JP5964388B2 - 試料分析装置 - Google Patents
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Description
以下、図面を参照しながら、本発明に係る試料分析装置の実施の形態について説明する。また、図面におけるそれぞれの構成部材の厚みや長さ等は、本発明の理解を助けるために示したものであり、本発明は、図示される構成に限定されるものではない。
従来、試料分析装置に測定を自動で行わせる際に、セルの位置関係を試料分析装置に自動で認識させる方法として、(1)分析デバイスにマーカー等の検出部を設け、試料分析装置に検出機構を設ける方法や、(2)分析デバイスを試料分析装置に装着する方向を予め定めておき、試料分析装置の駆動機構が備えるエンコーダー等のパルス値で測定セルの位置を認識する方法が採られている。
本発明の他の実施形態について説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
本発明のさらに他の実施形態について説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
本発明のさらに他の実施形態について説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
本発明の態様1に係る試料分析装置100は、試料を収容した基準室414と、試料に基づく測定液(混合液)を収容した測定室404、404a〜404fとを回転軸450の周りの同一円周上に形成した容器(チップ102)と同一円周上に対応する位置に配置されて容器(チップ102)に向かって光300を発光する発光部101と、容器(チップ102)を透過した光300を受光する受光部103と、容器(チップ102)と発光部101および受光部103との少なくとも一方を回転軸450の周りに回転運動させる回転駆動部106と、基準室414を透過して受光部103が受光した光の基準透過光量と、測定室404、404a〜404fを透過して受光部103が受光した光300の測定透過光量とに基づいて、試料に含まれる成分を分析する計測部109とを備える。
101、101’ 発光部
102 チップ(容器)
103 受光部
106 回転駆動部
109 計測部
201a〜201c 光源
205、215 フィルターアレイ
300 光
301〜306 干渉フィルター
311〜316 干渉フィルター(測定室フィルター、透過領域、他の透過領域)
317 基準室フィルター
317a〜317e 干渉フィルター(基準室透過領域、他の基準室透過領域)
404、404a〜404f 測定室
414 基準室
450 回転軸
Claims (8)
- 試料を収容した基準室と、前記試料に基づく測定液を収容した測定室とを回転軸の周りの同一円周上に形成した容器と、
前記同一円周上に対応する位置に配置されて前記容器に向かって光を発光する発光部と、
前記容器を透過した光を受光する受光部と、
前記容器と前記発光部および前記受光部との少なくとも一方を前記回転軸の周りに回転運動させる回転駆動部と、
前記基準室を透過して受光部が受光した光の基準透過光量と、前記測定室を透過して受光部が受光した光の測定透過光量とに基づいて、前記試料に含まれる成分を分析する計測部とを備え、
前記計測部は、前記受光部が受光した光の透過光量を前記同一円周に沿って連続的に測定し、前記測定した透過光量に基づいて、前記基準室と前記測定室との少なくとも一つの前記同一円周上の位置を特定し、
前記計測部は、前記受光部が受光した光の透過光量が最も大きい前記同一円周上の位置により前記基準室の前記同一円周上の位置を特定することを特徴とする試料分析装置。 - 前記基準室が、前記試料の試料液のみを収容し、
前記測定液が、前記試料に含まれる成分に対応する試薬と前記試料との混合液である請求項1に記載の試料分析装置。 - 前記同一円周上の容器の部位のうち前記基準室に対応する部位および前記測定室に対応する部位を除いた部位に入射する前記発光部からの光を遮光する遮光部をさらに備える請求項1に記載の試料分析装置。
- 前記容器に、前記試料に基づく他の測定液を収容した他の測定室が前記回転軸の周りの同一円周上に形成され、
前記計測部は、前記特定した基準室の位置と、前記測定室の前記基準室に対する相対的な位置関係とに基づいて前記測定室の前記同一円周上の位置を特定し、前記特定した基準室の位置と、前記他の測定室の前記基準室に対する相対的な位置関係とに基づいて前記他の測定室の前記同一円周上の位置を特定する請求項1に記載の試料分析装置。 - 前記発光部は、前記計測部により位置が特定された測定室の測定液に対応する波長の光を発光する光源と、前記計測部により位置が特定された他の測定室の他の測定液に対応する他の波長の光を発光する他の光源とを有し、
前記光源は前記測定室に向かって前記波長の光を発光し、前記他の光源は前記他の測定室に向かって前記他の波長の光を発光する請求項4に記載の試料分析装置。 - 前記発光部が、前記測定室に対応する測定室フィルターと、
前記他の測定室に対応する他の測定室フィルターと、
前記基準室に対応する基準室フィルターとを有し、
前記測定室フィルターが、前記光源から発光されて前記測定室の測定液に対応する波長の光を透過する透過領域を含み、
前記他の測定室フィルターが、前記他の光源から発光されて前記他の測定室の他の測定液に対応する他の波長の光を透過する他の透過領域を含み、
前記基準室フィルターが、前記光源から発光されて前記測定室の測定液に対応する波長の光を透過する基準室透過領域と、前記他の光源から発光されて前記他の測定室の他の測定液に対応する他の波長の光を透過する他の基準室透過領域とを有し、
前記基準室透過領域と前記他の基準室透過領域とが前記同一円周上に配置されている請求項5に記載の試料分析装置。 - 前記受光部が受光した光の透過光量を前記同一円周に沿って連続的に測定し、前記透過光量が最も大きい前記同一円周上の位置により前記基準室の前記同一円周上の位置を前記計測部が特定するときに、前記回転駆動部は前記容器を第1回転速度で回転運動させ、
前記光源から発光されて前記測定室の測定液に対応する波長の光が前記基準室透過領域を透過し、前記他の光源から発光されて前記他の測定室の他の測定液に対応する他の波長の光が前記他の基準室透過領域を透過するときに、前記回転駆動部は前記容器を前記第1回転速度よりも遅い第2回転速度で回転運動させる請求項6に記載の試料分析装置。 - 前記回転駆動部が前記容器を第1回転速度で回転運動させながら、前記受光部が受光した光の透過光量を前記同一円周に沿って連続的に前記計測部が測定し、前記透過光量が最も大きい前記同一円周上の位置により前記基準室の前記同一円周上の位置を前記計測部が特定し、
前記発光部により発光された光が前記基準室を透過する位置から前記容器を予め定められた角度前記回転軸の周りに前記回転駆動部が回転させ、前記測定室の測定液を攪拌するために前記容器を前記回転軸の周りに搖動させた後、前記発光部から発光されて前記測定室を透過し、前記受光部が受光した光の測定透過光量を前記計測部が測定する請求項6に記載の試料分析装置。
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