JP5847530B2 - Socket for electrical parts - Google Patents

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Description

この発明は、配線基板上に配設され、半導体装置(以下「ICパッケージ」という)等の電気部品の試験等を行うため、この電気部品を収容する電気部品用ソケットに関するものである。   The present invention relates to a socket for an electric component that is disposed on a wiring board and accommodates the electric component in order to test an electric component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as “IC package”).

従来からこの種の「電気部品用ソケット」としては、例えば「電気部品」としてのICパッケージを着脱自在に収容するICソケットがある。   Conventionally, as this type of “electrical component socket”, for example, there is an IC socket that detachably accommodates an IC package as an “electrical component”.

このICソケットは、配線基板上に配設され、ICパッケージが収容される樹脂製のソケット本体を有し、このソケット本体には、複数のコンタクトピンを挿入する複数の円形断面の挿入孔が形成されている。   This IC socket has a resin socket body that is disposed on a wiring board and accommodates an IC package. The socket body has a plurality of circular cross-section insertion holes into which a plurality of contact pins are inserted. Has been.

そして、このコンタクトピンとしては、上端部がICパッケージの球状端子に圧接されるとともに、下端部が配線基板の金属製の円盤状のコンタクトパッドに圧接されることにより、これらの球状端子及びコンタクトパッドを電気的に接続する、いわゆる表面圧接型のコンタクトピンが広く用いられている(例えば、特許文献1参照)。   And as this contact pin, while an upper end part is press-contacted to the spherical terminal of IC package, and a lower end part is press-contacted to the metal disk-shaped contact pad of a wiring board, these spherical terminal and contact pad A so-called surface pressure contact type contact pin that electrically connects the two is widely used (see, for example, Patent Document 1).

特開2005−241426号公報JP 2005-241426 A

しかしながら、このような従来のものにあっては、挿入孔の孔径がコンタクトパッドの直径にほぼ一致するように設計されているものの、実際には、公差などの影響により、ソケット本体の挿入孔の周縁部がコンタクトパッドと平面視で部分的に重なる場合が生じる。例えば、挿入孔の孔径がコンタクトパッドの直径より僅かでも小さいと、ソケット本体の挿入孔の周縁部がコンタクトパッドと平面視で円環状に重なる。また、挿入孔の孔径がコンタクトパッドの直径以上であっても、コンタクトパッドに対して挿入孔が僅かでも横ずれが生じれば、ソケット本体の挿入孔の周縁部がコンタクトパッドと平面視で三日月状に重なる恐れがある。   However, in such a conventional device, although the hole diameter of the insertion hole is designed to substantially match the diameter of the contact pad, in practice, due to the influence of tolerance, the insertion hole of the socket body is In some cases, the peripheral edge partly overlaps the contact pad in plan view. For example, when the hole diameter of the insertion hole is slightly smaller than the diameter of the contact pad, the peripheral edge portion of the insertion hole of the socket body overlaps with the contact pad in an annular shape in plan view. In addition, even if the hole diameter of the insertion hole is equal to or larger than the diameter of the contact pad, if the insertion hole slightly deviates from the contact pad, the periphery of the insertion hole of the socket body is in a crescent shape in plan view with the contact pad There is a risk of overlapping.

このような場合、コンタクトピンの上下両端部を球状端子及びコンタクトパッドに圧接する際に、プッシャーでソケット本体を配線基板側へ押し付けるものにおいては、その荷重が大きいと、樹脂製のソケット本体の挿入孔が金属製のコンタクトパッドに接触して押し潰される。特に、コンタクトピンの本数が少ない場合、単位面積あたりの力、つまり圧力が増すため、挿入孔が潰れやすくなる。その結果、挿入孔の周囲にバリが発生し、このバリにコンタクトピンが引っ掛かってピンスタックが生じる恐れがある。   In such a case, when the upper and lower ends of the contact pin are pressed against the spherical terminal and the contact pad, when the socket body is pressed against the wiring board side with a pusher, if the load is large, the resin socket body is inserted. The holes are crushed in contact with the metal contact pads. In particular, when the number of contact pins is small, the force per unit area, that is, the pressure increases, so that the insertion hole is easily crushed. As a result, a burr is generated around the insertion hole, and a contact pin may be caught on the burr to cause a pin stack.

そこで、この発明は、ソケット本体の挿入孔の周縁部がコンタクトパッドと平面視で部分的に重なる場合であっても、挿入孔がコンタクトパッドに接触して押し潰される事態を回避し、ピンスタックの発生を未然に防止することが可能な電気部品用ソケットを提供することを課題としている。   Therefore, the present invention avoids a situation in which the insertion hole contacts the contact pad and is crushed even when the peripheral edge of the insertion hole of the socket body partially overlaps the contact pad in plan view. It is an object of the present invention to provide a socket for an electrical component that can prevent the occurrence of this.

かかる課題を達成するために、この発明は、上向きに突出したコンタクトパッドを有する配線基板上に配設され、電気部品が収容されるソケット本体と、該ソケット本体に設けられ、前記電気部品の端子に上端部が圧接されるとともに、前記配線基板の前記コンタクトパッドに下端部が圧接されることにより、当該端子及び当該コンタクトパッドを電気的に接続する複数のコンタクトピンとを有する電気部品用ソケットであって、前記ソケット本体には、前記複数のコンタクトピンが挿入され、前記配線基板の前記コンタクトパッドに圧接されて上昇することにより、当該コンタクトピンを収納可能とする複数の挿入孔が形成され、前記ソケット本体の下面には、前記複数の挿入孔が形成された挿入孔形成領域のうち前記複数のコンタクトピンが挿入された所定のピン配設領域において、上方へ凹む凹部を前記複数の挿入孔に跨って形成し、前記ソケット本体が前記配線基板上に配設されることにより、前記複数のコンタクトピンが前記配線基板の前記コンタクトパッドに押し上げられて上昇した状態で、前記凹部の上面と前記コンタクトパッドの上面との間に上下方向の隙間が生じるように構成した電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention provides a socket body disposed on a wiring board having a contact pad protruding upward, and an electrical component is accommodated therein, and a terminal of the electrical component provided in the socket body. with the upper end portion is pressed against the, by the lower end portion is pressed against the contact pads of the wiring substrate, a electrical component socket having a plurality of contact pins for electrically connecting the terminals and the contact pads In the socket body, the plurality of contact pins are inserted, and a plurality of insertion holes for accommodating the contact pins are formed by being pressed against and raised by the contact pads of the wiring board. The plurality of contact pins in the insertion hole forming region in which the plurality of insertion holes are formed on the lower surface of the socket body. In There predetermined pin arrangement region inserted, is formed across the recess which is recessed upwardly in said plurality of insertion holes, by which the socket body is arranged on the wiring board, the plurality of contact pins The electrical component socket is configured such that a vertical gap is formed between the upper surface of the recess and the upper surface of the contact pad in a state where the contact pad of the wiring board is pushed up and raised. To do.

他の特徴は、前記挿入孔が円形断面であるとともに、前記コンタクトパッドが円盤状であり、前記挿入孔の孔径が前記コンタクトパッドの直径より小さいことにある。   Another feature is that the insertion hole has a circular cross section, the contact pad has a disk shape, and the diameter of the insertion hole is smaller than the diameter of the contact pad.

他の特徴は、前記ソケット本体は、前記配線基板上で、前記コンタクトパッドの周囲に設けられたスタンドオフパッドに下面が当接することにより、最下位で位置決めされるように構成されていることにある。   Another feature is that the socket body is configured to be positioned at the lowest position on the wiring board by having a lower surface abutting against a standoff pad provided around the contact pad. is there.

この発明によれば、ソケット本体の下面のピン配設領域に凹部を形成し、凹部の上面とコンタクトパッドの上面との間に上下方向の隙間が生じるように構成したので、挿入孔がコンタクトパッドに接触しなくなる。従って、ソケット本体の挿入孔の周縁部がコンタクトパッドと平面視で部分的に重なる場合であっても、挿入孔がコンタクトパッドに接触して押し潰される事態を回避し、ピンスタックの発生を未然に防止することが可能となる。   According to the present invention, the recess is formed in the pin arrangement region on the lower surface of the socket body, and the vertical gap is formed between the upper surface of the recess and the upper surface of the contact pad. Will not touch. Therefore, even when the peripheral edge portion of the insertion hole of the socket body partially overlaps the contact pad in plan view, the situation where the insertion hole contacts the contact pad and is crushed is avoided, and the occurrence of pin stack is prevented. Can be prevented.

他の特徴によれば、挿入孔の孔径がコンタクトパッドの直径より小さいため、ソケット本体の下面に凹部がなければ確実に挿入孔がコンタクトパッドに接触する場合であっても、上述した効果を奏することができ、この発明の利用価値が増大する。   According to another feature, since the hole diameter of the insertion hole is smaller than the diameter of the contact pad, even if the insertion hole is surely in contact with the contact pad if there is no recess on the lower surface of the socket body, the above-described effects are exhibited. This increases the utility value of the present invention.

他の特徴によれば、ソケット本体が、配線基板上に設けられたスタンドオフパッドに下面が当接することにより、最下位で位置決めされるため、ソケット本体が配線基板側へ押し付けられたときに、挿入孔とコンタクトパッドとの接触を確実に回避することができる。   According to another feature, the socket body is positioned at the lowest position by the lower surface contacting the standoff pad provided on the wiring board, so when the socket body is pressed to the wiring board side, Contact between the insertion hole and the contact pad can be reliably avoided.

この発明の実施の形態に係るICソケットの平面図である。1 is a plan view of an IC socket according to an embodiment of the present invention. 同実施の形態に係るICソケットの正面図である。It is a front view of IC socket concerning the embodiment. 図2に示すICソケットのユニットの挿入孔を示す拡大断面図である。It is an expanded sectional view which shows the insertion hole of the unit of IC socket shown in FIG. 図3に示すICソケットのユニットの挿入孔に形成された凹部を示す拡大断面図である。It is an expanded sectional view which shows the recessed part formed in the insertion hole of the unit of the IC socket shown in FIG. 同実施の形態に係るICソケットのユニットを示す底面図である。It is a bottom view which shows the unit of the IC socket which concerns on the same embodiment. 同実施の形態に係るICソケットに収容されるICパッケージを示す図であって、(a)はその正面図、(b)はその底面図である。It is a figure which shows the IC package accommodated in the IC socket which concerns on the embodiment, Comprising: (a) is the front view, (b) is the bottom view.

以下、この発明の実施の形態について説明する。   Embodiments of the present invention will be described below.

図1乃至図6には、この発明の実施の形態を示す。   1 to 6 show an embodiment of the present invention.

まず、構成を説明すると、図1中符号11は、「電気部品用ソケット」としてのICソケットで、このICソケット11は、図2に示すように、配線基板P上に配設されるようになっており、「電気部品」であるICパッケージ12(図3,図6参照)のバーンイン試験等を行うために、このICパッケージ12の「端子」としての球状端子12aと、その配線基板Pの金属製のコンタクトパッド30(図3,図4参照)との電気的接続を図るものである。   First, the configuration will be described. Reference numeral 11 in FIG. 1 denotes an IC socket as an “electrical component socket”, and the IC socket 11 is arranged on the wiring board P as shown in FIG. In order to perform a burn-in test or the like of the IC package 12 (see FIGS. 3 and 6) which is an “electric part”, a spherical terminal 12a as a “terminal” of the IC package 12 and the wiring board P An electrical connection with the metal contact pad 30 (see FIGS. 3 and 4) is intended.

このICパッケージ12は、ボールグリッドアレイ(BGA)と称されるもので、図6に示すように、平面視で方形状のパッケージ本体12bを有し、このパッケージ本体12bの下面に、複数の球状端子12aが格子状(グリッド状)に配列されて下向きに突出して形成されている。   The IC package 12 is called a ball grid array (BGA) and has a rectangular package body 12b in a plan view as shown in FIG. 6, and a plurality of spherical shapes are formed on the lower surface of the package body 12b. The terminals 12a are arranged in a lattice shape (grid shape) and protrude downward.

また、ICソケット11は、図1,図2に示すように、配線基板P上に固定され、ICパッケージ12が収容される樹脂製のソケット本体14と、このソケット本体14にコイルスプリング13を介して矢印M、N方向に開閉自在に設けられ、ICパッケージ12を押圧するカバー部材15とを有している。   As shown in FIGS. 1 and 2, the IC socket 11 is fixed on the wiring board P, and is made of a resin socket main body 14 in which the IC package 12 is accommodated. A coil spring 13 is interposed in the socket main body 14. And a cover member 15 that presses the IC package 12.

より詳しくは、カバー部材15は、図1,図2に示すように、カバー本体15aと、このカバー本体15aにスプリング15bを介して下方に付勢されたプッシャー15cと、カバー本体15aに回動自在に取り付けられ、カバー部材15を閉状態に保持するためのラッチ15dとを備えている。   More specifically, as shown in FIGS. 1 and 2, the cover member 15 is rotated by the cover body 15a, the pusher 15c urged downward by the cover body 15a via the spring 15b, and the cover body 15a. And a latch 15d for holding the cover member 15 in a closed state.

また、ソケット本体14は、図1〜図4に示すように、枠体23と、この枠体23の中に配設され、複数のコンタクトピン20が配設された樹脂製のユニット21と、このユニット21の上側に上下動自在に配設されてICパッケージ12が収容されるフローティングプレート22と、フローティングプレート22を上方に付勢する図示省略のコイルスプリングとを有している。さらに、ユニット21は、平板状の第1プレート16と、この第1プレート16の上方に配設されて固定された平板状の第2プレート17とを備えている。そして、これらのフローティングプレート22、第1プレート16、第2プレート17にはそれぞれ、複数の円形断面の挿入孔22a、複数の円形断面の段付きの挿入孔16a、複数の円形断面の段付きの挿入孔17aが上下方向(矢印Z方向)に貫通して形成されており、これらの挿入孔22a、16a、17aの一部にはコンタクトピン20が上下方向に挿入されている。なお、第1プレート16の各挿入孔16aは、所定の孔径D1(例えば、D1=0.25〜0.5mm)に形成されている。   1 to 4, the socket body 14 includes a frame body 23, a resin unit 21 disposed in the frame body 23 and provided with a plurality of contact pins 20, The unit 21 includes a floating plate 22 that is disposed on the upper side of the unit 21 so as to be movable up and down and accommodates the IC package 12, and a coil spring (not shown) that biases the floating plate 22 upward. The unit 21 further includes a flat plate-like first plate 16 and a flat plate-like second plate 17 disposed and fixed above the first plate 16. Each of the floating plate 22, the first plate 16, and the second plate 17 includes a plurality of circular cross-section insertion holes 22a, a plurality of circular cross-section stepped insertion holes 16a, and a plurality of circular cross-section steps. An insertion hole 17a is formed penetrating in the vertical direction (arrow Z direction), and a contact pin 20 is inserted in a part of these insertion holes 22a, 16a, 17a in the vertical direction. Each insertion hole 16a of the first plate 16 is formed with a predetermined hole diameter D1 (for example, D1 = 0.25 to 0.5 mm).

このコンタクトピン20は、いわゆる表面圧接型のもので、図3に示すように、導電性の「下端部」としての下側のプランジャ26と、導電性の「上端部」としての上側のプランジャ27と、これらのプランジャ26,27を互いに離間する上下方向へ付勢する導電性のスプリング29とを有している。そして、コンタクトピン20は、下側のプランジャ26の段差部26aが第1プレート16の挿入孔16aの段部16bに係止するとともに、上側のプランジャ27の段差部27aが第2プレート17の挿入孔17aの段部17bに係止することにより、ユニット21に固定された状態となっている。   This contact pin 20 is of a so-called surface pressure contact type, and as shown in FIG. 3, a lower plunger 26 as a conductive “lower end” and an upper plunger 27 as a conductive “upper end”. And a conductive spring 29 that urges the plungers 26 and 27 upward and downward apart from each other. In the contact pin 20, the stepped portion 26 a of the lower plunger 26 is engaged with the stepped portion 16 b of the insertion hole 16 a of the first plate 16, and the stepped portion 27 a of the upper plunger 27 is inserted into the second plate 17. By being locked to the stepped portion 17b of the hole 17a, the unit 21 is fixed.

また、ユニット21の下面には、図3,図4,図5に示すように、複数の挿入孔17aが形成された挿入孔形成領域A1が形成されており、挿入孔形成領域A1は、挿入孔16aにコンタクトピン20が挿入された矩形状のピン配設領域A2と、このピン配設領域A2の周囲に矩形枠状に形成され、挿入孔16aにコンタクトピン20が挿入されていないピン非配設領域A3とから構成されている。そして、ピン配設領域A2においては、図4に示すように、上方へ凹む凹部18が所定の深さD3(例えば、D3=0.05〜0.1mm)で形成されている。   Further, as shown in FIGS. 3, 4 and 5, an insertion hole forming area A1 having a plurality of insertion holes 17a is formed on the lower surface of the unit 21, and the insertion hole forming area A1 is inserted into the insertion hole forming area A1. A rectangular pin arrangement region A2 in which the contact pin 20 is inserted into the hole 16a, and a non-pinned portion in which the contact pin 20 is not inserted into the insertion hole 16a. It is comprised from arrangement | positioning area | region A3. In the pin arrangement region A2, as shown in FIG. 4, a concave portion 18 recessed upward is formed with a predetermined depth D3 (for example, D3 = 0.05 to 0.1 mm).

なお、この凹部18の形成方法については、特に限定されるわけではない。例えば、ユニット21の第1プレート16を射出成形で作製する場合には、成形金型に、凹部18を形成する部分にあらかじめ凸部を設け、この成形金型により射出成形することで、凹部18が設けられた第1プレート16を得ることができる。また、第1プレート16の凹部18がないものに直接、エンドミル等の工具で切削加工を施して凹部18を形成してもよい。さらにまた、ユニット21を凹部18の深さD3の分だけ薄くし、凹部18を設けないで、ユニット21下面のピン非配設領域A3に、凹部18の深さD3に相当する厚さのスペーサーを貼り付けてもよく、スタンドオフパッド31に当接する部分のみに、凹部18の深さD3に相当する厚さのスペーサーを貼り付けても構わない。   The method for forming the recess 18 is not particularly limited. For example, when the first plate 16 of the unit 21 is manufactured by injection molding, a convex portion is provided in advance in a portion where the concave portion 18 is formed in the molding die, and the concave portion 18 is formed by injection molding using this molding die. The 1st plate 16 provided with can be obtained. Alternatively, the concave portion 18 may be formed by cutting the first plate 16 without the concave portion 18 with a tool such as an end mill. Furthermore, the unit 21 is made thinner by the depth D3 of the recess 18 and the recess 18 is not provided, and a spacer having a thickness corresponding to the depth D3 of the recess 18 is provided in the pin non-arrangement region A3 on the lower surface of the unit 21. Or a spacer having a thickness corresponding to the depth D3 of the recess 18 may be attached only to the portion in contact with the stand-off pad 31.

さらに、配線基板P上には、図3,図4に示すように、ユニット21の下面のピン配設領域A2において、第1プレート16の複数の挿入孔16aに対向して複数の導電性の円盤状のコンタクトパッド30が所定のピッチで取り付けられているとともに、ユニット21の下面のピン非配設領域A3において、複数の円盤状のスタンドオフパッド31が所定のピッチで取り付けられている。なお、スタンドオフパッド31は、コンタクトパッド30とほぼ同じサイズ、つまり、直径D2(例えば、D2=0.25〜0.5mm)及び厚さT1(例えば、T1=0.05〜0.1mm)に形成されている。   Furthermore, on the wiring board P, as shown in FIGS. 3 and 4, a plurality of conductive materials facing the plurality of insertion holes 16 a of the first plate 16 in the pin arrangement region A <b> 2 on the lower surface of the unit 21. The disk-like contact pads 30 are attached at a predetermined pitch, and a plurality of disk-like standoff pads 31 are attached at a predetermined pitch in the pin non-arrangement region A3 on the lower surface of the unit 21. The stand-off pad 31 is substantially the same size as the contact pad 30, that is, the diameter D2 (for example, D2 = 0.25 to 0.5 mm) and the thickness T1 (for example, T1 = 0.05 to 0.1 mm). Is formed.

ここで、ピン配設領域A2においては、図4に示すように、上方へ凹む凹部18が設けられているため、この凹部18の上面18aとコンタクトパッド30の上面30aとの間には上下方向(矢印Z方向)の隙間が形成されている。   Here, in the pin arrangement region A2, as shown in FIG. 4, since the concave portion 18 that is recessed upward is provided, the vertical direction is provided between the upper surface 18a of the concave portion 18 and the upper surface 30a of the contact pad 30. A gap in the direction of arrow Z is formed.

次に、かかるICソケット11の使用方法について説明する。   Next, how to use the IC socket 11 will be described.

まず、配線基板P上にICソケット11を実装し、ソケット本体14を配線基板Pに固定する。これにより、ユニット21の下面のピン配設領域A2において、各コンタクトピン20の下側のプランジャ26が配線基板Pのコンタクトパッド30に接触した後、このコンタクトパッド30に押し上げられる形で上昇し、図4に示すように、ユニット21の下面のピン非配設領域A3が配線基板Pのスタンドオフパッド31に接触したところでICソケット11が停止する。   First, the IC socket 11 is mounted on the wiring board P, and the socket body 14 is fixed to the wiring board P. As a result, in the pin arrangement area A2 on the lower surface of the unit 21, the lower plunger 26 of each contact pin 20 comes into contact with the contact pad 30 of the wiring board P and then rises in a form pushed up by the contact pad 30. As shown in FIG. 4, the IC socket 11 stops when the pin non-arrangement area A <b> 3 on the lower surface of the unit 21 contacts the standoff pad 31 of the wiring board P.

続いて、ICソケット11のフローティングプレート22上にICパッケージ12を収容し、カバー部材15を閉じる方向(図2の矢印N方向)に回動させて、スプリング15bの弾性に抗してプッシャー15cでICパッケージ12を下方に押圧する。これにより、ICパッケージ12の各球状端子12aが各コンタクトピン20の上側のプランジャ27に接触した後、ICパッケージ12が単独で、スプリング29の弾性に抗してコンタクトピン20の上側のプランジャ27を押し縮めながら下降し、ICパッケージ12の周縁部がフローティングプレート22の図示省略の載置部に接触したところで一旦停止する。その後、ICパッケージ12がフローティングプレート22と共に、スプリング29の弾性に抗してコンタクトピン20の上側のプランジャ27を押し縮めながらさらに下降し、フローティングプレート22が第2プレート17に接触したところで停止する。   Subsequently, the IC package 12 is accommodated on the floating plate 22 of the IC socket 11, the cover member 15 is rotated in the closing direction (the direction of arrow N in FIG. 2), and the pusher 15c resists the elasticity of the spring 15b. The IC package 12 is pressed downward. Accordingly, after each spherical terminal 12a of the IC package 12 contacts the plunger 27 on the upper side of each contact pin 20, the IC package 12 alone moves the plunger 27 on the upper side of the contact pin 20 against the elasticity of the spring 29. The IC package 12 descends while being compressed, and stops once when the peripheral edge of the IC package 12 comes into contact with a mounting portion (not shown) of the floating plate 22. Thereafter, the IC package 12 is further lowered together with the floating plate 22 while pressing and contracting the plunger 27 on the upper side of the contact pin 20 against the elasticity of the spring 29, and stops when the floating plate 22 contacts the second plate 17.

その結果、ICパッケージ12の各球状端子12aと配線基板Pの各コンタクトパッド30とが各コンタクトピン20を介して互いに導通した状態となる。また、プッシャー15cからの押圧力が、ICパッケージ12、フローティングプレート22、第2プレート17を介して第1プレート16に伝わるため、第1プレート16が配線基板P側へ押し付けられた状態となる。   As a result, the respective spherical terminals 12a of the IC package 12 and the respective contact pads 30 of the wiring board P are electrically connected to each other through the respective contact pins 20. Further, since the pressing force from the pusher 15c is transmitted to the first plate 16 via the IC package 12, the floating plate 22, and the second plate 17, the first plate 16 is pressed to the wiring board P side.

このとき、仮に、ユニット21の下面に凹部18が設けられていなければ、従来のICパッケージと同様、公差などの影響で、第1プレート16の挿入孔16aの周縁部がコンタクトパッド30と平面視で部分的に重なる場合には、樹脂製の第1プレート16の挿入孔16aが金属製のコンタクトパッド30に接触して押し潰される。そのため、挿入孔16aの周囲にバリが発生し、このバリにコンタクトピン20が引っ掛かってピンスタックが生じる恐れがある。   At this time, if the concave portion 18 is not provided on the lower surface of the unit 21, the peripheral portion of the insertion hole 16a of the first plate 16 is seen from the contact pad 30 in a plan view due to the influence of tolerance and the like as in the conventional IC package. In this case, the insertion hole 16a of the resin first plate 16 contacts the metal contact pad 30 and is crushed. Therefore, burrs are generated around the insertion hole 16a, and the contact pins 20 may be caught by the burrs, thereby causing a pin stack.

これに対して、この実施の形態では、ユニット21の下面には、上述したとおり、ピン配設領域A2において、上方へ凹む凹部18が設けられているため、凹部18の上面18aとコンタクトパッド30の上面30aとの間に上下方向(矢印Z方向)の隙間が生じ、第1プレート16の挿入孔16aがコンタクトパッド30に接触することはない。従って、第1プレート16の挿入孔16aの周縁部がコンタクトパッド30と平面視で部分的に重なる場合であっても、挿入孔16aがコンタクトパッド30に接触して押し潰される事態を回避し、ピンスタックの発生を未然に防止することが可能となる。   On the other hand, in this embodiment, the lower surface of the unit 21 is provided with the concave portion 18 that is recessed upward in the pin disposition region A2 as described above. Therefore, the upper surface 18a of the concave portion 18 and the contact pad 30 are provided. A gap in the vertical direction (arrow Z direction) is formed between the upper surface 30a and the insertion hole 16a of the first plate 16 does not contact the contact pad 30. Therefore, even when the peripheral edge portion of the insertion hole 16a of the first plate 16 partially overlaps the contact pad 30 in a plan view, the situation where the insertion hole 16a contacts the contact pad 30 and is crushed is avoided. It is possible to prevent pin stacks from occurring.

特に、第1プレート16の挿入孔16aの孔径D1がコンタクトパッド30の直径D2より小さい場合には、ユニット21の下面に凹部18が設けられていなければ、確実に挿入孔16aがコンタクトパッド30に接触することになるが、この場合でも、挿入孔16aがコンタクトパッド30に接触して押し潰される事態を回避し、ピンスタックの発生を未然に防止することが可能となる。   In particular, when the hole diameter D1 of the insertion hole 16a of the first plate 16 is smaller than the diameter D2 of the contact pad 30, the insertion hole 16a is surely formed in the contact pad 30 unless the concave portion 18 is provided on the lower surface of the unit 21. However, even in this case, it is possible to avoid the situation where the insertion hole 16a contacts the contact pad 30 and is crushed, thereby preventing the occurrence of pin stack.

また、第1プレート16の挿入孔16aの孔径D1がコンタクトパッド30の直径D2より小さい場合、換言すれば、コンタクトパッド30の直径D2が第1プレート16の挿入孔16aの孔径D1より大きい場合には、コンタクトパッド30に対して挿入孔16aが僅かに横ずれしても、コンタクトピン20とコンタクトパッド30とが確実に接触する。   When the hole diameter D1 of the insertion hole 16a of the first plate 16 is smaller than the diameter D2 of the contact pad 30, in other words, when the diameter D2 of the contact pad 30 is larger than the hole diameter D1 of the insertion hole 16a of the first plate 16. Even if the insertion hole 16a is slightly displaced from the contact pad 30, the contact pin 20 and the contact pad 30 are reliably in contact with each other.

さらに、ICソケット11は、ユニット21の下面のピン非配設領域A3がスタンドオフパッド31に当接することにより、最下位で位置決めされるため、第1プレート16が配線基板P側へ押し付けられたときに、挿入孔16aとコンタクトパッド30との接触を確実に回避することができる。   Further, since the IC socket 11 is positioned at the lowest position when the pin non-arrangement area A3 on the lower surface of the unit 21 contacts the standoff pad 31, the first plate 16 is pressed to the wiring board P side. Sometimes, the contact between the insertion hole 16a and the contact pad 30 can be reliably avoided.

この状態で、ICパッケージ12に電流を流してバーンイン試験等を行う。   In this state, a current is passed through the IC package 12 to perform a burn-in test or the like.

なお、上記実施の形態では、「電気部品用ソケット」としてICソケット11にこの発明を適用したが、これに限らず、他の装置にも適用できることは勿論である。   In the above embodiment, the present invention is applied to the IC socket 11 as the “electrical component socket”. However, the present invention is not limited to this and can be applied to other devices.

また、上記実施の形態では、2つのプランジャ26,27及びスプリング29からなるコンタクトピン20を用いたが、表面圧接型のものである限り、いかなるコンタクトピン20を用いた場合でも、この発明を同様に適用することができる。   In the above embodiment, the contact pin 20 including the two plungers 26 and 27 and the spring 29 is used. However, as long as the contact pin 20 is of the surface pressure contact type, the present invention is similarly applied to any contact pin 20 used. Can be applied to.

また、上記実施の形態では、ユニット21、フローティングプレート22等を備えたソケット本体14について説明したが、フローティングプレート22が存在しないものにもこの発明を適用することができる。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the socket main body 14 provided with the unit 21, the floating plate 22, etc., this invention is applicable also to what does not have the floating plate 22. FIG.

また、上記実施の形態では、第1プレート16及び第2プレート17の2部品からなるユニット21について説明したが、1部品のユニット21を用いた場合でも、この発明を同様に適用することができる。   Moreover, in the said embodiment, although the unit 21 which consists of 2 components of the 1st plate 16 and the 2nd plate 17 was demonstrated, even when the unit 21 of 1 components is used, this invention can be applied similarly. .

さらに、この発明の電気部品用ソケットは、いわゆるオープントップタイプのICソケット等にも適用できる。   Further, the electrical component socket of the present invention can be applied to a so-called open top type IC socket or the like.

11 ICソケット(電気部品用ソケット)
12 ICパッケージ(電気部品)
12a 球状端子(端子)
14 ソケット本体
16a 挿入孔
18 凹部
18a 上面
20 コンタクトピン
26 下側のプランジャ(下端部)
27 上側のプランジャ(上端部)
30 コンタクトパッド
30a 上面
31 スタンドオフパッド
A1 挿入孔形成領域
A2 ピン配設領域
P 配線基板
11 IC socket (socket for electrical parts)
12 IC package (electrical parts)
12a Spherical terminal (terminal)
14 Socket body
16a Insertion hole
18 recess
18a top view
20 Contact pin
26 Lower plunger (lower end)
27 Upper plunger (upper end)
30 contact pads
30a Top view
31 Standoff pad
A1 Insertion hole formation area
A2 Pin layout area P Wiring board

Claims (3)

上向きに突出したコンタクトパッドを有する配線基板上に配設され、電気部品が収容されるソケット本体と、
該ソケット本体に設けられ、前記電気部品の端子に上端部が圧接されるとともに、前記配線基板の前記コンタクトパッドに下端部が圧接されることにより、当該端子及び当該コンタクトパッドを電気的に接続する複数のコンタクトピンと
を有する電気部品用ソケットであって、
前記ソケット本体には、前記複数のコンタクトピンが挿入され、前記配線基板の前記コンタクトパッドに圧接されて上昇することにより、当該コンタクトピンを収納可能とする複数の挿入孔が形成され、
前記ソケット本体の下面には、前記複数の挿入孔が形成された挿入孔形成領域のうち前記複数のコンタクトピンが挿入された所定のピン配設領域において、上方へ凹む凹部を前記複数の挿入孔に跨って形成し、前記ソケット本体が前記配線基板上に配設されることにより、前記複数のコンタクトピンが前記配線基板の前記コンタクトパッドに押し上げられて上昇した状態で、前記凹部の上面と前記コンタクトパッドの上面との間に上下方向の隙間が生じるように構成したことを特徴とする電気部品用ソケット。
A socket body disposed on a wiring board having a contact pad protruding upward ;
Provided on the socket body, together with the upper end portion is pressed against the terminal of the electrical part, by the lower end portion is pressed against the contact pads of the wiring board, for electrically connecting the terminals and the contact pads A socket for an electrical component having a plurality of contact pins,
In the socket main body, the plurality of contact pins are inserted, and a plurality of insertion holes that can accommodate the contact pins are formed by being pressed against and raised by the contact pads of the wiring board ,
On the lower surface of the socket body, in the predetermined pin arrangement region where the plurality of contact pins are inserted in the insertion hole forming region where the plurality of insertion holes are formed, a concave portion recessed upward is formed in the plurality of insertion holes. And the socket body is disposed on the wiring board, so that the plurality of contact pins are pushed up and raised by the contact pads of the wiring board, and the upper surface of the recess and the A socket for electrical parts, characterized in that a vertical gap is formed between the upper surface of the contact pads.
前記挿入孔が円形断面であるとともに、前記コンタクトパッドが円盤状であり、前記挿入孔の孔径が前記コンタクトパッドの直径より小さいことを特徴とする請求項1に記載の電気部品用ソケット。   2. The electrical component socket according to claim 1, wherein the insertion hole has a circular cross section, the contact pad has a disk shape, and the diameter of the insertion hole is smaller than the diameter of the contact pad. 前記ソケット本体は、前記配線基板上で、前記コンタクトパッドの周囲に設けられたスタンドオフパッドに下面が当接することにより、最下位で位置決めされるように構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の電気部品用ソケット。   The socket main body is configured to be positioned at the lowest position by contacting a lower surface of a stand-off pad provided around the contact pad on the wiring board. The socket for electrical components according to 1 or 2.
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