JP5942334B2 - プライマー処理方法 - Google Patents
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Description
第一工程及び第三工程における減圧環境の圧力は0.1Pa以上であり、粘性流領域となる圧力となっている。この圧力条件にすることにより、生産性良く反応を進めることができる。また、減圧環境の圧力は大気圧より低い圧力であり0.1MPaより小さいか等しい圧力となっている。この圧力条件にすることにより、加圧装置を付加する必要がないので装置構成を簡略にすることができる。
図1は、表面処理工程を説明するための模式図である。図4は気化器の構造を示す模式図である。まず、実施形態1にかかる表面処理方法と処理を行なう装置の構成について説明する。
第一反応室としての表面処理チャンバーは、原料及び窒素等の供給系、基板と原料を反応させる反応系、反応系内に浮遊する未反応原料を排気する排気系、反応系内の圧力、温度を測定する測定系で構成されている。
第二反応室としての水蒸気処理チャンバーも表面処理チャンバーと同様にステージ、供給系、反応系、排気系、測定系で構成されている。供給系は、水蒸気を供給する水供給装置と乾燥窒素を供給する窒素供給装置とが設置され、水供給装置と窒素供給装置とが水蒸気処理チャンバーに接続されている。反応系は、ステージ及びチャンバーを加熱する加熱装置を備えている。加熱装置はヒーターを備え、ヒーターは水蒸気処理チャンバー及び配管を加熱する。これにより、水蒸気処理チャンバーの内壁及び配管の内壁の温度は同じ温度になっている。各内壁温度の最高温度は表面処理チャンバーと同じ温度である。
搬送チャンバーも供給系、反応系、排気系、測定系を備えているが、チャンバー内で何かしらの反応をさせる訳ではない。反応系は加熱系としての機能を備えている。供給系は、乾燥窒素または乾燥空気を供給する機能を備えている。加熱系は、他のチャンバーと同様に温度管理する箇所を同じ温度範囲となるように同じ方法で温度調節している。排気系は、真空ポンプが接続されているだけで他のチャンバーのように原料や水を捕獲する機能は備えていない。測定系は、温度計、湿度計、真空計、露点計が水蒸気処理チャンバーと同様に設置されている。
図1(a)に示すように、まず、第一工程にて表面処理チャンバー15内のステージに基板1が搭載される。基板1の設置表面処理が施される表面には水酸基2(OH基)が存在している。基板種は、電気的には金属、半導体、絶縁体等であり、材料としては純物質、酸化物等化合物であり水酸基2が表面に存在していれば表面処理の対象になる。
第一有機分子5は、3つまたは4つの官能基を有するシランカップリング剤である。例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシランが挙げられる。
第二有機分子3は、2−(3、4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−トリエトキシシリル−N−(1、3−ジメチル−ブチリデン)プロピルアミン、3−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド、3−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン、フッ素含有シランカップリング剤が挙げられる。
図2に示すように表面処理装置は、表面処理チャンバー、水蒸気処理チャンバー、搬送チャンバーから構成されている。処理単位は基板1を1枚ずつ処理する所謂枚葉処理装置である。枚葉処理装置として、基板1が表面処理チャンバーから水蒸気処理チャンバーに直接移載することができず必ず搬送チャンバーを通って移載されるクラスター方式と、工程開始から終了まで一通であるワンパス方式の2つの方式がある。
図2及び図3は、装置の構成を示す模式平面図であり、図2にクラスター方式の装置を示す。クラスター方式の表面処理装置36は、搬送チャンバー13を中心に表面処理チャンバー15と水蒸気処理チャンバー11がつながっており、表面処理チャンバー15と水蒸気処理チャンバー11はつながっていない。各チャンバーについては、上記した通りであるが、チャンバーをつなげることにより制約が生じる。
図3にワンパス方式の装置概略図を示す。図3に示すようにワンパス方式の表面処理装置37の場合、表面処理チャンバーと搬送チャンバー、水蒸気処理チャンバーと搬送チャンバーとの関係はクラスター方式と同じである。ワンパス方式における基板1の搬送順は、搬送チャンバー16(基板導入)、ゲートバルブ17、表面処理チャンバー18(第一工程)、ゲートバルブ19、水蒸気処理チャンバー20(第二工程)、ゲートバルブ21、表面処理チャンバー22(第三工程)、ゲートバルブ23、搬送チャンバー24(基板取り出し)である。ワンパス方式の場合、第一有機分子5を使用する第一工程と第二有機分子3を使用する第三工程を別のチャンバーで行うため、メンテナンスや装置管理に関するメリットはあるが、装置が大きくなるデメリットもある。
(1)基板1の表面の反応点から複数の反応点を生成できることで官能基を高い面密度で覆うことができる。また、同時に2次元的な広がりを向上できるため欠陥密度を低減することができる。さらに、原料と水蒸気の処理工程を、チャンバーを変えることで明確に分離することができ、気中で生成される多量体が抑制され基板1の表面での物理吸着分を抑制することができるため信頼性の高い表面を形成することができる。
図5は、変形例1にかかる表面処理工程を説明するための模式図である。上記実施形態1では、図1のように、表面の官能基が1種類であるものとして説明したが、この構成に限定するものではない。以下、変形例1にかかる表面処理方法について説明する。尚、実施形態1と同一の構成部位については、同一の番号を附し、重複する説明は省略する。
上記実施形態1では、第一工程、第二工程、第三工程と表面処理を行った。第一工程、第二工程、第一工程、第二工程、…というように第一工程及び第二工程を複数行った後で第三工程を行っても良い。
上記実施形態1の第三工程では水酸基7から所望の官能基を有する第二有機分子3を化学結合させた。第二有機分子3には官能基がCH3を有しても良い。そして、形成された膜を液晶表示装置の配向膜として使用しても良い。
上記実施形態1の第三工程では水酸基7から所望の官能基を有する第二有機分子3を化学結合させた。第二有機分子3には官能基がNH2を有しても良い。そして、形成された膜を半導体装置、MEMS及びプリンターヘッドに用いる接着剤と被接着体を接着するときもプライマー膜として使用しても良い。
上記実施形態1の第三工程では水酸基7から所望の官能基を有する第二有機分子3を化学結合させた。第二有機分子3には官能基がCF3を有しても良い。そして、形成された膜を半導体装置、MEMS及びプリンターヘッドに用いる撥液膜として使用しても良い。
Claims (2)
- MEMSに用いる接着剤と被接着体とを接着するときの前記被接着体のプライマー処理方法であって、
4つの官能基が同じアルコキシ基を有するシランカップリング剤を第一有機分子とし、
前記第一有機分子と、基板の表面に露出している水酸基とを減圧環境にて化学結合させる第一工程と、
前記第一工程で前記表面と化学結合した前記第一有機分子の前記アルコキシ基と水分子とを減圧環境にて化学結合させ、前記第一有機分子の前記アルコキシ基を水酸基にする第二工程と、
前記第一有機分子と異なる機能を有する官能基を1つ有し、その他2つまたは3つの官能基がアルコキシ基であるシランカップリング剤を第二有機分子として、
前記第二有機分子の前記その他2つまたは3つの官能基であるアルコキシ基と前記第二工程で生成された前記水酸基とを減圧環境にて化学結合させる第三工程と、を有し、
前記第二有機分子における前記第一有機分子と異なる機能を有する前記官能基がNH2を有するものであり、
前記第一工程、前記第二工程、前記第三工程の前記減圧環境の圧力が0.1Paより大きく0.1MPaより小さいこと、を特徴とするプライマー処理方法。 - 請求項1に記載のプライマー処理方法において、
前記第一工程と前記第二工程とを反復することを特徴とするプライマー処理方法。
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