JP6112973B2 - 光源制御装置及びその制御方法 - Google Patents

Description

本発明は、光源制御装置及びその制御方法に関するものである。

近年、液晶パネルを搭載した表示制御装置における、輝度安定、精度の高い階調特性、コントラスト向上等画質に対するユーザの要求レベルが日々高まっている。また、液晶パネルは自発光素子ではないため、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）等を光源とするバックライト装置が必要となる。

ところが、温度変化や、長期使用による経時劣化を含む環境変化によって、ＬＥＤの輝度が変化してしまう、という問題がある。そのため、バックライト装置の制御方法として、バックライト装置内に配置される輝度センサの検出値の変化量を検出して、輝度が一定になるよう光源の発光量をフィードバック制御する技術がある。特許文献１はフィードバック制御に関する一例である。フィードバック制御により、輝度を一定に保ち、輝度ムラを補正することができる。

しかし、輝度センサが、光源からの光以外にも、パネルを透過してきた外光も検出してしまうことが考えられる。そのため、輝度センサの検出値に外光の影響がある場合、輝度センサの検出値は光源の輝度を正確に検出していないため、精度の高いフィードバック制御ができない、という問題がある。特許文献２に、光センサに入射する外光の影響を除去する技術が記載されている。特許文献２では、光源を点灯した状態で測定した光センサ値（光源点灯時測定値）から、光源を消灯した状態で測定した光センサ値（光源消灯時測定値）を引くことで、光源の輝度を精度良く検出することを提案している。

特許第３９９４５１４号公報 特開２０１２−８５４１号公報

しかしながら、特許文献２の方法では、光源点灯時測定値と光源消灯時測定値とを同時に測定することはできず、両者はタイミングをずらして測定するしかない。ＬＥＤ照明のように、照明輝度が時間変化する照明が用いられている環境下では、外光の輝度が時間変化する。そのため、光源点灯時測定値の測定タイミングにおける外光輝度と、光源消灯時測定値の測定タイミングにおける外光輝度と、が異なってしまう場合があり得る。その場合、光源点灯時測定値に含まれる外光輝度分と光源消灯時測定値に含まれる外光輝度分とが等しくないため、両者の差分をとっても外光によるオフセットを精度良く除去できなかった。そのため、光源の輝度を精度良く測定することができなかった。

そこで、本発明は、バックライト装置に備わる輝度センサによって精度良く光源の輝度の測定する技術を提供することを目的とする。

本発明は、複数の光源と、
複数の輝度センサと、
前記輝度センサによる検出値に基づいて光源ごとに輝度を測定する測定手段と、
前記測定手段により測定される輝度に基づいて光源ごとに発光量のキャリブレーションを行うキャリブレーション手段と、
を備え、
前記測定手段は、前記複数の輝度センサのうち測定対象の光源に対応する第１の輝度センサによる検出値に基づいて測定対象の光源の輝度を測定し、
前記キャリブレーション手段は、前記複数の輝度センサのうち前記第１の輝度センサとは別の第２の輝度センサによる検出値に基づいて、前記測定手段により測定される測定対象の光源の輝度に基づくキャリブレーションを行うか否かを決定することを特徴とする光源制御装置である。

本発明は、複数の光源と、複数の輝度センサと、を備える光源制御装置の制御方法であって、
前記輝度センサによる検出値に基づいて光源ごとに輝度を測定する測定工程と、
前記測定工程により測定される輝度に基づいて光源ごとに発光量のキャリブレーションを行うキャリブレーション工程と、
を有し、
前記測定工程では、前記複数の輝度センサのうち測定対象の光源に対応する第１の輝度センサによる検出値に基づいて、測定対象の光源の輝度を測定し、
前記キャリブレーション工程では、前記複数の輝度センサのうち前記第１の輝度センサとは別の第２の輝度センサによる検出値に基づいて前記測定工程により測定される測定対象の光源の輝度に基づくキャリブレーションを行うか否かを決定することを特徴とする光源制御装置の制御方法である。

本発明によれば、バックライト装置に備わる輝度センサによって精度良く光源の輝度の測定することができる。

実施例１のバックライト制御装置の構成を示すブロック図 実施例１のバックライト制御装置のハードウェア構成を示す概略図 実施例１の制御ブロックと、対応する基準センサ値を示すテーブルの一例 実施例１のバックライト制御装置の動作を表すフローチャート 実施例１のバックライト制御装置のフィードバック制御のフローチャート 実施例１の外光変化判定用センサ位置情報を示すテーブルの一例 実施例１のバックライト制御装置のバックライト測定を示すフローチャート 実施例１の外光の点灯状態変更による輝度センサ値の遷移を示す図 実施例１のバックライト測定時のセンサの位置関係の一例を示す概略図 実施例１のバックライト測定時のセンサの位置関係の一例を示す概略図 実施例２の表示制御装置の構成を示すブロック図 実施例２のバックライト制御装置の輝度センサ値補正のフローチャート 実施例２のバックライト制御装置のバックライト測定のフローチャート 実施例２の外光の点灯状態変更による輝度センサ値の遷移を示す図 実施例３のバックライト制御装置の輝度センサ値補正のフローチャート 実施例３の個別点灯時輝度センサ影響比率を示すテーブルの一例 実施例３の外光の点灯状態変更による輝度センサ値の遷移を示す図

（実施例１）
本発明の実施例１について、説明する。図１は、本発明を適用したバックライト制御装置１００の機能構成例を示すブロック図である。このバックライト制御装置１００は、本
発明の光源制御装置を、液晶パネル及びバックライトからなる画像表示装置に適用した例である。画像表示装置のバックライト制御装置は、画像表示装置に備わる構成とすることができる。この場合、液晶パネルは、入力される画像信号に基づいて画素毎にバックライトからの光を変調（透過率を調節）することにより、画像を表示する。なお、本発明は液晶パネルを備える画像表示装置に限らず、外光を透過する表示パネルの背面に配置されるバックライトの制御装置であれば適用可能である。

バックライト制御装置１００は、フィードバック制御部１０１、バックライト点灯制御部１０７、及び、輝度センサ値取得部１０８を備える。
バックライト２００は、複数のＬＥＤ２０１と、ＬＥＤ２０１からの光及び外光を検出可能な複数の輝度センサ２０２を持つ。バックライト２００は、光源としてＬＥＤ２０１を用い、図２に示すように、各々発光量を独立に制御可能な複数の制御ブロック２０３によりマトリックス状に分割され、制御ブロック毎に、バックライト点灯制御部１０７により発行を個別制御できる構成とする。同様に、複数の輝度センサ２０２についても、輝度センサ値取得部１０８により指定した輝度センサ２０２から輝度センサ２０２による検出値である輝度センサ値を取得できる構成とする。

バックライト制御装置１００は、ハードウェア構成としては、不図示のＲＯＭ、ＲＡＭとＣＰＵを備え、ＲＯＭに格納されたプログラムに従い、ＲＡＭをワークメモリとし、ＣＰＵはバックライト制御装置１００全体の動作を制御する。
バックライト制御装置１００は、ＣＰＵのＴｉｍｅｒを用いて時間管理を行う。ＣＰＵのＴｉｍｅｒは、例えば、電源オン操作されたときのバックライト点灯時間を０とし、時間の計測を開始する。

フィードバック制御部１０１は、測定位置決定部１０２、バックライト測定制御部１０３、外光変化判定部１０４、輝度センサ値補正部１０５、及び、点灯制御値算出部１０６を備える。
フィードバック制御部１０１は、バックライト点灯時間が一定時間に達する度に、フィードバック制御を開始する。フィードバック制御部１０１は、各制御ブロック２０３を個別に点灯させて輝度センサにより測定を行い、得られた輝度センサ値に基づき各制御ブロック２０３の点灯制御値を算出する。フィードバック制御部１０１は、算出した制御ブロック毎の点灯制御値を、後述するバックライト点灯制御部１０７へ出力する。このフィードバック制御により、各制御ブロックの輝度が所望の輝度になるようにキャリブレーションが行われる。

測定位置決定部１０２は、フィードバック制御において個別に点灯させる輝度測定対象の制御ブロックの位置情報（個別点灯ブロック位置情報）と、輝度センサ値を取得する輝度センサの位置情報（輝度センサ値取得位置情報）を決定する。そして、個別点灯ブロック位置情報と輝度センサ値取得位置情報をバックライト測定制御部１０３へ出力する。ここで、輝度センサとして、個別点灯させる測定対象の制御ブロックの輝度及び外部から入射する外光の輝度の測定に用いる第１の輝度センサ（測定用センサ）と、外光の輝度の変化を判定するために用いる第２の輝度センサ（外光変化判定用センサ）がある。測定用センサは、全ての制御ブロックを消灯させたときの輝度センサ値である第１のセンサ値（外光オフセット値）と、測定対象の制御ブロックのみを点灯させたときの輝度センサ値である第２のセンサ値（個別点灯時センサ値）と、を取得するために用いられる。また、外光変化判定用センサにより測定されたセンサ値に基づいて、後述する外光変化判定部１０４は、個別点灯時センサ値取得時と外光オフセット値取得時とで外光が変化したか判定する。

バックライト測定制御部１０３は、個別点灯ブロック位置情報をバックライト点灯制御
部１０７へ設定し、輝度センサ値取得位置情報を輝度センサ値取得部１０８へ設定し、バックライト測定を実施する。

外光変化判定部１０４は、ある制御ブロックの輝度測定時に、個別点灯時センサ値を取得するタイミングと外光オフセット値を取得するタイミングとで取得した外光変化判定用センサの輝度センサ値を比較し、外光が変化したかどうか判定する。

輝度センサ値補正部１０５は、外光オフセット値に基づき、個別点灯時センサ値を補正した補正センサ値を求め、点灯制御値算出部１０６へ出力する。外光オフセット値は、個別点灯時センサ値に含まれる外光の輝度である。外光が例えばＰＷＭ制御されるＬＥＤ照明による光の場合、ＬＥＤ照明には点灯期間と消灯期間があり、点灯期間における外光の輝度と消灯期間における外光の輝度は異なる。外光オフセット値は、外光が点灯期間の場合と消灯期間の場合とで異なる値を示す。

点灯制御値算出部１０６は、輝度センサ値補正部１０５から入力された補正センサ値と、基準センサ値と、ＲＯＭから読み出した初期点灯制御値と、に基づき、制御ブロック毎に点灯制御値を算出し、バックライト点灯制御部１０７へ点灯制御値を設定する。ここで、基準センサ値とは、初期条件（例えば工場出荷時点や製造時）において、各制御ブロックを初期点灯制御値で点灯させた場合の測定用センサによる輝度センサ値である。制御ブロック毎の基準センサ値は、出荷時（製造時）に不図示の不揮発メモリに基準センサ値テーブルとして保存される。図３に基準センサ値テーブルの一例を示す。図３の制御ブロックを指定する（ｙ、ｘ）は、図２において最も左上にある制御ブロックから横方向にｘ番目、下方向にｙ番目にある制御ブロックを示す。

バックライト点灯制御部１０７は、入力される制御ブロック毎の点灯制御値に従い、一定周期でバックライト２００を点灯制御する。ここで、本実施例では、ＰＷＭ（Ｐａｌｓｅ Ｗｉｄｔｈ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）制御により各制御ブロックの発光量を制御する。点灯制御値はＰＷＭ制御におけるオンデューティ比であり、オンデューティ比を変更することで、各制御ブロック２０３の点灯期間が変更され、各制御ブロック２０３の発光量が変更される。

また、バックライト点灯制御部１０７は、個別点灯ブロック位置情報が入力された場合、一定期間、バックライト２００の全ての制御ブロックを消灯する。その後、バックライト点灯制御部１０７は、一定期間、個別点灯ブロック位置情報により指定される位置にある測定対象の制御ブロック（個別点灯ブロック）のみ点灯させる。その際、バックライト点灯制御部１０７は、バックライト２００を全消灯するタイミング及び個別点灯するタイミングのそれぞれにおいて輝度センサ値取得部１０８へ測定要求を通知する。

輝度センサ値取得部１０８は、測定要求を受けたタイミングで、バックライト測定制御部１０３により設定された輝度センサ値取得位置の輝度センサ２０２の輝度センサ値を取得する。ここで、バックライトを全消灯したタイミングで取得されるセンサ値は、外光オフセット値及び外光変化判定用センサ値Ｔ１である。外光オフセット値は、バックライトを全消灯したタイミングで測定用センサ（第１の輝度センサ）により測定される、液晶パネルを透過してきた外光のみに基づく輝度センサ値である（第１のセンサ値）。外光変化判定用センサ値Ｔ１は、バックライトを全消灯したタイミングで外光変化判定用センサ（第２の輝度センサ）により測定される輝度センサ値である（第１の判定値）。また、測定対象の制御ブロックのみを個別点灯したタイミングＴ２で取得されるセンサ値は、個別点灯時センサ値及び外光変化判定用センサ値Ｔ２である。個別点灯時センサ値、測定対象の制御ブロックのみを個別点灯したタイミングで測定用センサにより測定される、液晶パネルを透過してきた外光と個別点灯ブロックの輝度とに基づく輝度センサ値である（第２の
センサ値）。外光変化判定用センサ値Ｔ２は、測定対象の制御ブロックのみを個別点灯したタイミングで外光変化判定用センサにより測定される輝度センサ値である（第２の判定値）。

次にバックライト制御装置１００の動作について、図４に示すフローチャートを用いて説明する。
ユーザが電源オン操作を行うと、バックライト制御装置１００は、バックライト点灯制御部１０７の初期化処理と、フィードバック制御部１０１の周期処理と、バックライトの点灯時間の計測を開始し、本フローチャートは開始される。
バックライト点灯制御部１０７は、初期化処理として、初期点灯制御値を設定し、バックライト２００を点灯開始する（Ｓ４０１）。

フィードバック制御部１０１は、バックライトの点灯時間が時間閾値を超えたか判定する（Ｓ４０２）。点灯時間が時間閾値を超えている場合、フィードバック制御部１０１は、フィードバック制御を実行し、算出した点灯制御値をバックライト点灯制御部へ設定する（Ｓ４０３）。点灯時間が時間閾値を超えていない場合、フィードバック制御部１０１は、Ｓ４０２の判定を繰り返す。ここでは、例えば時間閾値を１０秒とし、電源オンから点灯時間が１０秒経過する度にフィードバック制御部１０１はフィードバック制御を実行して点灯制御値を更新する。
バックライト点灯制御部１０７は、設定された点灯制御値によって点灯制御値を更新し、更新された点灯制御値によりバックライトを点灯する（Ｓ４０４）。

次にフィードバック制御の詳細動作内容について、図５に示すフローチャートを用いて説明する。
フィードバック制御部１０１は、測定ブロック用カウンタｂｌｋ＿ｃｎｔを０にする（Ｓ５０１）。
測定位置決定部１０２は、測定ブロック用カウンタｂｌｋ＿ｃｎｔと測定ブロック順序テーブルに基づき、バックライトの個別点灯ブロックを決定する（Ｓ５０２）。
また、測定位置決定部１０２は、測定ブロック用カウンタｂｌｋ＿ｃｎｔと測定ブロック順序テーブルに基づき、輝度センサ値取得位置を決定する（Ｓ５０３）。

ここで、測定ブロック用カウンタとは、バックライト測定の対象となる個別点灯ブロックの番号を示し、本実施例の場合、４８個の制御ブロックがあるので、測定ブロック用カウンタは０から４７の値をとる。測定ブロック順序テーブルとは、個別点灯ブロックの位置と、個別点灯ブロックを点灯させたときの輝度センサ値の取得に用いる輝度センサの位置である輝度センサ値取得位置と、の対応関係及び順番を示すテーブルである。図６に測定ブロック順序テーブルの一例を示す。個別点灯ブロックの位置とは、測定対象の制御ブロックの位置である。そして、輝度センサ値取得位置情報には、測定用センサ位置の情報と、外光変化判定用センサ位置の情報との２つが含まれる。ここで、測定用センサ位置は、個別点灯する制御ブロックの光を適切な感度で検出できる輝度センサの位置として決定される。また、外光変化判定用センサ位置は、個別点灯するブロックの光をほとんど検出しない（個別点灯ブロックからの光の影響をほとんど受けない）輝度センサの位置として決定される。すなわち、外光変化判定用センサ位置は、個別点灯ブロック位置から離れた位置にある輝度センサの位置である。

測定位置決定部１０２は、決定した個別点灯ブロック位置と輝度センサ値取得位置を、バックライト測定制御部１０３へ設定する。
バックライト測定制御部１０３は、個別点灯ブロック位置情報と輝度センサ値取得位置情報に基づき、後述するバックライト測定を実行する（Ｓ５０４）。

測定対象の個別点灯ブロックについてバックライト測定の実行が完了すると、フィードバック制御部１０１は、測定ブロック用カウンタｂｌｋ＿ｃｎｔをカウントアップし（Ｓ５０５）、全制御ブロックで測定が終わったか判定する（Ｓ５０６）。測定ブロック用カウンタｂｌｋ＿ｃｎｔが４７より小さい場合、フィードバック制御部１０１は、全制御ブロックについて測定が終わっていないと判定し、Ｓ５０２へ戻る。

全制御ブロックで測定が終わった場合、輝度センサ値補正部１０５は、後述する個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）と、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）を用い、下記演算式より、補正センサ値Ｓｃｏｒｒ（ｘ、ｙ）を算出する。

点灯制御値算出部１０６は、輝度センサ値補正部１０５で算出された補正センサ値Ｓｃｏｒｒ（ｘ、ｙ）と、基準センサ値Ｓｂａｓｅ（ｘ、ｙ）と、初期点灯制御値ＤｅｆＰＷＭ（ｘ、ｙ）を用い、下記演算式より、点灯制御値ＣｕｒＰＷＭ（ｘ、ｙ）を算出する。

次にバックライト測定の詳細動作内容について、図７に示すフローチャートを用いて説明する。
バックライト測定制御部１０３は、再測定用カウンタＲｅｐ＿ｃｎｔを０にする（Ｓ７０１）。
また、バックライト測定制御部１０３は、再測定用カウンタＲｅｐ＿ｃｎｔが繰り返し上限閾値より小さいか判定し（Ｓ７０２）、再測定用カウンタＲｅｐ＿ｃｎｔが繰り返し上限閾値以上（Ｓ７０２：Ｎｏ）であれば、本処理を終了する。

再測定用カウンタＲｅｐ＿ｃｎｔが繰り返し上限閾値より小さい場合、バックライト測定制御部１０３は、輝度センサ値取得位置情報を輝度センサ値取得部１０８へ設定し、個別点灯ブロック位置情報をバックライト点灯制御部１０７へ設定する。

バックライト点灯制御部１０７は、個別点灯ブロック位置情報を受け、Ｔｉｍｅｒで設定した消灯時間だけバックライトを全消灯し、輝度センサ値取得部１０８へ測定要求を通知する（Ｓ７０３）。ここで、例えば消灯時間を１００μｓとする。

輝度センサ値取得部１０８は、測定要求を受けたタイミングで、測定用センサ位置情報で決定される輝度センサＳ１の輝度センサ値を取得し、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）とする。輝度センサ値取得部１０８は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）を取得するタイミングで同時に、外光変化判定用センサ位置情報で決定される輝度センサＳ２の輝度センサ値を取得し、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）とする（Ｓ７０４）。

バックライト点灯制御部１０７は、消灯時間が経過したタイミングで、Ｔｉｍｅｒで設定した個別点灯時間だけ、個別点灯ブロック位置情報で決定される個別点灯ブロックＢＬＫ（ｘ，ｙ）のみを点灯制御する。このとき、バックライト点灯制御部１０７は、個別点灯ブロックＢＬＫ（ｘ，ｙ）以外は消灯したままとする。それとともに、バックライト点灯制御部１０７は、輝度センサ値取得部１０８へ測定要求を通知する（Ｓ７０５）。ここ
で、例えば個別点灯時間を１００μｓとする。

輝度センサ値取得部１０８は、測定要求を受けたタイミングで、測定用センサＳ１の輝度センサ値を取得し、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）とする。また、輝度センサ値取得部１０８は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）を取得するタイミングで同時に、外光変化判定用センサＳ２の輝度センサ値を取得し、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）とする（Ｓ７０６）。

バックライト測定制御部１０３は、再測定用カウンタＲｅｐ＿ｃｎｔをカウントアップする（Ｓ７０７）。
外光変化判定部１０４は、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）と外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）との差分が判定用閾値ＴｈＤ以下か、下記判定式を用いて判定する（Ｓ７０８）。

ここで、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）は、測定対象の制御ブロックＢＬＫ（ｘ，ｙ）が個別点灯中のセンサ値である。ただし、外光変化判定用センサＳ２の位置は、測定対象の制御ブロックＢＬＫ（ｘ，ｙ）からの距離が充分に遠く、測定対象の制御ブロックＢＬＫ（ｘ，ｙ）からの光の影響をほとんど受けないように決定される。そのため、測定対象の制御ブロックＢＬＫ（ｘ，ｙ）を個別点灯させたタイミングでの外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）は、外光のみを検出した結果とみなすことができる。従って、数３で示す差分の大小に基づいて、全消灯のタイミングと測定対象の制御ブロックＢＬＫ（ｘ，ｙ）を個別点灯させたタイミングとで外光が変化したかどうか判定できる。

そして、外光変化判定部１０４は、差分が判定用閾値ＴｈＤより大きい場合（Ｓ７０８：Ｎｏ）、外光が変化したものと判定し、バックライト測定をやり直す（Ｓ７０２）。また、差分が判定用閾値ＴｈＤ以下の場合、外光が変化がしてないものと判定し、バックライト測定を終了する。全消灯のタイミングと個別点灯のタイミングとにおいて外光が変化している場合、各タイミングにおいて測定用センサにより検出される外光オフセット値及び個別点灯時センサ値に含まれる外光の影響分が異なる。そのため、数１に従って計算される補正センサ値において、外光の影響が適切に除去されないことになる。すなわち、数１によって計算される補正センサ値の信頼性は低いと判断することができる。一方、全消灯のタイミングと個別点灯のタイミングとにおいて外光が変化していない場合、各タイミングにおいて測定用センサにより検出される外光オフセット値及び個別点灯時センサ値に含まれる外光の影響分は同程度である。そのため、数１に従って計算される補正センサ値において、外光の影響が適切に除去される。すなわち、数１によって計算される補正センサ値の信頼性は高いと判断することができる。このように、本実施例では、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）と外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）との差分に基づいて、数１によって計算される補正センサ値の信頼性を判断している。そして、補正センサ値に信頼性があると判断される場合に、その補正センサ値を用いて測定対象の制御ブロックの発光量のキャリブレーションを行う。

ＬＥＤ照明下にバックライト制御装置１００を配置し、バックライト測定時に、外光が変化しないケースと、外光が変化するケースそれぞれについて、図８のタイミングチャートを適宜参照しながら、具体的に説明する。ここで、ｂｌｋ＿ｃｎｔが０、１である場合を例に説明する。それぞれの場合の個別点灯ブロック位置、測定用センサ位置、外光変化判定用センサ位置は、図６の測定ブロック順序テーブルに基づき、図９、図１０のように
設定される。

また、バックライトの測定周期（図８（ａ））における各制御ブロックのＬＥＤ点灯を図８（ｃ）から図８（ｅ）に示す。外光であるＬＥＤ照明の点灯状態を図８（ｂ）に示す。ここで、ＬＥＤ照明は、バックライトと同様にＰＷＭ制御により、周期的に点灯と消灯を繰り返すが、バックライトとは異なる周期でＰＷＭ制御されているものとする。そして、輝度センサ値の変化を図８（ｆ）と図８（ｇ）に示し、輝度センサ値の取得タイミングを図８（ｈ）に示す。ここで、輝度センサ値の変化には、各制御ブロックのＬＥＤ点灯による影響と、ＬＥＤ照明による影響が含まれる。すなわち、輝度センサ値は、点灯している制御ブロックからの光と、外光であるＬＥＤ照明からの光と、を検出した結果である。

まず、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化しないケースについて説明する。図９のように、個別点灯ブロックＢＬＫ（１，１）、測定用センサ（ｓ１、ｓ１）、外光変化判定用センサ（ｓ１、ｓ４）とする。ここで、複数の輝度センサのうち最も左上にある輝度センサから数えて横方向にｘ番目、縦方向にｙ番目にある輝度センサの位置を（ｓｙ、ｓｘ）と表す。

Ｓ７０３において、バックライト点灯制御部１０７は、バックライトを全消灯する（図８のＴ１（１，１））。
Ｓ７０４において、輝度センサ値取得部１０８は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）を取得し（図８（ｆ）のＴ１（１，１））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）を取得する（図８（ｇ）のＴ１（１，１））。

次に、Ｓ７０５において、バックライト点灯制御部１０７は、制御ブロック（１，１）のみ個別点灯制御する（図８（ｃ）のＴ２（１，１））。そして、Ｓ７０６において、輝度センサ値取得部１０８は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）を取得し（図８（ｆ）のＴ２（１，１））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）を取得する（図８（ｇ）のＴ２（１，１））。

図８の例では、全消灯時（図８（ｂ）のＴ１（１，１））と個別点灯時（図８（ｂ）のＴ２（１，１））とで、ＬＥＤ照明の点灯状態が変化していない。そのため、Ｓ７０８において、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）と外光変化判定用センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）との差分が判定用閾値以下となり、バックライト測定制御部１０３は、制御ブロック（１，１）のバックライト測定を終了する。

次に、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化するケースについて説明する。図１０のように、個別点灯ブロックＢＬＫ（１，２）、測定用センサ位置（ｓ１、ｓ１）、外光変化判定用センサ位置（ｓ１、ｓ４）とする。

Ｓ７０３において、バックライト点灯制御部１０７は、バックライトを全消灯する（図８のＴ１（１，２））。
Ｓ７０４において、輝度センサ値取得部１０８は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，２）を取得し（図８（ｆ）のＴ１（１，２））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，２）を取得する（図８（ｇ）のＴ１（１，２））。

次に、Ｓ７０５において、バックライト点灯制御部１０７は、制御ブロック（１，２）のみ個別点灯制御する（図８（ｃ）のＴ２（１，２））。そして、Ｓ７０６において、輝度センサ値取得部１０８は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，２）を取得し（図８（ｆ）のＴ２（１，２））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，２）を取得する（図８（ｇ）のＴ２（１，２））。

図８の例では、全消灯時（図８（ｂ）のＴ１（１，２））と個別点灯時（図８（ｂ）のＴ２（１，２））とで、ＬＥＤ照明の点灯状態が変化している。具体的には、全消灯時では外光であるＬＥＤ照明が消灯しており、個別点灯時ではＬＥＤ照明が点灯している。そのため、Ｓ７０８において、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，２）と外光変化判定用センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，２）との差分が判定用閾値より大きくなり、バックライト測定制御部１０３は、制御ブロック（１，２）のバックライト測定をやり直す。

以上のように本発明の実施例１では、フィードバック制御部１０１は、個別点灯時センサ値取得タイミングと外光オフセット値取得タイミングとでの外光変化を判定する。そして、変化がない場合に、その外光オフセット値を個別点灯時センサ値から減算して補正センサ値を求める。その結果、照明の輝度が時間変化する環境下においても、個別点灯時センサ値に含まれる外光の影響を適切に除去することができ、精度良くフィードバック制御することができる。
本実施例において、ＬＥＤ２０１は、白色ＬＥＤのみから構成されていても良いし、複数色のＬＥＤを組み合わせて構成されていても良い。

本実施例において、バックライト制御装置１００に本発明を適用した例を説明したが、本実施例のバックライト装置を備える画像表示装置に本発明を適用しても良い。その場合、バックライトの点灯制御を画像表示装置の垂直同期信号と同期させても良い。

本実施例において、測定ブロック順序テーブルに基づき、測定対象ブロック毎に予め決められた輝度センサを外光変化判定用センサとして用いる例を説明した。しかし、測定対象ブロックの個別点灯時に全ての輝度センサ値を取得し、輝度センサ値が最も低い輝度センサを外光変化判定用センサとして用いても良い。これにより、外光変化判定用センサ値における測定対象ブロックの発光の影響を小さくすることができる。また、測定対象ブロックから最も遠い位置にある輝度センサを外光変化判定用センサとして用いるようにしても良い。

本実施例において、全消灯時のバックライト測定と、測定対象ブロックを個別点灯した時のバックライト測定と、を１００μｓという比較的短い時間の消灯及び点灯により実施したが、消灯時間及び点灯時間はこの例に限らず、より長い時間としても良い。
本実施例において、全消灯時のバックライト測定と、測定対象ブロックを個別点灯した時のバックライト測定と、を１周期内で実施したが、複数の点灯周期をまたいで実施しても良い。
本実施例において、各制御ブロックのＰＷＭ制御における点灯開始タイミングが同じであるが、制御ブロック毎にＰＷＭ制御における点灯開始タイミングをずらしても良い。

（実施例２）
本発明の実施例２について、説明する。図１１は、本発明を適用したバックライト制御装置１００の構成例を示すブロック図である。以下、実施例２にかかる説明は、主に実施例１との相違点について説明する。
フィードバック制御部１０１は、測定位置決定部１０２、バックライト測定制御部１０３、輝度センサ値補正部１０５、点灯制御値算出部１０６、及び、輝度センサ値記憶部１１０１を備える。

輝度センサ値記憶部１１０１は、取得した外光オフセット値が記憶用閾値（第３の閾値）より大きい場合、外光オフセット値と、外光変化判定用センサ値Ｔ１を記憶する。ここで、記憶用閾値とは、少量の外光が入る環境で取得した外光オフセット値であり、工場出荷時に決定する。記憶用閾値は、バックライトを全消灯させた状態における輝度測定時の
外光の有無を判定できるように決定される。例えば、バックライトを全消灯させた状態において外光が無い状態で測定用センサにより取得される外光オフセット値である。或いは、バックライトを全消灯させた状態において外光の時間変化に対して十分長い期間にわたって測定用センサにより連続的に測定を行って得られた測定値のうち最も小さい測定値に基づいて決定される。外光の時間変化に対して十分長い期間とは、外光がＰＷＭ制御されるＬＥＤ照明の場合、ＰＷＭ周期に対して十分長い時間である。

輝度センサ値補正部１０５は、外光オフセット値、外光変化判定用センサ値Ｔ１と、外光変化判定用センサ値Ｔ２に基づき、個別点灯時センサ値を補正した補正センサ値を算出し、点灯制御値算出部１０６へ補正センサ値を設定する。

次に輝度センサ値補正の詳細動作内容について、図１２に示すフローチャートを用いて説明する。
輝度センサ値補正部１０５は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）が記憶用閾値以下かどうか判定する（Ｓ１２０１）。外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）が記憶用閾値より大きい場合（Ｓ１２０１：Ｎｏ）、輝度センサ値補正部１０５は、下記演算式より、補正センサ値Ｓｃｏｒｒ（ｘ、ｙ）を算出する（Ｓ１２０３）。

ここで、ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）は個別点灯時センサ値、ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）は外光オフセット値、ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）とＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）は外光変化判定用センサ値である。

上記演算式により、２つの外光変化判定用センサ値から、タイミングＴ１とＴ２での外光変化割合を考慮し、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）から、タイミングＴ２での外光オフセット値相当の値を減算して補正センサ値を求めることができる。

外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）が記憶用閾値以下の場合、輝度センサ値補正部１０５は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）を外光オフセット記憶値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）’で上書きする。外光オフセット記憶値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）’は、過去の測定において外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）が記憶用閾値より大きかった場合に記憶装置に記憶された外光オフセット値（第１のセンサ記憶値）である。更に、輝度センサ値補正部１０５は、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）を外光変化判定用センサ記憶値ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）’で上書きする（Ｓ１２０２）。外光変化判定用センサ記憶値ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）’は、過去の測定において外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）が記憶用閾値より大きかった場合に記憶装置に記憶された外光変化判定用センサ値（第１の判定記憶値）である。そして、輝度センサ値補正部１０５は、今回の測定における外光オフセット値及び外光変化判定用センサ値をそれぞれの対応する記憶値によって上書きし、その外光オフセット値Ｓ及び外光変化判定用センサ値を用いて補正センサ値を算出する（Ｓ１２０３）。

次にバックライト測定の詳細動作内容について、図１３に示すフローチャートを用いて説明する。Ｓ７０３〜Ｓ７０６は実施例１で説明した通りである。
Ｓ７０６の処理の後、輝度センサ値記憶部１１０１は、取得した外光オフセット値が記憶用閾値より大きいか判定し、（Ｓ１３０１）、記憶用閾値以下の場合（Ｓ１３０１：Ｎｏ）、バックライト測定の処理は終了する。外光オフセット値が記憶用閾値より大きいの
場合（Ｓ１３０１：Ｙｅｓ）、輝度センサ値記憶部１１０１は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）と、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）を記憶する（Ｓ１３０２）。これは、次回以降の測定時において外光オフセット値が記憶用閾値以下の場合に使用するためである

ＬＥＤ照明下にバックライト制御装置１００を配置し、バックライト測定時に、外光が変化しないケースと、外光が変化するケースそれぞれについて、図１４のタイミングチャートを適宜参照しながら、具体的に説明する。ここで、ｂｌｋ＿ｃｎｔが０である場合を例に説明する。この場合の個別点灯ブロック位置、測定用センサ位置、外光変化判定用センサ位置は、図６の測定ブロック順序テーブルに基づき、図９のように設定される。

まず、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化しないケースについて説明する。図９のように、個別点灯ブロックＢＬＫ（１，１）、測定用センサ（ｓ１、ｓ１）、外光変化判定用センサ（ｓ１、ｓ４）とする。
Ｓ７０３において、バックライト点灯制御部１０７は、バックライトを全消灯する（図１４のＴ１（１，１）’）。

Ｓ７０４において、輝度センサ値取得部１０８は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’を取得し（図１４（ｆ）のＴ１（１，１）’）、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）’を取得する（図１４（ｇ）Ｔ１（１，１）’）。

次に、Ｓ７０５において、バックライト点灯制御部１０７は、制御ブロック（１，１）のみ個別点灯制御する（図１４（ｃ）のＴ２（１，１）’）。そして、Ｓ７０６において、輝度センサ値取得部１０８は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）’を取得し（図１４（ｆ）のＴ２（１，１）’）、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）’を取得する（図１４（ｇ）のＴ２（１，１）’）。

図１４の例では、全消灯時（図１４（ｂ）のＴ１（１，１）’）の外光のＬＥＤ照明が点灯状態である。そのため、Ｓ１３０１において、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’の値が記憶用閾値より大きくなる。従って、輝度センサ値記憶部１１０１は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’と外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）’を記憶し（Ｓ１３０２）、バックライト測定が終了する。そして、輝度センサ値補正部１０５は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’と外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）’を用いて補正センサ値Ｓｃｏｒｒ（１，１）を算出する。

次に、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化するケースについて説明する。前述した外光が変化しないケースに続けて、次のフィードバック制御周期で本ケースについてのバックライト測定を実施するものとする。

Ｓ７０３において、バックライト点灯制御部１０７は、バックライトを全消灯する（図１４のＴ１（１，１））。
Ｓ７０４において、輝度センサ値取得部１０８は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）を取得し（図１４（ｆ）のＴ１（１，１））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）を取得する（図１４（ｇ）のＴ１（１，１））。

次に、Ｓ７０５において、バックライト点灯制御部１０７は、制御ブロック（１，１）のみ個別点灯制御する（図１４（ｃ）のＴ２（１，１））。そして、Ｓ７０６において、輝度センサ値取得部１０８は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）を取得し（図１４（ｆ）のＴ２（１，１））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）を取得する（図１４（ｇ）のＴ２（１，１））。

図１４の例では、全消灯時（図１４（ｂ）のＴ１（１，１））の外光のＬＥＤ照明が消灯状態である。そのため、Ｓ１３０１において、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）の値が記憶用閾値以下となるため、バックライト測定の処理は終了する。そして、輝度センサ値補正部１０５は、前述の外光が変化しないケースで記憶した外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’と外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）’を用いて補正センサ値Ｓｃｏｒｒ（１，１）を算出する。

実施例２では、ＰＷＭ制御されるＬＥＤ照明のようにタイミングによって外光が消灯する場合がある環境において、全消灯時の測定タイミングで外光が消灯していた場合には、そのタイミングで測定された外光オフセット値を輝度センサ値の補正に使わない。そして、過去の測定時に記憶している、全消灯時の測定タイミングで外光が点灯していた場合の外光オフセット値を用いて輝度センサ値の補正を行う。そのため、フィードバック制御部１０１は、個別点灯時センサ値取得タイミングと外光オフセット値取得タイミングとで外光に変化があっても、個別点灯時センサ値から外光の影響を適切に除去できる。そのため、輝度が時間変化する照明環境下でも精度良くフィードバック制御することができる。
本実施例において、記憶用閾値として工場出荷時に決定した値を用いる例を説明したが、工場出荷後に、外光変化を連続的に監視し、監視結果に基づき記憶用閾値を更新するようにしても良い。

（実施例３）
本発明の実施例３について、説明する。以下、実施例３にかかる説明は、主に実施例２との相違点について説明する。
輝度センサ値補正部１０５は、外光オフセット値、外光変化判定用センサ値Ｔ１、外光変化判定用センサ値Ｔ２、及び後述する個別点灯時輝度センサ影響比率に基づき、個別点灯時センサ値を補正し、点灯制御値算出部１０６へ補正センサ値を設定する。ここで、個別点灯時輝度センサ影響比率とは、測定対象の制御ブロックを個別点灯した際、測定用センサで取得される輝度センサ値を１とした場合の、外光変化判定用センサで取得される輝度センサ値の相対比率である。本実施例では、個別点灯時輝度センサ影響比率を、ＬＥＤ点灯による外光変化判定用センサ値Ｔ２への影響を除去するために用いる。本実施例では、個別点灯時輝度センサ影響比率は、制御ブロック毎に予め定められ、測定ブロック順序テーブルとして記憶されている。図１６に本実施例における測定ブロック順序テーブルの一例を示す。

次に輝度センサ値補正の詳細動作内容について、図１５に示すフローチャートを用いて説明する。
輝度センサ値補正部１０５は、現在設定されるｂｌｋ＿ｃｎｔに基づき、図１６の測定ブロック順序テーブルから測定対象ブロックに対応する個別点灯時輝度センサ影響比率を求める（Ｓ１５０１）。
輝度センサ値補正部１０５は、下記演算式より、補正センサ値Ｓｃｏｒｒ（ｘ、ｙ）を算出する（Ｓ１５０２）。

ここで、ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）は個別点灯時センサ値、ＳｏｆｆＴ１（ｘ，ｙ）は外光オフセット値、ＳｊｄｇＴ１（ｘ，ｙ）とＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）は外光変化判定用センサ値、Ｒｔｇｔ（ｘ，ｙ）は個別点灯時輝度センサ影響比率である。

上記演算式により、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）から、測定対象ブロックからの光の影響を除去する補正をすることができる。そして、この補正後の外光変化判定用センサ値Ｔ２に基づいて、タイミングＴ２における測定用センサによる個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）に含まれる外光の影響を減算するので、精度良く輝度センサ値の補正をすることができる。

ＬＥＤ照明下にバックライト制御装置１００を配置し、バックライト測定時に、外光が変化しないケースと、外光が変化するケースそれぞれについて、図１７のタイミングチャートを適宜参照しながら、具体的に説明する。ここで、ｂｌｋ＿ｃｎｔが０である場合を例に説明する。この場合の個別点灯ブロック位置、測定用センサ位置、外光変化判定用センサ位置は、図１６の測定ブロック順序テーブルに基づき設定される。

まず、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化しないケースについて説明する。図９のように、個別点灯ブロックＢＬＫ（１，１）、測定用センサ（ｓ１、ｓ１）、外光変化判定用センサ（ｓ１、ｓ４）とする。

Ｓ７０３において、バックライト点灯制御部１０７は、バックライトを全消灯する（図１７のＴ１（１，１）’）。
Ｓ７０４において、輝度センサ値取得部１０８は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’を取得し（図１７（ｆ）のＴ１（１，１）’）、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）’を取得する（図１７（ｇ）のＴ１（１，１）’）。

次に、Ｓ７０５において、バックライト点灯制御部１０７は、制御ブロック（１，１）のみ個別点灯制御する（図１７（ｃ）のＴ２（１，１）’）。そして、Ｓ７０６において、輝度センサ値取得部１０８は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）’を取得し（図１７（ｆ）のＴ２（１，１）’）、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）’を取得する（図１７（ｇ）のＴ２（１，１）’）。

図１７の例では、全消灯時（図１７（ｂ）のＴ１（１，１）’）の外光のＬＥＤ照明が点灯状態である。そのため、Ｓ１３０１において、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’の値が記憶用閾値より大きくなる。従って、輝度センサ値記憶部１１０１は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）’と外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）’を記憶し（Ｓ１３０２）、バックライト測定が終了する。

そして、輝度センサ値補正部１０５は、輝度センサ値を補正する（Ｓ１５０２）。その際、輝度センサ値補正部１０５は、取得した外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）’に含まれる制御ブロック（１，１）のＬＥＤ点灯（図１７（ｃ））の影響を除去する処理を行う。すなわち、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）’と個別点灯時輝度センサ影響比率Ｒｔｇｔ（１，１）とを乗算した値を、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）’から減算する。そうすることで、下記条件が成り立つ。

従って、数５に代入すると、下記式のように実施例１の数１と同様の計算になる。

よって、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化しない場合において、個別点灯時センサ値から外光の影響をより精度良く除去することができる。

次に、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化するケースについて説明する。前述した外光が変化しないケースに続けて、次のフィードバック制御周期で本ケースについてのバックライト測定を実施するものとする。

Ｓ７０３において、バックライト点灯制御部１０７は、バックライトを全消灯する（図１７のＴ１（１，１））。
Ｓ７０４において、輝度センサ値取得部１０８は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）を取得し（図１７（ｆ）のＴ１（１，１））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）を取得する（図１７（ｇ）のＴ１（１，１））。

次に、Ｓ７０５において、バックライト点灯制御部１０７は、制御ブロック（１，１）のみ個別点灯制御する（図１７（ｃ）のＴ２（１，１））。そして、Ｓ７０６において、輝度センサ値取得部１０８は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）を取得し（図１７（ｆ）のＴ２（１，１））、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）を取得する（図１７（ｇ）のＴ２（１，１））。

図１７の例では、全消灯時（図１７（ｂ）のＴ１（１，１））の外光のＬＥＤ照明が点灯状態である。そのため、Ｓ１３０１において、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）の値が閾値より大きくなる。従って、輝度センサ値記憶部１１０１は、外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（１，１）と 外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ１（１，１）を記憶し
（Ｓ１３０２）、バックライト測定が終了する。

そして、輝度センサ値補正部１０５は、輝度センサ値を補正する（Ｓ１５０２）。その際、輝度センサ値補正部１０５は、取得した外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）に含まれる制御ブロック（１，１）のＬＥＤ点灯（図１７（ｃ））の影響を除去する処理を行う。すなわち、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（１，１）と個別点灯時輝度センサ影響比率Ｒｔｇｔ（１，１）とを乗算した値を、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（１，１）から減算する。そうすることで、下記条件が成り立つ。

従って、数５に代入すると、下記式のような計算となる。

よって、全消灯時と測定対象ブロックの個別点灯時とで外光が変化する場合において、個別点灯時センサ値に外光が消灯する場合においても、精度良く個別点灯時の輝度を測定することができる。

実施例３では、フィードバック制御部１０１は、個別点灯時に外光変化判定用センサ値に含まれる個別点灯ブロックからの光の影響を除去する。そして、除去した後の外光変化判定用センサ値を用いて個別点灯時センサ値から外光オフセット値を減算する。そのため、輝度が時間変化する照明環境下であっても精度良くフィードバック制御することができる。

本実施例において、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）に基づき、外光変化判定用センサ値ＳｊｄｇＴ２（ｘ，ｙ）に含まれる、個別点灯ブロックからの光の影響を除去している。しかし、外光が連続している場合は、個別点灯時センサ値ＳｔｇｔＴ２（ｘ，ｙ）から外光オフセット値ＳｏｆｆＴ１（ｘ、ｙ）を減算した値に対し、個別点灯時輝度センサ影響比率Ｒｔｇｔ（ｘ，ｙ）を乗算した値を除去しても良い。

本実施例において、測定ブロック順序テーブルに基づき、測定対象ブロック毎に予め決められた輝度センサを外光変化判定用センサとして用いる例を説明した。しかし、バックライト全消灯時に全ての輝度センサから輝度センサ値を取得し、輝度センサ値が測定用センサによる輝度センサ値と最も近い輝度センサを外光変化判定用センサとして用いても良い。これにより、測定用センサと外光変化判定用センサとで入射する外光条件を近くすることができるので、より精度良く外光の影響を測定用センサによる輝度センサ値から除去することができる。

（その他の実施形態）
記憶装置に記録されたプログラムを読み込み実行することで前述した実施形態の機能を実現するシステムや装置のコンピュータ（又はＣＰＵ、ＭＰＵ等のデバイス）によっても、本発明を実施することができる。また、例えば、記憶装置に記録されたプログラムを読み込み実行することで前述した実施形態の機能を実現するシステムや装置のコンピュータによって実行されるステップからなる方法によっても、本発明を実施することができる。この目的のために、上記プログラムは、例えば、ネットワークを通じて、又は、上記記憶装置となり得る様々なタイプの記録媒体（つまり、非一時的にデータを保持するコンピュータ読取可能な記録媒体）から、上記コンピュータに提供される。したがって、上記コンピュータ（ＣＰＵ、ＭＰＵ等のデバイスを含む）、上記方法、上記プログラム（プログラムコード、プログラムプロダクトを含む）、上記プログラムを非一時的に保持するコンピュータ読取可能な記録媒体は、いずれも本発明の範疇に含まれる。

１００ バックライト制御装置、１０４ 外光変化判定部、１０５ 輝度センサ値補正部、１０８ 輝度センサ値取得部、２００ バックライト、２０１ ＬＥＤ、２０２ 輝度センサ

Claims (22)

1. 複数の光源と、
   複数の輝度センサと、
   前記輝度センサによる検出値に基づいて光源ごとに輝度を測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定される輝度に基づいて光源ごとに発光量のキャリブレーションを行うキャリブレーション手段と、
   を備え、
   前記測定手段は、前記複数の輝度センサのうち測定対象の光源に対応する第１の輝度センサによる検出値に基づいて測定対象の光源の輝度を測定し、
   前記キャリブレーション手段は、前記複数の輝度センサのうち前記第１の輝度センサとは別の第２の輝度センサによる検出値に基づいて、前記測定手段により測定される測定対象の光源の輝度に基づくキャリブレーションを行うか否かを決定することを特徴とする光源制御装置。
2. 前記キャリブレーション手段は、前記第２の輝度センサによる検出値に基づいて、前記測定手段により測定される測定対象の光源の輝度の信頼性を判定し、信頼性があると判定された場合に当該輝度に基づくキャリブレーションを行うことを特徴とする請求項１に記載の光源制御装置。
3. 前記キャリブレーション手段は、
   全ての光源を消灯させた状態における前記第２の輝度センサによる検出値と、測定対象の光源のみを点灯させた状態における前記第２の輝度センサによる検出値と、の差分が閾値以下である場合に、前記測定手段により測定される輝度に信頼性があると判定する請求項２に記載の光源制御装置。
4. 前記第１の輝度センサは、測定対象の光源に最も近い位置にある輝度センサである請求項１〜３のいずれか１項に記載の光源制御装置。
5. 前記第２の輝度センサは、測定対象の光源から入射する光量が第２の閾値より少ない輝度センサのうちのいずれかの輝度センサである請求項１〜４のいずれか１項に記載の光源
   制御装置。
6. 前記第２の輝度センサは、前記複数の輝度センサのうち、測定対象の光源から入射する光が最も少ない輝度センサである請求項１〜４のいずれか１項に記載の光源制御装置。
7. 前記第２の輝度センサは、前記複数の輝度センサのうち、測定対象の光源から最も距離が離れた位置にある輝度センサである請求項１〜４のいずれか１項に記載の光源制御装置。
8. 前記第２の輝度センサは、前記複数の輝度センサのうち、測定対象の光源を消灯させた状態における検出値が当該状態における前記第１の輝度センサによる検出値に最も近い値となる輝度センサである請求項１〜４のいずれか１項に記載の光源制御装置。
9. 前記測定手段は、全ての光源を消灯させた状態における前記第１の輝度センサによる検出値である第１のセンサ値と、測定対象の光源のみを点灯させた状態における前記第１の輝度センサによる検出値である第２のセンサ値と、に基づき、
   
   測定対象の光源の輝度＝第２のセンサ値−第１のセンサ値
   
   により測定対象の光源の輝度を算出する請求項１〜８のいずれか１項に記載の光源制御装置。
10. 前記測定手段は、全ての光源を消灯させた状態における前記第１の輝度センサによる検出値である第１のセンサ値と、測定対象の光源のみを点灯させた状態における前記第１の輝度センサによる検出値である第２のセンサ値と、全ての光源を消灯させた状態における前記第２の輝度センサによる検出値である第１の判定値と、測定対象の光源のみを点灯させた状態における前記第２の輝度センサによる検出値である第２の判定値と、に基づき、
    
    測定対象の光源の輝度＝第２のセンサ値−第１のセンサ値×第２の判定値／第１の判定値
    
    により測定対象の光源の輝度を算出する請求項１〜８のいずれか１項に記載の光源制御装置。
11. 全ての光源を消灯させた状態における前記第１の輝度センサによる検出値である第１のセンサ値が第３の閾値より大きい場合に、当該第１のセンサ値を第１のセンサ記憶値として記憶するとともに、当該全ての光源を消灯させた状態における前記第２の輝度センサによる検出値である第１の判定値を第１の判定記憶値として記憶する記憶手段を更に備え、
    前記測定手段は、全ての光源を消灯させた状態における第１のセンサ値が第３の閾値以下の場合、前記記憶手段に記憶されている過去の測定における第１のセンサ記憶値及び第１の判定記憶値と、今回の測定において測定対象の光源のみを点灯させた状態における前記第１の輝度センサによる測定値である第２のセンサ値と、今回の測定において測定対象の光源のみを点灯させた状態における前記第２の輝度センサによる測定値である第２の判定値と、に基づき、
    
    測定対象の光源の輝度＝第２のセンサ値−第１のセンサ記憶値×第２の判定値／第１の判定記憶値
    
    により測定対象の光源の輝度を算出する請求項１〜８のいずれか１項に記載の光源制御装置。
12. 前記第３の閾値は、前記第１のセンサ値が検出された時の外光の有無を判定できるように決定される請求項１１に記載の光源制御装置。
13. 前記第３の閾値は、全ての光源が消灯し、かつ外光が無い状態で取得される前記第１の輝度センサによる検出値に基づいて決定される請求項１１に記載の光源制御装置。
14. 前記第３の閾値は、全ての光源を消灯させた状態において、外光の時間変化に対して十分長い期間にわたって前記第１の輝度センサにより連続的に測定を行って得られた検出値のうち最も小さい検出値に基づいて決定される請求項１１に記載の光源制御装置。
15. 前記測定手段は、前記第２の判定値から、点灯している測定対象の光源からの光による分を差し引くことにより、第２の判定値を補正し、補正後の第２の判定値を用いて測定対象の光源の輝度を算出する請求項１０〜１４のいずれか１項に記載の光源制御装置。
16. 前記測定手段は、測定対象の光源のみが点灯している状態における前記第１の輝度センサによる検出値と前記第２の輝度センサによる検出値との比率に基づき、
    
    補正後の第２の判定値＝第２の判定値−第２のセンサ値×比率
    
    により第２の判定値を補正する請求項１５に記載の光源制御装置。
17. 前記比率は、外光が無くかつ測定対象の光源のみが点灯している状態における前記第１の輝度センサによる検出値と前記第２の輝度センサによる検出値との比率である請求項１６に記載の光源制御装置。
18. 請求項１〜１７のいずれか１項に記載の光源制御装置を備えるバックライト装置。
19. 請求項１８のバックライト装置と、前記バックライト装置からの光を画像信号に応じて変調する表示パネルと、を備える画像表示装置。
20. 複数の光源と、複数の輝度センサと、を備える光源制御装置の制御方法であって、
    前記輝度センサによる検出値に基づいて光源ごとに輝度を測定する測定工程と、
    前記測定工程により測定される輝度に基づいて光源ごとに発光量のキャリブレーションを行うキャリブレーション工程と、
    を有し、
    前記測定工程では、前記複数の輝度センサのうち測定対象の光源に対応する第１の輝度センサによる検出値に基づいて、測定対象の光源の輝度を測定し、
    前記キャリブレーション工程では、前記複数の輝度センサのうち前記第１の輝度センサとは別の第２の輝度センサによる検出値に基づいて前記測定工程により測定される測定対象の光源の輝度に基づくキャリブレーションを行うか否かを決定することを特徴とする光源制御装置の制御方法。
21. コンピュータを、請求項１〜１７のいずれか１項に記載の光源制御装置の各手段として機能させるためのプログラム。
22. 請求項２１に記載のプログラムが記録された記録媒体。

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