JP6041528B2 - 静電容量測定システム及び静電容量測定方法ならびにキャパシタセルの劣化状態推定システム及び劣化状態推定方法 - Google Patents
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 229
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 108
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 title description 15
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 title description 15
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 40
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 21
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 8
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 2
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 220
- CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N Ascorbic acid Chemical compound OC[C@H](O)[C@H]1OC(=O)C(O)=C1O CIWBSHSKHKDKBQ-JLAZNSOCSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 210000003771 C cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Images
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
このようなキャパシタセルの劣化状態は、蓄電装置の充放電中に、充電電流または放電電流を検出して、充電電流または放電電流とセル電圧の経時変化に基づいて測定された各キャパシタセルの静電容量から推定することが一般的である。
この寿命判定装置100では、キャパシタセル102が満充電の状態で、放電スイッチ108を入状態とし、短絡スイッチ110を切状態とすることによって、キャパシタセル102と放電抵抗rとの閉回路が形成され、キャパシタセル102の放電が開始される。
前記複数のキャパシタセルのセル電圧をそれぞれ検出するための電圧測定手段と、
前記複数のキャパシタセルのセル電圧を降下もしくは上昇させるための電圧調整手段と、
前記電圧測定手段を制御するための演算処理装置と、を備え、
前記演算処理装置が、
前記電圧測定手段によって測定された前記複数のキャパシタセルのセル電圧に基づいて、計測開始電圧及び計測終了電圧を決定し、
前記電圧測定手段によって前記キャパシタセルのセル電圧を測定するとともに、前記キャパシタセルのセル電圧が、前記電圧調整手段によって前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下もしくは上昇する電圧測定時間を計測し、
前記演算装置が、前記電圧測定時間に基づいて、前記キャパシタセルの静電容量を算出するとともに、前記キャパシタセルと同じ試験用キャパシタセルの下記式2により求められる静電容量と、前記キャパシタセルの静電容量の初期値である定格容量との差である補正値Cvによって前記静電容量を補正して、下記式1に基づき、前記キャパシタセルの実効静電容量を算出するように構成されていることを特徴とする。
前記複数のキャパシタセルのセル電圧を測定する工程と、
測定された複数のキャパシタセルのセル電圧に基づいて、計測開始電圧及び計測終了電圧を決定する工程と、
前記キャパシタセルのセル電圧が、電圧調整手段によって前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下もしくは上昇する電圧測定時間を計測する工程と、
前記電圧測定時間に基づいて、前記キャパシタセルの静電容量を算出する工程と、
前記キャパシタセルと同じ試験用キャパシタセルの下記式2により求められる静電容量と、前記キャパシタセルの静電容量の初期値である定格容量との差である補正値Cvによって前記静電容量の補正を行い、下記式1に基づき、前記キャパシタセルの実効静電容量を算出する工程と、を含むことを特徴とする。
前記演算処理装置が、
前記キャパシタセルの電荷を消費するように、前記キャパシタセルから前記電荷消費手段へ電流を流すように制御を行い、
前記電圧測定手段によって前記キャパシタセルのセル電圧を測定するとともに、前記キャパシタセルのセル電圧が、前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下する電圧測定時間を計測するように構成されていることを特徴とする。
前記キャパシタセルのセル電圧が、前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下する電圧測定時間を計測することを特徴とする。
前記複数のキャパシタセルに対して並列に接続された均等化制御用スイッチと、
前記均等化制御用スイッチを制御するための均等化セル選択回路と、をさらに備え、
前記演算処理装置が、前記キャパシタセルの電荷を消費するように、前記キャパシタセルから前記均等化制御用抵抗へ電流を流すため、前記キャパシタセルに対して並列に接続された前記均等化制御用スイッチを入状態とするように前記均等化セル選択回路を制御するように構成されていることを特徴とする。
また、本発明の静電容量測定方法は、前記キャパシタセルが、リチウムイオンキャパシタであることを特徴とする。
前記演算処理装置が、
前記電圧測定時間に基づいて算出された前記キャパシタセルの実効静電容量と、前記キャパシタセルの定格容量との容量比率を算出し、
前記容量比率に基づいて前記キャパシタセルの劣化状態を推定することを特徴とする。
前記キャパシタセルの実効静電容量と、前記キャパシタセルの定格容量との容量比率を算出する工程と、
前記容量比率に基づいて前記キャパシタセルの劣化状態を推定する工程と、を含むことを特徴とする。
本実施例の蓄電装置10は、キャパシタセルC1〜Cnと、静電容量測定回路11とを備えている。
蓄電部22の両端は電源回路18に接続されており、蓄電部22の電力を用いて演算処理装置16を動作させるように構成されている。すなわち、本実施例の静電容量測定回路11を備えた蓄電装置10は、蓄電装置10自身の電力を用いてキャパシタセルC1〜Cnの静電容量を測定することができる。
図2は、図1の蓄電装置10において静電容量測定回路11を用いて、キャパシタセルC1〜Cnの実効静電容量測定を行う流れを示すフローチャートである。
この状態で、キャパシタセルCmのセル電圧を電圧測定手段(測定用IC13)によって測定し、セル電圧が計測開始電圧Vdsに達したか否かが判断される(S50)。
このようにタイマーによって計測された電圧測定時間は、キャパシタセルC1〜Cnに関連づけて演算処理装置16のRAMに記憶される。
なお、本実施例では、電荷消費手段を用いて、キャパシタセルCmのセル電圧が、計測開始電圧Vdsから計測終了電圧Vdeに降下するまでの電圧測定時間を計測しているが、例えば、充電手段などを用いて、キャパシタセルCmのセル電圧が、計測開始電圧Vdsから計測終了電圧Vdeに上昇するまでの電圧測定時間を計測するようにしてもよい。
このように、本発明では、電荷消費手段や充電手段などの電圧調整手段を用いて、キャパシタセルのセル電圧が、計測開始電圧Vdsから計測終了電圧Vdeに達するまでの電圧測定時間を計測し、この電圧測定時間に基づいて、キャパシタセルの静電容量を算出することができる。
この実施例の蓄電装置10は、キャパシタセルC1〜Cnと、均等化制御回路12とを備えている。
11 静電容量測定回路
12 均等化制御回路
13 測定用IC
14 均等化IC
16 演算処理装置
18 電源回路
20 通信手段
22 蓄電部
C1〜Cn キャパシタセル
R1〜Rn 均等化制御用抵抗
S1〜Sn 均等化制御用スイッチ
100 寿命判定装置
102 キャパシタセル
104 電圧検出手段
106 検査回路
108 放電スイッチ
110 短絡スイッチ
r 放電抵抗
Claims (9)
- 複数のキャパシタセルを含む蓄電装置において、キャパシタセルの実効静電容量を測定する静電容量測定システムであって、
前記複数のキャパシタセルのセル電圧をそれぞれ検出するための電圧測定手段と、
前記複数のキャパシタセルのセル電圧を降下もしくは上昇させるための電圧調整手段と、
前記電圧測定手段を制御するための演算処理装置と、を備え、
前記演算処理装置が、
前記電圧測定手段によって測定された前記複数のキャパシタセルのセル電圧に基づいて、計測開始電圧及び計測終了電圧を決定し、
前記電圧測定手段によって前記キャパシタセルのセル電圧を測定するとともに、前記キャパシタセルのセル電圧が、前記電圧調整手段によって前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下もしくは上昇する電圧測定時間を計測し、
前記演算処理装置が、前記電圧測定時間に基づいて、前記キャパシタセルの静電容量を算出するとともに、前記キャパシタセルと同じ試験用キャパシタセルの下記式2により求められる静電容量と、前記試験用キャパシタセルの定格容量との差である補正値C v によって前記静電容量を補正して、下記式1に基づき、前記キャパシタセルの実効静電容量を算出するように構成されていることを特徴とする静電容量測定システム。
- 前記電圧調整手段が、前記複数のキャパシタセルの電荷を消費するための電荷消費手段であり、
前記演算処理装置が、
前記キャパシタセルの電荷を消費するように、前記キャパシタセルから前記電荷消費手段へ電流を流すように制御を行い、
前記電圧測定手段によって前記キャパシタセルのセル電圧を測定するとともに、前記キャパシタセルのセル電圧が、前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下する電圧測定時間を計測するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の静電容量測定システム。 - 前記電荷消費手段が、前記キャパシタセルに対して並列に接続された均等化制御用抵抗であるとともに、前記電圧測定手段が、セル電圧検出回路であり、
前記複数のキャパシタセルに対して並列に接続された均等化制御用スイッチと、
前記均等化制御用スイッチを制御するための均等化セル選択回路と、をさらに備え、
前記演算処理装置が、前記キャパシタセルの電荷を消費するように、前記キャパシタセルから前記均等化制御用抵抗へ電流を流すため、前記キャパシタセルに対して並列に接続された前記均等化制御用スイッチを入状態とするように前記均等化セル選択回路を制御するように構成されていることを特徴とする請求項2に記載の静電容量測定システム。 - 前記キャパシタセルが、リチウムイオンキャパシタであることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の静電容量測定システム。
- 請求項1から4のいずれかに記載の静電容量測定システムを備え、
前記演算処理装置が、
前記電圧測定時間に基づいて算出された前記キャパシタセルの実効静電容量と、前記キャパシタセルの定格容量との容量比率を算出し、
前記容量比率に基づいて前記キャパシタセルの劣化状態を推定することを特徴とするキャパシタセルの劣化状態推定システム。 - 複数のキャパシタセルを含む蓄電装置において、キャパシタセルの実効静電容量を測定する静電容量測定方法であって、
前記複数のキャパシタセルのセル電圧を測定する工程と、
測定された複数のキャパシタセルのセル電圧に基づいて、計測開始電圧及び計測終了電圧を決定する工程と、
前記キャパシタセルのセル電圧が、電圧調整手段によって前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下もしくは上昇する電圧測定時間を計測する工程と、
前記電圧測定時間に基づいて、前記キャパシタセルの静電容量を算出する工程と、
前記キャパシタセルと同じ試験用キャパシタセルの下記式2により求められる静電容量と、前記試験用キャパシタセルの定格容量との差である補正値C v によって前記静電容量の補正を行い、下記式1に基づき、前記キャパシタセルの実効静電容量を算出する工程と、を含むことを特徴とする静電容量測定方法。
- 前記複数のキャパシタセルの電荷を消費させる工程をさらに含み、
前記キャパシタセルのセル電圧が、前記計測開始電圧から前記計測終了電圧まで降下する電圧測定時間を計測することを特徴とする請求項6に記載の静電容量測定方法。 - 前記キャパシタセルが、リチウムイオンキャパシタであることを特徴とする請求項6または7に記載の静電容量測定方法。
- 請求項6から8のいずれかに記載の静電容量測定方法によって、前記キャパシタセルの実効静電容量を測定する工程と、
前記キャパシタセルの実効静電容量と、前記キャパシタセルの定格容量との容量比率を算出する工程と、
前記容量比率に基づいて前記キャパシタセルの劣化状態を推定する工程と、を含むことを特徴とするキャパシタセルの劣化状態推定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012114673A JP6041528B2 (ja) | 2012-05-18 | 2012-05-18 | 静電容量測定システム及び静電容量測定方法ならびにキャパシタセルの劣化状態推定システム及び劣化状態推定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012114673A JP6041528B2 (ja) | 2012-05-18 | 2012-05-18 | 静電容量測定システム及び静電容量測定方法ならびにキャパシタセルの劣化状態推定システム及び劣化状態推定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013242197A JP2013242197A (ja) | 2013-12-05 |
JP6041528B2 true JP6041528B2 (ja) | 2016-12-07 |
Family
ID=49843217
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012114673A Active JP6041528B2 (ja) | 2012-05-18 | 2012-05-18 | 静電容量測定システム及び静電容量測定方法ならびにキャパシタセルの劣化状態推定システム及び劣化状態推定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6041528B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021103678A1 (zh) * | 2019-11-27 | 2021-06-03 | 南京埃斯顿自动化股份有限公司 | 一种电解电容寿命实时在线诊断及寿命预测的方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6631073B1 (en) * | 1998-08-25 | 2003-10-07 | Kanebo, Limited | Electrode material and method for producing the same |
JP2000223372A (ja) * | 1999-02-02 | 2000-08-11 | Nissin Electric Co Ltd | 導電性高分子膜を用いたキャパシタ |
JP2008027946A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Meidensha Corp | 電気二重層キャパシタの寿命判定装置及び寿命判定方法 |
-
2012
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021103678A1 (zh) * | 2019-11-27 | 2021-06-03 | 南京埃斯顿自动化股份有限公司 | 一种电解电容寿命实时在线诊断及寿命预测的方法 |
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---|---|
JP2013242197A (ja) | 2013-12-05 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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