JP6106541B2 - リークチェック方法及び処理装置 - Google Patents
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Description
<第1実施形態>
最初に、第1実施形態に係る処理装置の概略的な構成について、図1を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態に係る処理装置の概略を示した縦断面図である。
本実施形態に係る処理装置10は、表面が陽極酸化処理されたアルミニウム(以下、アルミアルマイトと称する。)またはイットリアY2O3からなる略円筒状の真空容器100を有している。真空容器100は接地されている。真空容器100は、内部を排気され、リークチェックの対象となる処理容器の一例である。本実施形態では、主に真空容器100の側壁及び天井壁の表面Sがアルミアルマイト及びイットリアY2O3により形成されている。本実施形態に係る処理装置10では、真空容器100の内部にてプラズマの作用によりエッチング処理が行われる。しかしながら、処理装置10は、エッチング処理装置に限られず、成膜処理が行われる成膜装置であってもよいし、処理装置で行われる処理は、プラズマを用いる処理であってもよく、プラズマを用いない処理であってもよい。
次に、本実施形態に係るリークチェック方法について説明する。排気装置30により処理装置10を真空引きした後は、真空容器100のリークチェックが行われる。リークチェックの一例としては、真空容器100内を封じ切り状態にすることにより生じる真空容器100内の圧力上昇からリークレートを計算するビルドアップ法が挙げられる。以下の各実施形態では、ビルドアップ法により真空容器100のリークレートが検査される。
まず、排気装置30が、真空容器100内を真空引きする。
ステップAの真空引きが完了した後、APCのバルブを閉め、真空容器100内を封じ切る。真空容器100内が封じ切り状態にされたときが、図2の横軸の時間が「0」のときであり、ステップBが開始されるときである。図2では、ステップBにて、真空容器100内を500分程度封じ切り状態にしているが、ステップBの時間は、これに限られず、数10分から数時間であってもよい。
アウトガス=ガスの放出量−ガスの吸着量・・・(1)
また、真空容器100の圧力上昇値は式(2)により示される。
圧力上昇値=アウトガス+リークガス・・・(2)
式(1)によれば、ガスの放出量とガスの吸着量とが等しいとき、内壁から放出されるアウトガスは「0」になる。
ステップCでは、式(1)よりアウトガスは0であるから、式(2)より、ステップCにおける圧力上昇値はリークガス成分のみによるものと推定される。よって、ステップCの所定時間の圧力上昇値を計測すれば、リークレートを算出できる。
<第2実施形態>
次に、第2実施形態に係る処理装置及びリークチェック方法について説明する。第2実施形態に係るリークチェック方法では、真空容器100内にアウトガス成分を供給することで早期にアウトガスの平衡圧力状態にする点で、アウトガスを蓄積させてゆっくりとアウトガスの平衡圧力状態にする第1実施形態に係るリークチェック方法と異なる。よって、本実施形態では、上記相違点を中心に説明する。
第2実施形態に係るリークチェック方法について説明する前に、第2実施形態に係る処理装置の構成について、図4を参照しながら説明する。図4は、第2実施形態に係る処理装置の概略を示した縦断面図である。
次に、第2実施形態に係るリークチェック方法について、図5を参照しながら説明する。
第2実施形態に係るリークチェック方法においても、まず、排気装置30が、真空容器100内を真空引きする。
ステップAの真空引きが完了した後、ステップBでは、真空容器100の内部にアウトガス成分が強制的に供給される。具体的には、所定の流量のN2及びO2が、ガス供給源15から真空容器100内に供給される。また、所定の流量のH2Oが水導入機構47から真空容器100内に供給される。
(アウトガス平衡圧力)
図3に示したように、真空容器100へのガスの吸着と脱離とは、ガス種(H2O,N2,O2)毎に並行して行われていると考えられる。よって、ガス毎にガスの吸着と脱離とが平衡状態になる、つまり、アウトガスが0になる平衡圧力が存在する。
(ガスの成分比)
第1実施形態では、ステップAの真空引き後、ステップBにて真空容器100内を封じ切り状態にし、アウトガスを真空容器100内に蓄積させた。ステップBを開始してから15分後における真空容器100内のガスの成分比をQMS(Quadrupole Mass Spectrometer:四重極質量分析計)により測定した結果を図7の(a)に示す。また、ステップBを開始してから4064分後における真空容器100内のガスの成分比をQMSにより測定した結果を図7の(b)に示す。
ステップCでは、制御部200は、リーク検査を開始し、リークレートを計測する。本実施形態におけるリーク検査は、第1実施形態で説明したリーク検査と同様であるため、ここでは説明を省略する。
<第3実施形態>
次に、第3実施形態に係る処理装置及びリークチェック方法について説明する。第3実施形態に係るリークチェック方法では、ステップBにて、真空容器100内に供給するガス種が第2の実施形態に係るリークチェック方法と異なる。よって、本実施形態では、上記相違点を中心に説明する。
第3実施形態に係るリークチェック方法について説明する前に、第3実施形態に係る処理装置の構成について、図8を参照しながら説明する。図8は、第3実施形態に係る処理装置の概略を示した縦断面図である。
次に、第3実施形態に係るリークチェック方法について、図9を参照しながら説明する。
第2実施形態に係るリークチェック方法においても、まず、排気装置30が真空容器100内を真空引きする。
ステップAの真空引きが完了した後、図9に示したように、真空容器100の内部にN2及びO2が供給される。ガス供給源15は、所定の流量のN2及びO2を真空容器100内に供給する。
(ガスの成分比)
図7の(b)に示したように、ステップBの後期では、真空容器100内のガスの成分比は、H2Oが1.4%、N2が77%、O2が20.6%である。これは、ステップBの後期では、真空容器100内のガスはほぼ大気成分と同じリークガスが支配的であることを示す。リークガスの成分に含まれるN2の割合は約77%、O2の割合は約21%である。リークガスの成分に含まれるH2Oの割合は1%程度であり、非常に少ない。
ステップCでは、制御部200は、リーク検査を開始し、リークレートを計測する。本実施形態では、アウトガスとして流入した水分圧は、水分圧モニタ55により計測される。また、真空容器100内の全圧力は、圧力計50により計測される。計測された水分圧及び真空容器100内の全圧力は、図8に示した制御部200に送られる。送られたデータは、制御部200内の記憶領域に蓄積される。
<第4実施形態>
以下に説明する第4実施形態では、第1〜第3実施形態に係るリークチェック方法におけるリークレートの算出方法について説明する。なお、以下に説明するリークレートの算出は、制御部200によりリークチェック中に実行され得る。よって、実行結果は、リアルタイムに処理装置10のメンテナンスに利用することができる。これにより、リークトラブルが生じているときのリカバリ作業をより迅速に行うことができる。
まず、第4実施形態に係るリークレートの算出方法について、図11を参照しながら説明する。第4実施形態に係るリークレートの算出方法では、制御部200は、真空容器100内の圧力の変化から直接リークレートを算出する。本算出方法を使用可能な処理装置10としては、例えば、図1のように、少なくとも圧力計50と制御部200とを有する第1実施形態に係る処理装置10の構成であればよい。ただし、本算出方法を使用可能な処理装置10は、これに限らず、図4に示した第2実施形態に係る処理装置10であってもよいし、図8に示した第3実施形態に係る処理装置10であってもよい。
ここで、式(5)のA,B,C,Dは「係数」、xは「時間」、yは「真空容器100内の圧力」である。ここで、4つの係数A,B,C,Dは、処理装置10の構成や真空容器100の内壁を構成する部材等の環境に依存して変化する。式(5)は制御部200に設けられた記憶領域に予め記憶されている。
次に、第4実施形態の変形例1に係るリークレートの算出方法について、図12を参照しながら説明する。変形例1に係るリークレートの算出方法では、制御部200は、真空容器100の圧力の変化からアウトガスの平衡圧力を算出する。本算出方法を使用可能な処理装置10としては、例えば、少なくとも圧力計50と制御部200とガスを導入する機構(例えば、ガス供給源や水導入機構)を有する第2実施形態に係る処理装置10(図4)や第3実施形態に係る処理装置10(図8)であってもよい。
次に、第4実施形態の変形例2に係るリークレートの算出方法について説明する。なお、本変形例2の算出方法を使用可能な処理装置10は、第4実施形態の算出方法を使用可能な処理装置であればよい。
ここで、式(6)のA,B,C,D,E,F,G,Hは「係数」、xは「時間」、yは「真空容器100内の圧力」である。ここで、8つの係数A,B,C,D,E,F,G,Hは、処理装置10の構成や真空容器100の内壁を構成する部材等の環境に依存して変化する。
15:ガス供給源
20:保持部
25:上部電極
27:高周波電源
30:排気装置
35:APCバルブ
40:ターボ分子ポンプ
45:ドライポンプ
47:水導入機構
50:圧力計
55:水分圧モニタ
100:真空容器
200:制御部
Claims (5)
- 処理容器の内部を排気するステップと、
前記排気するステップを終了した後、前記処理容器の内部に窒素N2及び酸素O2を供給するステップと、
前記窒素N2及び酸素O2を供給するステップを終了した後、前記処理容器の内部の全圧力及び水分圧を計測するステップと、
前記計測された全圧力から前記水分圧を除いた値に基づき、前記処理容器のリークレートを検査するステップと、
を含み、
前記窒素N2及び酸素O2を供給するステップは、
窒素N 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで窒素N 2 を供給するステップと、
酸素O 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで酸素O 2 を供給するステップと、
を含み、
前記リークレートを検査するステップは、
前記窒素N 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで窒素N 2 を供給し、かつ、前記酸素O 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで酸素O 2 を供給した後、所定時間の前記全圧力から水分圧を除いた値の単位時間当たりの圧力上昇値から前記リークレートを検査する、
ことを特徴とするリークチェック方法。 - 前記窒素N2のアウトガス平衡圧力は、前記処理容器から放出される窒素N2の放出量と前記処理容器に吸着される窒素N2の吸着量とが平衡状態になる圧力に定められ、
前記酸素O2のアウトガス平衡圧力は、前記処理容器から放出される酸素O2の放出量と前記処理容器に吸着される酸素O2の吸着量とが平衡状態になる圧力に定められる、
ことを特徴とする請求項1に記載のリークチェック方法。 - 処理容器の内部を排気するステップと、
前記排気するステップを終了した後、前記処理容器の内部に水分H2O、窒素N2及び酸素O2を供給するステップと、
前記水分H2O、窒素N2及び酸素O2を供給するステップを終了した後、前記処理容器の内部の全圧力を計測するステップと、
前記計測された全圧力に基づき、前記処理容器のリークレートを検査するステップと、
を含み、
前記水分H 2 O、窒素N 2 及び酸素O 2 を供給するステップは、
水分H 2 Oのアウトガス平衡圧力に到達するまで水分H 2 Oを供給するステップと、
窒素N 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで窒素N 2 を供給するステップと、
酸素O 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで酸素O 2 を供給するステップと、
を含み、
前記リークレートを検査するステップは、
前記水分H 2 Oのアウトガス平衡圧力に到達するまで水分H 2 Oを供給し、かつ、前記窒素N 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで窒素N 2 を供給し、かつ、前記酸素O 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで酸素O 2 を供給した後、所定時間の前記全圧力の単位時間当たりの圧力上昇値から前記リークレートを検査する、
ことを特徴とするリークチェック方法。 - 前記水分H2Oのアウトガス平衡圧力は、前記処理容器から放出される水分H2Oの放出量と前記処理容器に吸着される水分H2Oの吸着量とが平衡状態になる圧力に定められ、
前記窒素N2のアウトガス平衡圧力は、前記処理容器から放出される窒素N2の放出量と前記処理容器に吸着される窒素N2の吸着量とが平衡状態になる圧力に定められ、
前記酸素O2のアウトガス平衡圧力は、前記処理容器から放出される酸素O2の放出量と前記処理容器に吸着される酸素O2の吸着量とが平衡状態になる圧力に定められる、
ことを特徴とする請求項3に記載のリークチェック方法。 - 処理容器の内部を排気する排気装置と、
前記排気を終了した後、前記処理容器の内部に窒素N2及び酸素O2を供給するガス供給源と、
前記排気を終了した後、前記処理容器の内部に水分H2Oを供給する水導入機構と、
前記水分H2O、窒素N2及び酸素O2の供給を終了した後、前記処理容器の内部の全圧力を計測する圧力計と、
前記計測された全圧力に基づき、前記処理容器のリークレートを検査する制御部と、
を有し、
前記水導入機構は、
水分H 2 Oのアウトガス平衡圧力に到達するまで水分H 2 Oを供給し、
前記ガス供給源は、
窒素N 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで窒素N 2 を供給し、
酸素O 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで酸素O 2 を供給し、
前記制御部は、
前記水分H 2 Oのアウトガス平衡圧力に到達するまで水分H 2 Oを供給し、かつ、前記窒素N 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで窒素N 2 を供給し、かつ、前記酸素O 2 のアウトガス平衡圧力に到達するまで酸素O 2 を供給した後、所定時間の前記全圧力の単位時間当たりの圧力上昇値から前記リークレートを検査する、
ことを特徴とする処理装置。
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