JP5919068B2 - フィルタ部材の目詰まり検知システム、および、乾燥装置 - Google Patents

フィルタ部材の目詰まり検知システム、および、乾燥装置 Download PDF

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Description

本発明は、フィルタ部材の目詰まり検知システム、および、そのフィルタ部材の目詰まり検知システムを備える乾燥装置に関する。
従来、プラスチック成形などにおいて、成形材料であるプラスチックペレットなどの粉粒体を、成形機へ投入する前に乾燥する乾燥装置が用いられている。
そのような乾燥装置として、例えば、粉粒体を貯留する乾燥ホッパーと、乾燥ホッパーに乾燥ガスを送風するための乾燥ブロワと、乾燥ガス中の湿り成分を除去する回転可能な吸着筒と、乾燥ガスを加熱する乾燥ヒーターとを備える脱湿乾燥装置が提案されている(たとえば、下記特許文献1参照。)。
特開平10−185433号公報
しかるに、上記した特許文献1に記載の脱湿乾燥装置には、乾燥ホッパーから乾燥ブロワへ向かうラインの途中に設けられる乾燥フィルタが、粉塵の蓄積によって目詰まりする場合がある。
一般に、フィルタの目詰まりを検知する方法として、フィルタの上流側と下流側との圧力差に基づいてフィルタの目詰まりを検知する、差圧検知方式のフィルタの目詰まり検知方法が知られている。
しかし、このような差圧検知方式のフィルタの目詰まり検知方法では、フィルタの上流側と下流側とに圧力計を設ける必要があり、フィルタの目詰まり検知に関する構成が複雑化する。
そこで、本発明の目的は、簡易な構成で、フィルタ部材の目詰まりを検知することができるフィルタ部材の目詰まり検知システム、および、そのフィルタ部材の目詰まり検知システムを備える乾燥装置を提供することにある。
上記した目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、フィルタ部材の目詰まり検知システムであって、一方側から気流を発生させるための媒体を吸引して、他方側へ向かう気流を発生させる気流発生手段と、前記気流発生手段の前記一方側に配置され、前記気流発生手段に吸引される前記媒体に含まれる粉塵を除去するとともに、粉塵が除去された前記媒体の通過を許容するフィルタ部材と、前記気流発生手段の前記他方側に配置され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を測定する第1温度センサと、前記第1温度センサによって測定される温度を一定にするように、前記気流発生手段の動作量を調節する動作量調節手段と、前記気流発生手段の動作量が所定動作量に対して変動したときに、前記フィルタ部材が目詰まりしていると判断する判断手段とを備えることを特徴としている。
このような構成によれば、温度センサによって測定される温度が所定温度に対して変動するか、または、気流発生手段の動作量が所定動作量に対して変動したときに、フィルタ部材が目詰まりしていると判断することができる。
そのため、フィルタ部材の形態や構造などに応じて特定の目詰まり検知装置を設けることなく、簡易な構成で、フィルタ部材の目詰まりを検知することができる。
また、気流発生手段によって発生される気流の温度が所定の範囲内に調節されている場合に、フィルタ部材の目詰まりを検知することができる。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記気流発生手段と前記第1温度センサとの間に介在され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を調節する温度調節手段を、さらに備えることを特徴としている。
このような構成によれば、気流発生手段によって発生される気流の温度を、確実に、所定の範囲内に調節することができる。
また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記温度調節手段と前記第1温度センサとの間に介在され、前記気流発生手段によって発生される気流が作用される被作用部材を、さらに備えることを特徴としている。
このような構成によれば、動作量調節手段は、被作用部材に作用された後の気流の温度を基準として、気流発生手段の動作量を調節する。
そのため、被作用部材の状態を、気流発生手段によって発生される気流によって一定に保つことができながら、フィルタ部材の目詰まりも検知することができる。
また、請求項4に記載の発明は、フィルタ部材の目詰まり検知システムであって、一方側から気流を発生させるための媒体を吸引して、他方側へ向かう気流を発生させる気流発生手段と、前記気流発生手段の前記一方側に配置され、前記気流発生手段に吸引される前記媒体に含まれる粉塵を除去するとともに、粉塵が除去された前記媒体の通過を許容するフィルタ部材と、前記気流発生手段の前記他方側に配置され、前記気流発生手段によって発生される気流が作用される被作用部材と、前記気流発生手段と前記被作用部材との間に介在され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を調節する温度調節手段と、前記温度調節手段と前記被作用部材との間に配置され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を測定する第2温度センサと、前記気流発生手段の動作量を一定に調節する動作量調節手段と、前記第2温度センサによって測定される温度が所定温度に対して変動したときに、前記フィルタ部材が目詰まりしていると判断する判断手段とを備えることを特徴としている。
このような構成によれば、気流発生手段の動作量が一定である場合に、フィルタ部材の目詰まりを検知することができる。
また、請求項5に記載の発明は、乾燥装置であって、上記のフィルタ部材の目詰まり検知システムを備えることを特徴としている。
このような構成によれば、上記のフィルタ部材の目詰まり検知システムを備えているので、温度センサによって測定される温度が所定温度に対して変動するか、または、気流発生手段の動作量が所定動作量に対して変動したときに、フィルタ部材が目詰まりしていると判断することができる。
そのため、フィルタ部材の形態や構造などに応じて特定の目詰まり検知装置を設けることなく、簡易な構成で、フィルタ部材の目詰まりを検知することができる。
請求項1および5に記載の発明によれば、フィルタ部材の形態や構造などに応じて特定の目詰まり検知装置を設けることなく、簡易な構成で、フィルタ部材の目詰まりを検知することができる。
また、気流発生手段によって発生される気流の温度が所定の範囲内に調節されている場合に、フィルタ部材の目詰まりを検知することができる。
また、請求項2に記載の発明によれば、気流発生手段によって発生される気流の温度を、確実に、所定の範囲内に調節することができる。
また、請求項3に記載の発明によれば、被作用部材の状態を、気流発生手段によって発生される気流によって一定に保つことができながら、フィルタ部材の目詰まりも検知することができる。
また、請求項4に記載の発明によれば、気流発生手段の動作量が一定である場合に、フィルタ部材の目詰まりを検知することができる。
図1は、本発明の乾燥装置の一実施形態を示す概略構成図である。 図2は、図1に示す乾燥装置の運転開始時における目詰まり検知(第1の目詰まり検知)のフローチャートである。 図3は、図1に示す乾燥装置の運転途中における目詰まり検知(第2の目詰まり検知)のフローチャートである。 図4は、図1に示す乾燥装置の運転終了時における目詰まり検知(第3の目詰まり検知)のフローチャートである。
図1は、本発明の乾燥装置の一実施形態を示す概略構成図である。
図1に示すように、乾燥装置1は、樹脂材料からなる粉粒体(ペレット)が貯留されているタンク(図示せず)から供給される粉粒体を乾燥して、乾燥された粉粒体を、成形機(図示せず)などへ供給する装置である。
乾燥装置1は、粉粒体を乾燥する乾燥部2と、乾燥装置1の動作を制御する制御部3とを備えている。
乾燥部2は、粉粒体を貯留する貯留部11と、貯留部11へ乾燥空気を供給する乾燥空気供給部12とを備えている。
貯留部11は、乾燥ホッパ13(被作用部材の一例)およびローダホッパ15を備えている。
乾燥ホッパ13は、略円筒形状の上側部分と、下側に向かって開口断面積が小さくなる略円錐形状の下側部分とが連続するように形成されている。
また、乾燥ホッパ13の上端部には、粉粒体が投入される投入口16が設けられている。また、乾燥ホッパ13の下端部には、乾燥ホッパ13から粉粒体を排出する排出口17が設けられている。
ローダホッパ15は、乾燥ホッパ13よりも小型のホッパであり、略円筒形状の上側部分と、下側に向かって開口断面積が小さくなる略円錐形状の下側部分とが連続するように形成されている。また、ローダホッパ15は、下端部において、乾燥ホッパ13の投入口16に連通されるように、乾燥ホッパ13の上端部に接続されている。
乾燥空気供給部12は、乾燥ホッパ13へ向かう気流を発生させる乾燥ブロワ19(気流発生手段の一例)と、乾燥ブロワ19からの気流を乾燥ホッパ13へ供給するための乾燥側気流供給ライン18と、乾燥ホッパ13から排気するための乾燥側排気ライン20と、乾燥側気流供給ライン18と乾燥側排気ライン20とをバイパスするバイパスライン24とを備えている。
乾燥ブロワ19は、インバータ回路36(動作量調節手段の一例)を備えており、CPU51(後述)によってインバータ制御される。乾燥ブロワ19は、乾燥側排気ライン20(一方側)から気流を発生させるための媒体(例えば、空気、窒素などの不活性ガス)を吸引して、乾燥側気流供給ライン18(他方側)へ向かう気流を発生させる。
乾燥側気流供給ライン18は、その供給方向上流側端部が、乾燥ブロワ19に接続されており、その供給方向下流側端部が、乾燥ホッパ13の側壁を貫通して乾燥ホッパ13内に配置されている。乾燥側気流供給ライン18の供給方向下流側端部は、乾燥ホッパ13の下端部近傍に配置され、乾燥ホッパ13内に熱風を吹き込むために下側に向けて開放されるノズル22を備えている。
また、乾燥側気流供給ライン18は、乾燥ブロワ19からの気流を除湿する除湿装置23と、除湿された気流を加熱する乾燥ヒータ21と、加熱された気流の温度を測定する乾燥側加熱温度センサ10(第2温度センサの一例)とを備えている。
除湿装置23は、水分を吸着する吸着部材25と、吸着部材25に吸着された水分を除去する再生装置26とを備えている。
吸着部材25は、ゼオライトなどの水分を吸着可能なセラミック材料から略円柱形状に形成されており、その径方向一端部において、乾燥側気流供給ライン18の途中に介在されている。吸着部材25は、ケーシング27内において、その中心軸線を回転中心として回転可能に支持されている。吸着部材25は、除湿装置23の動作中、常には、ケーシング27内において、一定の速度で回転されている(図1中に示す矢印参照)。
再生装置26は、再生ブロワ29と、吸気ライン39と、再生側気流供給ライン28と、再生側排気ライン31と、再生側排気温度センサ32とを備えている。
再生ブロワ29は、吸着部材25の径方向他端部へ向かう気流を発生させる。また、再生ブロワ29は、インバータ回路37を備えており、CPU51(後述)によってインバータ制御される。
吸気ライン39は、再生ブロワ29に空気を吸引させるための配管であって、その吸気方向上流側端部が、大気開放されており、その供給方向下流側端部が、再生ブロワ29に接続されている。また、吸気ライン39は、再生フィルタ38を備えている。
再生フィルタ38は、吸気ライン39の途中に設けられている。再生フィルタ38は、再生ブロワ29に吸気される空気から粉塵などを捕集する。
再生側気流供給ライン28は、再生ブロワ29からの気流を吸着部材25の径方向他端部へ供給する配管であり、その供給方向上流側端部が、再生ブロワ29に接続されており、その供給方向下流側端部が、吸着部材25の径方向他端部に対向するようにケーシング27に接続されている。
また、再生側気流供給ライン28の途中には、再生ブロワ29からの気流を加熱する再生ヒータ30と、再生ヒータ30で加熱された気流の温度を測定する再生側加熱温度センサ35とが設けられている。
再生ヒータ30は、再生側加熱温度センサ35で測定された温度に基づいて、CPU51(後述)によってその動作が制御(ONまたはOFF)される。再生ヒータ30の加熱温度は、例えば、230〜250℃である。
再生側加熱温度センサ35は、再生側気流供給ライン28の途中において、再生ヒータ30に対して供給方向下流側に設けられている。再生側加熱温度センサ35は、測定した気流の温度のデータを制御部3へ送信する。
再生側排気ライン31は、吸着部材25に作用された気流を、吸着部材25のケーシングから排気するための配管である。再生側排気ライン31の排気方向上流側端部は、吸着部材25の径方向他端部に対向するようにケーシング27に接続されている。再生側排気ライン31の排気方向下流側端部は、大気開放されている。
再生側排気温度センサ32は、再生側排気ライン31の途中に設けられている。再生側排気温度センサ32は、吸着部材25のケーシング27から排出される排気の温度を測定し、測定した排気の温度のデータを制御部3へ送信する。
乾燥ヒータ21は、乾燥側気流供給ライン18の供給方向において、再生装置26の下流側に設けられ、再生装置26において水分が除去されることにより得られた乾燥空気を加熱する。乾燥ヒータ21は、乾燥側加熱温度センサ10で測定された温度に基づいて、CPU51(後述)によってその動作が制御(ONまたはOFF)される。乾燥ヒータ21の加熱温度は、例えば、100〜150℃である。
乾燥側加熱温度センサ10は、乾燥側気流供給ライン18の途中において、乾燥ヒータ21に対して供給方向下流側に設けられている。乾燥側加熱温度センサ10は、測定した気流の温度のデータを制御部3へ送信する。
乾燥側排気ライン20は、その排気方向上流側端部が、乾燥ホッパ13に接続され、その排気方向下流側端部が、乾燥ブロワ19に接続されている。これにより、乾燥ブロワ19、乾燥側気流供給ライン18、乾燥ホッパ13および乾燥側排気ライン20により、クローズドラインが形成されている。
また、乾燥側排気ライン20は、乾燥側排気温度センサ14(第1温度センサの一例)と、乾燥フィルタ34(フィルタ部材の一例)と、冷却装置33とを備えている。
乾燥側排気温度センサ14は、乾燥フィルタ34よりも排気方向上流側に設けられている。乾燥側排気温度センサ14は、乾燥ホッパ13からの排気温度を測定し、そのデータを制御部3へ送信する。
乾燥フィルタ34は、乾燥側排気ライン20において、乾燥側排気温度センサ14の下流側、かつ、乾燥ブロワ19の上流側に設けられている。乾燥フィルタ34は、乾燥ホッパ13からの排気から粉塵などを捕集する。乾燥フィルタ34は、乾燥ブロワ19、乾燥ブロワ19のインバータ回路36、乾燥ヒータ21、乾燥側加熱温度センサ10、乾燥ホッパ13、乾燥側排気温度センサ14およびCPU51(後述)とともに、乾燥フィルタ34の目詰まり検知システムを構成する。
冷却装置33は、乾燥側排気ライン20において、乾燥フィルタ34と乾燥ブロワ19との間に設けられている。冷却装置33は、乾燥ホッパ13からの排気を冷却する。冷却された排気は、乾燥ブロワ19に吸気される。
バイパスライン24は、乾燥側気流供給ライン18の途中(乾燥ブロワ19と除湿装置23との間)から分岐されて、乾燥側排気ライン20の途中(乾燥ホッパ13と乾燥フィルタ34との間)に接続されている。バイパスライン24の途中には、吸着部材25の回転方向における、再生側気流供給ライン28の下流側、かつ、乾燥側気流供給ライン18の上流側において、ケーシング27および吸着部材25が介在されている。バイパスライン24は、乾燥ブロワ19からの気流の一部を、再生装置26によって加熱された吸着部材25に作用させて、吸着部材25を冷却する。
制御部3は、CPU51(判断手段の一例)を備えている。
CPU51は、乾燥ヒータ21、乾燥側加熱温度センサ10、乾燥側排気温度センサ14、乾燥ブロワ19のインバータ回路36、再生ヒータ30、再生側加熱温度センサ35、再生側排気温度センサ32、および、再生ブロワ29のインバータ回路37に電気的に接続されている。
また、CPU51は、乾燥ブロワ19および再生ブロワ29をPID制御するためのプログラムが格納されているROM52と、乾燥ブロワ19および再生ブロワ29をPID制御するためのプログラムを実行するための一時的な数値を記憶するためのRAM53とを備えている。
そして、この乾燥装置1を用いて粉粒体を乾燥させるには、乾燥ホッパ13に粉粒体が貯留された後、乾燥運転を開始する。なお、乾燥が開始されたときには、乾燥ホッパ13の投入口16および排出口17は、閉鎖されている。
乾燥運転を開始すると、まず、乾燥装置1の立ち上げ動作が実行される。
後で詳述するが、乾燥装置1の立ち上げ動作において、制御部3は、乾燥ヒータ21をONするとともに、乾燥ブロワ19の送風量を調整する。また、再生ヒータ30をONするとともに、再生ブロワ29の送風量を調整する。
乾燥ブロワ19から発生された気流は、乾燥側気流供給ライン18を介して吸着部材25の径方向一端部に作用する。すると、乾燥ブロワ19からの気流に含有される水分は、吸着部材25の径方向一端部(乾燥側気流供給ライン18と対向する部分)に吸着され、乾燥ブロワ19からの気流から除去される。これにより、乾燥ブロワ19からの気流は、水分が除去された乾燥空気となる。
その後、乾燥空気は、乾燥ヒータ21で加熱されて乾燥ホッパ13へ供給される。
これにより、乾燥ホッパ13内の温度(具体的には、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度)は、粉粒体の推奨予備乾燥温度(成形前の予備乾燥温度であって、粉粒体のメーカーが推奨する温度。)に基づいて任意に設定された乾燥設定温度T(例えば、120℃)に調整される。
乾燥ホッパ13へ供給された乾燥空気は、乾燥ホッパ13内において粉粒体を乾燥した後、乾燥側排気ライン20へ供給される。乾燥ホッパ13から乾燥側排気ライン20へ供給された空気は、乾燥フィルタ34を介して冷却装置33に供給され、冷却装置33で冷却された後、再度、乾燥ブロワ19に供給される。乾燥ホッパ13から乾燥側排気ライン20へ供給された空気には、粉粒体から除去された水分が含有されている。
一方、吸着部材25のうち水分を吸着した部分は、乾燥側気流供給ライン18と対向する位置から、図1中に矢印で示す方向へ回転されて、再生装置26の再生側気流供給ライン28の供給方向下流側端部に対向される。
ここで、再生装置26から発生された気流は、再生側気流供給ライン28を介して、再生ヒータ30で加熱された後、吸着部材25のうち水分を吸着した部分(吸着部材25の径方向他端部)に作用する。
すると、再生装置26からの気流は、吸着部材25に吸着されている水分を揮発させ、その後、ケーシング27から再生側排気ライン31へ排気される。
これにより、水分を吸着した部分の吸着部材25は、再度、水分を吸着していない状態に再生される。一方、再生側排気ライン31からの排気には、吸着部材25から揮発された水分が含有される。
その後、吸着部材25のうち水分が除去された部分は、再生側気流供給ライン28と対向する位置から、図1中に矢印で示す方向へ回転されて、バイパスライン24に対向される。これにより、水分が除去された部分の吸着部材25は、冷却される。
その後、吸着部材25のうち冷却された部分は、図1中に矢印で示す方向へ回転されて、再度、乾燥側気流供給ライン18と対向される。
このように、除湿装置23では、吸着部材25が一定速度で回転されながら、乾燥ホッパ13に供給される空気に含まれる水分の吸着部材25に対する吸着と、吸着部材25に吸着された水分の除去とが繰り返される。
図2は、図1に示す乾燥装置の運転開始時における目詰まり検知(第1の目詰まり検知)のフローチャートである。図3は、図1に示す乾燥装置の運転途中における目詰まり検知(第2の目詰まり検知)のフローチャートである。図4は、図1に示す乾燥装置の運転終了時における目詰まり検知(第3の目詰まり検知)のフローチャートである。
次いで、乾燥装置1における乾燥フィルタ34および再生フィルタ38の目詰まり検知について説明する。なお、以下の説明において、乾燥フィルタ34を例に挙げて、目詰まり検知について説明する。
まず、乾燥装置1の立ち上げ動作において、第1の目詰まり検知が実施される。
乾燥装置1の立ち上げ動作が実施されると、制御部3は、乾燥ヒータ21をONするとともに、インバータ回路36を制御して、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f、動作量の一例)を、例えば、60Hzに保持して、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度が、乾燥設定温度T(例えば、120℃)となるように、乾燥ホッパ13内の温度を上昇させる。
ここで、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の単位時間(例えば、1分間)あたりの上昇量(ΔT)は、乾燥フィルタ34の目詰まり具合によって変動する。
詳しくは、乾燥フィルタ34が目詰まりするに従って、乾燥ブロワ19からの気流の量が低下する。すると、乾燥ブロワ19からの気流が乾燥ヒータ21によって過熱され、乾燥ホッパ13に供給される気流の温度が上昇する。
その結果、乾燥フィルタ34が目詰まりするに従って、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の上昇量(ΔT)が増加する。
そして、制御部3は、第1の目詰まり検知において、図2に示すように、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の上昇量(ΔT)の変動を利用して、乾燥フィルタ34の目詰まりを検知する。
詳しくは、制御部3のROM52には、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の上昇量(ΔT)に関し、第1の閾値ΔT1(所定温度に対する変動量の一例)、第2の閾値ΔT2(所定温度に対する変動量の一例)、および、第3の閾値ΔT3(所定温度に対する変動量の一例)が記憶されている(なお、第1の閾値ΔT1<第2の閾値ΔT2<第3の閾値ΔT3である。)
そして、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の上昇量(ΔT)が、第1の閾値ΔT1(例えば、40℃/分)以下である場合(S1:YES、S2:YES、S3:YES)には、CPU51は、乾燥フィルタ34が正常状態(乾燥装置1を正常に運転できる状態)であると判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の立ち上げ動作を続行する。
また、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の上昇量(ΔT)が、第1の閾値ΔT1を超過し、第2の閾値ΔT2(例えば、45℃/分)以下である場合(S1:YES、S2:YES、S3:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がわずかに目詰まりしていると判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の掃除時期が近づいている旨(フィルタ掃除予告)、表示し(S4)、その後、乾燥装置1の立ち上げ動作を続行する。
また、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の上昇量(ΔT)が、第2の閾値ΔT2を超過し、第3の閾値ΔT3(例えば、50℃/分)以下である場合(S1:YES、S2:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がさらに目詰まりしたと判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の掃除を要求する旨(フィルタ掃除要求)、表示し(S5)、その後、乾燥装置1の立ち上げ動作を続行する。
また、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の上昇量(ΔT)が、第3の閾値ΔT3を超過している場合(S1:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がより一層目詰まりしたと判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の目詰まりが深刻である旨(フィルタ目詰まり検知)、表示し(S6)、その後、乾燥装置1の立ち上げ動作を続行する。
そして、図3に示すように、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度が乾燥設定温度Tになると(S7:YES)、乾燥装置1の立ち上げ動作が終了し、乾燥装置1の動作が定常の乾燥運転に移行する。
定常の乾燥運転では、制御部3は、乾燥設定温度Tを保持するように、インバータ回路36を制御する(定温制御、S8)。すなわち、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)は、乾燥設定温度Tを保持するように一定の範囲で変動される。
そして、定常の乾燥運転では、第2の目詰まり検知が実施される。
ここで、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数は(f)は、乾燥フィルタ34の目詰まり具合によって変動する。
詳しくは、上記したように、乾燥フィルタ34が目詰まりするに従って、乾燥ブロワ19からの気流の量が低下し、乾燥ブロワ19からの気流が乾燥ヒータ21によって過熱されて、乾燥ホッパ13に供給される気流の温度が上昇する。
すると、制御部3は、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)を増大させるようにインバータ回路36を制御して、乾燥ブロワ19からの気流の量を増加させる。
つまり、制御部3は、乾燥フィルタ34が目詰まりするに従って、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)を増大させる。
そして、第2の目詰まり検知では、図3に示すように、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)の変動を利用して、乾燥フィルタ34の目詰まりを検知する。
詳しくは、制御部3のROM52には、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)に関し、第1の周波数f1(所定動作量の一例)、および、第2の周波数f2(所定動作量の一例)が記憶されている(なお、第1の周波数f1<第2の周波数f2である。)
そして、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)が、第1の周波数f1(例えば、43Hz)以下である場合(S11:YES、S12:YES)には、CPU51は、乾燥フィルタ34が正常状態(乾燥装置1を正常に運転できる状態)であると判断し、引き続き、定温制御を続行する。
また、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)が、第1の周波数f1を超過し、第2の周波数f2(例えば、48Hz)以下である場合(S11:YES、S12:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がわずかに目詰まりしていると判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の掃除時期が近づいている旨(フィルタ掃除予告)、表示し(S13)、その後、乾燥装置1の運転を続行する。
また、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)が、第2の周波数f2を超過する場合(S11:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がさらに目詰まりしたと判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の掃除を要求する旨(フィルタ掃除要求)、表示し(S14)、その後、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度を確認する(S7)。
そして、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度が乾燥設定温度T以上である場合(S7:YES)には、定温制御を続行する(S8)。
一方、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度が、設定時間(例えば、5分)以上の間、乾燥設定温度T未満である場合(S7:NO)には、乾燥装置1がONされてから所定の時間が経過したこと(S9:YES)を条件として、CPU51は、乾燥フィルタ34がより一層目詰まりしたと判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の目詰まりが深刻である旨(フィルタ目詰まり警報)、表示し(S10)、その後、定温制御を解除した状態で、乾燥装置1の運転を続行する。
そして、乾燥装置1での乾燥作業が終了し、乾燥装置1を停止させるときには、第3の目詰まり検知が実施される。
乾燥装置1を停止させるときには、制御部3は、乾燥ヒータ21をOFFするとともに、インバータ回路36を制御して、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数を、例えば、60Hzに調節する。
そして、制御部3は、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数を一定(すなわち、60Hz)に保持して、乾燥ホッパ13内の温度を、例えば、70℃まで低下させる。
ここで、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の単位時間(例えば、1分間)あたりの下降量(Δt)は、乾燥フィルタ34の目詰まり具合によって変動する。
詳しくは、乾燥フィルタ34が目詰まりするに従って、乾燥ホッパ13から乾燥ブロワ19へ向かう気流の量が低下する。
その結果、乾燥フィルタ34が目詰まりするに従って、乾燥ヒータ21の冷却効率が低下し、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の下降量(Δt)が低下する。
そして、制御部3は、第3の目詰まり検知において、図4に示すように、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の下降量(Δt)の変動を利用して、乾燥フィルタ34の目詰まり検知を実行する。
詳しくは、制御部3のROM52には、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の下降量(Δt)に関し、第1の閾値Δt1(所定温度に対する変動量の一例)、第2の閾値Δt2(所定温度に対する変動量の一例)、および、第3の閾値Δt3(所定温度に対する変動量の一例)が記憶されている(なお、第1の閾値Δt1>第2の閾値Δt2>第3の閾値Δt3である。)
詳しくは、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の下降量(Δt)が、第1の閾値Δt1(例えば、10℃/分)以上である場合(S15:YES、S16:YES、S17:YES)には、CPU51は、乾燥フィルタ34が正常状態(乾燥装置1を正常に運転できる状態)であると判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の停止動作を続行する。
また、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の下降量(Δt)が、第1の閾値Δt1未満、第2の閾値ΔT2(例えば、7℃/分)以上である場合(S15:YES、S16:YES、S17:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がわずかに目詰まりしていると判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の掃除時期が近づいている旨(フィルタ掃除予告)、表示し(S18)、その後、乾燥装置1の停止動作を続行する。
また、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の下降量(Δt)が、第2の閾値Δt2未満、第3の閾値Δt3(例えば、5℃/分)以上である場合(S15:YES、S16:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がさらに目詰まりしたと判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の掃除を要求する旨(フィルタ掃除要求)、表示し(S19)、その後、乾燥装置1の停止動作を続行する。
また、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の下降量(Δt)が、第3の閾値Δt3未満である場合(S15:NO)には、CPU51は、乾燥フィルタ34がより一層目詰まりしたと判断する。
すると、制御部3は、乾燥装置1の図示しない操作パネルに、乾燥フィルタ34の目詰まりが深刻である旨(フィルタ目詰まり警報)、表示し(S20)、その後、乾燥装置1の停止動作を続行する。
その後、制御部3は、乾燥ホッパ13内の温度が所定の温度まで低下したことを確認し、乾燥装置1を停止させる。
この乾燥装置1、および、フィルタ部材の目詰まり検知システムによれば、図3に示すように、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度を一定にするように、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)を調節した場合に、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)の変動に基づいて、乾燥フィルタ34が目詰まりしていると判断することができる。
そのため、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度が所定の範囲内に調節されている場合に、乾燥フィルタ34の形態や構造などに応じて特定の目詰まり検知装置を設けることなく、簡易な構成で、乾燥フィルタ34の目詰まりを検知することができる。
また、この乾燥装置1、および、フィルタ部材の目詰まり検知システムによれば、図1に示すように、乾燥ブロワ19によって発生される気流の温度を、乾燥ヒータ21で、確実に、所定の範囲内に調節することができる。
また、この乾燥装置1、および、フィルタ部材の目詰まり検知システムによれば、乾燥ブロワ19のインバータ回路36は、乾燥ホッパ13からの排気温度を基準として、乾燥ブロワ19に供給する交流電流の周波数(f)を調節する。
そのため、乾燥ホッパ13の状態を、乾燥ブロワ19からの気流によって一定に保つことができながら、乾燥フィルタ34の目詰まりも検知することができる。
また、この乾燥装置1、および、フィルタ部材の目詰まり検知システムによれば、図2に示すように、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)を一定(例えば、60Hz)に調節した場合に、乾燥側排気温度センサ14で測定される温度の変動に基づいて、乾燥フィルタ34が目詰まりしていると判断することができる。
そのため、乾燥ブロワ19に供給される交流電力の周波数(f)が一定である場合に、乾燥フィルタ34の形態や構造などに応じて特定の目詰まり検知装置を設けることなく、簡易な構成で、乾燥フィルタ34の目詰まりを検知することができる。
なお、上記した実施形態では、乾燥フィルタ34の目詰まりを検知したが、同様に、再生フィルタ38(フィルタ部材の一例)の目詰まりを検知することもできる。
この場合、再生フィルタ38は、再生ブロワ29(気流発生手段の一例)、再生ブロワ29のインバータ回路37(動作量調節手段の一例)、再生ヒータ30(温度調節手段の一例)、再生側加熱温度センサ35(第2温度センサの一例)、吸着部材25(被作用部材の一例)、再生側排気温度センサ32(第1温度センサの一例)およびCPU51とともに、再生フィルタ38の目詰まり検知システムを構成する。
また、上記した実施形態では、乾燥装置1を立ち上げるとき(第1の目詰まり検知)、および、乾燥装置1を停止させるとき(第3の目詰まり検知)において、乾燥側加熱温度センサ10で測定される温度の変動に基づいて乾燥フィルタ34の目詰まりを検知し、乾燥途中(第2の目詰まり検知)において、乾燥ブロワ19に供給する交流電流の周波数(f)の変動に基づいて乾燥フィルタ34の目詰まりを検知している。
これら第1の目詰まり検知、第2の目詰まり検知および第3の目詰まり検知は、上記した実施形態のように、全てを実行してもよく、そのうちのいずれかを選択的に実行してもよい。
また、上記した実施形態では、乾燥装置1に挙げて、フィルタ部材の目詰まり検知システムを説明したが、特に限定されず、例えば、所定温度に調整された気流を発生させる装置(例えば、クーラーなど)のフィルタ部材に適用することができる。
1 乾燥装置
10 乾燥側加熱温度センサ(第2温度センサの一例)
13 乾燥ホッパ(被作用部材の一例)
14 乾燥側排気温度センサ(第1温度センサの一例)
19 乾燥ブロワ(気流発生手段の一例)
21 乾燥ヒータ(温度調節手段の一例)
25 吸着部材(被作用部材の一例)
29 再生ブロワ(気流発生手段の一例)
30 再生ヒータ(温度調節手段の一例)
32 再生側排気温度センサ(第1温度センサの一例)
34 乾燥フィルタ(フィルタ部材の一例)
35 再生側加熱温度センサ(第2温度センサの一例)
36 インバータ回路(動作量調節手段の一例)
37 インバータ回路(動作量調節手段の一例)
38 再生フィルタ(フィルタ部材の一例)
51 CPU(判断手段の一例)

Claims (5)

  1. 一方側から気流を発生させるための媒体を吸引して、他方側へ向かう気流を発生させる気流発生手段と、
    前記気流発生手段の前記一方側に配置され、前記気流発生手段に吸引される前記媒体に含まれる粉塵を除去するとともに、粉塵が除去された前記媒体の通過を許容するフィルタ部材と、
    前記気流発生手段の前記他方側に配置され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を測定する第1温度センサと、
    前記第1温度センサによって測定される温度を一定にするように、前記気流発生手段の動作量を調節する動作量調節手段と
    記気流発生手段の動作量が所定動作量に対して変動したときに、前記フィルタ部材が目詰まりしていると判断する判断手段と
    を備えることを特徴とする、フィルタ部材の目詰まり検知システム。
  2. 前記気流発生手段と前記第1温度センサとの間に介在され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を調節する温度調節手段を、さらに備えることを特徴とする、請求項1に記載のフィルタ部材の目詰まり検知システム。
  3. 前記温度調節手段と前記第1温度センサとの間に介在され、前記気流発生手段によって発生される気流が作用される被作用部材を、さらに備えることを特徴とする、請求項2に記載のフィルタ部材の目詰まり検知システム。
  4. 一方側から気流を発生させるための媒体を吸引して、他方側へ向かう気流を発生させる気流発生手段と、
    前記気流発生手段の前記一方側に配置され、前記気流発生手段に吸引される前記媒体に含まれる粉塵を除去するとともに、粉塵が除去された前記媒体の通過を許容するフィルタ部材と、
    前記気流発生手段の前記他方側に配置され、前記気流発生手段によって発生される気流が作用される被作用部材と、
    前記気流発生手段と前記被作用部材との間に介在され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を調節する温度調節手段と、
    前記温度調節手段と前記被作用部材との間に配置され、前記気流発生手段によって発生される気流の温度を測定する第2温度センサと、
    前記気流発生手段の動作量を一定に調節する動作量調節手段と、
    前記第2温度センサによって測定される温度が所定温度に対して変動したときに、前記フィルタ部材が目詰まりしていると判断する判断手段と
    を備えることを特徴とする、フィルタ部材の目詰まり検知システム。
  5. 請求項1〜4のいずれか一項に記載のフィルタ部材の目詰まり検知システムを備えることを特徴とする、乾燥装置。
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