JP5995911B2 - 画像欠陥検出装置及び画像欠陥検出方法並びに撮像ユニット - Google Patents
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Description
WA=W+d・・・(1)
d<W ・・・(2)
WA>P ・・・(3)
を満足するdだけ画像を第2の方向にずらすことが好ましい。これにより、画像欠陥の読み取り画素上での第2の方向の幅を読み取り画素のピッチよりも大きくすることができるので、画像欠陥と読み取り画素との位置関係によらず、画像欠陥を検出することができる。
<インクジェット記録装置の全体構成>
図1は、本発明の画像欠陥検出装置及び撮像ユニットを備えるインクジェット記録装置10の全体構成図である。インクジェット記録装置10は、記録媒体14を圧胴の外周面に保持して搬送する圧胴搬送方式が適用される。
図4は、インラインセンサ82の概略的構成を示す斜視図である。図4に示すように、インラインセンサ82は、スリット板84と、2個の撮像部85と、スリット板84及び撮像部85を収納するセンサ本体(図示せず)と、を備えている。なお、図中のX方向は前述の主走査方向に平行な方向であり、副走査方向に交差(本実施形態では直交)する本発明の第2の方向に相当する。また、図中のY方向はX方向に直交する方向であり、詳しくは後述するように副走査方向とは異なる方向である。なお、本実施形態では、X方向が、副走査方向及びY方向に直交しているが、ここでいう直交には略直交も含まれている。
図6(A)は、複屈折板91が非配置の場合にイメージセンサ92の読み取り画素92a上に入射するテストチャート87の像光の概略図である。また、図6(B)は、複屈折板91を通してイメージセンサ92の読み取り画素92a上に入射するテストチャート87の像光の概略図である。
WA=W+d・・・(1)
d<W ・・・(2)
WA>P ・・・(3)
を満足するdだけテストチャート87の像光を少なくともX方向にずらす。
d/P=0.5±0.2・・・(4)
を満たすdであることが好ましい。これは、ずらし量dの値が小さくなり過ぎると、幅WAの大きさが二重化前の幅Wとほぼ同じ大きさになるため、像の二重化を行う意味がなくなるからである。逆に、ずらし量dの値が大きくなり過ぎると(特にずらし量dがピッチPの整数倍になると)、前述の通り画像欠陥100の像が分離して画像欠陥100の検出ができなくなるからである。従って、ずらし量dは、ピッチPの1/2程度が好ましく、本実施形態では上記式(4)を満たす範囲に調整している。
D=t・(ne 2−no 2)/(ne 2+no 2)≒t・(ne 2−no 2)/(2・ne・no)・・・(5)
で表される。なお、ずれ量DのX方向のずれ成分が前述のずらし量dとなる。
D(mm)≒5.9×10−3・t(mm)・・・(6)
となる。
d=dmax×cosθ・・・(7)
で表される。
図9は、複屈折板91が非配置の場合に得られるイメージセンサ92の撮像信号(本発明の画像の読み取り結果に相当)を説明するための説明図である。また、図10は、複屈折板91を通して得られたイメージセンサ92の撮像信号を説明するための説明図である。
次に、図11を用いて上記構成のインクジェット記録装置10の作用、特に画像欠陥100の検出処理(本発明の画像欠陥検出方法)について説明を行う。図11は、画像欠陥100の検出処理の流れを示すフローチャートである。
以上のように本実施形態では、イメージセンサ92の撮像面に入射するテストチャート87の像光を、複屈折板91により複屈折することにより少なくともX方向にずらして二重化しているので、画像欠陥100の像の読み取り画素92a上でのX方向の幅を、幅Wから幅WAまで拡大することができる。その結果、画像欠陥100と読み取り画素92aとの位置関係によらず、画像欠陥100を検出することができる。
図14は、本発明の第2実施形態のインクジェット記録装置10Aの制御系の概略構成を示すブロック図である。上記第1実施形態のインクジェット記録装置10では、インラインセンサ82を用いて画像欠陥100の検出を行っている。これに対して、第2実施形態のインクジェット記録装置10Aは、インラインセンサ82を用いて画像欠陥100以外に不良ノズルの検出を行い、この検出結果に基づき不吐出補正処理を行う。
上記第1実施形態では、テストチャート87の像光を複屈折板91により複屈折することで、画像欠陥100の像の読み取り画素92a上でのX方向の幅を拡大しているが、例えば、イメージセンサ92の撮像面上でのテストチャート87の像を拡大することで、画像欠陥100の像の読み取り画素92a上でのX方向の幅を拡大してもよい。
上記実施形態では、圧胴搬送方式のインクジェット記録装置について説明を行ったが、他の搬送方式のインクジェット記録装置にも本発明を適用することができる。
Claims (9)
- 記録媒体に対して第1の方向に相対移動されるシングルパス方式の記録ヘッドによって前記記録媒体に記録された画像を読み取る画像読み取り部であって、前記第1の方向に交差する第2の方向に複数配列された読み取り画素を有する画像読み取り部と、
前記画像読み取り部に入射する前記画像の像光を複屈折させることにより、前記画像読み取り部にて読み取られる前記画像を、少なくとも前記第2の方向にずらして二重化させる複屈折板と、
前記複屈折板を通して前記画像読み取り部に読み取られた前記画像の読み取り結果に基づき、前記画像に含まれる前記第1の方向に延びた画像欠陥を検出する検出部と、
を備え、
前記複屈折板は、前記画像を二重化することにより、前記画像欠陥の前記読み取り画素上での前記第2の方向の幅を前記読み取り画素のピッチよりも大きくする画像欠陥検出装置。 - 前記複屈折板を非配置とした場合における前記画像欠陥の前記読み取り画素上での前記第2の方向の幅をWとし、前記読み取り画素のピッチをPとし、前記複屈折板により二重化された前記画像の前記第2の方向のずらし量をdとして、前記画像読み取り画素のピッチがP≧Wを満たす場合に、
前記複屈折板は、前記画像を二重化することにより前記画像欠陥の前記読み取り画素上での前記第2の方向の幅をWから下記式(1)に示すWAまで拡大させる際に、下記式(2)及び(3)、
WA=W+d・・・(1)
d<W ・・・(2)
WA>P ・・・(3)
を満足するdだけ前記画像を前記第2の方向にずらす請求項1記載の画像欠陥検出装置。 - 前記ずらし量は、前記複屈折板の厚みまたは枚数の調整により調整可能である請求項2記載の画像欠陥検出装置。
- 前記ずらし量は、前記像光の光軸に対して垂直な面内での前記複屈折板の角度の調整により調整可能である請求項2記載の画像欠陥検出装置。
- 前記記録媒体に記録された前記画像の前記像光を前記画像読み取り部まで導く光学系を備え、
前記複屈折板は、前記光学系内の前記像光の光路に設けられている請求項1から4のいずれか1項に記載の画像欠陥検出装置。 - 前記記録媒体及び前記画像読み取り部の一方に対して他方を前記第1の方向に相対移動させる移動部を備えており、
前記画像読み取り部は、前記記録媒体に対する1回の相対移動で前記画像を読み取る請求項1から5のいずれか1項に記載の画像欠陥検出装置。 - 前記記録ヘッドには、複数の記録素子が前記第2の方向に配列されており、
前記検出部は、前記画像欠陥として、前記記録ヘッドの前記記録素子の中の不良素子に起因して発生するスジムラを検出する請求項1から6のいずれか1項に記載の画像欠陥検出装置。 - 記録媒体に対して第1の方向に相対移動されるシングルパス方式の記録ヘッドによって前記記録媒体に記録された画像を読み取る画像読み取りステップであって、前記第1の方向に交差する第2の方向に複数配列された読み取り画素を有する画像読み取り部により前記画像を読み取る画像読み取りステップと、
前記画像読み取り部に入射する前記画像の像光を複屈折板にて複屈折させることにより、前記画像読み取り部にて読み取られる前記画像を、少なくとも前記第2の方向にずらして二重化させる複屈折ステップと、
前記複屈折板を通して前記画像読み取り部に読み取られた前記画像の読み取り結果に基づき、前記画像に含まれる前記第1の方向に延びた画像欠陥を検出する検出ステップと、
を有しており、
前記複屈折ステップは、前記画像を二重化することにより、前記画像欠陥の前記読み取り画素上での前記第2の方向の幅を前記読み取り画素のピッチよりも大きくする画像欠陥検出方法。 - 記録媒体に対して第1の方向に相対移動されるシングルパス方式の記録ヘッドによって前記記録媒体に記録された画像を読み取る画像読み取り部であって、前記第1の方向に交差する第2の方向に複数配列された読み取り画素を有する画像読み取り部と、
前記画像読み取り部に入射する前記画像の像光を複屈折させることにより、前記画像読み取り部にて読み取られる前記画像を、少なくとも前記第2の方向にずらして二重化させる複屈折板であって、前記画像を二重化することにより、当該画像に含まれる前記第1の方向に延びた画像欠陥の前記読み取り画素上での前記第2の方向の幅を前記読み取り画素のピッチよりも大きくする複屈折板と、
を備える撮像ユニット。
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