JP6110808B2 - 故障部位が特定可能な診断方法および診断装置 - Google Patents

Description

本発明は、診断対象となる各種機器または各種システムの故障部位を特定することが可能な診断方法および診断装置に関する。

各種機器または各種システムの故障部位を診断するために、従来から様々な技術が提案されている。代表的には、複数種類の診断試験の結果を組み合わせて診断項目とすることにより故障部位を判定する方法、あるいは、複数の診断試験をツリー化して実施することにより故障部位を判定する方法等が挙げられる。なお、説明の便宜上、前者を「組合せ法」と称し、後者を「ツリー法」と称する。

「組合せ法」は、複数の試験結果の組合せに対して予想される故障状態を設定するという、非常に単純な方法である。そのため、診断試験の種類が非常に少ない場合には、試験結果の組合せ、すなわち診断項目数も少ないので簡単に故障部位を特定できるが、実施される診断試験が増えると試験結果の組合せすなわち診断項目数も増えてしまい、故障部位の特定が困難となる。特に、診断対象となる機器またはシステムが複雑であれば、診断試験の数そのものが多くなるので、「組合せの爆発」が容易に発生してしまう。それゆえ、故障部位を診断する目的では、単純な構成の機器もしくはシステム以外では、「組合せ法」はあまり用いられない。

これに対して、「ツリー法」は、重要な条件を先に判定するように診断試験をツリー化して実施することにより、診断項目数の増加を回避する。それゆえ、「組合せの爆発」をある程度抑えることできるため、故障部位を診断する一般的な方法として用いられている。ただし、診断対象となる機器またはシステムが大規模または非常に複雑であれば、診断試験のツリーも大規模または複雑化する。それゆえ、このようなツリーを作成すること自体が容易でない上に、診断項目の網羅性を検証することも困難となる。

そこで、例えば、故障部位の特定を効率的に行うことを可能とする試験装置が特許文献１に開示されている。この試験装置は、複数のモジュールを有する被試験器（診断対象）を試験するために用いられ、各試験項目に関する各モジュールの故障率が予め記憶されている。そして、任意のモジュールについて試験結果が「否」（不良）と判定された試験項目がある場合に、「否」と判定された試験項目の数に対する、「否」と判定された試験項目の故障率の合計の比を、各モジュールの故障確率として算出している。これにより、故障している可能性のあるモジュールについて、故障確率を算出できるので、故障診断作業者は故障確率に基づいて故障していると予測されるモジュールを判断することができる。

特開２０１０−２７１２６９号公報

ところで、近年では、診断対象となる各種機器または各種システムとして、より大規模化またはより複雑化したものが現れている。そのため、故障部位の特定をより一層効率化することが求められている。また、故障部位を特定する精度をより向上する観点から、故障部位を特定する過程の追跡、または、診断項目の網羅性をより一層検証しやすくすることも求められている。

本発明はこのような課題を解決するためになされたものであって、診断項目の組合せの爆発を有効に抑制し、故障部位を効率的に特定でき、特定の過程をより追跡しやすくでき、さらに、診断項目の網羅性を検証しやすくできる診断方法および診断装置を提供することを目的とする。

本発明に係る故障部位が特定可能な診断方法は、前記の課題を解決するために、診断対象となる機器またはシステムを、当該診断対象についての故障を特定するための基本的な単位部位である、複数の故障特定単位部位と、当該故障特定単位部位から見て下位の単位部位となる、少なくとも一つの判定単位部位とに区分した上で、前記診断対象について行われる診断試験の試験結果を、それぞれの前記判定単位部位に関連付ける、関連化処理を行い、それぞれの前記判定単位部位に関連付けられた前記試験結果から、当該判定単位部位が、少なくとも、故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態のいずれであるか判定することにより、当該判定単位部位についての複数の予備的判定結果を取得する、予備的判定処理を行い、故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態に優先順位を設定した上で、複数の前記予備的判定結果に基づいて、当該判定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該判定単位部位の判定結果を取得する、判定単位部位別論理判定処理を行い、さらに、前記故障特定単位部位に属する全ての前記判定単位部位の前記判定結果に基づいて、当該故障特定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該故障特定単位部位の判定結果を取得する、故障特定単位部位別論理判定処理を行う構成である。

前記構成によれば、診断対象が複数の故障特定単位部位に区分され、故障特定単位部位は、さらに少なくとも一つの判定単位部位に区分される。そして、診断対象について行われた診断試験の試験結果は、それぞれの判定単位部位に関連付けられる。それゆえ、それぞれの故障特定単位部位について得られる診断項目（試験結果）の数は、判定単位部位と診断試験数との乗算に応じた数となるので、「組合せ法」のように、診断試験の数の階乗に比例する莫大な診断項目が発生しない。これにより、診断項目の組合せの爆発を有効に抑制することができる。

また、関連化処理を行った上で予備的判定処理および論理判定処理を行うので、それぞれの故障特定単位部位について、各判定単位部位と診断試験との対比を明確化することができる。それゆえ、試験結果と予備的判定結果および論理判定処理の判定結果との因果関係を明確化することができる。これにより、それぞれの故障特定単位部位について、診断項目（試験結果）の抜けの発見が容易となり、診断項目の網羅性を容易に検証することができる。

さらに、予備的判定処理での判定には故障していない状態が含まれるので、特に、故障特定単位部位別論理判定処理では、故障していない状態の故障特定単位部位（正常な故障特定単位部位）と故障またはその可能性がある故障特定単位部位とを有効に選別することができる。それゆえ、それぞれの故障特定単位部位について、故障部位の特定を効率化することができる。また、正常な故障特定単位部位以外の故障特定単位部位は、故障特定単位部位別論理判定処理により故障またはその可能性のある単位部位であると判定される。そのため、それぞれの故障特定単位部位について、論理的に適切な判定結果が得られるだけでなく、故障またはその可能性がある単位部位を特定する過程を追跡しやすくすることができる。それゆえ、診断項目が多くなったとしても論理判定処理の欠陥を容易に見つけ出すことが可能となる。

前記構成の診断方法においては、前記故障特定単位部位は、当該故障特定単位部位が有する機能に基づいて前記判定単位部位に区分される構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、前記予備的判定処理では、分類される状態の種類に、故障している状態、故障していない状態、および、故障している可能性がある状態に加えて、情報無しまたは不十分の状態が含まれる構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、前記判定単位部位別論理判定処理では、それぞれの前記判定単位部位について得られる全ての前記予備的判定結果の中に、故障している状態の予備的判定結果が含まれているときには、その判定単位部位が故障部位であると判定し、故障している状態の予備的判定結果が含まれておらず、かつ、故障していない状態の予備的判定結果が含まれているときに、その判定単位部位が正常であると判定し、故障している状態の予備的判定結果および故障していない状態の予備的判定結果が含まれておらず、かつ、故障している可能性がある状態の予備的判定結果が含まれているときに、その判定単位部位が疑故障部位であると判定する構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、前記予備的判定処理では、故障している可能性がある状態は、故障発生確度に応じた複数の段階に区分されており、これら複数の段階に対しては、故障発生確度を基準として優先順位が設定され、前記判定単位部位別論理判定処理では、それぞれの前記判定単位部位について得られる全ての前記予備的判定結果の中に、異なる段階の故障している可能性がある状態の前記予備的判定結果が複数含まれ、かつ、それぞれの段階が異なっている場合には、前記優先順位の上位となる段階に基づいて診断がなされる構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、前記故障特定単位部位別論理判定処理では、前記故障特定単位部位に属する全ての前記判定単位部位の判定結果の中に、故障している状態の判定結果が含まれているときに、その故障特定単位部位が故障部位であると判定し、全ての前記判定単位部位の判定結果の中に、故障している状態の判定結果が含まれておらず、故障している可能性がある状態の判定結果が含まれているときに、その故障特定単位部位が疑故障部位であると判定し、全ての前記判定単位部位の判定結果が故障していない状態であれば、その故障特定単位部位が正常であると判定する構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、前記故障特定単位部位に同種の機能が複数含まれている場合には、当該故障特定単位部位には、前記判定単位部位として、複数の同種の機能に共通する要素をまとめた共通機能部、並びに、複数の同種の機能それぞれに独自の要素をまとめた個別機能部の少なくとも一方が含まれる構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、前記判定単位部位の故障の種類として、当該判定単位部位の機能が喪失した状態である機能喪失と、異常な状態のまま作動を続ける状態である異常作動とが存在する場合、前記予備的判定処理および前記判定単位部位別論理判定処理においては、これら機能喪失および異常作動を区別して判定する構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、一つの前記判定単位部位について想定される全ての前記試験結果を想定試験結果としたときに、前記関連化処理では、それぞれの前記判定単位部位に対して、前記想定試験結果を関連付けるとともに、前記予備的判定処理では、関連付けられた前記想定試験結果に基づいて当該判定単位部位について取り得る状態を全て判定し、さらに、前記予備的判定処理の後に、全ての判定結果から、実際の診断試験により得られた前記試験結果に対応する判定結果のみを抽出する予備的判定結果抽出処理を行う構成であってもよい。

あるいは、前記診断方法においては、前記関連化処理では、それぞれの前記判定単位部位に対して、実際の診断試験により得られた前記試験結果を直接関連付けるとともに、前記予備的判定処理では、関連付けられた当該試験結果に基づいて当該判定単位部位の状態を判定することにより、前記予備的判定結果を取得する構成であってもよい。

また、前記構成の診断方法においては、前記関連化処理では、前記診断試験の試験項目をそれぞれの前記判定単位部位に対応させた試験項目−単位部位対応表を作成し、各試験項目に前記試験結果を当てはめることにより、当該試験結果と当該判定単位部位との関連付けを行い、当該試験結果−単位部位対応表に基づいて、前記予備的判定処理、前記判定単位部位別論理判定処理および前記故障特定単位部位別論理判定処理が行われる構成であってもよい。

また、本発明に係る故障部位が特定可能な診断装置は、前記の課題を解決するために、診断対象となる機器またはシステムが、予め、当該診断対象についての故障を特定するための基本的な単位部位である、複数の故障特定単位部位と、当該故障特定単位部位から見て下位の単位部位となる、少なくとも一つの判定単位部位にさらに区分されており、前記診断対象について行われる診断試験の試験結果を取得する試験結果取得器と、当該試験結果取得器により取得された前記試験結果を、それぞれの前記判定単位部位に関連付ける関連化処理器と、それぞれの前記判定単位部位に関連付けられた前記試験結果から、当該判定単位部位が、少なくとも、故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態のいずれかであるか判定することにより、当該判定単位部位についての複数の予備的判定結果を生成する、予備的判定処理器と、故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態に優先順位を設定した上で、前記予備的判定処理器から得られる、複数の前記予備的判定結果に基づいて、当該判定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該判定単位部位の判定結果を生成するとともに、さらに、前記故障特定単位部位に属する全ての前記判定単位部位の判定結果に基づいて、当該故障特定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該故障特定単位部位の判定結果を生成する、論理判定処理器と、を備えている構成である。

前記構成の診断装置においては、前記試験結果取得器は、前記診断対象に対して前記診断試験を行うことにより前記試験結果を取得する試験器、または、前記判定単位部位について取得された前記試験結果を入力する入力器である構成であってもよい。

また、前記構成の診断装置においては、前記関連化処理器は、前記診断試験の試験項目をそれぞれの前記判定単位部位に対応させた試験項目−単位部位対応表を用いて、各試験項目に前記試験結果を当てはめることにより、当該試験結果と当該判定単位部位との関連付けを行い、前記予備的判定処理器および前記論理判定処理器は、前記試験結果−単位部位対応表に基づいて前記判定を行って、前記判定結果を生成する構成であってもよい。

本発明では、以上の構成により、診断項目の組合せの爆発を有効に抑制し、故障部位を効率的に特定でき、特定の過程をより追跡しやすくでき、さらに、診断項目の網羅性を検証しやすくできる診断方法および診断装置を提供することができる、という効果を奏する。

本発明の実施の形態１に係る診断方法の代表的な一例を示すフローチャートである。 図１に示す診断方法における関連化処理の一例を示す模式図である。 図１に示す診断方法における予備的判定処理および備的判定結果抽出処理の一例を示すフロー型の模式図である。 図３に示す予備的判定処理および備的判定結果抽出処理をより具体的に説明する模式図である。 図１に示す診断方法における第一段階および第二段階の論理判定処理の一例を示すフローチャートである。 図５に示す第二段階の論理判定処理の具体的な一例を示すフローチャートである。 図１に示す診断方法を実施する診断対象の具体的な一例を示すブロック図である。 図３および図４に示す予備的判定処理で例示される、想定される試験結果に対応する記入版星取表（記入版の試験結果−単位部位対応表）のより具体的な一例であって、図７に示すブロック図に対応する星取表を示す図である。 図８に示す記入版星取表から図３および図４に示す予備的判定結果抽出処理により抽出された抽出版星取表（抽出版の試験結果−単位部位対応表）の具体的な一例を示す図である。 図８に示す記入版星取表から図３および図４に示す予備的判定結果抽出処理により抽出された抽出版星取表の具体的な一例を示す図である。 図８に示す記入版星取表から図３および図４に示す予備的判定結果抽出処理により抽出された抽出版星取表の具体的な一例を示す図である。 図８に示す記入版星取表から図３および図４に示す予備的判定結果抽出処理により抽出された抽出版星取表の具体的な一例を示す図である。 図８に示す記入版星取表から図３および図４に示す予備的判定結果抽出処理により抽出された抽出版星取表の具体的な一例を示す図である。 図３および図５に示す診断方法における予備的判定処理、予備的判定結果抽出処理および論理判定処理の変形例を示すフローチャートである。 図３および図５に示す診断方法において、図６〜図１３に示す星取表を用いない論理判定処理の一例を示す図である。 図１に示す診断方法の他の例を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態２に係る診断装置の代表的な一例を示すブロック図である。 図１７に示す診断装置の他の例を示すブロック図である。 図１７に示す診断装置のさらに他の例を示すブロック図である。

以下、本発明の好ましい実施の形態を、図面を参照しながら説明する。なお、以下では全ての図を通じて同一又は相当する要素には同一の参照符号を付して、その重複する説明を省略する。

（実施の形態１）
［診断方法の構成例］
本発明に係る診断方法は、診断対象となる機器またはシステムの故障部位を特定可能とする方法であって、その具体的な構成は特に限定されない。本実施の形態１では、代表的な診断方法の一例について、図１〜図６を参照して具体的に説明する。

図１に示すように、本実施の形態に係る診断方法は、少なくとも五つのステップを有する構成となっている。図１では、各処理を長方形の枠で図示し、各処理で用いられる情報等または各処理により得られる情報等を略楕円状の枠で図示している。図１に示す診断方法を実施するに当たり、診断対象（機器またはシステム）は、予め複数の単位部位に区分されている。診断対象に対しての診断試験を予め行うことにより複数の診断結果を得てもよいし、後述する、想定される試験結果に対する記入版星取表を得た後に、診断結果を得てもよい。

診断対象を区分した単位部位について説明すると、まず、図２に示すように、診断対象３０は、上位の単位部位である複数の故障特定単位部位３１に区分される。この故障特定単位部位３１は、診断対象３０についての故障を特定するための基本的な単位部位として区分される。図２に示す模式的な例では、診断対象３０は、第一の故障特定単位部位３１Ａと第二の故障特定単位部位３１Ｂとの２つの故障特定単位部位３１に区分される。

さらに、それぞれの故障特定単位部位３１は、少なくとも一つの判定単位部位３２に区分される。判定単位部位３２は、故障特定単位部位３１から見て下位の単位部位であって、当該故障特定単位部位３１を種々の条件に基づいて区分した単位部位である。また、故障特定単位部位３１は、区分の条件に応じて二つ以上（複数）に区分されてもよいし、故障特定単位部位３１そのものが判定単位部位３２であってもよい。つまり、故障特定単位部位３１は複数に区分されずに、判定単位部位３２として取り扱われてもよい。

図２に示す模式的な例では、第一の故障特定単位部位３１Ａは、三つの判定単位部位３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃに区分されているが、第二の故障特定単位部位３１Ｂは、一つの判定単位部位３２Ｄとして区分（すなわち第二の故障特定単位部位３１Ｂが判定単位部位３２Ｄに相当）する。

故障特定単位部位３１を判定単位部位３２に区分する条件は特に限定されず、診断対象３０の種類、ハードウェア構成、診断試験の内容等に応じて適宜設定される。本実施の形態では、故障特定単位部位３１の機能が区分の条件であるので、判定単位部位３２は、故障特定単位部位３１が有する機能に基づいた単位部位として区分されている。

このように診断対象３０が、複数の故障特定単位部位３１に区分され、これら故障特定単位部位３１が判定単位部位３２に区分されていれば、それぞれの判定単位部位３２に関する診断試験（例えば、当該診断対象３０が有する複数の機能についての試験等）が行われる。これにより、個々の判定単位部位３２について少なくとも一つの試験結果が取得される。具体的な診断試験の内容（診断項目）については特に限定されず、診断対象３０の種類、用途、ハードウェア構成等に応じて適宜設定される。

本実施の形態に係る診断方法では、前記の通り、診断対象３０を複数の単位部位に予め区分するとともに、各単位部位について試験結果を想定し、図１に示すように単位部位と想定される試験結果とを関連付ける関連化処理（ステップＳ１０１）を行う。

具体的には、図２に示す例であれば、診断対象３０に対して三つの診断項目（項目Ａ，Ｂ，Ｃ）で診断試験が行われるとしたときに、各診断項目について想定し得る全ての試験結果（想定試験結果）を導き出す。例えば、項目Ａについての診断試験では、想定試験結果として結果Ａ１およびＡ２が導き出され、項目Ｂについての診断試験では、想定試験結果として結果Ｂ１およびＢ２が導き出され、項目Ｃについての診断試験では、想定試験結果として結果Ｃ１，Ｃ２，およびＣ３が導き出されるとする。ここで、診断対象３０は、二つの故障特定単位部位３１に区分され、四つの判定単位部位３２に区分されている。そこで、四つの判定単位部位３２に対して、各想定試験結果を関連付ける。

本実施の形態では、図１および図２に示すように、試験結果−単位部位対応表を用いて、想定試験結果と判定単位部位３２とが関連付けられる。なお、説明の便宜上、試験結果−単位部位対応表を以下「星取表（score table）」と称する。また、関連化処理で得られる星取表は、図２に示すように、判定結果の記入欄は空欄となっている。このような星取表を便宜上「未記入版星取表」と称する。

次に、図１に示すように、それぞれの判定単位部位３２に対して関連付けられた試験結果に基づいて、当該判定単位部位３２の故障状態を予備的に判定する予備的判定処理（ステップＳ１０２）を行う。本実施の形態では、予備的な判定を行うために、故障状態の可能性に基づいて複数の状態が予め設定されている。本実施の形態では、複数の状態としては、図３に示すように、少なくとも、故障している状態（記号：×）、故障していない状態（記号：ＯＫ）、故障している可能性がある状態（記号：△）、および、情報無しまたは不十分の状態（記号：−）という四つの状態が設定されている。

故障している状態とは、対象となる判定単位部位３２が確実に故障していることを意味し、故障していない状態とは、対象となる判定単位部位３２が確実に故障していない（すなわち正常に動作する）ことを意味する。以下の説明では、故障している状態、故障していない状態、故障している可能性がある状態、および、情報無しまたは不十分の状態のいずれも、基本的には記号（“×”、“ＯＫ”、“△”、および“−”）で略記する。

さらに、本実施の形態では“△”（故障している可能性がある状態）を、故障発生確度に応じた複数の段階に区分している。具体的には、図３に示すように、“△”は、故障発生確度が高い状態である“△Ｈ”、故障発生確度が中程度の状態である“△Ｍ”、故障発生確度が低い状態である“△Ｌ”、および故障発生確度が極めて低い状態である“△ＶＬ”の四つの状態に区分している。なお、“△”の区分は、この四段階に限定されず、三段階以下であってもよいし、五段階以上であってもよい。

予備的判定処理の詳細について模式的な一例を挙げて説明する。前述した関連化処理によって、想定試験結果を判定単位部位に関連付けた未記入版星取表が得られる（図２参照）ので、各判定単位部位についての想定試験結果がどのような状態となるか、予備的な判定を行い、図３に示すように未記入版星取表の空欄を埋めていく。なお、図４に示す例では、説明の便宜上、“△”を前記のように四段階で区分せずに図示している。また、空欄が埋められた星取表を便宜上「記入版星取表」と称する。

図４に示す想定される試験結果に対応する記入版星取表のうち、試験項目Ａについて見ると、想定試験結果Ａ１およびＡ２があり得るが、試験結果Ａ１における予備的判定処理では、判定単位部位３２Ａが“−”と判定され、判定単位部位３２Ｂが“ＯＫ”と判定され、判定単位部位３２Ｃが“−”と判定され、判定単位部位３２Ｄが“×”と判定される。また、試験結果Ａ２における予備的判定処理では、判定単位部位３２Ａが“−”と判定され、判定単位部位３２Ｂが“ＯＫ”と判定され、判定単位部位３２Ｃが“−”と判定され、判定単位部位３２Ｄが“−”と判定される。なお、記入版星取表において、試験項目Ｂおよび試験項目Ｃについては詳細な説明を省略する。

このような予備的判定処理により未記入版星取表が埋められて記入版星取表が完成することで、全ての判定単位部位３２について、全ての想定試験結果の予備的判定が完了する。これにより、図４に示すように、想定される試験結果に対応する記入版星取表の予備的判定結果が得られる。

次に、図３および図４に示すように、実際に得られた試験結果と想定される試験結果に対応する記入版星取表の予備的判定結果から、実際に得られた試験結果に該当する予備的判定結果を抽出する予備的判定結果抽出処理（ステップＳ１０３）を行う。なお、抽出される予備的判定結果のみで構成される星取表を便宜上「抽出版星取表」と称する。

図４に示す例では、図中左上にまとめているように、項目Ａについて実際に得られた試験結果が結果Ａ１であり、項目Ｂについて実際に得られた試験結果が結果Ｂ１であり、項目Ｃについて実際に得られた試験結果が結果Ｃ３である。そこで、図中右上に示す記入版星取表から結果Ａ１、結果Ｂ１、および結果Ｃ３の予備的判定結果を抽出し、抽出版星取表（実際に得られた試験結果部分を全て抽出した予備的判定結果）を取得する。

このようにして得られた、実際に得られた試験結果部分を抽出した記入版星取表の予備的判定結果に基づいて、図１に示すように、第一段階の論理判定処理（ステップＳ１０４）が行われる。この第一段階の論理判定処理では、予備的判定結果が得られた判定単位部位３２についての故障を判定する。本実施の形態では、便宜上、この論理判定処理を「判定単位部位別論理判定処理」と称する。

第一段階の論理判定処理によって、図１に示すように、判定単位部位３２の判定結果が得られるので、この判定結果に基づいて、図１に示すように、第二段階の論理判定処理（ステップＳ１０５）が行われる。この第二段階の論理判定処理では、故障特定単位部位３１に属する全て判定単位部位３２の判定結果に基づいて、当該故障特定単位部位３１の故障が判定される。本実施の形態では、便宜上、この論理判定処理を「故障特定単位部位別論理判定処理」と称する。言い換えると、本実施の形態では、予備的判定処理の後には、判定単位部位３２を対象とする第一段階の論理判定処理が行われ、さらにその後には、故障特定単位部位３１を対象とする第二段階の論理判定処理が行われる。

第一段階および第二段階の論理判定処理について具体的に説明する。まず、判定単位部位別論理判定処理（第一段階の論理判定処理）では、前記の各状態の優先順位に基づいて、それぞれの判定単位部位３２について判定が行われる。本実施の形態では、図５に示すように、前記四つの状態のうち、“×”が最も優先度が高く、次いで“ＯＫ”の優先度が高く、次いで“△”の優先度が高く、“−”の優先度が最も低い（×＞ＯＫ＞△＞−）。

したがって、任意の判定単位部位３２について得られた全ての予備的判定結果の中に少なくとも一つの“×”の予備的判定結果が含まれているときには、その判定単位部位３２が故障部位であると判定される。例えば、図４に示す例では、判定単位部位３２Ｄの予備的判定結果のうち結果Ａ１が“×”と判定されているので、判定端部位３２Ｄは故障部位であると判定される。

これに対して、任意の判定単位部位３２の全ての予備的判定結果の中に“×”の予備的判定結果が含まれておらず、かつ、“ＯＫ”の予備的判定結果が含まれているときには、その判定単位部位３２が正常であると判定される。例えば、図４に示す例では、判定単位部位３２Ｂの予備的判定結果には“×”が含まれておらず、結果Ａ１および結果Ｂ１が“ＯＫ”と判定されているので、判定単位部位３２Ｂは正常であると判定される。同様に判定単位部位３２Ｃの予備的判定結果には“×”が含まれておらず、結果Ｃ３が“ＯＫ”と判定されているので、判定単位部位３２Ｃは正常であると判定される。

さらに、任意の判定単位部位３２の全ての予備的判定結果の中に“×”および“ＯＫ”の予備的判定結果がいずれも含まれておらず、かつ、“△”の予備的判定結果が含まれているときには、その判定単位部位３２が故障の可能性がある疑故障部位であると判定される。例えば、図４に示す例では、判定単位部位３２Ａの予備的判定結果には、“×”も“ＯＫ”も含まれておらず、結果Ｂ１が“△”と判定されているので、判定単位部位３２Ａは疑故障部位であると判定される。

また、図３に示すように、本実施の形態では、“△”は複数の段階に区分されているが、これら複数の段階の“△”は、故障発生確度を基準として優先順位が設定され、論理判定処理では、優先順位の上位となる段階の“△”に基づいて判定がなされればよい。例えば、本実施の形態では、故障発生確度の高い段階の状態が優先されるように優先順位が設定されている。したがって、本実施の形態における四段階の“△”の優先度は、上から順に“△Ｈ”、“△Ｍ”、“△Ｌ”および“△ＶＬ”となる（△Ｈ＞△Ｍ＞△Ｌ＞△ＶＬ）。

したがって、本実施の形態では、任意の判定単位部位３２の全ての予備的判定結果に“×”および“ＯＫ”の予備的判定結果がなく“△”の予備的判定結果が複数含まれている場合には、その判定単位部位３２が疑故障部位であることを判定する際に、故障発生確度の高い段階に分類された予備的判定結果が優先される。

具体的には、例えば、全ての予備的判定結果に“△Ｈ”の予備的判定結果が一つ含まれ、“△Ｍ”の予備的判定結果が二つ含まれている場合には、“△Ｈ”の予備的判定結果が優先される。それゆえ、当該判定単位部位３２は、疑故障部位である可能性が高いと判定される。また、例えば、全ての予備的判定結果に“△Ｌ”が一つのみ含まれ、“△ＶＬ”が多数含まれている場合でも、“△Ｌ”の予備的判定結果が優先される。それゆえ、当該判定単位部位３２は、可能性は低いものの疑故障部位であると判定され、疑故障部位の可能性が極めて低いとは判定されない。なお、図４では、“△”が区分されていない簡単な例を図示しているので、この“△”の判定に関しては、後述するように、より具体的な例を挙げて説明する。

次に、故障特定単位部位別論理判定処理（第二段階の論理判定処理）では、前述した第一段階の論理判定処理により得られた判定単位部位３２の判定結果に基づいて、故障特定単位部位３１の故障について判定を行う。第一段階の論理判定処理により得られる判定結果を、便宜上「第一判定結果」とし、一つの故障特定単位部位３１に属する全ての判定単位部位３２の判定結果を、便宜上、「全第一判定結果」と略せば、全第一判定結果に“×”の第一判定結果が含まれているときには、当該故障特定単位部位３１が故障部位であると判定する。この“×”を含む場合は、第一段階の論理判定処理と同様である。

一方、全第一判定結果に“×”の第一判定結果が含まれていない場合には、第一段階とは異なる判定を行う。すなわち、“×”の第一判定結果が含まれておらず“△”の第一判定結果が含まれていれば、その故障特定単位部位３１が疑故障部位であると判定する。また、全第一判定結果が“ＯＫ”である場合には、その故障特定単位部位３１が正常部位であると判定する。したがって、第一段階の論理判定処理では“△”よりも“ＯＫ”が優先されるが、第二段階の論理判定処理では“ＯＫ”よりも“△”が優先されることになる。

このような第二段階の論理判定処理の具体的な一例としては、図６に示すフローチャートの構成を挙げることができる。ここで、第一段階の論理判定処理の判定結果を、便宜上「第一判定結果」と称することに伴い、第二段階の論理判定処理の判定結果を、便宜上「第二判定結果」と称する。図６に示すように、まず、判定の対象となる故障特定単位部位３１における全第一判定結果に“×”の第一判定結果が含まれているか否か（第一判定結果が“×”の判定単位部位３２が含まれているか否か）を判定する（ステップＳ２０１）。“×”の第一判定結果が含まれていれば（ステップＳ２０１でＹＥＳ）、当該故障特定単位部位３１の判定結果（第二判定結果）が“×”である（すなわち故障部位である）と判定され（ステップＳ２０２）、この処理を終了する。

一方、全第一判定結果に“×”の第一判定結果が含まれていない場合には（ステップＳ２０１でＮＯ）、“△”の第一判定結果が含まれているか否かを判定する（ステップＳ２０３）。“△”の第一判定結果が含まれていれば（ステップＳ２０３でＹＥＳ）、当該故障特定単位部位３１の判定結果（第二判定結果）が“△”（すなわち疑故障部位である）と判定され（ステップＳ２０４）、この処理を終了する。

さらに、全第一判定結果に“×”の第一判定結果も“△”の第一判定結果も含まれていない場合には（ステップＳ２０３でＮＯ）、故障特定単位部位３１の全第一判定結果が“ＯＫ”であるか否かを判定する（ステップＳ２０５）。全て“ＯＫ”であれば、当該故障特定単位部位３１の判定結果（第二判定結果）が“ＯＫ”である（すなわち正常部位である）と判定され（ステップＳ２０６）、この処理を終了する。一方、全第一判定結果が“ＯＫ”でなければ（ステップＳ２０５でＮＯ）、当該故障特定単位部位３１の判定結果（第二判定結果）が“−”である（すなわち情報無しまたは不十分の状態である）と判定され（ステップＳ２０７）、この処理を終了する。

なお、図６に示す第二段階の論理判定処理では、ステップＳ２０５において、全ての判定単位部位３２の判定結果（全第一判定結果）が“ＯＫ”であるか否かを判定しているが、このステップＳ２０５の判定は、判定単位部位３２の機能喪失に対する判定結果である場合を指している。後述するように、判定単位部位３２の故障には、機能喪失だけでなく異常作動も含まれる。ステップＳ２０５の判定において、基準となる第一判定結果が機能喪失であれば、全第一判定結果が“ＯＫ”であるか否かを判定すればよいが、基準となる第一判定結果が異常作動であれば、全第一判定結果が“−”であるか否かを判定すればよい。つまり、図６のステップＳ２０５においては、説明の便宜上、判定単位部位３２の第一判定結果が機能喪失である場合の判定例を示しているが、このステップの判定には、判定単位部位３２の第一判定結果が異常作動である場合も含まれる。

このように本実施の形態では、関連化処理（ステップＳ１０１）において、試験項目に基づいて想定される複数の想定試験結果（診断項目）は、各判定単位部位３２に対応して関連付けられ、星取表（試験結果−単位部位対応表）にまとめられる。その後、それぞれの判定単位部位３２において、想定試験結果についての予備的判定処理（ステップＳ１０２）が行われた後に、実際に得られた試験結果に該当する予備的判定結果抽出処理（ステップＳ１０３）が行われることによって、各判定単位部位３２について実際の試験結果に対応する予備的判定結果が得られる。その後、予備的判定結果に基づいて、第一段階として、判定単位部位３２についての論理判定処理（ステップＳ１０４）が行われ、第一判定結果が得られる。さらにその後、第二段階として、判定単位部位３２から見て上位の単位部位に当たる、故障特定単位部位３１について論理判定処理が行われ、第二判定結果が得られる。そして、図１に示すように、診断対象３０に属する全ての故障特定単位部位３１について第二判定結果が得られれば、診断対象３０の診断結果が得られることになる。

ここで、本実施の形態に係る診断方法を実施するに当たって、関連化処理および予備的判定処理は事前に行っておけばよい。したがって、診断対象３０を診断するに当たって毎回必ず実施されるステップは、少なくとも、実際の試験、予備的判定結果抽出処理、第一段階の論理判定処理（判定単位部位別論理判定処理）および第二段階の論理判定処理（故障特定単位部位別論理判定処理）であればよい。関連化処理および予備的判定処理を事前に行ってから、実際の試験、予備的判定結果抽出処理、並びに、第一段階および第二段階の論理判定処理を行うことで、診断対象３０について網羅的な判断が可能になる。

［診断対象および単位部位の具体例］
次に、本実施の形態において、診断対象３０を単位部位（故障特定単位部位３１および判定単位部位３２）に区分した場合の具体例について、図７を参照して具体的に説明する。本実施の形態では、例えば、診断対象３０となる機器が、図７に模式的に示す構成の制御パネル５０であるとする。

この制御パネル５０は、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、キー５３、および電源モジュール５４、並びに、各種配線等を備えている。ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、キー５３、電源モジュール５４および各種配線は、いずれも制御パネル５０のハードウェアに基づく構成であるとともに、制御パネル５０の機能単位となっている。そこで、本実施の形態では、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、キー５３、電源モジュール５４および各種配線等を、制御パネル５０の故障特定単位部位３１として区分する。

これら故障特定単位部位３１は、前述したように、少なくとも一つの判定単位部位３２に区分される。まず、ディスプレイ５１は、図７に示すように、個別チャネル５１１とディスプレイ共通部５１２とに区分することができる。したがって、故障特定単位部位３１であるディスプレイ５１は、個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２という、二つの判定単位部位３２に区分される。

ここで、本実施の形態では、故障特定単位部位３１に複数の機能が含まれている場合には、複数の同種の機能に共通する要素をまとめて一つの判定単位部位３２として区分することができる。また、複数の同種の機能それぞれに個別の要素もまとめて一つの判定単位部位３２として区分することができる。前者の判定単位部位３２を、便宜上「共通機能部」と称し、後者の判定単位部位３２を、便宜上「個別機能部」と称する。

図７に示すディスプレイ５１の例では、このディスプレイ５１の表示画面を構成する複数の画素（ドット）に共通する要素（例えば、表示用ドライバ等）がディスプレイ共通部５１２としてまとめられている。したがって、ディスプレイ共通部５１２は「共通機能部」に相当する。一方、ディスプレイ５１の表示画面を構成する複数の画素そのものは、それぞれ独自の要素であるため、個別チャネル５１１としてまとめられている。したがって、個別チャネル５１１は「個別機能部」に相当する。

これにより、多数の画素（表示機能）に共通する診断試験は、「共通機能部」であるディスプレイ共通部５１２のみに対して設定すればよいので、多数の画素それぞれに対して診断試験を設定して実行する必要がない。それゆえ、表示機能に対して設定される診断項目数を最小レベルにすることが可能となる。また、多数の画素それぞれに独自の要素は、個別チャネル５１１という「個別機能部」に集約されているので、一つの「個別機能部」に対してまとめて同種の診断項目を設定することが可能となる。それゆえ、一つの故障特定部位単位３１当たりの判定単位部位３２の数が増加することを有効に抑制することができる。

また、ＣＰＵモジュール５２は、図７に示すように、ＣＰＵモジュール共通部５２１、画面出力部５２２、キー入力部５２３、およびバス通信部５２４に区分することができる。したがって、故障特定単位部位３１であるＣＰＵモジュール５２は、ＣＰＵモジュール共通部５２１、画面出力部５２２、キー入力部５２３、およびバス通信部５２４という、四つの判定単位部位３２に区分される。また、画面出力部５２２およびバス通信部５２４は、いずれも独立した判定単位部位３２であるが、キー入力部５２３は、複数のキー５３に対応する入力機能をまとめた判定単位部位３２であるので、「個別機能部」に相当する。さらに、ＣＰＵモジュール共通部５２１は、ＣＰＵモジュール５２そのものの動作に共通する機能で構成される判定単位部位３２であるので、「共通機能部」に相当する。

また、制御パネル５０の各種配線等は、図７に示す構成例では、画面バス５５１、キー信号配線５５２、外部バス５５３、内部電源配線５５４、および外部電源配線５５５により構成される。それゆえ、故障特定単位部位３１である各種配線等は、画面バス５５１、キー信号配線５５２、外部バス５５３、内部電源配線５５４、および外部電源配線５５５という、五つの判定単位部位３２に区分される。また、画面バス５５１、外部バス５５３、内部電源配線５５４、および外部電源配線５５５は、いずれも独立した判定単位部位３２と見なせるが、キー信号配線５５２は、キー５３の数に応じた複数の配線をまとめた判定単位部位３２であるので、「個別機能部」に相当する。

ここで、故障特定単位部位３１のうち、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、および各種配線等は、いずれも複数の判定単位部位３２に区分されるが、キー５３および電源モジュール５４は、故障特定単位部位３１であるとともに、それ自体が独立した判定単位部位３２である。そのため、キー５３および電源モジュール５４は、単一の判定単位部位３２からなる故障特定単位部位３１である。なお、キー５３は、制御パネル５０が備える複数のキー５３をまとめた故障特定単位部位３１（判定単位部位３２）であるので、「個別機能部」に相当する。

制御パネル５０を構成するディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、および電源モジュール５４は、図７では、それぞれ模式的な一つのブロックとして示しているが、実際には多数の部品等で構成されている。また、キー５３も、図７では一つのブロックとして示しているが、実際には多数のキーを包括したものであって、多種の部品等で構成されている。さらに、各種配線等も、その機能に応じて多数かつ多種類の配線で構成されている。それゆえ、これら多くの部品または配線それぞれについて診断項目を設定して診断試験を行うと、診断項目数が増加して、故障部位を容易に特定できなくなる。

これに対して、本実施の形態では、診断対象３０を複数の故障特定単位部位３１に区分し、各故障特定単位部位３１をさらに判定単位部位３２に区分した上で、例えば故障特定単位部位３１の機能に対応して診断項目を設定している。これにより、診断項目数の大幅な増加を有効に回避した上で、診断試験を行うことができる。しかも、診断対象３０の具体的なハードウェア構成を把握していなくても、診断対象３０の機能を把握していれば診断項目を設定できる。そのため、診断項目の設定が容易となり、かつ、診断項目の漏れが生じる可能性も抑制することができる。

なお、本実施の形態における制御パネル５０は、公知の構成であればよく、また、制御パネル５０が備えるディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、キー５３、電源モジュール５４、および各種配線等も公知の構成であればよい。それゆえ、制御パネル５０に関する具体的な説明は省略する。また、制御パネル５０は、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、キー５３、電源モジュール５４、および各種配線等以外の故障特定単位部位３１を備えてもよい。また、本実施の形態における診断対象３０は、制御パネル５０に限定されず、公知の様々な機器またはシステムであってもよいことはいうまでもない。

［論理判定処理の例］
次に、図７に示す制御パネル５０に対して診断試験を行い、前述した診断方法により故障部位を特定する具体的な一例について、図８を参照して説明する。

本実施の形態では、診断対象３０である制御パネル５０が、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、キー５３、電源モジュール５４、および各種配線等という複数の故障特定単位部位３１を含む。本実施の形態では、関連化処理において、それぞれの想定試験結果（診断項目）をそれぞれの判定単位部位３２に関連付けてまとめた未記入版星取表（試験結果−単位部位対応表）が作成され、予備的判定処理は、この未記入版星取表の空欄を埋めて記入版星取表を完成することで行われるが、さらに、論理判定処理も、前記の通り、記入版星取表に予備的判定結果抽出処理を行うことにより抽出された抽出版星取表に基づいて行われる。

まず、記入版星取表の一例としては、具体的には、図８に示すように、縦側に診断項目および試験結果を列挙し、横側に、故障特定単位部位３１別に判定単位部位３２を列挙したマトリクス状の構成を挙げることができる。この星取表は、所定のサイズの紙に印刷されたものであってもよいし、表示画面上に表示されたものであってもよい。

ここで、図８に示す星取表では、各診断試験について得られる可能性のある試験項目および試験結果を網羅的に記載している。例えば、試験項目として「１．バス機能確認試験」を行った場合、「ａ．異常作動」、「ｂ．機能喪失」または「ｃ．正常」のいずれかの試験結果が得られることになる。また、図８に示す星取表では、第一判定結果および第二判定結果は記載しておらず、予備的判定結果のみを記載している。

また、図８に示す記入版星取表（並びに、後述する図９〜図１３に示す星取表）においては、説明の便宜上、横側の並びを「行」と称し、縦側の並びを「列」と称するものとする。また、行の序数については、最も上の行を「第一行」と称し、以下、下に向かって「第二行」、「第三行」等と称する。一方、列の序数については、最も左側の列を「第一列」と称し、以下、右に向かって「第二列」、「第三列」等と称する。

本実施の形態における故障特定単位部位３１としては、前記の通り、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、キー５３、電源モジュール５４、および各種配線等が挙げられ、これら故障特定単位部位３１のうち、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２および各種配線等は、複数の判定単位部位３２で構成され、キー５３および電源モジュール５４は、一つの判定単位部位３２で構成されている。そこで、図８に示す記入版星取表では、第一行で、判定単位部位３２を具体的に列挙するとともに、これら判定単位部位３２が特定の上位の単位部位である故障特定単位部位３１に属することを明記している。

例えば、星取表の第一行において最も左側に記載される判定単位部位３２は、個別チャネル５１１であり、その右横にはディスプレイ共通部５１２（図７のブロック図では単に「共通部」と略記）が記載されている。これら判定単位部位３２はディスプレイ５１という故障特定単位部位３１を構成しているので、図８に示す記入版星取表では、第一行の上方において、これら二つの判定単位部位３２の各列にまたがるように「ディスプレイ」の項目が追記されている。同様に、図８に示す記入版星取表では、ＣＰＵモジュール５２および各種配線等についても、複数の判定単位部位３２の列にまたがるように第一行の上方において「ＣＰＵモジュール」および「各種配線等」の項目（すなわち故障特定単位部位３１の項目）が追記されている。

なお、図８に示す記入版星取表（並びに、後述する図９〜図１３に示す星取表）の第一行では、前記のディスプレイ共通部５１２だけでなくＣＰＵモジュール共通部５２１も表中「共通部」と略記している。また、星取表の第一行における「配線・外部電源」は、外部電源配線５５５を指し、「配線・内部電源」は、内部電源配線５５４を指し、「配線・外部バス」は、外部バス５５３を指し、「配線・画面バス」は、画面バス５５１を指し、「配線・キー信号」は、キー信号配線５５２を指す。

本実施の形態における診断試験は、星取表の第一列に示すように、「１．バス機能確認試験」、「２．画面表示確認試験」、および「３．キー機能確認試験」の三つの項目について行われている。そして、これらの診断試験を行うことにより、それぞれの試験項目について試験結果が得られる。

図８に示す記入版星取表では、第二列に各試験項目に対する試験結果のバリエーションを記載しており、第二行では、試験結果を予備的に判定するための「故障の種類」を記載している。例えば、「１．バス機能確認試験」を行うことによって、星取表の第二列に示すように、「ａ．異常作動」、「ｂ．機能喪失」および「ｃ．正常」のいずれかの試験結果が得られ、「２．画面表示確認試験」を行うことによって、「ａ．異常作動／一部喪失」、「ｂ．全機能喪失」および「ｃ．正常」のいずれかの試験結果が得られ、「３．キー機能確認試験」を行うことによって、「ａ．異常作動」、「ｂ．全機能喪失」、「ｃ．１個機能喪失」および「ｄ．正常」のいずれかの試験結果が得られる。

具体的には、例えば、星取表の第二列の第三行および第四行に示すように、「１．バス機能確認試験」を行った結果、バスによる通信機能が喪失している状態（ｂ．機能喪失）だけでなく、バスによる通信に異常が発生している状態（ａ．異常作動）の場合もあり得る。同様に、星取表の第二列の第六行および第七行に示すように、「２．画面表示確認試験」を行った結果、ディスプレイ５１の表示が全て喪失している状態（ｂ．全機能喪失）だけでなく、異常な図像が表示されたり、画面上の一部の表示が喪失したりしている状態（ａ．異常作動／一部喪失）の場合もあり得る。また、星取表の第二列の第九行〜第十一行に示すように、「３．キー機能確認試験」を行った結果、複数のキー５３の全ての機能が喪失している状態（ｂ．全機能喪失）、個々のキー５３の機能が喪失している状態（ｃ．１個機能喪失）だけでなく、任意のキー５３を操作したときに異常な操作結果が得られる状態（ａ．異常作動）の場合もあり得る。このように、診断結果としては、正常以外の状態として異常作動および機能喪失が評価される。

また、星取表の第二行の「失」は、機能喪失の試験結果を意味し、「異」は、異常作動の試験結果を意味する。機能喪失は、診断対象３０が有する機能の作動が停止する状態であるが、機能の種類によっては、故障としては、機能喪失だけでなく、異常な状態のまま作動を継続する状態である異常作動も含まれる。機能喪失および異常作動は互いに原因およびその影響が異なるため、本実施の形態では、予備的判定処理を行うに際して、「故障の種類」として機能喪失と異常作動とを明確に区別して取り扱う。

図８に示すように、各判定単位部位３２の故障の種類は、基本的には、機能喪失であるが、ＣＰＵモジュール５２に属するＣＰＵモジュール共通部５２１については、機能喪失だけでなく異常作動もあり得る。つまり、ＣＰＵモジュール共通部５２１は、ＣＰＵモジュール５２における演算処理の中心となる機能であるため、単に機能喪失となる故障以外に、ＣＰＵモジュール５２が異常な演算を行う故障（異常作動）も発生し得る。一方、他の判定単位部位３２は、いずれも異常作動の可能性が無いか、異常作動についてほぼ無視できるか、あるいは、異常作動についてはＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動に集約することができるので、機能喪失のみが判定される。

図８に示す記入版星取表では、第三行以降かつ第三列以降のマトリクスが、各判定単位部位３２に関しての予備的判定結果を示す。具体的には、記入版星取表の第三行〜第五行が「１．バス機能確認試験」の予備的判定結果の例であり、第六行〜第八行が「２．画面表示確認試験」の予備的判定結果の例であり、第九行〜第十二行が「３．キー機能確認試験」の予備的判定結果の例である。また、第三列および第四列がディスプレイ５１の予備的判定結果の例であり、第五列がキー５３の予備的判定結果の例であり、第六列〜第十列がＣＰＵモジュール５２の予備的判定結果の例であり、第十一列が電源モジュール５４の予備的判定結果の例であり、第十二列〜第十六列が各種配線等の予備的判定結果の例である。

このように、本発明に係る診断方法では、判定単位部位３２の機能喪失を診断する診断試験のみが行われてもよいが、判定単位部位３２の種類によっては異常作動を診断する診断試験も併せて行われてもよい。また、予備的判定処理では、機能喪失および異常作動のそれぞれが、“×”、“ＯＫ”、“△”または“−”等の各状態に判定されればよい。

［論理判定処理の具体例］
次に、図９〜図１３を参照して、図８の記入版星取表に例示した試験項目、試験結果、および故障の種類に基づいて、本実施の形態における予備的判定処理、予備的判定結果抽出処理、論理判定処理、並びに、故障部位の特定（診断結果の取得）について具体的に説明する。

図８に示す記入版星取表は、３項目の診断試験で得られる、想定される全ての試験結果を判定単位部位３２（および故障特定単位部位３１）に関連付けて網羅的にまとめたものであるが、図９〜図１３に示す星取表は、それぞれ、図８に示す記入版星取表から予備的判定結果抽出処理により得られた抽出版星取表であって、３項目の診断試験により得られる実際の試験結果に基づく、具体的な予備的判定結果の例である。そこで、これら具体的な予備的判定結果の例に基づいて、論理判定処理を説明する。

まず、図９に示す抽出版星取表では、「１．バス機能確認試験」および「２．画面表示確認試験」による試験結果は「ｃ．正常」であるが、「３．キー機能確認試験」による試験結果は、「ｂ．全機能喪失」である場合に、図８に示す記入版星取表から予備的判定結果抽出処理により抽出された状態を示している。なお、事前に「１．バス機能確認試験」、「２．画面表示確認試験」および「３．キー機能確認試験」の想定される全ての試験結果と各判定単位部位３２とを関連付ける関連化処理を行った後に（図１および図２のステップＳ１０１参照）、予備的判定処理を行っている（図１および図３のステップＳ１０２参照）。

具体的には、「１．バス機能確認試験」の診断試験を行った結果に対して、ディスプレイ５１に属する個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２（いずれも判定単位部位３２）、キー５３（故障特定単位部位３１かつ判定単位部位３２）、ＣＰＵモジュール５２に属する画面出力部５２２、キー入力部５２３、およびＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動区分（いずれも判定単位部位３２）、各種配線等に属する画面バス５５１およびキー信号配線５５２（いずれも判定単位部位３２）のいずれの予備的判定結果も“−”として判定されているが、ＣＰＵモジュール５２に属するバス通信部５２４およびＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失区分（いずれも判定単位部位３２）、電源モジュール５４（故障特定単位部位３１かつ判定単位部位３２）、各種配線等に属する外部電源配線５５５、内部電源配線５５４、および外部バス５５３（いずれも判定単位部位３２）のいずれの予備的判定結果も“ＯＫ”として判定されている。

次に、「２．画面表示確認試験」の診断試験を行った結果に対して、ディスプレイ５１に属する個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２、ＣＰＵモジュール５２に属する画面出力部５２２、バス通信部５２４、ＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失区分、電源モジュール５４、各種配線等に属する外部電源配線５５５、内部電源配線５５４、外部バス５５３、および画面バス５５１のいずれの予備的判定結果も“ＯＫ”として判定されているが、キー５３、ＣＰＵモジュール５２に属するキー入力部５２３、およびＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動区分、各種配線等に属するキー信号配線５５２のいずれの予備的判定結果も“−”として判定されている。

次に、「３．キー機能確認試験」の診断試験を行った結果に対して、ディスプレイ５１に属する個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２、ＣＰＵモジュール５２に属する画面出力部５２２、各種配線等に属する画面バス５５１のいずれの予備的判定結果も“−”として判定されているが、キー５３、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動区分、各種配線等に属するキー信号配線５５２の予備的判定結果は、いずれも“△ＶＬ”として判定されており、各種配線等に属する外部電源配線５５５、内部電源配線５５４、および外部バス５５３の予備的判定結果は、いずれも“△Ｌ”として判定されており、ＣＰＵモジュール５２に属するキー入力部５２３、バス通信部５２４、ＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失区分、電源モジュール５４の予備的判定結果は、いずれも“△Ｍ”として判定されている。

このようにして取得された予備的判定結果について第一段階の論理判定処理（すなわち、判定単位部位別論理判定処理）を行う（図１および図５のステップＳ１０４参照）。まず、ディスプレイ５１は上位の単位部位（故障特定単位部位３１）であるため、当該ディスプレイ５１に属する下位の単位部位（判定単位部位３２、すなわち、個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２）についてそれぞれ判定を行う。個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２のいずれにおいても、三つの予備的判定結果のうち一つが“ＯＫ”（２．画面表示確認試験の予備的判定結果）であり、残りの二つは“−”である。それゆえ、個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２は、いずれも“ＯＫ”と判定される。

次に、キー５３は故障特定単位部位３１であるとともに判定単位部位３２であり、三つの予備的判定結果に基づいて第一段階の論理判定処理（すなわち判定単位部位別論理判定処理）を行う（図１および図５のステップＳ１０４参照）。三つの予備的判定結果のうち一つの予備的判定結果（３．キー機能確認試験）が“△ＶＬ”で、残りの二つは“−”である。それゆえ、キー５３は“△ＶＬ”と判定される。

次に、ＣＰＵモジュール５２は上位の単位部位（故障特定単位部位３１）であるため、当該ＣＰＵモジュール５２に属する下位の単位部位（判定単位部位３２、すなわち、画面出力部５２２、キー入力部５２３、バス通信部５２４、ＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失および異常作動）について判定を行う。画面出力部５２２については、三つの予備的判定結果のうち一つが“ＯＫ”（２．画面表示確認試験の予備的判定結果）であり、残りの二つは“−”である。それゆえ、画面出力部５２２は“ＯＫ”と判定される。キー入力部５２３については、三つの予備的判定結果のうち一つが“△Ｍ”（３．キー機能確認試験の予備的判定結果）であり、残りの二つは“−”である。それゆえ、キー入力部５２３は“△Ｍ”と判定される。

バス通信部５２４およびＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失については、いずれも、三つの予備的判定結果のうち二つが“ＯＫ”であり、残りの一つは“△Ｍ”（３．キー機能確認試験の予備的判定結果）である。第一段階では“△”よりも“ＯＫ”が優先されるので、バス通信部５２４およびＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失はいずれも“ＯＫ”と判定される。また、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動については、三つの予備的判定結果のうち一つが“△ＶＬ”（３．キー機能確認試験の予備的判定結果）であり、残りの二つは“−”である。それゆえ、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動は“△ＶＬ”と判定される。

次に、電源モジュール５４は故障特定単位部位３１であるとともに判定単位部位３２であり、三つの予備的判定結果のうち二つが“ＯＫ”で、残りの一つが“△Ｍ”（３．キー機能確認試験の予備的判定結果）である。それゆえ、電源モジュール５４は“ＯＫ”と判定される。

次に、各種配線等は上位の単位部位（故障特定単位部位３１）であるため、当該各種配線等に含まれる下位の単位部位（判定単位部位３２、すなわち、外部電源配線５５５、内部電源配線５５４、外部バス５５３、画面バス５５１およびキー信号配線５５２）について判定を行う。外部電源配線５５５、内部電源配線５５４および外部バス５５３については、いずれも三つの予備的判定結果のうち二つが“ＯＫ”であり、残りの一つが“△Ｌ”（３．キー機能確認試験の予備的判定結果）である。それゆえ、これらはいずれも“ＯＫ”と判定される。画面バス５５１については、三つの予備的判定結果のうち一つが“ＯＫ”（２．画面表示確認試験）であり、残りの一つが“−”である。それゆえ、画面バス５５１は“ＯＫ”と判定される。キー信号配線５５２については、三つの予備的判定結果のうち一つが“△ＶＬ”であり、残りの二つが“−”である。それゆえ、キー信号配線５５２は“△ＶＬ”と判定される。

このような第一段階の論理判定処理により、全ての判定単位部位３２について判定結果（第一判定結果）が得られる。なお、これら判定単位部位３２のうち、キー５３および電源モジュール５４は、故障特定単位部位３１でもあるため、他の故障特定単位部位３１のように上位の単位部位および下位の単位部位からなる二階層となっていない。それゆえ、判定単位部位３２の判定結果（第一判定結果）が、最終的な故障特定単位部位３１の判定（第二判定結果）となる。したがって、図９に示す抽出版星取表に示すように、キー５３は“△ＶＬ”と判定され、電源モジュール５４は“ＯＫ”と判定される。

一方、他の故障特定単位部位３１であるディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、および各種配線等は二階層となっており、第一段階の論理判定処理が終了した時点では、判定単位部位３２それぞれの判定結果（第一判定結果）しか得られていないことになる。そこで、故障特定単位部位３１について、第二段階の論理判定処理（すなわち、故障特定単位部位別論理判定処理）を行う（図１および図５のステップＳ１０５および図６参照）。まず、ディスプレイ５１については、いずれの判定単位部位３２（個別チャネル５１１およびディスプレイ共通部５１２）も“ＯＫ”と判定されている。そこで、ディスプレイ５１は最終的に“ＯＫ”と判定される。

次に、ＣＰＵモジュール５２については、画面出力部５２２、バス通信部５２４、およびＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失はいずれも“ＯＫ”と判定されているが、キー入力部５２３は“△Ｍ”と判定され、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動は“△ＶＬ”と判定されている。第二段階の論理判定処理では、“ＯＫ”よりも“△”が優先され、“△”については故障発生確度の高い状態が優先される。そこで、ＣＰＵモジュール５２は最終的に“△Ｍ”と判定される。

次に、各種配線等については、外部電源配線５５５、内部電源配線５５４、外部バス５５３および画面バス５５１がいずれも“ＯＫ”と判定されているが、キー信号配線５５２は“△ＶＬ”と判定されている。それゆえ、各種配線等は最終的に“△ＶＬ”と判定される。

これら判定結果（第二判定結果）をまとめると、図９に示す例では、キー５３の機能が全て喪失した故障が発生している状態であって、診断対象３０である制御パネル５０の五つの故障特定単位部位３１のうち、ディスプレイ５１および電源モジュール５４については故障していない（正常部位）が、キー５３、ＣＰＵモジュール５２、および各種配線等に故障している可能性がある（疑故障部位）。

これらの疑故障部位の中でも、ＣＰＵモジュール５２が故障している可能性が比較的高い。そこで、ＣＰＵモジュール５２に属する五つの判定単位部位３２について見れば、キー入力部５２３が“△Ｍ”と判定され、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動が“△ＶＬ”と判定されている。それゆえ、キー入力部５２３の故障の可能性が高く、可能性としては低いが、ＣＰＵモジュール共通部５２１も故障している可能性がある、と判定される。このように、図９に示す例では、五つの故障特定単位部位３１のうちＣＰＵモジュール５２が、最も故障している可能性が高い疑故障部位であるという診断結果が得られる。

次に、図１０に示す抽出版星取表では、「１．バス機能確認試験」および「２．画面表示確認試験」による試験結果は「ｃ．正常」であるが、「３．キー機能確認試験」による試験結果は、「ｃ．１個機能喪失」である場合を示している。これら試験結果は前述した関連化処理、予備的判定処理、および予備的判定結果抽出処理により判定されているので、その具体的な説明は省略する。

前述したように、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、および各種配線等が、二階層の故障特定単位部位３１（すなわち、複数の判定単位部位３２で構成されている故障特定単位部位３１）であり、キー５３および電源モジュール５４が、一階層の故障特定単位部位３１（すなわち、一つの判定単位部位３２で構成されている故障特定単位部位３１）である。そして、これら故障特定単位部位３１を構成する複数の判定単位部位３２については、予備的判定処理および予備的判定結果抽出処理が行われている。そこで、全ての判定単位部位３２の予備的判定結果に基づいて、第一段階の論理判定処理の判定を行う。この判定の詳細な説明は省略するが、図１０に示す例では、二階層の故障特定単位部位３１に属する判定単位部位３２それぞれが図１０に示すように判定されるとともに、故障特定単位部位３１かつ判定単位部位３２であるキー５３は“△Ｈ”と最終判定され、電源モジュール５４は“ＯＫ”と最終判定される。

その後、判定単位部位３２の判定結果（第一判定結果）に基づいて、二階層の故障特定単位部位３１について第二段階の論理判定処理を行う。まず、ディスプレイ５１については、当該ディスプレイ５１に属する判定単位部位３２のいずれも“ＯＫ”と判定されている。それゆえ、ディスプレイ５１は最終的に“ＯＫ”と判定される。また、ＣＰＵモジュール５２については、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動のみが“△ＶＬ”と判定され、残りの判定単位部位３２が“ＯＫ”と判定されている。それゆえ、ＣＰＵモジュール５２は最終的に“△ＶＬ”と判定される。また、各種配線等については、キー信号配線５５２のみが“△Ｌ”と判定され、残りの判定単位部位３２が“ＯＫ”と判定されている。それゆえ、各種配線等は最終的に“△Ｌ”と判定される。

このような第二判定結果から、次のような診断結果を得ることが可能となる。すなわち、キー５３のうち１個の機能が喪失した場合、３項目の診断試験の結果、キー５３、ＣＰＵモジュール５２、および各種配線等が疑故障部位として判定される。これら疑故障部位の中でも、キー５３そのものが故障している可能性が最も高いが、各種配線等が故障している可能性もある。また、ＣＰＵモジュール共通部５２１が故障（異常作動）している可能性もわずかながらある。

次に、図１１に示す抽出版星取表では、「１．バス機能確認試験」および「３．キー機能確認試験」による試験結果は「ｃ．正常」であるが、「２．画面表示確認試験」による試験結果は、「ｂ．全機能喪失」である場合を示している。これら試験結果は前述した関連化処理、予備的判定処理、および予備的判定結果抽出処理により判定されているので、その具体的な説明は省略する。そして、全ての判定単位部位３２の抽出済み予備的判定結果に基づいて、第一段階の論理判定処理を行う。この判定の具体的な説明は省略するが、図１１に示す例では、二階層の故障特定単位部位３１に属する判定単位部位３２それぞれが図１１に示すように判定されるとともに、故障特定単位部位３１かつ判定単位部位３２であるキー５３および電源モジュール５４は、いずれも“ＯＫ”と最終判定される。

その後、判定単位部位３２の判定結果（第一判定結果）に基づいて、二階層の故障特定単位部位３１について第二段階の論理判定処理を行う。まず、ディスプレイ５１については、個別チャネル５１１が“△ＶＬ”と判定され、ディスプレイ共通部５１２が“△Ｍ”と判定されている。それゆえ、ディスプレイ５１は最終的に“△Ｍ”と判定される。また、ＣＰＵモジュール５２については、画面出力部５２２が“△Ｍ”と判定されるとともに、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動が“△ＶＬ”と判定され、残りの判定単位部位３２が“ＯＫ”と判定されている。それゆえ、ＣＰＵモジュール５２は最終的に“△Ｍ”と判定される。また、各種配線等については、画面バス５５１のみが“△Ｌ”と判定され、残りの判定単位部位３２が“ＯＫ”と判定されている。それゆえ、各種配線等は最終的に“△Ｌ”と判定される。

このような第二判定結果から、次のような診断結果を得ることが可能となる。すなわち、ディスプレイ５１の画面表示機能が全喪失した場合、３項目の診断試験の結果、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２、および各種配線等が疑故障部位として判定される。これら疑故障部位の中でも、ディスプレイ５１またはＣＰＵモジュール５２が同等の故障発生確度で故障している可能性がある。また、これら疑故障部位に比べて故障発生確度はより低いものの、各種配線等が故障している可能性がある。

次に、図１２に示す抽出版星取表では、「１．バス機能確認試験」による試験結果が「ｂ．機能喪失」となっており、「２．画面表示確認試験」および「３．キー機能確認試験」による試験結果が「ｂ．全機能喪失」となっている場合を示している。これら試験結果は前述した関連化処理、予備的判定処理、および予備的判定結果抽出処理により判定され（具体的な説明は省略）、全ての判定単位部位３２の抽出済み予備的判定結果について、第一段階の論理判定処理を行う（具体的な説明は省略）。図１２に示す例では、二階層の故障特定単位部位３１に属する判定単位部位３２それぞれが図１２に示すように判定されるとともに、故障特定単位部位３１かつ判定単位部位３２であるキー５３は“△ＶＬ”と最終判定され、電源モジュール５４は“△Ｍ”と最終判定される。

その後、判定単位部位３２の判定結果（第一判定結果）に基づいて、二階層の故障特定単位部位３１について第二段階の論理判定処理を行う。まず、ディスプレイ５１については、個別チャネル５１１が“△ＶＬ”と判定され、ディスプレイ共通部５１２が“△Ｍ”と判定されている。それゆえ、ディスプレイ５１は最終的に“△Ｍ”と判定される。また、ＣＰＵモジュール５２については、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動の予備的判定結果が全て“△ＶＬ”であるため、この異常作動のみが“△ＶＬ”と判定されているが、ＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失を含めて、残りの判定単位部位３２が“△Ｍ”と判定されている。それゆえ、ＣＰＵモジュール５２は最終的に“△Ｍ”と判定される。また、各種配線等については、キー信号配線５５２のみが“△ＶＬ”と判定され、残りの判定単位部位３２が“△Ｌ”と判定されている。それゆえ、各種配線等は最終的に“△Ｌ”と判定される。

このような第二判定結果から、次のような診断結果を得ることが可能となる。すなわち、診断対象３０である制御パネル５０の全ての機能が喪失した場合、３項目の診断試験の結果、五つの故障特定単位部位３１全てが疑故障部位として判定されるが、これらの中でも、ディスプレイ５１、ＣＰＵモジュール５２および電源モジュール５４が、いずれも同等の故障発生確度で故障している可能性がある。また、これら疑故障部位に比べて故障発生確度は低いものの、各種配線等が故障している可能性があり、さらに故障発生確度がより低いもののキー５３が故障している可能性もある。

次に、図１３に示す抽出版星取表では、「１．バス機能確認試験」、「２．画面表示確認試験」および「３．キー機能確認試験」による試験結果が全て「正常」となっている場合を示している。それゆえ、予備的判定処理および予備的判定結果抽出処理では、いずれの判定単位部位３２についても“ＯＫ”として判定されるので、第一段階の論理判定処理でも全ての判定単位部位３２の機能喪失が“ＯＫ”と判定され、第二段階の論理判定処理でも、全ての故障特定単位部位３１が“ＯＫ”と判定される。

特に、図１３に示す例では、ＣＰＵモジュール共通部５２１の異常作動は“−”と判定されているが、ＣＰＵモジュール共通部５２１の機能喪失を含む他の判定単位部位３２が全て“ＯＫ”と判定されているので、第二段階の論理判定処理では、ＣＰＵモジュール５２も“ＯＫ”と判定される。それゆえ、制御パネル５０の五つの故障特定単位部位３１の全てが“ＯＫ”であると最終判定されるので、異常なしという診断結果が得られる。

このように、本実施の形態によれば、診断対象３０を複数の故障特定単位部位３１に区分するとともに、それぞれの故障特定単位部位３１を、さらに一つ以上の判定単位部位３２に区分する。そして、それぞれの判定単位部位３２に関する診断試験を行うことになる。それゆえ、診断項目（試験結果）の組合せの爆発を有効に抑制することができる。また、各判定単位部位３２と診断試験との対比を明確化できるので、診断項目と故障部位または疑故障部位との因果関係も明確化することができる。これにより、診断項目の抜けの発見が容易となり、診断項目の網羅性を容易に検証することができる。

また、予備的判定処理および論理判定処理の判定結果に“ＯＫ”が含まれるので、正常な故障特定単位部位３１（正常部位）と故障部位または疑故障部位とを有効に選別することができる。それゆえ、故障部位の特定を効率化することができる。さらに、正常部位以外の故障特定単位部位３１は、第二段階の論理判定処理により故障部位または疑故障部位であると判定される。そのため、論理的に適切な診断結果が得られるだけでなく、故障部位または疑故障部位を特定する過程を追跡しやすくすることができる。それゆえ、診断項目が多くなったとしても論理判定処理の欠陥を容易に見つけ出すことが可能となる。

特に、本実施の形態では、関連化処理により、判定単位部位３２と試験結果とが星取表（試験結果−単位部位対応表）に基づいて関連付けられてまとめられている。それゆえ、診断項目（試験結果）の抜けの発見が容易となり、診断項目の網羅性を容易に検証することができるとともに、故障部位の特定を効率化することができる。さらに、星取表を参照することによって、故障部位または疑故障部位を特定する過程を追跡しやすくすることができる。それゆえ、診断項目が多くなったとしても論理判定処理の欠陥を容易に見つけ出すことが可能となる。

［変形例］
本発明に係る診断方法の代表的な実施の形態を、前記の通り説明したが、本発明は、本実施の形態に限定されない。例えば、本実施の形態の代表的な変形例について、図１４〜図１６を参照して具体的に説明する。

例えば、本実施の形態では、予備的判定処理で分類される状態の種類は、少なくとも“×”、“ＯＫ”および“△”の３種類であればよく、本実施の形態で例示した“−”の状態は必須ではない。したがって、例えば、図１４に示すように、判定単位部位３２を“×”、“ＯＫ”または“△”に判定する予備的判定処理が行われてもよく、第一段階の論理判定処理では、×＞ＯＫ＞△の順で優先順位が設定された上で論理判定処理が行われ、第二段階の論理判定処理では、×＞△＞ＯＫの順で優先順位が設定された上で論理判定処理が行われてもよい。

さらに、図１４に示すように、“△”は、本実施の形態のように、複数の段階に区分されていなくてもよい。また“△”の複数の段階の優先度についても、必ずしも△Ｈ＞△Ｍ＞△Ｌ＞△ＶＬでなくてもよく、例えば、この逆の順で優先度が設定されてもよい。また、“△”の段階を設定する手法についても特に限定されず、例えば、各段階を数値に置き換えて複数の結果の平均値を算出する等の手法を採用することもできる。

また、本実施の形態では、図８〜図１３に例示したような星取表（試験結果−単位部位対応表）を用いて、判定単位部位３２と試験結果との関連付けを行うとともに、各種の判定処理を行っているが、本発明はこれに限定されず、星取表を用いずに関連付けおよび判定処理を行ってもよい。

例えば、図１５に示すように、予備的判定処理の予備的判定結果と第一段階および第二段階の論理判定処理の判定結果とを、制御パネル５０を示すブロック図の上に記載する手法が挙げられる。このようなブロック図上の記載によって、判定単位部位３２と試験結果とをブロック構成に基づいて関連付けられるとともに、ブロック構成に基づいて予備的判定処理および論理判定処理を行うことができる。

図１５に示す例では、図７と実質的に同一のブロック図が図示されており、判定単位部位３２のブロック内に、予備的判定結果と第一判定結果とが図示されている（図１５の左から順に「１．バス機能確認試験」、「２．画面表示確認試験」および「３．キー機能確認試験」の抽出済み予備的判定結果を示し、最も右には第一判定結果が示される）。また、複数の判定単位部位３２で構成される故障特定単位部位３１のブロックについては、当該ブロックの名称の右横に第二判定結果を示している。このようなブロック図および判定結果は、星取表の場合と同様に、所定のサイズの紙に印刷されたものであってもよいし、表示画面上に表示されたものであってもよい。

図１５に示す論理判定処理について簡単に説明する。例えば、故障特定単位部位３１の一つであるディスプレイ５１を例示すると、当該ディスプレイ５１を構成する一方の判定単位部位３２である個別チャネル５１１のブロックでは、「１．バス機能確認試験」の抽出済み予備的判定結果が“−”であり、「２．画面表示確認試験」の抽出済み予備的判定結果が“ＯＫ”であり、「３．キー機能確認試験」の抽出済み予備的判定結果が“−”であることが図示されているとともに、第一段階の論理判定処理により個別チャネル５１１が“ＯＫ”と判定された結果も図示されている。また、ディスプレイ５１を構成する他方の判定単位部位３２であるディスプレイ共通部５１２のブロックも、個別チャネル５１１と同様の抽出済み予備的判定結果と第一判定結果（“ＯＫ”との判定）とが図示されている。それゆえ、ディスプレイ５１のブロックでは、ディスプレイ５１が“ＯＫ”と判定された第二判定結果が図示されている。

また、故障特定単位部位３１の一つであるキー５３を例示すると、このキー５３のブロックには、「１．バス機能確認試験」の抽出済み予備的判定結果が“−”であり、「２．画面表示確認試験」の抽出済み予備的判定結果が“−”であり、「３．キー機能確認試験」の抽出済み予備的判定結果が“△ＶＬ”であることが図示されているとともに、キー５３が“△ＶＬ”と判定された第一判定結果も図示されている。キー５３は、単一の判定単位部位３２で構成されているので、判定単位部位３２の第一判定結果である“△ＶＬ”が、故障特定単位部位３１であるキー５３の第二判定結果となる。

なお、図１５に示す論理判定処理の結果は、図９に示す抽出版星取表の結果と同一であるので、他の故障特定単位部位３１（ＣＰＵモジュール５２、電源モジュール５４、各種配線等）については、その説明を省略する。また、図１５（および図７）では、各種配線等は、太線で図示されておりブロックとしては図示されていないので、図１５においては、各種配線等（画面バス５５１、キー信号配線５５２、外部バス５５３、内部電源配線５５４、および外部電源配線５５５）の結果を示す吹出しタイプの枠を別途設け、さらに、これら吹出しタイプの枠を点線で囲んで、故障特定単位部位３１である各種配線等の判定結果を示している。

ここで、本実施の形態では、本発明を説明する便宜上、診断対象３０として、比較的簡素な構成である制御パネル５０を例示したが、もちろん本発明はこれに限定されず、より一層複雑な構成を有する様々な機器、または、複数の機器により構成されるシステムを診断対象３０とすることができる。また、制御パネル５０は、一つの機器であるとともに、他の機器に実装可能な「部品」として位置付けることができる。したがって、本発明において診断対象３０となる機器は、「完成品」として流通する機器に限定されず、「部品」として流通する機器も含まれる。

さらに、本実施の形態では、制御パネル５０に対して設定される診断試験（設定される診断項目）は、前述した「１．バス機能確認試験」、「２．画面表示確認試験」および「３．キー機能確認試験」という３項目とした場合を例示しているが、この診断試験の例示は、本発明を限定するものではない。診断対象３０が、本実施の形態で例示した制御パネル５０に相当する公知の機器であったとしても、実際に行われる診断試験（設定される診断項目）は、診断対象３０である具体的な機器の種類、用途、機能等の条件に応じて適宜選択される。

また、本実施の形態では、予備的判定結果である“×”、“ＯＫ”、“△”および“−”の各状態について、第一段階の論理判定処理では、×＞ＯＫ＞△＞−の順で優先順位を設定しており、第二段階の論理判定処理では、×＞△＞ＯＫ＞−の順で優先順位を設定している。しかしながら、本発明で実施される論理判定処理においては、第一段階および第二段階のいずれであっても、その優先順位は本実施の形態の例に限定されない。本発明では、予備的判定結果に“ＯＫ”が含まれているので、複数の故障特定単位部位３１の中から正常部位を見出すことができ、これにより、故障部位または疑故障部位を絞り込むことが可能である。それゆえ、“×”、“ＯＫ”、“△”および“−”の各状態の優先順位については、例えば、故障部位または疑故障部位の絞り込みを有効に行うことができるように適宜設定することができる。

さらに、本実施の形態では、前述したように想定試験結果と各単位部位とを関連付ける構成の診断方法を例示している。しかしながら、本発明はこれに限定されず、例えば、図１６に示すように、実際に得られた試験結果を単位部位に関連付ける構成であってもよい。

図１６に示す診断方法の例では、少なくとも四つのステップを有する構成となっている。具体的には、診断対象３０を複数の判定単位部位３２（および故障特定単位部位３１）に予め区分するとともに、診断対象３０に対して実際に診断試験を行った上で、実際に得られた試験結果と判定単位部位３２（および故障特定単位部位３１）とを関連付ける関連化処理（ステップＳ１１１）を行う。この関連化処理は、前述した関連化処理（図１のステップＳ１０１）と基本的に同様であり、本実施の形態では、好ましくは星取表を用いて関連化処理を行えばよい。この関連化処理で得られる星取表は、例えば、実際に得られた試験結果に対応する欄のみ記入され、その他の欄は記入されない星取表となる。

その後、それぞれの判定単位部位３２に対して関連付けられた想定試験結果に基づいて、当該判定単位部位３２の故障状態を予備的に判定する予備的判定処理（ステップＳ１１２）を行う。この予備的判定処理も、前述した予備的判定処理（図１のステップＳ１０２）と基本的に同様であり、各判定単位部位３２における実際に得られた試験結果の全てについて予備的な判定を行って予備的判定結果を取得すればよい。

なお、図１６に示すように、予備的判定処理（Ｓ１１２）の後に行われる第一段階の論理判定処理（Ｓ１１３）および第二段階の論理判定処理（Ｓ１１４）は、図１に示す診断方法における第一段階の論理判定処理（Ｓ１０４）および第二段階の論理判定処理（Ｓ１０５）と同様であるため、その説明は省略する。このように、本発明では、実際に得られた試験結果のみを用いて関連化処理および予備的判定処理を行ってもよい。

（実施の形態２）
前記実施の形態１では、本発明に係る診断方法の代表的な一例について具体的に説明したが、本発明はこれに限定されず、本実施の形態２では、前述した診断方法を実施可能とする診断装置の一例について、図１７〜図１９を参照して具体的に説明する。

図１７に示す診断装置１０Ａは、入力器１１、関連化処理器１２、予備的判定処理器１３、論理判定処理器１４、および出力器１５を備え、入力器１１に対しては、試験装置２０から試験結果が入力可能となっている。

入力器１１は、診断対象３０（機器またはシステム）について診断試験が行われることにより取得される複数の試験結果を入力するものであり、その具体的な構成は特に限定されない。代表的には、例えば、複数の入力キーとして診断装置１０Ａに一体化された構成であってもよいし、診断装置１０Ａとは独立したキーボードまたはマウス等のような入力装置であってもよいし、タッチパネル等のように表示装置（出力器１５）と一体化した構成であってもよい。

関連化処理器１２は、入力器１１から入力された試験結果を、診断対象３０の判定単位部位３２に関連付ける。また、予備的判定処理器１３は、関連付けられた試験結果に基づき、各判定単位部位３２を、少なくとも“×”、“ＯＫ”、または“△”として判定（あるいは、“×”、“ＯＫ”、“△”、または“−”として判定）し、予備的判定結果を生成する。また、論理判定処理器１４は、予備的判定処理器１３で判定された予備的判定結果に基づいて論理判定処理を行い、第一判定結果および第二判定結果を生成する。つまり、関連化処理器１２、予備的判定処理器１３および論理判定処理器１４は、前記実施の形態１で説明した診断方法における、関連化処理、予備的判定処理および論理判定処理を行う構成となっている。

なお、論理判定処理器１４による論理判定処理について簡単に説明する。前記実施の形態１の第一段階の論理判定処理であれば、論理判定処理器１４は、“×”の予備的判定結果が含まれているときには、その判定単位部位３２が故障部位であると判定する。さらに、“×”の予備的判定結果が含まれていない場合には、“△”の予備的判定結果または“ＯＫ”の予備的判定結果を優先させることによって、その判定単位部位３２が故障の可能性がある疑故障部位であるか、または、正常部位であることを判定する。

次に、前記実施の形態１の第二段階の論理判定処理であれば、論理判定処理器１４は、第一段階の論理判定処理で得られた、一つの故障特定単位部位３１を構成する判定単位部位３２の全ての判定結果（全第一判定結果）に“×”の第一判定結果が含まれているときには、当該故障特定単位部位３１が故障部位であると判定する。さらに全第一判定結果に“×”の第一判定結果が含まれておらず“△”の第一判定結果が含まれていれば、その故障特定単位部位３１が疑故障部位であると判定する。また、全第一判定結果が“ＯＫ”である場合には、その故障特定単位部位３１が正常部位であると判定する。

関連化処理器１２、予備的判定処理器１３および論理判定処理器１４は、いずれも公知の演算素子の機能構成であってもよいし、公知の論理回路として構成されてもよい。つまり、関連化処理器１２、予備的判定処理器１３および論理判定処理器１４は、図示しない演算素子としてのＣＰＵが図示しない記憶装置に格納されるプログラムに従って動作することにより実現される構成であってもよいし、公知のスイッチング素子、減算器、比較器等による論理回路等として構成されてもよい。したがって、本発明には、ＣＰＵ等の演算素子を備えるコンピュータを機能させることにより、本実施の形態に係る診断装置１０Ａを実現することによって、前記実施の形態１で説明した診断方法を実行させるプログラムが含まれてもよく、さらには、当該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体も本発明に含まれてもよい。

出力器１５は、可視情報を出力可能とするものであり、本実施の形態では、論理判定処理器１４の処理結果すなわち診断結果（故障特定単位部位３１の故障判定の結果）を可視情報として出力可能とする。その具体的な構成は特に限定されず、例えば、一般的な表示器（ディスプレイ）、インクジェットプリンターまたは電子写真方式のプリンター等の印刷装置、あるいは、タッチパネル等のように入力器１１と一体化された構成等を挙げることができる。

本発明に係る診断装置は、前述した図１７に示す診断装置１０Ａに限定されず、前記実施の形態１で説明した、本発明に係る診断方法を実施できる構成であればよい。具体的には、例えば、図１８に示す診断装置１０Ｂ、または、図１９に示す診断装置１０Ｃを挙げることができる。

図１８に示す診断装置１０Ｂは、入力器１１、関連化処理器１２、予備的判定処理器１３、論理判定処理器１４、および出力器１５に加えて、試験器１６を備えている。試験器１６は、診断対象３０に対して診断試験を行うことにより試験結果を取得する構成であり、図１８に示すように、試験器１６は、診断対象３０に対して入力信号を直接入力し、診断対象３０からの出力信号を直接取得する構成となっている。このように、図１８に示す診断装置１０Ｂは、図１７に示す診断装置１０Ａに試験装置２０が一体化したような構成となっている。なお、診断装置１０Ｂにおいては、入力器１１は、診断試験または診断方法等の実行を指示するための操作器として用いることになる。

このような診断装置１０Ｂであれば、試験結果を入力器１１ではなく試験器１６から直接取得できるため、診断装置１０Ｂとは別に試験装置２０を準備する必要がない。それゆえ、一つの診断装置１０Ｂにより診断試験から故障判定（診断結果の取得）までを実行することができる。なお、試験器１６の具体的な構成は特に限定されず、図１７に示す試験装置２０と同様の構成であればよい。具体的には、公知の電気回路、電子回路、演算素子、コンピュータ、当該コンピュータで実行されるプログラム、または、これらを組み合わせた機器もしくはシステムを挙げることができる。

また、図１９に示す診断装置１０Ｃは、入力器１１、関連化処理器１２、予備的判定処理器１３、論理判定処理器１４、および出力器１５に加えて、さらに外部機器との間で通信を行う通信器１７を備えている。これにより、試験結果を入力器１１ではなく通信器１７から取得することができるとともに、故障判定の結果を出力器１５で出力するだけでなく通信器１７から外部に送信することができる。通信器１７の具体的な構成は特に限定されず、公知の有線または無線の通信機器を挙げることができる。

本実施の形態において、試験装置２０から入力器１１に入力される試験結果、もしくは、試験器１６から直接取得される試験結果は、前記実施の形態１で説明したように、診断対象３０を区分した複数の故障特定単位部位３１のそれぞれに関して種々の診断試験が行われて取得されるものである。したがって、本発明においては、診断対象３０について行われる診断試験の試験結果を取得する試験結果取得器として、入力器１１または試験器１６を備えていればよい。また、本発明においては、試験結果取得器は、入力器１１および試験器１６以外の構成であってもよい。

また、関連化処理器１２、予備的判定処理器１３および論理判定処理器１４の処理対象となる試験結果は、入力または取得された試験結果のうち、故障特定単位部位３１に関する全ての試験結果である。このとき、故障特定単位部位３１は、単一の判定単位部位３２で構成されてもよいし、複数の判定単位部位３２で構成されてもよい。これら判定単位部位３２並びに試験結果に関しては、前記実施の形態１において詳細に説明済であるので、本実施の形態では省略する。

また、図１７〜図１９においては、第一段階の論理判定処理および第二段階の論理判定処理は、いずれも単一の論理判定処理器１４で行われるように図示しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、第一段階および第二段階の論理判定処理をまとめて実行する一つの論理回路またはプログラム等が用いられてもよいし、第一段階の論理判定処理を実行する論理回路またはプログラム等と、第二段階の論理判定処理を実行する論理回路またはプログラム等とが併用されてもよい。

ここで、図１７〜図１９に示すいずれの診断装置１０Ａ〜１０Ｃにおいても、関連化処理器１２は、前記実施の形態１と同様に、星取表（試験項目−単位部位対応表）を用いて、各試験項目に試験結果を当てはめることにより、当該試験結果と当該判定単位部位３２との関連付けを行うことが好ましい。この星取表は、関連化処理器１２により随時作成される電子情報であればよい。この場合、予備的判定処理器１３は、星取表に基づいて予備的判定処理を行い、予備的判定結果を生成すればよく、論理判定処理器１４は、星取表に基づいて第一段階および第二段階の論理判定処理を行って、第一判定結果および第二判定結果を生成すればよい。

このように、本発明においては、前記実施の形態１で説明した診断方法を、図１７〜図１９に示す診断装置１０Ａ〜１０Ｃを用いて実施することができる。このような診断装置１０Ａ〜１０Ｃは、専用のハードウェアを有する機器またはシステムとして構成されてもよいし、公知のコンピュータおよび周辺機器を利用して構成されてもよいし、これらを組み合わせて構成されてもよい。

なお、本発明は前記実施の形態の記載に限定されるものではなく、特許請求の範囲に示した範囲内で種々の変更が可能であり、異なる実施の形態や複数の変形例にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施の形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。

本発明は、診断対象を複数の単位部位に区分可能な場合に、当該診断対象について故障部位の特定を含む種々の故障判定を行う分野に好適に用いることができる。特に、診断対象が複雑な構成を有する機器またはシステムであっても、効率的な故障の判定を行うことが可能となる。

１０Ａ 診断装置
１０Ｂ 診断装置
１０Ｃ 診断装置
１１ 入力器
１２ 関連化処理器
１３ 予備的判定処理器
１４ 論理判定処理器
１５ 出力器
１６ 試験器
１７ 通信器
２０ 試験装置
３０ 診断対象
３１ 故障特定単位部位
３２ 判定単位部位
５０ 制御パネル（診断対象）
５１ ディスプレイ（故障特定単位部位）
５２ ＣＰＵモジュール（故障特定単位部位）
５３ キー（故障特定単位部位、判定単位部位、個別機能部）
５４ 電源モジュール（故障特定単位部位、判定単位部位）
５１１ 個別チャネル（判定単位部位、個別機能部）
５１２ ディスプレイ共通部（判定単位部位、共通機能部）
５２１ ＣＰＵモジュール共通部（判定単位部位、共通機能部）
５２２ 画面出力部（判定単位部位）
５２３ キー入力部（判定単位部位、個別機能部）
５２４ バス通信部（判定単位部位）
５５１ 画面バス（判定単位部位）
５５２ キー信号配線（判定単位部位、個別機能部）
５５３ 外部バス（判定単位部位）
５５４ 内部電源配線（判定単位部位）
５５５ 外部電源配線（判定単位部位）

Claims (14)

1. 診断対象となる機器またはシステムを、当該診断対象についての故障を特定するための基本的な単位部位である、複数の故障特定単位部位と、当該故障特定単位部位から見て下位の単位部位となる、少なくとも一つの判定単位部位とに区分した上で、
   前記診断対象について行われる診断試験の試験結果を、それぞれの前記判定単位部位に関連付ける、関連化処理を行い、
   それぞれの前記判定単位部位に関連付けられた前記試験結果から、当該判定単位部位が、少なくとも、故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態のいずれであるか判定することにより、当該判定単位部位についての複数の予備的判定結果を取得する、予備的判定処理を行い、
   故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態に優先順位を設定した上で、複数の前記予備的判定結果に基づいて、当該判定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該判定単位部位の判定結果を取得する、判定単位部位別論理判定処理を行い、
   さらに、前記故障特定単位部位に属する全ての前記判定単位部位の前記判定結果に基づいて、当該故障特定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該故障特定単位部位の判定結果を取得する、故障特定単位部位別論理判定処理を行うことを特徴とする、
   故障部位が特定可能な診断方法。
2. 前記故障特定単位部位は、当該故障特定単位部位が有する機能に基づいて前記判定単位部位に区分されることを特徴とする、
   請求項１に記載の診断方法。
3. 前記予備的判定処理では、分類される状態の種類に、故障している状態、故障していない状態、および、故障している可能性がある状態に加えて、情報無しまたは不十分の状態が含まれることを特徴とする、
   請求項１または２に記載の診断方法。
4. 前記判定単位部位別論理判定処理では、それぞれの前記判定単位部位について得られる全ての前記予備的判定結果の中に、故障している状態の予備的判定結果が含まれているときには、その判定単位部位が故障部位であると判定し、
   故障している状態の予備的判定結果が含まれておらず、かつ、故障していない状態の予備的判定結果が含まれているときに、その判定単位部位が正常であると判定し、
   故障している状態の予備的判定結果および故障していない状態の予備的判定結果が含まれておらず、かつ、故障している可能性がある状態の予備的判定結果が含まれているときに、その判定単位部位が疑故障部位であると判定することを特徴とする、
   請求項１から３のいずれか１項に記載の診断方法。
5. 前記予備的判定処理では、故障している可能性がある状態は、故障発生確度に応じた複数の段階に区分されており、
   これら複数の段階に対しては、故障発生確度を基準として優先順位が設定され、
   前記判定単位部位別論理判定処理では、それぞれの前記判定単位部位について得られる全ての前記予備的判定結果の中に、異なる段階の故障している可能性がある状態の前記予備的判定結果が複数含まれ、かつ、それぞれの段階が異なっている場合には、前記優先順位の上位となる段階に基づいて診断がなされることを特徴とする、
   請求項１から４のいずれか１項に記載の診断方法。
6. 前記故障特定単位部位別論理判定処理では、前記故障特定単位部位に属する全ての前記判定単位部位の判定結果の中に、故障している状態の判定結果が含まれているときに、その故障特定単位部位が故障部位であると判定し、
   全ての前記判定単位部位の判定結果の中に、故障している状態の判定結果が含まれておらず、故障している可能性がある状態の判定結果が含まれているときに、その故障特定単位部位が疑故障部位であると判定し、
   全ての前記判定単位部位の判定結果が故障していない状態であれば、その故障特定単位部位が正常であると判定することを特徴とする、
   請求項１から５のいずれか１項に記載の診断方法。
7. 前記故障特定単位部位に同種の機能が複数含まれている場合には、当該故障特定単位部位には、前記判定単位部位として、複数の同種の機能に共通する要素をまとめた共通機能部、並びに、複数の同種の機能それぞれに独自の要素をまとめた個別機能部の少なくとも一方が含まれることを特徴とする、
   請求項２から６のいずれか１項に記載の診断方法。
8. 前記判定単位部位の故障の種類として、当該判定単位部位の機能が喪失した状態である機能喪失と、異常な状態のまま作動を続ける状態である異常作動とが存在する場合、
   前記予備的判定処理および前記判定単位部位別論理判定処理においては、これら機能喪失および異常作動を区別して判定することを特徴とする、
   請求項２から７のいずれか１項に記載の診断方法。
9. 一つの前記判定単位部位について想定される全ての前記試験結果を想定試験結果としたときに、
   前記関連化処理では、それぞれの前記判定単位部位に対して、前記想定試験結果を関連付けるとともに、
   前記予備的判定処理では、関連付けられた前記想定試験結果に基づいて当該判定単位部位について取り得る状態を全て判定し、
   さらに、前記予備的判定処理の後に、全ての判定結果から、実際の診断試験により得られた前記試験結果に対応する判定結果のみを抽出する予備的判定結果抽出処理を行うことを特徴とする、
   請求項１から８のいずれか１項に記載の診断方法。
10. 前記関連化処理では、それぞれの前記判定単位部位に対して、実際の診断試験により得られた前記試験結果を直接関連付けるとともに、
    前記予備的判定処理では、関連付けられた当該試験結果に基づいて当該判定単位部位の状態を判定することにより、前記予備的判定結果を取得することを特徴とする、
    請求項１から８のいずれか１項に記載の診断方法。
11. 前記関連化処理では、前記診断試験の試験項目をそれぞれの前記判定単位部位に対応させた試験項目−単位部位対応表を作成し、各試験項目に前記試験結果を当てはめることにより、当該試験結果と当該判定単位部位との関連付けを行い、
    当該試験結果−単位部位対応表に基づいて、前記予備的判定処理、前記判定単位部位別論理判定処理および前記故障特定単位部位別論理判定処理が行われることを特徴とする、
    請求項１から１０のいずれか１項に記載の診断方法。
12. 診断対象となる機器またはシステムが、予め、当該診断対象についての故障を特定するための基本的な単位部位である、複数の故障特定単位部位と、当該故障特定単位部位から見て下位の単位部位となる、少なくとも一つの判定単位部位にさらに区分されており、
    前記診断対象について行われる診断試験の試験結果を取得する試験結果取得器と、
    当該試験結果取得器により取得された前記試験結果を、それぞれの前記判定単位部位に関連付ける関連化処理器と、
    それぞれの前記判定単位部位に関連付けられた前記試験結果から、当該判定単位部位が、少なくとも、故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態のいずれかであるか判定することにより、当該判定単位部位についての複数の予備的判定結果を生成する、予備的判定処理器と、
    故障している状態、故障していない状態、または、故障している可能性がある状態に優先順位を設定した上で、前記予備的判定処理器から得られる、複数の前記予備的判定結果に基づいて、当該判定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該判定単位部位の判定結果を生成するとともに、
    さらに、前記故障特定単位部位に属する全ての前記判定単位部位の判定結果に基づいて、当該故障特定単位部位が故障またはその可能性があるか正常であるかを判定し、当該故障特定単位部位の判定結果を生成する、論理判定処理器と、を備えていることを特徴とする、
    故障部位が特定可能な診断装置。
13. 前記試験結果取得器は、前記診断対象に対して前記診断試験を行うことにより前記試験結果を取得する試験器、または、前記判定単位部位について取得された前記試験結果を入力する入力器であることを特徴とする、
    請求項１２に記載の診断装置。
14. 前記関連化処理器は、前記診断試験の試験項目をそれぞれの前記判定単位部位に対応させた試験項目−単位部位対応表を用いて、各試験項目に前記試験結果を当てはめることにより、当該試験結果と当該判定単位部位との関連付けを行い、
    前記予備的判定処理器および前記論理判定処理器は、前記試験結果−単位部位対応表に基づいて前記判定を行って、前記判定結果を生成することを特徴とする、
    請求項１２または１３に記載の診断装置。
    

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