計器コンピュータのプロセッサでよい）、かつ、閾値を検出信号に適用するためにＦＰＧＡ、ＧＰＵまたはＣｅｌｌなどの専用プロセッサにアップロードされる。

検出信号中のピークを特徴付けるステップおよび／または検出信号を併合して質量スペクトルを構築するステップも専用処理装置上で遂行できるが、しかし好ましくは、検出信号が専用プロセッサにより部分的に処理され、そこから転送された後に、汎用コンピュータ、たとえば、マルチコア・プロセッサ、ＣＰＵまたは埋め込みＰＣ上で計算する（これは、計器コンピュータまたはその一部でよい）。

このデータ処理システムは、好ましくは、一般的に計器コンピュータと呼ばれるコンピュータを含む。計器コンピュータは、一般的に汎用コンピュータ、たとえば、マルチコア・プロセッサ、ＣＰＵまたは埋め込みＰＣを含む。計器コンピュータは、たとえばデータ処理を加速するためにＧＰＵまたはＣｅｌｌなどの専用プロセッサを含んでもよい。計器コンピュータは、ピークの特徴付けおよび処理された検出信号の併合による質量スペクトルの構築など、閾値による雑音除去後のデータ処理ステップの一部を行い得る。

計器コンピュータは、この計器、すなわち質量スペクトロメータの１つ以上の運転パラメータ、たとえば、イオン分離ウィンドウの幅、イオン入射時間、衝突セルを使用する場合の衝突エネルギー、ならびに自己監視、たとえば検出器再較正などの機能を制御することができる。計器コンピュータは、好ましくは、データ依存決定を行ってその後のデータ収集すなわち検出信号の収集のための質量スペクトロメータの運転パラメータをデータ収集の評価、たとえば、質量スペクトル中のピーク品質の評価に基づいて変更する。計算されたピーク品質係数は、かかる評価のために使用できる。たとえば、データ処理システムにより評価された解像不十分なピークは、今後の収集においてよりよい品質ピークまたはスペクトル（たとえば、より高い解像度）を収集するために、計器コンピュータをして質量スペクトロメータの運転パラメータを変更せしめることができる。別の例では、計器コンピュータは、ＭＳ／ＭＳ収集を行う時期を決定するために、ＬＣ−ＭＳ実験においてクロマトグラフ・ピークのプロフィールを評価することができる。計器コンピュータにより行うことができるタイプのデータ依存決定のその他の例は、国際公開第２００９／１３８２０７号パンフレットおよび国際公開第２００８／０２５０１４号パンフレットにおいて開示されている。典型的なデータ依存決定は、検出された質量に基づいて以降の実験において特定の質量の分離および／またはフラグメンテーションを開始するか否か決定することである。

計器コンピュータを使用することにより、たとえば、１つ以上のデータ依存決定（たとえば、処理された検出信号および／または質量スペクトルにおけるピークの評価に基づく１つ以上のデータ依存決定）の結果として、検出システムの１つ以上の運転パラメータを制御することができる。たとえば、計器コンピュータは、検出システムの１つ以上の検出器の利得またはそれらから発生される検出信号を制御することができる。たとえば、検出器の運転パラメータが変更可能であるか、または検出信号の前置増幅の量が変更可能である。たとえば、検出器の利得またはその信号は、その検出器により生成される検出信号において飽和状態が検出された場合に、低減され得る。計器コンピュータを使用して、たとえば、フィードバック・プロセスによる利得制御を実現することができる。１つのかかる実施形態では、１つの実験試行においてこのデータ処理システムにより１つ以上の検出器から収集された検出信号を次の実験試行において利用して１つ以上の検出器の利得を制御することができる。

特に、検出信号の利得または検出器は、次の方法により制御することができる：
・先行検出信号または質量スペクトルを使用して強い（または弱い）ピーク、たとえば所定の閾値より上の（または下の）ピークが到着する時期を決定する。続いて以下の１つ以上の方法を使用できる：
ａ）強い（弱い）ピークが存在している（すなわち検出されている）間、検出器の利得を下方に（上方に）調整すること。強いピークの場合に利得を低減することは、特に光子検出器の場合に検出器の寿命を引き延ばすこともできる。
ｂ）強い（または弱い）ピークが存在する（すなわち検出されている）間、好ましくは１つ以上の以下の方法により、検出システムに到着するイオンの個数または到着イオンから検出システムのＳＥＭにおいて生成される二次電子の個数を調整すること：
ｉ）到着イオンまたは生成される二次電子の集束を調整すること
ｉｉ）イオン源からの到着イオンの個数を調整すること
ｉｉｉ）ＳＥＭに関する利得を調整すること。
・ＬＣ−ＭＳ実験の場合、クロマトグラフ・ピークのプロフィールを監視することにより一定の質量のために必要な増幅器利得を決定すること、および決定した必要な増幅器利得に基づいて１つ以上の検出器に関する利得を調整すること。

処理された検出信号および／またはデータ処理システムにより構築された質量スペクトルおよび／またはそれらから導かれたデータ（たとえば定量化情報、特定された（かつ定量化されてもよい）分子（たとえば代謝産物またはペプチド／タンパク質）等など）は、データ・システム、すなわち、質量データ格納システムまたは記憶装置（たとえばハード・ディスク・ドライブ、テープ等または光ディスクなどの磁気記憶、これらは、当然のことであるが、大量のデータを格納することができる）に転送することができる。上記データ・システムにより保持される検出信号および／または質量スペクトルおよび／または派生データは、他のプログラムによりアクセスされ、たとえば、表示、スペクトル操作および／またはコンピュータ・プログラムによるさらなるスペクトル処理などのスペクトル出力を可能にする。

このシステムは、好ましくは、さらに、質量スペクトルおよび／または派生データを出力するために、たとえばビデオ表示装置（ＶＤＵ）および／またはプリンタのような出力装置を含む。この方法は、好ましくは、さらにたとえばＶＤＵおよび／またはプリンタを使用して質量スペクトルを出力するステップを含む。

当然のことであるが、このシステムは、任意選択により、雑音除去ステップを行わずにおよび必要に応じてデジタル化後の１つ以上のその他の処理ステップなしに運用しなければならないことがある。このような場合、雑音除去のための閾値、たとえばＬＵＴ中に保持される閾値は、たとえばゼロまたはその他の値、たとえば、ゼロ・オフセットにおける雑音のためにわずかに負の値に設定して、たとえば計器コンピュータ上においてすべての検出信号を処理するために、検出信号のすべてのデータ・ポイントを通過させることができる。システムのかかる運用はフル・プロファイル運用と呼ばれ、フル・プロファイル・スペクトルを収集するために使用される。この場合、検出システムからの検出信号のすべてのデジタル化ポイントが検出信号の併合を行うデータ処理装置たとえば計器コンピュータに転送される。より一般的には、このシステムは、縮減プロファイル運用で使用されて縮減プロファイル・スペクトルを収集する。この場合、閾値を利用する雑音除去が行われ、したがって縮減されたプロファイル・データが検出信号の併合を行うデータ処理装置に転送される。

本発明を完全に理解するために、これから添付図面を参照しつつ本発明の種々の非制限的例示について説明する。図面の内容は、次のとおりである：

図１は、本発明によるデータ収集システムの一部を形成する検出システムの実施形態を図式的に示す。 図１Ａは、第１検出チャネルにおける差動信号検出の実施形態を図式的に示す。 図１Ｂは、第２検出チャネルにおける差動信号検出の実施形態を図式的に示す。 図２は、データ処理ステップの例を含む本発明の１つの実施形態の図式的表現を示す。 図３Ａは、図２の閾値計算器９０より行われるステップの好ましいシーケンスの図式的フロー・チャートを示す。 図３Ｂは、雑音閾値を決定するために使用される検出信号上のウィンドウおよび閾値の位置を示す。 図３Ｃは、検出信号の一部分および複数のウィンドウならびに雑音閾値を決定するために使用されるそれらの対応ＬＵＴ入力を示す。 図４は、図２の雑音除去・圧縮モジュール８０において行われるステップのシーケンスの図式的フロー・チャートを示す。 図５は、図２のピーク特徴付けモジュール１００において行われる処理の図式的フロー・チャートを示す。 図６は、ピーク特徴付けの１つの方法を図式的に示す。 図６Ａは、ピークおよび閾値より下への低下の回数によりピーク平滑度を決定するための閾値を示す。 図７は、図２のスペクトル構築モジュール１１０により行われるステップの図式的フロー・チャートを示す。 図７Ａは、低利得検出器および高利得検出器の検出器応答を示す。 図８は、図７の高度ピーク検出ステージ１１６の処理の図式的フロー・チャートを示す。 データ・ポイントの集まりの図解例である。 図９は、図２の決定モジュール１４０により行われ得る決定の図式的フロー・チャートを示す。

図１を参照する。本発明による使用のための検出システムの１つの好ましい実施形態が図式的に示されている。検出システム１は、マイクロチャネル・プレート（ＭＣＰ）２を含んでいる。それは、二次電子生成装置として働き、かつ、ＭＣＰ ２に入射する到来イオン（この例では＋荷電イオン）に応答して二次電子（ｅ^-）を生成する。イオンは、質量スペクトロメータの質量分析器における分離後に到着する。この例おけるＭＣＰは、その通常の蛍光スクリーンをもたないＨａｍａｍａｔｓｕ Ｆ２２２２−２１である。ＭＣＰ ２は、真空環境７、たとえば、ＴＯＦ質量スペクトロメータの真空環境に配置される。運用中に二次電子を放射するＭＣＰ ２の後側は、蛍光スクリーン４（モデルＥｌ−Ｍｕｌ Ｅ３６）の形態のシンチレータに面している。これは、電子による電子衝撃に応答して公称波長３８０ｎｍの光子を放射する。本出願において、用語、構成部品の前部または前側は、到来イオンに近い側（すなわち、上流側）を意味し、構成部品の後部または後側は到来イオンから遠い側（すなわち、下流側）を意味する。蛍光スクリーン４は、その後側において蛍光物質を含む厚さ１〜２ ｍｍのＢ２７０ガラスまたは石英ブロックの形態の基板６により支持されており、したがってＭＣＰ ２に対面している。石英基板６は、３８０ ｎｍの光子に対して透明である。一方、蛍光スクリーン４は、ＭＣＰ ２に面するその前側に、導電物質、この場合は金属の薄い電荷検出層８を備えている。ＭＣＰ ２の後側と金属層８の前側の間の距離は、この実施形態では１３．５ ｍｍである。蛍光スクリーン４と金属層８を組み合わせた厚さは、約１０μｍである。電荷検出層８は、好ましくは、相当な電気伝導度を有するべきであるので、金属層が理想的である。それは、好ましくは、電子の蛍光スクリーンへの少なくともある程度の透過を許容するべきであり、かつ、それは、蛍光スクリーンにおいて生成された光子を理想的に反射するべきである。電荷検出層８のその他の特性は、それが蛍光スクリーン上に塗布可能であるべきことおよび真空中で蒸発しないこと（すなわち、真空適合であること）を含む。この実施形態では、金属電荷検出層８は、厚さ５０ｎｍのアルミニウム層である。これは、二次電子が通り抜けて蛍光体４に到達できるように透過性を有するために十分薄い。金属電荷検出層８は、蛍光体上の電荷蓄積を保護し、かつ、放散すること、および戻ってきた光子を光子検出器に向け直す働きをする。電荷検出層８は、本発明においては、電荷検出電極または電荷収集子としても機能し、したがって検出システムの第１検出器として働く。

基板６は、この例では、ＭＣＰ ２、金属層８および蛍光体などの真空動作可能構成要素に配置される真空環境７と光子検出器１２およびデータ処理システム２０が以下において述べるように配置される大気環境９の間の隔離板として都合よく使用される。たとえば、基板６は、真空動作可能な構成要素が配置される真空チャンバ（示されていない）の壁１０内に実装できる。

蛍光スクリーン４およびその基板６の下流に、光電子増倍管（ＰＭＴ）１２の形態の光子検出器が配置されている。これは、本実施形態では、Ｈａｍａｍａｔｓｕ のモデル番号Ｒ９８８０Ｕ−１１０である。基板６の後側は、ＰＭＴ １２の前側から５ ｍｍの距離だけ離隔されている。ＰＭＴ １２は、検出システムの第２検出器を形成する。当然のことであるが、ＰＭＴ １２は、電荷検出電極８より本質的に高い利得、たとえば、この場合、３，０００〜５，０００倍の利得の検出器である。より一般的には、高い方の利得の検出器は、低い方の利得の検出器の利得より１，０００〜１００，０００（１０⁵）高い利得を有する場合がある。これは、次のとおり導かれる。この例における蛍光体は、運動エネルギーに依存して１〜１０の増幅率を有する。この例におけるＰＭＴは、通常、１０⁶の利得で動作するが、しかしこの検出器の例では、１，０００〜１０，０００の利得で動作する。換言すると、蛍光体の前の１つの電子がＰＭＴの後の１，０００〜１００，０００個の電子に変換される。他の実施形態では、高い方の利得の検出器は、低い方の利得の検出器の利得より、たとえば、１，０００〜１，０００，０００または１０，０００，０００倍まで、またはそれ以上の高い利得を有する場合がある。

それは、また、検出器８および１２の飽和ベルがＰＭＴ検出器１２（それは、一般的に検出器８の場合よりも検出システムに到着するイオンの低いレベルで飽和する）と異なる場合である。

動作時、この例ではプラスに荷電されている到着イオン（すなわち、この装置は、プラス・イオン検出モードにある）がＭＣＰ ２に入射される。しかし、当然のことであるが、種々の構成要素上で種々の電圧を使用することにより、この装置はマイナスに荷電されている到来イオンを検出するように設定することができる。ＴＯＦ質量分析などの典型的な応用において、到着イオンは、時間の関数としてのイオン・ビームの形態で到着する。すなわち、イオンの流れは時間の関数として変化する。ＭＣＰ ２の前（または入射）側に−５ｋＶの負電圧のバイアスを加えて静電荷を有する到着イオンを加速する。ＭＣＰ ２の後側に上記より低い−３．７ｋＶの負電圧のバイアスを加えてＭＣＰの前側と後側の電位差（ＰＤ）が１．３ｋＶとなるようにする。ＭＣＰ ２により生成される二次電子（ｅ^-）がＭＣＰの後側から放射される。ＭＣＰ ２は、約１０００倍のイオンから電子への転換率を有する。すなわち、それにより各入射イオンは、平均して約１０００個の二次電子を生成する。この例のような正イオン検出モードでは、金属検出層８が地電位に保たれるので、ＭＣＰ ２と層８の間のＰＤは３．７ｋＶである。金属検知層８を通過する二次電子により誘起された金属検知層８における電荷の変化が捕捉され、データ処理システム２０の第１入力チャネル（Ｃｈ１）に送られる検出信号２２を生成する。

本発明の構成は、ＭＣＰ ２に入射した到来イオン・ビームのほぼすべてを利用して二次電子を生成することができる。これらの二次電子は、金属検知層８を貫通し、蛍光スクリーン４に衝突し、光子を生成するのに十分なエネルギーを有する。生成された光子は、下流に移動し、金属検知層８からの反射により助けられ、ＰＭＴ １２により検出されることとなる。その結果として、二次電子が検出層８により検出され、また、それにより信号がデータ処理システム２０のチャネルＣｈ１に渡される。本発明の構成は、ＭＣＰ ２からの二次電子のほとんどすべてを使用して蛍光体４から光子を生成することができる。その後、光子のほとんどすべてがＰＭＴ １２により検出され得る。ＰＭＴ １２から出力された検出信号２４は、データ処理システム２０の第２チャネル（Ｃｈ２）の入力に供給される。

要約すると、データ処理システム２０は、２チャネルの前置増幅器１３、または２つの前置増幅器（それぞれ別の検出チャネル用の増幅器）を有し、検出信号２２、２４は、それぞれ、別々のチャネルＣｈ１およびＣｈ２の前置増幅器において前置増幅される。２チャネル前置増幅器１３、または２つの前置増幅器の後に２チャネルのデジタイザ（ＡＤＣ）１４、または２つのＡＤＣ（それぞれ別の検出チャネル用のＡＤＣ）が続く。２つの前置増幅器または２つのＡＤＣを使用する場合、これらは、一般的に１つのＰＣＢまたはさらに（ペアとして）１つのチップ（すなわち、２つの前置増幅器を含む１つの構成部品および／または２つのＡＤＣを含む１つの構成部品）に集積される。１つの好ましい設計は、２つの別々の前置増幅器（それらは一般的にやや異なる故）およびＰＣＢ上の１つの２チャネルＡＤＣを有することである。前置増幅器１３は、検出器８および１２のそれぞれとデジタイザ１４の間で使用され、検出信号２２、２４の利得を調整してデジタイザ１４の全範囲を利用できるようにする。前置増幅器は、１〜１０の利得を有する。この例における前置増幅器利得は、高利得信号２４と低利得信号２２の両方について１に設定される。増幅された信号は、それが転送中に雑音により容易に劣化され得ないことを意味する。前置増幅器およびデジタイザが直接に接続されている実施形態では、これらの信号が増幅を必要としないことがあり得る。

この例におけるデジタイザ１４は、２つのチャネルで作動されるＧａｇｅ Ｃｏｂｒａ ２ＧＳ／ｓデジタイザであり、Ｃｈ１およびＣｈ２は１ＧＳ／ｓで動作する。Ｃｈ１およびＣｈ２のそれぞれは、別々の検出器を標本抽出する。たとえば、Ｃｈ１は電荷検出器８を標本抽出し、Ｃｈ２はＰＭＴ光子検出器１２を標本抽出する。したがって、Ｃｈ１は低利得検出チャネルを提供し、Ｃｈ２は高利得検出チャネルを提供する。

前置増幅器１３およびデジタイザ１４は、装置１５として大まかに示されている２チャネルデータ処理装置１５も含むデータ処理システム２０の一部を形成する。データ処理装置１５は、検出信号について雑音除去および検出信号を最終的に併合してハイ・ダイナミック・レンジの質量スペクトルを形成することなどのデータ処理ステップを行う。データ処理装置１５は、質量スペクトロメータおよび／または検出システムの構成要素を制御することができる計器コンピュータを含む。図１において例示されているＭＣＰ ２およびＰＭＴ １２に加えられる電圧は、データ処理システム、すなわちその計器コンピュータにより適切なコントローラ（示されていない）経由で制御される。この方法により、検出器８および１２上の利得は、独立に制御され得る。データ処理システム２０およびそのデータ処理装置１５について、以下において他の図を参照してさらに詳しく説明する。

装置１５の計器コンピュータ１５は、到来イオンの源、たとえば質量スペクトロメータのイオン源のコントローラに接続し（この接続は示されていない）、到来イオンの流れおよびイオンのエネルギーを制御できるようにしておいてもよい。当然のことであるが、装置１５の計器コンピュータは、たとえば電圧制御を必要とするような構成要素を制御するために、質量スペクトロメータおよび／または検出システムの他の構成要素に動作可能なように接続しておいてもよい。

構築された質量スペクトルおよび／または選択された未処理、部分処理済みまたは処理済みの検出信号は、データ処理システム２０から、たとえば、ＶＤＵ画面１７経由で出力して、収集されたおよび／または処理されたデータまたはスペクトルをグラフィック表示すること、および情報格納システム（たとえば、コンピュータ利用ファイルまたはデータベース）に一般的に出力することができる。

検出器から前置増幅器およびデジタイザへの検出信号転送の好ましい方法は、信号振幅倍増の利益を与える差動捕捉を含む。図１Ａは、かかる差動捕捉の実施形態および第１検出信号を電荷収集／ＭＣＰステージにおいて実現し、かつ、ＡＤＣのチャネル１（Ｃｈ１）に転送できる方法を示す。金属検出層８に入射する各電子は、ＭＣＰ ２の後側（すなわち下流）から放射している。したがって、検出層８およびＭＣＰ ２の後側のそれぞれからの信号は、差動検出にとって理想的に適する相補的対を形成する。したがって、検出層８およびＭＣＰ ２の後側のそれぞれからの信号は、図１Ａに示すように差動増幅器に入力される。信号の不平衡は、図示されているコンデンサＣ１およびＣ２の適切な選択または信号経路中（たとえば点線内のどこか）のその他の構成要素（示されていない）により補償することができる。同様に、差動信号は、図１Ｂに示すように光電子増倍管（または任意のＳＥＭ）の最終ダイノードおよびアノードから捕捉することもできる。信号の平衡維持は、ここでも、たとえば、抵抗器Ｒ１およびＲ２により（他の考慮事項により禁止されない限り−供給電圧Ｕは別の点において注入することもできる）、コンデンサＣ１およびＣ２によりおよび／または信号経路のさらなる下流において行うことができる。分離のために誘導も使用することもできる。

次に本発明のデータ処理ステージの概要について図２を参照しつつ説明する。本発明の各データ処理ステージのさらなる詳細は、その後に図３〜９を参照して説明する。図２を参照する。データ処理システムのデータ処理ステップの例を含む本発明の１つの実施形態の図式的表現が示されている。到着イオンを検出するＴＯＦ検出システム３０が示されている。このシステムは、２つの検出器３２、３４を含んでいる。検出システム３０は、図１に示した検出システムと同じタイプの検出システムでもよく、または２つの検出器、たとえば、２つのＭＣＰ検出器または２つのＰＭＴ検出器を使用する他の適切な検出システムでもよい。検出器３２、３４は、少なくとも異なる飽和レベルおよび／または異なる利得を有することにおいて互いに異なることが好ましい。ＴＯＦ質量分析器から検出システム３０に到来する１つ以上のイオンに応答して、検出器３２、３４は、それぞれ、別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２にそれぞれ検出信号３６、３８を出力する。当然のことであるが、このシステムは、ＴＯＦ質量分析器以外、たとえば別のタイプの質量分析器から到来するイオンを検出するためにも使用することができる。好ましくは、検出器３２、３４は相異なる利得を有し、生成される検出信号３６、３８が、この場合には必要ではないが、次の前置増幅器の前においてさえ異なる利得を有するようにする。これらの検出器は、相異なる感度の検出チャネルを可能にするように設けられる。これは、より感度の高い検出器の合計増幅チェーン（前置増幅器の前および後）が、より低い感度の検出器のチェーンに比し、到来イオンあたりより多くの検出「信号」（またはビット）をもたらすことを意味する。この場合の検出器３４は、好ましくは、高利得検出器であり、検出器３２は低利得検出器である。特に、これらは、それぞれ、図１に関連して図示し、説明した高利得および低利得検出器である。しかし、この検出システムにおける所与のイオン到着率の場合に、高利得検出器３４は、低利得検出器３２より前に飽和する。検出器の飽和は、その応答がもはや直線的でないことを意味する。

検出信号３６、３８は、別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２中の検出器３２、３４からデータ処理システム４０に出力される。後者は、チャネルＣＨ１およびＣＨ２中において信号３６、３８を並行して独立に処理する２チャネル処理システムである。検出信号３６、３８は、当初、データ処理システムの２チャネル前置増幅器５０のそれぞれの入力に出力され、したがって信号３６、３８は前置増幅のために別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２に残る。この前置増幅器は、したがって、この構成では検出器の近くに置かれ、かつ、次のＡＤＣの全範囲が利用できるように利得を調整する。信号３６、３８は、好ましくは、相異なる利得により前置増幅される。この例では、検出信号３６は検出信号３８に対して低利得であるが、しかし別の例では検出信号３６は検出信号３８に対して高利得とすることができる。各ＡＤＣチャネルの差動入力をより効率的な方法で利用する前置増幅器の後位に１つの出力極性が存在する。

増幅された検出信号３６、３８は、次に増幅器５０から、それぞれの出力を経由して２チャネル・アナログ−デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）６０のそれぞれの入力に別々に出力され、したがって信号３６、３８はデジタル化のために別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２に残る。ＡＤＣ６０は、２ＧＳ／ｓデジタイザであり、２つのチャネルＣＨ１およびＣＨ２は１ＧＳ／ｓで動作する。

デジタル化された検出信号３６、３８は、次にＡＤＣ ６０からそれぞれの出力を経由してデシメータ７０のそれぞれの入力に別々に出力される。デシメータは、好ましくはＦＰＧＡ（示されている）のようなプロセッサまたは本出願において記述されているその他の専用プロセッサ上で実現する。したがって、他の実施形態では、ＦＰＧＡの代わりに、たとえばＧＰＵまたはＣｅｌｌのような飛行中並行計算のための代替専用プロセッサを使用できる。デシメータ７０は、必要に応じて、検出信号３６、３８の標本抽出率を一般的に１／２または１／４に低減する。

デシメーションの後、信号３６、３８は、引き続き別々に処理される。次のステージは、雑音除去・圧縮モジュール８０により示されている雑音除去およびフレームへの圧縮である。雑音除去および圧縮は、好ましくはデシメータ７０を実現するために使用される専用プロセッサ（たとえば、ＦＰＧＡ等）上で実現することが好ましいが、雑音消去および圧縮のための専用プロセッサとは別の専用デシメーション・ハードウェアを使用することもあるので、これに限る必要はない。雑音除去が行われた後にフレームへの圧縮が続く。各検出信号３６、３８に施される雑音除去は、それに対する閾値関数の適用を含む。この閾値関数は、参照テーブル（ＬＵＴ）の形式である。雑音除去は、別々の閾値関数の検出信号３６、３８に対する適用を含む。したがって、チャネルＣＨ１およびＣＨ２のそれぞれに対して別々のＬＵＴが用意される。雑音除去・圧縮モジュール８０に対し、閾値計算器９０により作成されたＬＵＴが与えられる。閾値計算器９０は、デシメータ７０および雑音除去・圧縮モジュール８０を実現するために使用されることが好ましいプロセッサと同一の専用プロセッサ上に実現することができる。これは、ＬＵＴを飛行中に作成する必要がある場合、特に毎回、すなわちそれぞれの新しい検出信号のために新しいＬＵＴを作成する必要がある場合に、特にあてはまる。このような場合、各チャネルのための別々のＬＵＴの作成のために、デシメーションされた検出信号３６、３８は、点線で示されている別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２経由で専用プロセッサ上の閾値計算器９０に与えられる。その結果として作成されたＬＵＴは、雑音除去のために別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２経由で専用プロセッサ上に常駐する。デシメータ７０、雑音除去モジュール８０および閾値計算器９０の２つ以上を別々の専用プロセッサ（たとえば、別のＦＰＧＡ、ＧＰＵ、および／またはＣｅｌｌ等）上で実現することは可能であるが、これは、技術的な見地から好ましくない。別々のプロセッサを接続するバスが帯域幅上の隘路となる可能性があるからである。好ましくは、閾値計算器９０は、専用プロセッサではなく、一般的にたとえばマルチコア・プロセッサ、ＣＰＵまたは埋め込みＰＣなどの汎用コンピュータを含む計器コンピュータ（ＩＣ）上に実現する。ＩＣ上で作成されたＬＵＴ群、すなわち、各チャネルＣＨ１およびＣＨ２のための別々のＬＵＴは、次に専用プロセッサ上にアップロードされて常駐し、雑音除去モジュール８０によりアクセスされる。これは、特に、ＬＵＴが最初に計算され、次に複数の以降の検出信号について雑音除去に使用される場合に当てはまる。ＩＣ上で作成されるＬＵＴは、検出信号または質量スペクトルから最初に計算される。閾値およびＬＵＴの計算のステップおよび雑音除去および圧縮のステップについて、以下においてさらに詳しく説明する。

検出信号３６、３８からの雑音除去およびそれらのフレームへの圧縮の後、信号３６、３８は、引き続き別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２において処理される。雑音除去および圧縮に続いて、処理は、好ましくは、ピーク特徴付けモジュール１００による別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２における検出信号３６、３８中のピークの特徴付けを含む。ピーク特徴付けモジュール１００の動作は、一般的に２つのチャネルについて異なる。ピーク特徴付けは、好ましくは計器コンピュータ（ＩＣ）上で実現するが、しかし一部の実施形態では専用プロセッサ上で実現されることがある（その場合には、好ましくは、たとえばデシメーション、雑音除去、圧縮、および／または閾値計算の先行ステップについて使用したものと同一専用プロセッサ上）。ピーク特徴付けは、好ましくはピークの１つ以上の品質係数および質量中心の計算を含む。ピーク特徴付けについて以下においてさらに詳しく説明する。

ピーク特徴付けの後、その結果として処理された検出信号３６、３８のそれぞれは、好ましくは質量中心強度対として、別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２経由でスペクトル構築モジュール１１０に転送される。スペクトル構築モジュール１１０は、処理済み検出信号３６、３８の単一併合質量スペクトル（好ましくはハイ・ダイナミック・レンジの）への併合を行う。この方法により得た複数の併合質量スペクトルを合計して最終質量スペクトルを作成することができる。スペクトル構築モジュール１１０は、好ましくは計器コンピュータ（ＩＣ）上に実現するが、しかし一部の実施形態では専用プロセッサ上に実現することもあり得る（その場合には、好ましくは、たとえばデシメーション、雑音除去、圧縮、および／または閾値計算の先行ステップについて使用したものと同一専用プロセッサ上）。各チャネルＣＨ１およびＣＨ２中の複数の検出信号３６、３８を合計してから処理された検出信号３６、３８の併合を行うこともできる。かかる合計は、デシメーションと検出信号の併合の間の任意の処理ステージで行うことができる。かかる合計を行う場合、それは、好ましくは計器コンピュータ（ＩＣ）上に実現するが、しかし一部の実施形態では専用プロセッサ上に実現することもあり得る（その場合には、好ましくは、たとえばデシメーション、雑音除去、圧縮、および／または閾値計算の先行ステップについて使用したものと同一専用プロセッサ上）。スペクトル構築モジュール１１０および処理済み検出信号３６、３８の併合に関するステップのさらなる詳細について、以下において説明する。

併合された質量スペクトルは、たとえばＩＣおよび／または他のコンピュータによる後のアクセスのために、ハードディスクまたはＲＡＭなどのデータ・システム１２０に格納される。ＩＣは、複数のデータ依存決定モジュール（たとえば、１３０、１４０）を含む。これらのモジュールは、処理された検出信号および／または併合された質量スペクトルの評価に基づく決定を下し、かつ、これらの決定に基づいて質量スペクトロメータの１つ以上のパラメータを計測器制御モジュール１５０経由で制御する。たとえば、データ依存決定モジュール１３０は、さらなる化学的情報の取得を可能にするパラメータを制御できる。この制御は、以下などを含む：指定ウィンドウ内のｍ／ｚ値を有する一連のイオンをそれより広いｍ／ｚを有するイオンのグループから分離する質量分析器のイオン分離ウィンドウおよび幅の制御、質量分析器へのイオン入射時間の制御、および／または衝突セル（それが存在する）の衝突エネルギーおよび／またはフラグメンテーション方法の選択の制御（衝突セルにおいて２つ以上の選択が可能である場合、たとえば、ＣＩＤ、ＨＣＤ、ＥＴＤ、ＩＲＭＰＤ）。データ依存決定モジュール１４０は、たとえば、次回検出信号の収集のためのパラメータ（たとえば、解像不良のピークを次のスペクトルにおいてより高い品質で収集することを可能にする）を制御することができる。モジュール１４０は、ピーク特徴付けモジュール１００により導かれたピークに関する品質係数の評価を使用することができる。モジュール１３０、１４０は、たとえば検出信号中に飽和が検出された場合の検出器再較正などの自己監視機能も果たすことができる。モジュール１３０、１４０、１５０は、好ましくは計器コンピュータ（ＩＣ）上に実現する。

次に、データ処理ステップについてさらに詳しく説明する。

図３Ａを参照する。図２の閾値計算器９０により行われるステップの好ましいシーケンスの図式的フロー・チャートが示されている。閾値計算子９０は、雑音閾値を自動的に決定する。各検出信号について別々の雑音閾値が計算され、したがって図２の各処理チャネルＣＨ１およびＣＨ２において別々の雑音閾値が計算される。この閾値は、次に図２に示す雑音除去（すなわちピーク検出）・圧縮モジュール８０により使用される。このモジュールは、閾値より下のポイントを除去し、閾値より下でないポイントを保持する。後者は、次にピークとして認識され、続いてｍ／ｚ値などにより標識される。この雑音閾値は、国際公開第２００５／０３１７９１号パンフレットより開示されている方法により決定できる。ＴＯＦスペクトルのベースラインは必ずしも一定ではなく、これを考慮すると単一の閾値は一般的に十分ではない。雑音閾値は、好ましくは、検出信号について次の方法により決定される：
１．検出信号を重複ウィンドウの個数、ｎで除する（ここでｎは少なくとも２であり、また、ｎは、したがって、一般的に参照テーブル（ＬＵＴ）の入力の個数である）
２．ウィンドウの１つを現在のウィンドウとして選択する
３．現在のウィンドウについて現在のウィンドウ中のポイントの強度から検出信号の雑音に関する少なくとも１つの統計的パラメータを決定する
４．上記の少なくとも１つの統計的パラメータから現在のウィンドウの雑音閾値を決定する
５．他のウィンドウのそれぞれについてステップ２〜４を繰り返す。

ウィンドウの雑音閾値を検出信号の対応する間隔に割り当てる。たとえば、ウィンドウの雑音閾値をＬＵＴ中の入力項目（当該検出信号の間隔を受け持つ）に割り当て、かつ、当該検出信号のその間隔中のすべてのデータ・ポイントにその閾値を適用して、その閾値より下のポイントの除去を可能にする。これらの間隔は非重複であり、したがって検出信号の各データ・ポイントは単一の間隔にのみ属し、かつ、単一雑音閾値がそれに適用される。間隔の幅は、収集される検出信号（過渡信号）の長さまたは継続時間をＬＵＴのサイズ（すなわち、ＬＵＴの入力項目の個数）で除した値である。

したがって、本発明のさらに別の態様において、ＴＯＦ質量スペクトロメータにおけるイオン検出のための検出システムにより与えられる検出信号から雑音を除去する方法が提供されるが、その方法は、以下のステップを含む：
ｉ．）検出システムに到来したイオンに応答して検出システムからその少なくとも１つの検出信号を生成すること
ｉｉ．）前記または各検出信号を重複ウィンドウの個数、ｎで除すこと、ただしｎは少なくとも２である
ｉｉｉ．）前記または各検出信号のウィンドウの１つを現在のウィンドウとして選択すること
ｉｖ．）前記または各検出信号の現在のウィンドウについて現在のウィンドウ中のポイントの強度から検出信号の雑音に関する少なくとも１つの統計的パラメータを決定する
ｖ．）前記の少なくとも１つの統計的パラメータから現在のウィンドウの雑音閾値を決定し、かつ、現在のウィンドウの雑音閾値を検出信号中の対応する間隔に割り当てる
ｖｉ．）前記または各検出信号の他のウィンドウのそれぞれについてステップｉｉｉ．）〜ｖ．）を繰り返す
ｖｉｉ．）検出信号の各間隔中のポイント（当該間隔の雑音閾値より下の強度を有する）を除去することにより前記または各検出信号から雑音を除去する。

雑音に関する前記の少なくとも１つの統計的パラメータの例は、ポイントの平均強度およびポイントの平均からの標準偏差であり、好ましくは両方である。各重複ウィンドウに関する閾値決定の例を以下に示す：
ａ）ウィンドウ中のすべてのポイントの平均強度を計算する（「ａｖｇ₁」）
ｂ）ウィンドウ中のすべてのポイントの強度の標準偏差値を計算する（σ₁）
ｃ）仮（すなわち、第１反復）雑音閾値、Ｔ₁ ＝ ａｖｇ₁＋ｘ^*σ₁を計算する、ただし、ｘは増倍値、一般的に２〜５、約３が好ましい。
ｄ）この仮閾値、Ｔ₁より下のポイントは雑音とみなされ、この仮閾値より上のポイントはピークとみなされる
ｅ）これらの雑音ポイントの平均強度値（「ａｖｇ₂」）および標準偏差（σ₂）を第２回反復において計算する、すなわち、ここでは、第１反復において検出されたピークを除外する。
ｆ）上記ａ）〜ｃ）と同様に、これらの第２反復ａｖｇ₂およびσ₂の値から新しい（すなわち第２反復）雑音閾、Ｔ₂を計算する、すなわち、Ｔ₂ ＝ ａｖｇ₂＋ｘ^*σ₂
ｇ）ステップｅ）およびｆ）を繰り返すことにより１回以上のさらなる反復雑音閾値を計算してもよい
ｈ）第２反復雑音閾値Ｔ₂または任意選択的なそれ以降の反復閾値を使用して元の検出信号から雑音を除去し（すなわちピークを検出し）、それにより縮減プロフィール・データを提供する。すなわち、この第２または任意選択的なそれ以降の反復閾値より下の元の検出信号は雑音ポイントとみなして除去し、かつ、この第２または任意選択的なそれ以降の反復閾値より上の元の検出信号はピークと見なし、ｍ／ｚにより標識を付し縮減プロフィール・データとしてその後の処理のために転送する。
ｉ）雑音閾値（たとえばＴ₂）および雑音平均（たとえば、ａｖｇ₂）および／またはσ（たとえばσ₂）の値は、好ましくは、さらなる処理および分析のために縮減プロフィール・データとともに格納する。

各それぞれのウィンドウの閾値は互いに独立であり、かつ、上述したように並行してまたは順次計算できるが、並行計算が好ましい。

必要に応じて３回以上の反復を行って第３および／またはそれ以降の雑音閾値を得ることができる。しかし、実験の示すところでは、反復をさらに繰り返しても結果はそれほど変わらない。

この方法の拡張は、雑音閾値の決定が困難な場合に、ウィンドウ間のある程度の雑音変更（または同様な雑音測定、たとえば、先行データを使用して生成された雑音ＬＵＴとの比較による）のみを可能として高いピーク密度の領域を橋絡することを含み得る。

したがって雑音検出閾値はピーク高さから独立であり、かつ、フル・プロフィール・データ中において目分量で観察できる「雑音帯域」のみにより決定される。したがって、それは雑音帯域の直接尺度である。

この雑音閾値は、したがって、検出信号とともに時間的に、たとえば、ＴＯＦ測定装置中の飛行時間とともに変動し得る動的な閾値である。すなわち、それは、一般的にウィンドウ（間隔）間で変化する。重複ウィンドウの使用は、より多くのウィンドウを使用すること、閾値決定のためにより多くのデータを使用することを可能とし、したがって雑音閾値のより正確な決定を可能とし、間隔間の不連続を低減する。各ウィンドウは、参照テーブル（ＬＵＴ）中の入力項目を割り当てられ、かつ、各ウィンドウの閾値は当該ウィンドウのＬＵＴ入力項目に入力される。好ましいモードの動作では、フル検出信号が記録され、かつ、それからＬＵＴが上述の方法により計算され、複数の、好ましくはすべての、以降の検出信号またはスペクトルから雑音を除去するために使用される。かかる実施形態におけるＬＵＴの初期計算は、したがって、好ましくは計器コンピュータ、たとえば、汎用コンピュータ上で行われる。次にＬＵＴは、専用プロセッサにアップロードされる。専用プロセッサは、このＬＵＴを検出信号のポイントに適用することにより雑音除去を行う。しかし、この方法は、雑音がスキャン毎にかなり異なる場合には実現できないであろう。そのような場合には、各検出信号から飛行中にＬＵＴを計算し、そのＬＵＴの計算の元となった検出信号と比較することが好ましい。ＬＵＴの飛行中計算は、好ましくは専用プロセッサ上で行う。続いて、この方法は、間隔中の雑音除去（すなわち、逆に見るならばピークの検出）を含むことができる。それは、その間隔中のポイントのその間隔の雑音閾値との比較およびその閾値より下に属するポイントを除去すること、およびピークを検出するこのステップを１つ以上のさらなる間隔について繰り返すことによる。すなわち、所与の間隔中のポイントをその間隔のＬＵＴ入力項目に保持されている雑音閾値と比較する。

図３Ａを参照する。フロー・チャートの形態により、ＬＵＴの雑音閾値の決定のステップのシーケンス、すなわち、図２の閾値計算器９０において行われたステップのシーケンスが示されている。簡単にするために、ステップのシーケンスは、１つのチャネル、データ処理システムのＣＨ１またはＣＨ２について示されている。しかし、当然のことであるが、同じステップが他のチャネルについても独立に好ましくは並行して行われる。各検出信号は、最初に複数の重複ウィンドウに分割される。その各ウィンドウは、その隣接ウィンドウからわずかにずれている。これらの複数のウィンドウは、したがって所与の幅を有する移動ウィンドウとみなすことができる。次に各ウィンドウは、検出信号の非重複間隔に対応する。各ウィンドウは、この間隔に雑音除去のための閾値を与える。たとえば、合計継続時間２ミリセカンド（ｍｓ）の検出信号（過渡信号）および約１０００入力項目（たとえば、１０２４入力項目）を有するＬＵＴの場合、各間隔の幅は、約２マイクロセカンド（μｓ）である。これらのウィンドウは重複するので、それらは非重複間隔群より幅広く、かつ、各ウィンドウの幅は一般的に対応する間隔の幅プラス当該間隔の両側の重複であり、重複部分は一般的に間隔幅の１０％〜５０％であるが、これを上下することも可能である。図解として、数個の重複ウィンドウの位置およびＬＵＴ中の対応する間隔／入力項目を示す検出信号（過渡信号）の一部分を図３Ｃに示す。図３Ｃは、雑音を含む過渡信号２００の１０μｓ区間を示す。この例では、この過渡信号の合計長は１ｍｓであり、かつ、閾ＬＵＴは約１０００個の入力項目を有するので、各入力項目は前記過渡信号の約１μｓ間隔により専用される。これは、ＬＵＴからの各閾値入力が前記過渡信号のそれ自身の１μｓ間隔に適用されることを意味する。多数のかかる１μｓ間隔が参照番号２０２および太線の水平棒線２０４により示されている（番号で示されているのは、これらの一部である）。各間隔２０４にＬＵＴ中の入力項目２０８が割り当てられる。この入力項目は、雑音除去のために計算された閾値を含んでいる。間隔間の閾値の不連続を低減するために、閾値計算のために実際に使用されるウィンドウは、重複ウィンドウを表す細い水平棒線２０４’（番号参照されているのはそれらの一部のみである）（この横線は、各間隔２０４に亘り、かつ、各間隔の両端から張り出している）の長さにより示されているように、当該間隔（および隣接ウィンドウしたがって互いに重複している）より広い。各重複ウィンドウは、したがって、それより狭い非重複間隔に関係している。必要に応じて、ウィンドウの遠隔部分の影響は低減することができる。それを行う１つの方法は、閾値計算に組み込む値をウィンドウ中心までの距離に応じて無視するかまたはその重みを低減することである。これは、距離に比例し／直線的に、またはたとえばガウス曲線のようなより複雑な関数を使用して実行することができる。それを行うもう１つの方法は、より遠い値が計算結果の閾値により少ない影響を及ぼすように閾値計算関数を変更することである（図３Ｂの説明参照）。これもまた、比例的／直線的に、またはより複雑な関数を使用して実行することができる。

閾値計算のための重複ウィンドウの１つを図３Ｂにさらに詳しく示した。再び、図３Ａを参照する。最初に、ステップ９１において、平均強度（ａｖｇ₁）および標準偏差（σ₁）を現在選択されているウィンドウ中のすべてのポイントから計算する。次に、ステップ９２において、仮閾、Ｔ₁ ＝ ａｖｇ₁ ＋ Ｘ* σ₁を計算する。ただし、ｘは一般的に２〜５である。ａｖｇ₁の位置および第１ウィンドウにおける仮閾値Ｔ₁を図３Ｂに示す。次のステップ９３において、第２平均強度（ａｖｇ₂）および標準偏差（σ₂）を現在のウィンドウ中のすべてのポイント（「雑音ポイント」）（仮閾値Ｔ₁より低い強度を有するポイント）を使用して計算する。最後に、ステップ９４において、検出信号からピーク検出閾値、Ｔ₂ ＝ ａｖｇ₂ ＋ ｘ* σ₂を計算する。ａｖｇ₂の位置およびピーク検出閾値Ｔ₂を図３Ｂに示す。上述したように、各検出閾値Ｔ₂、すなわち、各ウィンドウの閾値に、ＬＵＴ中の入力項目を割り当て、それにより、それを検出信号の対応間隔中のポイントに適用することとする。次にすべての検出閾値Ｔ₂を含むＬＵＴを使用して間隔中の（ＬＵＴ中の対応する閾値Ｔ₂より低い強度を有する）ポイント（すなわち、雑音ポイント）を除去することにより当初の検出信号から雑音を除去する。雑音の除去後に検出信号に残存するポイントは、ピークに属すると考えられる。騒音除去ステップは、したがってピーク検出のステップと等価である。厳密に言えば、「雑音」ポイントは、このステージにおいて一般的には全面的には除去されないが、ゼロに設定されるので続いて圧縮プロセス中に除去され得る。この場合、以下でさらに詳しく説明するようにすべての圧縮フレームは、非ゼロ連続ポイントのみからなり、かつ、位置マーカーを有する。

これから雑音除去／ピーク検出のステップについて、図４を参照しつつさらに詳しく説明する。図４は、フロー・チャートの形式で図２の雑音除去・圧縮モジュール８０において行われるステップのシーケンスを示している。すなわち、上述したように作成されたＬＵＴにおける閾値を使用する雑音除去のステップである。図４を参照する。それぞれの別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２中に２つのそれぞれの検出信号３６、３８が示されている。これらの信号は、図２を参照して上述したデシメータから別々の入力経由で雑音除去・圧縮モジュール８０に入力される。図３Ａ−Ｃを参照して上で説明したように計算された雑音閾値ＬＵＴ８１（各チャネル用に１つずつ）は、モジュール８０を実現する専用プロセッサ（たとえば、ＦＰＧＡ、ＧＰＵ、Ｃｅｌｌプロセッサ等）上に常駐している。次に各チャネル中の閾値検出器８２は、当該チャネル用のＬＵＴを検出信号に適用し、かつ、そのＬＵＴにより定義される閾値より低いポイントを除去する（ゼロに設定する）。必要に応じて閾値検出装置８２は、チャネルの少なくとも一方においてピークが検出された場合に両方のチャネルからのデータを保持するように、すなわち、両方のチャネルにおける同一ポイントが同時に閾値未満になった場合にのみデータ・ポイントを雑音として除去するように構成することもできる。閾値検出器８２から現れるその結果の縮減プロフィール検出信号３６、３８は、続いて、検出信号のポイント値の効果的な転送のために、それぞれのフレーム構築ビルダ８４によりフレームに圧縮される。フル・プロフィール・モードのデータ収集が要求される場合、ＬＵＴを閾値としてゼロに設定し、検出信号のすべてのポイントをフレームに圧縮し、その後の処理のために転送することができる。その後の処理も専用プロセッサ上で行われる場合（これはあまり好ましくない）、フレーム圧縮ステップは省略することができる。

フレーム・ビルダ８４は、検出信号を数フレームに分割する。これらのフレームは、最も効果的な方法により基礎のバス・システムの帯域幅を使用するために最小限および最大限のサイズを有する。フレームは、雑音閾値（ピーク・ポイント）以上の最初のポイントから始まる。実際のフレーム・サイズは、ピーク・ポイントに依存する：たとえば、ただ１つのピーク・ポイントが閾値以上である場合、フレームは、以降のピーク・ポイントで満たされて最小限フレーム・サイズに達する。このフレームがその最小限サイズに達する前に、より広いピークが閾値以上のこの最初のピーク・ポイントに続く場合、このピークのすべてのポイントがこのフレームに加えられるので、このフレームが最小限サイズより大きくなることがあり得る。ピークが終わる前に、フレームがその最大限サイズに達した場合、このピークのポイントは次のフレームに続く。換言すると、フレームは、最小限サイズに達した場合にピークが存在しない限り、最小限サイズから構成される。ピークが存在する場合は、フレームはピークが終わるまで最小限サイズを超えて拡張される。ただし、フレームが最大限サイズを超えて拡大しないことを条件とし、最大限度サイズに達したときにピークが存在する場合には、このピークのポイントは次のフレームに継続する。特別な場合は、システムがフル・プロフィール・モードで動作するときである。フル・プロフィール・モードでは、ＬＵＴ全体がゼロに設定され、したがってすべてのポイントが閾値以上となる。これは、すべてのフレームが、おそらく最終フレームを除いて、最大限度のサイズを有することを意味する。すなわち、ポイントは、最大限度サイズの隣接フレーム群中に圧縮される。

各フレームは、好ましくはフレーム・ヘッダおよび実際のポイント・データから構成される。フレーム・ヘッダは、好ましくは以下の情報を運ぶ：
−フレーム・デリミタの開始
−フォーマットのタイプの記述（圧縮またはフル・プロフィール、ポイントあたりのビット数、圧縮または非圧縮ポイント）
−タイム・スタンプ
−シーケンスＩｄ（収集されたスペクトルをカウントする）
−パケットＩｄ（スペクトル内のフレームをカウントする）
−パケット・サイズ（フレーム中のポイントの個数）

フレームは、たとえば、それが他の場所（たとえば、スペクトル・ヘッダ）に格納されない限り、閾値も含むことができる。ポイントあたり９つ以上のビット使用する場合、これらのポイントは圧縮される（たとえば、４つの１０ビット・ポイントが５バイトに圧縮される）。好ましい動作モードは、上述したフレキシブル・フレーム幅である（すなわち、最小限および最大限フレーム・サイズを使用する）。固定フレーム幅を使用することも可能である。それは実現を簡単にするが、基礎のバス・システムの帯域幅を最も効率的に使用しない。したがって、作成される各フレームは１つまたは複数のピークを含み、かつ、最小限度および最大限度パケット長の結果として分割ピーク（すなわち、２つ以上のフレーム間に分割されたピーク）を含み得る。フレームは、たとえば、各チャネル上の専用プロセッサ付近のメモリ・バッファ中８６中のＲＡＭ、順次アクセス・メモリまたはリング・バッファに、さらなる転送および処理のために格納される。

圧縮されたデータ・フレームは、好ましくは、高速プロセッサ（ＦＰＧＡ等）からたとえばマルチコア・プロセッサまたは埋め込みＰＣを含む計器コンピュータへダウンロードされる（たとえば、直接メモリ・アクセス（ＤＭＡ）を使用することにより）。計器コンピュータは、次にピーク特徴付けの処理を行う。他の実施形態では、それほど好ましくないが、前記またはその他の高速プロセッサ（ＦＧＰＡ、ＧＰＵ、Ｃｅｌｌ等）上でピーク特徴付け処理を行うこともできる。これらの処理を別々のプロセッサ上で行うことも可能であるが、同一プロセッサ（それは、好ましくは計器コンピュータ）上でこれらの処理を実現することが好ましい（たとえば、帯域幅の面から）。

次にピーク特徴付け処理について図５を参照しつつより詳しく説明する。この図は、図２のピーク特徴付けモジュール１００内で行われる処理を示している。計器コンピュータ（ＩＣ）は、検出信号３６、３８の圧縮フレームをそれぞれのチャネルＣＨ１およびＣＨ２で受け取る。ＩＣは、好ましくは、まず、各チャネルのピーク・ビルダ１０２を使用してこれらのフレームをピークに変換する。すなわち、それは、フレームからピークを読み取り、かつ、フレーム中に分割されたピークが見出された場合にその分割された構成要素からピークを再構築する。任意選択のステージにおいて、すなわち、任意選択のピーク加算器１０４において、いくつかの検出信号からのピークを合計する。たとえば、相異なる検出信号から同一ＴＯＦ上のピーク（＋／−公差）を蓄積して信号対雑音比を高める。この加算処理は、チャネルＣＨ１およびＣＨ２において並行して行うことができる。

両チャネルからのピークは、次にキュー１０５に送られる。このキューは、複数のデータ・ボックス１０６（図５において、そのうち番号付けられているのは２つのみ）から構成されている。この各ボックスは、１つのピークおよびそのピークから計算された中間特徴（後続ステップにおいてさらなる特徴を得る処理のために必要な）も含んでいる。しかし、各ボックスは特定のチャネルに関係づけられるので、各ピークはそれ自身のチャネルとの関係を維持する。ボックス１０６のそれぞれは、好ましく互いに並行して処理する。

ボックス１０６中のピークについて行われることが好ましい１つの処理ステージは、ピーク評価１０７である。ここでは、好ましくは以下の一部、より好ましくは以下のそれぞれを含む種々のピーク特徴または属性を計算する：ピーク位置、ピーク合計幅、ピーク半値全幅（ＦＷＨＭ）、ピーク面積、ピーク最高値、ピーク平滑度、オーバーフロー・フラグ。１つ以上の品質係数は、１つ以上の上述の特徴（またはそれらの任意の２つ以上の任意の組み合わせ）に基づくことができる。オーバーフロー・フラグは、ピークが最高ＡＤＣ値を超えた場合にそのピークに割り当てられる。ピーク面積は、好ましくはベースベースラインから計算する。これらのピーク特徴は、好ましくは各ピークについて並行して計算し、かつ、各ピークは、好ましくは並行して処理する。したがって当然のことであるが、図５および６に準拠して、この並行処理は各チャネル（および互いに並行して処理される別々のチャネル）内で実行でき、かつ、チャネル内のかかる並行処理は、たとえば、そのチャネル中の同一検出信号の相異なる領域の並行処理または検出信号の同一領域に関する独立タスクを順次ではなく同時に行うことを含み得る。

ピーク特徴は独立に計算できるので、それらを計算する２つの方法がある：
１．データについて１つのパスを行い、かつ、すべての特徴を同時に計算するか、または
２．データについて数回のループを実行する。すなわち、それぞれ単一のピーク特徴を計算するいくつかのスレッドを使用する。

好ましい方法は、方法１である。第２の方法は、メモリ帯域幅制限の影響を被るからである。方法２を図６に図式的に示す。

ボックス１０６中のピークについて行われることが好ましいもう１つの処理ステージは、質量中心決定器１０８を使用するピークの質量中心の発見である。この技術において知られている種々の方法を使用して質量中心を見出すことができる。たとえば、以下において記述されている質量中心決定方法を使用することができる：「Ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｅｎｈａｎｃｅｍｅｎｔ ｏｆ ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦ ＭＳ ｕｓｉｎｇ ｈｉｇｈ ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ ｐｅａｋ ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ ａｎｄ ｌａｂｅｌ−ｆｒｅｅ ａｌｉｇｎｍｅｎｔ」， Ｔｒａｃｙ ｅｔ ａｌ， Ｐｒｏｔｅｏｍｉｃｓ． ２００８ Ａｐｒｉｌ； ８（８）： １５３０-１５３８ （ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｎｃｂｉ．ｎｌｍ．ｎｉｈ．ｇｏｖ／ｐｍｃ／ａｒｔｉｃｌｅｓ／ＰＭＣ２４１３４１５／で閲覧可能）、「Ｈｏｗ Ｈｉｓｔｏｇｒａｍｍｉｎｇ ａｎｄ Ｃｏｕｎｔｉｎｇ Ｓｔａｔｉｓｔｉｃｓ Ａｆｆｅｃｔ Ｐｅａｋ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ Ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ」， Ｄ． Ａ． Ｇｅｄｃｋｅ， Ｏｒｅｔｃ^TM Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｎｏｔｅ ＡＮ５８ （ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｏｒｔｅｃ−ｏｎｌｉｎｅ．ｃｏｍ／で閲覧可能）、米国特許第６３７３０５２号明細書および米国特許第６８７０１５６号明細書。

ボックス１０６中のピークについて行われることが好ましいもう１つの処理ステージは、品質評価器１０９を使用する品質評価である。主として、品質評価は、各ピークに関する１つ以上の品質係数の計算を含む。品質係数は、種々の方法で計算し得る。品質係数を計算する好ましい方法について、これから説明する。たとえば米国特許第７，２０２，４７３号明細書において記述されている方法などその他の方法も代わりにまたは追加して使用できる。

品質係数を計算する１つの好ましい簡単な方法は、ピークを種々の範疇に分類することであり、各範疇に関して異なる品質係数が割り当てられる。たとえばピークは次の範疇に分類することができる（品質係数の昇順）：
１）非常に少ない個数のイオンからのピーク（＜１０個のイオン）
２）少ない個数のクラスター・イオンからのピーク（＜５００個のイオン）
３）少ない個数のイオンからのピーク（＜５００個のイオン）
４）非常に多い個数のイオンからのピーク（＞２０００個のイオン）
５）通常のピーク（５００〜２０００個のイオン）

「非常に少ない個数のイオンからのピーク」の質量精度はイオン統計の故に限られており、したがってこのピークには最も低い品質係数が与えられる。「少ない個数のクラスター・イオンからのピーク」は、期待ピーク面積にわたり平等に分布せず、質量ピーク包絡線内にピークのグループとして現れるピークを指す。「少ない個数のイオンからのピーク」は、平等な分布を有し、質量中心が確実に発見できるピークを指す。

品質係数を計算するもう１つの好ましい方法は、次のとおりである。どのピークに関する総合品質係数もいくつかの簡単な個々の品質係数から計算できる（個々の品質係数は、たとえば、次の係数であり得る：ピーク面積／イオンの個数、ピーク平滑度、ピーク幅等）。すべての個々の品質係数および総合品質係数は０．００〜１．００の範囲にあることが好ましい。ここで０．００〜０．２５は低品質を意味し、０．２５〜０．７５は許容できる品質を意味し、０．７５〜１．００は優れた品質を意味する。総合品質係数が低品質である場合、特に高優先順位でピークを再収集することが好ましい。総合品質係数がぎりぎり許容できる品質である場合、低優先順位で（すなわち、可能なら再試行する）ピークをやはり再収集することが好ましい。再収集の後にピークが依然として低品質である場合には、それは併合スペクトルへの包含から排除してよい。

総合品質係数は、好ましくは次の基準の１つ以上を使用することにより個々の品質係数から計算する：
・すべての個々の品質係数の平均（これは、最も推奨される運用方法である）
・すべての個々の品質係数のうちの最小値
・すべての個々の品質係数の積
・すべての個々の品質係数の和

上記の方法において、総合品質係数を計算するとき、種々の個々の品質係数に同一または異なる重みをあたえることができる。

上述の種々の品質係数の組み合わせを可能にするために、それらのそれぞれについて好ましくは同一の尺度を使用しなければならない。提案する尺度は、０．０〜１．０である。各チャネルおよび各ピーク特徴に固有の関数を決定しなければならないが、それは較正により行うことができる。

以下においてより詳しく説明する個々の品質係数を使用することが好ましい：
・ピーク面積（またはイオンの個数）：
この品質係数では、検出されたイオンの個数を定義する手段としてピークの下の面積を使用する。

・ピーク平滑度
この品質係数では、ピークの平滑度（逆に表現すると凹凸性）の平均を使用することが好ましい。ピークの平滑度の平均を計算する方法はいくつか存在する。たとえば、以下を使用する：
・測定されるピークの周囲（すなわち円周）と同一面積を有する放物線の周囲の比
・測定されるピークの周囲と同一面積を有するガウス曲線の周囲の比（ピークがガウス曲線により似ている場合に推奨する）
・ピークの周囲とピークの面積の比
・ピーク最高値のｘ％の閾値より下への突出の個数とピークの幅の比
・ピーク最高値のｘ％の閾値より下への突出の個数とピークの面積の比

最後の２つの方法に関して、図６Ａは、ピークおよびピーク平滑度を決定するためのＦＷＨＭ位置における閾値（点線）を示している。ここに示されているピークは、閾値より下に３つの突出を有する。ピーク幅（または面積）に対比する突出の個数をピークの平滑度の尺度として使用することができる。一部の実施形態では、決定した平滑度を次に期待平滑度と比較することができる。

・ピーク最高値のｘ％におけるピーク幅
較正中、ＴＯＦおよびイオンの個数に依存してｘ％最高値におけるピークの幅を測定する。品質係数を決定するために、ｘ％最高値におけるピークの幅を較正中に測定した幅と対比する：
・ピークのｘ％最高値における幅とＴＯＦおよびイオンの個数による較正中に測定されたｘ％最高値における幅の比（推奨する運用モード）
・ピークのｘ％最高値における幅とＴＯＦによる較正中に測定されたｘ％最高値における平均幅の比

この意味において特に有益な係数は、ピークのベース（ピーク最高値の０％）において計算された品質係数および半値（ＦＷＨＭ）（ピーク最高値の５０％）において計算された品質係数である。

上記を考慮して、総合品質係数決定の例は、次の３つの個々の品質係数または副品質係数を含む：ピーク面積、ピーク幅（ＦＷＨＭ）およびピーク平滑度。次にこれらの３つの個々の品質係数からそれらを等しい重みにより平均することにより総合品質係数を計算する。しかし、他の実施形態では、異なる重みを使用することもできる。この例におけるピーク平滑度品質係数は、測定されたピークと同じ面積および幅を有するモデル・ピークの円周と測定されたピークの比である（モデル・ピークとして放物線を使用する）。特定の面積および幅を有する放物線の円周ｓは、次の関数により計算される：
ただし、
ｗは、ピークの幅であり、Ａはピークの面積である。測定されるピークの円周、ｒは、ピタゴラスの定理を繰り返し適用することにより計算される。ピーク平滑度品質係数ｑ_sは、最後に、ｓとｒの比として次式により計算される：
ピーク平滑度品質係数、ｑ_sは、直接使用される。それは、すでに［０．０ − １．０］の範囲にあるからである。しかしながら、この値に較正を適用することは可能である。

例中の面積品質係数および幅品質係数のそれぞれについて、較正プロセス中に、イオンの個数、ＴＯＦおよび較正される変数（すなわち、面積または幅）を有する関数を決定する。次にこの関数を使用してそれぞれの測定される変数（測定されるピークの面積または幅）を［０．０ − １．０］の値にマップする。較正により線型関数が決定されるが、シグモイド関数などの他の関数もこの目的のために使用し得る。

処理ステージ１０７、１０８および１０９は図５において順次行われるものとして示されたが、そのようにする必要はない。ボックス１０６中のピークについて処理ステージ１０７および１０８のそれぞれを並行して行うことが好ましい。しかし、ステージ１０７、１０８および１０９のいずれも順次行うことができる（ステージ１０９は１０７および１０８の結果に依存するので、それは、１０７および１０８の後に行わなければならない）。当然のことであるが、順次行う場合、処理ステージ１０７、１０８の順序は可変であり、これらのステージは任意の順序で行うことができる。図５に関連して示した順序は、１つの推奨実施形態にすぎない。

検出信号の処理に続いて、各チャネルからの処理済み信号を併合して単一のスペクトルを形成する。これらのステップについて図７を参照しつつさらに詳しく説明する。図７は、図２のスペクトル構築モジュール１１０により行われるステップを示す。行われるステップの計算の複雑性の故に、それは計器コンピュータ上で実現することが好ましい。しかし、一部の実施形態では、これらのステップを高速プロセッサ（ＦＰＧＡ等）上で行うことも可能である。

ピーク特徴付けモジュール１００からの処理済み検出信号３６、３８をそれらのそれぞれのチャネルＣＨ１およびＣＨ２経由でモジュール１１０およびスペクトル整列モジュールに最初に入力する。このモジュールにおいて、検出信号を整列させ、ＴＯＦにとって特に重要な信号開始ポイントの時間的ずれを補償する。時間オフセットを一般的に検出信号／チャネルの一方に適用してそれらを整列させる。すなわち、一方の信号をオフセットにより時間軸上で移動させなければならない。この時間オフセットは、以下においてより詳しく説明するように一般的に較正ステップにより前もって、たとえば、検出信号／チャネルを整列させる内部較正器を使用して、決定される。当然のことであるが、別々のチャネル中に３つ以上の検出信号を有する実施形態では、その２つ以上の信号は、一般的に、時間オフセットをそれらに適用してこれらのチャネルのすべてを整列させることを必要とする（そして、これは、時間オフセットの適用されるべき各チャネルにとって別々の時間オフセットとなるであろう）。

検出信号が時間的に整列された後、これらを併合して単一のスペクトルを形成する。スペクトルは、これからより詳しく説明するハイ・ダイナミック・レンジ（ＨＤＲ）の１つであることが好ましい。依然として別々のチャネルＣＨ１およびＣＨ２に存在する２つの整列された信号を併合モジュール１１４に入力し、ここで併合（ＨＤＲ）スペクトルを生成する。このステップ中、データ転送速度をさらに低減するため、好ましくは検出信号のピークの質量中心のみを使用し（強度とともに）、それにより検出信号の質量中心強度対を併合する。ＨＤＲスペクトルの中の各ピークは、２つの処理済み検出信号３６、３８の一方または他方から由来している。ＨＤＲスペクトル中で使用されたピークに関する品質係数をさらにデータ依存決定モジュールおよび計器制御モジュール１３０、１４０、１５０において使用する。これらのモジュールは、図２において示されているが、以下においてより詳しく説明する。

併合されるスペクトルのために、モジュール１１４は、好ましくは高利得チャネルＣＨ２、すなわち信号３８を使用して併合ＨＤＲスペクトルのためにピークを与える。ただし、高利得検出信号３８が飽和している場合を除く（たとえば、高利得検出信号３８中のピークに関するオーバーフロー・フラグの存在から検出される）。高利得チャネルＣＨ２においてピークの飽和が発生した場合、その代わりに低利得チャネルＣＨ１および信号３６からの対応するピークを併合ＨＤＲスペクトルのために使用する。低利得チャネルＣＨ１および信号３６から取り出されたＨＤＲスペクトル中のピークの場合、これらのピークを所定の係数により増倍して、これらのピークの強度を高利得チャネルＣＨ２および信号３８の増幅レベルに合わせる（すなわち、低利得ピークを高利得チャネル対低利得チャネルの増幅度または利得比により増倍するのであるが、この増幅度は検出器と前置増幅器両方のからの利得の結果である）。これらの２つのチャネルＣＨ１およびＣＨ２の増幅係数は、高利得チャネルが飽和する場合に、較正に関連して以下においてより詳しく説明するように、低利得チャネルが高品質ピークを与えるように調整される。要するに、併合されたスペクトルは、高利得チャネルの非飽和ピークを含み、かつ、高利得チャネルにおいて飽和ピークが発生した場合には、併合されたスペクトルは、低利得チャネルの対応するピーク×（低利得チャネルに対比する高利得チャネルの利得を表す倍数）を含む。単一の併合されたＨＤＲスペクトル１１５がモジュール１１４から出力される。別の方法として、別々のチャネルからの検出信号は、米国特許第７，２２０，９７０号明細書において記述されている方法または当業者により知られているその他の方法により組み合わせることもできる。前記の１つの変種では、好ましくはユーザーとの相互作用を必要とせずに、システムが常に飽和状態のない検出信号（線型応答）を選択して併合スペクトルを構築する。さらに別の変種、特に図７Ａに示すように、好ましくはユーザーとの相互作用を必要とせずに、システムが常に飽和状態のない検出信号（線型応答）を選択して併合スペクトルを構築する別の変種では、システムは、低利得検出器（たとえば、「アナログ」検出器）および高利得検出器（たとえば、「計数」検出器）が「共通」または並行線型応答を有する範囲（たとえば、レベルＬａ１とＬａ２の間に示されている）を自動的に検知し、この範囲外では正しい（線型応答）検出器に切り換え、かつ、「共通」または「並行」範囲において相対利得を再較正する。

処理された検出信号および／またはＨＤＲスペクトルは、好ましくは図２に示したシステム１２０のようなデータ・システム上に格納する。ＨＤＲスペクトルは、たとえばＶＤＵ画面のようなグラフィカル・インターフェース上またはたとえば紙のようなハードコピー媒体上などの有形形式により計器コンピュータから出力することもできる。

必要に応じて、解像度不良のピークの場合に、たとえば、併合ピークまたは低強度ピークについて、図７の高度ピーク検出モジュール１１６により図式的に示されているように高度ピーク検出を行う。高度ピーク検出処理は、ピークが両チャネルにおいて低い品質係数を有する場合にのみ行うのが好ましい。高度ピーク検出は、一般的にコンピュータ使用費用が相当高くつくからである。高度ピーク検出ステージ１１６の詳細プロセスは、図８に図式的に示されている。第１に、解像度の低い併合ピークの場合、ピークをピーク分割モジュール１１７により分割する。このとき、たとえば、移動平均（推奨）、二重ガウスまたは修正ウェーブレットの使用などの既知のピーク分割方法を使用する。高度ピーク検出および処理は、近傍のボックスから情報を収集しなければならないこともある。解像度の低いピークのプロフィール・ポイントをピーク分割１１７に供給して分割の実行を可能にする。併合されたピークが個々の分解されたピーク（分割ピーク）に分割された後、図５に示したものと同一のピーク特徴付けステップを分割ピークについて各ピーク等のボックス１０６’を使用して行う。次に分割ピークを併合スペクトルに転送する。ピークを分割する推奨方法の例をここで示す。

いわゆる二重ピークの場合、２つのピークが相互に接近してまたは重なり合って出現したとき、または広いピークが現れたとき（期待幅より広い）、２つ以上の極大値が存在するか否かアルゴリズムでチェックする。２つの場合に対処する：
１．）低い強度の面積を有するぎざぎざしたピーク。これは、相異なるピークに属するサンプルが１つのピークに併合されたことを示す。この場合、これらの種々のピークを検出しかつ、分割するアルゴリズムは、好ましくは以下を含む：
ａ．移動平均を計算すること（設定可能な幅により、すなわち多数のプロフィール・ポイントの幅）、すなわち、選択された幅の中のピークの多数のプロフィール・ポイントから平均強度を計算すること
ｂ．移動平均が閾値の下からその閾値の上へ変化する場所のピークの始まりを検出すること、および移動平均が閾値の上から下へ変化する場所のピークの終わりを検出すること
ｃ．移動平均の空間分解能はウィンドウ幅の増加につれて減少するのでＬＵＴからのサンプル閾値を使用してステップｂで決定したピーク限界を修正すること。修正の後、ピークの始まりは、閾値より上の最初の値であり、ピークの終わりは、閾値より上の最終値である。説明として、閾値を移動平均に適用することにより決定されたピーク限界は、最大限度に正確ではない。これは、移動平均を決定するために使用されたウィンドウ・サイズのためである。これらの限界は、サンプルが左側のピークの終わり上の閾値をよぎる場所の位置および２つの併合されたピークの右側のピークの始まりを見出すことにより修正される。

２．）ぎざぎざした重なり合うピーク。現在の時刻またはｍ／ｚに関する期待幅より広いピークの場合、このピークは２つの重なり合うピークから構成されていると仮定する。期待される幅について以下に記述する。この種のピークは、以下のアルゴリズムを使用して分割する：
ａ．２つの極大値およびこれらの極大値間の極小値を見出す。これらの極大値および極小値は、いくつかの方法で決定することができる。たとえば：
ｉ．縮減幅で質量中心計算方法を使用して両方の極大値を見出すことおよびこれらの極大値間の極小ポイント値を探すことにより極小値の位置を決定すること、または
ｉｉ．縮減幅で質量中心計算方法を使用して両方の極大値を見出すことおよび両方の極大値間のポイントに質量中心計算方法を適用することにより極小値の位置を決定すること、または
ｉｉｉ．適切なウィンドウ幅で移動平均を使用して両方の極大値および中間の極小値を決定すること。
ｂ．極小値の位置でピークを分割する。

もう１つの種類の実施形態では、ピークは、十分な品質係数の候補として決定されるか、またはピーク形状のモデル・ピークの形状との比較に基づかずに決定される。さらに別の実施形態では、ピークは、ピーク高さの検出信号データの局部背景騒音の高さとの比較に基づいて、およびピーク形状のモデル・ピークの形状との比較に基づいて、かかる候補とみなされることになっている。

さらに別の種類の実施形態では、ピーク、特に低い強度のピークがイオンによるものらしいか否かの決定は、データ中の検出閾値より上のポイントの強度および個数のイオン統計に基づく予測に基づいている。

雑音値は、すでに閾値化処理から利用でき、したがって、非常に簡単なピーク品質係数はＳ／Ｔ − Ｃとすることができる。（ここで Ｓ ＝ 信号強度、 Ｔ ＝ 閾値（参照テーブルから）、Ｃは定数）。

０と１の間の値が品質係数として望ましい場合、シグモイド関数、たとえば、ロジスティック関数（拡縮係数Ａ）を使用して変換することができる：品質係数、ＱＦ： ＝ ０．５*（１＋ｔａｎｈ（Ａ*（Ｓ／Ｔ−Ｃ）））、この場合、関数ＱＦは、位置Ｃにおいて１／２を通過する。

０と１の間のピーク品質係数の推奨拡縮も好ましい。それは、確率から決定される品質係数の容易な統合を可能にするからである。（たとえば、Ｚｈａｎｇ ｅｔ ａｌ． Ｂａｙｅｓｉａｎ Ｐｅｐｔｉｄｅ Ｐｅａｋ Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ ｆｏｒ Ｈｉｇｈ Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ ＴＯＦ Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ， ＩＥＥＥ Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ ｏｎ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ， ５８ （２０１０） ５８８３； ＤＯＩ： １０．１１０９／ＴＳＰ．２０１０．２０６５２２６の方法からの情報のように）。

ピークが複数のイオンのために存続候補として決定される可能性を有し、かつ、保持され、その他のピークが１つのイオンのためにそのように決定されず、かつ、ピーク形状のモデル・ピークの形状との比較に基づいて廃棄される実施形態では、モデル・ピークの形状は、ガウス、修正ガウス、ローレンツ、または質量スペクトル・ピークを表すその他の任意の形状でよい。かかるピーク形状は、手近のデータ、たとえば、平均測定ピーク形状から経験的にも決定できる。修正ガウス・ピーク形状は、片側または両側にテールを有するガウス・ピークでもよい。モデル・ピーク形状は、放物線ピーク形状などの基礎ピークから生成し、次にイオンの測定ピーク形状によりよく合致するように修正することができる。好ましいモデル・ピーク形状はガウス曲線である。モデル・ピーク形状の幅は所定または計算されたパラメータから設定できるが、より好ましくは測定データから計算する。モデル・ピーク形状の幅は、好ましくは質量の関数であり、より好ましくは質量の増加とともに増加する幅を有する線形関数である。モデル・ピーク形状の幅は、好ましくは、測定されたイオンから生成された測定データから決定され、したがって質量分析のために使用された計器に基づいて決定される。しかし、ＴＯＦピーク形状は、通常、正確にはガウス曲線ではないこと、および正確なピーク形状は、たとえば、強度および質量、さらには先行（すなわち、より低い質量、先行到着）ピークの強度に依存する可能性があることが分かっている。本件発明人は、高品質かつ高い信号対雑音比を有するデータによるピーク位置決定が不整合ピーク形状の使用により通常害されないこと、しかし、他方、ピークの検出および評価の方法が最も必要な場合に、簡単な関数、たとえば、ガウス曲線または三角を使用することにより雑音を有するデータがより確実に識別され、かつ、位置決めされることを見出した。しかし、たとえばピーク幅（それは、変数であり、かつ、ピークごとに個別である）を使用する追加自由度は、一般的に、幅のみが完全なスペクトル全体の関数である単純なモデルの場合に比して、位置決定の劣化をもたらす。モデル・ピーク形状は、好ましくはガウス曲線である。最初のモデル・ピークを形成するために利用できるその他の便利なピーク形状は、放物線および三角形である。ガウス曲線ピークの形状および分布の特性およびその和は非常によく知られており、ほとんどの種類のデータ分析にとって有益である。したがって、計算機使用時間に関する非常に制限的な要求または測定の精度に関する極めて明瞭な知識がある場合のみ、ガウス関数以外の使用が示唆される。

識別されたピークとモデル・ピーク形状間の一致は、好ましくは相関係数（ＣＦ）を使用して決定する。相関係数は、好ましくは、識別されたピークのそれぞれとモデル・ピーク形状間で決定する。この相関係数は、識別された各ピークの形状とモデル・ピーク形状間の一致を表す。好ましくは、この相関係数は、識別されたピークの強度およびこれらのピーク上の複数の点におけるモデル・ピーク形状の関数である。かかる関数の部類は、たとえば、ｈｔｔｐ：／／ｅｎ．ｗｉｋｉｐｅｄｉａ．ｏｒｇ／ｗｉｋｉ／Ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ＿ａｎｄ＿ｄｅｐｅｎｄｅｎｃｅにおいて示されている標本相関係数を含む。したがって、１つの好ましい実施形態では、識別されたピークの形状とモデル・ピーク・形状間の一致は、標本相関係数を含む式を利用する。

好ましくは、相関係数（ＣＦ）を記述する関数は、次の形態である：
等式（１）
ただし：
ｎ ＝ 識別されたピーク上およびモデル・ピーク形状上のポイントの個数
ＩＭ ＝ モデル・ピーク強度
ＩＤ ＝ 識別されたピーク上の測定強度

この場合、識別されたピーク上のポイントの個数およびモデル・ピーク形状上のポイントの個数は、同じ（すなわち、ｎ）として選択され、かつ、強度ＩＭおよびＩＤは、それぞれ、モデル・ピーク形状およびこれらのポイントｎのそれぞれにおいて識別・測定されたピークから導かれる。好ましくは、識別されたピーク上の測定されるデータ・ポイントの個数としてｎを選択する。すなわち、識別されるピーク上の測定強度ＩＤを測定データ・ポイントとし、内挿が不要になるようにする。

等式（１）の関数を使用し、範囲０と０．９との間に設定された相関係数を閾値として使用して背景騒音によると思われる識別されたピークと検出されたイオンによる識別されたピークを区別する。好ましくは、範囲０．６と０．８との間に設定された相関係数を使用する。より好ましくは範囲０．６５と０．７５との間に設定された相関係数を使用する。さらにより好ましくは０．７に設定する。相関係数の大きさが閾値未満である場合、識別されたピークは、検出されたイオンによるものではなく、背景騒音によるものとされる。

さらなる処理中に相関係数が使用されないときにも、正確なピークの位置および高さを得るためにデータをモデル・ピークに一致させるかかる手順を用いることは非常に有益であり、推奨される。

ピーク検出のもう１つの方法は、データがピークを表している可能性が高い場合に一定の時間ウィンドウ内における閾値より上のデータ・ポイントの期待個数を予測することである。続いて、測定されたデータを点検し、同様な時間ウィンドウ内で観測されたデータ・ポイントの個数が予測より相当少ない場合（たとえば、半分）、これらの時間ウィンドウ内のすべてのデータ・ポイントを廃棄してもよいが、好ましくはそれらの位置の信号を少なくとももう１回のスキャンにより確認した後に初めて廃棄する（たとえば、時間ウィンドウ中のポイントは、その時間ウィンドウ中のピークが他のスキャンにより確認された場合には廃棄されないが、他のスキャンもその時間ウィンドウ中でピークを示さなかった場合には廃棄される）。ピーク確認のための後続スキャンは、好ましくは時間的に接近して記録され（たとえば、クロマトグラム中で接近）かつ、類似の条件の下で収集される。

上述したモデル・ピーク形状は一般的に質量の関数であり、したがって個別のモデル・ピーク形状を、それが異なる質量で発生した場合に、それぞれの識別された極大値と比較する。この比較は、好ましくは、等式（１）で定義した相関係数を使用して行う。好ましくは０．６の閾値相関係数を使用して識別された極大値を濾過し、０．６以上の相関係数を有する極大値をイオンによるものと解する。

統計的に誘導される１つのアルゴリズムは、質量スペクトル・ピーク中の連続データ・ポイントの予測個数に基づいている。この個数は、次の値が既知になった後に計算することができる：
・ピークの幅
・サンプル・レート（時間単位あたりのデータ・ポイント）
・ピーク頂点のＳ／Ｎ

ピーク候補は、それがその質量記録中に期待（計算）連続ポイントの少なくとも７０〜１００％（または同程度）を有する場合のみ、受け入れられる。

イオンから由来していると思われるピークをイオンから由来していると思われないピークから区別する１つの方法は、検出閾値より上のデータ・ポイントの期待個数を特定し、それより少ないデータ・ポイントを有するデータを擬似ピークとして廃棄することである。期待値よりかなり多くのデータ・ポイントを有する記録は、一般的に背景騒音と考えられる。

擬似ピークのこの評価を行う最も簡単な方法は、単一データ・ポイントを廃棄することである。これらの単一ポイントは、通常、「スパイク」と呼ばれ、その除去は、平滑化が使用される場合、重要である。平滑化されたスパイクは、まさに正常なピークのように見えるからである。

これより高度の区別方法は、おそらく、好ましくは、ピークの高さおよび位置の決定のために一般的にいずれにせよ利用できるモデル・ピーク形状を使用する。便宜上、測定されたデータに適用されたモデル・ピークの高さを「観察強度」と名付け、測定されたデータに適用されたモデル・ピークの位置を「観察ピーク位置」と名付けることとする。図８Ａを参照する。一揃いのデータの集まりから抽出されたピーク候補を含むフレームからのデータ・ポイントの集まりの図解例が示されている（高さが強度を表す垂直の棒として）。モデル・ピーク形状も示されている。次に、所与の検出限界（太い横線）について、この検出限界より上のデータ・ポイントの個数を計数し（ここでは：５）、次に観察高さおよび観察位置のモデル・ピークから期待されるこの検出限界より上のポイントの個数（ここでは：９）と比較する。連続データ・ポイントまたは一定の限界より上のデータ・ポイントの個数の期待個数は、明らかに、検出限界に対するピークの相対的高さに依存する。この例では、より低い検出限界（より低い水平線）は、より多くの連続データ・ポイント（９個の観察、１１個の期待）を与え、また、ピーク高さと比べてより高い検出限界（より低い水平線）は、より少ないデータ・ポイント（２個の観察、５個の期待）を与える。ピークを廃棄する合理的な基準は、たとえば、検出限界より上のデータ・ポイントの期待個数の７５％未満、または５０％未満が実際に観察されることである。

非常に低い信号強度の場合に、イオン統計効果も考慮することが望ましい。検出およびイオン化のプロセスの統計的性質のために、観察されるイオンの数がランダムに変動するからである。このランダム変動は、よく研究されている。多くの場合、この変動は、たとえば、ポアソン統計に従う。その場合、たとえば、イオンの観察数の相対的変動は、イオンの個数の平方根である。所与の信号強度（すなわち、強度または高さ）の場合のイオンの個数は、計測装置製造業者により公表されるか、較正により決定されるか（たとえば、以下の文献参照：Ｍａｋａｒｏｖ， Ａ． ＆ Ｄｅｎｉｓｏｖ， Ｅ．： 「Ｄｙｎａｍｉｃｓ ｏｆ Ｉｏｎｓ ｏｆ Ｉｎｔａｃｔ Ｐｒｏｔｅｉｎｓ ｉｎ ｔｈｅ Ｏｒｂｉｔｒａｐ Ｍａｓｓ Ａｎａｌｙｚｅｒ」； Ｊｏｕｒｎａｌ ｏｆ ｔｈｅ Ａｍｅｒｉｃａｎ Ｓｏｃｉｅｔｙ ｆｏｒ Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ， ２００９， ２０， １４８６−１４９５）、データの集まり中の観察から生成されるか、または最初の原理、たとえば、イオン出現についてポアソン統計を仮定することから導かれる。次に、各データ・ポイントについて、期待最小限度および最大限度強度を求め、それらを使用してデータ・ポイントの期待個数がモデル・ピークからの直接決定に比べて減少しなければならない程度を調べることができる。たとえば、モデル・ピークから導かれた強度を１００％と仮定し、３シグマの有意水準が期待される場合、そのデータ・ポイントの観察強度は、８個のイオンのときに０と２００％の間、１６個のイオンのときに２４と１７５％の間、３２個のイオンのときに５０と１５０％の間等々に存在することとなる。したがって、たとえば、このピーク・プロフィール中の最も高い強度のポイントが３２個のイオンに対応すると仮定した場合、５つのデータ・ポイントがそれらの平均強度の約±５０％だけ変動することが期待される。したがって、モデル・ピークとの単純な比較から期待されるピークの５０％未満が観察されたとしても、このピークは受け入れ可能とみなされ、廃棄されない。

上記の方法は、３つ以上の重複ピークが存在する場合にも適用できるが、しかし、それをアルゴリズムにより処理することは、より難しくなるであろう。その代わりに、スペクトロメータをより高い解像力に切り換えることが好ましい（すなわち、それは、スペクトロメータがかかる場合を検出できることを必要とする）。かかるピークが依然として期待ピーク幅より広い場合に結果のピークも分割し続ける上記アルゴリムの反復版を使用することも可能である。重要な代替案は、ピーク幅に合致する最小限度の個数の「モデル・ピーク」をデータに適用することである。

期待ピーク幅は、上述した種々のアルゴリズムにより使用され、好ましくは以下の方法により計算される。較正中、相異なる飛行時間をもたらす相異なるｍ／ｚの既知数のイオンを質量スペクトロメータに導入する。このプロセスを相異なる個数のイオン（すなわち、種々のピーク強度に対応する）について繰り返す。飛行時間を表すｘ軸、イオンの個数または面積を表すｙ軸およびＦＷＨＭ（またはより一般的には、最大値のｘ％）における時間幅を表すｚ軸からなる３次元プロットを作成する。別案として、この情報を有する多次元配列を作成し、内挿値を求める。

併合スペクトル中のポイントの時間値、すなわち、ＴＯＦを好ましくはｍ／ｚに変換する。ただし、当然のことであるが、検出信号それ自体を、併合して併合スペクトルを形成する前に、ｍ／ｚに変換することができる。ｍ／ｚへの変換は、好ましくは、たとえばこれから説明する較正の方法を使用して行う。

外部較正は、精度を向上する内部較正とともに、飛行時間をｍ／ｚに変換することが好ましい。外部較正は、電位および温度の漂動、電子増倍管および主として検出システムの光電子増倍管の経時効果を調整するために定期間隔で行われる必要がある。外部較正器は、質量範囲全体に分布する数個のピークを与えるべきである。測定は、相異なる合計強度で数回繰り返すべきである。この計器を較正するために必要なピークの個数および相異なる強度の個数は、その直線性によって決まる。かかる一連の測定からいくつかの特性を導くことができる：
−較正器も種々の強度のピークを含む場合、これを使用して両チャネルの増幅係数を計算することができる。この情報を上述の両チャネルを組み合わせるために使用することができる。たとえば、増幅または利得係数ｇ１およびｇ２を以下の関数から計算することができる。
ｇ１ ＝ Ａｒｅａ（ｐ１．ｃｈ１）／Ｉｎｔ（ｐ１） ＝ Ａｒｅａ（ｐ２．ｃｈ１）／Ｉｎｔ（ｐ２）
ｇ２ ＝ Ａｒｅａ（ｐ１．ｃｈ２）／Ｉｎｔ（ｐ１） ＝ Ａｒｅａ（ｐ２．ｃｈ２）／Ｉｎｔ（ｐ２）
ただし
Ａｒｅａ（ｐ）：ピークｐの面積／強度
Ｉｎｔ（ｐ）：ピークｐをもたらす物質の強度または存在量
ｇ１：低利得チャネルの利得
ｇ２：高利得チャネルの利得
ｐ．ｃｈ１：低利得チャネル上のピーク
ｐ．ｃｈ２：高利得チャネル上のピーク
ｐ１：高利得チャネル上で飽和し、低利得チャネル上で飽和しないピーク
ｐ２：高利得チャネル上で飽和しないピーク

ｇ１／ｇ２を決定するために、好ましくは、太字で印刷されている式を使用する。測定データが最も正確であるからである。いくつかの利用できる適切なピークがある場合、個々の利得係数を平均することができる。ｐ１およびｐ２が同一の同位体パターンから由来する場合、たとえば、それぞれの物質の合計強度のみ既知であるならば、それらの強度（Ｉｎｔ（ｐ））は、それらの同位体比経由で計算することができる。実際の利得が一定でない（上記で仮定したように）こともあり得る。その代わりに、それは、イオンのｍ／ｚおよび個数に依存するであろう。したがって、利得の最善の記述は、２つのパラメータを受け取る関数を使用することであろう：利得（ｍ／ｚ、強度）。この関数は各チャネルについて異なり、かつ、較正器において見出されるピークから近似することができる。較正器がこの較正を行うために十分に高い品質のピークをもたらすことを保証しなければならない。

内部構成の前に行われる外部較正の後、ＴＯＦスペクトロメータの場合の計器は、一般的にすでに約５ｐｐｍの精度を有する。内部較正は、この精度を約１ｐｐｍ、より望ましく０．１ｐｐｍに上げることができる。内部較正は、好ましくは既知の質量および強度のピークを注入することにより行う。この較正ピークのｍ／ｚは、それが検体と干渉しないように選択されるべきである。２つのピークが期待質量範囲（±外部較正の精度）内にある場合、その強度を追加基準として使用することができる。この強度は、近くに検体ピークが存在する場合においても、１桁分の大きさの範囲内に留まるべきである。一般的に、内部較正のために１つのピークのみ使用する。必要な場合、内部較正器は、２つ以上のピークとともに使用することができる。これらのピークは、一方のチャネルにのみ現れる必要がある（好ましくは高利得チャネル）。較正のために使用されるピークが高品質である限り、内部較正器の強度を使用して各チャネルの利得を較正することができる。

チャネル・オフセット、すなわち時間オフセットは、ケーブル長および高利得チャネル上で使用される光子増倍器の場合にもたらされる遅延の影響を受ける。チャネルを整列させるために使用されるチャネル・オフセットの較正のために、両チャネル上に現れる単一のピークの位置を確実に決定すること、または既知のオフセットの２つのピークを使用する必要がある。両チャネル上で使用される相異なる利得のために、第１の方法は難しいであろうから（高利得チャネルが飽和するか、または低利得チャネルに確実なピーク検出のために必要な個数のイオンが供給されない）、第２の方法を用いるべきである。同位体パターンを使用することができる。この場合、イオンの個数を調整することができ、それにより、モノアイソトピック・ピークを低利得チャネル上で確実に検出し、かつ、高利得チャネル上における飽和なしに最初の同位体ピークを検出することができる。別案として、チャネル・オフセットの較正も、外部較正の一環とすることもできる。その場合、外部較正の較正器は、ここで記述した要求条件を満たすように選択されるべきである。

較正は、この計器の自己監視、特に電子増倍器または光子増倍器の再較正、寿命および／または交換のために使用することもできる。たとえば、光子増倍器および／またはＭＣＰの経時効果を外部較正の使用により調整できるが、それでもなお、特に光子増倍管は一定の時点において交換する必要がある（ＭＣＰは比較的低い利得で動作するので、それは、この計器の全寿命にわたり働くはずである）。この目的のために、外部較正は、定期間隔をおいて、または各チャネル上で特定の強度で検出されるべきピークがその強度でもって検出されないときのように、装置が異常を検出したときに行うべきである（たとえば、低利得チャネル上に現れるピークは、高利得チャネル上にも次の強度で現れるべきである：Ａｒｅａ（ｐ．ｃｈ２） ＝ Ａｒｅａ（ｐ．ｃｈ１）*ｇ２／ｇ１、そうでないときはオーバーフロー。両検出信号が存在するときに、スペクトル中に閾値を超える多くのポイント／ピークが存在し得る。これらのポイントにおけるチャネル間の比を使用して実際の利得比を連続的に更新することができる。光子増倍器の老化が光子増倍器のみの増幅係数の増大により調整できない場合、それは、光子増倍器を交換する時期である。ユーザーによるこの計器の連続稼働を可能とするために、ＭＣＰの増幅度は、限定された時間の間だけ（ＭＣＰの老化を回避するために）増加することができ、それにより両方または低利得チャネルのみが使用可能データを出力する。この計器のダイナミック・レンジは、これらの不慮の状態の下では低減される。

このデータ収集システムは、データ依存決定も行うことができる。図２に示されているのは、アルゴリズムの複雑性のために計器コンピュータ上で実現することが好ましいデータ依存決定モジュール１３０および１４０である。これらのモジュールは、処理された検出信号中のデータおよび／または併合されたスペクトルの評価に基づいて、特に併合されたスペクトルに基づいて決定を下すことを可能にする。下すことができるこれらの決定のさらなる詳細について、これから図９を参照しつつ説明する。この図は、決定モジュール１４０により好ましくは下され得る決定の図式的フロー・チャートを示す。モジュール１４０によりピークが評価される。第１のステップにおいて、ピークが少ない個数のイオンによるものであるか否か決定され（少ない個数のイオンに関する閾値が予め決定されている）、かつ、少ない個数による場合にピークがスペクトロメータにより再収集され、そうでない場合には処理は次のステップ１４４に進む。次のステップ１４４においてピークがサブ・ピークに分割されるか否か調べ、サブ・ピークに分割される場合にはピークがスペクトロメータにより前回より高い解像度で再収集され、そうでない場合には処理は次のステップ１４６に進む（前述した質量中心決定器が所与の幅の中に２つ以上の質量中心を見出した場合には、重複ピークが発見されたと想定する）。次のステップ１４６において、質量中心が決定されたか否か決定され、質量中心が決定されていた場合にはピークがスペクトロメータにより前回より多いイオンで再収集され、かつ／またはより多くの検出信号またはスペクトルが追加され、そうでない場合には処理は次のステップ１４８に進む（前述した質量中心決定器が質量中心を検出しなかった場合、これは、不十分な個数のイオンが収集されたことを示す）。次のステップ１４８において、オーバーフロー・フラグ（それは両チャネルが飽和／過負荷されたことを示す）が併合スペクトル中のピークに付加されているか否か決定し、付加されている場合にはピークがスペクトロメータにより前回より少ないイオンで再収集され、そうでない場合にはプロセスは、そのピークのデータ依存決定を終了しても、あるいはもう１回以上のデータ依存決定実行ステップに進んでもよい。

請求項中を含めて、本出願で使用する場合、前後関係により別段の指示がなされる場合を除き、本出願における用語の単数形は複数形を含み、また、複数形は単数形を含むものとして解釈されるものとする。たとえば、前後関係により別段の指示がなされる場合を除き、請求項中を含めて、本出願で使用する場合、「１つ」のなどの単数の言及（たとえば、１つの光子等）は「１つ以上」を意味する（たとえば、１つ以上の光子検出器等）。

この明細書の詳細説明および請求項を通じて、用語「含む」、「含めて」、「有する」、「包含する」およびこれらの用語の変形、たとえば「含むこと」および「含んでいる」等は、「〜を含むが〜に限定されない」を意味し、他の要素を排除することを意図しない（かつ排除しない）。

当然のことであるが、本発明の前記実施形態の変形は、本発明の範囲内に依然として属しつつなされ得る。この明細書において開示された各特徴は、別段の言及がない限り、同一、等価または類似の目的を果たす代替特徴により置換され得る。したがって、別段の言及がない限り、開示された各特徴は、一般的な一連の等価または同様な特徴の一例にすぎない。

本出願において使用されたありとあらゆる例または例示的用語（「たとえば」、「など」、「例として」および同様な表現）の使用は、単に本発明のより分かりやすい説明を意図しているのみであり、別途請求しない限り、本発明の範囲の限定を指示しない。明細書中の表現は、非請求要素を本発明の実行にとって絶対に必要なものとして指示するものと解するべきではない。

この明細書において記述されているステップは、別段の指示がある場合または文脈により別段の解釈が要求される場合を除き、任意の順序または同時に行うことができる。

この明細書において開示された特徴のすべては、如何なる組み合わせにおいても組み合わせることができる。ただし、かかる特徴および／またはステップの少なくとも一部が相互に排他的である場合の組み合わせを除く。特に、本発明の推奨特徴は、本発明のすべての態様に適用でき、かつ、任意の組み合わせで使用することができる。同様に、非本質的な組み合わせにおいて記述された特徴は、別々に使用できる（組み合わせにおいてではなく）。

Claims (19)

1. 質量スペクトロメータにおいてイオンを検出するためのデータ収集システムであって、
   検出器に到来したイオンに応答して別々のチャネルに２つ以上の検出信号を出力する２つの以上の検出器を含む、イオンを検出するための検出システムであって、前記検出信号はイオンが二次電子を生成することに応答して生成され、第１の検出器に到来し前記第１の検出器から第１の検出信号を生成する同じ二次電子がシンチレータに到来し光子を生成し、時間遅延後に前記光子が第２の検出器に到来し前記第２の検出器から第２の検出信号を生成し、前記信号が時間的に相互間でずらされる、前記検出システムと、
   データ処理システムの別々のチャネルにおいて前記検出信号を受信及び処理し、かつ、処理された前記検出信号を併合して質量スペクトルを構築するための前記データ処理システムと、を含み、
   別々のチャネルにおける前記処理は、別々のチャネル中においてアナログ−デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）で前記検出信号をデジタル化することと、前記検出信号に閾値を適用することにより、デジタル化された前記検出信号から雑音を除去することを含む、データ収集システム。
2. 前記質量スペクトロメータがＴＯＦ質量スペクトロメータであり、前記質量スペクトルがハイ・ダイナミック・レンジ質量スペクトラムである、請求項１に記載のデータ収集システム。
3. 前記第１の検出器は低利得検出器であり、前記第２の検出器は高利得検出器である、請求項１または２に記載のデータ収集システム。
4. 前記検出器から前記検出信号を受信し、かつ、前記検出信号をデジタル化する前に別々のチャネル中の前記検出信号を前置増幅するための少なくとも１つの前置増幅器を含む、請求項１〜３のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
5. 個別の閾値が前記検出信号のそれぞれに適用され、任意選択的に各閾値が参照テーブル（ＬＵＴ）に格納されており、各検出信号のために別々のＬＵＴが存在する、請求項１〜４のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
6. 前記閾値が動的であり、かつ、前記検出信号において時間とともに変化する、請求項１〜５のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
7. 前記個別チャネル中の前記処理が、相異なるプロセッサ間の別々の前記チャネルによる転送のために、雑音除去のための前記閾値を通過した前記検出信号のポイントのみをフレーム中に圧縮することを含む、請求項１〜６のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
8. 各フレームの幅が可変であって、それにより、各フレームが最小サイズから最大サイズまでのサイズを有し、かつ、フレームが最小サイズに到達した場合にピークが存在しない限り各フレームは最小サイズから構成され、ピークが存在する場合には、そのフレームは、前記ピークが終了するまで、当該フレームが前記最大サイズを超えないことを条件として前記最小サイズを超えて拡張され、最大サイズに到達した場合にピークが存在するときには、前記ピークのポイントが次のフレームに続く、請求項７に記載のデータ収集システム。
9. 前記データ処理システムが、前記雑音の除去および前記閾値を通過した前記検出信号の前記ポイントの圧縮を行う別々の前記チャネル中における前記処理ステップを行うための専用プロセッサを含み、前記検出信号が並行して処理される、請求項７に記載のデータ収集システム。
10. 前記検出信号から雑音を除去した後の別々の前記チャネルにおける前記処理が、前記検出信号中のピークの検出および検出された前記ピークの特徴付けを含み、前記ピークの特徴付けが、
    ａ）前記ピークの１つ以上の品質係数を生成するステップと、
    ｂ）質量中心決定アルゴリズムを使用して前記ピークの質量中心を決定するステップと、
    を含み、
    前記併合が、十分に高い１つ以上の品質係数を有するピークのみを併合することを含み、および／または、前記処理が、前記品質係数の１つ以上を使用してピークの決定された前記質量中心が信頼できるか否か、および別のピーク検出および／または質量中心決定アルゴリズムを適用することまたは前記ピークを再び収集することを含むさらなる処置が必要であるか否かを決定することを含む、請求項１〜９のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
11. ピークの前記品質係数が、前記ピークの平滑度および／または形状を含み、かつ、任意選択的に前記処理が、前記ピークの前記平滑度および／または形状を、期待またはモデル平滑度および／または形状と比較することを含む、請求項１０に記載のデータ収集システム。
12. 前記処理が、前記検出信号を併合する前に、前記検出信号を整列させてそれらの間の時間遅延を補正することを含む、請求項１〜１１のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
13. 前記検出信号の１つが高利得検出信号であり、かつ、前記検出信号の１つが低利得検出信号であり、処理された前記検出信号の前記併合が、前記高利得検出信号と前記低利得検出信号を併合して、前記高利得検出信号が飽和していない場合に前記高利得検出信号を含み、かつ、前記高利得検出信号が飽和している場合に前記低利得検出信号を含むハイ・ダイナミック・レンジ質量スペクトルを構成することを含み、前記低利得検出信号が前記ハイ・ダイナミック・レンジ質量スペクトルにおいて使用される場合に、それが前記高利得検出信号の前記低利得検出信号に対する相対増幅度により拡大される、請求項１〜１２のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
14. 前記検出信号の１つが高利得検出信号であり、かつ、前記検出信号の１つが低利得検出信号であり、処理された前記検出信号の前記併合が、前記高利得検出信号と前記低利得検出信号を併合して、ハイ・ダイナミック・レンジ質量スペクトルを形成することを含み、ユーザーとの相互作用を必要とせずに、前記データ収集システムが常に前記併合スペクトルのために線型応答の適切な前記検出信号を選択することが保証され、前記データ収集システムが前記低利得検出信号および前記高利得検出信号が同時に線型応答を示す並行範囲を自動的に検出し、かつ、前記並列範囲外において線型応答を示す適切な検出器に切り換え且つ前記並行範囲における相対利得を再較正する、請求項１〜１３のいずれか一項に記載のシステム。
15. 処理された前記検出信号の前記併合が、所与のピークについて当該ピークに関する最高品質係数を有する前記検出信号のみ併合することを含む、請求項１〜１４のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
16. 前記別々のチャネルにおける前記処理が、処理された前記検出信号を併合する前に、各チャネル中の複数の検出信号を加え合わせることを含む、請求項１〜１５のいずれか一項に記載のデータ収集システム。
17. 前記データ処理システムが、前記専用プロセッサから別々のチャネルの検出信号を受け取り、かつ、少なくとも別々のチャネルの前記検出信号のさらなる処理および処理された前記検出信号の前記併合を行う計器コンピュータを含む、請求項９に記載のデータ収集システム。
18. 前記計器コンピュータが、前記検出システムおよび／または質量スペクトロメータの１つ以上の動作パラメータを制御する１つ以上のデータ依存決定を行うためのものである、請求項１７に記載のデータ収集システム。
19. 質量スペクトロメータにおいてイオンを検出するためのデータ収集方法であって、
    検出システムを使用してイオンを検出するステップを含み、
    前記検出システムが、２つ以上の検出器を含み、前記検出システムに到来し二次電子を生成するイオンに応答して前記２つ以上の検出器から２つ以上の検出信号を別々のチャネルに出力し、第１の検出器に到来し前記第１の検出器から第１の検出信号を生成する同じ二次電子がシンチレータに到来し光子を生成し、時間遅延後に前記光子が第２の検出器に到来し前記第２の検出器から第２の検出信号を生成し、前記検出信号が相互に時間的にずらされ、
    データ処理システムの別々のチャネルにおいて前記検出信号を受信及び処理するステップを更に含み、別々のチャネルにおける前記処理が、別々のチャネル中においてアナログ−デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）で前記検出信号をデジタル化することと、閾値を前記検出信号に適用することにより、デジタル化された前記検出信号から雑音を除去するステップを含み、
    前記データ処理システム中の処理された前記検出信号を併合して質量スペクトルを構築するステップを更に含む、方法。