JP2014134764A - 表示装置及びその制御方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】バックライトセンサの検出値に対する外光の影響を精度良く低減することができ、バックライトからの光を精度良く検出することができる技術を提供する。
【解決手段】本発明の表示装置は、バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、を有する表示装置であって、前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とに基づいて、前記バックライトの発光量を制御する制御手段と、を有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、表示装置及びその制御方法に関する。
従来、バックライトの温度変化や長期使用によるバックライトの経時劣化を含む環境変化によって、バックライトの輝度が変化するという問題がある。そのため、バックライトの輝度の変化やムラを低減することを目的として、表示装置内に配置された光センサ(バックライトセンサ)の検出値が一定になるようバックライトの発光量をフィードバック制御する技術が提案されている。
バックライトセンサは、バックライトからの光を検出するためのセンサである。しかし、実際には、バックライトセンサでは、バックライトからの光と、他の光(例えば、表示パネルを介して表示装置の内部に透過した外光)との合成光が検出される。バックライトからの光に比べ外光が十分に少ない場合には、バックライトセンサの検出値に対する外光の影響を無視しても問題はない。しかしながら、そうでない場合には、バックライトセンサの検出値に対する外光の影響により、バックライトの発光量を精度良くフィードバック制御することができない。
近年、光利用効率(バックライトからの光の利用効率)の高い表示パネルが普及し始めている。例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)シャッターパネルの光利用効率は、60〜80%程度と高い。
一般的な液晶パネルの光利用効率は、2〜3%程度と低い。ここで、光利用効率は、表示パネル(表示パネルが有する表示素子)の開口率が最大値であるときの、バックライトからの光に対する、表示パネルから発せられる光(表示パネルを透過した後のバックライトの光)の割合である。
MEMS表示装置(MEMSシャッターパネルを有する表示装置)では、表示パネルから発せられる光の光量を液晶表示装置(液晶パネルを有する表示装置)と一致させる場合に、バックライトの発光量は液晶表示装置の20分の1〜40分の1程度と低くなる。また、表示パネルを透過した後の外光の光量は液晶表示装置の25倍〜50倍程度と大きくなる。
そのため、MEMS表示装置では、液晶表示装置に比べ、バックライトからの光に対する外光の割合が大きくなる。その結果、バックライトからの光を精度良く検出することができず、バックライトの発光量を精度良くフィードバック制御することができない。
このように、光利用効率の高い表示パネルを有する表示装置では、バックライトからの光を精度良く検出することができず、バックライトの発光量を精度良くフィードバック制御することができない。
特許文献1では、表示装置の外光を精度良く検出するための方法が提案されている。具体的には、特許文献1に開示の表示装置では、TFT(Thin Film Transistor)上に外光センサ(外光を検出するためのセンサ)が配置されている。そして、バックライトの輝度に応じて、外光センサの検出値に対する迷光(バックライトから発せられ外光センサに入力される光など)の影響量が算出され、影響量に基づいて外光センサの検出値が補正される。
特許文献1に開示の技術を応用して、外光センサの検出値に応じて、バックライトセンサの検出値に対する外光の影響量を算出し、影響量に基づいてバックライトセンサの検出値を補正する構成が考えられる。
しかしながら、表示パネルの透過率(外光やバックライトからの光が表示パネルを透過
する際の透過率)が入力画像信号に依存するため、影響量も入力画像信号に依存してしまう。そのため、特許文献1に開示の技術を用いたとしても影響量を精度良く算出することができず、バックライトセンサの検出値を精度良く補正することができない。
特開2009−139784号公報
本発明は、バックライトセンサの検出値に対する外光の影響を精度良く低減することができ、バックライトからの光を精度良く検出することができる技術を提供することを目的とする。
本発明の第1の態様は、
バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、を有する表示装置であって、
前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、
前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、
前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とに基づいて、前記バックライトの発光量を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする表示装置である。
本発明の第2の態様は、
バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、を有する表示装置であって、
前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、
前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、
前記外光センサの検出値に基づいて、前記バックライトセンサの検出値を補正する補正手段と、
を有することを特徴とする表示装置である。
本発明の第3の態様は、
バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、を有する表示装置の制御方法であって、
前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とを取得する取得ステップと、
前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とに基づいて、前記バックライトの発光量を制御する制御ステップと、
を有することを特徴とする表示装置の制御方法である。
本発明の第4の態様は、
バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、を有する表示装置の制御方法であって、
前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とを取得する取得ステップと、
前記外光センサの検出値に基づいて、前記バックライトセンサの検出値を補正する補正ステップと、
を有することを特徴とする表示装置の制御方法である。
本発明によれば、バックライトセンサの検出値に対する外光の影響を精度良く低減することができ、バックライトからの光を精度良く検出することができる。
実施例1に係る表示装置の構成の一例を示す概略図 実施例1に係る表示制御部の構成を示すブロック図 表示制御部の動作の一例を示すフローチャート 実施例1に係るバックライト制御値補正処理を示すフローチャート バックライト検出値補正処理の一例を示すフローチャート 画素外光透過率テーブルの一例を示す図 影響量テーブルの一例を示す図 実施例2に係る表示制御部の構成を示すブロック図 実施例2に係るバックライト制御値補正処理を示すフローチャート バックライト反射光比率テーブルの一例を示す図
(実施例1)
以下、本発明の実施例1について説明する。
図1(A)は、本実施例に係る表示装置の構成の一例を示す概略図である。
表示装置100は、表示制御部101、MEMSシャッターパネル102、バックライト103、外光センサ104、バックライトセンサ105などを有する。
入力信号源50は、画像信号を出力する装置である。入力信号源50は、例えば、画像信号(画像データ)を記憶する記憶装置である。なお、入力信号源50は、表示装置100に設けられた記憶装置(画像信号を記憶する記憶装置)であってもよい。
バックライト103は、MEMSシャッターパネル102の背面に光を照射する光源装置である。バックライト103の光源としては、LED(Light Emitting
Diode)、有機EL(Electro−Luminescence)素子、冷陰極管などを用いることができる。
MEMSシャッターパネル102は、バックライトからの光を入力画像信号(表示装置に入力された画像信号)に基づく透過率で透過して画像を表示する表示パネルである。具体的には、MEMSシャッターパネル102は、画素毎にMEMSシャッターを有する。そして、入力画像信号に基づいてMEMSシャッターの開口率が制御される。ここで、開口率は、1フレーム時間に対する開口時間(1フレームあたりの開口時間)の割合である。
なお、表示パネルはMEMSシャッターパネルに限らない。表示パネルは、バックライトからの光を透過して画像を表示する表示パネルであればよい。例えば、表示パネルは、複数の液晶素子を有する液晶パネルであってもよい。そして、入力画像信号に基づいて液晶素子の開口率が制御されてもよい。
外光センサ104は、表示装置100の外光を検出するためのセンサである。外光センサ104の検出面は、表示装置100の表面(MEMSシャッターパネル102の外側)に配置されている。例えば、外光センサ104は照度センサであり、外光センサ104の検出値(外光検出値)は照度である。
バックライトセンサ105は、バックライト103からの光を検出するためのセンサで
ある。バックライトセンサ105の検出面は、表示装置100の内部(例えば、バックライト103の筐体の内部)に配置されている。例えば、バックライトセンサ105は輝度センサであり、バックライトセンサ105の検出値(バックライト検出値)は輝度である。
なお、例えば、図1(B)に示すように、バックライト103に複数のバックライトセンサ105が配置されていてもよい。
表示制御部101には、入力信号源50から画像信号(入力画像信号)が入力される。そして、表示制御部101は、MEMSシャッターパネル102が有する各MEMSシャッターの開口率を入力画像信号に基づいて制御する。
また、表示制御部101には、外光検出値とバックライト検出値が入力される。そして、表示制御部101は、入力画像信号と外光検出値に基づいてバックライト検出値を補正し、補正後のバックライト検出値に基づいてバックライト103の発光量を制御する。例えば、表示制御部101は、バックライト103の輝度の変化やムラが低減されるように、バックライト103の発光量を制御する。
なお、表示制御部101は、バックライト103の輝度が入力画像信号に基づく輝度となるように、入力画像信号に基づいてバックライト103の発光量を制御してもよい。
図2は、表示制御部101の構成の一例を示すブロック図である。
表示制御部101は、CPU200、画像入力部201、画像処理部202、シャッター制御部203、表示時間計測部204、バックライト制御値補正指示部205、外光検出値取得部206、外光透過率決定部207、透過外光値決定部208、バックライト検出値取得部209、バックライト検出値補正部210、バックライト制御部211などを有する。
CPU200には、不図示のROMとRAMが接続されている。CPU200は、ROMに格納されたプログラムに従い、表示制御部101全体の動作を制御する。CPU200は、RAMをワークメモリとして用いる。また、CPU200は、不図示のTimerを有する。そして、CPU200は、Timerを用いて時間管理を行う。
画像入力部201は、入力信号源50から入力された画像信号(入力画像信号)をデコードすることにより、画像データを生成する。画像入力部201は、生成した画像データを画像処理部202へ出力する。
画像処理部202は、画像入力部201から入力された画像データに、高画質化処理等の画像処理を施す。画像処理部202は、画像処理後の画像データをシャッター制御部203へ出力する。
シャッター制御部203は、画像処理部202から入力された画像データをシャッター制御情報に変換する。シャッター制御部203は、MEMSシャッターパネル102と外光透過率決定部207へシャッター制御情報を出力する。また、シャッター制御部203は、外光検出値取得部206、バックライト検出値取得部209、及び、バックライト制御部211へ画像データ(入力画像信号)の垂直同期信号を出力する。シャッター制御情報は、各MEMSシャッター(各画素)の開口率である。
MEMSシャッターパネル102は、シャッター制御部203から入力されたシャッター制御情報に従って、各MEMSシャッターを駆動する。
表示時間計測部204は、CPU200が有するTimerを用いて、MEMSシャッターパネル102による画像の表示が開始されてからの時間(表示時間)を計測する。例えば、表示時間計測部204は、MEMSシャッターパネル102による画像の表示が開
始された時刻を0として、当該時刻から現時刻までの経過時間を計測する。
そして、表示時間計測部204は、表示時間の計測中に、計測値(画像の表示が開始された時刻から現時刻までの経過時間)をバックライト制御値補正指示部205へ出力する。
バックライト制御値補正指示部205は、表示時間計測部204で計測された表示時間が所定の閾値に達すると、外光検出値取得部206へ外光検出値取得指示を出力し、バックライト検出値取得部209にバックライト検出値取得指示を出力する。そして、バックライト制御値補正指示部205は、外光透過率決定部207にバックライト制御値補正指示を出力する。上記所定の閾値は、例えば、画像の表示が開始されてからバックライトの温度が安定するまでの時間であり、予めROMに格納されている。バックライト制御値は、バックライトの発光量を表す値である。
外光検出値取得部206は、バックライト制御値補正指示部205からの外光検出値取得指示の入力に応じて、入力画像信号の垂直同期信号のタイミングで外光センサ104から外光検出値を取得する。そして、外光検出値取得部206は、外光検出値を透過外光値決定部208へ出力する。
外光透過率決定部207は、入力画像信号に基づいて外光透過率を決定する。本実施例では、外光透過率決定部207は、シャッター制御情報から外光透過率を決定する。また、外光透過率を決定する処理は、バックライト制御値補正指示部205からのバックライト制御値補正指示に応じて行われる。そして、外光透過率決定部207は、外光透過率を透過外光値決定部208へ出力する。外光透過率は、外光が表示パネルを透過する際の透過率である。本実施例では、外光透過率は、各MEMSシャッターの開口率から求められる。
透過外光値決定部208は、入力画像信号と外光検出値に基づいて透過外光値を決定する。本実施例では、透過外光値決定部208は、外光検出値と外光透過率が入力されると、それらの情報に基づいて透過外光値を決定し、透過外光値をバックライト検出値補正部210へ出力する。外光は、表示パネルを介して表示装置の内部に透過する。透過外光値は、表示装置の内部への透過後の外光の値である。本実施例では、透過外光値は、外光透過率に外光検出値を乗算することにより得られる値である。
バックライト検出値取得部209は、バックライト制御値補正指示部205からのバックライト検出値取得指示の入力に応じて、入力画像信号の垂直同期信号のタイミングでバックライトセンサ105からバックライト検出値を取得する。そして、バックライト検出値取得部209は、バックライト検出値をバックライト検出値補正部210へ出力する。
バックライト検出値補正部210は、表示パネルを介して表示装置の内部に透過する外光によるバックライトセンサの検出値の変化が低減するように、入力画像信号と外光検出値とに基づいて、バックライトセンサ検出値を補正する。本実施例では、バックライト検出値補正部210は、透過外光値決定部208から入力された透過外光値に基づいて、バックライト検出値取得部209から入力されたバックライト検出値を補正する。そして、バックライト検出値補正部210は、補正後のバックライト検出値をバックライト制御部211へ出力する。
バックライト制御部211は、バックライト検出値補正部210による補正後のバックライト検出値に基づいて、バックライト103の発光量を制御する。本実施例では、バックライト制御部211は、補正後のバックライト検出値と目標値とに基づいて、補正後のバックライト検出値が目標値と一致するようにバックライト制御値を補正する。そして、
バックライト制御値は、補正後のバックライト制御値をバックライト103へ出力する。目標値は、固定値であってもよいし、入力画像信号に基づいて決定されてもよい。目標値は、例えば、バックライト検出値に対する外光の影響が無い状況下で予め得られたバックライト検出値、そのようなバックライト検出値に基づいて算出された値などである。バックライト検出値に対する外光の影響が無い状況下で予め得られたバックライト検出値は、予めROMに格納されている。
上述したように、バックライト制御値は、バックライトの発光量を表す値である。バックライト103は、バックライト制御部211から入力されたバックライト制御値に従って、バックライト103が有する光源を駆動する。
本実施例では、バックライト検出値に対する外光の影響が無い状況下において、バックライトの発光量が多いほどバックライト検出値が高いものとする。また、バックライト制御値が高いほど発光量が多いものとする。この場合、補正後のバックライト検出値が目標値より低い場合にバックライト制御値を高め、補正後のバックライト検出値が目標値より高い場合にバックライト制御値を低減すればよい。このような処理の繰り返しにより、バックライトの輝度の変化やムラを低減するフィードバック制御を実現することができる。バックライト制御値の補正量(調整量)は、例えば、補正後のバックライト検出値と目標値の差に基づいて決定すればよい。バックライトの発光量は、光源の点灯時間や光源に印加する電流を調整することにより調整される。
なお、発光量とバックライト検出値の関係、バックライト制御値と発光量の関係は上記関係に限らない。発光量が多いほどバックライト検出値が低くてもよい。また、バックライト制御値が高いほど発光量が少なくてもよい。
また、バックライト制御値の補正方法は上記方法に限らない。例えば、補正後のバックライト検出値と目標値を用いた演算により、補正後のバックライト制御値が算出されてもよい。
表示制御部101の動作について図3に示すフローチャートを用いて説明する。図3のフローチャートは、表示装置の電源をオンするユーザ操作が行われたことをトリガーとして開始される。
まず、表示時間計測部204が、表示装置の電源がオンされた時刻からの経過時間を表示時間として計測し、計測値をバックライト制御値補正指示部205へ出力する(S301)。
次に、バックライト制御値補正指示部205が、表示時間が所定の閾値に達するまで待機する(S302)。表示時間が所定の閾値に達すると、S303に処理が進められる。
S303では、バックライト制御値補正指示部205が、外光検出値取得部206へ外光検出値取得指示を出力する。外光検出値取得部206は、外光検出値取得指示の入力に応じて、入力画像信号の垂直同期信号のタイミングで外光センサ104から時刻tにおける外光検出値I(t)を取得する。そして、外光検出値取得部206は、外光検出値I(t)を透過外光値決定部208へ出力する。
次に、バックライト制御値補正指示部205が、バックライト検出値取得部209へバックライト検出値取得指示を出力する(S304)。バックライト検出値取得部209は、バックライト検出値取得指示の入力に応じて、入力画像信号の垂直同期信号のタイミングでバックライトセンサ105から時刻tにおけるバックライト検出値L(t)を取得する。そして、バックライト検出値取得部209は、バックライト検出値L(t)をバックライト検出値補正部210へ出力する。
そして、バックライト制御値補正指示部205が、外光透過率決定部207へバックライト制御値補正指示を出力する(S305)。それにより、バックライト制御値を補正する処理(バックライト制御値補正処理)が行われる。
なお、図3のフローチャートでは、表示装置100の電源がオンされた時刻からの経過時間を表示時間として用いたが、表示時間はこれに限らない。例えば、表示時間は、シャ
ッター制御部203からMEMSシャッターパネル102へのシャッター制御情報の出力が開始された時刻からの経過時間であってもよい。また、表示時間は、画像を表示するユーザ操作があった時刻からの経過時間であってもよい。また、最初の画像の表示開始時刻からの経過時間のみが表示時間として計測されてもよいし、表示する画像が切り替えられる度に、切り替え後の画像の表示開始時刻からの経過時間が表示時間として計測されてもよい。
また、図3のフローチャートによれば、表示装置の電源の状態がオン状態の間にS303〜S305の処理が最大で1回だけ行われる。しかしながら、S303〜S305の処理の実行頻度はこれに限らない。例えば、S303〜S305の処理は、表示時間と無関係に行われてもよい。S303〜S305の処理は、バックライト制御値補正処理を実行するユーザ操作に応じて行われてもよい。表示装置の使用中に、所定時間おきにS303〜S305の処理が行われもよい。
また、バックライトの温度を検出する温度センサを表示装置内に設け、温度センサの検出値(バックライトの温度)に基づいてS303〜S305の処理を行うか否かが判断されてもよい。例えば、本実施例ではバックライトの温度が安定したか否かを表示時間から判断しているが、温度センサの検出値からバックライトの温度が安定したか否かが判断されてもよい。そして、バックライトの温度が安定したと判断されたことをトリガーとしてS303〜S305の処理が行われてもよい。温度センサの検出値からバックライトの温度が前回のバックライト制御値補正処理実行時の温度から所定の閾値以上変化したか否かが判断されてもよい。そして、バックライトの温度が前回のバックライト制御値補正処理実行時の温度から所定の閾値以上変化したと判断されたことをトリガーとしてS303〜S305の処理が行われてもよい。
また、MEMSシャッターが閉じているときは、開いているときに比べ、表示装置内に透過する外光は少ない。即ち、MEMSシャッターが閉じている時間が長いほど、バックライト検出値に対する外光の影響は小さい。そこで、バックライトセンサがバックライト検出値を取得するのに要する時間がMEMSシャッターが閉じている時間よりも短いときにのみS303〜S305の処理が行われてもよい。
バックライト制御値補正処理の詳細について図4に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、外光透過率決定部207が、表示パネルの画素毎に、入力画像信号に基づいて、時刻tにおける画素外光透過率Pを決定する。具体的には、外光透過率決定部207は、画素毎に、予め用意された画素外光透過率テーブルを用いて、入力されたシャッター制御情報から時刻tにおける画素外光透過率Pを決定する。外光透過率決定部207は、画素毎の画素外光透過率Pの代表値(平均値、最頻値、中間値、最小値、最大値など)を時刻tにおける外光透過率Pareaとして決定する。そして、外光透過率決定部207は、決定した外光透過率Pareaを透過外光値決定部208へ出力する(S401)。表示パネルの全ての画素についての画素外光透過率の代表値が外光透過率として決定されてもよい。しかし、バックライトセンサ105から離れた画素を透過した外光はバックライト検出値に対する影響が小さいため、考慮しないことが好ましい(そのような画素を考慮することにより外光透過率が最適な値からずれてしまう)。そこで、本実施例では、外光透過率決定部207は、表示パネルが有する複数の画素のうち、画面と平行な面においてバックライトセンサから所定範囲内にある画素についての画素外光透過率の代表値を、外光透過率として決定する。バックライトセンサ105に近い画素の画素外光透過率のみを用いることにより、外光透過率として最適な値を得ることが可能となる。なお、図1(B)に示すように、バックライト103に9つのバックライトセンサ105が設けられている場合には、バックライトセンサ(2,2)に対応する領域(発光面の領域;画面の領域)内にある画素についての画素外光透過率の代表値を、外光透過率として決定すればよい。
画素外光透過率は、外光がその画素を透過する際の透過率である。画素外光透過率は、例えば、表示パネルの光利用効率に、当該画素外光透過率に対応する画素の開口率を乗算することにより得られる値である。なお、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)のバックライトを順番に時分割で点灯するMEMSシャッター方式の場合は、赤色に対応する開口率と、緑色に対応する開口率と、青色に対応する開口率との平均値が使用される。具体的には上記平均値を表示パネルの光利用効率に乗算することにより得られる値が、画素外光透過率として使用される。ここで、光利用効率は、表示パネル(表示パネルが有する表示素子)の開口率が最大値であるときの、バックライトからの光に対する、表示パネルから発せられる光(表示パネルを透過した後のバックライトの光)の割合である。
画素外光透過率テーブルは、図6に示すように、開口率と画素外光透過率の対応関係を表すテーブルである。例えば、開口率S,S,・・・,S,Sa+1,・・・,Sendと、画素外光透過率P,P,・・・,P,Pa+1,・・・,Pendとがそれぞれ互いに対応付けられたテーブルである。図6の例では、一般的なMEMSシャッターの光利用効率である60%を開口率に乗算した値が、画素外光透過率として記載されている。なお、表示パネルの光利用効率は60%より低くても高くてもよい。
対応する開口率Sが画素外光透過率テーブル内に記載されている画素については、開口率Sに対応する画素外光透過率P(n=1〜end)を画素外光透過率Pとして画素外光透過率テーブルから取得すればよい。対応する開口率Sが画素外光透過率テーブル内に記載されていない画素については、画素外光透過率テーブルに記載の開口率と画素外光透過率とを用いた補間処理により画素外光透過率Pを算出すればよい。画素外光透過率Pは、例えば、以下の式1(線形補間式)を用いて算出することができる。式1において、S<S<Sa+1である。なお、対応する開口率Sが画素外光透過率テーブル内に記載されていない画素についての画素外光透過率Pの決定方法はこれに限らない。例えば、画素外光透過率テーブル内に記載されている開口率のうち開口率Sに最も近い開口率に対応する画素外光透過率が、画素外光透過率Pとして取得されてもよい。また、画素外光透過率テーブルに記載の開口率と画素外光透過率とから、開口率と画素外光透過率の関係を表す近似関数(近似直線または近似曲線)を算出し、近似関数から画素外光透過率Pが算出されてもよい。
Figure 2014134764
また、上記所定範囲が水平方向x画素×垂直方向y画素の範囲である場合、外光透過率決定部207は、例えば、以下の式2を用いて、上記所定範囲内の各画素の画素外光透過率Pの平均値を、外光透過率Pareaとして算出する。
Figure 2014134764
S401の次に、透過外光値決定部208が、以下の式3を用いて、時刻tにおける透過外光値Tを算出する。即ち、透過外光値決定部208は、外光検出値I(t)に外光透過率Pareaを乗算することにより、透過外光値Tを算出する。そして、透過外光値決定部208は、透過外光値Tをバックライト検出値補正部210へ出力する(S402)。
Figure 2014134764
次に、バックライト検出値補正部210が、透過外光値Tに基づいてバックライト検出値L(t)を補正し、補正後のバックライト検出値Lc(t)をバックライト制御部211へ出力する(S403;バックライト検出値補正処理)。
そして、バックライト制御部211が、補正後のバックライト検出値Lc(t)と目標値とから、(補正後の)バックライト制御値を算出する(S404)。
次に、バックライト制御部211が、S404で算出したバックライト制御値を、バックライトに出力(設定)する(S405)。それにより、バックライトの発光量が制御される。
バックライト検出値補正処理の詳細について図5に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、バックライト検出値補正部210が、透過外光値決定部で決定された透過外光値に基づいて、バックライト検出値に対する外光の影響量を決定する。具体的には、バックライト検出値補正部210は、予め用意された影響量テーブルを用いて、入力された透過外光値Tからバックライト検出値L(t)に対する外光の影響量Nを決定する(S501)。本実施例では、なお、本処理は、バックライト検出値補正部210以外の機能部(例えば、不図示の影響量決定部)により行われてもよい。
透過外光値の単位は、例えば、外光検出値の単位(照度など)と同じである。
影響量は、例えば、透過外光値をバックライト検出値(輝度など)に換算した値である。
影響量テーブルは、図7に示すように、透過外光値と影響量の対応関係を表すテーブルである。例えば、透過外光値T,T,・・・,T,Ta+1,・・・,Tendと、影響量N,N,・・・,N,Na+1,・・・,Nendとがそれぞれ互いに対応付けられたテーブルである。図7の例では、透過外光値からバックライト検出値への変換効率(変換係数)である78%を透過外光値に乗算した値が、影響量として記載されている。なお、透過外光値からバックライト検出値への変換効率は78%より低くても高くてもよい。
透過外光値Tが影響量テーブル内に記載されている場合には、透過外光値Tに対応する影響量N(n=1〜end)を影響量Nとして影響量テーブルから取得すればよい。透過外光値Tが影響量テーブル内に記載されていない場合には、影響量テーブルに記載の透過外光値と影響量とを用いた補間処理により影響量Nを算出すればよい。影響量Nは、例えば、以下の式4(線形補間式)を用いて算出することができる。式4において、T<T<Ta+1である。なお、透過外光値Tが影響量テーブル内に記載されていない場合の影響量Nの決定方法はこれに限らない。例えば、影響量テーブル内に記載されている透過外光値のうち透過外光値Tに最も近い透過外光値に対応する影響量が、影響量Nとして取得されてもよい。また、影響量テーブルに記載の外光透過率と影響量とから、外光透過率と影響量の関係を表す近似関数(近似直線または近似曲線)を算出し、近似関数から影響量Nが算出されてもよい。
Figure 2014134764
S501の次に、バックライト検出値補正部210が、影響量Nに基づいて、バックライト検出値L(t)を補正する(S502)。本実施例では、バックライト検出値に対する外光の影響が無い状況下において、バックライトの発光量が多いほどバックライト検
出値が高く、外光の影響によりバックライト検出値は高まる。そして、影響量は、透過外光値をバックライト検出値に換算した値である。そこで、本実施例では、バックライト検出値補正部210は、バックライト検出値L(t)から影響量Nを減算することにより、補正後のバックライト検出値Lc(t)を算出する。バックライト検出値L(t)から影響量Nを減算することにより、外光の影響が除外されたバックライト検出値Lc(t)を得ることができる。
以上述べたように、本実施例によれば、外光センサの検出値だけでなく表示パネルの透過率(具体的には入力画像信号)を考慮してバックライトセンサの検出値が補正される。それにより、バックライトセンサの検出値に対する外光の影響を精度良く低減することができ、バックライトからの光を精度良く検出することができる。ひいては、バックライトの発光量を精度良く制御することができる。
なお、本実施例では、画素外光透過率テーブルを用いて画素外光透過率Pを決定する例を説明したが、画素外光透過率Pの決定方法はこれに限らない。例えば、予め用意された関係式(画素外光透過率と開口率の関係式)から画素外光透過率Pが算出されてもよい。
なお、本実施例では、画素外光透過率Pから外光透過率Pareaを決定する例を示したが、外光透過率Pareaの決定方法はこれに限らない。例えば、入力画像信号の特徴量(輝度ヒストグラム、最大輝度、最小輝度、最頻輝度、平均輝度、中間輝度など)に基づいて、外光透過率Pareaが決定されてもよい。具体的には、入力画像信号の特徴量と外光透過率の関係を表すテーブルや関数を用いて外光透過率Pareaが決定されてもよい。それにより、入力画像信号からダイレクトに外光透過率Pareaを得ることができる。入力画像信号の特徴量として、画像全体の特徴量を用いてもよいが、画面と平行な面においてバックライトセンサから所定範囲内の画像の特徴量を用いることが好ましい。
なお、本実施例では、外光透過率Pareaに外光検出値I(t)を乗算することにより透過外光値Tを算出する例を説明したが、透過外光値Tの決定方法はこれに限らない。例えば、外光透過率と外光検出値の関係を表すテーブルを用いて透過外光値Tが決定されてもよい。また、入力画像信号の特徴量と外光検出値I(t)に基づいて、透過外光値Tが決定されてもよい。具体的には、入力画像信号の特徴量と外光検出値と透過外光値の関係を表すテーブルや関数を用いて透過外光値Tが決定されてもよい。それにより、画素外光透過率Pや外光透過率Pareaを求めることなく透過外光値Tを得ることができる。
なお、本実施例では、影響量テーブルを用いて影響量Nを決定する例を説明したが、影響量Nの決定方法はこれに限らない。例えば、予め用意された関係式(影響量と透過外光値の関係式)から影響量Nが算出されてもよい。
なお、本実施例では、影響量Nとバックライト検出値L(t)から補正後のバックライト検出値Lc(t)を算出する例を説明したが、バックライト検出値L(t)の補正方法はこれに限らない。例えば、影響量と補正前のバックライト検出値と補正後のバックライト検出値の関係を表すテーブルを用いて補正後のバックライト検出値Lc(t)が決定されてもよい。また、入力画像信号の特徴量と外光検出値I(t)に基づいて、バックライト検出値L(t)が補正されてもよい。具体的には、入力画像信号の特徴量と外光検出値と補正前のバックライト検出値と補正後のバックライト検出値の関係を表すテーブルや関数を用いて補正後のバックライト検出値Lc(t)が決定されてもよい。それにより、画素外光透過率P、外光透過率Parea、影響量Nなどを求めることなく透過外光
値Tを得ることができる。
なお、本実施例では、透過外光値が、外光透過率に外光検出値を乗算することにより得られる値である場合の例を説明したが、透過外光値はこれに限らない。透過外光値は、外光透過率に外光検出値を乗算することにより得られる値より大きくても小さくてもよい。
なお、本実施例では、画素外光透過率が、表示パネルの光利用効率に開口率を乗算することにより得られる値である場合の例を説明したが、画素外光透過率はこれに限らない。画素外光透過率は、表示パネルの光利用効率に開口率を乗算することにより得られる値より大きくても小さくてもよい。
なお、本実施例では、影響量が、透過外光値をバックライトセンサの検出値に換算した値である場合の例を説明したが、影響量はこれに限らない。例えば、影響量は、バックライト検出値L(t)に乗算される補正係数であってもよい。
なお、バックライト検出値の単位、影響量の単位、外光検出値の単位、及び、透過外光値の単位は同じであっても異なっていてもよい。外光透過率の単位と画素外光透過率の単位は同じであっても異なっていてもよい。
なお、本実施例では、外光センサ104を1つ配置し、1つの外光センサ104で検出されたセンサ値を外光検出値I(t)として用いが、外光検出値I(t)はこれに限らない。例えば、外光センサ104を複数配置し、複数の外光センサ104で検出された複数のセンサ値の平均値を外光検出値(t)として用いてもよい。また、画面の領域n毎の外光センサの重みw(n=1,2,・・・)が予め保持されていてもよい。そして、各外光センサのセンサ値に重みwを乗算し、wが乗算された各センサ値の足し合わせることにより、外光検出値I(t)が算出されてもよい。重みwは、例えば、複数のバックライトセンサ105と、複数の外光センサ104との位置関係に基づいて決定される。
(実施例2)
以下、本発明の実施例2について説明する。なお、以下では、主に実施例1と実施例2の相違点について説明する。
図1(A)は、本実施例に係る表示装置の構成の一例を示す概略図である。
図8は、表示制御部101の構成の一例を示すブロック図である。
表示制御部101は、CPU200、画像入力部201、画像処理部202、シャッター制御部203、表示時間計測部204、バックライト制御値補正指示部205、外光検出値取得部206、外光透過率決定部207、透過外光値決定部208、バックライト検出値取得部209、バックライト検出値補正部210、バックライト制御部211、バックライト反射光比率決定部801などを有する。
シャッター制御部203は、MEMSシャッターパネル102、外光透過率決定部207、及び、バックライト反射光比率決定部801へシャッター制御情報を出力する。
バックライト反射光比率決定部801は、シャッター制御情報に基づいて、バックライト反射光比率を決定する。そして、バックライト反射光比率決定部801は、バックライト反射光比率をバックライト検出値補正部210へ出力する。
バックライト検出値補正部210は、入力画像信号、外光検出値、及び、バックライト反射光比率に基づいて、バックライトセンサ検出値を補正する。具体的には、バックライトの反射光(バックライトから発せられ、MEMSシャッターパネルで反射することでバックライト側へ戻された光)の変化による検出値の変化が低減するように、バックライト検出値が補正される。本実施例では、バックライト検出値補正部210は、透過外光値決定部208から入力された透過外光値と、バックライト反射光比率決定部801から入力された反射バックライト比率とに基づいて、バックライト検出値取得部209から入力さ
れたバックライト検出値を補正する。そして、バックライト検出値補正部210は、補正後のバックライト検出値をバックライト制御部211へ出力する。例えば、バックライト103の光源の発光量自体が一定でも、シャッターの開閉具合でバックライト103の反射光比率が変化し、バックライトセンサ105の検出値が変化する。そのため、バックライト検出値補正部210は、バックライト反射光比率に基づいて、バックライト検出値を補正する。
バックライト制御値補正処理の詳細について図9に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、実施例1と同様に、S401とS402の処理が行われる。
S402の次に、バックライト反射光比率決定部801が、シャッター制御情報に基づいて、バックライト反射光比率を決定する(S901)。バックライト反射光比率は、MEMSシャッターの開閉率で変化するバックライト光の反射率である。バックライト反射光比率は、例えば、シャッターを完全に閉じた際のバックライト反射光比率を100%として、シャッターの開口率に応じた反射光の光減少率を乗算することにより得られる値である。
バックライト反射光比率テーブルは、図10に示すように、開口率とバックライト反射光比率の対応関係を表すテーブルである。例えば、開口率S,S,・・・,S,Sa+1,・・・,Sendと、バックライト反射光比率R,R,・・・,R,Ra+1,・・・,Rendとがそれぞれ互いに対応付けられたテーブルである。図10の例では、開口率が100%の場合には、開口率が0%の場合に比べてバックライト反射光比率が20%減少する。なお、開口率が100%のときのバックライト反射光比率は80%より低くても高くてもよい。
対応する開口率Sがバックライト反射光比率テーブル内に記載されている画素については、開口率Sに対応するバックライト反射光比率R(n=1〜end)をバックライト反射光比率Rとしてバックライト反射光比率テーブルから取得すればよい。対応する開口率Sがバックライト反射光比率テーブル内に記載されていない画素については、バックライト反射光比率テーブルに記載の開口率とバックライト反射光比率とを用いた補間処理によりバックライト反射光比率Rを算出すればよい。バックライト反射光比率Pは、例えば、以下の式5(線形補間式)を用いて算出することができる。式5において、S<S<Sa+1である。なお、対応する開口率Sがバックライト反射光比率内に記載されていない画素についてのバックライト反射光比率Rの決定方法はこれに限らない。例えば、バックライト反射光比率テーブル内に記載されている開口率のうち開口率Sに最も近い開口率に対応するバックライト反射光比率が、バックライト反射光比率Rとして取得されてもよい。また、バックライト反射光比率テーブルに記載の開口率とバックライト反射光比率とから、開口率とバックライト反射光比率の関係を表す近似関数(近似直線または近似曲線)を算出し、近似関数からバックライト反射光比率Rが算出されてもよい。
Figure 2014134764
また、上記所定範囲が水平方向x画素×垂直方向y画素の範囲である場合、バックライト反射光比率決定部801は、例えば、以下の式6を用いて、上記所定範囲内の各画素のバックライト反射光比率Rの平均値を、バックライト反射光比率Rareaとして算出する。
Figure 2014134764
そして、バックライト反射光比率決定部801は、Rareaをバックライト検出値補正部210へ出力する。
次に、バックライト検出値補正部210が、バックライト反射光比率Rareaと透過外光値Tに基づいて、バックライト検出値L(t)を補正し、補正後のバックライト検出値Lc(t)をバックライト制御部211へ出力する(S403;バックライト検出値補正処理)。
その後、実施例1と同様に、S404とS405の処理が行われる。
バックライト検出値補正処理の詳細について図5に示すフローチャートを用いて説明する。なお、S502以外の処理は、実施例1と同じである。
S502では、バックライト検出値補正部210が、バックライト反射光比率Rareaと影響量Nに基づいて、バックライト検出値L(t)を補正する。本実施例では、バックライト検出値に対する外光の影響が無い状況下において、バックライトの発光量が多いほどバックライト検出値が高く、外光の影響によりバックライト検出値は高まる。そして、影響量は、透過外光値をバックライト検出値に換算した値である。そこで、本実施例では、バックライト検出値補正部210は、例えば、以下の式7を用いて、補正後のバックライト検出値Lc(t)を算出する。バックライト検出値L(t)から影響量Nを減算した値に、バックライト反射光比率を乗算することにより、外光の影響が除外されたバックライト検出値Lc(t)を得ることができる。
Figure 2014134764
以上述べたように、本実施例によれば、表示パネルの開閉率の変化に伴う表示パネルの透過率の変化だけでなく、表示パネルの開閉率の変化に伴うバックライトの反射光比率の変化を考慮して、バックライトセンサの検出値が補正される。それにより、表示パネルの開閉率に関わらずバックライトセンサの検出値に対する外光の影響を精度良く低減することができ、バックライトからの光を精度良く検出することができる。ひいては、バックライトの発光量を精度良く制御することができる。
100 表示装置
101 表示制御部
102 MEMSシャッターパネル
103 バックライト
104 外光センサ
105 バックライトセンサ
207 外光透過率決定部
208 透過外光値決定部
210 バックライト検出値補正部
211 バックライト制御部

Claims (14)

  1. バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、を有する表示装置であって、
    前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、
    前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、
    前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とに基づいて、前記バックライトの発光量を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする表示装置。
  2. 前記外光センサの検出値に基づいて、前記バックライトセンサの検出値を補正する補正手段をさらに備え、
    前記制御手段は、前記補正手段による補正後の検出値に基づいて、前記バックライトの発光量を制御する
    ことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記入力画像信号と前記外光センサの検出値とに基づいて、前記表示装置の内部への透過後の外光の値である透過外光値を決定する透過外光値決定手段をさらに有し、
    前記補正手段は、前記透過外光値決定手段で決定された透過外光値に基づいて、前記バックライトセンサの検出値を補正する
    ことを特徴とする請求項2に記載の表示装置。
  4. 前記入力画像信号に基づいて、外光が前記表示パネルを透過する際の透過率である外光透過率を決定する外光透過率決定手段をさらに有し、
    前記透過外光値決定手段は、前記外光透過率決定手段で決定された外光透過率と前記外光センサの検出値とに基づいて、透過外光値を決定する
    ことを特徴とする請求項3に記載の表示装置。
  5. 前記透過外光値決定手段によって決定される透過外光値は、前記外光透過率決定手段で決定された外光透過率に前記外光センサの検出値を乗算することにより得られる値であることを特徴とする請求項4に記載の表示装置。
  6. 前記外光透過率決定手段は、
    前記表示パネルの画素毎に、前記入力画像信号に基づいて、外光がその画素を透過する際の透過率を画素外光透過率として決定し、
    前記画素毎の画素外光透過率の代表値を前記外光透過率として決定する
    ことを特徴とする請求項4または5に記載の表示装置。
  7. 前記外光透過率決定手段は、前記表示パネルが有する複数の画素のうち、画面と平行な面において前記バックライトセンサから所定範囲内にある画素についての画素外光透過率の代表値を、前記外光透過率として決定する
    ことを特徴とする請求項6に記載の表示装置。
  8. 前記外光透過率決定手段によって決定される画素外光透過率は、前記表示パネルの前記バックライトからの光の利用効率に、当該画素外光透過率に対応する画素の開口率を乗算することにより得られる値である
    ことを特徴とする請求項6または7に記載の表示装置。
  9. 前記透過外光値決定手段で決定された透過外光値に基づいて、前記バックライトセンサの検出値に対する外光の影響量を決定する影響量決定手段をさらに有し、
    前記補正手段は、前記影響量決定手段で決定された影響量に基づいて、前記バックライトセンサの検出値を補正する
    ことを特徴とする請求項3〜8のいずれか1項に記載の表示装置。
  10. 前記影響量決定手段によって決定される影響量は、前記透過外光値決定手段で決定された透過外光値を前記バックライトセンサの検出値に換算した値である
    ことを特徴とする請求項9に記載の表示装置。
  11. 前記入力画像信号に基づいて、前記バックライトから発せられた光が前記表示パネルで反射する際の反射率を、バックライト反射光比率として決定するバックライト反射光比率決定手段をさらに有し、
    前記補正手段は、前記透過外光値決定手段で決定された透過外光値に基づく補正後の前記バックライトセンサの検出値に、前記バックライト反射光比率決定手段で決定されたバックライト反射光比率を乗算することにより、前記バックライトセンサの検出値をさらに補正する
    ことを特徴とする請求項10に記載の表示装置。
  12. バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、を有する表示装置の制御方法であって、
    前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とを取得する取得ステップと、
    前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とに基づいて、前記バックライトの発光量を制御する制御ステップと、
    を有することを特徴とする表示装置の制御方法。
  13. バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、を有する表示装置であって、
    前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、
    前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、
    前記外光センサの検出値に基づいて、前記バックライトセンサの検出値を補正する補正手段と、
    を有することを特徴とする表示装置。
  14. バックライトと、前記バックライトからの光を入力画像信号に基づく透過率で透過する表示パネルと、前記バックライトからの光を検出するためのバックライトセンサと、前記表示装置の外光を検出するための外光センサと、を有する表示装置の制御方法であって、
    前記バックライトセンサの検出値と、前記外光センサの検出値とを取得する取得ステップと、
    前記外光センサの検出値に基づいて、前記バックライトセンサの検出値を補正する補正ステップと、
    を有することを特徴とする表示装置の制御方法。
JP2013214562A 2012-12-11 2013-10-15 表示装置及びその制御方法 Pending JP2014134764A (ja)

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