JP2015197607A - 表示装置及びその制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】バックライトを備える表示装置において、バックライトを構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じた場合における輝度や色度のムラを低減する。【解決手段】光源を有する発光手段と、前記発光手段からの光の透過率を制御することにより画像を表示する表示手段と、前記発光手段の内部に設けられ前記光源の輝度を検出する第１センサ及び第２センサと、前記第１センサ及び前記第２センサによる検出値に基づき前記表示手段の透過率を制御する制御手段と、を備え、前記光源から前記第２センサへの距離は、前記光源から前記第１センサへの距離よりも長く、前記制御手段は、ある期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記期間における前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき前記表示手段の透過率を制御する表示装置。【選択図】図５

Description

本発明は、表示装置及びその制御方法に関する。

カラー画像表示装置には、カラーフィルタを有するカラー液晶パネルと、カラー液晶パネルの背面に白色光を照射する光源装置（バックライト装置）とを有するものがある。従来、光源装置の光源として、冷陰極管（ＣＣＦＬ：Cold Cathode Fluorescent Lamp）等
の蛍光ランプが主に用いられていた。しかし近年、光源装置の光源として、消費電力、寿命、色再現性、環境負荷の面で優れた発光ダイオード（ＬＥＤ：Light Emitting Diode）が用いられるようになってきている。

光源としてＬＥＤを用いた光源装置（ＬＥＤバックライト装置）は、一般に、多数のＬＥＤを有する。特許文献１には、それぞれがひとつ以上のＬＥＤを有する複数の発光部で構成されるＬＥＤバックライト装置が開示されている。また、特許文献１には、発光部ごとに、その発光部の輝度を制御することが開示されている。カラー画像表示装置の画面のうち暗い画像が表示される領域に光を照射する発光部の発光輝度を落とすことで、消費電力が低減し、画像のコントラストが向上する。このような、画像の特徴に応じた発光部ごとの輝度制御をローカルディミング制御と呼ぶ。

一方、ローカルディミング制御において、明るい画像と暗い画像が隣接するような場合には、ハローと呼ばれるムラが問題となる。明るい画像が表示される領域に光を照射する発光部は発光輝度が高いため、この発光部からの光が、隣の暗い画像が表示される領域に漏れ、ムラとして視認される。このようなムラを低減する手法として、次のような方法がある。発光部個別点灯時の発光輝度分布を予め把握しておき、ローカルディミング制御によって決定された各発光部の輝度を乗算して重ね合わせ、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布を求め、これに応じてカラー液晶パネルの光透過率を調整する。特許文献２はその一例である。

特開２００１−１４２４０９号公報 特開２００９−１３９４７０号公報

しかしながら、バックライト装置を構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じると、発光部個別点灯時の発光輝度分布（以降では個別輝度分布と称する）及び発光色分布、（以降では個別色分布と称する）が変化する。その結果、これらの重ね合わせである、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布及び色分布も変化し、従来の手法では十分にムラを低減できないという問題があった。

そこで、本発明は、バックライトを備える表示装置において、バックライトを構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じた場合における輝度や色度のムラを低減することを目的とする。

本発明は、光源を有する発光手段と、
前記発光手段からの光の透過率を制御することにより画像を表示する表示手段と、
前記発光手段の内部に設けられ前記光源の輝度を検出する第１センサ及び第２センサと、
前記第１センサ及び前記第２センサによる検出値に基づき前記表示手段の透過率を制御する制御手段と、
を備え、
前記光源から前記第２センサへの距離は、前記光源から前記第１センサへの距離よりも長く、
前記制御手段は、ある期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記期間における前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき前記表示手段の透過率を制御する表示装置である。

本発明は、光源を有する発光手段と、
前記発光手段からの光の透過率を制御することにより画像を表示する表示手段と、
前記発光手段の内部に設けられ前記光源の輝度を検出する第１センサ及び第２センサと、
を備え、前記光源から前記第２センサへの距離は、前記光源から前記第１センサへの距離よりも長い表示装置の制御方法であって、
前記第１センサ及び前記第２センサによる検出値に基づき前記表示手段の透過率を制御する制御工程を有し、
前記制御工程では、ある期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記期間における前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき前記表示手段の透過率を制御する表示装置の制御方法である。

本発明によれば、バックライトを備える表示装置において、バックライトを構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じた場合における輝度や色度のムラを低減することができる。

カラー画像表示装置の構成の一例を示す模式図 光源基板１０１の構成の一例を示す模式図 光源基板１０１における発光部１１１の配置の一例を示す模式図 発光部１１１の光センサ値に基づく発光量制御を示すブロック図 発光部２００、近い光センサＳ１、遠い光センサＳ２の配置を示す模式図 バックライト装置における光の反射を断面から見た模式図 光学部材の経年劣化による分光透過（反射）率の変化の一例を示すグラフ 経年による個別色分布の変化を示すグラフ 経年による個別輝度分布の変化を示すグラフ 光センサの検出値における低下率Ｒを示すグラフ 光センサの検出値の低下率Ｒと時刻Ｔの関係を示すグラフ 加速劣化試験による光センサの検出値の低下率のデータ例 ＬＥＤチップによる個別色分布及び重ね合わせのグラフ ＬＥＤチップによる個別輝度分布及び重ね合わせのグラフ バックライト発光制御と画像処理を組み合わせたムラ低減処理の概念図 発光部３００、近い光センサＳ３、遠い光センサＳ４の配置を示す模式図 発光部３１０、光センサＳ５〜Ｓ８の配置を示す模式図 光センサＳ５〜Ｓ８の検出値の低下率Ｒを示すグラフ

（実施例１）
以下、本発明の実施例１に係る光源装置について説明する。なお、実施例１では、光源装置がカラー画像表示装置で使用するバックライト装置である場合の例を説明するが、光源装置は表示装置で使用するバックライト装置に限らない。光源装置は、例えば、街灯、室内照明などの照明装置であってもよい。
図１は、実施例１に係るカラー画像表示装置の構成の一例を示す模式図である。カラー画像表示装置は、バックライト装置とカラー液晶パネル１０５を有する。バックライト装置は、光源基板１０１、拡散板１０２、集光シート１０３、反射型偏光フィルム１０４などを有する。

光源基板１０１は、カラー液晶パネル１０５の背面に照射する光（白色光）を発する。光源基板１０１には、複数の光源が設けられている。光源としては、発光ダイオード（ＬＥＤ）以外にも、冷陰極管、有機ＥＬ素子などを用いることができる。
図１の拡散板１０２、集光シート１０３、反射型偏光フィルム１０４は、光源基板と平行に配置され、光源基板１０１からの光に光学的な変化を与える。
具体的には、拡散板１０２は、上記複数の光源（実施例１ではＬＥＤチップ）からの光を反射・拡散させることにより、光源基板１０１を面光源として機能させる。
集光シート１０３は、拡散板１０２で反射・拡散し、様々な入射角度で入射した白色光を、正面方向（カラー液晶パネル１０５側）に集光することにより、正面輝度（正面方向の輝度）を向上させる。
反射型偏光フィルム１０４は、入射した白色光を効率的に反射・偏光することにより、正面輝度を向上させる。
また、光源基板１０１の表面には、反射率の高い反射シート（不図示）が貼られており、拡散板１０２、集光シート１０３、反射型偏光フィルム１０４から光源基板１０１側への反射光を、再びカラー液晶パネル１０５側へ戻す。
なお、表示装置には、上述した光学部材以外の部材が含まれていてもよいし、上述した光学部材の少なくともいずれか１つが含まれていなくてもよい。

カラー液晶パネル１０５は、赤色の光を透過するＲサブ画素、緑色の光を透過するＧサブ画素、青色の光を透過するＢサブ画素からなる画素を複数有しており、照射された白色光の透過率をサブ画素ごとに制御することでカラー画像を表示する。なお、本発明の表示装置において、バックライトからの光の透過率を制御することで画像を表示する表示手段は液晶パネルに限らない。例えば、液晶素子の代わりにＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）シャッターを用いたＭＥＭＳシャッター方式ディスプレイであってもよい
。
以上で説明したような構成（図１に示すような構成）のバックライト装置を、一般的に直下型バックライト装置と呼ぶ。

図２は、光源基板１０１の構成の一例を示す模式図である。
光源基板１０１は、縦方向に５つ、横方向に７つの発光部１１１を有する。即ち、光源基板１０１は、５行×７列の合計３５個の発光部１１１を有する。
各発光部１１１の発光輝度（発光量）は、個別に制御することができる。各発光部１１１には４つの光源（ＬＥＤチップ１１２）が設けられている。ＬＥＤチップ１１２としては、例えば、白色光を発する白色ＬＥＤを用いることができる。ＬＥＤチップ１１２として、発する光の色が互いに異なる複数のＬＥＤ（例えば、赤色光を発する赤色ＬＥＤ、緑色光を発する緑色ＬＥＤ、青色光を発する青色ＬＥＤなど）を用いて白色光が得られるように構成されたチップを用いてもよい。

光源基板１０１には、光を検出し、検出値を出力する光センサ１１３が設けられている。発光部１１１からの光の一部は、拡散板や反射型偏光フィルム等で反射され、発光部側
へ戻される。光センサ１１３は、発光部１１１から直接入射する光に加えて、拡散板や反射型偏光フィルム等で反射され発光部側に戻された反射光を検出する。実施例１では、後述するマイコン１２５が、光センサ１１３の検出値から、発光部１１１におけるＬＥＤの劣化及び温度特性による輝度変化を検出する。さらに、マイコン１２５が、光センサ１１３の検出値を用いて、バックライト装置を構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じたことによる、個別輝度分布及び個別色分布の変化を検出する（詳細は後述）。個別輝度分布は、各発光部からの光によるカラー液晶パネル１０５における輝度分布であり、個別色分布は、各発光部からの光によるカラー液晶パネル１０５における色分布である。

実施例１では、各発光部１１１にひとつずつ光センサ１１３が設けられている。光センサ１１３としては、フォトダイオードやフォトトランジスタなど、検出値として輝度を出力するセンサを用いることができる。また、色ごとの輝度を出力するカラーセンサを、光センサ１１３として用いてもよい。なお、光センサ１１３の数や配置は実施例１で説明する例に限らない。後述するように、センサ値取得時に発光させる発光部１１１に対する距離が近い第１センサと距離が遠い第２センサとの少なくとも２つの光センサがバックライト装置の内部に設けられていれば良い。

図３は、正面方向（カラー液晶パネル１０５側）から見た場合の、光源基板１０１における発光部１１１の配置の一例を示す模式図である。
発光部１１１（Ｘ，Ｙ）（縦方向Ｘ＝１〜５，横方向Ｙ＝１〜７）は、左上端に発光部１１１（１，１）が配置される。発光部１１１（１，１）の右側には、発光部１１１（１，２）、発光部１１１（１，３）、発光部１１１（１，４）、発光部１１１（１，５）、発光部１１１（１，６）及び発光部１１１（１，７）が順に並ぶ。発光部１１１（１，１）の下側には、発光部１１１（２，１）、発光部１１１（３，１）、発光部１１１（４，１）及び発光部１１１（５，１）が順に並ぶ。

図４は、実施例１のマイコン１２５により行われる処理、すなわちマイコン１２５が発光部１１１を発光させ、光センサ１１３から検出値を取得し、ムラ補正を行う処理における各部の関係を示すブロック図である。
マイコン１２５は、センサ値の検出及び補正の処理を、ユーザがカラー画像表示装置を使用していない空き時間に実施しても良いし、使用中であっても、ユーザに視認されないような短時間に行うものであっても良い。また、マイコン１２５は、センサ値の検出及び補正の処理を、一定期間を置いて定期的に行う。

マイコン１２５は、検出対象として発光部１１１（３，４）を発光させ、他の発光部１１１は強制的に消灯させる。発光部１１１（３，４）から発せられた光１２１（３，４）の多くは、カラー液晶パネル１０５（図４では不図示）へ入射する。しかし、一部は拡散板や反射型偏光フィルム（不図示）等から発光部側へ反射光として戻される。発光部１１１（３，４）に設けられた近い光センサ１１３（３，４）では、発光部１１１（３，４）から直接入射する光に加えて、この反射光を検出する。この反射光の多くは、光源基板１０１（不図示）上に貼られた反射シート（不図示）で再びカラー液晶パネル１０５（不図示）側へ反射される。何度か、各光学部材で反射を繰り返した光１２１（３，４）は、発光部１１１（３，４）から遠い光センサ１１３へも入射する。各光センサ１１３は、検出した光の輝度に応じて、当該輝度を表すアナログ値１２２（検出値）を出力する。

以降の処理では、各発光部１１１におけるＬＥＤの劣化及び温度特性による輝度変化を検出する処理と、光学部材に経年による変色、汚れ、くもり等が生じたことによる、個別輝度分布及び個別色分布の変化を検出する処理とがあるが、まず前者について説明する。

Ａ／Ｄコンバータ１２３は、各光センサ１１３が出力したアナログ値１２２のうち、発光部１１１（３，４）に設けられた近い光センサ１１３（３，４）が出力したアナログ値１２２（３，４）を選択する。そして、Ａ／Ｄコンバータ１２３は、選択したアナログ値をデジタル値にアナログ−デジタル変換し、デジタル値１２４をマイコン１２５に出力する。マイコン１２５は、光センサ１１３（３，４）の検出値（具体的にはデジタル値１２４（３，４））に基づいて発光部１１１（３，４）の発光輝度を調整する。

ここでは、代表として発光部１１１（３，４）を点灯させ、検出する場合について説明したが、他の発光部１１１についても同様の処理が行われる。即ち、処理対象の発光部１１１のみを発光させた状態で、各発光部に設けられた近い光センサ１１３により輝度が検出される。そして、Ａ／Ｄコンバータ１２３では、発光輝度の調整対象の発光部１１１に設けられた光センサ１１３のアナログ値１２２がデジタル値１２４に変換され、デジタル値１２４がマイコン１２５に出力される。結果として、Ａ／Ｄコンバータ１２３からは、全３５個の検出値（光センサの検出値；デジタル値１２４）がマイコン１２５に出力される。

マイコン１２５は、各光センサ１１３の検出値（具体的にはデジタル値１２４）に基づいて各発光部１１１の発光輝度を調整する。具体的には、マイコン１２５は、カラー画像表示装置の製造検査時に決定した各発光部１１１の輝度基準値（検出値の基準値）を不揮発メモリ１２６に記憶している。マイコン１２５は、発光部１１１ごとに、その発光部１１１に設けられた光センサ１１３の検出値と、上記基準値とを比較する。そして、マイコン１２５は、発光部１１１ごとに、上記比較の結果に応じて、検出値を基準値に近づけるように発光輝度を調整する。マイコン１２５は、発光輝度を、例えば、マイコン１２５からＬＥＤドライバ１２０へ出力するＬＥＤドライバ制御信号１２７を調整することにより調整する。ＬＥＤドライバ１２０は、ＬＥＤドライバ制御信号１２７に応じて、発光部１１１を駆動する。ＬＥＤドライバ制御信号１２７は、例えば、発光部１１１に印加するパルス信号（電流または電圧のパルス信号）のパルス幅を表す。その場合、マイコン１２５は、ＬＥＤドライバ制御信号１２７を調整することにより、発光部１１１の発光輝度をＰＷＭ制御される。なお、ＬＥＤドライバ制御信号１２７はこれに限らない。例えば、ＬＥＤドライバ制御信号１２７は、発光部１１１に印加するパルス信号の波高値であってもよいし、パルス幅と波高値の両方であってもよい。検出値を基準値に近づけるように各発光部１１１の発光輝度を調整することにより、発光部１１１の劣化及び温度特性による輝度変化が生じた場合であっても、バックライト装置全体としての輝度むらを抑制することができる。

次に、バックライト装置を構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じたことによる、個別輝度分布及び個別色分布の変化を検出し、変化を補償するようにカラー液晶パネルの透過率を調整する処理について説明する。ただし、ここでは図４を用いて概略のみ述べ、詳細は後述する。

個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出は、代表してひとつの発光部１１１を用いて行うものとし、ここではバックライト装置の中央に位置する発光部１１１（３，４）を用いる例を説明する。これは、同一バックライト装置内であれば、光学部材の経年による変色、汚れ、くもりの状態は、領域によって大きな差が生じないと考えられるためである。ただし、領域によって大きな温度差が生じ、経年変化に差が生じやすい構造である場合は、領域ごとに同様の検出及び補正を行っても良い。

Ａ／Ｄコンバータ１２３は、各光センサ１１３が出力したアナログ値１２２のうち、まず、発光部１１１（３，４）に設けられた近い光センサ１１３（３，４）（第１センサ）が出力したアナログ値１２２（３，４）を選択する。そして、Ａ／Ｄコンバータ１２３は
、選択したアナログ値をデジタル値にアナログ−デジタル変換し、デジタル値１２４をマイコン１２５に出力する。次に、Ａ／Ｄコンバータ１２３は、発光部１１１（３，４）から遠い、ここでは光センサ１１３（３，７）（第２センサ）が出力したアナログ値１２２（３，７）を選択する。そして、同様に、Ａ／Ｄコンバータ１２３は、選択したアナログ値をデジタル値にアナログ−デジタル変換し、デジタル値１２４をマイコン１２５に出力する。マイコン１２５は、カラー画像表示装置の製造検査時にも、同様の手順により、発光部１１１（３，４）の光１２１（３，４）を検出した近い光センサ１１３（３，４）及び遠い光センサ１１３（３，７）の検出値を取得している。これらは基準値として不揮発メモリ１２６に記憶されている。

以上で取得された近い光センサ１１３（３，４）の検出値と、遠い光センサ１１３（３，７）の検出値と、それぞれの基準値とから、マイコン１２５は、遠い光センサ１１３（３，７）の検出値の低下率Ｒにおける、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬを求める。事前に、同等のカラー画像表示装置をサンプルとして用い、加速劣化試験を行っておき、同様の検出方法にて求めた光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬと、個別輝度分布及び個別色分布の対応関係を評価しておく。ユーザが使用するカラー画像表示装置には、製造時に予め前記対応関係の情報が不揮発メモリ１２６に格納される。ユーザがカラー画像表示装置を使用し始めると、マイコン１２５は、定期的な検出によって光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬを求める。マイコン１２５は、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬの大きさと、不揮発メモリ１２６に記憶されている前記対応関係の情報と、から、低下率Ｒ_ＹＥＬに対応する個別輝度分布及び個別色分布を求める。この処理の詳細について以降で説明する。

最初に、遠い光センサの検出値の低下率Ｒにおける、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬを求める方法について説明する。
図５は、正面方向（カラー液晶パネル１０５側）から見た場合の、個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出に用いる発光部２００と、近い光センサＳ１、遠い光センサＳ２の配置を示す模式図である。

個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出に用いる発光部２００として、光源基板１０１の中央に位置する発光部１１１（３，４）を用いる。近い光センサＳ１（第１センサ）として、発光部１１１（３，４）に設けられている光センサ１１３（３，４）を用いる。遠い光センサＳ２（第２センサ）として、ここでは光センサ１１３（３，７）を用いる。

近い光センサＳ１へは、発光部１１１（３，４）から光が直接入射するのに加えて、拡散板や反射型偏光フィルムで反射した光も入射するが、その反射回数は少ない。従って、近い光センサＳ１の検出値には、経年による光学部材の変色、汚れ、くもり等の影響は殆ど生じない。
一方、遠い光センサＳ２へは、発光部１１１（３，４）から光が直接入射することは殆どなく、相当回数の反射を経た光が入射する。従って、経年による光学部材の変色、汚れ、くもり等の影響が強くなる。このことを、図６及び図７を用いて説明する。

図６は、バックライト装置における光の反射を断面から見た模式図である。
ＬＥＤチップ１１２から、カラー液晶パネル１０５方向に光１２１が発せられる。光１２１は拡散板１０２を透過（２１０）したり、反射型偏光フィルム１０４で反射（２１１）したり、光源基板１０１上の反射シートで反射（２１２）したりと、透過及び反射を繰り返しながら、バックライト装置内を徐々に進んでゆく。

図７は、経年で光学部材の変色、汚れ、くもりが生じた場合の分光透過（反射）率の変化の一例を示すグラフである。
一般的に光学部材は樹脂で形成されており、例えば、拡散板１０２にはポリカーボネート、反射型偏光フィルム１０４や反射シートにはポリエチレンナフタレートが用いられる。樹脂材料は、熱や光によって変質しやすいが、バックライト装置のＬＥＤからは熱と光が発せられるため、変質が避けられない。設置環境の温度や湿度の条件によって異なるが、通電時間が１万時間を超えると、このような変色、汚れ、くもりの影響が顕著となってくる。

初期状態（製造直後）の分光透過（反射）率２２０は、可視光帯（４００〜７００ｎｍ）の各波長において平坦な特性を有していたとする。これに対し、経年後の分光透過（反射）率２２１は、特に青色（短波長）側が低下し、透過（反射）光は黄色く変色する。また、赤色（長波長）側も含めて、全ての波長で少なからず透過（反射）率が下がるため、光学部材はくもったようにも視認される。さらに、経年で他の部材から発せられたガスが蒸着し、汚れることもある。

ＬＥＤチップ１１２から発せられた光１２１は、光学部材で透過もしくは反射を繰り返すたびに、図７に示したような分光透過（反射）率の低下を受ける。すなわち、発光部１１１のＬＥＤチップ１１２から遠くに届き、遠い光センサＳ２で検出される光は、経年による変色、汚れ、くもりの影響を強く受ける。

実施例１では、遠い光センサＳ２として用いた光センサ１１３（３，７）は、発光部１１１（３，４）から十分に遠く、本バックライト装置の拡散距離（光源基板１０１上に実装したＬＥＤチップ１１２と拡散板１０２間の距離）の６倍程度離れているものとする。これは、拡散距離が３０ｍｍであったとすると、１８０ｍｍ離れていることになる。一般的に、拡散距離の数倍以上離れていれば、光学部材で相当回数反射した光が入射するため為、経年による変色、汚れ、くもりの影響を検出可能である。

図８は、経年による個別色分布の変化を示すグラフである。
ｘ軸はＬＥＤチップ１１２からの距離であり、ＬＥＤチップ１１２は距離ｘ＝０に配置されている。ｙ軸はＬＥＤチップ１１２の真上（拡散板１０２上）における光の色度を基準（ｙ＝０）とした色差Δｕ’ｖ’を示し、面輝度計を用いてバックライト装置の外側から測定されたものである。
初期状態（製造直後）のカーブ２３０は、ＬＥＤチップ１１２から離れて、光学部材で相当回数の反射を経た光であっても、色差は殆ど大きくならない。
経年後のカーブ２３１は、ＬＥＤチップ１１２から離れて、光学部材での反射回数が増えるほど、色差が大きくなる。

近い光センサＳ１における検出値は、図８の分布における距離ｘ＝０付近に相当する。光学部材での反射回数がゼロもしくは少ないため、経年による光学部材の変色、汚れ、くもり等の影響を受けにくい。
遠い光センサＳ２における検出値は、図８の分布において距離ｘが十分に大きくなったものに相当する。光学部材で相当回数の反射を経るため、経年による影響が大きくなる。より具体的には、光学部材における反射で青色（短波長）側の成分が低下した光を検出するため、検出値が低下する。

図９は、経年による個別輝度分布の変化を示すグラフである。
ｘ軸はＬＥＤチップ１１２からの距離であり、ＬＥＤチップ１１２は距離ｘ＝０に配置されている。ｙ軸はＬＥＤチップ１１２の真上（拡散板１０２上）を頂点とした場合の輝度Ｙを示し、面輝度計を用いてバックライト装置の外側から測定されたものである。各カーブは、距離ｘ＝０の輝度（頂点）で正規化している。

初期状態（製造直後）のカーブ２４０は、ＬＥＤチップ１１２から離れるほど輝度が低下するカーブを描く。これは、直下型バックライト装置における個別輝度分布の一般的な特徴である。
経年後のカーブ２３１は、初期状態（製造直後）のカーブ２４０に対し、ＬＥＤチップ１１２からの距離に応じた輝度の低下量が大きくなる。

近い光センサＳ１における検出値は、図９の分布における距離ｘ＝０付近に相当する。光学部材での反射回数がゼロもしくは少ないため、経年による光学部材の変色、汚れ、くもり等の影響を受けにくい。従って、経年によるＬＥＤチップ１１２の劣化による輝度低下を主に検出する。
遠い光センサＳ２における検出値は、図９の分布において距離ｘが十分に大きくなったものが相当する。光学部材で相当回数の反射を経るため、経年による影響が生じる。より具体的には、光学部材における反射で輝度が低下した光を検出するため、検出値が低下する。

図１０は、近い光センサＳ１と遠い光センサＳ２の検出値における低下率Ｒの内訳を示すグラフである。
まず、検出値における低下率Ｒは、式１のように定義する

時刻Ｔにおける光センサ１１３の検出値をＶ（Ｔ）とし、初期状態（カラー画像表示装置の製造検査時）の検出値をＶ（Ｔ_０）とする。式１は、検出値Ｖ（Ｔ_０）に対して、検出値Ｖ（Ｔ）がどの程度低下しているのかを示す。初期状態における低下率Ｒは０となり、検出値が低下していないことが示される。ある時刻Ｔにおける低下率Ｒは０より大きく、１より小さい値となり、１に近づくほど検出値が低下していることを示す。
図１０において、初期状態（Ｔ＝Ｔ_０）では、近い光センサＳ１と遠い光センサＳ２のいずれにおいても、低下率Ｒは０となる。

通電時間が十分に経過している時刻Ｔにおいて、検出値の低下率Ｒは０よりも大きくなる。近い光センサＳ１で検出する光は、光学部材での反射回数がゼロもしくは少なく、経年による光学部材の変色、汚れ、くもり等の影響を受けにくいため、低下率ＲにはＬＥＤチップの劣化による低下率分Ｒ_ＬＥＤのみが含まれる。遠い光センサＳ２で検出する光は、光学部材で相当回数の反射を経ており、経年による光学部材の変色、汚れ、くもり等の影響が生じるため、低下率Ｒに光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬが含まれる。さらに、ＬＥＤチップの劣化による低下率分Ｒ_ＬＥＤについても、近い光センサＳ１におけるＲ_ＬＥＤと同等分が含まれる。

従って、遠い光センサＳ２の検出値の低下率Ｒから、近い光センサＳ１の低下率Ｒ＝Ｒ_ＬＥＤを減算することで、遠い光センサＳ２の検出値の低下率Ｒにおける、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬを求めることが可能である。

次に、事前に同等のカラー画像表示装置をサンプルとして用い、加速劣化試験を行っておき、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬと、個別輝度分布及び個別色分布の対応関係を評価しておく処理について説明する。
光学部材の劣化は１万時間を超えると顕著となるが、これを事前に実時間で評価することは困難であるため、ここでは数十倍の加速条件にて試験を行い、カラー画像表示装置で想定される最大寿命までを十分に評価しておく。例えば、最大寿命を１０万時間と想定す
ると、加速条件下では１００日程度で試験が完了する。
まず、試験開始（初期状態）を時刻Ｔ_０として、近い光センサＳ１の低下率Ｒと、遠い光センサＳ２の検出値の低下率Ｒを定期的に取得する。例えば２４時間ごとに１回取得したとすると、実時間では１０００時間ごとに１回取得したことに相当する。

図１１は、近い光センサＳ１及び遠い光センサＳ２の低下率Ｒと時刻Ｔの関係を示すグラフである。
近い光センサＳ１の低下率Ｒには、ＬＥＤチップの劣化による低下率分Ｒ_ＬＥＤのみが含まれ、これは時刻Ｔの経過と共に徐々に大きくなる。遠い光センサＳ２の低下率Ｒには、ＬＥＤチップの劣化による低下率分Ｒ_ＬＥＤに加えて、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬが含まれる。従って、いずれの時刻Ｔにおいても、遠い光センサＳ２の低下率Ｒの方が大きくなる。

図１２は、加速劣化試験の各時刻Ｔにおける検出値と、検出値から求めた光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬの関係を示すデータの一例である。
試験開始（初期状態）の時刻Ｔ_０において、近い光センサＳ１の検出値Ｖ_Ｓ１が１０００である。この時、遠い光センサＳ２の検出値Ｖ_Ｓ２が１００である。近い光センサＳ１と比較して、遠い光センサＳ２へは入射する光量が少ないため、検出値も小さくなる。これらの検出値を基準として、以降の時刻Ｔにおいて、低下率Ｒを求める。例えば、時刻Ｔ_３においては、Ｖ_Ｓ１が８５０、Ｖ_Ｓ２が７０と検出され、近い光センサＳ１における検出値の低下率Ｒ_Ｓ１が０．１５、遠い光センサＳ２における検出値の低下率Ｒ_Ｓ２が０．３０と求められる。そして、Ｒ_Ｓ２における光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬは、Ｒ_Ｓ２からＲ_Ｓ１を減算して、０．１５と求められる。

以上によって、各時刻Ｔにおける、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬが求められる。これらと同時に、各時刻Ｔにおいて、図８や図９で示したような個別色分布及び個別輝度分布を、面輝度計を用いてバックライト装置の外側から測定しておくことで、Ｒ_ＹＥＬと個別輝度分布及び個別色分布の対応関係が求められる。
加速劣化試験による評価は、数台のサンプルデータから平均的な結果を求めても良い。

次に、加速劣化試験の評価結果を用いて、ユーザが使用するカラー画像表示装置において、経年による個別輝度分布及び個別色分布の変化を定期的に検出し、補正する処理を説明する。
加速劣化試験では、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬと、個別輝度分布及び個別色分布の対応関係が求められるが、ユーザが使用するカラー画像表示装置には、製造時に予め前記対応関係の情報が不揮発メモリ１２６に格納される。

ユーザがカラー画像表示装置を使用し始めると、マイコン１２５は、定期的に光センサＳ１及び光センサＳ２のセンサ値の検出を行い、遠い光センサＳ２の検出値における光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬを求める。光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬが経年により大きくなると、マイコン１２５は、個別輝度分布及び個別色分布が変化したことを検出する。

マイコン１２５は、各発光部１１１における個別輝度分布及び個別色分布の重ね合わせから、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布及び色分布を求め、これに応じてカラー液晶パネル１０５の光透過率を調整することでムラを低減する処理を行う。マイコン１２５は、Ｒ_ＹＥＬの変化から、個別輝度分布及び個別色分布が変化したことを検出すると、現在のＲ_ＹＥＬに対応する個別輝度分布及び個別色分布を不揮発メモリから新たに読み出す。そして、マイコン１２５は、カラー液晶パネル１０５に入力する画像信号を補正することによりムラ低減処理を行う。この処理について、図１３及び図１４を用いて説明する
。

図１３（ａ）は、ＬＥＤチップ１１２ａにおける、経年による個別色分布の変化を示すグラフである。図８と同等であり、初期状態（製造直後）のカーブ２３０ａ、経年後のカーブ２３１ａを示す。
図１３（ｂ）は、ＬＥＤチップ１１２ｂにおける、経年による個別色分布の変化を示すグラフである。こちらも図８と同等であるが、ＬＥＤチップ１１２ｂの位置は、基準点となるｘ＝０から一定距離離れている。２３０ｂが初期状態（製造直後）のカーブ、２３１ｂが経年後のカーブを示す。

マイコン１２５は、全ての発光部１１１における個別輝度分布及び個別色分布の重ね合わせを算出し、カラー液晶パネル１０５に入射する光の色分布を求める。ここでは簡単のため、図１３（ａ）におけるＬＥＤチップ１１２ａと、図１３（ｂ）におけるＬＥＤチップ１１２ｂの個別色分布の重ね合わせから、カラー液晶パネル１０５に入射する光の色分布を求める場合を示す。

図１３（ｃ）は、ＬＥＤチップ１１２ａとＬＥＤチップ１１２ｂの個別色分布の重ね合わせから求めた、カラー液晶パネルに入射する光の色分布を示すグラフである。
カーブ２６０は、図１３（ａ）のカーブ２３０ａと、図１３（ｂ）のカーブ２３０ｂとの重ね合わせから求めた、初期状態（製造直後）における、カラー液晶パネルに入射する光の色分布である。初期状態においては、ＬＥＤチップ１１２から離れて、光学部材で相当回数の反射を経た光であっても、色差は殆ど大きくならないため、その重ね合わせであるカーブ２６０も距離ｘによらず殆ど大きくならない。

カーブ２６１は、図１３（ａ）のカーブ２３１ａと、図１３（ｂ）のカーブ２３１ｂとの重ね合わせから求めた、経年後の、カラー液晶パネルに入射する光の色分布である。経年後の個別色分布は、ＬＥＤチップ１１２から離れて、光学部材での反射回数が増えるほど、色差が大きくなるが、その重ね合わせであるカーブ２６１は、距離ｘによらず、全ての位置で色差が大きい。さらには、ＬＥＤチップ１１２ａとＬＥＤチップ１１２ｂの中間点に向けて色差が変化するカーブを描く。カーブ２６１では、ＬＥＤチップ１１２ａとＬＥＤチップ１１２ｂの中間点で色差が最も大きくなっている。

マイコン１２５は、カラー液晶パネル１０５に入射する光の色分布に応じて、カラー液晶パネル１０５の光透過率を調整することでムラを低減する処理を行う。マイコン１２５は、図１３（ｃ）の色差カーブに基づき、カラー液晶パネル透過後の光の色分布において、全ての距離ｘにおいて、光源の位置（ｘ＝０）に対する色差を低減するように（ゼロとなるように）、カラー液晶パネル１０５の透過率を調整する。

初期状態（製造直後）におけるカーブ２６０に対しては、カラー液晶パネル側での調整は殆ど必要ない。経年後のカーブ２６１に対しては、カラー液晶パネル透過後の光の色分布において、光源の位置（ｘ＝０）に対する色差が全ての距離ｘにおいてゼロとなるように調整する必要がある。例えば、経年による光学部材の変色で、カラー液晶パネルに入射する光の青色が低下し、黄色化した場合、マイコン１２５は、カラー液晶パネル側では青色の透過率を上げるような調整を行うことにより色変化の補償を行う。

図１４（ａ）は、ＬＥＤチップ１１２ａにおける、経年による個別輝度分布の変化を示すグラフである。図９と同等であり、初期状態（製造直後）のカーブ２４０ａ、経年後のカーブ２４１ａを示す。
図１４（ｂ）は、ＬＥＤチップ１１２ｂにおける、経年による個別輝度分布の変化を示すグラフである。こちらも図９と同等であるが、ＬＥＤチップ１１２ｂの位置は、基準点
となるｘ＝０から一定距離離れている。初期状態（製造直後）のカーブ２４０ｂ、経年後のカーブ２４１ｂを示す。

マイコン１２５は、全ての発光部１１１における個別輝度分布の重ね合わせから、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布を求める。ここでは簡単のため、図１４（ａ）におけるＬＥＤチップ１１２ａと、図１４（ｂ）におけるＬＥＤチップ１１２ｂの個別輝度分布の重ね合わせから、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布を求める場合を示す。

図１４（ｃ）は、ＬＥＤチップ１１２ａとＬＥＤチップ１１２ｂの個別輝度分布の重ね合わせから求めた、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布を示すグラフである。
カーブ２７０は、図１４（ａ）のカーブ２４０ａと、図１４（ｂ）のカーブ２４０ｂとの重ね合わせから求めた、初期状態（製造直後）における、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布である。カーブ２４０ａとカーブ２４０ｂは、いずれもＬＥＤチップ１１２から離れるほど輝度が低下するカーブを描くが、その重ね合わせは、カーブ２７０のように距離ｘによらず輝度が殆ど変化せず、ムラがない状態であるとする。

カーブ２７１は、図１４（ａ）のカーブ２４１ａと、図１４（ｂ）のカーブ２４１ｂとの重ね合わせから求めた、経年後の、カラー液晶パネルに入射する光の輝度分布である。経年後の個別輝度分布は、初期状態（製造直後）のカーブと比べて、ＬＥＤチップ１１２からの距離に応じた輝度の低下量が大きくなる。その重ね合わせであるカーブ２７１は、ＬＥＤチップ１１２ａとＬＥＤチップ１１２ｂの中間点をピークとして、ＬＥＤチップ１１２ａとＬＥＤチップ１１２ｂに近づくほど輝度が低下するカーブを描くようになる。

マイコン１２５は、カラー液晶パネル１０５に入射する光の輝度分布に応じて、カラー液晶パネル１０５の光透過率を調整することでムラを低減する処理を行う。マイコン１２５は、図１４（ｃ）のカーブ２７０を初期状態として、経年後のカーブ２７１とカーブ２７０の差分を補償するように、液晶パネルの透過率を補正（調整）する処理を行う。

初期状態のカーブ２７０に対しては調整を行う必要がないため、マイコン１２５は、カラー液晶パネル１０５に対し入力する画像信号に特に補正を行わない。一方、経年後のカーブ２７１に対しては、カーブ２７０との差分を調整するため、マイコン１２５は、ＬＥＤチップ１１２ａとＬＥＤチップ１１２ｂに近づくほど透過率が高くなるような調整をカラー液晶パネル１０５に対して行う。その結果、カラー液晶パネル透過後の光の輝度分布（ムラ）は、経年後の変化が低減される。
図１３及び図１４では、液晶パネルを用いてムラ低減処理を行うことを説明したが、液晶パネルでの処理とバックライト装置での処理を組み合わせて行うことも可能である。

図１５は、カラー液晶パネルに入射する光の色分布に応じたムラ低減処理を、バックライト装置での処理と液晶パネルでの処理を組み合わせて行う場合の分担を示すグラフである。
カーブ２６１は、経年後の、カラー液晶パネル１０５に入射する光の色分布である。先に図１３を用いて説明したように、カーブ２６１に基づき、マイコン１２５は、カラー液晶パネル透過後の光の色分布において、全ての距離ｘにおいて光源位置（ｘ＝０）に対する色差がゼロとなるように、カラー液晶パネル１０５の透過率を調整する。このうち調整量２８０に相当する部分は、距離ｘによらず一律に調整可能なため、マイコン１２５は、調整量２８０に相当する分の調整を、バックライトの各発光部の発光量を調整することで行う。例えば、ＲＧＢ三色のＬＥＤで構成されるＬＥＤチップを備える構成のバックライトでは、ＲＧＢ各色のＬＥＤの輝度比率を変更することで、発光部からの光の色を調整することができる。一方、調整量２８１に相当する部分は、距離ｘに応じて調整する必要があるため、マイコン１２５は、調整量２８１に相当する分の調整を、カラー液晶パネル１
０５の透過率を画素ごとに調整することで行う。

以上、実施例１を適用することにより、バックライト装置を構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じた場合であっても、個別輝度分布及び個別色分布の変化が検出され、十分にムラが低減される。

（実施例２）
以下、本発明の実施例２に係る光源装置について説明する。実施例１では、近い光センサと遠い光センサを各１つずつ用いた。実施例２では、遠い光センサを複数用いた場合の一例について説明する。なお、実施例１と同じ部材には同じ符号を付し、その説明は割愛する。
図１６は、正面方向（カラー液晶パネル１０５側）から見た場合の、個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出に用いる発光部３００と、近い光センサＳ３、遠い光センサＳ４の配置を示す模式図である。

マイコン１２５は、個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出に用いる発光部３００として、画面の中央部に位置する発光部１１１（３，４）を用いる。マイコン１２５は、近い光センサＳ１として、発光部１１１（３，４）に設けられている光センサ１１３（３，４）を用いる。
遠い光センサＳ４として、光センサ１１３（１，１）、光センサ１１３（１，７）、光センサ１１３（５，１）及び光センサ１１３（５，７）の合計４つを用いる。この４つの光センサ１１３は、発光部３００との距離３０１、３０２、３０３及び３０４が全て略等しい。
発光部３００との距離が同等であると、各遠い光センサＳ４で検出される光は、光学部材で同等回数の反射を経ているため、経年後の検出値の低下率Ｒにおける光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬも、各遠い光センサＳ４において同等となる。

マイコン１２５は、合計４つの光センサ１１３の検出値の和を、遠い光センサＳ４の検出値として用い、４つの検出値の和の低下率と、Ｓ１の検出値の低下率との差からＲ_ＹＥＬを求める。遠い光センサへは入射する光量が少ないため、検出値が小さくなり、Ｓ／Ｎが低下して検出誤差が生じる場合があるが、実施例２のように複数の検出値の和を用いることで、これが改善される。

次に、遠い光センサを複数用いた場合の別の一例について説明する。
図１７は、正面方向（カラー液晶パネル１０５側）から見た場合の、個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出に用いる発光部３１０と、最も近い光センサＳ５、３番目に遠い光センサＳ６、２番目に遠い光センサＳ７及び最も遠い光センサＳ８の配置を示す。

マイコン１２５は、個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出に用いる発光部３１０として、光源基板１０１の左端に位置する発光部１１１（３，１）を用いる。マイコン１２５は、最も近い光センサＳ５として、発光部１１１（３，１）に設けられている光センサ１１３（３，１）を用いる。
マイコン１２５は、遠い光センサとしては、発光部３１０との距離が異なる３つの光センサ１１３を用いる。マイコン１２５は、３番目に遠い光センサＳ６として光センサ１１３（３，３）、２番目に遠い光センサＳ７として光センサ１１３（３，５）、最も遠い光センサＳ８として光センサ１１３（３，７）を用いる。

発光部３１０との距離がそれぞれ異なるため、各光センサ１１３で検出される光も、光学部材での反射回数がそれぞれ異なる。従って、経年後の検出値の低下率Ｒにおける光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬも、各光センサ１１３においてそれぞれ異なる。この
ことを利用して、マイコン１２５は、最終的に最も遠い光センサＳ８における低下率分Ｒ_ＹＥＬを求めるにあたり、３番目に遠い光センサＳ６と２番目に遠い光センサＳ７の検出値を用いて補正を行う。

図１８は、最も近い光センサＳ５、３番目に遠い光センサＳ６、２番目に遠い光センサＳ７及び最も遠い光センサＳ８における低下率Ｒを示すグラフである。最も近い光センサＳ５における検出値は、光学部材での反射回数がゼロもしくは少ないため、経年による光学部材の変色、汚れ、くもり等の影響を受けにくい。従って、経年によるＬＥＤチップ１１２の劣化による輝度低下を主に検出する。

最も遠い光センサＳ８における検出値は、光学部材で相当回数の反射を経るため、経年による影響が生じる。２番目に遠い光センサＳ７における検出値は、最も遠い光センサＳ８よりも、経年による影響が少ない。３番目に遠い光センサＳ６における検出値は、２番目に遠い光センサＳ７よりも、経年による影響が少ない。

事前に行う加速劣化試験において、最も遠い光センサＳ８、２番目に遠い光センサＳ７及び３番目に遠い光センサＳ６のそれぞれにおける、光学部材の劣化による低下率分Ｒ_ＹＥＬの比率を評価しておく。例えば、加速試験において、それぞれの比率がＲ_{ＹＥＬ／Ｓ８}：Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ７}：Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ６}＝３：２：１であったとする。この試験により求められた各光センサの低下率の情報は、不揮発メモリ１２６に記憶させておく。

ユーザが使用するカラー画像表示装置において、マイコン１２５は、最も遠い光センサＳ８における低下率分Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ８}を求めるにあたり、不揮発メモリ１２６から前記加速劣化試験の情報を取得する。そして、マイコン１２５は、各光センサの低下率の比率を求め、最も遠い光センサＳ８における低下率分Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ８}の補正を行う。これにより、個別輝度分布及び個別色分布の変化の検出精度が向上する。例えば、ユーザが使用するカラー画像表示装置において、マイコン１２５は、Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ８}：Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ７}：Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ６}＝３．１：２：１という比率の低下率を検出したとする。不揮発メモリ１２６に記憶されているデータと比較して、Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ８}が若干高めに検出されているので、マイコン１２５は、Ｒ_{ＹＥＬ／Ｓ８}を若干低くする補正を行う。
以上、実施例２のように、遠い光センサを複数用いた場合であっても、バックライト装置を構成する光学部材に、経年による変色、汚れ、くもり等が生じた場合であっても、個別輝度分布及び個別色分布の変化が検出され、十分にムラが低減される。

＜その他の実施形態＞
本発明は、記憶媒体に記録された、コンピュータにより実行可能な命令を、読み出し実行することで上述した本発明の実施形態に記載した１以上の機能を行うシステムや装置のコンピュータによっても、実施することができる。ここで、記憶媒体は、非一時的にデータを保持するコンピュータ読取可能な記憶媒体である。本発明はまた、システムや装置のコンピュータによって行われる方法であって、例えばコンピュータにより実行可能な命令を記憶媒体から読み出し実行することで上述した本発明の実施形態に記載した１以上の機能が行われる、方法によっても実施することができる。コンピュータは、１以上のＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）、その他の回路により構成される。さらに別個の複数のコンピュータや別個のコンピュータプロセッサのネットワークを含んでも良い。コンピュータにより実行可能な命令は、例えば、ネットワークや記憶媒体からコンピュータに提供されても良い。記憶媒体は、例えば、１以上の、ハードディスク、ＲＡＭ（Random-Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、分散コンピューティングシステムの記憶装置を含んでも良い。記憶媒体はまた、光学ディスク（例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray（登録商
標）Disc））、フラッシュメモリ、メモリカードを含んでも良い。実施例を参照して本発
明を説明したが、本発明は実施例の開示に限定されないものと解されるべきである。本発明は、実施例に対する本発明の範囲内のあらゆる変形や等価な構造や機能を包含するよう最も広く解釈されるべきものである。

１０５：カラー液晶パネル、１１１：発光部、１１３：光センサ、１２５：マイコン

Claims (16)

1. 光源を有する発光手段と、
   前記発光手段からの光の透過率を制御することにより画像を表示する表示手段と、
   前記発光手段の内部に設けられ前記光源の輝度を検出する第１センサ及び第２センサと、
   前記第１センサ及び前記第２センサによる検出値に基づき前記表示手段の透過率を制御する制御手段と、
   を備え、
   前記光源から前記第２センサへの距離は、前記光源から前記第１センサへの距離よりも長く、
   前記制御手段は、ある期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記期間における前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき前記表示手段の透過率を制御する表示装置。
2. 前記制御手段は、前記期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき、前記光源からの光による前記表示手段における輝度分布の前記期間における変化を算出し、前記輝度分布の変化を補償するように前記表示手段の透過率を制御する請求項１に記載の表示装置。
3. 前記制御手段は、前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分と、前記光源からの光による前記表示手段における輝度分布の変化と、の予め求められた対応関係の情報を記憶する記憶手段から当該対応関係の情報を取得し、前記期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分と、前記対応関係と、に基づき、前記光源からの光による前記表示手段における輝度分布の前記期間における変化を算出する請求項２に記載の表示装置。
4. 前記発光手段は複数の光源を有し、
   前記制御手段は、前記期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき、前記複数の光源の各々からの光による前記表示手段における輝度分布の前記期間における変化を算出して重ね合わせることにより、前記発光手段からの光による前記表示手段における輝度分布の前記期間における変化を算出し、前記輝度分布の変化を補償するように前記表示手段の透過率を制御する請求項２又は３に記載の表示装置。
5. 前記制御手段は、前記輝度分布の変化を補償するように前記光源の発光量を制御する請求項２〜４のいずれか１項に記載の表示装置。
6. 前記制御手段は、前記期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき、前記光源からの光による前記表示手段における色分布の前記期間における変化を算出し、前記色分布の変化を補償するように前記表示手段の透過率を制御する請求項１〜５のいずれか１項に記載の表示装置。
7. 前記制御手段は、前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分と、前記光源からの光による前記表示手段における色分布の変化と、の予め求められた対応関係の情報を記憶する記憶手段から当該対応関係の情報を取得し、前記期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分と、前記対応関係と、に基づき、前記光源からの光による前記表示手段における色分布の前記期間における変化を算出する請求項６に記載の表示装置。
8. 前記発光手段は複数の光源を有し、
   前記制御手段は、前記期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき、前記複数の光源の各々からの光による前記表示手段における色分布の前記期間における変化を算出して重ね合わせることにより、前記発光手段からの光による前記表示手段における色分布の前記期間における変化を算出し、前記色分布の変化を補償するように前記表示手段の透過率を制御する請求項６又は７に記載の表示装置。
9. 前記制御手段は、前記色分布の変化を補償するように前記光源の発光量を制御する請求項６〜８のいずれか１項に記載の表示装置。
10. 前記第１センサ及び前記第２センサを含む複数の光センサを備え、
    前記第１センサは、前記複数の光センサのうち前記光源に最も近い位置にある光センサである請求項１〜９のいずれか１項に記載の表示装置。
11. 前記第１センサ及び前記第２センサを含む複数の光センサを備え、
    前記第２センサは、前記複数の光センサのうち前記光源から最も遠い位置にある光センサである請求項１〜１０のいずれか１項に記載の表示装置。
12. 前記第２センサは、前記光源からの距離が略等しい複数の光センサからなり、前記光源から前記第２センサを構成する複数の光センサの各々への距離は、前記光源から前記第１センサへの距離よりも長く、
    前記制御手段は、前記第２センサによる検出値として、前記第２センサを構成する前記複数の光センサによる検出値の和を取得する請求項１〜１１のいずれか１項に記載の表示装置。
13. 前記第２センサは、前記光源からの距離が異なる複数の光センサからなり、前記光源から前記第２センサを構成する複数の光センサの各々への距離は、前記光源から前記第１センサへの距離よりも長く、
    前記第２のセンサを構成する複数の光センサの各々の検出値の予め求められた低下率の情報を記憶する記憶手段をさらに備え、
    前記制御手段は、前記第２センサを構成する複数の光センサのうちいずれかの光センサについて前記期間における検出値の低下率を取得し、当該低下率を前記記憶手段から取得する前記複数の光センサの低下率の情報に基づき補正し、当該補正した低下率と、前記期間における前記第１センサの検出値の低下率と、の差分に基づき前記表示手段の透過率を制御する請求項１〜１１のいずれか１項に記載の表示装置。
14. 前記発光手段は複数の光源を有し、
    前記制御手段は、前記複数の光源のうち一の光源を点灯させた状態で前記第１センサ及び前記第２センサの検出値を取得する請求項１〜１３のいずれか１項に記載の表示装置。
15. 前記一の光源は、画面の中央部にある光源である請求項１４に記載の表示装置。
16. 光源を有する発光手段と、
    前記発光手段からの光の透過率を制御することにより画像を表示する表示手段と、
    前記発光手段の内部に設けられ前記光源の輝度を検出する第１センサ及び第２センサと、
    を備え、前記光源から前記第２センサへの距離は、前記光源から前記第１センサへの距離よりも長い表示装置の制御方法であって、
    前記第１センサ及び前記第２センサによる検出値に基づき前記表示手段の透過率を制御
    する制御工程を有し、
    前記制御工程では、ある期間における前記第１センサの検出値の低下率と前記期間における前記第２センサの検出値の低下率との差分に基づき前記表示手段の透過率を制御する表示装置の制御方法。

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