JP5901368B2 - 顕微鏡システム - Google Patents
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Description
本発明は、光源から発せられ標本に照射される励起光および/または該励起光が照射されることにより前記標本において発生する蛍光を透過または反射する光学素子と、該光学素子により透過または反射された前記蛍光を検出する検出部と、前記光学素子の透過波長および/または反射波長を示す波長特性、前記励起光の波長特性、および、前記検出部が検出する蛍光の波長範囲をデータとして記憶する記憶部と、該記憶部に記憶されている前記データに基づいて、前記光学素子における前記励起光および/または前記蛍光の透過率および/または反射率を算出する演算部と、該演算部により算出された前記光学素子における前記励起光および/または前記蛍光の透過率を示す透過情報または反射率を示す反射情報を前記光学素子と対応づけて表示する表示部とを備え、該表示部が、前記光源から前記標本、該標本から前記検出部に至る光路図を表示し、その光路図上の各光学素子の位置に、該光学素子の前記透過情報または反射情報を表示する顕微鏡システムを提供する。
このように構成することで、標本において実際に発生する蛍光の波長特性が分かるので、蛍光が透過または反射する光学素子の高精度な透過情報または反射情報を得ることができる。
このように構成することで、標本において実際に発生する蛍光の波長特性が分からなくても、想定される蛍光の波長特性に対応する波長特性を有する検出部を用いることで、検出部により検出可能な波長帯域の範囲で、蛍光が透過または反射する光学素子の透過情報または反射情報を得ることができる。
本実施形態に係る顕微鏡システム100は、図1に示すように、レーザ光(励起光)を発するレーザ光源(光源)1と、レーザ光源1から発せられたレーザ光を2次元的に走査しながら標本Aに照射し、標本Aにおいて発生する蛍光を検出する顕微鏡システム本体部10と、ユーザが種々の撮影条件を入力する入力部3と、各種データを記憶するメモリ(記憶部)5と、顕微鏡システム本体部10の光路図30を表示する表示部7と、入力部3に入力された撮影条件に基づいて、レーザ光源1、顕微鏡システム本体部10、メモリ5、表示部7を制御する制御部(演算部)9とを備えている。
顕微鏡システム本体部10は、標本Aを載置するステージ11と、レーザ光源1からのレーザ光および標本Aからの蛍光を透過または反射する励起ダイクロイックミラー(以下、「励起DM」という。光学素子)13と、励起DM13により反射されたレーザ光および標本Aからの蛍光を反射する反射ミラー15と、反射ミラー15により反射されたレーザ光を標本Aに照射する対物レンズ17とを備えている。
検出器23は、例えば、光電子増倍管(PMT)である。
なお、反射ミラー15は固定されて切り替えられないものである上に、レーザ光および蛍光の反射率が波長によらずほぼ一定であるとすることができるので、本実施形態では反射ミラー15の反射率を考慮しないこととする。
本実施形態に係る顕微鏡システム100を用いて標本Aを蛍光観察するには、ユーザは、レーザ光の波長、標本Aに使用している蛍光試薬の蛍光波長特性、光学素子13,19,21の透過波長および反射波長を示す波長特性を入力部3に入力し、メモリ5にデータとして記憶させる。
なお、反射ミラー15の位置にもレーザ光の反射率が100%で蛍光の反射率が100%であると表示され、検出器23の位置には蛍光の到達率が100%であると表示される。
第1実施例は、ユーザが、例えば、400nm以下の波長を反射する波長特性の励起DM13を選択したとする。制御部9により、自動選択された励起DM13に代えて、ユーザが選択した励起DM13(反射波長帯域400nm以下)が光路上に配置される。
なお、レーザ光は励起DM13までしか到達しないため、反射ミラー15の位置にはレーザ光の反射率が0%であると表示される。
また、第4実施例においては、測光DM19により反射された蛍光の蛍光波長帯域(530−550nm)に対するバリアフィルタ21の透過波長帯域(540〜550nm)の比により、バリアフィルタ21における蛍光の透過率は50%となる。そして、測光DM19における反射率57%とバリアフィルタ21における透過率50%により、検出器23への蛍光の到達率は28%(0.57×0.50=0.28)となる。
5 メモリ(記憶部)
7 表示部
9 制御部(演算部)
13 励起DM(励起ダイクロイックミラー:光学素子)
19 測光DM(測光ダイクロイックミラー:光学素子)
21 バリアフィルタ(光学素子、フィルタ部材)
23 検出器(検出部)
30 光路図
100 顕微鏡システム
A 標本
Claims (4)
- 光源から発せられ標本に照射される励起光および/または該励起光が照射されることにより前記標本において発生する蛍光を透過または反射する光学素子と、
該光学素子により透過または反射された前記蛍光を検出する検出部と、
前記光学素子の透過波長および/または反射波長を示す波長特性、前記励起光の波長特性、および、前記検出部が検出する蛍光の波長範囲をデータとして記憶する記憶部と、
該記憶部に記憶されている前記データに基づいて、前記光学素子における前記励起光および/または前記蛍光の透過率および/または反射率を算出する演算部と、
該演算部により算出された前記光学素子における前記励起光および/または前記蛍光の透過率を示す透過情報または反射率を示す反射情報を前記光学素子と対応づけて表示する表示部とを備え、
該表示部が、前記光源から前記標本、該標本から前記検出部に至る光路図を表示し、その光路図上の各光学素子の位置に、該光学素子の前記透過情報または反射情報を表示する顕微鏡システム。 - 前記検出部が検出する蛍光の波長範囲として、前記標本を標識する蛍光試薬の蛍光特性を用いる請求項1に記載の顕微鏡システム。
- 前記検出部が検出する蛍光の波長範囲として、前記検出部により検出可能な波長帯域を示す波長特性を用いる請求項1に記載の顕微鏡システム。
- 前記検出器の直前に配置され、該検出器に入射される蛍光を透過させ励起光を遮断するフィルタ部材を備え、
前記検出部が検出する蛍光の波長範囲として、前記フィルタ部材の蛍光を透過可能な波長帯域を示す波長特性を用いる請求項1に記載の顕微鏡システム。
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