JP6116948B2 - 基板処理装置及びその洗浄方法 - Google Patents

基板処理装置及びその洗浄方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6116948B2
JP6116948B2 JP2013051492A JP2013051492A JP6116948B2 JP 6116948 B2 JP6116948 B2 JP 6116948B2 JP 2013051492 A JP2013051492 A JP 2013051492A JP 2013051492 A JP2013051492 A JP 2013051492A JP 6116948 B2 JP6116948 B2 JP 6116948B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tank
substrate
processing apparatus
processing
discharge pipe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013051492A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014179408A (ja
Inventor
長良 修治
修治 長良
高志 西村
高志 西村
昌宏 有岡
昌宏 有岡
荒木 浩之
浩之 荒木
本庄 一大
一大 本庄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP2013051492A priority Critical patent/JP6116948B2/ja
Publication of JP2014179408A publication Critical patent/JP2014179408A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6116948B2 publication Critical patent/JP6116948B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ用基板、プラズマディスプレイ用基板、有機EL用基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、太陽電池用基板(以下、単に基板と称する)を処理する基板処理装置及びその洗浄方法に係り、特に処理槽に付着した被膜の破片を洗浄除去する技術に関する。
従来、この種の装置として、処理液を貯留し、基板を浸漬して被膜の洗浄除去処理を行う処理槽と、処理槽から溢れた処理液を回収するオーバフロー槽と、処理槽とオーバフロー槽とを連通接続し、処理液を処理槽に供給するとともに循環させる循環配管と、循環配管に連通したオーバフロー槽の排液口の上部を覆うように設けられたフィルタ部材と、循環配管に設けられ、処理液中のパーティクルを取り除く循環フィルタと、フォトレジスト被膜が被着された複数枚の基板を保持するリフタとを備えたものがある(例えば、特許文献1参照)。
このような構成の装置では、例えば、処理槽及びオーバフロー槽に剥離液が貯留循環された状態で、フォトレジスト被膜が被着された複数枚の基板がリフタに載置されたまま、処理槽の剥離液中に浸漬される。そして、その状態を所定時間だけ維持することにより、基板に被着されたフォトレジスト被膜が剥離される。剥がれたフォトレジスト被膜の破片は、処理槽からオーバフロー槽への剥離液の流れに乗って排出され、フィルタ部材によって捕らえられる。したがって、フォトレジスト被膜の破片に起因する循環フィルタの目詰まりを防止できるようになっている。なお、剥離されたフォトレジスト被膜は、数ミリ角程度の大きさの小さな破片や、数センチ角程度の大きさの大きな破片となって処理槽中を漂うことになる。
特開2002−96012号公報
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
すなわち、従来の装置は、フォトレジスト被膜の破片の一部がオーバフロー槽へ排出されず、処理槽内に滞留することがある。このような状態では、処理槽の剥離液を廃棄するために排出しても、処理槽内にフォトレジスト被膜の破片が付着して残ることがある。そのため、新たな剥離液が処理槽に供給された際に、処理槽に付着していたフォトレジスト被膜の破片が剥離液中に浮遊するので、新たな剥離液で処理される基板にその破片が付着して基板の汚染が生じることがあるという問題がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、処理槽内における被膜の破片を除去することにより、被膜の破片が残留することに起因する相互汚染を防止することができる基板処理装置及びその洗浄方法を提供することを目的とする。
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置において、剥離液を貯留し、基板を浸漬して処理するための処理槽と、前記処理槽に貯留する剥離液を排出するための排出管と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽と、前記オーバフロー槽の剥離液を前記処理槽に循環させる循環配管と、複数枚の基板を保持し、前記処理槽内の処理位置と、前記処理槽の上方にあたる待機位置とにわたって昇降自在のリフタと、前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かく破砕する破砕手段と、複数枚の基板を保持した前記リフタを処理位置に位置させ、前記循環配管により剥離液を循環させて剥離処理を行わせた後、前記リフタを待機位置に上昇させて前記基板を処理槽外に搬出し、前記破砕手段を作動させて前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行った後に、前記排出管を介して前記処理槽内の剥離液を排出させる制御手段と、を備えていることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、制御手段は、複数枚の基板を保持したリフタを処理位置に位置させ、循環配管により剥離液を循環させて剥離処理を行わせた後、リフタを待機位置に上昇させて前記基板を処理槽外に搬出する。次に、破砕手段を作動させて処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行った後に、排出管を介して処理槽内の剥離液を排出させる。処理槽内に存在していた被膜の破片は粉砕されているので、処理槽からの剥離液の排液時に排出管への液流に乗りやすくできる。したがって、新たな剥離液が処理槽内に供給されても、新たな剥離液に被膜の破片が混入することを防止できる。その結果、新たな剥離液で処理される基板にその破片が付着する相互汚染を防止することができる。
また、本発明において、前記制御手段は、前記破砕処理に続いて、前記リフタを処理位置に位置させて前記破砕処理を行わせることが好ましい(請求項2)。
リフタに付着した被膜の破片を粉砕させて、処理槽からの剥離液の流れで排出させることができる。したがって、リフタに付着した被膜の破片に起因する相互汚染を防止できる。
また、本発明において、前記破砕手段は、前記処理槽内の剥離液に対して超音波振動を付与する超音波振動付与手段であることが好ましい(請求項3)。
超音波振動付与手段による超音波振動により、処理槽内に存在する被膜の破片を破砕することができる。
また、本発明において、前記破砕手段は、前記処理槽の底部に設けられ、前記処理槽内の剥離液に気泡を供給する気泡供給手段であることが好ましい(請求項4)。
気泡供給手段による気泡により、処理槽内に存在する被膜の破片を破砕することができる。
また、本発明において、前記排出管の排出先に回収槽と、前記回収槽に備えられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材をさらに備え、前記排出管は、前記回収槽側に位置する側が複数本に分岐され、それぞれが離間して前記網状部材に臨むように配置されていることが好ましい(請求項5)。
排出管を介して処理槽の剥離液を回収する際に、被膜の破片が網状部材の複数箇所に分散されて排出される。したがって、網状部材のメンテナンス頻度を低減できる。
また、本発明において、前記排出管の排出先に回収槽と、前記回収槽に備えられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材と、前記網状部材を面方向に移動させる面方向駆動手段とを、さらに備え、前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記面方向駆動手段を操作することが好ましい(請求項6)。
排出管を介して処理槽の剥離液を回収する際に、制御手段は、面方向駆動手段により網状部材を面方向に移動させる。そのため、被膜の破片が網状部材の一箇所に集中することなく分散させることができるので、網状部材のメンテナンス頻度を低減できる。
また、本発明において、前記排出管の排出先に回収槽と、前記回収槽に備えられ、前記排出管の開口面積よりも大面積であって、無端状に形成された網状部材と、前記網状部材の内周面側に当接して配置され、前記網状部材を駆動する駆動手段と、前記網状部材に当接して、前記網状部材の移動を案内する案内部材と、をさらに備え、前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記駆動手段を操作することが好ましい(請求項7)。
排出管を介して処理槽の剥離液を回収する際に、制御手段は、駆動手段により無端状の網状部材を案内部材に沿って移動させるので、被膜の破片を分散させることができる。したがって、網状部材のメンテナンス頻度を低減できる。
また、本発明において、前記網状部材は、その端部が前記回収槽から外れた位置に延出されており、前記網状部材の延出された部分において、その内周側に配置され、前記網状部材の内面から外面に向かって洗浄液を噴射する洗浄手段をさらに備えていることが好ましい(請求項8)。
網状部材に対して、回収槽から外れた位置において洗浄手段により内面から外面に向かって洗浄液を供給することができる。したがって、網状部材に堆積した被膜の破片を除去することができるので、メンテナンス頻度を低減できる。
また、請求項9に記載の発明は、基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させて前記基板を前記処理槽外に搬出する過程と、前記基板を前記処理槽外に搬出する過程の後、前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、を実施することを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項9に記載の発明によれば、リフタを処理位置に位置させて剥離処理を行わせた後、リフタを待機位置に位置させて基板を処理槽外に搬出させた後、処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせ、処理槽内の剥離液を排出管から排出させる。処理槽内に存在していた被膜の破片は破砕処理により粉砕されているので、処理槽からの剥離液の排液時に排出管への液流に乗りやすくできる。したがって、新たな剥離液が処理槽内に供給されても、新たな剥離液に被膜の破片が混入することを防止できる。その結果、新たな剥離液で処理される基板にその破片が付着する相互汚染を防止することができる。
また、請求項15に記載の発明は、基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理槽内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させる過程と、前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、を実施し、前記破砕処理を行わせる過程は、前記破砕処理に続いて、前記リフタだけを処理位置に位置させて再び破砕処理を行わせることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項15に記載の発明によれば、リフタを処理位置に位置させて剥離処理を行わせた後、リフタを待機位置に位置させ、処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせ、処理槽内の剥離液を排出管から排出させる。処理槽内に存在していた被膜の破片は破砕処理により粉砕されているので、処理槽からの剥離液の排液時に排出管への液流に乗りやすくできる。したがって、新たな剥離液が処理槽内に供給されても、新たな剥離液に被膜の破片が混入することを防止できる。その結果、新たな剥離液で処理される基板にその破片が付着する相互汚染を防止することができる。また、リフタに付着した被膜の破片を粉砕させて、処理槽からの剥離液の流れで排出させることができる。したがって、リフタに付着した被膜の破片に起因する相互汚染を防止できる。
また、請求項16に記載の発明は、基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理槽内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させる過程と、前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、を実施し、前記破砕処理を行わせる過程は、前記処理槽内の底部から剥離液に気泡を供給することを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項16に記載の発明によれば、リフタを処理位置に位置させて剥離処理を行わせた後、リフタを待機位置に位置させ、処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせ、処理槽内の剥離液を排出管から排出させる。処理槽内に存在していた被膜の破片は破砕処理により粉砕されているので、処理槽からの剥離液の排液時に排出管への液流に乗りやすくできる。したがって、新たな剥離液が処理槽内に供給されても、新たな剥離液に被膜の破片が混入することを防止できる。その結果、新たな剥離液で処理される基板にその破片が付着する相互汚染を防止することができる。また、気泡により、処理槽内に存在する被膜の破片を破砕することができる。
また、請求項17に記載の発明は、基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理槽内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させる過程と、前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、を実施し、前記排出させる過程は、前記排出管の排出先に設けられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材を備えた回収槽に対して行われ、前記網状部材を面方向に移動させつつ行われることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項17に記載の発明によれば、リフタを処理位置に位置させて剥離処理を行わせた後、リフタを待機位置に位置させ、処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせ、処理槽内の剥離液を排出管から排出させる。処理槽内に存在していた被膜の破片は破砕処理により粉砕されているので、処理槽からの剥離液の排液時に排出管への液流に乗りやすくできる。したがって、新たな剥離液が処理槽内に供給されても、新たな剥離液に被膜の破片が混入することを防止できる。その結果、新たな剥離液で処理される基板にその破片が付着する相互汚染を防止することができる。また、排出管を介して処理槽の剥離液を回収する過程では、網状部材を面方向に移動させる。そのため、被膜の破片が網状部材の一箇所に集中することなく分散させることができるので、網状部材のメンテナンス頻度を低減できる。
本発明に係る基板処理装置によれば、制御手段は、複数枚の基板を保持したリフタを処理位置に位置させ、循環配管により剥離液を循環させて剥離処理を行わせた後、リフタを待機位置に上昇させる。次に、破砕手段を作動させて処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行った後に、排出管を介して処理槽内の剥離液を排出させる。処理槽内に存在していた被膜の破片は粉砕されているので、処理槽からの剥離液の排液時に液流に乗りやすくできる。したがって、新たな剥離液が処理槽内に供給されても、新たな剥離液に被膜の破片が混入することを防止できる。その結果、新たな剥離液で処理される基板にその破片が付着する相互汚染を防止することができる。
実施例に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。 剥離処理を示す模式図である。 リフタを待機位置に上昇させ、破砕処理を開始した状態を示す模式図である。 破砕処理を行った状態を示す模式図である。 リフタから基板を移載した状態を示す模式図である。 リフタのみを処理位置に位置させた状態での破砕処理を示す模式図である。 破砕処理を終えた状態を示す模式図である。 剥離液を排出させている状態を示す模式図である。 排出配管の変形例を示す図である。 回収槽の変形例を示す図である。 回収槽の他の変形例を示す図である。
以下、図面を参照して本発明の一実施例について説明する。
図1は、実施例に係る基板処理装置の概略構成を示すブロック図である。
本実施例に係る基板処理装置は、基板Wに被着された被膜を剥離液によって剥離処理する。以下の説明においては、被膜としてフォトレジスト被膜を例にとって説明するが、本発明における被膜としては、例えばパッシベーション(Passivation)膜などの被膜であってもよい。
基板処理装置は、複数枚の基板Wを一括して剥離処理するための処理部1を備えている。この処理部1は、純水や剥離液などの処理液を貯留し、複数枚の基板Wを収容可能な大きさを有する処理槽3と、処理槽3の上縁から周囲に溢れる処理液を回収するオーバフロー槽5と、超音波振動の伝播媒体となる伝播水を貯留する伝播槽7を備えている。
処理部1の近くには、リフタ9が設けられている。このリフタ9は、高さ方向において処理槽3の上方にあたる「待機位置」(図1の二点鎖線)と、処理槽3の内部にあたる「処理位置」(図1の実線)とにわたって昇降可能に構成されている。また、リフタ9は、処理槽3の側壁に沿って延出された背板11と、背板11の下部にて水平方向(紙面の奥手前方向)に延出された3本の支持部13とを備えている。
処理槽3は、底部の両側に噴出管17を取り付けられている。各噴出管17は、供給された処理液を処理槽3の底面中央に向けて噴出させる。各噴出管17の間であって、処理槽3の底面には、4本の気泡供給管19が設けられている。各気泡配管19は、処理槽3の底部から気泡を供給する。伝播槽7は、外側の底面中央部に超音波振動を発生させる超音波振動付与部21が取り付けられている。超音波振動付与部21は、数MHZの超音波振動を発生させる。処理槽3は、その下部を伝播槽7の伝播水に浸漬された状態で設置され、超音波振動付与部21が発生した超音波振動は、伝播水および処理槽3の下部を介して処理槽3内部の処理液に伝播される。
なお、上述した超音波振動付与部21が本発明における「破砕手段」及び「超音波振動付与手段」に相当する。また、気泡供給管19が本発明における「破砕手段」に相当する。
オーバフロー槽5は、循環配管22の一端側が、その上部開口から底面に向かって延出されている。循環配管22は、その他端側が、噴出管17に連通接続されている。循環配管22は、オーバフロー槽5側から順に、制御弁23と、循環ポンプ25と、制御弁27と、インラインヒータ29と、循環フィルタ31とを設けられている。制御弁23,27は、循環配管22における処理液の流通を制御する。循環ポンプ25は、処理部1に貯留する処理液を循環配管22に圧送する。インラインヒータ29は、循環配管22を流通する処理液を所定温度に温調する。循環フィルタ31は、循環配管22を流通している処理液に含まれるパーティクルなどの汚染物質を捕捉する。
循環配管22は、循環ポンプ25と制御弁23との間に、排出管33の一端側が連通接続されている。排出管33の他端側は、処理槽3の底面に向かって延出されている。この排出管33は、処理槽3に貯留している処理液を循環配管22に排出するためのものである。排出管33は、処理液の流通を制御する制御弁35を備えている。
また、循環配管22は、循環ポンプ25と制御弁27との間に、排出管37の一端側が連通接続されている。排出管37は、処理液の流通を制御する制御弁39を備えている。排出管37の他端側は、回収槽41の上部開口に連通接続されている。回収槽41は、上部開口に網状部材43が配置されている。この網状部材43は、排出管37の開口面積よりも大面積であり、処理液に含まれているフォトレジスト被膜の破片などの汚染物質を捕捉するが、処理液を通過させる大きさの網目を有する。回収槽41は、処理部1で使用した剥離液を回収して一時的に貯留する。
各気泡供給配管19は、供給管45の一端側が連通接続されている。供給管45の他端側は、窒素ガス供給源47に連通接続されている。供給管45は、窒素ガスの流通を制御する制御弁49を備えている。制御弁49が開放されると、窒素ガス供給源47から窒素ガスが供給管45に供給され、気泡供給管19から処理槽3に窒素ガスの気泡が供給される。
上述した各部は、CPUやメモリにより構成されている制御部51によって統括制御される。制御部51は、リフタ9の昇降動作、超音波振動付与部21の作動、循環ポンプ25の作動、インラインヒータ29の温調動作、制御弁23,27,35,39,49の開閉を操作する。
なお、上述した制御部51が本発明における「制御手段」に相当する。
次に、上述した構成の基板処理装置による処理について図2〜図8を参照して説明する。なお、図2は、剥離処理を示す模式図であり、図3は、リフタを待機位置に上昇させ、破砕処理を開始した状態を示す模式図であり、図4は、破砕処理を行った状態を示す模式図であり、図5は、リフタから基板を移載した状態を示す模式図であり、図6は、リフタのみを処理位置に位置させた状態での破砕処理を示す模式図であり、図7は、破砕処理を終えた状態を示す模式図であり、図8は、剥離液を排出させている状態を示す模式図である。また、各図2〜図8では、制御部51を省略して描いてある。
以下の説明においては、処理液として剥離液を例にとり、基板Wに被着されているフォトレジスト被膜を剥離する剥離処理を例にとって説明する。なお、剥離液は、既に処理部1及び循環配管22に供給され、処理温度への温調も完了している状態であるとして説明する。
制御部51は、複数枚の基板Wを保持したリフタ9を待機位置から処理位置に下降させる。そして、循環ポンプ25を作動させて剥離液をオーバフロー槽5から処理槽3に循環させ、基板Wに対して剥離処理を行わせる(図2)。これにより、処理位置にある複数枚の基板Wからフォトレジスト被膜が剥離し、破片ffとなって処理槽3の剥離液中に浮遊する。フォトレジスト被膜の破片ffは、処理槽3からオーバフロー槽5への剥離液の流れに乗って排出されるフォトレジスト被膜の破片ffを除き、一部のフォトレジスト被膜の破片ffが処理槽3内の剥離液中に浮遊する。
なお、上記の過程が本発明における「剥離処理を行わせる過程」に相当する。
制御部51は、循環ポンプ25を停止させるとともにリフタ9を待機位置に上昇させる。このとき、処理槽3に貯留する剥離液には、フォトレジスト被膜の破片ffが滞留している。
なお、上記の過程が本発明における「待機位置に上昇させる過程」に相当する。
次に、制御部51は、制御弁49を開放させるとともに、超音波振動付与部21を作動させる。これにより、処理槽3に貯留している剥離液中に窒素ガスの気泡が供給されるとともに、超音波振動が付与される(図3)。すると、気泡が上昇する際の水流や気泡が被膜破片にぶつかる際の物理力、気泡の破裂する際のエネルギーと超音波振動のエネルギーにより、剥離液中のフォトレジスト被膜の破片ffが破砕されて、フォトレジスト被膜の細かい破片sffに分解される(図4)。
なお、上記の過程が本発明における「破砕処理を行わせる過程」に相当する。
一方、剥離処理の後、待機位置に上昇しているリフタ9の背板11や保持部13には、フォトレジスト被膜の破片ffが付着していることがある。
制御部51は、リフタ9に保持されている複数枚の基板Wを他の搬送機構(不図示)に移載させた後(図5)、リフタ9を再び処理位置に移動させる(図6)。処理槽3は、気泡の供給と超音波振動の付与が継続されて破砕処理のままであるので、リフタ9に付着しているフォトレジスト被膜の破片ffに対して破砕処理が行われる。これにより、リフタ9に付着していたフォトレジスト被膜の破片ffが細かい破片sffにされる(図7)。これにより、処理槽3の剥離液中には、処理槽3内に浮遊していたフォトレジスト被膜の細かい破片sffと、リフタ9に付着していたフォトレジスト被膜の破片ffの細かい破片sffとが浮遊することになる。
次に、制御部51は、制御弁49を閉止させて気泡の供給を停止させるとともに、超音波振動付与部21による超音波振動の付与を停止させる。そして、制御部51は、制御弁23,27を閉止させるとともに、制御弁35,39を開放させる。さらに、制御部51は、循環ポンプ25を作動させて、処理槽3に貯留している、フォトレジスト被膜の細かい破片sffを含んだ剥離液を排出管33と循環配管22と排出管37とを介して回収槽41に排出させる。このとき、剥離液中のフォトレジスト被膜の細かい破片sffは、網状部材43によって捕捉されるので、回収槽41には剥離液のみが回収される。回収槽41に回収された剥離液は、剥離処理のために再び処理槽3に供給されたり、廃棄処理設備により廃棄処分されたりする。また、回収槽41の網状部材43には、フォトレジスト被膜の細かい破片sffが堆積してゆくので、定期的にメンテナンスを行って網状部材43からフォトレジスト被膜の細かい破片sffを除去すればよい。
なお、上記の過程が本発明における「排出させる過程」に相当する。
本実施例によれば、制御部51は、複数枚の基板Wを保持したリフタ9を処理位置に位置させ、循環配管22により剥離液を循環させて剥離処理を行わせた後、リフタ9を待機位置に上昇させる。次に、気泡供給管19から気泡を供給させるとともに、超音波振動付与部21を作動させて超音波振動を付与させ、処理槽3内に存在するフォトレジスト被膜の破片ffを細かくさせる破砕処理を行った後に、排出管33,37を介して処理槽3内の剥離液を排出させる。処理槽3内に存在していたフォトレジスト被膜の破片ffは粉砕されて細かい破片sffとされているので、処理槽3からの剥離液の排液時に排出管33の液流に乗りやすくできる。したがって、新たな剥離液が処理槽3内に供給されても、新たな剥離液にフォトレジスト被膜の破片ffが混入することを防止できる。その結果、新たな剥離液で処理される基板Wにその破片ffが付着する相互汚染を防止することができる。
また、リフタ9のみを処理槽3の処理位置に位置させて破砕処理を行わせるので、リフタ9に付着したフォトレジスト被膜の破片ffを粉砕させることができる。したがって、処理槽3からの剥離液の流れで排出管33にフォトレジスト被膜の細かい破片sffを排出させることができる。その結果、リフタ9に付着したフォトレジスト被膜の破片ffに起因する相互汚染を防止できる。
本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
(1)上述した実施例では、一本の排出管37から排出された剥離液を、固定的に配置された網状部材43を介して回収槽41に回収させたが、本発明はこのような構成に限定されるものではない。例えば、図9〜図11に示すような構成を採用してもよい。なお、図9は、排出配管の変形例を示す図であり、図10及び図11は、回収槽の変形例を示す図である。
まず、図9を参照する。この変形例は、排出管37Aが上記の実施例と相違する。具体的には、排出管37Aは、回収槽41側の端部が3本の排出管に分岐されている。つまり、排出管37Aは、第1の排出管61と、第2の排出管62と、第3の排出管63とに分岐され、それぞれが離間して網状部材43に臨むように配置されている。各排出管61〜63は、それぞれ制御弁65〜67を設けられている。
この変形例では、上述した剥離液の排出の際に、各制御弁65〜67を開放させる。したがって、三本の排出管61〜63から剥離液が排出されるので、フォトレジスト被膜の細かい破片sffが網状部材43の複数箇所に分散されて排出される。したがって、網状部43のメンテナンス頻度を低減できる。
なお、排出管37Aは、2本に分岐してもよく、4本以上に分岐させてもよい。
次に、図10を参照する。この変形例は、回収槽41Aと網状部材43Aが上述した構成と相違する。具体的には、網状部材43Aが回収槽41Aにおいて水平方向に移動可能に構成されている。回収槽41Aは、網状部材43Aを回収槽41Aの開口部内で水平方向に案内させるガイド部69と、網状部材43Aの縁部に連結され、網状部材43Aを水平方向に進退させる駆動部71とを備えている。駆動部71は、電動モータ73と、ボールねじ75とを備えている。この駆動部71は、制御部51によって操作される。
なお、上述した駆動部71が本発明における「面方向駆動手段」に相当する。
この変形例によると、制御部29は、駆動部71により網状部材43Aを面方向に移動させるので、フォトレジスト被膜の細かい破片sffが網状部材43Aの一箇所に集中することなく分散させることができる。したがって、網状部材43Aのメンテナンス頻度を低減できる。
図11を参照する。この変形例は、回収槽41Bと網状部材43Bが上述した構成と相違する。具体的には、回収槽41Bは、回収槽41Bに隣接した位置に洗浄部75を備え、その境界に仕切り部材77を備えている。洗浄部75は、網状部材43Bで捕捉されたフォトレジスト被膜の細かい破片sffを洗浄除去する。
網状部材43Bは、無端状に形成されている。網状部材43Bは、回収槽41Bから洗浄部75にわたって延出されている。網状部材43Bのうち、洗浄部75に位置する上部内周面には、主動プーリ79が配置されている。また、主動プーリ79の下方には、内周面に当接する従動プーリ81が配置され、仕切り部材77の上部には、網状部材43Bの外周面に当接する従動プーリ83が配置され、主動プーリ79とほぼ同じ高さ位置であって排出管37側には、従動プーリ85が配置されている。排出管37の下方では、網状部材43Bが水平姿勢となっている。この構成により、主動プーリ79を駆動すると、網状部材43Bが反時計回りに回転される。主動プーリ79の回転は、制御部51によって操作される。
また、洗浄部75は、従動プーリ81と従動プーリ83との間にあたる内周側に、シャワーノズル87を備えている。このシャワーノズル87は、網状部材43Bの内周面から外周面に向かって洗浄液を噴射する。このシャワーノズル87による洗浄液の噴射は、制御部51によって制御される。
なお、上述した主動プーリ79が本発明における「駆動手段」に相当し、従動プーリ81,83,85が本発明における「案内部材」に相当する。また、シャワーノズル87が本発明における「洗浄手段」に相当する。
制御部51は、主動プーリ79により網状部材43Bを従動プーリ81,83,85に沿って移動させるので、排出管37から排出されたフォトレジスト被膜の細かい破片sffを分散させることができる。したがって、網状部材43Bのメンテナンス頻度を低減できる。
また、網状部材43Bに対して、回収槽41Bから外れた洗浄部75においてシャワーノズル87により内面から外面に向かって洗浄液を供給することができる。したがって、網状部材43Bに堆積したフォトレジスト被膜の細かい破片sffを除去することができるので、メンテナンス頻度を低減できる。
(2)上述した実施例では、破砕処理の際に、気泡の供給と超音波振動の付与とを同時に行っているが、本発明はこのような構成に限定されるものではない。例えば、これらのタイミングをずらして行ってもよい。また、気泡の供給と超音波振動の付与のいずれか一方のみを用いるようにしてもよい。いずれか一方のみを破砕処理時に行う場合には、他方の構成が不要であるので、装置コストを抑制することができる。
(3)上述した破砕処理は、リフタ9に支持される一組の基板W(1バッチ)を処理するごとに行ってもよいし、所定数の組の基板を処理するごとに行ってもよいし、所定時間ごと、あるいは処理槽3内の被膜の破片の量を光学センサ等で計測して所定レベルを超えた段階で行ってもよい。
(4)上述した実施例では、破砕処理の際に、まずリフタ9を待機位置に上昇させて基板Wを処理槽3外に搬出し、そのリフタ9を上昇させたままの状態で破砕処理を開始し、その後、リフタ9に保持されている基板Wを他の搬送機構(不図示)に移載させた後にリフタ9を再び処理位置に移動させて破砕処理を継続していたが、例えば、剥離処理終了後にリフタ9が上昇すると、リフタ9に保持されている基板Wを直ちに他の搬送機構(不図示)に移載させ、すぐにリフタ9を処理位置に下降させ、しかる後に制御弁49を開放させるとともに、超音波振動付与部21を作動させて破砕処理を開始してもよい。
W … 基板
1 … 処理部
3 … 処理槽
5 … オーバフロー槽
7 … 伝播槽
9 … リフタ
19 … 気泡供給管
21 … 超音波振動付与部
22 … 循環配管
25 … 循環ポンプ
31 … 循環フィルタ
33,37 … 排出管
41 … 回収槽
43 … 網状部材

Claims (17)

  1. 基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置において、
    剥離液を貯留し、基板を浸漬して処理するための処理槽と、
    前記処理槽に貯留する剥離液を排出するための排出管と、
    前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽と、
    前記オーバフロー槽の剥離液を前記処理槽に循環させる循環配管と、
    複数枚の基板を保持し、前記処理槽内の処理位置と、前記処理槽の上方にあたる待機位置とにわたって昇降自在のリフタと、
    前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かく破砕する破砕手段と、
    複数枚の基板を保持した前記リフタを処理位置に位置させ、前記循環配管により剥離液を循環させて剥離処理を行わせた後、前記リフタを待機位置に上昇させて前記基板を処理槽外に搬出し、前記破砕手段を作動させて前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行った後に、前記排出管を介して前記処理槽内の剥離液を排出させる制御手段と、
    を備えていることを特徴とする基板処理装置。
  2. 請求項1に記載の基板処理装置において、
    前記制御手段は、前記破砕処理に続いて、前記リフタを処理位置に位置させて前記破砕処理を行わせることを特徴とする基板処理装置。
  3. 請求項1または2に記載の基板処理装置において、
    前記破砕手段は、前記処理槽内の剥離液に対して超音波振動を付与する超音波振動付与手段であることを特徴とする基板処理装置。
  4. 請求項1または2に記載の基板処理装置において、
    前記破砕手段は、前記処理槽の底部に設けられ、前記処理槽内の剥離液に気泡を供給する気泡供給手段であることを特徴とする基板処理装置。
  5. 請求項1から4のいずれかに記載の基板処理装置において、
    前記排出管の排出先に回収槽と、前記回収槽に備えられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材をさらに備え、
    前記排出管は、前記回収槽側に位置する側が複数本に分岐され、それぞれが離間して前記網状部材に臨むように配置されていることを特徴とする基板処理装置。
  6. 請求項1から4のいずれかに記載の基板処理装置において、
    前記排出管の排出先に回収槽と、前記回収槽に備えられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材と、前記網状部材を面方向に移動させる面方向駆動手段とを、さらに備え、
    前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記面方向駆動手段を操作することを特徴とする基板処理装置。
  7. 請求項1から4のいずれかに記載の基板処理装置において、
    前記排出管の排出先に回収槽と、前記回収槽に備えられ、前記排出管の開口面積よりも大面積であって、無端状に形成された網状部材と、前記網状部材の内周面側に当接して配置され、前記網状部材を駆動する駆動手段と、前記網状部材に当接して、前記網状部材の移動を案内する案内部材と、をさらに備え、
    前記制御手段は、前記網状部材に被膜の破片が分散するように前記駆動手段を操作することを特徴とする基板処理装置。
  8. 請求項7に記載の基板処理装置において、
    前記網状部材は、その端部が前記回収槽から外れた位置に延出されており、
    前記網状部材の延出された部分において、その内周側に配置され、前記網状部材の内面から外面に向かって洗浄液を噴射する洗浄手段をさらに備えていることを特徴とする基板処理装置。
  9. 基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、
    剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、
    前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させて前記基板を前記処理槽外に搬出する過程と、
    前記基板を前記処理槽外に搬出する過程の後、前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、
    前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、
    を実施することを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  10. 請求項9に記載の基板処理装置の洗浄方法において、
    前記破砕処理を行わせる過程は、前記破砕処理に続いて、前記リフタだけを処理位置に位置させて再び破砕処理を行わせることを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  11. 請求項9または10に記載の基板処理装置の洗浄方法において、
    前記破砕処理を行わせる過程は、前記処理槽内の剥離液に対して超音波振動を付与することによって行われることを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  12. 請求項9または10に記載の基板処理装置の洗浄方法において、
    前記破砕処理を行わせる過程は、前記処理槽内の底部から剥離液に気泡を供給することによって行われることを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  13. 請求項9から12のいずれかに記載の基板処理装置の洗浄方法において、
    前記排出させる過程は、前記排出管の排出先に設けられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材を備えた回収槽に対して行われることを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  14. 請求項9から12のいずれかに記載の基板処理装置の洗浄方法において、
    前記排出させる過程は、前記排出管の排出先に設けられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材を備えた回収槽に対して行われ、前記網状部材を面方向に移動させつつ行われることを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  15. 基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、
    剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理槽内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、
    前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させる過程と、
    前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、
    前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、
    を実施し、
    前記破砕処理を行わせる過程は、前記破砕処理に続いて、前記リフタだけを処理位置に位置させて再び破砕処理を行わせることを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  16. 基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、
    剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理槽内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、
    前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させる過程と、
    前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、
    前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、
    を実施し、
    前記破砕処理を行わせる過程は、前記処理槽内の底部から剥離液に気泡を供給することを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
  17. 基板に被着された被膜を剥離液により剥離処理する基板処理装置の洗浄方法において、
    剥離液を貯留し、基板を収容可能な処理槽と、前記処理槽から溢れた剥離液を回収するオーバフロー槽とにわたって循環配管で剥離液を循環させつつ、基板を保持するリフタを前記処理槽内の処理位置に位置させて、基板に対して剥離液による剥離処理を行わせる過程と、
    前記剥離処理が完了した後、前記リフタを前記処理槽の上方にあたる待機位置に上昇させる過程と、
    前記処理槽内に存在する被膜の破片を細かくさせる破砕処理を行わせる過程と、
    前記処理槽内の剥離液を排出管から排出させる過程と、
    を実施し、
    前記排出させる過程は、前記排出管の排出先に設けられ、前記排出管の開口面積よりも大面積の網状部材を備えた回収槽に対して行われ、前記網状部材を面方向に移動させつつ行われることを特徴とする基板処理装置の洗浄方法。
JP2013051492A 2013-03-14 2013-03-14 基板処理装置及びその洗浄方法 Active JP6116948B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013051492A JP6116948B2 (ja) 2013-03-14 2013-03-14 基板処理装置及びその洗浄方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013051492A JP6116948B2 (ja) 2013-03-14 2013-03-14 基板処理装置及びその洗浄方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014179408A JP2014179408A (ja) 2014-09-25
JP6116948B2 true JP6116948B2 (ja) 2017-04-19

Family

ID=51699094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013051492A Active JP6116948B2 (ja) 2013-03-14 2013-03-14 基板処理装置及びその洗浄方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6116948B2 (ja)

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0590154A (ja) * 1991-03-06 1993-04-09 Alps Electric Co Ltd レジスト除去方法
JP2000147793A (ja) * 1998-11-12 2000-05-26 Mitsubishi Electric Corp フォトレジスト膜除去方法およびそのための装置
JP4753596B2 (ja) * 2004-05-19 2011-08-24 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
JP2006229009A (ja) * 2005-02-18 2006-08-31 Seiko Epson Corp 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
JP2006286830A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Dainippon Screen Mfg Co Ltd レジスト除去方法およびレジスト除去装置
JP2007273598A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP5125038B2 (ja) * 2006-09-12 2013-01-23 カシオ計算機株式会社 レジスト剥離装置及びレジスト剥離方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014179408A (ja) 2014-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5890198B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
KR102206730B1 (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
TWI464798B (zh) A substrate processing apparatus and a substrate processing method
TWI521630B (zh) 基板處理裝置與基板處理方法
JP5645796B2 (ja) 液処理装置及び液処理方法
TWI592201B (zh) Degassing device, coating device and degassing method
JP5404196B2 (ja) 洗浄装置
WO2020110709A1 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
KR101442399B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JP6038623B2 (ja) 基板処理装置
KR102088632B1 (ko) 세정 방법 및 세정 장치
JP6116948B2 (ja) 基板処理装置及びその洗浄方法
JP6356727B2 (ja) 基板処理装置
US6866051B1 (en) Megasonic substrate processing module
US20080302395A1 (en) Wet processing apparatus and method for discharging particles along horizontal liquid flow
JP2002009033A (ja) 半導体ウエハ用洗浄装置
KR101118885B1 (ko) 처리 장치 및 처리 방법
JP4936793B2 (ja) 洗浄装置および洗浄方法、ならびにコンピュータ読取可能な記憶媒体
JP3697063B2 (ja) 洗浄システム
JP7308182B2 (ja) ノズル洗浄装置および塗布装置
JP2007227796A (ja) 基板の枚葉処理装置および処理方法
JP2014170782A (ja) 基板処理装置
JP2012114211A (ja) ウェットエッチング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160906

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161102

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170228

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170322

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6116948

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250