JP5914786B1 - 絶縁物ターゲット - Google Patents

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Abstract

スパッタリング装置に組み付けて交流電力を投入したときにシールドとターゲットの間の隙間で放電が起こることを防止できる絶縁物ターゲットを提供する。絶縁物ターゲット2のスパッタリング装置SMへの組付時、その周囲にシールド5が配置される本発明のスパッタリング装置用の絶縁物ターゲット2は、シールドで囲まれる板状のターゲット材21と、ターゲット材の一方の面がスパッタリングされるスパッタ面2aとし、ターゲット材の他方の面の外周縁部に接合され、ターゲット材の周面から外方に延出されると共にシールドから所定間隔を存する延出部22aを有する環状の支持材22とを備え、支持材は、絶縁物ターゲットに交流電力を投入してスパッタ面がスパッタリングされるとき、ターゲット材のインピーダンスと同等以上のインピーダンスを持つように構成される。

Description

本発明は、スパッタリング装置用の絶縁物ターゲットに関する。
酸化アルミニウム膜や酸化マグネシウム膜等の絶縁膜は、例えば、MRAM(磁気抵抗メモリ)のトンネル障壁として用いられ、絶縁膜を量産性よく成膜するためにスパッタリング(以下「スパッタ」という)装置が用いられている。このものでは、基板と絶縁物ターゲット(以下「ターゲット」ともいう)とが対向配置された真空チャンバ内にスパッタガスを導入し、これと併せてターゲットに交流電力を投入して基板とターゲットとの間の空間にプラズマを形成してターゲットのスパッタ面をスパッタし、飛散したスパッタ粒子を基板に付着、堆積させて絶縁膜を成膜している。
ここで、ターゲット側面にプラズマが回り込んでターゲット以外の部品(例えば、バッキングプレート)がスパッタされることを防止するために、ターゲットのスパッタリング装置への組付時、ターゲットの周囲にシールドが配置されるものが例えば、特許文献1で知られている。このものでは、ターゲットの外周部を薄肉化し、薄肉化した外周部に所定間隔を存してシールドを配置している。
然し、上記従来例の如く外周部を薄肉化したターゲットに交流電力を投入すると、ターゲットとシールドとの間の隙間で放電が起こることが判明した。これは、スパッタ中、絶縁物ターゲット全体が同電位とならず、ターゲット中央部に比べて薄厚のターゲット外周部のインピーダンスが低くなることに起因するものと考えられる。
特開2001−64773号公報
本発明は、上記点に鑑み、スパッタリング装置に組み付けて交流電力を投入したときにシールドとターゲットの間の隙間で放電が起こることを防止できる絶縁物ターゲットを提供することをその課題とするものである。
上記課題を解決するために、絶縁物ターゲットのスパッタリング装置への組付時、その周囲にシールドが配置される本発明のスパッタリング装置用の絶縁物ターゲットは、シールドで囲まれる板状のターゲット材と、ターゲット材の一方の面がスパッタリングされるスパッタ面とし、ターゲット材の他方の面の外周縁部に接合され、ターゲット材の周面から外方に延出されると共にシールドから所定間隔を存する延出部を有する環状の支持材とを備え、支持材は、絶縁物ターゲットに交流電力を投入してスパッタ面がスパッタリングされるとき、ターゲット材のインピーダンスと同等以上のインピーダンスを持つように構成されることを特徴とする。尚、本発明においては、別個に形成したターゲット材と支持材とが接合されるものだけでなく、ターゲット材と支持材とが一体に形成されるものを含むものとする。
本発明によれば、従来例のようにターゲットの外周部を薄肉化してシールドを配置するのではなく、ターゲットをターゲット材と環状の支持材とで構成し、支持材の延出部から所定間隔を存してシールドを配置してターゲット材のスパッタ面をスパッタするとき、支持材がターゲット材のインピーダンスと同等以上のインピーダンスを持つように構成した。このため、ターゲットとシールドとの間での放電の発生を防止することができ、ターゲット以外の部品がスパッタされることを防止できる。
本発明において、ターゲット材と支持材とを同一材料で形成し、支持材を、ターゲット材の板厚と同等以上の肉厚を有するように構成すれば、スパッタ時に支持材のインピーダンスをターゲット材のインピーダンスと同等以上にすることできる。
本発明において、ターゲット材と支持材とを異なる材料で形成してもよい。この場合、支持材をターゲット材よりも誘電率の低い材料で形成すれば、支持材をターゲット材の板厚よりも薄く形成できるため、絶縁物ターゲットを加工性よく作製することができる。しかも、ターゲット材と支持材とを同一材料で形成した場合に比べて、絶縁物ターゲットの製造コストを安くできる。
本発明の実施形態の絶縁物ターゲットを組み付けたスパッタリング装置を示す模式的断面図。 絶縁物ターゲットを拡大して示す断面図。 (a)及び(b)は、絶縁物ターゲットの他の形態を夫々示す断面図。
以下、図面を参照して、スパッタ装置に組み付けられるものを例に、本発明の実施形態の絶縁物ターゲットについて説明する。尚、各図において共通する要素には、同一の符号を付して重複する説明を省略する。
図1を参照して、SMは、マグネトロン方式のスパッタ装置であり、このスパッタ装置SMは、真空処理室1aを画成する真空チャンバ1を備える。真空チャンバ1の天井部にはカソードユニットCが取付けられている。以下においては、図1中、真空チャンバ1の天井部側を向く方向を「上」とし、その底部側を向く方向を「下」として説明する。カソードユニットCは、絶縁物ターゲット2と、絶縁物ターゲット2上に設けられたバッキングプレート3と、バッキングプレート3上方に設けられた磁石ユニット4とから構成されている。
図2も参照して、絶縁物ターゲット2は、基板Wの輪郭に応じて、公知の方法で平面視円形の板状に形成された絶縁物製のターゲット材21と、このターゲット材21の下面をスパッタ面2aとし、このスパッタ面2aと反対側の上面の外周縁部に接合される環状の支持材22とを備える。ターゲット材21及び支持材22とは同一材料で一体に形成され、支持材22を、ターゲット材21の板厚Tと同等以上の肉厚T,Tを有するように構成している。この場合、板厚T1は、1〜15mmの範囲内に設定でき、支持材22のスパッタ面2aと直交方向に延びる部分の肉厚T2や後述する延出部22aの肉厚T3は、2〜20mmの範囲内に設定できる。支持材22は、ターゲット材21の周面から外方に延出される延出部22aを有し、この延出部22aから所定間隔(例えば、0.5〜5mm)を存して金属製のシールド5が配置され、スパッタ面2a以外がスパッタされないようにしている。シールド5は、接地されていてもフローティングされていてもよく、公知の構造を有するものを用いることができるため、ここでは詳細な説明を省略する。また、ターゲット材21のスパッタ面2aと、シールド5の下面とを面一にすることで、シールド5に成膜され難くしている。
ターゲット2の上面(スパッタ面2aと背向する面)にはバッキングプレート3が接合され、スパッタによる成膜中、ターゲット2を冷却できるようになっている。バッキングプレート3上面の周縁部が、絶縁体Iを介して真空チャンバ1の上壁内面に取り付けられている。ターゲット2には高周波電源等の交流電源Eからの出力が接続され、成膜時、ターゲット2に交流電力が投入されるようにしている。磁石ユニット4は、ターゲット2のスパッタ面2aの下方空間に磁場を発生させ、スパッタ時にスパッタ面2aの下方で電離した電子等を捕捉してターゲット2から飛散したスパッタ粒子を効率よくイオン化する公知の構造を有するものであり、ここでは詳細な説明を省略する。
真空チャンバ1の底部には、ターゲット2のスパッタ面2aに対向させてステージ6が配置され、基板Wがその成膜面を上側にして位置決め保持されるようにしている。この場合、ターゲット2と基板Wとの間の間隔は、生産性や散乱回数等を考慮して45〜100mmの範囲に設定される。また、真空チャンバ1の側壁には、アルゴン等の希ガスたるスパッタガスを導入するガス管7が接続され、ガス管7にはマスフローコントローラ71が介設され、図示省略のガス源に連通している。これにより、流量制御されたスパッタガスが、後述する真空排気手段Pにより一定の排気速度で真空引きされている真空処理室1a内に導入でき、成膜中、真空処理室1aの圧力(全圧)が略一定に保持されるようにしている。真空チャンバ1の底部には、ターボ分子ポンプやロータリーポンプなどからなる真空排気手段Pに通じる排気管8が接続されている。上記スパッタリング装置SMは、特に図示しないが、マイクロコンピュータやシーケンサ等を備えた公知の制御手段を有し、制御手段により電源Eの稼働、マスフローコントローラ71の稼働や真空排気手段Pの稼働等を統括管理するようになっている。以下に、絶縁物ターゲット2は酸化マグネシウムターゲットとし、このターゲット2を組み付けたスパッタリング装置SMを用いて基板W表面に酸化マグネシウム膜を成膜する方法について説明する。
先ず、ターゲット2が組み付けられた真空チャンバ1内のステージ6に基板Wをセットした後、真空排気手段Pを作動させて真空処理室1a内を所定の真空度(例えば、1×10−5Pa)まで真空引きする。真空処理室1a内が所定圧力に達すると、マスフローコントローラ71を制御してアルゴンガスを所定の流量で導入する(このとき、真空処理室1aの圧力が0.01〜30Paの範囲となる)。これと併せて、スパッタ電源Eからターゲット2に負の電位を持つ交流電力を投入して真空チャンバ1内にプラズマを形成する。これにより、ターゲット材21のスパッタ面2aをスパッタし、飛散したスパッタ粒子を基板W表面に付着、堆積させることにより酸化マグネシウム膜が成膜される。
ここで、本実施形態によれば、ターゲット2を同一材料のターゲット材21と支持材22とで構成し、支持材22の延出部22aから所定間隔を存してシールド5を配置し、支持材22を、ターゲット材21の板厚Tと同等以上の肉厚T,Tを有するように構成したため、上記従来例の如くターゲット外周部を薄肉化したものとは異なり、絶縁物ターゲット2に交流電力を投入してスパッタ面2aがスパッタリングされるとき、支持材22がターゲット材21のインピーダンスと同等以上のインピーダンスを持つこととなる。これによれば、ターゲット2とシールド5との間での放電の発生を防止でき、つまり、ターゲット2側面にプラズマが回り込むことを防止でき、ターゲット以外の部品がスパッタされることを防止できる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記に限定されるものではない。上記実施形態においては、ターゲット材21と支持材22とを一体に形成しているが、両材を別個に形成して接合してもよく、この場合、ターゲット2の加工性を向上できる。さらに、図3(a)に示すように、ターゲット材21と支持材22とを異なる材料で形成してもよい。この場合、支持材22をターゲット材21よりも誘電率の低い材料(例えば、石英やガラスエポキシ等)で形成すれば、支持材22の肉厚T,Tをターゲット材21の板厚Tよりも薄く形成することも可能となり、加工性をより一層向上できてよい。しかも、支持材22がスパッタされないため、コンタミネーションが生じることもない。また、支持材の形状は特に限定されず、図3(b)に示すように、支持材23の延出部23a以外の部分、即ち、ターゲット材21に接続される部分をテーパー状に形成してもよい。尚、ターゲット材21の材質として酸化マグネシウムを例に説明したが、これに限らず、酸化アルミニウム等の他の絶縁物を成膜する膜に応じて適宜選択できる。
次に、上記効果を確認するために、上記スパッタリング装置SMを用いて次の実験を行った。本実験では、基板Wとしてφ300mmのSi基板を用い、酸化マグネシウムターゲット2が組み付けられた真空チャンバ1内のステージ6に基板Wをセットした後、基板W表面に酸化マグネシウム膜をスパッタリング法により成膜した。この場合の条件は以下の通りである。即ち、ターゲット材21の板厚Tを3mm、支持材22の肉厚Tを4mm、肉厚Tを4mmとし、アルゴンガスの流量を20sccm(このときの真空処理室1a内の圧力は約0.4Pa)、ターゲット2への投入電力を13.56MHz、0.5kWに設定した。このような成膜後のパーティクル数を測定した結果を表1に本発明として示す。これによれば、サイズ0.09μm以下のパーティクル数が10個以下と安定しており、これより、ターゲット2とシールド5との間で放電が起こることを防止でき、ターゲット以外の部品がスパッタされていないことが判った。
Figure 0005914786
それに対して、上記従来例の如くターゲット外周部が薄肉化されたターゲットを用いた点以外は、上記と同様の条件でスパッタして成膜した。この場合も同様にパーティクル数を測定した結果を表1に併せて従来例として示す。これによれば、パーティクル数は100個以上(200個〜600個)と多く、ターゲットとシールドとの間で放電が起こることが確認された。
尚、基板Wのサイズは上記φ300mmに限定されず、例えば、φ150mm〜300mmの基板を用いることができる。また、ターゲット径も特に限定されず、成膜特性や生産効率を考慮して適宜設定でき、例えば、φ120〜400mmの範囲内で設定できる。
SM…スパッタリング装置、2…絶縁物ターゲット、2a…スパッタ面、21…ターゲット材、22…支持材、22a…延出部、5…シールド、T…ターゲット材の板厚、T,T…支持材の肉厚。

Claims (3)

  1. スパッタリング装置用の絶縁物ターゲットであって、この絶縁物ターゲットのスパッタリング装置への組付時、その周囲にシールドが配置されるものにおいて、
    絶縁物ターゲットは、シールドで囲まれる板状のターゲット材と、ターゲット材の一方の面がスパッタリングされるスパッタ面とし、ターゲット材の他方の面の外周縁部に接合され、ターゲット材の周面から外方に延出されると共にシールドから所定間隔を存する延出部を有する環状の支持材とを備え、
    支持材は、絶縁物ターゲットに交流電力を投入してスパッタ面がスパッタリングされるとき、ターゲット材のインピーダンスと同等以上のインピーダンスを持つように構成されることを特徴とする絶縁物製スパッタリングターゲット。
  2. ターゲット材と支持材とが同一材料で形成され、支持材は、ターゲット材の板厚と同等以上の肉厚を有することを特徴とする請求項1記載の絶縁物製スパッタリングターゲット。
  3. ターゲット材と支持材とが異なる材料で形成されていることを特徴とする請求項1記載の絶縁物製スパッタリングターゲット。
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