JP6055234B2 - 表面増強ラマン散乱ユニット - Google Patents

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Description

本発明は、表面増強ラマン散乱ユニットに関する。
従来の表面増強ラマン散乱ユニットとして、表面増強ラマン散乱(SERS:Surface Enhanced Raman Scattering)を生じさせる微小金属構造体を備えるものが知られている(例えば、特許文献1及び非特許文献1参照)。このような表面増強ラマン散乱ユニットにおいては、ラマン分光分析の対象となる試料が微小金属構造体に接触させられ、その状態で当該試料に励起光が照射されると、表面増強ラマン散乱が生じ、例えば10倍程度にまで増強されたラマン散乱光が放出される。
ところで、例えば特許文献2には、基板の一面、及び当該基板の一面に形成された複数の微小突起部の上面(又は、当該基板の一面に形成された複数の微細孔の底面)のそれぞれに、非接触状態となるように(最短部分の間隔が5nm〜10μm程度となるように)金属層が形成された微小金属構造体が記載されている。
特開2011−33518号公報 特開2009−222507号公報
"Q-SERSTM G1 Substrate"、[online]、株式会社オプトサイエンス、[平成24年7月19日検索]、インターネット<URL:http://www.optoscience.com/maker/nanova/pdf/Q-SERS_G1.pdf>
上述したように、いわゆるナノギャップが微小金属構造体に形成されていると、励起光が照射された際に局所的な電場の増強が起こり、表面増強ラマン散乱の強度が増大される。
そこで、本発明は、好適なナノギャップによって表面増強ラマン散乱の強度を増大させることができる表面増強ラマン散乱ユニットを提供することを目的とする。
本発明の表面増強ラマン散乱ユニットは、主面を有する基板と、主面上に形成された支持部、及び支持部上に形成された微細構造部を含む成形層と、微細構造部上に堆積され、表面増強ラマン散乱を生じさせる光学機能部を構成する導電体層と、を備え、微細構造部は、支持部上に立設された複数のピラーを有し、支持部には、ピラーの側面と対向する複数の対向部が設けられており、対向部は、ピラーが突出する方向において、ピラーの先端部に対して基板側に位置している。
この表面増強ラマン散乱ユニットでは、ピラーの先端部に対して基板側の位置に、ピラーの側面と対向する対向部が設けられている。導電体層を堆積により形成する際、ピラーの側面及び対向部では、堆積する導電材料微粒子の量が少なくなり、導電材料微粒子の凝集作用によって、ピラーの側面及び対向部の双方に、例えば半球面状の外形を有するナノパーティクルが形成され、ナノパーティクル同士の間にギャップが良好に形成される。このピラーの側面に形成されたギャップは、局所的な電場の増強が起こるナノギャップとして好適に機能する。したがって、この表面増強ラマン散乱ユニットによれば、好適なナノギャップによって表面増強ラマン散乱の強度を増大させることができる。
本発明の表面増強ラマン散乱ユニットでは、ピラーは、主面に沿って周期的に配列されていてもよい。この構成によれば、表面増強ラマン散乱の強度を安定的に増大させることができる。
本発明の表面増強ラマン散乱ユニットでは、支持部には、複数の凹部が形成されており、対向部は、凹部の内面であってもよい。この構成によれば、対向部を容易に且つ確実に形成することができる。
本発明の表面増強ラマン散乱ユニットでは、対向部は、ピラーが突出する方向から見た場合に、ピラーの側面の一部分に沿うように延在していてもよい。この構成によれば、ナノギャップとして好適に機能するギャップを増加させることができる。
本発明の表面増強ラマン散乱ユニットでは、対向部は、ピラーが突出する方向から見た場合に、ピラーの側面を包囲するように延在していてもよい。この構成によれば、ナノギャップとして好適に機能するギャップを増加させることができる。
本発明の表面増強ラマン散乱ユニットでは、対向部は、1つのピラーに対して複数設けられていてもよい。更にこの構成によれば、ナノギャップとして好適に機能するギャップを増加させることができる。
本発明の表面増強ラマン散乱ユニットでは、1つのピラーに対して設けられた複数の対向部は、互いに異なる形状を有していてもよい。この構成によれば、ピラー間の関係では同様に対向部を形成することで、光学機能部におけるギャップの形成状態に所定の方向性が生じるので、所定の偏光方向を有する光の強度を選択的に増大させることができる。
本発明によれば、好適なナノギャップによって表面増強ラマン散乱の強度を増大させることができる表面増強ラマン散乱ユニットを提供することが可能となる。
本発明の第1実施形態の表面増強ラマン散乱ユニットの平面図である。 図1のII−II線に沿っての断面図である。 図1の表面増強ラマン散乱ユニットの光学機能部の断面図である。 図3のピラー及び対向部の平面図及び断面図である。 図1の表面増強ラマン散乱ユニットの光学機能部のSEM写真である。 図1の表面増強ラマン散乱ユニットの製造工程を示す断面図である。 図1の表面増強ラマン散乱ユニットの製造工程を示す断面図である。 本発明の第2実施形態のピラー及び対向部の平面図及び断面図である。 本発明の第3実施形態のピラー及び対向部の平面図及び断面図である。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
[第1実施形態]
図1及び図2に示されるように、第1実施形態のSERSユニット(表面増強ラマン散乱ユニット)1は、ハンドリング基板2と、ハンドリング基板2上に取り付けられたSERS素子(表面増強ラマン散乱素子)3と、を備えている。ハンドリング基板2は、矩形板状のスライドガラス、樹脂基板又はセラミック基板等である。SERS素子3は、ハンドリング基板2の長手方向における一方の端部に片寄った状態で、ハンドリング基板2の表面2aに配置されている。
SERS素子3は、ハンドリング基板2上に取り付けられた基板4と、基板4上に形成された成形層5と、成形層5上に形成された導電体層6と、を備えている。基板4は、シリコン又はガラス等によって矩形板状に形成されており、数百μm×数百μm〜数十mm×数十mm程度の外形及び100μm〜2mm程度の厚さを有している。基板4の裏面4bは、ダイレクトボンディング、半田等の金属を用いた接合、共晶接合、レーザ光の照射等による溶融接合、陽極接合、又は樹脂を用いた接合によって、ハンドリング基板2の表面2aに固定されている。
図3に示されるように、成形層5は、微細構造部7と、支持部8と、枠部9と、を含んでいる。微細構造部7は、周期的パターンを有する領域であり、成形層5の中央部において基板4と反対側の表層に形成されている。微細構造部7には、数nm〜数百nm程度の直径及び高さを有する四角錐台状の複数のピラー71が、基板4の表面(主面)4aに沿って、数十nm〜数百μm程度(好ましくは、250nm〜800nm)のピッチで周期的に配列されている。微細構造部7は、基板4の厚さ方向から見た場合に、数百μm×数百μm〜数十mm×数十mm程度の矩形状の外形を有している。支持部8は、微細構造部7を支持する矩形状の領域であり、基板4の表面4aに形成されている。枠部9は、支持部8を包囲する矩形環状の領域であり、基板4の表面4aに形成されている。支持部8及び枠部9は、数十nm〜数十μm程度の厚さを有している。このような成形層5は、例えば、基板4上に配置された樹脂(アクリル系、フッ素系、エポキシ系、シリコーン系、ウレタン系、PET、ポリカーボネート、無機有機ハイブリット材料等)又は低融点ガラスをナノインプリント法によって成形することで、一体的に形成される。
複数のピラー71は、支持部8上に立設されており、隣り合うピラー71の間には、支持部8の表面8aが露出している。この支持部8の表面8aには、複数の凹部11が形成されている。凹部11は、ピラー71ごとに設けられている。凹部11は、ピラー71が突出する方向において、ピラー71の先端部71aに対して基板4側に位置している。
図4の(a),(b)に示されるように、凹部11は、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71に隣接して設けられている。具体的には、凹部11は、ピラー71の側面71bと、側面71bと対向する壁部(内面)11aと、により画定されている。すなわち、凹部11の壁部11aは、ピラー71の側面71bと対向する対向部として機能する。壁部11aは、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71の1つの側面71bに沿って延在している。凹部11は、例えば、数nm〜数百nm程度の深さを有しており、数nm〜数百nm程度の長さ(側面71bに沿った長さ)を有している。側面71bと壁部11aとの間の最大の間隔は、例えば数十nm程度である。
図3に示されるように、導電体層6は、微細構造部7から枠部9に渡って形成されている。微細構造部7においては、導電体層6は、ピラー71の外面、支持部8の表面8a及び凹部11の内面に形成されている。導電体層6は、数nm〜数μm程度の厚さを有している。このような導電体層6は、例えば、ナノインプリント法によって成形された成形層5に金属(Au,Ag、Al、Cu又はPt等)等の導電体を蒸着、又はスパッタ等することで、形成される。SERS素子3では、微細構造部7、及び支持部8の表面8aに形成された導電体層6によって、表面増強ラマン散乱を生じさせる光学機能部10が構成されている。
図5は、図1の表面増強ラマン散乱ユニットの光学機能部のSEM写真である。図3及び図5に示されるように、導電体層6は、ピラー71の側面71b、及び凹部11の壁部11aに形成された複数のナノパーティクルNPを含んでいる。各ナノパーティクルNPは、略半球状に形成されており、隣り合うナノパーティクルNP間には、ギャップGが形成されている。
以上のように構成されたSERSユニット1は、次のように使用される。まず、ハンドリング基板2の表面2aに、例えばシリコーン等からなる環状のスペーサを、SERS素子3を包囲するように配置する。続いて、ピペット等を用いて、スペーサの内側に溶液の試料(或いは、水又はエタノール等の溶液に粉体の試料を分散させたもの)を滴下し、光学機能部10上に試料を配置する。続いて、レンズ効果を低減させるために、スペーサ上にカバーガラスを載置し、溶液の試料と密着させる。
続いて、SERSユニット1をラマン分光分析装置にセットし、光学機能部10上に配置された試料に、カバーガラスを介して励起光を照射する。これにより、光学機能部10と試料との界面で表面増強ラマン散乱が生じ、試料由来のラマン散乱光が例えば10倍程度にまで増強されて放出される。よって、ラマン分光分析装置では、高感度・高精度なラマン分光分析が可能となる。
なお、光学機能部10上への試料の配置の方法には、上述した方法の他に、次のような方法がある。例えば、ハンドリング基板2を把持して、溶液である試料(或いは、水又はエタノール等の溶液に粉体の試料を分散させたもの)に対してSERS素子3を浸漬させて引き上げ、ブローして試料を乾燥させてもよい。また、溶液である試料(或いは、水又はエタノール等の溶液に粉体の試料を分散させたもの)を光学機能部10上に微量滴下し、試料を自然乾燥させてもよい。また、粉体である試料をそのまま光学機能部10上に分散させてもよい。
次に、第1実施形態のSERSユニット1の製造方法の一例について説明する。まず、図6の(a)に示されるように、マスタモールドM及びフィルム基材Fを用意する。マスタモールドMは、微細構造部7に対応する微細構造部M7と、微細構造部M7を支持する支持部M8と、を含んでいる。支持部M8上には、複数の微細構造部M7がマトリックス状に配列されている。続いて、図6の(b)に示されるように、マスタモールドMにフィルム基材Fを押し当て、その状態で加圧及び加熱することにより、複数の微細構造部M7のパターンをフィルム基材Fに転写する。
続いて、図6の(c)に示されるように、フィルム基材FをマスタモールドMから離型することにより、図6の(d)に示されるように、複数の微細構造部M7のパターンが転写されたレプリカモールド(レプリカフィルム)Rを得る。離型の際には、種々の条件を制御する。例えば、図6の(c)に示されるように、マスタモールドMに対するフィルム基材Fの離型方向を制御することが可能である。また、例えば、引張り荷重や離型速度等を制御することが可能である。
図6の(d)に示されるように、レプリカモールドRには、ピラー形成凹部R71が形成される。また、上述のように離型方向を制御することによって、レプリカモールドRにおいて、マスタモールドMの支持部M8と当接していた部分であって、ピラー形成凹部R71に隣接する部分には、凹部形成部R11が形成される。より具体的には、凹部形成部R11は、ピラー形成凹部R71に対して、離型方向と反対側の位置に形成される。
続いて、図7の(a)に示されるように、基板4となるシリコンウェハ40を用意し、その表面40aにUV硬化性の樹脂を塗布することにより、成形層5となるナノインプリント層50をシリコンウェハ40上に形成する。続いて、図7の(b)に示されるように、ナノインプリント層50にレプリカモールドRを押し当て、その状態でUVを照射してナノインプリント層50を硬化させることにより、レプリカモールドRのパターンをナノインプリント層50に転写する。続いて、図7の(c)に示されるように、レプリカモールドRをナノインプリント層50から離型することにより、複数の微細構造部7が形成されたシリコンウェハ40を得る。
続いて、図7の(d)に示されるように、抵抗加熱蒸着や電子ビーム蒸着等の蒸着法又はスパッタ法等によって、Au、Ag等の金属を成形層5上に成膜し、導電体層6を形成する。このとき、ピラー71の側面71b及び凹部11の壁部11aでは、堆積する金属微粒子の量が少なくなり、金属微粒子の凝集作用によって、側面71b及び壁部11aの双方に、ナノパーティクルNPが形成される。また、ピラー71の他の側面においても、堆積する金属微粒子の量が少なくなり、ナノパーティクルNPが形成される。
また、導電体層の堆積の際、金属微粒子はエネルギーを有した状態で蒸発し、成形層5に付着する。このとき、エネルギーは保存されるため、成形層に付着した金属微粒子は、成形層5上でわずかに動く。側面71bと壁部11aとの間では、平坦な箇所に比して、成形層5に付着した金属微粒子の動きが変化すると考えられ、ナノパーティクルNPが形成されるとも考えられる。
更に、導電体層の堆積の際、金属微粒子は、凹部11の角部(壁部11aと支持部8の表面とが交わる部分)によって跳ね返され、側面71bに向かうことも考えられる。これにより、側面71bにナノパーティクルNPが形成されるとも考えられる。
続いて、微細構造部7ごとに(換言すれば、光学機能部10ごとに)シリコンウェハ40を切断することより、複数のSERS素子3を得る。続いて、SERS素子3をハンドリング基板2上に取り付けて、SERSユニット1を得る。
以上、第1実施形態のSERSユニット1においては、ピラー71の先端部71aに対して基板4側の位置に、ピラー71の側面71bと対向する壁部11aが設けられている。導電体層6を堆積により形成する際、ピラー71の側面71b及び壁部11aでは、堆積する導電材料微粒子の量が少なくなり、導電材料微粒子の凝集作用によって、ピラー71の側面71b及び壁部11aの双方に、例えば半球面状の外形を有するナノパーティクルNPが形成され、ナノパーティクルNP,NP同士の間にギャップGが良好に形成される。このピラー71の側面71bに形成されたギャップGは、局所的な電場の増強が起こるナノギャップとして好適に機能する。したがって、このSERSユニット1によれば、好適なナノギャップによって表面増強ラマン散乱の強度を増大させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、ピラー71は、主面4aに沿って周期的に配列されている。このため、表面増強ラマン散乱の強度を安定的に増大させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、支持部8には、複数の凹部11が形成されており、壁部11aは、凹部11の内面である。本発明者らは、鋭意研究の結果、上述のように、レプリカモールドRを作製する際、マスタモールドMからフィルム基材Fを離型するときの条件を制御することにより、レプリカモールドRにおいて、ピラーを成形するためのピラー形成凹部R71の近傍に、凸状の凹部形成部R11を容易に形成できることを見出した。上述したSERSユニット1のように、対向部が凹部11の内面である壁部11aであると、ナノインプリントにより成形層5を形成する際、凹部形成部R11により、壁部11aを容易に形成することができる。このため、対向部を容易に且つ確実に形成することができる。
また、上述したSERSユニット1においては、壁部11aは、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71の側面の一部分である側面71bに沿うように延在している。このため、ナノギャップとして好適に機能するギャップGを増加させることができる。
[第2実施形態]
図8は、本発明の第2実施形態のピラー及び対向部の平面図及び断面図である。第2実施形態のSERSユニット1は、1つのピラー71に対して複数の凹部11,12が設けられている点で、上述した第1実施形態のSERSユニット1と主に相違している。
具体的には、支持部8には、凹部11に加えて、凹部12が形成されている。凹部12は、ピラー71を挟んで、凹部11と反対側に設けられている。凹部12は、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71に隣接して設けられている。より詳細には、凹部12は、ピラー71の側面71cと、側面71cと対向する壁部(内面)12aと、により画定されている。すなわち、凹部12の壁部12aは、ピラー71の側面71cと対向する対向部として機能する。凹部12は、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71の1つの側面71cに沿って延在している。
1つのピラー71に対して設けられた複数の凹部11,12は、互いに異なる形状を有しており、壁部11a,12aも、互いに異なる形状を有している。具体的には、凹部12は凹部11より小さく、壁部12aも壁部11aより小さい。
以上のように構成されたSERSユニット1は、例えば、次のように製造することができる。すなわち、上述の製造方法において、熱ナノインプリントによりレプリカモールドRを作製する際に、マスタモールドMからフィルム基材Fを離型するときの温度や引張り荷重を調整することにより、それぞれ凹部11及び凹部12に対応した2つの凹部形成部をピラー形成凹部R71に隣接して形成することが可能である。そして、得られたレプリカモールドを使用して、残りの工程を上述と同様に行うことにより、凹部11,12を有するSERSユニットを製造することができる。
以上、第2実施形態のSERSユニット1においては、ピラー71の側面71bと対向する壁部11a、及びピラー71の側面71cと対向する壁部12aが設けられている。導電体層6を堆積により形成する際、ピラー71の側面71b,71c、及び壁部11a,12aでは、堆積する導電材料微粒子の量が少なくなり、導電材料微粒子の凝集作用によって、ピラー71の側面71b,71c及び壁部11a,12aの双方に、例えば半球面状の外形を有するナノパーティクルNPが形成され、ナノパーティクルNP,NP同士の間にギャップGが良好に形成される。したがって、好適なナノギャップによって表面増強ラマン散乱の強度を増大させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、ピラー71は、主面4aに沿って周期的に配列されている。このため、表面増強ラマン散乱の強度を安定的に増大させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、支持部8には、凹部11及び凹部12がそれぞれ複数形成されており、壁部11aは凹部11の内面であり、壁部12aは凹部12の内面である。このため、上述したように、熱ナノインプリントによりレプリカモールドRを作製する際に、マスタモールドMからフィルム基材Fを離型するときの条件を制御することにより、壁部11a、及び壁部12aを容易に且つ確実に形成することができる。
また、上述したSERSユニット1においては、壁部11aは、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71の側面の一部分である側面71bに沿うように延在しており、壁部12aは、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71の側面の一部分である側面71cに沿うように延在している。このため、ナノギャップとして好適に機能するギャップGを増加させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、複数の壁部11a、及び壁部12aは、1つのピラー71に対して設けられている。このため、ナノギャップとして好適に機能するギャップGを増加させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、1つのピラーに対して設けられた複数の壁部11a、及び壁部12aは、互いに異なる形状を有している。このため、ピラー71間の関係では同様に壁部11a、及び壁部12aを形成することで、光学機能部10におけるギャップGの形成状態に所定の方向性が生じるので、所定の偏光方向を有する光の強度を選択的に増大させることができる。
[第3実施形態]
図9は、本発明の第3実施形態のピラー及び対向部の平面図及び断面図である。第3実施形態のSERSユニット1は、ピラー71の側面を包囲するように凹部13が設けられている点で、上述した第1実施形態のSERSユニット1と主に相違している。
具体的には、支持部8には、凹部13が形成されている。凹部13は、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71に隣接して設けられている。より詳細には、凹部13は、ピラー71の側面71b,71c,71d,71eと、側面71b,71c,71d,71eと対向する壁部(内面)13aと、により画定されている。すなわち、凹部13の壁部13aは、ピラー71の側面71b,71c,71d,71eと対向する対向部として機能する。壁部13aは、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71の側面71b,71c,71d,71eを包囲するように延在している。
以上のように構成されたSERSユニット1は、例えば、次のように製造することができる。すなわち、上述の製造方法において、熱ナノインプリントによりレプリカモールドを作製する際に、マスタモールドMからフィルム基材Fを離型するときに、フィルム基材Fの厚み方向にフィルム基材Fを引っ張り上げることで、凹部13に対応した凹部形成部を、ピラー形成凹部R71を包囲するように形成することが可能である。そして、得られたレプリカモールドを使用して、残りの工程を上述と同様に行うことにより、壁部13aを有するSERSユニットを製造することができる。
以上、第3実施形態のSERSユニット1においては、ピラー71の側面71b,71c,71d,71eと対向する壁部13aが設けられている。導電体層6を堆積により形成する際、ピラー71の側面71b,71c,71d,71e、及び壁部13aでは、堆積する導電材料微粒子の量が少なくなり、導電材料微粒子の凝集作用によって、ピラー71の側面71b,71c,71d,71e及び壁部13aの双方に、例えば半球面状の外形を有するナノパーティクルNPが形成され、ナノパーティクルNP,NP同士の間にギャップGが良好に形成される。したがって、好適なナノギャップによって表面増強ラマン散乱の強度を増大させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、ピラー71は、主面4aに沿って周期的に配列されている。このため、表面増強ラマン散乱の強度を安定的に増大させることができる。
また、上述したSERSユニット1においては、支持部8には、複数の凹部13が形成されており、壁部13aは凹部13の内面である。このため、上述したように、熱ナノインプリントによりレプリカモールドRを作製する際に、マスタモールドMからフィルム基材Fを離型するときの条件を制御することにより、壁部13aを容易に且つ確実に形成することができる。
また、上述したSERSユニット1においては、壁部13aは、ピラー71が突出する方向から見た場合に、ピラー71の側面71b,71c,71d,71eを包囲するように延在している。このため、ナノギャップとして好適に機能するギャップGを増加させることができる。
以上、本発明の第1〜第3実施形態について説明したが、本発明は、上記各実施形態に限定されるものではない。例えば、ピラー71の断面形状は、四角形に限定されず、三角形等の多角形、円形、或いは楕円等であってもよい。このように、SERSユニット1の各構成の材料及び形状には、上述した材料及び形状に限らず、様々な材料及び形状を適用することができる。
また、凹部11,12,13の形成は、上述のようなマスタモールドM及びフィルム基材Fを用いた離型時のパラメータ調整によるものに限定されない。例えば、マスタモールドMに対して、凹部11,12,13に対応する凹部を設けることにより、レプリカモールドRに凹部形成部を設け、このレプリカモールドRをナノインプリント層50に押し当てることにより、凹部11,12,13を形成してもよい。この場合、レプリカモールドRは、フィルム基材Fに限らず、石英、シリコン、又はニッケル等から形成されてもよい。また、例えば、モールドに対して凹部11,12,13に対応する凸部を設け、このモールドをナノインプリント層50に押し当てることにより、レプリカモールドRを介することなく、凹部11,12,13を形成してもよい。
また、導電体層6は、微細構造部7上に直接的に形成されたものに限定されず、微細構造部7に対する金属の密着性を向上させるためのバッファ金属(Ti、Cr等)層等、何らかの層を介して、微細構造部7上に間接的に形成されたものであってもよい。
また、凹部11,12,13の内面である壁部11a,12a,13aがそれぞれ対向部として機能しているが、支持部8から突出する突出部をピラー71の側面と対向するように設け、この突出部を対向部としてもよい。この場合、導電体層の堆積の際にピラー71の側面と突出部の側面との間を通過する金属微粒子が少なくなるように突出部をピラー71に隣接させると共に、突出部の高さをピラー71の高さよりも低くする(すなわち、対向部である突出部を、ピラーが突出する方向において、ピラーの先端部に対して基板4側に位置させる)ことにより、上述の壁部11a,12a,13aと同様に機能させることが可能である。また、この場合、ピラー71と突出部との間の距離を、周期的に配列されたピラー71間の距離よりも小さくする。
1…SERSユニット(表面増強ラマン散乱ユニット)、4…基板、4a…表面(主面)、5…成形層、6…導電体層、7…支持部、8…微細構造部、10…光学機能部、11,12,13…凹部、11a,12a,13a…壁部(対向部)、71…ピラー、71a…先端部、71b,71c,71d,71e…側面。

Claims (6)

  1. 主面を有する基板と、
    前記主面上に形成された支持部、及び前記支持部上に形成された微細構造部を含む成形層と、
    前記微細構造部上に堆積され、表面増強ラマン散乱を生じさせる光学機能部を構成する導電体層と、を備え、
    前記微細構造部は、前記支持部上に立設された複数のピラーを有し、
    前記支持部には、前記ピラーの側面と対向する複数の対向部が設けられており、
    前記対向部は、前記ピラーが突出する方向において、前記ピラーの先端部に対して前記基板側に位置しており、
    前記支持部、前記ピラー及び前記対向部は、同一材料により一体的に形成されている、表面増強ラマン散乱ユニット。
  2. 前記ピラーは、前記主面に沿って周期的に配列されている、請求項1記載の表面増強ラマン散乱ユニット。
  3. 前記支持部には、複数の凹部が形成されており、
    前記対向部は、前記凹部の内面である、請求項1又は2記載の表面増強ラマン散乱ユニット。
  4. 前記対向部は、前記ピラーが突出する前記方向から見た場合に、前記ピラーの側面の一部分に沿うように延在している、請求項1〜3のいずれか一項記載の表面増強ラマン散乱ユニット。
  5. 前記対向部は、1つの前記ピラーに対して複数設けられている、請求項1〜4のいずれか一項記載の表面増強ラマン散乱ユニット。
  6. 1つの前記ピラーに対して設けられた複数の前記対向部は、互いに異なる形状を有している、請求項5記載の表面増強ラマン散乱ユニット。
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CN201380040860.1A CN104508466B (zh) 2012-08-10 2013-08-09 表面增强拉曼散射元件
EP13828081.3A EP2884265A4 (en) 2012-08-10 2013-08-09 SURFACE-REINFORCED RAM SPREADING ELEMENT
CN201380042452.XA CN104520696B (zh) 2012-08-10 2013-08-09 表面增强拉曼散射元件及其制造方法
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US14/420,510 US9863884B2 (en) 2012-08-10 2013-08-09 Surface-enhanced Raman scattering element, and method for producing same
EP13827643.1A EP2884264B1 (en) 2012-08-10 2013-08-09 Surface-enhanced raman scattering element, and method for producing same
CN201380042524.0A CN104541155B (zh) 2012-08-10 2013-08-09 表面增强拉曼散射元件
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014025035A1 (ja) 2012-08-10 2014-02-13 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱素子
JP6058313B2 (ja) 2012-08-10 2017-01-11 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱ユニット
WO2014025037A1 (ja) 2012-08-10 2014-02-13 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱素子及びその製造方法
CN107255630B (zh) 2012-08-10 2020-07-03 浜松光子学株式会社 表面增强拉曼散射元件、以及制造表面增强拉曼散射元件的方法
JP6023509B2 (ja) * 2012-08-10 2016-11-09 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱ユニット
JP5908370B2 (ja) * 2012-08-10 2016-04-26 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱ユニット
JP6294797B2 (ja) * 2014-09-10 2018-03-14 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱ユニット
US10527494B2 (en) * 2014-09-26 2020-01-07 Korea Intitute of Machinery & Materials Substrate on which multiple nanogaps are formed, and manufacturing method therefor
CN105588829B (zh) * 2016-03-04 2018-02-23 中国科学院合肥物质科学研究院 可连续调制基底表面等离子体共振的sers测量方法
JP6305500B2 (ja) * 2016-12-02 2018-04-04 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱ユニット
KR101857061B1 (ko) * 2017-04-25 2018-05-14 서울시립대학교 산학협력단 표면에 금속 입자가 부착된 홀을 포함하는 광학체를 사용한 표면증강라만 분석방법

Family Cites Families (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0544867U (ja) 1991-11-18 1993-06-15 三洋電機株式会社 測定装置の包装体
JPH07260646A (ja) 1994-03-17 1995-10-13 Nikon Corp 試料容器
US20040023046A1 (en) 1998-08-04 2004-02-05 Falko Schlottig Carrier substrate for Raman spectrometric analysis
US6406777B1 (en) * 2000-06-14 2002-06-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Metal and glass structure for use in surface enhanced Raman spectroscopy and method for fabricating same
JP2003026232A (ja) 2001-07-18 2003-01-29 Seiko Epson Corp 梱包方法及び緩衝材
US7460224B2 (en) * 2005-12-19 2008-12-02 Opto Trace Technologies, Inc. Arrays of nano structures for surface-enhanced Raman scattering
US7242469B2 (en) * 2003-05-27 2007-07-10 Opto Trace Technologies, Inc. Applications of Raman scattering probes
CN100357738C (zh) 2004-03-26 2007-12-26 博奥生物有限公司 一种检测小分子化合物的方法
CN1957245B (zh) 2004-05-19 2010-12-08 Vp控股有限公司 通过sers增强化学基团检测的具有层化等离子体结构的光学传感器
JP2005337771A (ja) * 2004-05-25 2005-12-08 National Institute For Materials Science ナノ構造を有する集積化ピラー構造光学素子
GB0424458D0 (en) 2004-11-04 2004-12-08 Mesophotonics Ltd Metal nano-void photonic crystal for enhanced raman spectroscopy
US7245370B2 (en) 2005-01-06 2007-07-17 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Nanowires for surface-enhanced Raman scattering molecular sensors
US7651863B2 (en) * 2005-07-14 2010-01-26 3M Innovative Properties Company Surface-enhanced spectroscopic method, flexible structured substrate, and method of making the same
US8337979B2 (en) * 2006-05-19 2012-12-25 Massachusetts Institute Of Technology Nanostructure-reinforced composite articles and methods
US7528948B2 (en) 2006-07-25 2009-05-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Controllable surface enhanced Raman spectroscopy
JP5221549B2 (ja) 2006-10-12 2013-06-26 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 試薬層を有した高速バイオセンサ
US7388661B2 (en) * 2006-10-20 2008-06-17 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Nanoscale structures, systems, and methods for use in nano-enhanced raman spectroscopy (NERS)
JP2008196992A (ja) 2007-02-14 2008-08-28 National Institute Of Information & Communication Technology 表面プラズモンの電場増強構造
JP5397577B2 (ja) * 2007-03-05 2014-01-22 オムロン株式会社 表面プラズモン共鳴センサ及び当該センサ用チップ
JP2008268059A (ja) 2007-04-23 2008-11-06 St Japan Inc 試料ホルダ
JP4993360B2 (ja) 2007-06-08 2012-08-08 富士フイルム株式会社 微細構造体及びその製造方法、光電場増強デバイス
JP2009047623A (ja) 2007-08-22 2009-03-05 Jiyasuko Eng Kk 透過測定用ホルダ
JP2009103643A (ja) 2007-10-25 2009-05-14 Fujifilm Corp 表面増強ラマン分光装置
US8115920B2 (en) 2007-11-14 2012-02-14 3M Innovative Properties Company Method of making microarrays
JP2009222507A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 微量物質検出素子
JP2009236830A (ja) 2008-03-28 2009-10-15 Sumitomo Precision Prod Co Ltd 被分析物担体、及び、その製造方法
CN101281133B (zh) 2008-05-12 2010-08-18 中国科学院合肥物质科学研究院 具有大面积微纳树状结构阵列的表面增强拉曼活性基底的制备方法
JP4980324B2 (ja) 2008-09-30 2012-07-18 テルモ株式会社 成分測定装置
JP5042371B2 (ja) 2008-10-30 2012-10-03 日本電信電話株式会社 測定チップ着脱装置、spr測定システム及び測定チップ着脱方法
EP2365935B2 (en) * 2008-11-17 2022-09-21 Hewlett-Packard Development Company, L.P. A substrate for surface enhanced raman scattering (sers)
CN101408513A (zh) 2008-11-28 2009-04-15 长春理工大学 表面规则凹凸起伏的样品台及其制作方法
WO2010090111A1 (ja) 2009-02-09 2010-08-12 浜松ホトニクス株式会社 加工対象物切断方法
JP2012523576A (ja) 2009-04-13 2012-10-04 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ リーランド スタンフォード ジュニア ユニバーシティ 試料中の分析物の存在を検出するための方法および装置
US20120081703A1 (en) 2009-05-07 2012-04-05 Nant Holdings Ip, Llc Highly Efficient Plamonic Devices, Molecule Detection Systems, and Methods of Making the Same
JP2011021085A (ja) 2009-07-15 2011-02-03 Yokohama Rubber Co Ltd:The 空気入りタイヤ用ゴム組成物
JP2011033518A (ja) * 2009-08-04 2011-02-17 Toray Res Center:Kk 表面増強ラマン分光分析方法
US8659391B2 (en) 2009-08-18 2014-02-25 Indian Institute Of Technology Madras Multielement and multiproperty tagging
US8559003B2 (en) 2009-09-17 2013-10-15 Huei Pei Kuo Electrically driven devices for surface enhanced raman spectroscopy
TWI523950B (zh) 2009-09-30 2016-03-01 凸版印刷股份有限公司 核酸分析裝置
JP2011075348A (ja) 2009-09-30 2011-04-14 Nidek Co Ltd 試験片の製造方法
US8767202B2 (en) 2009-10-23 2014-07-01 Danmarks Tekniske Universitet SERS substrate and a method of providing a SERS substrate
EP2325635B1 (en) 2009-11-19 2017-05-03 Seiko Epson Corporation Sensor chip, sensor cartridge, and analysis apparatus
JP5544836B2 (ja) 2009-11-19 2014-07-09 オムロン株式会社 表面プラズモン共鳴チップ
US20110166045A1 (en) * 2009-12-01 2011-07-07 Anuj Dhawan Wafer scale plasmonics-active metallic nanostructures and methods of fabricating same
JP5589656B2 (ja) 2009-12-11 2014-09-17 セイコーエプソン株式会社 センサーチップ、センサーカートリッジ及び分析装置
JP5574783B2 (ja) 2010-03-31 2014-08-20 富士フイルム株式会社 蛍光検出装置および方法
US9182338B2 (en) * 2010-05-21 2015-11-10 The Trustees Of Princeton University Structures for enhancement of local electric field, light absorption, light radiation, material detection and methods for making and using of the same
CN102169086B (zh) * 2010-12-31 2013-01-09 清华大学 用于单分子检测的分子载体
JP5779963B2 (ja) 2011-04-28 2015-09-16 ナノフォトン株式会社 観察試料密閉容器
WO2013015810A2 (en) 2011-07-27 2013-01-31 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Surface enhanced raman spectroscopy employing a nanorod in a surface indentation
JP6301311B2 (ja) 2012-04-10 2018-03-28 ザ トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシティThe Trustees Of Princeton University 超高感度センサ
TWI469917B (zh) 2012-08-09 2015-01-21 Nat Univ Tsing Hua 具表面增強拉曼散射活性之結構、其製造方法及其偵測裝置
CN104520694B (zh) 2012-08-10 2018-05-15 浜松光子学株式会社 表面增强拉曼散射单元及其使用方法
WO2014025034A1 (ja) 2012-08-10 2014-02-13 浜松ホトニクス株式会社 表面増強ラマン散乱ユニット

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