JP6035519B2 - 電解コンデンサの電気的特性測定用冶具、その冶具を備えた測定装置および電解コンデンサの測定方法 - Google Patents

電解コンデンサの電気的特性測定用冶具、その冶具を備えた測定装置および電解コンデンサの測定方法 Download PDF

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Description

本発明は、電解コンデンサの電気的特性測定用冶具、その冶具を備えた測定装置および電解コンデンサの測定方法に関し、特に、陽極リード端子と陰極リード端子の少なくともいずれかが複数の端子部を有する電解コンデンサの電気的特性測定時に電解コンデンサを固定するための冶具、その冶具を備えた測定装置および電解コンデンサの測定方法に関する。
近年、電子回路の小型化、高周波数化に伴ってコンデンサの電気的特性の一つであるESR(等価直列抵抗)およびESL(等価直列インダクタンス)の低減が強く求められている。従来のコンデンサは、陽極側のリード端子と陰極側のリード端子とがそれぞれ1本ずつである2端子構造となっていたが、この構造ではESRおよびESLの低減に限界があった。近年、ESRやESLの低減が期待できるとして、陽極リード端子と陰極リード端子がそれぞれ2本ずつの4端子構造のアルミニウム電解コンデンサが提案されている(例えば、特開2004−179621号公報(特許文献1)参照)。
ところで、電解コンデンサのESRやESLなどの電気的特性を測定する場合は、通常、電解コンデンサの陽極リード端子と陰極リード端子を測定用冶具(フィクスチャ)に固定する必要がある。
図13は、従来の2端子構造の電解コンデンサが従来の測定用冶具に装着された状態を示す概略平面図(A)および概略側面図(B)である。電解コンデンサ15の陽極リード端子4は測定用冶具1に設けられた2枚の陽極用電極板2で挟み込んで支持され、陰極リード端子5は測定用冶具1に設けられた2枚の陰極用電極板3で挟み込んで支持されている。
特開2004−179621号公報
従来の測定用冶具で4端子構造の電解コンデンサを固定する場合は、図14に示すように、2本の陽極リード端子4をそれぞれ接触させて、それらを2枚の陽極用電極板2で挟み込んで支持し、2本の陰極リード端子5をそれぞれ接触させて、それらを2枚の陰極用電極板3で挟み込んで支持する必要がある。このために、電極板2、3とリード端子4、5の接触位置がずれたり、リード端子4、5が変形したりすることがあった。それにより、本来所望する測定位置での測定が困難となり、電解コンデンサ15の電気的特性であるESRやESLの値が特に高周波領域(おおよそ100kHz〜40MHz)でばらついていた。
また、電解コンデンサ15のリード端子4、5が多端子であるほど、測定用冶具1に設けられた電極板2、3が電解コンデンサを押圧して固定するときに、各リード端子4、5に対して与える押圧力の違いによって接触抵抗がばらついてしまう。これにより、電解コンデンサ15の電気的特性であるESRやESLの値がばらついていた。
それゆえに、本発明の主たる目的は、安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる測定用冶具、測定装置および測定方法を提供することである。
本発明に係る電解コンデンサの電気的特性測定用冶具は、陽極リード端子と陰極リード端子の少なくともいずれかが複数の端子部を有するように構成された電解コンデンサの電気的特性測定時に電解コンデンサを固定するための冶具であって、陽極リード端子に当接し、かつ陽極リード端子を支持するための複数の陽極用電極板と、陰極リード端子に当接し、かつ陰極リード端子を支持するための複数の陰極用電極板とを備え、複数の陽極用電極板および複数の陰極用電極板の少なくともいずれかが3つ以上である。この測定用冶具によれば、電解コンデンサのリード端子の変形やリード端子と電極板の接触位置がずれることを防止することができ、安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。
好ましくは、電解コンデンサの電気的特性測定用冶具は、それぞれが複数の陽極用電極板の各々の間および複数の陰極用電極板の各々の間に配置された複数のスペーサー部材をさらに備え、スペーサー部材の各々の径は陽極リード端子あるいは陰極リード端子のそれぞれの端子の径と同一であることである。この測定用冶具によれば、電極板同士が接触することを防止することができ、電解コンデンサのリード端子の変形やリード端子と電極板の接触位置がずれることを防止することで、安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。
また好ましくは、電解コンデンサの電気的特性測定用冶具は、それぞれが複数の陽極用電極板の各々の間および複数の陰極用電極板の各々の間に配置された複数のスペーサー部材をさらに備え、スペーサー部材の各々の径は陽極リード端子あるいは陰極リード端子のそれぞれの端子の径よりも小さいことである。この測定用冶具によれば、電解コンデンサのリード端子の変形やリード端子と電極板の接触位置がずれることを防止することができ、安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。また、電極板でリード端子を加圧することで、わずかにリード端子が歪むことでリード端子の径が小さくなり、電極板のスペーサーとマッチすることで電解コンデンサのESRやESLの測定精度が向上する。
本発明に係る測定装置は、上記に記載の電解コンデンサの電気的特性測定用冶具と、冶具に固定された電解コンデンサの電気的特性を測定するための測定器とを備えている。この測定装置によれば、電解コンデンサのリード端子の変形やリード端子と電極板の接触位置がずれることを防止することができ、安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。
本発明に係る電解コンデンサの測定方法は、陽極リード端子と陰極リード端子とを有する電解コンデンサを電気的特性測定用冶具で支持した状態で電解コンデンサの電気的特性を測定する方法であって、陽極リード端子を電気的特性測定用冶具の複数の陽極用電極板の間で挟み込んで支持し、かつ陰極リード端子を電気的特性測定用冶具の複数の陰極用電極板の間で挟み込んで支持する工程と、電気的特性測定用冶具で電解コンデンサを支持した状態で電解コンデンサの電気的特性を測定する工程とを備え、陽極リード端子および陰極リード端子の少なくともいずれかは複数の端子部を有し、陽極用電極板および陰極用電極板の少なくともいずれかは3つ以上の電極板を有し、複数の端子部の各々は、3つ以上の電極板のそれぞれの間に挟まれて支持される。この測定方法によれば、電解コンデンサのリード端子の変形やリード端子と電極板の接触位置がずれることを防止することができ、安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。
本発明によれば、電解コンデンサのリード端子の変形やリード端子と電極板の接触位置がずれることを防止することができ、安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。
本発明の実施の形態1に係る測定用冶具を示す概略平面図である。 4端子構造の電解コンデンサを示す概略斜視図である。 4端子構造の電解コンデンサが測定用冶具に装着された状態を示す概略斜視図である。 本発明の実施の形態1に係る測定用冶具を含む測定装置の機能ブロックを示す図である。 本発明の実施の形態2に係る測定用冶具を示す概略平面図である。 本発明の実施の形態3に係る測定用冶具を示す概略平面図である。 本発明の実施の形態4に係る測定用冶具を示す概略平面図である。 本発明の実施の形態1に係る測定用冶具の電極板が傾いた状況を示す概略平面図である。 本発明の実施の形態5に係る測定用冶具を示す概略平面図である。 本発明の実施の形態5に係る測定用冶具の一部を拡大した概略平面図である。 本発明の実施の形態1〜5に係る測定用冶具を用いた測定方法を示す工程フロー図である。 電解コンデンサと測定器の電気的接続の一例の概略を示す回路図である。 2端子構造の電解コンデンサが従来の測定用冶具に装着された状態を示す概略平面図(A)および概略側面図(B)である。 4端子構造の電解コンデンサが従来の測定用冶具に装着された状態を示す概略平面図(A)および概略側面図(B)である。 加圧バネを用いた測定用冶具の一例を示す概略平面図である。 加圧バネを用いた測定用冶具の一例を示す概略平面図である。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付し、その説明は繰り返さない。
(実施の形態1)
まず、本実施の形態の測定用冶具の構成を図1を用いて説明する。
図1に示すように、測定用冶具1は、3枚の陽極用電極板2と、3枚の陰極用電極板3と、ケース10と、電極固定ネジ6、7と、コネクタ8a、8b、9a、9bとを有している。
3枚の陽極用電極板2は、それぞれ電解コンデンサ15の陽極リード端子4に当接して陽極リード端子4を支持するためのものである。つまり陽極用電極板2は、2枚の陽極用電極板2同士の間で1本の陽極リード端子4を挟み込むことで陽極リード端子4を支持するとともに陽極リード端子4と電気的に接続可能なように構成されている。
3枚の陰極用電極板3は、それぞれ電解コンデンサ15の陰極リード端子5に当接して陰極リード端子5を支持するためのものである。つまり陰極用電極板3は、2枚の陰極用電極板3同士の間で1本の陰極リード端子5を挟み込むことで陰極リード端子5を支持するとともに陰極リード端子5と電気的に接続可能なように構成されている。
電極板2、3の材料としては、酸化されにくい金属を用いることが好ましく、例えばニッケルや真鍮などの材料であることが好ましい。また電極板2、3の酸化防止機能や導電性を向上させるためには、電極板2、3を金メッキすることが有効である。これにより、電極板2、3と電解コンデンサのリード端子4、5との接触抵抗を低減することができ、電気的特性の測定値のばらつきを低減することができる。
ケース10は略直方体の形状をしている。このケース10の内部には上記の3枚の陽極用電極板2と3枚の陰極用電極板3とが収容されている。ケース10には開口部11が設けられており、この開口部11から3枚の陽極用電極板2および3枚の陰極用電極板3のそれぞれが露出している。電極固定ネジ6、7およびコネクタ8a、8b、9a、9bはケース10に取り付けられている。
電極固定ネジ6、7はケース10の一方の面に設けられ、電極固定ネジ6、7を回すことで電極板2、3の間の距離を変動させることができる。これにより、電解コンデンサ15のリード端子4、5を電極板2、3で挟みこんで支持したり、リード端子4、5を電極板2、3から離すことが可能である。
コネクタ8a、8b、9a、9bは、測定対象物である電解コンデンサ15の電気的特性を測定するときに測定器側の測定端子に接続される部分である。例えば、測定器としてAgilent社製のインピーダンスアナライザ4294Aを使用する場合には、測定用冶具に設けられたコネクタ8aおよび8bは、それぞれインピーダンスアナライザのHp端子およびHc端子に接続される。またコネクタ9a、9bは、それぞれインピーダンスアナライザのLp端子およびLc端子に接続される。ここで、Hc、Hp、LcおよびLpはHigh Current、High Potential、Low CurrentおよびLow Potentialの略語である。
またコネクタ8a、8bは共に3枚の陽極用電極板2の各々と電気的に接続されており、コネクタ9a、9bは共に3枚の陰極用電極板3の各々と電気的に接続されている。
次に、測定対象物である4端子構造の電解コンデンサの構成について図2を用いて説明する。
図2に示すように、電解コンデンサ15は、本体部16と、例えば2本の陽極リード端子4と、例えば2本の陰極リード端子5とを有している。本体部16は、例えば陽極用のアルミニウム化成箔と陰極用のアルミニウムとがセパレータを介して巻回されて形成されたコンデンサ素子を内部に有している。2本の陽極リード端子4の各々は本体部16の陽極用のアルミニウム化成箔に接続されており、外部の回路に組み込むために本体部16の外部に引き出されたものである。2本の陰極リード端子5の各々は本体部16の陰極用のアルミニウムに接続されており、外部の回路に組み込むために本体部16の外部に引き出されたものである。
次に、上記の電解コンデンサを測定用冶具に固定した様子について図3を用いて説明する。
図3に示すように、4端子構造の電解コンデンサ15の2本の陽極リード端子4a、4bの内、一方の陽極リード端子4aが測定用冶具1の2つの陽極用電極板2aおよび2bの間に挟まれて支持されている。他方の陽極リード端子4bは2つの陽極用電極板2bおよび2cの間に挟まれて支持されている。このように、1本の陽極リード端子のみが2枚の陽極用電極板2の間にできた1つの隙間に挿入される。
同様に、4端子構造の電解コンデンサ15の2本の陰極リード端子5a、5bの内、一方の陰極リード端子5aが測定用冶具1の2つの陰極用電極板3aおよび3bの間に挟まれて支持されている。他方の陰極リード端子5bは2つの陰極用電極板3bおよび3cの間に挟まれて支持されている。このように、1本の陰極リード端子のみが2枚の陰極用電極板の間にできた1つの隙間に挿入される。
電解コンデンサ15のリード端子4、5を固定する方法としては、例えば、電極固定ネジ6、7の各々をケース10に対してねじ込むことで電極板2、3を移動させて、電解コンデンサのリード端子4、5を固定する方法がある。より具体的には、本実施の形態1では3枚の電極板の内、最もコネクタ8、9に近い側にある電極板2c、3cは固定されて、中央の電極板2b、3bと電極固定ネジ6、7側にある電極板2a、3aは可動式とされている。電解コンデンサ15のリード端子4、5を電極板2、3の間に挿入した状態で電極固定ネジ6、7をねじ込むことによって電極板2a、3aがコネクタ側に押し出されてリード端子4a、5aを押圧する。さらに電極固定ネジ6、7をねじ込むことによってリード端子4a、5aに押された中央の電極板2b、3bがコネクタ側に移動して、もう一本のリード端子4b、5bを押圧する。このようにして、3枚の電極板で2本のリード端子を挟み込み電解コンデンサ15を固定することが可能である。なお、電極板2、3とリード端子4、5を接触させて固定する方法はネジ式に限られず、例えばバネを用いて固定することも可能である。
バネを用いてリード端子4、5を固定する方法の具体例を、図15を用いて説明する。図15に示すように、測定用冶具1は、電極板2、3と、ケース10と、加圧バネ17と、レバー18とを有している。加圧バネ17は、ケース10の側面と電極板2、3の側面とを連結するように設けられている。加圧バネ17は、例えば自然長よりも短くなるように圧縮されているために、加圧バネ17にはもとの長さに戻ろうとする復元力がかかってくる。その復元力により加圧バネ17が電極板2、3をリード端子4、5の方向に押し出す。これにより、電極板2、3がリード端子4、5を固定することができる。加圧バネ17として、例えばコイルバネや板バネなどを使用することができる。レバー18は、例えば電極板2、3の端部からケース10の外側に延びるように設けられている。レバー18を動かすことで電極板2、3の位置を変化させることができる。たとえば、電極板2、3にリード端子4、5を固定するときは、レバー18をケース10の外側へ引っ張ることにより、電極板2、3間の距離を広げる。そして、広がった電極板2、3の間にリード端子4、5を挿入する。その後、レバー18を離すと加圧バネ17の復元力により電極板2、3はもとの位置に戻ることでリード端子4、5を固定することができる。本実施の形態では、加圧バネ17とレバー18はそれぞれ4つずつであったが、図16に示すように、2つずつであっても良い。また、レバー18は電極板2、3を動かすことができれば良いので、どの位置の電極板2、3に設けられていても良い。
バネを用いてリード端子4、5を固定する方法の別の具体例を、図16を用いて説明する。図16に示すように、測定用冶具1は、電極板2、3と、ケース10と、加圧バネ17と、レバー18と、電極板固定部19とを有している。電極板固定部19は、ケース10の側面と電極板2、3の側面とを連結するように設けられている。電極板固定部19は、電極板2、3が動かないように固定する。本実施の形態では、電極板固定部19はコネクタ8、9側の電極板2、3に接するように設けられているが、別の電極板2、3に接するように設けられていても良い。加圧バネ17は、電極板固定部19が設けられていない電極板2、3の側面とケース10の側面とを連結するように設けられている。この電極板2、3の端部には、レバー18が設けられている。レバー18を動かすことで、電極板2、3の位置を変化させることができる。例えば、レバー18によって電極板2、3の間の距離を広げることで、リード端子4、5を挿入することができる。図15で説明したように、加圧バネ17の復元力によって電極板2、3を押すことにより、リード端子4、5が固定される。
次に、本実施の形態の測定用冶具を含む測定装置について図4を用いて説明する。
図4に示すように、測定装置は、測定器20と、測定用冶具1とを有している。
測定器20は、入力部21と、入力制御部22と、出力検出部23と、表示部24と、測定端子25a、25b、26a、26bとを有している。入力部21は、例えば測定する周波数を測定器の外部から入力して決定する部分であり、測定器20の外部に設けられているたとえば入力パネルがこれに該当する部分である。入力制御部22は、例えば測定対象物に入力する信号を発生させて制御する部分である。出力検出部23は、例えば測定対象物から出力された信号を検出する部分である。表示部24は、例えば出力された信号を表示する部分であり、例えば測定器20のディスプレイがこれに該当する部分である。
測定端子25a、25b、26a、26bは、それぞれ測定用冶具1のコネクタ8a、8b、9a、9bに電気的に接続される部分であり、測定器20の内部において入力制御部22および出力検出部23の各々に電気的に接続されている。
この測定器20は、電解コンデンサ15の電気的特性を測定する測定器20であればどのような測定器でもよく、インピーダンスアナライザに限られず、例えばネットワークアナライザーなどでも良い。また測定用冶具1としては、例えば図1に示した冶具を使用することができる。また、後述する図5〜10に示す冶具を用いることも可能である。
図12に示すように、測定対象物である電解コンデンサ15の電気的特性を測定する場合には、電解コンデンサ15の陽極リード端子4の各々の端子部は測定用冶具1の陽極用電極板2を通してコネクタ8aおよび8bと電気的に接続され、陰極リード端子5の各々の端子部は測定用冶具1の陰極用電極板3を通してのコネクタ9aおよび9bと電気的に接続される。そして、測定用冶具1に設けられたコネクタ8aおよび8bはそれぞれ測定器20に設けられている測定端子25aおよび25bに接続され、コネクタ9aおよび9bはそれぞれ測定器20に設けられている測定端子26aおよび26bに接続される。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
本実施の形態の測定用冶具1によれば、電解コンデンサ15の1つのリード端子4、5のみが2枚の電極板2、3により挟まれて支持されているため、電解コンデンサ15のリード端子4、5の変形やリード端子4、5と電極板2、3の接触位置がずれることを防止することができる。また、リード端子4、5と電極板2、3の接触抵抗のばらつきを低減することができるため、安定した精度で電解コンデンサ15のESRやESLを測定することができる。
(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2に係る測定用冶具について図5を用いて説明する。
測定用冶具1は、3枚の陽極用電極板2と2枚の陰極用電極板3を有する。2本の陽極リード端子4および1本の陰極リード端子5を有する電解コンデンサ15の電気的特性を測定する場合、図5に示したような構成の測定用冶具1を使用することが好ましい。
1本の陰極リード端子5は、従来通り2枚の陰極用電極板3により挟まれ支持される。2本の陽極リード端子4の一方の端子は、電極固定ネジ6、7側の陽極用電極板2と中央の陽極用電極板2に挟まれて支持されている。陽極リード端子4の他方の端子は、中央の陽極用電極板2とコネクタ側の陽極用電極板2に挟まれて支持されている。
上述のように、1本の陽極リード端子4のみが2枚の陽極用電極板2に挟まれて支持されているので、陽極リード端子4と陽極用電極板2の接触抵抗のばらつきが抑えられ安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。なお、陰極リード端子5は1本のみなので、従来の測定用冶具のように2枚の陰極用電極板3で挟みこんで支持されていても接触抵抗がばらつくというおそれはない。
(実施の形態3)
次に、本発明の実施の形態3に係る測定用冶具について図6を用いて説明する。
測定用冶具1は、2枚の陽極用電極板2と3枚の陰極用電極板3を有する。1本の陽極リード端子4および2本の陰極リード端子5を有する電解コンデンサ15の電気的特性を測定する場合、図6のような構成の測定用冶具を使用することが好ましい。
1本の陽極リード端子4は、従来通り2枚の陽極用電極板2により挟まれ支持される。2本の陰極リード端子5の一方の端子は、電極固定ネジ6、7側の陰極用電極板3と中央の陰極用電極板3に挟まれて支持されている。陰極リード端子5の他方の端子は、中央の陰極用電極板3とコネクタ側の陰極用電極板3に挟まれて支持されている。
上述のように、1本の陰極リード端子のみが2枚の陰極用電極板に挟まれて支持されているので、陰極リード端子と陰極用電極板の接触抵抗のばらつきが抑えられ安定した精度で電解コンデンサのESRやESLを測定することができる。なお、陽極リード端子4は1本のみなので、従来の測定用冶具のように2枚の陽極用電極板2で挟みこんで支持されていても接触抵抗がばらつくというおそれはない。
(実施の形態4)
次に、本発明の実施の形態4に係る測定用冶具について図7を用いて説明する。
測定用冶具1は、4枚の陽極用電極板2と4枚の陰極用電極板3を有する。3本の陽極リード端子4および3本の陰極リード端子5を有する電解コンデンサ15の電気的特性を測定する場合、図7のような構成の測定用冶具1を使用することが好ましい。
3本の陽極リード端子4の内1本の端子は、4枚の陽極用電極板2の内の電極固定ネジ6側の2枚の陽極用電極板2により挟まれて支持されている。陽極リード端子4の別の1本の端子は、中央の2枚の陽極用電極板2により挟まれ支持されている。陽極リード端子4の最後の1本の端子は、コネクタ側の2枚の陽極用電極板2により挟まれ支持されている。
3本の陰極リード端子5の内1本の端子は、4枚の陰極用電極板3の内の電極固定ネジ7側の2枚の陰極用電極板3により挟まれて支持されている。陰極リード端子5の別の1本の端子は、中央の2枚の陰極用電極板3により挟まれ支持されている。陰極リード端子5の最後の1本の端子は、コネクタ側の2枚の陰極用電極板3により挟まれ支持されている。
次に、本実施の形態4の作用効果について説明する。
図7に示すように、測定用冶具1を冶具の上方から観察すると電極板2、3とリード端子4、5が交互になるように、1つのリード端子4、5のみが2枚の電極板2、3で挟まれ支持される。
本実施の形態4の測定用冶具1によれば、電解コンデンサ15のリード端子4、5の変形やリード端子4、5と電極板2、3の接触位置がずれることを防止することができ、リード端子4、5と電極板2、3の接触抵抗のばらつきを低減することができるため、安定した精度で電解コンデンサ15のESRやESLを測定することができる。
なお、陽極用電極板2の数と陰極用電極板3の数は、電解コンデンサ15の端子の数にあわせて適宜選択することが可能であり、少なくともどちらか一方が3以上であれば良い。
(実施の形態5)
次に、本発明の実施の形態5に係る測定用冶具について、図9を用いて説明する。
図9に示すように、本実施の形態の測定用冶具1は、電極板2、2同士の間にスペーサー部材12を有し、電極板3、3同士の間にスペーサー部材13を有している。スペーサー部材12、13は、例えば中央の電極板2、3の各々の両側面に固定することができるし、外側の電極板2、3の各々の側面に固定することもできる。またスペーサー部材12、13の材料としては電極板と同じ材料を用いることができるし、他の材料を用いることも可能である。
次に、本実施の形態5の作用効果についてスペーサー部材がない場合(図8)と対比して説明する。
図8に示すように、電極板2、2同士の間および電極板3、3同士の間にスペーサー部材がないと、電極固定ネジ6、7を回して陽極用電極板2または陰極用電極板3を移動させる場合に、電解コンデンサ15の陽極リード端子4または陰極リード端子5の配置によっては陽極用電極板2または陰極用電極板3が傾いてしまう場合がある。図8は、3枚の陽極用電極板2の内、外側の2つの電極板が傾いており、かつ3枚の陰極用電極板3の内、外側の2つの電極板が傾いている場合を示している。電極板2、3が平行にリード端子4、5に当接する場合(図1)と傾いてリード端子4、5に当接する場合(図8)では接触抵抗が違ってくる可能性がある。
これに対して、本実施の形態の測定用冶具1によれば、図9に示すように電極板2、2同士の間および電極板3、3同士の間のそれぞれにスペーサー部材12、13が配置されているため、電極板2、3がリード端子4、5に平行に当接し、斜めに当接することを防止することができる。これにより、電解コンデンサ15の電気的特性を繰り返し測定するときにリード端子4、5と電極板2、3との接触抵抗のばらつきを抑えることができ、さらに測定精度を向上させることができる。
次に、本発明の実施の形態5に係る測定用冶具1に設けられたスペーサー部材12、13の大きさについて、図10を用いて説明する。
図10に示すように、スペーサー部材12、13の径φは電解コンデンサ15の陽極リード端子4および陰極リード端子5のそれぞれの径φと同一であることが好ましい。この測定用冶具1によれば、電極板2、3が傾くことにより電極板2、3同士が接触することを防止することができる。また、電解コンデンサ15のリード端子4、5の変形やリード端子4、5と電極板2、3の接触位置がずれることを防止することで、安定した精度で電解コンデンサ15のESRやESLを測定することができる。より好ましくは、スペーサー部材12、13の径φはリード端子4、5の径φよりも小さいことである。この場合、電極板2、3でリード端子4、5を押圧することにより、わずかにリード端子4、5が歪むことでリード端子4、5の径が小さくなり、電極板2、3のスペーサーとマッチすることで電解コンデンサ15のESRやESLの測定精度がより向上する。
なお、上記実施の形態1〜5に記載した測定用冶具1を使用すれば、一般的なラジアルリードの電解コンデンサ15の測定はもちろんのこと、SMD(表面実装デバイス)タイプの電解コンデンサ15のESRやESLを測定することも可能である。SMDタイプの電解コンデンサ15を測定する場合は、電解コンデンサ15のリード端子に抵抗値の低いリード線(例えば銅線)を半田などで接合することにより、ラジアルリード形状として測定が可能である。
次に、本発明の測定方法を示す工程フローについて、図11を用いて説明する。
まず測定対象物である電解コンデンサ15の陽極リード端子4のそれぞれの端子が電気的特性測定用冶具1の複数の陽極用電極板2の間で挟み込まれて支持され、かつ電解コンデンサ15の陰極リード端子5のそれぞれの端子が電気的特性測定用冶具1の複数の陰極用電極板3の間で挟み込まれて支持される(ステップS1)。さらに、電気的特性測定用冶具1で電解コンデンサ15が支持された状態で電解コンデンサ15のESRやESLなどの電気的特性が測定される(ステップS2)。ここで、陽極用電極板2と陰極用電極板3のいずれかは3つ以上の電極板2、3を有している。
本発明者は、後述するように実施例1〜3と従来例の測定用冶具のそれぞれを用いて電解コンデンサの電気的特性を測定したときの電気的特性のばらつきを調べた。
実施例1として、図1に示すような3枚の陽極用電極板2と3枚の陰極用電極板3とを有する電気的特性測定用冶具1を使用した。なお、本実施例1では、電解コンデンサ15のリード端子4、5間の間隔2.0mmに適合する厚みの電極板2、3を使用した。
実施例2として、図9に示すような3枚の陽極用電極板2と3枚の陰極用電極板3とを有し、かつ各電極板2、3の間にスペーサー部材12、13を設けた電気的特性測定用冶具1を使用した。なお、スペーサー部材12、13は中央の電極板2、3の両側の面に固定されており、スペーサー部材12、13の材質は電極板2、3と同一の材料を使用した。また、スペーサー部材12、13の径は測定対象物である電解コンデンサ15のリード端子4、5の径と同一の0.6mmとした。実施例1との違いは、スペーサー部材12、13の有無のみである。
実施例3として、図9に示すような3枚の陽極用電極板2と3枚の陰極用電極板3とを有し、かつ各電極板2、3の間にスペーサー部材12、13を設けた電気的特性測定用冶具1を使用した。なお、スペーサー部材12、13は中央の電極板2、3の両側の面に固定されており、スペーサー部材12、13の材質は電極板2、3と同一の材料を使用した。また、スペーサー部材12、13の径は測定対象である電解コンデンサ15のリード端子4、5の径より小さく0.58mmとした。実施例2との違いは、スペーサー部材12、13の径のみである。
従来例としては、図13に示すような2枚の陽極用電極板2と2枚の陰極用電極板3とを有する電気的特性測定用冶具1を使用した。具体的にはAgilent社製の測定用冶具16047Eを使用した。
測定対象物としての電解コンデンサ15は図2に示すように2本の陽極リード端子4と2本の陰極リード端子5を有している。電解コンデンサ15の定格電圧は16Vであり、静電容量は390μFである。また電解コンデンサ15の本体部16の径(φ)は8.0mm、長さ(L)は12mmである。さらに、電解コンデンサ15のリード端子径(φ)は0.6mmであり、2本の陽極リード端子4間および2本の陰極リード端子5間の間隔は2.0mmである。
上記の実施例1〜3の測定用冶具1と従来例の測定用冶具1とのそれぞれを使って、4端子型の電解コンデンサ15を固定して電解コンデンサ15のESLを測定した。ESLを測定するためにAgilent社製のインピーダンスアナライザ4294Aを使用した。測定周波数は10MHzであり、測定値の単位はnHである。測定においては、同一の電解コンデンサ15を2回測定して、その1回目と2回目のESLの差を測定値の差として比較した。そのESLの測定結果を表1に示す。
表1から明らかなように、従来例の測定用冶具1を使用する場合に比べて、実施例1〜3の測定用冶具1を使用した場合に測定値の差が小さくなっている。この結果は、本発明に係る冶具の方を用いた方が、従来の冶具を用いたときよりも測定値のばらつきが小さくなることを示している。
また実施例1と実施例2を比較すると、測定用冶具1の電極板2、3間に電解コンデンサ15のリード端子4、5の径と同一の径のスペーサー部材12、13を設けた冶具の方がスペーサー部材を設けない冶具よりも測定値の差が小さくなっている。この結果は、スペーサー部材12、13を設けた冶具の方がスペーサー部材12、13を設けない冶具よりも測定値のばらつきが小さくなることを示している。
さらに実施例2と実施例3を比較すると、スペーサー部材12、13の径が電解コンデンサ15のリード端子4、5の径よりも小さい場合の方がスペーサー部材12、13の径とリード端子4、5の径が同じ場合よりも測定値の差がより小さくなっている。この結果は、スペーサー部材12、13の径がリード端子4、5よりも小さい方が測定値のばらつきがさらに小さくなることを示している。
今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。この発明の範囲は上記した説明に限定されるのではなく特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
本発明は、電解コンデンサの電気的特性の測定用冶具、測定装置および測定方法として好適である。
1 測定用冶具、2 陽極用電極板、3 陰極用電極板、4 陽極リード端子、5 陰極リード端子、6、7 電極固定ネジ、8a、8b、9a、9b コネクタ、10 ケース、11 開口部、12、13 スペーサー部材、15 電解コンデンサ、16 本体部、17、加圧バネ、18、レバー、19、電極板固定部、20 測定器、21 入力部、22 入力制御部、23 出力検出部、24 表示部、25a、25b、26a、26b 測定端子。

Claims (5)

  1. 陽極リード端子と陰極リード端子の少なくともいずれかが複数の端子部を有するように構成された電解コンデンサの電気的特性測定時に前記電解コンデンサを固定するための冶具であって、
    前記陽極リード端子に当接し、かつ前記陽極リード端子を支持するための複数の陽極用電極板と、
    前記陰極リード端子に当接し、かつ前記陰極リード端子を支持するための複数の陰極用電極板とを備え、
    前記複数の陽極用電極板および前記複数の陰極用電極板の少なくともいずれかが3つ以上の電極板を含み、
    前記3つ以上の電極板の間にはスペーサー部材をさらに備える電解コンデンサの電気的特性測定用冶具。
  2. 前記スペーサー部材の径は前記リード端子の径と同一である、請求項1に記載の電解コンデンサの電気的特性測定用冶具。
  3. 前記スペーサー部材の径は前記リード端子の径よりも小さい、請求項1に記載の電解コンデンサの電気的特性測定用冶具。
  4. 請求項1〜3のいずれかに記載の前記電解コンデンサの電気的特性測定用冶具と、
    前記冶具に固定された前記電解コンデンサの電気的特性を測定するための測定器とを備えた、測定装置。
  5. 陽極リード端子と陰極リード端子とを有する電解コンデンサを電気的特性測定用冶具で支持した状態で前記電解コンデンサの電気的特性を測定する方法であって、
    前記陽極リード端子を前記電気的特性測定用冶具の複数の陽極用電極板の間で挟み込んで支持し、かつ前記陰極リード端子を前記電気的特性測定用冶具の複数の陰極用電極板の間で挟み込んで支持する工程と、
    前記電気的特性測定用冶具で前記電解コンデンサを支持した状態で前記電解コンデンサの電気的特性を測定する工程とを備え、
    前記陽極リード端子および前記陰極リード端子の少なくともいずれかは複数の端子部を有し、
    前記複数の陽極用電極板および前記複数の陰極用電極板の少なくともいずれかは3つ以上の電極板を有し、
    前記複数の端子部の各々は、前記3つ以上の電極板のそれぞれの間に挟まれて支持され、前記3つ以上の電極板の間にはスペーサー部材を備える、電解コンデンサの測定方法。
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JPS61208202A (ja) * 1985-03-13 1986-09-16 松下電器産業株式会社 電子部品の製造方法
JPH03109061U (ja) * 1990-02-19 1991-11-08
JPH04306578A (ja) * 1991-03-15 1992-10-29 Fujitsu Ltd 電子デバイスソケットとそれを実装した回路基板
JPH0741991U (ja) * 1993-12-27 1995-07-21 株式会社ジャルコ 接続端子
JPH1032375A (ja) * 1996-07-16 1998-02-03 Fuji Photo Film Co Ltd リード部品用ソケット
JP4251423B2 (ja) * 2000-01-28 2009-04-08 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン ソケット
JP2001326009A (ja) * 2000-05-15 2001-11-22 Nec Miyagi Ltd コネクタ
JP4536250B2 (ja) * 2000-11-30 2010-09-01 株式会社ユタカ電機製作所 通電用クリップを用いた給放電試験装置
JP2003028919A (ja) * 2001-07-13 2003-01-29 Canon Inc 寿命試験用治具及び寿命試験方法
JP4587996B2 (ja) * 2005-11-22 2010-11-24 佐賀三洋工業株式会社 電解コンデンサ
JP4822460B2 (ja) * 2008-06-12 2011-11-24 アスカ電子株式会社 電子部品の試験用コネクタ
JP5334758B2 (ja) * 2009-08-31 2013-11-06 三洋電機株式会社 電解コンデンサ

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