JP6087515B2 - Semiconductor wafer protective tape cutting method and protective tape cutting device - Google Patents
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Description
本発明は、半導体ウエハの表面に貼り付けられた保護テープをウエハ外形に沿って切断する半導体ウエハの保護テープ切断方法および保護テープ切断装置に関する。 The present invention relates to a semiconductor wafer protective tape cutting method and a protective tape cutting device for cutting a protective tape affixed to the surface of a semiconductor wafer along the wafer outer shape.
半導体ウエハ(以下、適宜に「ウエハ」という)の表面に貼り付けられた保護テープの切断は、例えば、次のような構成によって実施されている。ウエハの中心を通る縦軸周りに旋回駆動される支持アームの遊端部にカッタ刃を備えたカッタユニットを装備する。支持アームの旋回に伴ってカッタ刃をウエハ外周に沿って走行させることにより、ウエハ外形に保護テープを切断する(特許文献1を参照)。
ウエハ外周のエッジ部分は、べべリングにより保護テープが密着しづらい状態になっている。それ故に、保護テープの切断処理を行うと、保護テープの切り口付近がウエハから浮き上がったり、あるいは、皺が発生したりすることがある。このような状態でウエハ裏面へのバックグラインド処理を行うと、保護テープの切り口や皺の部分に水や粉塵が侵入して回路面を汚染および破損させるとった問題がある。 The edge of the outer periphery of the wafer is in a state in which the protective tape is difficult to adhere due to beveling. Therefore, when the protective tape is cut, the vicinity of the cut edge of the protective tape may rise from the wafer or wrinkles may occur. When the back grinding process is performed on the back surface of the wafer in such a state, there is a problem in that water and dust enter the cut surface and the ridge portion of the protective tape to contaminate and damage the circuit surface.
また、保護テープ切断時に当該保護テープの切り屑が微細な塵埃として発生して遊離し、これが保護テープの上に付着する。この状態でバックグランド処理を行うと、ウエハの厚みにバラツキが生じると言った問題がある。 Further, when the protective tape is cut, chips of the protective tape are generated and released as fine dust, which adheres to the protective tape. When background processing is performed in this state, there is a problem that the wafer thickness varies.
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、保護テープの切断時に切り口付近の保護テープを確実に密着させることが可能な半導体ウエハの保護テープ切断方法および保護テープ切断装置を提供することを主たる目的とするものである。 The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a protective tape cutting method and a protective tape cutting device for a semiconductor wafer capable of reliably bringing the protective tape near the cut edge into close contact when the protective tape is cut. The main purpose is to do.
上記問題を解決するために、本発明者等は、実験などを繰り返し鋭意検討した結果、以下のような知見を得ることができた。 In order to solve the above problems, the present inventors have repeatedly conducted experiments and the like, and as a result, have obtained the following knowledge.
すなわち、保護テープの切断過程で、カッタ刃の旋回アームと同じ回転軸に装着した個別の旋回アームの先端下部に押圧ローラを装着する。この構成により、当該押圧ローラをカッタ刃の後方で転動させることが可能となり、保護テープの浮き上がりや皺を潰すと考えられた。しかしながら、カッタ刃から押圧ローラまでの距離が長い場合、カッタ刃から押圧ローラまでの間の保護テープの浮き上がりを助長し、皺の発生を招くことになった。 That is, in the process of cutting the protective tape, the pressing roller is attached to the lower end of the individual turning arm attached to the same rotating shaft as the turning arm of the cutter blade. With this configuration, it has been considered that the pressing roller can be rolled behind the cutter blade, and the protective tape is lifted and wrinkles are crushed. However, when the distance from the cutter blade to the pressing roller is long, the protective tape is lifted from the cutter blade to the pressing roller, which causes wrinkles.
そこで、押圧ローラをカッタ刃の後方に近づけると、カッタ刃や押圧ローラを保持するユニット同士の接触により、押圧ローラの転動方向の設定に制限が生じた。つまり、押圧ローラの回転軸から延長した仮想線がウエハの中心を通らず、偏位した回転中心となる。したがって、押圧ローラと保護テープの摩擦抵抗が大きくなり、保護テープに負荷がかかったり、ひいてはウエハのエッジを破損させたりするといった新たな問題が生じた。 Therefore, when the pressing roller is brought close to the rear of the cutter blade, the setting of the rolling direction of the pressing roller is limited due to contact between the units holding the cutter blade and the pressing roller. In other words, the imaginary line extending from the rotation axis of the pressing roller does not pass through the center of the wafer but becomes a deviated rotation center. Therefore, the frictional resistance between the pressing roller and the protective tape is increased, and a new problem has arisen such that a load is applied to the protective tape and the edge of the wafer is damaged.
この発明は、上記新規な課題を解決するために、次のような構成をとる。 The present invention has the following configuration in order to solve the above-described novel problem.
すなわち、本発明は、半導体ウエハの表面に貼り付けられた保護テープを当該半導体ウエハの外形に沿って切断する半導体ウエハの保護テープ切断方法であって、
前記半導体ウエハの中心に配置した回転軸により、旋回アームを介して前記回転軸と接続されているカッタ刃を旋回させて半導体ウエハの外形に沿って保護テープを切断する切断過程と、
前記カッタ刃を有するカッタユニットの当該カッタ刃の後部近傍に、前記旋回アームを介して前記回転軸と接続されている押圧ローラを有する押圧ユニットを備え、当該押圧ローラの回転軸から延長した仮想線が半導体ウエハの中心を通るように制御された状態を維持したまま、カッタ刃に追従して保護テープの切断部位を押圧する押圧過程と、
を備えたことを特徴とする。
That is, the present invention is a semiconductor wafer protective tape cutting method for cutting a protective tape affixed to the surface of a semiconductor wafer along the outer shape of the semiconductor wafer,
A cutting process of cutting a protective tape along the outer shape of the semiconductor wafer by turning a cutter blade connected to the rotation shaft via a turning arm by a rotating shaft arranged at the center of the semiconductor wafer;
An imaginary line including a pressing unit having a pressing roller connected to the rotating shaft via the swivel arm in the vicinity of a rear portion of the cutter unit having the cutter blade and extending from the rotating shaft of the pressing roller. While maintaining the controlled state to pass through the center of the semiconductor wafer, the pressing process of pressing the cutting part of the protective tape following the cutter blade,
It is provided with.
(作用・効果) この方法によれば、カッタ刃の後方近傍に押圧ローラが配備されつつも、当該押圧ローラの回転軸を延長した仮想線がウエハ中心を通るように制御されるので、保護テープとの摩擦抵抗が抑制される。換言すれば、押圧ローラが滑らかに転動する。したがって、保護テープやウエハへの負荷を低減しつつ、保護テープの浮き上がりや皺を形成することなく、保護テープをウエハエッジに確実に貼り付けることができる。 (Operation / Effect) According to this method, since the pressing roller is provided near the rear of the cutter blade, the virtual line extending the rotation axis of the pressing roller is controlled to pass through the center of the wafer. And the frictional resistance is suppressed. In other words, the pressing roller rolls smoothly. Therefore, the protective tape can be securely attached to the wafer edge without reducing the load on the protective tape and the wafer and without forming the protective tape and wrinkles.
なお、上記方法において、弾性材を介して押圧ローラを下向きに弾性付勢しつつ保護テープの表面を転動させることが好ましい。 In the above method, it is preferable to roll the surface of the protective tape while elastically biasing the pressing roller downward through the elastic material.
この場合、ウエハエッジへの過剰な押圧が回避され、当該エッジの破損を防止するのに有効となる。 In this case, excessive pressing on the wafer edge is avoided, which is effective in preventing breakage of the edge.
また、この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成もとる。 In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
すなわち、本発明は、半導体ウエハの表面に貼り付けられた保護テープを当該半導体ウエハの外形に沿って切断する半導体ウエハの保護テープ切断装置であって、
前記半導体ウエハを載置保持する保持テーブルと、
旋回アームを介して前記回転軸と接続され、前記保護テープを切断するカッタ刃を有するカッタユニットと、
前記チャックテーブルに載置保持された半導体ウエハの外周に対して当該半導体ウエハの中心回りにカッタユニットのカッタ刃を相対的に回転移動させる駆動機構と、
前記カッタユニットの後部に装着されるとともに、前記旋回アームを介して前記回転軸と接続されておりカッタ刃の後部近傍に保護テープを押圧する押圧ローラを有し、当該押圧ローラの回転軸から延長した仮想線が半導体ウエハの中心を通るように制御される押圧ユニットと、
を備えたことを特徴とする。
That is, the present invention is a semiconductor wafer protective tape cutting device for cutting a protective tape attached to the surface of a semiconductor wafer along the outer shape of the semiconductor wafer,
A holding table for mounting and holding the semiconductor wafer;
A cutter unit having a cutter blade that is connected to the rotary shaft via a swing arm and cuts the protective tape;
A drive mechanism for relatively rotating the cutter blade of the cutter unit around the center of the semiconductor wafer with respect to the outer periphery of the semiconductor wafer placed and held on the chuck table;
A pressing roller that is attached to the rear portion of the cutter unit and is connected to the rotary shaft via the pivot arm and presses a protective tape in the vicinity of the rear portion of the cutter blade, and extends from the rotary shaft of the pressing roller. A pressing unit that is controlled so that the imaginary line passes through the center of the semiconductor wafer;
It is provided with.
(作用・効果) この構成によれば、カッタユニットの後方に押圧ユニットを備えることにより、カッタ刃の後方近傍に押圧ローラを配置することができる。さらに、押圧ローラの回転軸を延長した仮想線がウエハの中心を確実に通るように制御することができる。
(Operation / Effect) According to this configuration, by providing the pressing unit behind the cutter unit, the pressing roller can be arranged in the vicinity of the rear of the cutter blade. Furthermore, it is possible to control so that a virtual line obtained by extending the rotation shaft of the pressing roller passes through the center of the wafer.
したがって、カッタ刃と押圧ローラの間の距離が短いので、切断時に生じる保護テープの浮き上がりや皺を直ちに潰してウエハに確実に貼り付けることができる。また、保護テープと押圧ローラの摩擦が抑制されるので、過剰な押圧による保護テープやウエハへの負荷を抑えることができる。その結果、ウエハエッジの破損も回避することができる。 Therefore, since the distance between the cutter blade and the pressing roller is short, the lifting or wrinkles of the protective tape generated at the time of cutting can be immediately crushed and securely attached to the wafer. Further, since the friction between the protective tape and the pressing roller is suppressed, the load on the protective tape and the wafer due to excessive pressing can be suppressed. As a result, damage to the wafer edge can also be avoided.
本発明の他の実施態様は、押圧ユニットにおいて押圧ローラの回転軸の向きを調節可能に構成することが好ましい。例えば、角度調整機構により、押圧ローラの回転軸の向きを複数段階に調節するように構成する。 In another embodiment of the present invention, the pressing unit is preferably configured so that the direction of the rotating shaft of the pressing roller can be adjusted. For example, the angle adjusting mechanism is configured to adjust the direction of the rotation axis of the pressing roller in a plurality of stages.
この構成によれば、複数種のウエハサイズに対応して押圧ローラの姿勢調節位置を角度調整機構により予め設定しておくことで、処理対象のウエハサイズの変更に迅速に対応することができる。 According to this configuration, the posture adjustment position of the pressing roller is set in advance by the angle adjustment mechanism corresponding to a plurality of types of wafer sizes, so that a change in the wafer size to be processed can be quickly handled.
上記構成において、押圧ローラは、少なくとも転動面が弾性材であることが好ましい。 In the above configuration, it is preferable that at least the rolling surface of the pressing roller is an elastic material.
本発明の他の実施態様は、押圧ローラの高さを調整する高さ調整部を備えることが好ましい。また、押圧ローラを下向きに付勢する弾性材を備えることがさらに好ましい。 It is preferable that the other embodiment of the present invention includes a height adjusting unit that adjusts the height of the pressing roller. It is further preferable to provide an elastic material that urges the pressing roller downward.
この構成によれば、保護テープやウエハエッジに過剰な押圧がかかるのを回避することができ、ひいては、ウエハエッジの破損を回避することができる。 According to this configuration, it is possible to avoid excessive pressing on the protective tape and the wafer edge, and consequently, breakage of the wafer edge can be avoided.
本発明の半導体ウエハの保護テープ切断方法および保護テープ切断装置によれば、保護テープを切断する過程で切り口付近に生じる保護テープの浮き上がりや皺を押圧ローラで直ちに押さえつけてウエハ表面に貼り付けることができる。したがって、ウエハ表面の保護機能を確実に発揮させることができる。すなわち、後工程のバックフラインド処理時に保護テープとウエハの間に水や粉塵が侵入するのを確実に防止することができる。 According to the semiconductor wafer protective tape cutting method and the protective tape cutting device of the present invention, the lifting and wrinkles of the protective tape generated in the vicinity of the cut edge in the process of cutting the protective tape can be immediately pressed by the pressing roller and attached to the wafer surface. it can. Therefore, the protection function of the wafer surface can be surely exhibited. That is, it is possible to reliably prevent water and dust from entering between the protective tape and the wafer during the back-flooding process in the subsequent process.
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は、保護テープ貼付け装置の全体構成を示す斜視図である。 FIG. 1 is a perspective view showing the overall configuration of the protective tape attaching device.
この保護テープ貼付け装置は、半導体ウエハW(以下、適宜「ウエハ」という)を収納したカセットCが装填されるウエハ供給/回収部1、ロボットアーム2を備えたウエハ搬送機構3、アライメントステージ4、ウエハWを載置して吸着保持するチャックテーブル5、ウエハWに向けて表面保護用の保護テープTを供給するテープ供給部6、テープ供給部6から供給された保護テープTからセパレータsを剥離回収するセパレータ回収部7、チャックテーブル5に載置されて吸着保持されたウエハWに保護テープTを貼り付ける貼付けユニット8、ウエハWに貼り付けけられた保護テープTをウエハWの外形に沿って切り抜き切断するテープ切断装置9、ウエハWに貼り付けて切断処理した後の不要テープT’を剥離する剥離ユニット10、剥離ユニット10で剥離された不要テープT’を巻き取り回収するテープ回収部11などが備えられている。以下、各構造部および機構についての具体的な構成を以下に説明する。
This protective tape affixing apparatus includes a wafer supply / recovery unit 1 loaded with a cassette C containing a semiconductor wafer W (hereinafter referred to as “wafer” as appropriate), a wafer transfer mechanism 3 having a
ウエハ供給/回収部1は、2台のカセットCを並列して載置可能に構成されている。各カセットCには、複数枚のウエハWが回路パターン面(表面)を上向きにした水平姿勢で多段に差込み収納されている。 The wafer supply / recovery unit 1 is configured so that two cassettes C can be placed in parallel. In each cassette C, a plurality of wafers W are inserted and stored in multiple stages in a horizontal posture with the circuit pattern surface (front surface) facing upward.
ウエハ搬送機構3に備えられたロボットアーム2は、水平に進退移動可能に構成されるとともに、全体が駆動旋回および昇降可能になっている。また、ロボットアーム2の先端には、馬蹄形をした真空吸着式のウエハ保持部2aが備えられている。したがって、カセットCに多段に収納されたウエハW同士の間隙にウエハ保持部2aを差し入れてウエハWを裏面から吸着保持し、吸着保持したウエハWをカセットCから引き出す。その後、ロボットアーム2は、ウエハWをアライメントステージ4、チャックテーブル5、および、ウエハ供給/回収部1の順に搬送するようになっている。
The
アライメントステージ4は、ウエハ搬送機構3によって載置されたウエハWを、その外周に形成されたノッチやオリエンテーションフラットに基づいて位置合わせを行うよう。
The
チャックテーブル5は、ウエハ搬送機構6から移載されて所定の位置合わせ姿勢で載置されたウエハWを真空吸着する。また、このチャックテーブル5の上面には、図2に示すように、テープ切断装置9に備えたカッタ刃12をウエハWの外形に沿って旋回移動させて保護テープTを切断するためにカッタ走行溝13が形成されている。このカッタ刃13の外側の保持面は、ウエハWの載置面と同じ高さに設定されている。なお、チャックテーブルは、本発明の保持テーブルに相当する。
The chuck table 5 vacuum-sucks the wafer W transferred from the
テープ供給部6は、供給ボビン14から繰り出された保護テープTをガイドローラ15群に巻回案内し、セパレータsを剥離した保護テープTを貼付けユニット8に導くよう構成されている。なお、供給ボビン14に適度の回転抵抗を与えて過剰なテープ繰り出しが行われないように構成されている。
The
セパレータ回収部7は、保護テープTから剥離されたセパレータsを巻き取る回収ボビン16が巻き取り方向に回転駆動されるようになっている。
In the
貼付けユニット8は、貼付けローラ17を前向き水平に備えている。また、貼付けユニット8は、図16に示すように、スライド案内機構18およびネジ送り式の駆動機構によって左右水平に往復駆動されるよう構成されている。
The affixing
剥離ユニット10は、剥離ローラ19を前向き水平に備えている。また、剥離ユニット10は、スライド案内機構18およびネジ送り式の駆動機構によって左右水平に往復駆動されるよう構成されている。
The peeling
テープ回収部11は、不要テープT’を巻き取る回収ボビン20が巻き取り方向に回転駆動されるよう構成されている。
The
テープ切断機構9は、図2に示すように、駆動昇降可能な可動台21の下部に、チャックテーブル5の中心上に位置する縦軸X周りに旋回可能に一対の支持アーム22が並列装備されている。支持アーム22の遊端側に備えたカッタユニット23に、刃先を下向きにしたカッタ刃12が装着されている。したがって、支持アーム22が縦軸Xを旋回中心として旋回することによりカッタ刃12はウエハWの外周に沿って移動して保護テープTを切断するように構成されている。詳細な構造は、図2から図6に示されている。
As shown in FIG. 2, the
可動台21は、モータ24を正逆回転駆動することにより縦レール25に沿ってねじ送り昇降される。この可動台21の遊端部に縦軸X周りに回動可能に装備された回動軸26が、可動台21の上に配備されたモータ27に2本のベルト28を介して減速連動されている。したがって、モータ27の作動によって回動軸26が所定の方向に回動される。この回動軸26から下方に延出された支持部材29の下端部に、支持アーム22が水平方向スライド調節可能に貫通支持されている。支持アーム22のスライド調節によってカッタ刃12の旋回中心である縦軸Xからカッタ刃12までの旋回半径をウエハの半径に対応させて変更調節することが可能になっている。
The movable table 21 is screwed up and down along the
図3および図4に示すように、支持アーム22の遊端部にはブラケット30が固着されている。このブラケット30にカッタユニット23が装着支持されている。
As shown in FIGS. 3 and 4, a
カッタユニット23は、回動部材31、支持ブラケット32、カッタ支持部材33、ブラケット34、カッタホルダ35などから構成されている。
The
回転部材31は、ブラケット30に縦向き支軸Y周りに所定範囲内で回動可能に支持されている。支持ブラケット32は、縦壁状であり、回動部材31の端部下面に連結されている。カッタ支持部材33は、支持ブラケット32の側面に連結されている。ブラケット34は、カッタ支持部材33に支持されている。カッタホルダ35は、ブラケット34に取り付けられている。なお、カッタ刃12は、カッタホルダ35の側面に交換可能に締め付け固定されている。
The rotating
回動部材31の上方には、長孔36と突起37との係合によって回動部材31と一体に回動する操作フランジ38が配備されている。この操作フランジ38をエアーシリンダ39によって回動することにより、支持アーム22に対するカッタユニット23全体の縦向き支点Y周りでの姿勢を変更し、移動方向に対するカッタ刃12の角度(切り込み角度)を所定の範囲内で調整することが可能になっている。
An
ブラケット34は、案内レール機構40を介してカッタ支持部材33をスライド可能に支持されている。すなわち、ブラケット34は、支持アーム22の長手方向(図5においては紙面表裏方向)に直線スライド移動する。また、カッタ支持部材33とブラケット34とに亘ってバネ42が張設されている。このバネ42の弾性復元力によってブラケット34が縦軸X(旋回中心)に近づく方向にスライド付勢されている。
The
また、カッタユニット23のカッタ刃走行方向と反対側には、保護テープTの切断に伴って発生する浮き上がりや皺を阻止するための押圧ローラ51を備えた後述の押圧ユニット50が装着されている。
Further, on the opposite side of the
押圧ユニット50の詳細な構造が、図4から図9に示されている。
The detailed structure of the
この押圧ユニット50は、水平姿勢の主ブラケット52、この主ブラケッ52の角部から一体に立設された連結部52a、水平ブラケット52の下側に縦向き支軸P周りに回動可能に枢支連結された回動ブラケット53、回動ブラケット53の下側に水平な回転軸Q周りに遊転自在に軸支された押圧ローラ51などが備えられている。
The
回動ブラケット53の下面には角ブロック状のボス部54が固着されている。このボス部54に水平支軸Rを中心に上下揺動可能に揺動アーム55が枢着されている。この揺動アームの一端に押圧ローラ51が遊転自在に軸支されている。
A square block-
図8および図9に示すように、揺動アーム55の他端と、回動ブラケット53の端辺に取り付けたバネ受け部材56とに亘ってバネ57が張設されている。このバネ57によって揺動アーム55の一端側が下向きに揺動付勢され、揺動アーム55の他端に備えた押圧ローラ51に下向きの付勢力が与えられている。なお、揺動付勢された揺動アーム55は、ボス部54に備えたストッパ58に受け止められている。したがって、押圧ローラ51は、所定高さで停止するよう制限されている。なお、ストッパ58は、本発明の高さ調整部に相当する。
As shown in FIGS. 8 and 9, a
回動ブラケット53は、図6および図7に示すように、ウエハWのサイズに対応して押圧ローラ51の回転軸Qを延伸した仮想線がウエハ中心Xを通るように2箇所の回動位置で位置決め保持可能に構成されている。つまり、押圧ローラ51の回転軸Qは、ウエハ外周の接線方向と直交するので、押圧ローラ51は、ウエハ外周の接線方向に転動移動することが可能になっている。
As shown in FIGS. 6 and 7, the
図10に角度調整機構が示されている。すなわち、主ブラケット52の上面には、図6および図7に示すように、外周面が縦向き支軸Pを中心とする円弧面に形成された位置決めブロック59が固着されている。図10に戻り、回動ブラケット53の上面には、位置決めブロック59の円弧面に対向して角度調整ブロック60が固着されている。この角度調整ブロック60には、バネ62を介して突出付勢状態でボール61が組み込まれている。位置決めブロック59における円弧面の周方向の2箇所に形成したVノッチ63のいずれかにボール61を付勢係合させることにより、回動ブラケット53をウエハWのサイズに対応した2箇所の位置に位置決めすることができる。
FIG. 10 shows the angle adjustment mechanism. That is, as shown in FIGS. 6 and 7, a
また、主ブラケット52には、縦軸Pを中心とする円弧状の長孔64が形成されている。この長孔64に挿通されたハンドル付きの締め付けボルト65を回動ブラケット53に締め込むことにより、角度調整機構によって位置決めされた回動ブラケット53を固定する。
The
図11に、押圧ローラ51による保護テープTの押圧状態が示されている。押圧ローラ51は、その周面が適度の硬度のゴムなどの弾性材からなる弾性層を有し、全長に亘って同径の円柱に形成されている。また、押圧ローラ51は、チャックテーブル5のウエハ載置面の外周近傍からカッタ走行溝13の外側におよぶ長さに設定されている。押圧作用状態の押圧ローラ5は、弾性変形しつつもカッタ走行溝13の内側と外側に亘って受け止め支持される。したがって、押圧ローラ13は、カッタ走行溝13にはみ出ているウエハエッジに過剰な押圧が作用するのを弾性層によって抑制される。
FIG. 11 shows the pressing state of the protective tape T by the pressing
次に、上記実施例装置を用いて保護テープTをウエハWの表面に貼付けて切断する一連の動作を図12から図15に基づいて説明する。 Next, a series of operations for attaching and cutting the protective tape T on the surface of the wafer W using the above-described embodiment apparatus will be described with reference to FIGS.
貼り付け指令が出されると、先ず、ウエハ搬送機構3におけるロボットアーム2がカセット台12に載置装填されたカセットCに向けて移動される。ウエハ保持部2aがカセットCに収容されているウエハ同士の隙間に挿入される。ウエハ保持部2aは、ウエハWを裏面(下面)から吸着保持して搬出し、取り出したウエハWをアライメントステージ4に移載する。
When a sticking command is issued, first, the
アライメントステージ4に載置されたウエハWは、ウエハWの外周に形成されているノッチn(図1を参照)を利用して位置合わせされる。位置合わせのすんだウエハWは、再びロボットアーム2によって搬出されてチャックテーブル5に載置される。
The wafer W placed on the
チャックテーブル5に載置されたウエハWは、その中心がチャックテーブル5の中心上にあるように位置合わせされた状態で吸着保持される。この時、図12に示すように、貼付けユニット8と剥離ユニット10は、左側の初期位置にある。また、テープ切断機構9のカッタ刃12は、上方の初期位置にある。
The wafer W placed on the chuck table 5 is sucked and held in a state of being aligned so that the center thereof is on the center of the chuck table 5. At this time, as shown in FIG. 12, the
次に、図12の仮想線で示すように、貼付けユニット8の貼付けローラ17が下降される。貼付けユニット8は、貼付けローラ17で保護テープTを下方に押圧しながらウエハW上を前方(図10では右方向)に移動する、これによって保護テープTがウエハWの表面全体およびチャックテーブル5の上面に貼り付けられる。
Next, as shown by the phantom lines in FIG. 12, the
図13に示すように、貼付けユニット8が終端位置に達すると、上方に待機していたカッタ刃12が下降される。カッタ刃12は、チャックテーブル5のカッタ走行溝13上の保護テープTに突き刺される。このとき、カッタ刃12は、バネ42によってウエハ外周縁に押し付けられる。同時に押圧ユニット50における押圧ローラが保護テープTに適度の圧力で接触される。
As shown in FIG. 13, when the affixing
切断開始位置でのカッタ刃12のウエハ外周縁への押し付けセットが終了すると、図14に示すように、支持アーム22が所定の方向に回転される。この回転に伴ってカッタ刃12は、ウエハ外周縁に摺接しながら旋回移動し、保護テープTをウエハ外周に沿って切断する。また、同時に押圧ユニット50の押圧ローラ51は、保護テープTの切り口近傍を表面から適度に押圧しながら転動移動する。
When the pressing setting of the
ウエハ外周に沿ったテープ切断が終了すると、図15に示すように、カッタ刃12は元の待機位置まで上昇される。次いで、剥離ユニット10が前方へ移動しながらウエハW上で切り抜き切断されて残った不要テープT’をめくり上げ剥離してゆく。
When the tape cutting along the wafer outer periphery is completed, the
剥離ユニット10が剥離完了位置に到達すると、剥離ユニット10と貼付けユニット8は後退移動して初期位置に復帰する。このとき、不要テープT’が回収ボビン20に巻き取られるとともに、一定量の保護テープTがテープ供給部6から繰り出される。
When the peeling
上記したテープ貼付け作動が終了すると、チャックテーブル5における吸着が解除された後、貼付け処理のすんだウエハWはロボットアーム2のウエハ保持部2aに移載されてウエハ供給/回収部1のカセットCに差込み回収される。
When the above-described tape sticking operation is completed, after the suction on the chuck table 5 is released, the wafer W that has been pasted is transferred to the
以上で1回のテープ貼付け処理が完了し、以後、新しいウエハの搬入に対応して上記作動を順次繰返してゆく。 Thus, one tape sticking process is completed, and thereafter, the above operations are sequentially repeated in response to loading of a new wafer.
上記実施装置によれば、カッタユニット23の後方に押圧ユニット50を備えることにより、カッタ刃12の後方近傍に押圧ローラ51を配置することができる。さらに、押圧ローラ51の回転軸Qを延長した仮想線がウエハWの中心に相当するチャックテーブル5の縦軸Xを確実に通るように配備することができる。したがって、カッタ刃Wと押圧ローラ51の間の距離が短いので、切断時に生じる保護テープTの浮き上がりや皺を直ちに潰してウエハWに確実に貼り付けることができる。また、このようにセッティングされた押圧ローラ51は、保護テープTとの摩擦が抑制されるので、摩擦に伴う過剰な押圧によって保護テープTやウエハWへの負荷を抑えることができる。その結果、ウエハエッジの破損も回避することができる。
According to the above implementation apparatus, the pressing
本発明は以下のような形態で実施することも可能である。 The present invention can also be implemented in the following forms.
(1)上記実施例装置は、ストッパ58の高さを変更することにより、押圧ローラ51の高さを調整するこができる。
(1) The above-described embodiment apparatus can adjust the height of the
(2)本発明は、位置固定のカッタ刃12に対してウエハW側を回動させて保護テープTの切断を行う形態のものに適用することもできる。
(2) The present invention can also be applied to a configuration in which the protective tape T is cut by rotating the wafer W side with respect to the
(3)図16に示すように、押圧ローラ51は、直径の異なる円柱を組み合わせた構成であってもよい。すなわち、チャックテーブル5のウエハ載置面とカッタ走行溝13の外側のテーブル面が同じ高さに設定されている場合、カッタ走行溝13の外側のテーブル面に作用する押圧ローラ51の先端側を、ウエハWの厚さと保護テープTの厚さの分だけ大径にする。この構成によれば、押圧ローラ51は、保護テープTおよびカッタ走行溝13の外側のテーブル面に均一な押圧を作用させることができ、ウエハWのエッジの破損を回避することができる。
(3) As shown in FIG. 16, the pressing
(4)図17に示すように、押圧ローラ51は、テーパー状の円柱形状であってもよい。すなわち、チャックテーブル5のウエハ載置面とカッタ走行溝13の外側のテーブル面が同じ高さに設定されている場合、押圧ローラ51の先端側が基端側より大径となるテーパー形状に構成する。この構成によれば、押圧ローラ51は、保護テープTおよびカッタ走行溝13の外側のテーブル面に略均一な押圧を作用させることができ、ウエハWのエッジの破損を回避することができる。
(4) As shown in FIG. 17, the pressing
(5)図18に示すように、押圧ローラ51は、全長に亘って同径のストレート形状であってもよい。すなわち、チャックテーブル5のカッタ走行溝13の外側のテーブル面が、ウエハ載置面よりもウエハWの厚さと保護テープTの厚さの分だけ高く設定されている場合、押圧ローラ51は、保護テープTおよびカッタ走行溝13の外側のテーブル面に均一な押圧を作用させることができ、ウエハWのエッジの破損を回避することができる。
(5) As shown in FIG. 18, the pressing
5 … チャックテーブル
12 … カッタ刃
13 … カッタ走行溝
23 … カッタユニット
50 … 押圧ユニット
51 … 押圧ローラ
X … ウエハ中心
W … 半導体ウエハ
T … 保護テープ
Q … 回転軸
DESCRIPTION OF
Claims (8)
前記半導体ウエハの中心に配置した回転軸により、旋回アームを介して前記回転軸と接続されているカッタ刃を旋回させて半導体ウエハの外形に沿って保護テープを切断する切断過程と、
前記カッタ刃を有するカッタユニットの当該カッタ刃の後部近傍に、前記旋回アームを介して前記回転軸と接続されている押圧ローラを有する押圧ユニットを備え、当該押圧ローラの回転軸から延長した仮想線が半導体ウエハの中心を通るように制御された状態を維持したまま、カッタ刃に追従して保護テープの切断部位を押圧する押圧過程と、
を備えたことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断方法。 A semiconductor wafer protective tape cutting method for cutting a protective tape attached to a surface of a semiconductor wafer along the outer shape of the semiconductor wafer,
A cutting process of cutting a protective tape along the outer shape of the semiconductor wafer by turning a cutter blade connected to the rotation shaft via a turning arm by a rotating shaft arranged at the center of the semiconductor wafer;
An imaginary line including a pressing unit having a pressing roller connected to the rotating shaft via the swivel arm in the vicinity of a rear portion of the cutter unit having the cutter blade and extending from the rotating shaft of the pressing roller. While maintaining the controlled state to pass through the center of the semiconductor wafer, the pressing process of pressing the cutting part of the protective tape following the cutter blade,
A method for cutting a protective tape of a semiconductor wafer, comprising:
弾性材を介して前記押圧ローラを下向きに弾性付勢しつつ保護テープの表面を転動させる
ことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断方法。 In the semiconductor wafer protective tape cutting method according to claim 1,
A method for cutting a protective tape of a semiconductor wafer, comprising rolling the surface of the protective tape while elastically biasing the pressing roller downward through an elastic material.
前記半導体ウエハを載置保持する保持テーブルと、
旋回アームを介して前記回転軸と接続され、前記保護テープを切断するカッタ刃を有するカッタユニットと、
前記チャックテーブルに載置保持された半導体ウエハの外周に対して当該半導体ウエハの中心回りにカッタユニットのカッタ刃を相対的に回転移動させる駆動機構と、
前記カッタユニットの後部に装着されるとともに、前記旋回アームを介して前記回転軸と接続されておりカッタ刃の後部近傍に保護テープを押圧する押圧ローラを有し、当該押圧ローラの回転軸から延長した仮想線が半導体ウエハの中心を通るように制御される押圧ユニットと、
を備えたことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断装置。 A protective tape cutting device for a semiconductor wafer that cuts a protective tape attached to the surface of the semiconductor wafer along the outer shape of the semiconductor wafer,
A holding table for mounting and holding the semiconductor wafer;
A cutter unit having a cutter blade that is connected to the rotary shaft via a swing arm and cuts the protective tape;
A drive mechanism for relatively rotating the cutter blade of the cutter unit around the center of the semiconductor wafer with respect to the outer periphery of the semiconductor wafer placed and held on the chuck table;
A pressing roller that is attached to the rear portion of the cutter unit and is connected to the rotary shaft via the pivot arm and presses a protective tape in the vicinity of the rear portion of the cutter blade, and extends from the rotary shaft of the pressing roller. A pressing unit that is controlled so that the imaginary line passes through the center of the semiconductor wafer;
A protective tape cutting device for a semiconductor wafer, comprising:
前記押圧ユニットは、押圧ローラの回転軸の向きを調節可能に構成した
ことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断装置。 In the semiconductor wafer protective tape cutting device according to claim 3,
The pressing unit is configured to be capable of adjusting the direction of the rotating shaft of the pressing roller.
前記押圧ユニットは、押圧ローラの回転軸の向きを複数段階に調節する角度調整機構を備えた
ことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断装置。 In the semiconductor wafer protective tape cutting device according to claim 4,
The said press unit was equipped with the angle adjustment mechanism which adjusts the direction of the rotating shaft of a press roller in several steps. The protective tape cutting device of the semiconductor wafer characterized by the above-mentioned.
前記押圧ローラは、少なくとも転動面が弾性材である
ことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断装置。 In the semiconductor wafer protective tape cutting device according to any one of claims 3 to 5,
The pressure roller has at least a rolling surface made of an elastic material. A semiconductor wafer protective tape cutting device.
前記押圧ローラの高さを調整する高さ調整部を備えた
ことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断装置。 In the semiconductor wafer protective tape cutting device according to any one of claims 3 to 6,
A protective tape cutting device for a semiconductor wafer, comprising a height adjusting unit for adjusting a height of the pressing roller.
前記押圧ローラを下向きに付勢する弾性材を備えた
ことを特徴とする半導体ウエハの保護テープ切断装置。 In the semiconductor wafer protective tape cutting device according to any one of claims 3 to 7,
A protective tape cutting device for a semiconductor wafer, comprising an elastic material for urging the pressing roller downward.
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