JP5942242B2 - 検査用照明装置 - Google Patents

検査用照明装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5942242B2
JP5942242B2 JP2011230518A JP2011230518A JP5942242B2 JP 5942242 B2 JP5942242 B2 JP 5942242B2 JP 2011230518 A JP2011230518 A JP 2011230518A JP 2011230518 A JP2011230518 A JP 2011230518A JP 5942242 B2 JP5942242 B2 JP 5942242B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
lens
condenser lens
inspection
fresnel condenser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011230518A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013088338A (ja
Inventor
上原 誠
誠 上原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MEJIRO GENOSSEN INC.
Original Assignee
MEJIRO GENOSSEN INC.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MEJIRO GENOSSEN INC. filed Critical MEJIRO GENOSSEN INC.
Priority to JP2011230518A priority Critical patent/JP5942242B2/ja
Priority to PCT/JP2012/077090 priority patent/WO2013058360A1/ja
Priority to CN201280051126.0A priority patent/CN103959046B/zh
Publication of JP2013088338A publication Critical patent/JP2013088338A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5942242B2 publication Critical patent/JP5942242B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

本発明は、例えば液晶パネルや有機ELパネルの検査に用いることのできる検査用照明装置に関する。
テレビなどに使われる大型液晶パネルは、各表示素子の大きさは数100μmであり、素子のOn/Offを担うトランジスタの大きさは3〜7μmであるのが一般的である。しかし、パソコンやスマートフォンなどに用いられる表示パネルでは、さらに細かい高精細パネルが用いられる。このような高精細パネルでは、例えば、各表示素子の大きさが数10μm、素子のOn/Offを担うトランジスタの大きさが1〜3μmの仕様を満たすことが求められる。
トランジスタの大きさが3〜7μmの表示パネルの検査では、結像レンズに対する照明系は比較的安価な面光源が使われている。しかし、面光源は、フレアと呼ばれる散乱光が分解能を悪くするという問題がある。このため、従来の面光源では、トランジスタの大きさが1〜3μmの高精細の表示パネルの検査に対応することは困難であった。そこで、結像レンズに対する照明系として、ケーラー照明系を用いることが検討されている。ケーラー照明系は、分解能が結像レンズの光学設計値まで得られるとともに、深い焦点深度が得られるため、高精細の表示パネルの検査に対応することが可能である。
しかし、ケーラー照明系はコストが高いという難点があるため、安価な面光源によって代用されることが多いというのが実情であった。
特開平11−6802号公報 特開2010−156558号公報
図8は、従来使われている面光源の欠点を説明するための図である。面光源として光ファイバーを使う例では、 [XY断面]を長手とし、[XZ断面]を短手としたスリット状領域に多数の光ファイバーがバンドルされて、ファイバー端面から物体面を照射する。この場合、図8に示すように、ほんの僅かな光束が結像レンズに入射して、結像に寄与するが、面光源から出射する大半の光束は無駄になるとともに、レンズ鏡筒などに当たりフレアとして画像素子のコントラストを悪くし、解像度を下げてしまう。このように、面光源は安価であるという利点はあるが、高精細化されたパネルの検査には十分に対応することが困難であった。また、大半の光束が無駄になるため、過大な仕様の光ファイバーを必要とするという問題があった。
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、ケーラー照明系を用いたより安価な検査用照明装置を提供することを目的とする。
本発明の検査用照明装置は、光源部と、前記光源部から発せられた光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記コリメータレンズを通過した光を被検物体に向けて集光するためのフレネルコンデンサレンズと、前記コリメータレンズと前記フレネルコンデンサレンズの間に配置されたシグマ絞りと、を備える検査用照明装置であって、前記シグマ絞りと前記フレネルコンデンサレンズの間には、アポダイジングフィルタが設置されていることを特徴とする。
前記アポダイジングフィルタは、前記シグマ絞りと前記フレネルコンデンサレンズとの距離を1としたとき、前記フレネルコンデンサレンズから1/3以内の距離に配置されていることが好ましい。
本発明によれば、ケーラー照明系を用いたより安価な検査用照明装置を提供することが可能となる。
検査用照明装置の平面図である。 検査用照明装置の側面図である。 フレネルコンデンサレンズの拡大図である。 アポダイジングフィルタについて説明するための説明図である。 照度の均一化確認実験の結果を示すグラフである。 検査用照明装置における瞳(絞り)の共役関係、結像レンズの分解能、及び焦点深度について説明するための説明図である。 分解能の測定実験の結果を示すグラフである。 従来使われている面光源の欠点を説明するための説明図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る検査用照明装置10の平面図である。図2は、検査用照明装置10の側面図である。
図1、2に示すように、検査用照明装置10は、光源部20と、前記光源部20から発せられた光を平行光に変換するコリメータレンズ30と、前記コリメータレンズ30を通過した光を被検物体Wに向けて集光するためのフレネルコンデンサレンズ40と、前記コリメータレンズ30と前記フレネルコンデンサレンズ40の間に配置されたシグマ絞り50と、を備えている。
光源部20は、複数のLED光源22と、板状のロッド・プリズム24によって構成されている。板状のロッド・プリズム24は、線状の入射面24a及び出射面24bを有している。一方、複数のLED光源22は、線状の入射面24aの長手方向に沿って1列に並ぶように配置されている。したがって、複数のLED光源22から出射された光は、ロッド・プリズム24の内部に入射面24aから入射した後、ロッド・プリズム24の内部において多重反射を繰り返すことによって、出射面24bから均一な光となって線状に出射する。
なお、複数のLED光源22は、ランプ等の他の光源によって代替することも可能である。また、ロッド・プリズム24は、LED等の光源から発せられる光を均一化できるのであれば、他の光学素子によって代替することも可能である。
コリメータレンズ30は、光源部20から出射された光を平行光に変換するためのレンズであり、公知のコリメータレンズを用いることが可能である。
フレネルコンデンサレンズ40は、コリメータレンズ30を通過した光を被検物体Wに向けて集光するためのレンズである。フレネルコンデンサレンズ40は、1枚もしくは2枚以上のフレネルレンズによって構成されている。このフレネルコンデンサレンズ40の詳細については、後述する。
シグマ絞り50は、虹彩絞りとも呼ばれるものであり、コリメータレンズ30の後側(被検物体W側)に配置されている。シグマ絞り50は、後述する結像レンズ60内の絞りと光学的に共役の位置に配置されている。
被検物体Wは、検査の対象となる物体であり、例えば、液晶パネルや有機ELパネルである。本実施形態では、被検物体Wとして光透過性のパネルを例示しているが、光を反射するパネルであってもよい。
光源部20から出射された光は、コリメータレンズ30によって平行光に変換された後、後述するアポダイジングフィルタ70を通過する。アポダイジングフィルタ70を通過した光は、フレネルコンデンサレンズ40によって被検物体Wの表面に均一かつ線状に照射される。これにより、被検物体Wの表面には、照度が均一でかつ線状の光の照射面が形成される。
被検物体Wの後側(光源部20と反対側)には、さらに、結像レンズ60及びラインCCD80が配置されている。被検物体Wの表面に照射された光は、結像レンズ60により撮像素子であるラインCCD80の受光面に結像する。これにより、被検物体Wの表面に形成された光の照射面の像は、ラインCCD80の受光面に転写される。
図1、図2に示す検査用照明装置10において、ロッド・プリズム24の出射面24bと、被検物体Wの表面は、光学的に共役となっている。また、被検物体Wの表面と、ラインCCD80の受光面は、光学的に共役となっている。さらに、シグマ絞り50と結像レンズ60内の絞りが、光学的に共役となっている。
被検物体Wの表面に欠陥がある場合、ラインCCD80の受光面にはその欠陥の画像が転写される。その転写された画像をソフトウエア処理することにより、被検物体Wの欠陥検査を行うことが可能である。
本発明の検査用照明装置10では、従来使われていた面光源(拡散照明)ではなく、ケーラー照明系を用いている。ケーラー照明ではシグマ絞り(=虹彩絞り)をコントロールして、結像レンズの照明条件を変えることにより、結像レンズの分解能を高くすることが可能であるとともに、結像レンズの焦点深度を深くすることが可能である。したがって、例えばトランジスタの大きさが1〜3μmの高精細パネルの検査にも対応することが可能である(「光の鉛筆第4巻」鶴田匡夫著、新技術コミュニケーションズ出版、p.281-290)。
また、本発明の検査用照明装置10は、球面レンズからなるコンデンサレンズではなく、フレネルコンデンサレンズ40を用いてケーラー照明系を実現している。
球面レンズからなるコンデンサレンズを用いた場合、コンデンサレンズが大型化してしまう。また、複数枚のコンデンサレンズが必要である。さらに、撮像素子としてラインCCDを用いることを前提とした場合、コンデンサレンズは矩形であればよいにもかかわらず、球面レンズからなるコンデンサレンズは円形であるため、コンデンサレンズの大部分が無駄になってしまう。
これに対して、フレネルコンデンサレンズ40を用いた場合、レンズの非球面化が容易である。このため、球面レンズを用いた場合のようにレンズの大部分を無駄にすることがなく、また、フレネルコンデンサレンズ40は1枚でもケーラー照明系を実現できるため、ケーラー照明系を低コストで実現することができる。
図3は、フレネルコンデンサレンズ40の拡大図である。図3に示すように、フレネルコンデンサレンズ40は、光軸からレンズの周縁に向かうにつれてノコギリ状の山が高くなり、図中のグレー色で示す光束が焦点に向かわず、レンズの周縁を通る有効光束が減少してしまうという欠点がある。
液晶プロジェクタ、オーバー・ヘッドプロジェクタ、あるいは背面投射型テレビでは、照明系にフレネルレンズを使っているものがある。人間の眼の感度はLogに比例するために、画像の周縁部が数10%暗くてもあまり問題は生じないと言われている。しかし、高精細表示パネルの検査装置では、パネルの周縁部にまで均一の照度で光を照射することが要求される。このため、フレネルレンズを使う利点が多くあるにもかかわらず、フレネルレンズを検査装置の照明系に用いることは実際には困難であるというのが常識であった。
そこで、本発明の検査用照明装置10では、アポダイジングフィルタ70をシグマ絞り50とフレネルコンデンサレンズ40の間に配置することによって、フレネルレンズを使用することによる照度ムラの問題を解決している。
図4は、アポダイジングフィルタについて説明するための図である。図4の上段は、中央部の透過率を50%としたアポダイジングフィルタの例を示している。図4の下段は、中央部の透過率を80%としたアポダイジングフィルタの例を示している。
本実施形態では、中央部では透過率が低く、中央部から離れるにつれて透過率が次第に高くなる矩形状のアポダイジングフィルタ70を用いている。
なお、本実施形態の検査用照明装置10では、結像レンズ60の仕様の変更に合わせて、異なる仕様のフレネルコンデンサレンズ40を用いる必要がある。異なる仕様のフレネルコンデンサレンズ40を用いた場合、フレネルコンデンサレンズ40の透過率カーブ特性も変わってくる。このため、アポダイジングフィルタ70の仕様を、フレネルコンデンサレンズ40の透過率カーブの特性に合わせて変更する必要がある。
アポダイジングフィルタ70は、シグマ絞り50とフレネルコンデンサレンズ40との距離を1としたとき、フレネルコンデンサレンズ40から1/3以内の距離に配置されることが好ましい。
より具体的には、アポダイジングフィルタ70は、シグマ絞り50とフレネルコンデンサレンズ40の表面(光源部20側の表面)との光軸方向における距離を1としたとき、フレネルコンデンサレンズ40の表面から1/3以内の距離に配置されることが好ましい。
アポダイジングフィルタ70を上記の範囲よりもシグマ絞り50の近傍に配置した場合、光軸近傍を進む光束と照明域の周縁に向かう光束とが重複するために、照明域全面の透過率が下がるおそれがある。また、被検物体Wに照射する光の照度の均一化を図ることが困難になるおそれがある。
他方、アポダイジングフィルタ70をフレネルコンデンサレンズ40と被検物体Wの間に配置した場合には、アポダイジングフィルタ70を通過する光の各光束が細くなってしまう。この場合、被検物体Wに照射される光が、アポダイジングフィルタ70のパターンムラ等の影響を大きく受けてしまう。
本発明者らは、アポダイジングフィルタ70の位置を変えて実験を繰り返すことによって、アポダイジングフィルタ70の最適な配置を見出した。すなわち、アポダイジングフィルタ70は、シグマ絞り50とフレネルコンデンサレンズ40との距離を1としたとき、フレネルコンデンサレンズ40から1/3以内の距離に配置されることが好ましいことを見出した。より好ましい距離は、1/4以内である。
なお、フレネルコンデンサレンズ40が2枚のフレネルレンズによって構成されている場合、アポダイジングフィルタ70を2枚のフレネルレンズの間に配置してもよい。
[照度の均一化確認実験]
本発明の検査用照明装置10によって、被検物体Wに照射される光の照度の均一化を図ることができることを確認するための実験を行った。なお、照度の均一化を確認することが目的の実験であるため、被検物体Wにはパターンのない素ガラスを用いた。この実験では、結像レンズ60として1倍のレンズを用いた。また、ラインCCD80として、12,000画素×5μm=60mmのライン型CCDを用いた。アポダイジングフィルタ70は、中央部の透過率が50%のものを用いた。アポダイジングフィルタ70は、シグマ絞り50とフレネルコンデンサレンズ40の中間の位置(フレネルコンデンサレンズ40から1/2)に配置した。
図5は、実験結果を示すグラフである。図5のグラフでは、ラインCCDの照度出力をY軸にとっており、ラインCCDの座標を画素数を単位としてX軸にとっている。図5の上段は、アポダイジングフィルタ70を配置する前の実験データを示している。図5の下段は、アポダイジングフィルタ70を配置した後の実験データを示している。
図5の上段に示すように、アポダイジングフィルタ70を配置しない場合には、照度の最大値が約180(Max)、照度の最小値が約105(Min)であり、(Max-Min)/(Max+Min)で計算される照度ムラは約26%であった。
図5の下段に示すように、アポダイジングフィルタ70を配置した場合には、照度の最大値が約112(Max)、照度の最小値が約105(Min)であり、(Max-Min)/(Max+Min)で計算される照度ムラは約3.2%であった。
上記の実験結果より、アポダイジングフィルタ70をシグマ絞り50とフレネルコンデンサレンズ40の間に配置することによって、被検物体Wに照射する光の照度の均一化が図れることを確認できた。
[分解能と焦点深度の測定実験]
本発明の検査用照明装置10を用いることによって、結像レンズ60の分解能と焦点深度を測定した。
測定について説明する前に、まず、本実施形態の検査用照明装置10における瞳(絞り)の共役関係、結像レンズ60の分解能、及び焦点深度について説明する。
図6に示すように、シグマ絞り50と結像レンズ60は共役となっている。このため、シグマ絞り50を小さくすれば、照明光の光束は結像レンズ60の絞りのより中央部を透過する。図6では、シグマ絞り50の径を50%まで小さくした例を示した例を示しており、このような状態をσ=0.5と呼ぶ。
σ=0.5の場合、共役関係にある結像レンズ60にも、絞り開口に対して50%しか直接光束は入射しないことになる。しかし、被検物体Wに細かいパターンが形成されている場合、この細かいパターンによって回折光が生じる。そして、その回折光が結像レンズ60内の絞りの開口部(=外側の薄いグレー色の部分)を通るため、この回折光が分解能の改善に寄与することとなる。なお、図6では、0次光を実線で示しており、被検物体Wに形成された微細パターンから生じる回折光を破線で示している。
焦点深度については、強い0次光の光束のNAが小さくなるために、波長/(NA×NA)から求められる焦点深度が深くなる。
図7は、結像レンズ60の分解能の測定データを示す。図7の右側の列のグラフは、従来の面光源(拡散照明)を用いて被検物体Wに光を照射したときの分解能の測定結果を示している。図7の左側の列のグラフは、本実施形態の検査用照明装置10(ケーラー照明系)を用いて被検物体Wに光を照射したときの分解能の測定結果を示している。また、図7には、上下方向に5つのグラフが並んでいるが、これらは、上から順番に、−100μm、−50μm、ベストフォーカス、+50μm、+100μmの各フォーカス位置での測定データを示している。分解能は、MTF(Modulation Transfer Function)で測定している。
測定では、結像レンズ60として、2.4倍の結像レンズを用いた。被検物体Wとして、白黒各7ミクロンの微細パターンが形成されている25mm長さのレチクルを用いた。ラインCCD80として、12,000画素×5μm=60mmのライン型CCDを用いた。なお、CCDの1素子は、被検物体Wの2.08μmに相当する。シグマ絞り50の絞りの大きさは、σ=0.7とした。
(分解能の測定結果)
図7を見れば分かる通り、ベストフォーカス位置での拡散照明のMTFが38%であったのに対し、本実施形態の検査用光照明装置10(ケーラー照明系)のMTFは73%であり、分解能がおよそ2倍に改善されることを確認できた。
(焦点深度の評価)
画像データの処理において、MTF30%以上がソフトウエア処理出来る目安であると言われている。そこで、MTF30%以上を基準として、焦点深度の評価を行った。
図7を左列のグラフを見れば分かる通り、本実施形態の検査用照明装置10(ケーラー照明系)を用いた場合には、ベストフォーカス位置で73%、−50μmの位置で61%、+50μmの位置で56%のMTF値が測定された。この結果より、±75μm程度の焦点深度が確保されていることを確認できた。この程度の焦点深度が確保されていれば、数10ミクロンのうねりのあるガラスパネルを検査する場合でも、画像データのソフトウエア処理が可能であるといえる。
図7の右列のグラフを見れば分かる通り、従来の拡散照明を用いた場合には、ベストフォーカス位置で38%、−50μmの位置で21%、+50μmの位置で19%のMTF値が測定された。この結果より、±50μmの焦点深度が確保できていないことを確認できた。
ケーラー照明系を使う種々の測定データから、σ絞りが0.5から0.7程度でMTF値が高くなり、焦点深度も深くなることが確認されている。
本発明の検査用光照明装置を用いて、適切なσ絞りを選択する事により、高精細パネルの検査を安価に実現することが可能となった。
10 検査用光照明装置
20 光源部
22 光源
24 ロッド・プリズム
30 コリメータレンズ
40 フレネルコンデンサレンズ
50 シグマ絞り
60 結像レンズ
70 アポダイジングフィルタ
80 ラインCCD
W 被検物体

Claims (1)

  1. 光源部と、前記光源部から発せられた光を平行光に変換するコリメータレンズと、前記コリメータレンズを通過した光を被検物体に向けて集光するためのフレネルコンデンサレンズと、前記コリメータレンズと前記フレネルコンデンサレンズの間に配置されたシグマ絞りと、を備える検査用照明装置であって、
    前記シグマ絞りと前記フレネルコンデンサレンズの間には、アポダイジングフィルタが設置されており、
    前記アポダイジングフィルタは、前記シグマ絞りと前記フレネルコンデンサレンズとの距離を1としたとき、前記フレネルコンデンサレンズから1/3以内の距離に配置されていることを特徴とする、検査用照明装置。
JP2011230518A 2011-10-20 2011-10-20 検査用照明装置 Active JP5942242B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011230518A JP5942242B2 (ja) 2011-10-20 2011-10-20 検査用照明装置
PCT/JP2012/077090 WO2013058360A1 (ja) 2011-10-20 2012-10-19 検査用照明装置
CN201280051126.0A CN103959046B (zh) 2011-10-20 2012-10-19 检查用照明装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011230518A JP5942242B2 (ja) 2011-10-20 2011-10-20 検査用照明装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013088338A JP2013088338A (ja) 2013-05-13
JP5942242B2 true JP5942242B2 (ja) 2016-06-29

Family

ID=48141003

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011230518A Active JP5942242B2 (ja) 2011-10-20 2011-10-20 検査用照明装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP5942242B2 (ja)
CN (1) CN103959046B (ja)
WO (1) WO2013058360A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9958400B2 (en) * 2013-05-22 2018-05-01 Panasonic Healthcare Holdings Co., Ltd. Pill inspection apparatus and pill inspection method
JP6370626B2 (ja) 2014-07-24 2018-08-08 オリンパス株式会社 照明光学系、照明装置、及び照明光学素子
CN105334230A (zh) * 2015-11-26 2016-02-17 凌云光技术集团有限责任公司 用于高纵深比pcb板孔缺陷检测的光源装置
ITUB20159510A1 (it) * 2015-12-22 2017-06-22 Sacmi Apparato di ispezione ottica di oggetti
CN107153000B (zh) * 2017-06-20 2023-10-31 中国地质大学(武汉) 一种便携式滤镜光学性能检测装置及其检测方法
JP6956004B2 (ja) * 2017-12-28 2021-10-27 タカノ株式会社 欠陥検査装置、及び、欠陥検査装置の製造方法
KR20200015049A (ko) * 2018-08-02 2020-02-12 (주)제이티 슬릿광원 및 이를 포함하는 비전검사장치

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3780292B2 (ja) * 1993-05-13 2006-05-31 オリンパス株式会社 表面欠陥検査装置
JPH116802A (ja) * 1997-04-21 1999-01-12 Mejiro Precision:Kk 検査装置
JP2002340815A (ja) * 2001-05-22 2002-11-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd パターン検査装置
JP4219645B2 (ja) * 2002-09-12 2009-02-04 シャープ株式会社 マイクロレンズアレイの露光方法
WO2005036141A1 (fr) * 2003-10-10 2005-04-21 Optis Dispositif portable de mesure de l'intensité lumineuse d'un objet et utilisation d'un tel dispositif
JP2009098089A (ja) * 2007-10-19 2009-05-07 Panasonic Corp 表面検査装置
CN101435698B (zh) * 2008-12-17 2010-08-25 天津大学 透明封装介质下微器件的表面形貌测量系统与方法
JP2010156558A (ja) * 2008-12-26 2010-07-15 Olympus Corp 透過照明装置、検査システム、および透過照明方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN103959046A (zh) 2014-07-30
WO2013058360A1 (ja) 2013-04-25
CN103959046B (zh) 2016-05-18
JP2013088338A (ja) 2013-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5942242B2 (ja) 検査用照明装置
US10877256B2 (en) Observation device
KR101697240B1 (ko) 광학 검사 시스템 및 방법
US10180234B2 (en) Illumination optical system, illumination apparatus, and illumination optical element
JP6619025B2 (ja) 観察装置
US20130258324A1 (en) Surface defect detecting apparatus and method of controlling the same
WO2015098242A1 (ja) 標本観察装置および標本観察方法
JPWO2018220670A1 (ja) 観察装置
JP4748133B2 (ja) 検査装置
JP2007333563A (ja) 光透過性シートの検査装置および検査方法
JP2019109302A (ja) 照明光学系、光学検査装置及び光学顕微鏡
US10310247B2 (en) Sample observation device and sample observation method
JP2002340815A (ja) パターン検査装置
JP2007147743A (ja) 顕微鏡照明装置とこれを有する顕微鏡
JP2010145780A (ja) インテグレータ、このインテグレータを有する照明装置、及び、この照明装置を有する顕微鏡装置
JP2010237029A (ja) 赤外線光学系の評価装置及びその評価方法
KR102496099B1 (ko) 외관 검사 장치
JP2014169988A (ja) 透過体または反射体の欠陥検査装置
JP2014044059A (ja) 検査装置及び検査方法
JP2008164387A (ja) 光学検査方法および装置
JP6482894B2 (ja) 顕微鏡照明装置、及び、顕微鏡
WO2024004729A1 (ja) 検査システム
JPH0783845A (ja) 検査装置
JP2018106894A (ja) 照明システム
JP2011013589A (ja) 照明光学系及び照明装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151027

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160426

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160428

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5942242

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S633 Written request for registration of reclamation of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313633

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250