JP5971262B2 - マグネトロンスパッタリング用磁場発生装置 - Google Patents
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Description
直線部及びコーナー部からなるレーストラック形状を有し、
非磁性体からなるベース上に、(a)棒状の中央磁極部材と、(b)前記中央磁極部材を取り囲むように設置された外周磁極部材と、(c)前記中央磁極部材と前記外周磁極部材との間に、一方の磁極が前記中央磁極部材に対向し、他方の磁極が前記外周磁極部材に対向するように設置された複数の永久磁石とを有し、
前記直線部に設置された複数の永久磁石は、前記ターゲット表面に垂直な方向の厚さが磁化方向の中央部において両端部よりも薄い、少なくとも1つの磁場調節用永久磁石を含むことを特徴とする。
直線部及びコーナー部からなるレーストラック形状を有し、
非磁性体からなるベース上に、(a)棒状の中央磁極部材と、(b)前記中央磁極部材を取り囲むように設置された外周磁極部材と、(c)前記中央磁極部材と前記外周磁極部材との間に、一方の磁極が前記中央磁極部材に対向し、他方の磁極が前記外周磁極部材に対向するように設置された複数の永久磁石とを有し、
前記複数の永久磁石の少なくとも1つを、前記永久磁石と磁化方向が同じで磁化方向長さが短い少なくとも2つの永久磁石を離間して直列に配置してなる磁場調節用永久磁石群に置き換えた構成を有することを特徴とする。
本発明のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置1は、ターゲット表面にレーストラック状の磁場を発生させるための装置であり、図1(a)に示すように、ターゲット7に対向し、直線部20及び2つのコーナー部30,30からなるレーストラック形状を有している。
前記直線部20は、例えば図1(a)及び図1(b)に示すように、非磁性体からなるベース6上に設置された四角柱状の中央磁極部材2と、前記中央磁極部材2と平行に、前記中央磁極部材2の両側に離間して設置された四角柱状の2つの外周磁極部材3と、前記中央磁極部材2及び前記外周磁極部材3との間に、磁化方向がターゲット表面7aに対して平行で、一方の同極性の磁極(図ではN極)が中央磁極部材2に対向し、他方の同極性の磁極(図ではS極)が外周磁極部材3に対向するように設置された複数の直線部用永久磁石4とからなり、前記直線部用永久磁石4は少なくとも1つの磁場調節用永久磁石41を含む。
コーナー部30は、図1(a)に示すように、中央磁極部材2の端部2aと、中央磁極部材2の端部2aを中心として半多角形状に設置されたコーナー部外周磁極部材3cと、中央磁極部材2の端部2aとコーナー部外周磁極部材3cとの間に、磁化方向がターゲット表面7aに対して平行で、一方の同極性の磁極(図ではN極)が中央磁極部材2の端部2aに対向し、他方の同極性の磁極(図ではS極)がコーナー部外周磁極部材3cに対向するように設置された複数のコーナー部用永久磁石5とからなる。前記中央磁極部材2の端部2a及び前記コーナー部外周磁極部材3cは、図1(a)では半多角形状だが、半円状であってもよい。
直線部に前記直線部磁場調節用永久磁石41又は直線部磁場調節用永久磁石群42を使用しないで構成した従来の磁場発生装置では、ターゲット表面における磁束密度平行成分(ターゲット表面に対して平行な成分)を磁化方向に沿ってプロットしたとき、前記磁束密度平行成分が山形である(図15及び図16の比較例1を参照)ため、磁化方向に沿ってターゲットの浸食(エロージョン)が不均一になり、ターゲットを高い効率で利用することができない。
直線部及びコーナー部を構成する永久磁石は、公知の永久磁石材料で形成することができる。永久磁石材料の材質は設備の構成(磁場発生装置からターゲットまでの距離)や必要な磁場強度によって適宜設定すれば良い。本発明においては、ターゲット表面7aにおける磁場の磁束密度垂直成分がゼロとなる位置における磁束密度の平行成分が10 mT以上となるように永久磁石を選択するのが好ましい。
磁極部材及び充填用磁性体には公知の磁性体(軟磁性体)を用いるのが好ましい、特に磁性を有する鋼材を用いるのが好ましい。
マグネトロンスパッタリング用磁場発生装置1の他の態様として、図11(a)に示すように、前記磁場調節用永久磁石41,51の両面に、前記凹状部4d,5dを形成し、前記ベースを除去した構成が挙げられる。またさらに他の態様として、図11(b)に示すように、前記磁場調節用永久磁石41,51の両面に、前記凹状部4d,5d及び前記凹状部4d,5dに配置した充填用磁性体8を有し、前記ベースを除去した構成が挙げられる。このように前記ベースを除去して磁場発生装置1を構成することにより、磁場発生装置1の両面にターゲット7,7を配置して両面でスパッタすることが可能となる。なお図11(a)及び図11(b)において、コーナー部磁場調節用永久磁石51は直前部磁場調節用永久磁石41と同様なので省略した。
図12(a)、図12(b)及び図12(c)に示す構成で、Al-Mg系合金(A5052)製のベース6上に、フェライト系ステンレス(SUS430)製の中央磁極部材2、その端部2a、外周磁極部材3及びコーナー部外周磁極部材3c、並びにフェライト焼結磁石(日立金属製NMF-3B、最大エネルギー積:約4 MGOe)からなる直線部用永久磁石4、コーナー部用永久磁石5を配置し、磁場発生装置1(W=360 mm、L1=260 mm、L2=50 mm、a=110 mm、b=26 mm、c=10 mm、d=8 mm、e=20 mm、f=42 mm、g=42 mm、h=18 mm、及びi=8 mm)を作製した。
直線部用永久磁石4及びコーナー部用永久磁石5を、図13(a)、図13(b)及び図13(c)に示すように、それぞれ凹状部4d及び凹状部5dを有する直線部磁場調節用永久磁石41及びコーナー部磁場調節用永久磁石51に置き換えた以外比較例1と同様にして磁場発生装置1(W=360 mm、L1=260 mm、L2=50 mm、a=110 mm、b=26 mm、c=10 mm、d=8 mm、e=20 mm、f=42 mm、g=42 mm、h=18 mm、h1=13 mm、hc=18 mm、hc1=13 mm、i=8 mm、j=26 mm、k=8 mm、l=8 mm、m=26 mm、n=8 mm、及びo=8 mm)を作製した。
2・・・中央磁極部材
2a・・・端部
3・・・外周磁極部材
3c・・・コーナー部外周磁極部材
4・・・直線部用永久磁石
4a・・・中央部
4b,4c・・・両端部
4d・・・凹状部
41・・・磁場調節用永久磁石
42・・・磁場調節用永久磁石群
42a,42b・・・永久磁石
5・・・コーナー部用永久磁石
5a・・・中央部
5b,5c・・・両端部
5d・・・凹状部
5e・・・間隙
51・・・磁場調節用永久磁石
52・・・磁場調節用永久磁石群
52a,52b・・・永久磁石
6・・・ベース
7・・・ターゲット
7a・・・ターゲット表面
8・・・充填用磁性体
20・・・直線部
30・・・コーナー部
200・・・マグネトロンスパッタリング用磁場発生装置
210・・・ベース
220・・・中央磁極片
230・・・外周磁極片
240,250・・・永久磁石
Claims (15)
- ターゲットに対向し、ターゲット表面に磁場を発生させるための、直線部及びコーナー部からなるレーストラック形状のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置であって、
非磁性体からなるベース上に、(a)棒状の中央磁極部材と、(b)前記中央磁極部材を取り囲むように設置された外周磁極部材と、(c)前記中央磁極部材と前記外周磁極部材との間に、一方の磁極が前記中央磁極部材に対向し、他方の磁極が前記外周磁極部材に対向するように設置された複数の永久磁石とを有し、
前記直線部に設置された複数の永久磁石は、前記ターゲット表面に垂直な方向の厚さが磁化方向の中央部において両端部よりも薄い、少なくとも1つの磁場調節用永久磁石を含み、
前記磁場調節用永久磁石は、前記ターゲット側の面及び/又は前記ベース側の面に、前記中央部の領域に対応する凹状部を有し、
前記凹状部に磁性体が配置されていることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。 - 請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、
前記コーナー部に設置された複数の永久磁石は、前記ターゲット表面に垂直な方向の厚さが磁化方向の中央部において両端部よりも薄い、少なくとも1つの磁場調節用永久磁石を含むことを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。 - 請求項2に記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、前記コーナー部の磁場調節用永久磁石は、前記ターゲット側の面及び/又は前記ベース側の面に、前記中央部の領域に対応する凹状部を有することを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項3に記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、前記凹状部に磁性体が配置されていることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項1〜4のいずれかに記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、
前記磁場調節用永久磁石は、前記磁化方向の中央部及び両端部の少なくとも3つの領域を有し、前記両端部の領域は前記ターゲット表面に垂直な方向の厚さが互いに等しく、前記中央部の領域の前記ターゲット表面に垂直な方向の厚さが前記両端部の領域の厚さよりも薄いことにより、前記中央部の領域に対応する凹状部が形成されていることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。 - 請求項5に記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、
前記中央部の領域の磁化方向長さが、前記永久磁石の磁化方向全長の1〜99%であることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。 - 請求項5又は6に記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、
前記中央部の領域の前記ターゲット表面に垂直な方向の厚さが、前記両端部の前記ターゲット表面に垂直な方向の厚さの0%より大きく99%以下であることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。 - 請求項5〜7のいずれかに記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、前記中央部及び両端部の少なくとも3つの領域が、それぞれ独立した永久磁石からなり、それらの独立した永久磁石を貼り合わせて前記磁場調節用永久磁石が構成されていることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項1〜8のいずれかに記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、前記磁場調節用永久磁石は、前記ターゲット側及び前記ベース側の両面に、前記中央部の領域に対応する凹状部を有することを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項1〜9のいずれかに記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、前記凹状部に配置した前記磁性体の厚さが、前記凹状部の深さと同じであることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項1〜10のいずれかに記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、前記磁場調節用永久磁石は、前記ターゲット側及び前記ベース側の両面に、前記中央部の領域に対応する凹状部及び前記凹状部に配置した磁性体を有することを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項9に記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置から、前記ベースを除去した構成を有することを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項11に記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置から、前記ベースを除去した構成を有することを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
- 請求項1〜13のいずれかに記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、
前記複数の永久磁石の少なくとも1つを、前記永久磁石と磁化方向が同じで磁化方向長さが短い少なくとも2つの永久磁石を離間して直列に配置してなる磁場調節用永久磁石群に置き換えた構成を有することを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。 - 請求項1〜14のいずれかに記載のマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置において、前記ターゲット表面に印加される磁場の、前記ターゲット表面に対して垂直な方向の磁束密度がゼロとなる位置において、前記ターゲット表面に対して平行な方向の磁束密度が10 mT以上であることを特徴とするマグネトロンスパッタリング用磁場発生装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012017342 | 2012-01-30 | ||
JP2012017342 | 2012-01-30 | ||
PCT/JP2013/051277 WO2013115030A1 (ja) | 2012-01-30 | 2013-01-23 | マグネトロンスパッタリング用磁場発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013115030A1 JPWO2013115030A1 (ja) | 2015-05-11 |
JP5971262B2 true JP5971262B2 (ja) | 2016-08-17 |
Family
ID=48905072
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013556338A Active JP5971262B2 (ja) | 2012-01-30 | 2013-01-23 | マグネトロンスパッタリング用磁場発生装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5971262B2 (ja) |
KR (1) | KR102023521B1 (ja) |
CN (1) | CN104093878B (ja) |
TW (1) | TWI607106B (ja) |
WO (1) | WO2013115030A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108690961A (zh) * | 2017-04-06 | 2018-10-23 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 磁控溅射组件、磁控溅射腔室及磁控溅射设备 |
CN107313019B (zh) * | 2017-07-14 | 2019-11-29 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 磁性薄膜沉积腔室及薄膜沉积设备 |
CN108611614B (zh) * | 2018-06-13 | 2020-05-15 | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 | 磁控溅射靶的磁场组件、磁控溅射靶及其优化方法 |
WO2021052497A1 (zh) * | 2019-09-20 | 2021-03-25 | 深圳市晶相技术有限公司 | 一种半导体设备 |
CN110643962A (zh) * | 2019-09-20 | 2020-01-03 | 深圳市晶相技术有限公司 | 一种半导体设备 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59200763A (ja) * | 1983-04-30 | 1984-11-14 | Fujitsu Ltd | スパツタリング装置 |
JPS63250458A (ja) * | 1987-04-06 | 1988-10-18 | Seiko Epson Corp | マグネトロンカソ−ドのマグネツト |
JPH01147063A (ja) | 1987-12-03 | 1989-06-08 | Ulvac Corp | マグネトロン・スパッタ装置 |
JPH02163371A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-22 | Mitsubishi Kasei Corp | マグネトロンスパッタ装置 |
US4964968A (en) * | 1988-04-30 | 1990-10-23 | Mitsubishi Kasei Corp. | Magnetron sputtering apparatus |
JPH02118750U (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-25 | ||
JPH04187766A (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-06 | Tdk Corp | マグネトロン・スパッタリング装置用磁気回路装置 |
JPH04235277A (ja) | 1990-12-28 | 1992-08-24 | Ube Ind Ltd | スパッタリング方法及び装置 |
JP2928479B2 (ja) * | 1996-03-08 | 1999-08-03 | アネルバ株式会社 | スパッタリング装置 |
JP4509097B2 (ja) * | 2006-12-26 | 2010-07-21 | 日立金属株式会社 | マグネトロンスパッタリング用磁気回路 |
JP2011044415A (ja) * | 2009-08-20 | 2011-03-03 | Tatsuo Asamaki | 板状陰極表面処理装置 |
-
2013
- 2013-01-23 JP JP2013556338A patent/JP5971262B2/ja active Active
- 2013-01-23 CN CN201380006940.5A patent/CN104093878B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-01-23 KR KR1020147018458A patent/KR102023521B1/ko active IP Right Grant
- 2013-01-23 WO PCT/JP2013/051277 patent/WO2013115030A1/ja active Application Filing
- 2013-01-28 TW TW102103114A patent/TWI607106B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104093878B (zh) | 2016-05-11 |
TWI607106B (zh) | 2017-12-01 |
TW201335411A (zh) | 2013-09-01 |
KR102023521B1 (ko) | 2019-09-20 |
CN104093878A (zh) | 2014-10-08 |
JPWO2013115030A1 (ja) | 2015-05-11 |
WO2013115030A1 (ja) | 2013-08-08 |
KR20140126297A (ko) | 2014-10-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |