JP2003307542A - Ic socket - Google Patents

Ic socket

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JP2003307542A
JP2003307542A JP2002294030A JP2002294030A JP2003307542A JP 2003307542 A JP2003307542 A JP 2003307542A JP 2002294030 A JP2002294030 A JP 2002294030A JP 2002294030 A JP2002294030 A JP 2002294030A JP 2003307542 A JP2003307542 A JP 2003307542A
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JP
Japan
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coil
diameter
socket
contact
float
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Application number
JP2002294030A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenzo Suzuki
健三 鈴木
Toshimasa Hiroike
利昌 広池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Cosmos Electric Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Cosmos Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Cosmos Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Cosmos Electric Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC socket for pressure-contacting a pin terminal or a coil contact against a burn-in board interposed between the pin terminal or the coil contact contacting an IC bump and an IC tester. <P>SOLUTION: The IC socket electrically mechanically connects the bump 29 arranged in a matrix shape on a bottom surface of the IC 28 with the burn-in board 6 through the pin terminal 14 the coil contact 21. A tip of a tapered small diameter coil 211' of the coil contact 21 mutually contacted with a planar electrode 62 formed on the burn-in board 6 protrudes above a tip of the pin terminal 14. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、ICソケットに
関し、特に、ICのバンプに接触するピン端子およびコ
イル接点とICテスタとの間に介在するバーインボード
に対して当該ピン端子或いはコイル接点を加圧接触せし
めるICソケットに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC socket, and more particularly to a pin terminal or a coil contact which contacts a bump of an IC and a burn-in board interposed between an IC tester and the pin terminal or the coil contact. The present invention relates to an IC socket that can be brought into pressure contact.

【0002】[0002]

【従来の技術】第1の先行例を図8および図9を参照し
て説明する。図8はICを測定しない定常状態を示す
図、図9はICの測定状態を示す図である。14はピン
端子である。ピン端子14はその中間部を膨出した端子
電極141とし、下半部をピン接触部142とし、上半
部をテーパ部143としている。10は端子ガイドであ
り、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチで
マトリクス状にピン端子挿通孔101が形成されてい
る。21はコイル接点であり、先端をテーパ状に捲回し
たテーパ状小径コイル部211とすると共に下半部を大
径コイル部212としている。ここで、テーパ状小径コ
イル部211の内側形状とテーパ部143の先端部の外
側形状はほぼ相似形とし、寸法はテーパ状小径コイル部
211にテーパ部143の先端を圧し込んでも上半部1
43が突き抜けることがない形状寸法に形成される。そ
して、ピン端子14のテーパ部143を構成する上半部
はコイル接点21の全長と比較して長い全長を有してい
る。
2. Description of the Related Art A first prior art example will be described with reference to FIGS. FIG. 8 is a diagram showing a steady state in which IC is not measured, and FIG. 9 is a diagram showing an IC measurement state. 14 is a pin terminal. The pin terminal 14 has a bulged terminal electrode 141 in the middle thereof, a pin contact portion 142 in the lower half, and a taper portion 143 in the upper half. Reference numeral 10 denotes a terminal guide, and pin terminal insertion holes 101 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. Reference numeral 21 denotes a coil contact, which has a tapered small-diameter coil portion 211 whose tip is wound in a taper shape, and a lower-half portion which is a large-diameter coil portion 212. Here, the inner shape of the tapered small-diameter coil portion 211 and the outer shape of the tip end portion of the taper portion 143 are substantially similar to each other, and the dimensions are the same even if the tip end of the taper portion 143 is pressed into the tapered small-diameter coil portion 211.
It is formed in a shape and dimension in which 43 does not penetrate. The upper half portion of the tapered portion 143 of the pin terminal 14 has a longer total length than the total length of the coil contact 21.

【0003】15はガイド板であり、IC28のバンプ
29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にコイル
接点挿通孔151を形成している。152はガイド板1
5の下面に形成された端子電極凹部であり、端子電極1
41を収容する。20はフロートであり、IC28のバ
ンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に貫
通孔201を形成している。このフロート20はフロー
トスプリング45により上向きにバイアスされ、IC2
8を測定しない定常状態においては図8に示されるレベ
ルにある。フロートスプリング45には44により示さ
れるフロートピンが挿通され、これによりに案内されて
いる。4はベースを示す。41はベース4を貫通して形
成されるピン端子コイル接点収容部であり、下部には内
向きに突出して支持鍔42が形成されている。このベー
ス4にはフロートピン嵌合孔43が相互に離隔してベー
ス4に上下方向に穿設されている。フロート20にはフ
ロートピン嵌合孔43に対応してフロートピン案内孔2
05が形成されている。フロートピン44はフロートピ
ン嵌合孔43に嵌合固定されている。フロート20には
フロートスプリング45が嵌入位置決めされるスプリン
グ嵌入孔204が形成されている。
A guide plate 15 has coil contact insertion holes 151 formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. 152 is a guide plate 1
5 is a concave portion of the terminal electrode formed on the lower surface of
41 is accommodated. Reference numeral 20 is a float, and the through holes 201 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. This float 20 is biased upward by a float spring 45, and IC2
In the steady state where 8 is not measured, the level is as shown in FIG. A float pin indicated by 44 is inserted into the float spring 45 and guided thereby. 4 indicates a base. Reference numeral 41 denotes a pin terminal coil contact accommodating portion formed by penetrating the base 4, and a supporting flange 42 is formed at a lower portion so as to project inward. Float pin fitting holes 43 are formed in the base 4 so as to be separated from each other in the vertical direction. The float 20 has a float pin guide hole 2 corresponding to the float pin fitting hole 43.
05 is formed. The float pin 44 is fitted and fixed in the float pin fitting hole 43. A spring fitting hole 204 into which the float spring 45 is fitted and positioned is formed in the float 20.

【0004】ベース4はこれに回動係合せしめられる図
示されないフレームが具備されている。IC28は、測
定に際して、このフレームに保持された状態で、フロー
ト20に形成される開口206に対して回動位置決めさ
れる。ここで、ICの測定の仕方を説明する。IC28
は、図示されないフレームに保持された状態で、フロー
ト20に形成される開口206に対して図8に示される
状態に回動位置決めされる。フレームを更に回動してI
C28を下向きに押圧すると、IC28の下面はフロー
トスプリング45を圧縮しながらフロート20を下向き
に変位して、IC28のバンプ29はコイル接点21の
テーパ状小径コイル部211の上端に接触するに到る。
フレームを更に回動してIC28を下向きに押圧する
と、IC28の下面はフロート20を下向きに変位しな
がらバンプ29はコイル接点21を下向きに圧縮変形
し、テーパ状小径コイル部211にピン端子14のテー
パ部143のテーパ状の先端が嵌合し、強く係合したと
ころでテーパ状小径コイル部211の変位は停止せしめ
られる。ここで、IC28のバンプ29とピン端子14
のピン接触部142との間は、コイル接点21がバンプ
29と端子電極141の間に介在してその弾性復元力に
より両者に強く圧接することにより、良好な電気接触が
確保される。IC28のバンプ29は、コイル接点21
のテーパ状小径コイル部211を介してピン端子14の
テーパ部143に強く圧接することにより、密着巻き状
態とされて実質上円筒状のテーパ状小径コイル部211
とピン端子14のテーパ部143とを介して端子電極1
41に電気接続しており、コイル接点21の内の弾性コ
イルとして動作している大径コイル部212の部分を橋
絡している。結局、IC28のバンプ29とピン端子1
4のピン接触部142との間に電気コイルとして動作す
る部分が存在しないので、高周波の電気信号におけるこ
のICソケットのインダクタンス低減効果は大きく、バ
ンプ29とピン接触部142との間の純抵抗値も低減す
る。
The base 4 is provided with a frame (not shown) which is rotationally engaged with the base 4. At the time of measurement, the IC 28 is rotationally positioned with respect to the opening 206 formed in the float 20 while being held by the frame. Here, a method of measuring the IC will be described. IC28
Is rotationally positioned in the state shown in FIG. 8 with respect to the opening 206 formed in the float 20 while being held by a frame (not shown). Rotate the frame further to I
When C28 is pressed downward, the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward while compressing the float spring 45, and the bump 29 of the IC 28 comes into contact with the upper end of the tapered small-diameter coil portion 211 of the coil contact 21. .
When the frame is further rotated to press the IC 28 downward, the bump 29 compresses and deforms the coil contact 21 downward while the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward, and the tapered small-diameter coil portion 211 is provided with the pin terminal 14. The displacement of the tapered small-diameter coil portion 211 is stopped when the tapered tip of the tapered portion 143 is fitted and strongly engaged. Here, the bump 29 of the IC 28 and the pin terminal 14
The coil contact 21 is interposed between the bump 29 and the terminal electrode 141 between the pin contact portion 142 and the pin contact portion 142 and is strongly pressed against both by the elastic restoring force, so that good electrical contact is secured. The bump 29 of the IC 28 is the coil contact 21.
The taper small-diameter coil portion 211 having a substantially cylindrical shape is brought into a close-wound state by strongly pressing the taper portion 143 of the pin terminal 14 through the taper small-diameter coil portion 211.
And the tapered portion 143 of the pin terminal 14 through the terminal electrode 1
It is electrically connected to 41, and bridges a portion of the large-diameter coil portion 212 of the coil contact 21 that operates as an elastic coil. After all, bump 29 of IC 28 and pin terminal 1
4 does not have a portion that operates as an electric coil between the pin contact portion 142 and the pin contact portion 142, the effect of reducing the inductance of the IC socket in a high-frequency electric signal is large, and the pure resistance value between the bump 29 and the pin contact portion 142 is large. Is also reduced.

【0005】図10を参照して第1の先行例の変形例を
説明する。この変形例においては、ガイド板15の下面
全面に、図示される通りに柔軟性異方導電性接着シート
50を接合し、コイル接点21の下端部とピン端子14
の膨出した端子電極141の上面の間に介在させる。図
10はIC28を下向きに押圧した状態を示しており、
IC28の下向きの押圧状態においては、柔軟性異方導
電性接着シート50はコイル接点21の下端部とピン端
子14の端子電極141の上面との間に圧縮挟持されて
両者間の電気接続を確実にする。即ち、コイル接点21
およびピン端子14の製造のバラツキに起因して両者間
の機械的接触が不充分となって適正な電気接続が保証さ
れない場合も生ずるが、この機械的接触の不充分さは両
者間に柔軟性異方導電性接着シート50を介在させるこ
とにより吸収解消される。
A modification of the first prior art will be described with reference to FIG. In this modification, a flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is bonded to the entire lower surface of the guide plate 15 as shown in the drawing, and the lower end portion of the coil contact 21 and the pin terminal 14 are joined.
Is interposed between the upper surfaces of the swelled terminal electrodes 141. FIG. 10 shows a state in which the IC 28 is pressed downward,
In the downward pressing state of the IC 28, the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is compressed and sandwiched between the lower end portion of the coil contact 21 and the upper surface of the terminal electrode 141 of the pin terminal 14 to ensure electrical connection therebetween. To That is, the coil contact 21
In some cases, due to variations in the manufacture of the pin terminals 14, mechanical contact between the two becomes insufficient, and proper electrical connection cannot be guaranteed. However, this insufficient mechanical contact results in flexibility between the two. The absorption is canceled by interposing the anisotropic conductive adhesive sheet 50.

【0006】図11および図12を参照して第2の先行
例を説明する。図11は接触前の状態を示し、図12は
測定時の接触状態を示す。ピン端子は、第1の先行例に
おいてはピン端子14が1個のみであったが、第2の実
施例においてはピン端子14の他に、更に、これとほぼ
同等の構成の可動ピン端子14’の2個を使用する。こ
れに対応して、可動ピン端子14’を案内する可動ピン
端子ガイド10’を具備する。可動ピン端子ガイド1
0’には、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピ
ッチでマトリクス状に可動ピン端子挿通孔101’が形
成されている。ピン端子14は、その中間部を膨出した
端子電極141とし、下半部をピン接触部142に形成
すると共に上半部を力が加わると容易に変形する弾性細
長片144に形成している。可動ピン端子14’はピン
端子14を倒立したものとほぼ同様の構成を有し、中間
部を膨出した端子電極141’に形成し、上半部をピン
接触部142’に形成すると共に、下半部を弾性細長片
144’に形成している。この第2の実施例は、ピン端
子14と可動ピン端子14’とは、端子電極141’の
径がピン端子14の端子電極141の径と比較して僅か
に小径に構成されていることになる。第2の実施例のコ
イル接点21は、全長に亘って同一径に捲回構成された
単純な形状の円筒コイルバネより成る。ここで、コイル
接点21の全長はピン端子14の弾性細長片144の全
長と可動ピン端子14’の弾性細長片144’の全長の
和より僅かに大に構成されている。図11のフロートピ
ンは上述された図9のフロートピンと同一構成を有して
いる。
A second prior example will be described with reference to FIGS. 11 and 12. FIG. 11 shows a state before contact, and FIG. 12 shows a contact state at the time of measurement. In the first prior art example, the number of pin terminals was only one, but in the second example, in addition to the pin terminal 14, a movable pin terminal 14 having substantially the same configuration as the pin terminal 14. Use two of '. Correspondingly, a movable pin terminal guide 10 'for guiding the movable pin terminal 14' is provided. Movable pin terminal guide 1
Movable pin terminal insertion holes 101 ′ are formed in a matrix at 0 ′ at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. The pin terminal 14 has a bulged terminal electrode 141 in the middle thereof, a lower half portion formed in the pin contact portion 142, and an upper half portion formed in an elastic strip 144 which is easily deformed when a force is applied. . The movable pin terminal 14 ′ has substantially the same configuration as the pin terminal 14 which is inverted, the intermediate portion is formed on the bulged terminal electrode 141 ′, and the upper half portion is formed on the pin contact portion 142 ′. The lower half is formed into an elastic strip 144 '. In the second embodiment, the pin terminal 14 and the movable pin terminal 14 'are configured such that the diameter of the terminal electrode 141' is slightly smaller than the diameter of the terminal electrode 141 of the pin terminal 14. Become. The coil contact 21 of the second embodiment is formed of a cylindrical coil spring having a simple shape and wound to have the same diameter over the entire length. Here, the total length of the coil contact 21 is slightly larger than the sum of the total length of the elastic strip 144 of the pin terminal 14 and the total length of the elastic strip 144 'of the movable pin terminal 14'. The float pin of FIG. 11 has the same structure as the float pin of FIG. 9 described above.

【0007】IC28は、第1の先行例の場合と同様、
図示されないフレームに保持された状態で、フロート2
0に形成される開口206に対して図11に示される状
態に回動位置決めされる。フレームを更に回動してIC
28を下向きに押圧すると、IC28の下面はフロート
スプリング45を圧縮しながらフロート20を下向きに
変位し、IC28のバンプ29は可動ピン端子14’の
ピン接触部142’の上端に接触する。フレームを回動
してIC28を更に下向きに押圧すると、IC28の下
面はフロート20を下向きに変位しながらバンプ29
は、可動ピン端子14’のピン接触部142’および端
子電極141’を介してコイル接点21を下向きに徐々
に圧縮変位する。この変位が進行する中に、可動ピン端
子14’の弾性細長片144’がピン端子14の弾性細
長片144に接触し、両者が変形して強く係合したとこ
ろでコイル接点21の変位および弾性細長片144’と
弾性細長片144の変形は停止せしめられる。
The IC 28 is similar to the case of the first prior art example.
Float 2 held in a frame (not shown)
It is rotationally positioned in the state shown in FIG. 11 with respect to the opening 206 formed in 0. Rotate the frame further to IC
When 28 is pressed downward, the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward while compressing the float spring 45, and the bump 29 of the IC 28 contacts the upper end of the pin contact portion 142 'of the movable pin terminal 14'. When the frame is rotated to press the IC 28 further downward, the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward and the bump 29
Gradually compresses and displaces the coil contact 21 downward through the pin contact portion 142 ′ of the movable pin terminal 14 ′ and the terminal electrode 141 ′. While this displacement progresses, the elastic strip 144 ′ of the movable pin terminal 14 ′ comes into contact with the elastic strip 144 of the pin terminal 14, and when both are deformed and strongly engaged, the displacement and elastic strip of the coil contact 21. The deformation of the piece 144 'and the elastic strip 144 is stopped.

【0008】この場合、IC28のバンプ29とピン端
子14のピン接触部142の間は可動ピン端子14’と
ピン端子14の間にコイル接点21が介在してその弾性
復元力により両者に強く圧接すると共に可動ピン端子1
4’のピン接触部142’がバンプ29に強く圧接する
ことにより、良好な電気接触が確保される。ここで、I
C28のバンプ29は、可動ピン端子14’の弾性細長
片144’がピン端子14の弾性細長片144に接触、
変形して強く係合することにより、棒状体の可動ピン端
子14’とピン端子14とを介して直接にピン接触部1
42に電気接続することとなり、弾性コイルとして動作
しているコイル接点21を介さずにバンプ29とピン接
触部142の間が直接電気接続されるので、高周波の電
気信号におけるこのICソケットのインダクタンス低減
効果は大きく、バンプ29とピン接触部142との間の
純抵抗値も低減する。
In this case, the coil contact 21 is interposed between the movable pin terminal 14 'and the pin terminal 14 between the bump 29 of the IC 28 and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14, and the elastic restoring force of the coil contact 21 strongly presses the two. And movable pin terminal 1
The 4'pin contact portion 142 'strongly presses against the bump 29 to ensure good electrical contact. Where I
In the bump 29 of C28, the elastic strip 144 'of the movable pin terminal 14' contacts the elastic strip 144 of the pin terminal 14,
By deforming and engaging strongly, the pin contact portion 1 is directly connected via the rod-shaped movable pin terminal 14 ′ and the pin terminal 14.
Since the bump 29 and the pin contact portion 142 are directly electrically connected without going through the coil contact 21 that operates as an elastic coil, the inductance of this IC socket in a high frequency electric signal is reduced. The effect is great, and the pure resistance value between the bump 29 and the pin contact portion 142 is also reduced.

【0009】また、第2の先行例のコイル接点21は、
上述した通り、全長に亘って同一径に捲回構成された単
純な形状のコイルバネより成るので、簡単容易、廉価に
製造することができる。ただ、この先行例においては、
ピン端子として見かけ上はピン端子14と可動ピン端子
14’の2種類必要とされるが、これらは端子電極14
1’の径がピン端子14の端子電極141の径と比較し
て僅かに小径に構成されているに過ぎないほぼ同型のも
のである。端子電極141’の径と端子電極141の径
とを同一に設計変更して、ピン端子14と可動ピン端子
14’とを共通にすることができる。
The coil contact 21 of the second prior art example is
As described above, since the coil spring has a simple shape and is wound to have the same diameter over the entire length, it can be manufactured easily, easily and inexpensively. However, in this preceding example,
Apparently, two types of pin terminals, a pin terminal 14 and a movable pin terminal 14 ', are required.
The diameter of 1'is almost the same as the diameter of the terminal electrode 141 of the pin terminal 14, but is slightly smaller than that of the terminal electrode 141. The pin electrode 14 and the movable pin terminal 14 ′ can be made common by designing the diameter of the terminal electrode 141 ′ and the diameter of the terminal electrode 141 to be the same.

【0010】図13を参照するに、第2の先行例におい
ても、ガイド板15の下面全面に柔軟性異方導電性接着
シート50を接合し、コイル接点21の下端部とピン端
子14の端子電極141の上面との間に介在させること
により、両者間の機械的接触の不充分さは両者間に柔軟
性異方導電性接着シート50を介在させることにより吸
収解消することができる。なお、以上の先行例の外に、
この出願の発明の従来例に相当する技術を記載した文献
がある(例えば、特許文献1、参照)。
Referring to FIG. 13, also in the second prior art example, the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is bonded to the entire lower surface of the guide plate 15, and the lower end of the coil contact 21 and the terminal of the pin terminal 14 are connected. By interposing it with the upper surface of the electrode 141, the insufficient mechanical contact between the two can be absorbed and eliminated by interposing the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 therebetween. In addition to the preceding examples,
There is a document describing a technique corresponding to a conventional example of the invention of this application (see, for example, Patent Document 1).

【0011】[0011]

【特許文献1】特開2001−93634号公報[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2001-93634

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】以上の先行例は、IC
28のバンプ29とピン端子14の間に存在するコイル
接点21のインダクタンスおよび純抵抗を直流電気信号
からGHzのオーダーにも及ぶ高周波の電気信号に亘っ
て低減するICソケットである。これらICソケット
は、何れも、ICのバンプ29に電気接触するICソケ
ットのピン端子14をICテスタ側に電気機械的に接続
するに際して、両者の間に介在する図示されないバーイ
ンボードに電極孔を形成し、ここにピン端子14を挿入
して半田付け固定する構成を採用している。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
It is an IC socket that reduces the inductance and pure resistance of the coil contact 21 existing between the bump 29 of 28 and the pin terminal 14 over a high frequency electric signal ranging from a DC electric signal to a GHz order. In all of these IC sockets, when the pin terminals 14 of the IC socket, which are in electrical contact with the bumps 29 of the IC, are electromechanically connected to the IC tester side, electrode holes are formed in a burn-in board (not shown) interposed therebetween. The pin terminal 14 is inserted here and fixed by soldering.

【0013】ところが、ICソケットのピン端子をバー
インボードの電極孔に挿入するに際して、ピン端子側に
僅かな製造誤差および取り付け位置ズレが存在し、バー
インボードの電極孔に位置ズレが存在し、或はピン端子
14が細いことに起因して、ピン端子14が取り扱い中
に変形してバーインボードに対するICソケットの挿入
を困難にしている。ピン端子14挿入後に半田付け固定
しているところから、ICソケットの不具合或いは寿命
によりICソケット交換の必要が生じた場合、ICソケ
ット取り外しに困難を来す。
However, when inserting the pin terminal of the IC socket into the electrode hole of the burn-in board, there is a slight manufacturing error and mounting position deviation on the pin terminal side, and there is a position deviation in the electrode hole of the burn-in board. Since the pin terminal 14 is thin, the pin terminal 14 is deformed during handling and makes it difficult to insert the IC socket into the burn-in board. If the IC socket needs to be replaced due to a defect or life of the IC socket after the pin terminal 14 is fixed by soldering, it becomes difficult to remove the IC socket.

【0014】以上の先行例においては、ピン端子14の
ピッチは0. 5mm程度の狭小ピッチでであり、全数で
300ピン以上の多数本の半田付けを実施すると、ピン
端子14間に半田ブリッジが生起し易い。従って、半田
付け実施後に半田ブリッジによる短絡の有無の検査、お
よび半田ブリッジの修理を必要とする。ICソケットが
取り付け接続されるバーインボードと称される基板は大
型で多層基板となり、ICの小型化、多ピン端子化に伴
い益々高額となりつつある。この基板のICソケット取
り付け用の孔であるスルーホール電極が0. 5mm程度
の狭小ピッチである場合、孔径はφ=0. 3mm以下の
小径となるところから、メッキ工程においてピン端子1
4とスルーホール電極との間に不具合が発生する恐れが
大きい。基板の歩留まり向上策として、ICソケット取
り付け用の孔を必要とせずにICソケットを取り付け接
続することができるICソケットを開発する要請が高ま
っている。この発明は、ICのバンプに接触するピン端
子とICテスタ側の間に介在するバーインボードに対し
て当該ピン端子を加圧接触せしめることにより上述の問
題を解消したICソケットを提供するものである。
In the above-mentioned prior art example, the pitch of the pin terminals 14 is a narrow pitch of about 0.5 mm, and when a large number of solders of 300 pins or more are soldered, a solder bridge is formed between the pin terminals 14. Easy to occur. Therefore, it is necessary to inspect whether or not there is a short circuit due to the solder bridge and to repair the solder bridge after soldering. A board called a burn-in board, to which an IC socket is attached and connected, is a large-sized and multi-layer board, which is becoming more and more expensive as the IC is downsized and the number of pins is increased. If the through-hole electrodes, which are holes for mounting IC sockets on this board, have a narrow pitch of about 0.5 mm, the hole diameter will be φ = 0.3 mm or less.
There is a high possibility that a defect will occur between the No. 4 and the through-hole electrode. As a measure for improving the yield of substrates, there is an increasing demand to develop an IC socket that can be attached and connected to an IC socket without requiring a hole for mounting the IC socket. The present invention provides an IC socket that solves the above-mentioned problems by bringing the pin terminals into pressure contact with a burn-in board that is interposed between the pin terminals that contact the bumps of the IC and the IC tester side. .

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】請求項1:IC28の底
面にマトリクス状に配列形成されるバンプ29をピン端
子14とコイル接点21とを介してバーインボード6に
電気機械的に接続するICソケットにおいて、バーイン
ボード6の表面に形成される平面電極62に係合接触す
るコイル接点21のテーパ状小径コイル部211’の先
端部をピン端子14の先端部より突出せしめたICソケ
ットを構成した。そして、請求項2:請求項1に記載さ
れるICソケットにおいて、中間部を膨出したストッパ
145とし、上半部をテーパ部143とし、下半部を下
側テーパ部143’とするピン端子14を具備し、上半
部の先端をテーパ状に捲回したテーパ状小径コイル部2
11とすると共に、下半部を大径コイル部212とする
コイル接点21を具備し、下半部の先端をテーパ状に捲
回した下側テーパ状小径コイル部211’とすると共に
上半部を下側大径コイル部212’とする下側コイル接
点21’を具備し、コイル接点21の内側にテーパ部1
43を挿通すると共に下側コイル接点21’の内側に下
側テーパ部143’を挿通した状態でコイル接点21と
下側コイル接点21’をバンプ29と平面電極62の間
に介在させたICソケットを構成した。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an IC socket in which bumps 29 arrayed in a matrix on the bottom surface of an IC 28 are electromechanically connected to a burn-in board 6 via pin terminals 14 and coil contacts 21. In the above, an IC socket is constructed in which the tip end of the tapered small-diameter coil portion 211 ′ of the coil contact 21 that engages with and contacts the flat electrode 62 formed on the surface of the burn-in board 6 is projected from the tip end portion of the pin terminal 14. According to a second aspect of the present invention, in the IC socket according to the first aspect, the intermediate terminal portion is the bulged stopper 145, the upper half portion is the tapered portion 143, and the lower half portion is the lower tapered portion 143 '. A tapered small-diameter coil portion 2 having a top end portion of the upper half portion wound in a taper shape.
11, a coil contact 21 having a large diameter coil portion 212 in the lower half portion is provided, and a tip end of the lower half portion is formed into a lower tapered small diameter coil portion 211 ′ and an upper half portion. And a taper portion 1 inside the coil contact 21.
An IC socket in which the coil contact 21 and the lower coil contact 21 ′ are interposed between the bump 29 and the planar electrode 62 while the lower taper portion 143 ′ is inserted inside the lower coil contact 21 ′. Configured.

【0016】また、請求項3:請求項2に記載されるI
Cソケットにおいて、何れのテーパ状小径コイル部およ
びテーパ部も、テーパ状小径コイル部の内側形状とテー
パ部の先端部の外側形状をほぼ相似形とし、テーパ状小
径コイル部にテーパ部の先端を圧し込んでもテーパ部の
先端が突き抜けることがない形状寸法に形成したICソ
ケットを構成した。更に、請求項4:請求項3に記載さ
れるICソケットにおいて、IC28のバンプ29の配
列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にコイル接点挿通
孔151を形成したガイド板15を具備し、IC28の
バンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に
コイル接点挿通孔151’を形成したガイド板15と同
一の構成の下側ガイド板15’を具備し、IC28のバ
ンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に貫
通孔201を形成すると共に、スプリング嵌入孔204
とこれに連通するフロートピン嵌合孔205が形成され
るフロート20を具備し、フロート20をバイアスする
フロートスプリング45を具備するICソケットを構成
した。
Further, claim 3: I described in claim 2
In the C socket, the inner shape of the tapered small-diameter coil portion and the outer shape of the tip end portion of the tapered portion are substantially similar to each other in the tapered small-diameter coil portion and the taper small-diameter coil portion. An IC socket was formed in such a shape that the tip of the tapered portion does not penetrate even when pressed. Further, the IC socket according to claim 4 is provided with the guide plate 15 in which the coil contact insertion holes 151 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. The lower guide plate 15 ′ having the same configuration as the guide plate 15 having the coil contact insertion holes 151 ′ formed in a matrix pattern at the same pitch as the arrangement pitch of the IC 28 is arranged in the matrix pattern at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. A through hole 201 is formed in the
And the float 20 in which the float pin fitting hole 205 communicating with the float 20 is formed, and the IC socket having the float spring 45 for biasing the float 20 is configured.

【0017】ここで、請求項5:請求項2ないし請求項
4の内の何れかに記載されるICソケットにおいて、ガ
イド板15の下面全面に柔軟性異方導電性接着シート5
0を接合してコイル接点21の下端部とピン端子14の
中間の膨出したストッパ145の上面との間に介在させ
ると共に、下側ガイド板15’の上面全面に下側柔軟性
異方導電性接着シート50’を接合して下側コイル接点
21’の上端部とピン端子14の中間の膨出したストッ
パ145の下面の間に介在させたICソケットを構成し
た。そして、請求項6:IC28の底面にマトリクス状
に配列形成されるバンプ29をピン端子14とコイル接
点21とを介してバーインボード6に電気機械的に接続
するICソケットにおいて、ピン端子14の下半部のピ
ン接触部142を上半部のテーパ部143と比較して大
径に構成し、バーインボード6の表面に形成される平面
電極62に係合接触する大径のピン接触部142をコイ
ル接点21の先端部より突出せしめたICソケットを構
成した。
Here, claim 5: In the IC socket according to any one of claims 2 to 4, the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 5 is formed on the entire lower surface of the guide plate 15.
0 is joined to be interposed between the lower end of the coil contact 21 and the upper surface of the bulging stopper 145 in the middle of the pin terminal 14, and the lower flexible anisotropic conductivity is provided on the entire upper surface of the lower guide plate 15 ′. The adhesive sheet 50 'was joined to form an IC socket interposed between the upper end of the lower coil contact 21' and the lower surface of the bulging stopper 145 in the middle of the pin terminal 14. According to a sixth aspect of the invention, in an IC socket in which bumps 29 arrayed and formed in a matrix on the bottom surface of the IC 28 are electromechanically connected to the burn-in board 6 via the pin terminals 14 and the coil contacts 21, The diameter of the half-pin contact portion 142 is larger than that of the upper half-taper portion 143, and the large-diameter pin contact portion 142 that engages with the flat electrode 62 formed on the surface of the burn-in board 6 is formed. An IC socket was made to project from the tip of the coil contact 21.

【0018】また、請求項7:請求項6に記載されるI
Cソケットにおいて、中間部を膨出したストッパ145
とし、上半部をテーパ部143とし、下半部をピン接触
部142とするピン端子14を具備し、上半部の先端を
テーパ状に捲回したテーパ状小径コイル部211とする
と共に下半部を大径コイル部212とするコイル接点2
1を具備し、コイル接点21の内側にテーパ部143を
挿通した状態でコイル接点21とピン端子14をバンプ
29と平面電極62の間に介在させたICソケットを構
成した。更に、請求項8:請求項7に記載されるICソ
ケットにおいて、IC28のバンプ29の配列ピッチと
同一ピッチでマトリクス状にピン端子挿通孔101が形
成される端子ガイド10を具備し、IC28のバンプ2
9の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に大径コイ
ル部212の径に対応するコイル接点挿通孔151を形
成したガイド板15を具備し、IC28のバンプ29の
配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にテーパ状小径
コイル部211の径に対応するコイル接点挿通孔301
を形成される第2のガイド板30を具備し、IC28の
バンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に
貫通孔201を形成すると共にスプリング嵌入孔204
とこれに連通するフロートピン嵌合孔205が形成され
るフロート20を具備し、フロート20をバイアスする
フロートスプリング45を具備するICソケットを構成
した。
Further, claim 7: I described in claim 6
In the C socket, the stopper 145 having a bulged middle portion
And a pin terminal 14 having an upper half part as a tapered part 143 and a lower half part as a pin contact part 142, and a tip end of the upper half part is a tapered small-diameter coil part 211 and Coil contact 2 whose half is a large-diameter coil 212
1 and the IC socket was constructed in which the coil contact 21 and the pin terminal 14 were interposed between the bump 29 and the planar electrode 62 with the tapered portion 143 being inserted inside the coil contact 21. Claim 8: The IC socket according to claim 7, further comprising a terminal guide 10 in which the pin terminal insertion holes 101 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. Two
The guide plate 15 is provided with the coil contact insertion holes 151 corresponding to the diameter of the large-diameter coil portion 212 in a matrix at the same pitch as the array pitch of 9 and is arranged in a matrix at the same pitch as the array pitch of the bumps 29 of the IC 28. Coil contact insertion hole 301 corresponding to the diameter of the tapered small-diameter coil portion 211
The second guide plate 30 is formed, the through holes 201 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28, and the spring fitting holes 204 are formed.
And the float 20 in which the float pin fitting hole 205 communicating with the float 20 is formed, and the IC socket having the float spring 45 for biasing the float 20 is configured.

【0019】ここで、請求項9:請求項6および請求項
7の内の何れかに記載されるICソケットにおいて、I
C28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリ
クス状にピン端子挿通孔101が形成される端子ガイド
10を具備し、IC28のバンプ29の配列ピッチと同
一ピッチでマトリクス状に大径コイル部212の径に対
応するコイル接点挿通孔151を形成したガイド板15
を具備し、コイル接点挿通孔151は、これに段部15
3を形成してコイル接点21のテーパ状小径コイル部2
11の径に対応する小径部分と大径コイル部212の径
に対応する大径部分より成るものとされ、IC28のバ
ンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に貫
通孔201を形成すると共にスプリング嵌入孔204と
これに連通するフロートピン嵌合孔205が形成される
フロート20を具備し、フロート20をバイアスするフ
ロートスプリング45を具備するICソケットを構成し
た。
Here, claim 9: the IC socket according to any one of claims 6 and 7, wherein I
The terminal guide 10 in which the pin terminal insertion holes 101 are formed in a matrix shape at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the C28 is provided, and the large diameter coil portions 212 of the large diameter coil portion 212 are arranged in the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. Guide plate 15 having a coil contact insertion hole 151 corresponding to the diameter
And the coil contact insertion hole 151 has the stepped portion 15
3 to form a tapered small-diameter coil portion 2 of the coil contact 21.
11 and a large diameter portion corresponding to the diameter of the large diameter coil portion 212. The through holes 201 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28, and the springs are formed. The IC socket is provided with the fitting hole 204 and the float 20 in which the float pin fitting hole 205 communicating with the fitting hole 204 is formed, and the float spring 45 for biasing the float 20.

【0020】そして、請求項10:請求項6ないし請求
項9の内の何れかに記載されるICソケットにおいて、
ピン端子14のストッパ145の上面のそれぞれに柔軟
性導電性接着リング500を接合し、コイル接点21の
下端部とストッパ145の上面との間に介在させたIC
ソケットを構成した。ここで、請求項11:IC28の
底面にマトリクス状に配列形成されるバンプ29をコイ
ル接点21を介してバーインボード6に電気機械的に接
続するICソケットにおいて、コイル接点21は上側の
小径コイル部211と下側の小径コイル部211’とこ
れら両者の間に一体的に介在形成される中間大径コイル
部213の三者より成り、IC28のバンプ29の配列
ピッチと同一ピッチでマトリクス状にコイル接点挿通孔
151を形成したガイド板15を具備し、IC28のバ
ンプの配列ピッチ29と同一ピッチでマトリクス状にコ
イル接点挿通孔40を形成したベース4を具備し、ここ
で、挿通孔40の開口端はコイル接点21の中間大径コ
イル部213に対応する拡開開口部400とされてお
り、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチで
マトリクス状に貫通孔201を形成すると共にスプリン
グ嵌入孔204とこれに連通するフロートピン嵌合孔2
05が形成されるフロート20を具備し、フロート20
をバイアスするフロートスプリング45を具備するIC
ソケットを構成した。
A tenth aspect of the invention is an IC socket according to any one of the sixth to ninth aspects,
An IC in which a flexible conductive adhesive ring 500 is joined to each of the upper surfaces of the stoppers 145 of the pin terminals 14 and is interposed between the lower end of the coil contact 21 and the upper surface of the stopper 145.
Configured the socket. Here, claim 11: in an IC socket in which bumps 29 arrayed and formed in a matrix on the bottom surface of an IC 28 are electromechanically connected to the burn-in board 6 via coil contacts 21, the coil contacts 21 are upper small-diameter coil portions. 211, the lower small-diameter coil portion 211 ′, and an intermediate large-diameter coil portion 213 integrally formed between the two, and the coils are arranged in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. The base plate 4 is provided with the guide plate 15 having the contact insertion holes 151 formed therein, and the base 4 having the coil contact insertion holes 40 formed in a matrix at the same pitch as the bump arrangement pitch 29 of the IC 28. The end is an expansion opening portion 400 corresponding to the intermediate large-diameter coil portion 213 of the coil contact 21, and has the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. The through holes 201 are formed in a matrix at one pitch, and the spring fitting holes 204 and the float pin fitting holes 2 communicating with the spring fitting holes 204 are formed.
05 comprises a float 20 on which the float 20
IC with a float spring 45 for biasing
Configured the socket.

【0021】そして、請求項12:IC28の底面にマ
トリクス状に配列形成されるバンプ29をコイル接点2
1を介してバーインボード6に電気機械的に接続するI
Cソケットにおいて、コイル接点21は上側の小径コイ
ル部211と下側の大径コイル部212の2段径に構成
しており、IC28のバンプの配列ピッチ29と同一ピ
ッチでマトリクス状にコイル接点挿通孔40を形成した
ベース4を具備し、ここで、コイル接点挿通孔40は上
側の小径孔部401と下側の大径孔部402の2段径に
構成しており、IC28のバンプ29の配列ピッチと同
一ピッチでマトリクス状に貫通孔201を形成すると共
にスプリング嵌入孔204とこれに連通するフロートピ
ン嵌合孔205が形成されるフロート20を具備し、I
C28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリ
クス状に開孔221を形成たコイル接点21保持用のゴ
ム弾性を有する中間フィルムシート22を具備し、開孔
221にコイル接点21を挿通した状態で中間フィルム
シート22をベース4上面とフロート20の下面の間に
介在させたICソケットを構成した。
According to a twelfth aspect of the present invention, bumps 29 arrayed and formed in a matrix on the bottom surface of the IC 28 are used as the coil contacts 2.
Electromechanically connecting to burn-in board 6 via I
In the C socket, the coil contacts 21 have a two-step diameter of an upper small-diameter coil portion 211 and a lower large-diameter coil portion 212, and are inserted in a matrix at the same pitch as the bump arrangement pitch 29 of the IC 28. The base 4 is formed with a hole 40, and the coil contact insertion hole 40 has a two-step diameter of a small diameter hole portion 401 on the upper side and a large diameter hole portion 402 on the lower side. The float 20 is provided with through holes 201 formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch and at the same time, spring fitting holes 204 and float pin fitting holes 205 communicating therewith are formed.
The intermediate film sheet 22 having rubber elasticity for holding the coil contacts 21 in which the openings 221 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of C28 is provided, and the coil contacts 21 are inserted into the openings 221. An IC socket was constructed in which the intermediate film sheet 22 was interposed between the upper surface of the base 4 and the lower surface of the float 20.

【0022】また、請求項13:請求項12に記載され
るICソケットにおいて、開孔221はコイル接点21
のテーパ状の小径コイル部211の外径より僅かに小さ
い直径の開孔とし、開孔221には径方向の切り込み2
22を形成したICソケットを構成した。
A thirteenth aspect: In the IC socket according to the twelfth aspect, the opening 221 has the coil contact 21.
Of the taper-shaped small-diameter coil portion 211 has a diameter slightly smaller than the outer diameter of the small-diameter coil portion 211.
An IC socket having No. 22 was formed.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を図1の実
施例を参照して説明する。実施例において、図9の先行
例と共通する部材には共通する参照符号を付与してい
る。図1を参照するに、14はピン端子である。ピン端
子14はその中間部を膨出したストッパ145とし、上
半部をテーパ部143とし、下半部を下側テーパ部14
3’としている。15’は下側ガイド板である。この下
側ガイド板15’はガイド板15と同一の構成を有して
おり、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチ
でマトリクス状にコイル接点挿通孔151’を形成して
いる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described with reference to the example of FIG. In the embodiment, common reference numerals are given to members common to the preceding example of FIG. Referring to FIG. 1, 14 is a pin terminal. The pin terminal 14 has a stopper 145 bulging in the middle thereof, a taper portion 143 in the upper half portion, and a lower taper portion 14 in the lower half portion.
3 '. 15 'is a lower guide plate. The lower guide plate 15 'has the same structure as the guide plate 15 and has coil contact insertion holes 151' formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28.

【0024】21’は下側コイル接点である。この下側
コイル接点21’はコイル接点21と同一の構成を有し
ており、先端をテーパ状に捲回した下側テーパ状小径コ
イル部211’とすると共に上半部を下側大径コイル部
212’としている。下側テーパ状小径コイル部21
1’の内側形状と下側テーパ部143’の先端部の外側
形状はほぼ相似形であり、寸法は下側テーパ状小径コイ
ル部211’に下側テーパ部143’の先端を圧し込ん
でも下側テーパ部143’が突き抜けることがない形状
寸法に形成される。62は平面電極であり、IC28の
バンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に
バーインボード6の表面に形成されている。
Reference numeral 21 'is a lower coil contact. The lower coil contact 21 'has the same structure as the coil contact 21. The lower coil contact 21' is a lower tapered small-diameter coil portion 211 'whose tip is wound in a tapered shape, and the upper half is a lower large-diameter coil. Part 212 '. Lower taper small-diameter coil section 21
The inner shape of 1 ′ and the outer shape of the tip of the lower taper portion 143 ′ are substantially similar to each other, and the dimensions are lower even if the tip of the lower taper portion 143 ′ is pressed into the lower taper small-diameter coil portion 211 ′. The side taper portion 143 ′ is formed in a shape dimension that does not penetrate. Reference numeral 62 is a plane electrode, which is formed on the surface of the burn-in board 6 in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28.

【0025】ここで、図1はベース4の突出部46をバ
ーインボード6のソケット嵌合孔61に嵌合、固定し、
IC28を下向きに押圧したIC測定状態にあるところ
を示している。ベース4は、上述した通り、これに回動
係合せしめられる図示されないフレームが具備され、測
定に際してIC28はこのフレームに保持された状態で
フロート20に形成される開口206に対して回動位置
決めされ、次いでIC28を下向きに押圧して図示され
るIC測定状態とされる。フロート20はフロートスプ
リング45により上向きにバイアスされて、IC28を
測定しない定常状態においてはIC28のバンプ29を
テーパ状小径コイル部211から上向きに切り離してい
る。この定常状態において、下側テーパ状小径コイル部
211’の下端部は、バーインボード6の表面に形成さ
れている平面電極62に係合接触している。
Here, in FIG. 1, the protruding portion 46 of the base 4 is fitted and fixed in the socket fitting hole 61 of the burn-in board 6,
It shows a state where the IC 28 is pressed downward and is in an IC measurement state. As described above, the base 4 is provided with a frame (not shown) that is rotationally engaged with the base 4, and the IC 28 is rotationally positioned with respect to the opening 206 formed in the float 20 while being held by the frame during measurement. Then, the IC 28 is pressed downward to the IC measurement state shown in the figure. The float 20 is biased upward by the float spring 45 and separates the bump 29 of the IC 28 upward from the tapered small-diameter coil portion 211 in a steady state where the IC 28 is not measured. In this steady state, the lower end of the lower tapered small-diameter coil portion 211 ′ is in contact with the flat electrode 62 formed on the surface of the burn-in board 6.

【0026】下側テーパ状小径コイル部211’の下端
部がバーインボード6の表面に形成される平面電極62
に係合接触した定常状態において、IC28を下向きに
押圧すると、IC28の下面はフロートスプリング45
を圧縮しながらフロート20を下向きに変位して、IC
28のバンプ29はコイル接点21のテーパ状小径コイ
ル部211の上端に接触するに到る。フレームを更に回
動してIC28を下向きに押圧すると、IC28の下面
はフロート20を下向きに変位しながらバンプ29はコ
イル接点21を下向きに圧縮変形し、テーパ状小径コイ
ル部211にピン端子14のテーパ部143のテーパ状
の先端が嵌合し、強く係合したところでテーパ状小径コ
イル部211の変位は停止せしめられる。同様に、下側
テーパ状小径コイル部211’にピン端子14の下側テ
ーパ部143’の先端部が嵌合し、両者は強く係合する
に到る。
The lower end of the lower tapered small-diameter coil portion 211 'is formed on the surface of the burn-in board 6 as a flat electrode 62.
When the IC 28 is pressed downward in a steady state in which the IC 28 is engaged and contacted with the
The float 20 is displaced downward while compressing the
The bump 29 of 28 comes into contact with the upper end of the tapered small-diameter coil portion 211 of the coil contact 21. When the frame is further rotated to press the IC 28 downward, the bump 29 compresses and deforms the coil contact 21 downward while the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward, and the tapered small-diameter coil portion 211 is provided with the pin terminal 14. The displacement of the tapered small-diameter coil portion 211 is stopped when the tapered tip of the tapered portion 143 is fitted and strongly engaged. Similarly, the tip end portion of the lower taper portion 143 ′ of the pin terminal 14 is fitted into the lower taper small-diameter coil portion 211 ′, and the both are strongly engaged.

【0027】ここで、IC28のバンプ29とピン端子
14のコイルストッパ145との間は、コイル接点21
がバンプ29とコイルストッパ145の間に介在してそ
の弾性復元力により両者に強く圧接することにより、良
好な電気接触が確保される。バーインボード6の平面電
極62とピン端子14のコイルストッパ145の間も下
側コイル接点21’が平面電極62とコイルストッパ1
45の間に介在してその弾性復元力により両者に強く圧
接することにより、良好な電気接触が確保される。即
ち、コイル接点21のテーパ状小径コイル部211を介
してピン端子14のテーパ部143に強く圧接すること
により密着巻き状態とされた実質上円筒状のテーパ状小
径コイル部211とピン端子14のテーパ部143とが
強く電気接続すると共に、下側コイル接点21’の下側
テーパ状小径コイル部211’を介してピン端子14の
下側テーパ部143’に強く圧接することにより密着巻
き状態とされた実質上円筒状の下側テーパ状小径コイル
部211’とピン端子14の下側テーパ部143’とが
強く電気接続する。結局、IC28のバンプ29とバー
インボード6の平面電極62の間は、密着巻き状態とさ
れた実質上円筒状のテーパ状小径コイル部211、ピン
端子14、密着巻き状態とされた実質上円筒状の下側テ
ーパ状小径コイル部211’を介して電気接続され、コ
イル接点21、21’の内の弾性コイルとして動作して
いる大径コイル部212、212’は橋絡されてバンプ
29と平面電極62の間に電気経路として存在しないの
で、高周波の電気信号におけるこのICソケットにおけ
るインダクタンス低減効果は大きく、バンプ29と平面
電極62との間の純抵抗値も低減する。
A coil contact 21 is provided between the bump 29 of the IC 28 and the coil stopper 145 of the pin terminal 14.
Is interposed between the bump 29 and the coil stopper 145 and strongly pressed against them due to its elastic restoring force, whereby good electrical contact is secured. Also between the flat electrode 62 of the burn-in board 6 and the coil stopper 145 of the pin terminal 14, the lower coil contact 21 ′ has the flat electrode 62 and the coil stopper 1.
Good electrical contact is ensured by interposing 45 and strongly pressing them due to their elastic restoring force. That is, the taper small diameter coil portion 211 of the coil contact 21 is strongly pressed into contact with the taper portion 143 of the pin terminal 14 so that the taper small diameter coil portion 211 and the pin terminal 14 are in a closely wound state. The taper portion 143 is strongly electrically connected to the taper portion 143, and the taper portion 143 ′ is strongly pressed against the taper portion 143 ′ of the pin terminal 14 via the taper small diameter coil portion 211 ′ of the bottom coil contact 21 ′ so that a tight winding state is achieved. The substantially cylindrical lower taper small-diameter coil portion 211 ′ thus formed and the lower taper portion 143 ′ of the pin terminal 14 are strongly electrically connected. After all, between the bump 29 of the IC 28 and the plane electrode 62 of the burn-in board 6, the substantially cylindrical tapered small-diameter coil portion 211 in the close-wound state, the pin terminal 14, and the substantially cylindrical shape in the close-wound state. The large-diameter coil portions 212 and 212 ′, which are electrically connected through the lower tapered small-diameter coil portion 211 ′ and operate as elastic coils of the coil contacts 21 and 21 ′, are bridged to the bump 29 and the plane. Since it does not exist as an electric path between the electrodes 62, the effect of reducing the inductance in this IC socket for a high frequency electric signal is large, and the pure resistance value between the bump 29 and the planar electrode 62 is also reduced.

【0028】そして、バーインボード6側にピン端子挿
入のスルーホール電極を形成せず、これを平面電極62
として下側テーパ状小径コイル部211’を係合接触す
る構成を採用することにより、ピン端子14が取り扱い
中に変形してバーインボードに対するICソケットの挿
入を困難にするという不都合は本来的に解消され、バー
インボード6の平面電極62周辺における配線設計の自
由度を増す。また、バーインボード6に対するICソケ
ットの取り付け固定は、そのベース4の突出部46をバ
ーインボード6のソケット嵌合孔61に嵌合させ、図示
されていないベース外側部にてネジ留めによりボードに
固定することにより行われ、ピン端子14をバーインボ
ード6に半田付けすることを要しないので、ICソケッ
トの取り付け取り外しは極く簡単容易である。
Then, the through-hole electrode for inserting the pin terminal is not formed on the burn-in board 6 side, and this is used as the flat electrode 62.
By adopting a configuration in which the lower tapered small-diameter coil portion 211 ′ is engaged and contacted with, the inconvenience that the pin terminal 14 is deformed during handling and it is difficult to insert the IC socket into the burn-in board is essentially eliminated. Thus, the degree of freedom in wiring design around the plane electrode 62 of the burn-in board 6 is increased. Further, the IC socket is fixedly attached to the burn-in board 6 by fitting the projecting portion 46 of the base 4 into the socket fitting hole 61 of the burn-in board 6 and fixing the IC socket to the board by screwing at an outside portion of the base not shown. Since it is not necessary to solder the pin terminal 14 to the burn-in board 6, it is extremely easy and easy to attach and detach the IC socket.

【0029】図2を参照して、先の実施例の変形例を説
明する。この変形例においては、ガイド板15の下面全
面に柔軟性異方導電性接着シート50を接合し、コイル
接点21の下端部とピン端子14の中間の膨出したスト
ッパ145の上面との間に介在させる。下側ガイド板1
5’にも、その上面全面に下側柔軟性異方導電性接着シ
ート50’を接合し、下側コイル接点21’の上端部と
ピン端子14の中間の膨出したストッパ145の下面の
間に介在させる。この場合、柔軟性異方導電性接着シー
ト50、50’には、ICのバンプ29の配列ピッチと
同一ピッチでマトリクス状にピン端子挿通孔を形成して
おく。
A modification of the above embodiment will be described with reference to FIG. In this modified example, the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is bonded to the entire lower surface of the guide plate 15, and the space between the lower end of the coil contact 21 and the upper surface of the bulged stopper 145 in the middle of the pin terminal 14 is joined. Intervene. Lower guide plate 1
5'is also bonded to the lower flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 'on the entire upper surface thereof, and between the upper end of the lower coil contact 21' and the lower surface of the bulging stopper 145 in the middle of the pin terminal 14. Intervene. In this case, pin terminal insertion holes are formed in a matrix in the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50, 50 'at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC.

【0030】図2はIC28を下向きに押圧した状態を
示しており、このIC28の下向きの押圧状態において
は、柔軟性異方導電性接着シート50はコイル接点21
の下端部とピン端子14のストッパ145の上面との間
に圧縮挟持されて両者間の電気接続を確実にする。そし
て、下側柔軟性異方導電性接着シート50’は下側コイ
ル接点21’の上端部とピン端子14のストッパ145
の下面との間に圧縮挟持されて両者間の電気接続を確実
にする。即ち、コイル接点21および下側コイル接点2
1’、ピン端子14のストッパ145部分の製造のバラ
ツキに起因して両者間の機械的接触が不充分となって適
正な電気接続が保証されない場合も生ずるが、この機械
的接触の不充分さは両者間に柔軟性異方導電性接着シー
ト50を介在させることにより吸収解消される。
FIG. 2 shows a state in which the IC 28 is pressed downward, and in the downward pressed state of the IC 28, the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 has the coil contact 21.
It is compressed and sandwiched between the lower end of the pin and the upper surface of the stopper 145 of the pin terminal 14 to ensure electrical connection between the two. The lower flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 ′ is provided with the upper end of the lower coil contact 21 ′ and the stopper 145 of the pin terminal 14.
It is compressed and sandwiched between the lower surface and the lower surface to ensure an electrical connection between the two. That is, the coil contact 21 and the lower coil contact 2
1 ', the mechanical contact between the stopper terminals 145 of the pin terminals 14 may be insufficient due to manufacturing variations, and proper electrical connection may not be guaranteed. However, this mechanical contact is insufficient. The absorption is eliminated by interposing a flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 between them.

【0031】この発明の他の実施例を図3を参照して説
明する。この実施例において、図9の先行例と共通する
部材には共通する参照符号を付与している。図3におい
て、ピン端子14の中間部の膨出したストッパ145の
下側のピン接触部142の径は、ストッパ145の上側
のテーパ部143の径と比較して大径に構成されてい
る。30は第2のガイド板である。この第2のガイド板
30には、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピ
ッチでマトリクス状にコイル接点挿通孔301を形成し
ており、コイル接点21のテーパ状小径コイル部211
の径に対応してガイド15のコイル接点挿通孔151の
径と比較して小径に形成されている。この第2のガイド
板30をガイド15と併せて使用することにより、コイ
ル接点21はその全長に亘って長さ方向の直線性を安定
に保証される。
Another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, common reference numerals are given to members common to the preceding example of FIG. In FIG. 3, the diameter of the lower pin contact portion 142 of the bulging stopper 145 in the middle portion of the pin terminal 14 is larger than the diameter of the upper tapered portion 143 of the stopper 145. Reference numeral 30 is a second guide plate. The second guide plate 30 has coil contact insertion holes 301 formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28, and the tapered small-diameter coil portion 211 of the coil contact 21.
The diameter is smaller than that of the coil contact insertion hole 151 of the guide 15 corresponding to the diameter of By using this second guide plate 30 together with the guide 15, the coil contact 21 is stably assured of linearity in the longitudinal direction over its entire length.

【0032】ここで、図3はベース4の突出部46をバ
ーインボード6のソケット嵌合孔61に嵌合、固定し、
IC28を下向きに押圧したIC測定状態にあるところ
を示している。定常状態においては、ピン端子14の大
径のピン接触部142の下端部はバーインボード6の表
面に形成される平面電極62に係合接触した状態にあ
る。ここで、IC28を下向きに押圧すると、IC28
の下面はフロートスプリング45を圧縮しながらフロー
ト20を下向きに変位して、IC28のバンプ29はコ
イル接点21のテーパ状小径コイル部211の上端に接
触するに到る。フレームを更に回動してIC28を下向
きに押圧すると、IC28の下面はフロート20を下向
きに変位しながらバンプ29はコイル接点21を下向き
に圧縮変形し、テーパ状小径コイル部211にピン端子
14のテーパ部143のテーパ状の先端が嵌合して強く
係合したところでテーパ状小径コイル部211の変位は
停止せしめられる。これにより、ピン端子14の大径の
ピン接触部142もバーインボード6の平面電極62に
係合接触するに到る。
Here, in FIG. 3, the projecting portion 46 of the base 4 is fitted and fixed in the socket fitting hole 61 of the burn-in board 6,
It shows a state where the IC 28 is pressed downward and is in an IC measurement state. In the steady state, the lower end of the large-diameter pin contact portion 142 of the pin terminal 14 is in contact with the flat electrode 62 formed on the surface of the burn-in board 6. Here, when the IC 28 is pressed downward, the IC 28
The lower surface of the IC moves the float 20 downward while compressing the float spring 45, and the bump 29 of the IC 28 comes into contact with the upper end of the tapered small-diameter coil portion 211 of the coil contact 21. When the frame is further rotated to press the IC 28 downward, the bump 29 compresses and deforms the coil contact 21 downward while the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward, and the tapered small-diameter coil portion 211 is provided with the pin terminal 14. The displacement of the tapered small-diameter coil portion 211 is stopped when the tapered tip of the tapered portion 143 is fitted and strongly engaged. As a result, the large-diameter pin contact portion 142 of the pin terminal 14 also comes into engagement contact with the planar electrode 62 of the burn-in board 6.

【0033】ここで、IC28のバンプ29とピン端子
14のコイルストッパ145との間は、コイル接点21
がバンプ29とコイルストッパ145の間に介在してそ
の弾性復元力により両者に強く圧接することにより、良
好な電気接触が確保される。そして、ピン端子14の大
径のピン接触部142とバーインボード6の平面電極6
2の間も良好な電気接触が確保される。即ち、コイル接
点21のテーパ状小径コイル部211を介してピン端子
14のテーパ部143に強く圧接することにより密着巻
き状態とされた実質上円筒状のテーパ状小径コイル部2
11とピン端子14のテーパ部143とが強く電気接続
すると共にピン端子14の大径のピン接触部142とバ
ーインボード6の平面電極62の間も強く電気接続する
ことにより、結局、IC28のバンプ29とバーインボ
ード6の平面電極62の間は、密着巻き状態とされた実
質上円筒状のテーパ状小径コイル部211とピン端子1
4とを介して電気接続され、コイル接点21の内の弾性
コイルとして動作している大径コイル部212は橋絡さ
れてバンプ29と平面電極62の間に電気経路として存
在しないので、高周波の電気信号におけるこのICソケ
ットにおけるインダクタンス低減効果は大きく、バンプ
29と平面電極62との間の純抵抗値も低減する。
A coil contact 21 is provided between the bump 29 of the IC 28 and the coil stopper 145 of the pin terminal 14.
Is interposed between the bump 29 and the coil stopper 145 and strongly pressed against them due to its elastic restoring force, whereby good electrical contact is secured. The large diameter pin contact portion 142 of the pin terminal 14 and the flat electrode 6 of the burn-in board 6 are
Good electrical contact is also ensured between the two. That is, the taper small diameter coil portion 2 of the coil contact 21 is pressed tightly to the taper portion 143 of the pin terminal 14 so as to be tightly wound to form a substantially cylindrical taper small diameter coil portion 2.
11 and the tapered portion 143 of the pin terminal 14 are strongly electrically connected, and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14 having a large diameter and the flat electrode 62 of the burn-in board 6 are also strongly electrically connected. Between the 29 and the flat electrode 62 of the burn-in board 6, the substantially cylindrical tapered small-diameter coil portion 211 and the pin terminal 1 which are closely wound.
4, the large-diameter coil portion 212, which is electrically connected via the coil contact 21 and operates as an elastic coil, is bridged and does not exist as an electric path between the bump 29 and the plane electrode 62. The effect of reducing the inductance in this IC socket for electric signals is great, and the pure resistance value between the bump 29 and the plane electrode 62 is also reduced.

【0034】そして、先の実施例と同様に、この実施例
も、バーインボード6側にピン端子挿入のスルーホール
電極を形成せずにこれを平面電極62とし、これにテー
パ部143と比較して大径のピン接触部142を係合接
触する構成を採用することにより、ピン端子14が取り
扱い中に変形するという不都合は解消され、バーインボ
ード6の平面電極62周辺における配線設計の自由度を
増す。また、バーインボード6に対するICソケットの
取り付け固定はそのベース4の突出部46をバーインボ
ード6のソケット嵌合孔61に嵌合することにより行わ
れ、ピン端子14をバーインボード6に半田付けするこ
とを要しないので、ICソケットの取り付け取り外しは
極く簡単容易である。
As in the previous embodiment, in this embodiment as well, the through-hole electrode for inserting the pin terminal is not formed on the burn-in board 6 side to form the flat electrode 62, which is compared with the tapered portion 143. By adopting a configuration in which the pin contact portion 142 having a large diameter is engaged and contacted with each other, the inconvenience that the pin terminal 14 is deformed during handling is solved, and the degree of freedom in wiring design around the plane electrode 62 of the burn-in board 6 is eliminated. Increase. The IC socket is fixedly attached to the burn-in board 6 by fitting the projecting portion 46 of the base 4 into the socket fitting hole 61 of the burn-in board 6, and soldering the pin terminal 14 to the burn-in board 6. It is extremely easy and easy to attach and detach the IC socket because it does not require.

【0035】図4を参照して、図3の実施例の変形例を
説明する。この変形例においては、ピン端子14のスト
ッパ145の上面のそれぞれに柔軟性導電性接着リング
500を接合し、コイル接点21の下端部とストッパ1
45の上面との間に介在させる。この場合、柔軟性導電
性接着リング500には、中心にピン端子挿通孔を形成
しておく。図4はIC28を下向きに押圧した状態を示
しており、このIC28の下向きの押圧状態において、
柔軟性導電性接着リング500はコイル接点21の下端
部とストッパ145の上面との間に圧縮挟持されて両者
間の電気接続を確実にする。即ち、コイル接点21およ
びピン端子14のストッパ145部分の製造のバラツキ
に起因して両者間の機械的接触が不充分となって適正な
電気接続が保証されない場合も生ずるが、この機械的接
触の不充分さは両者間に柔軟性導電性接着リング500
を介在させることにより吸収解消される。
A modification of the embodiment shown in FIG. 3 will be described with reference to FIG. In this modification, a flexible conductive adhesive ring 500 is joined to each of the upper surfaces of the stoppers 145 of the pin terminals 14, and the lower end of the coil contact 21 and the stopper 1 are joined together.
It is interposed between the upper surface of 45. In this case, the flexible conductive adhesive ring 500 has a pin terminal insertion hole formed in the center thereof. FIG. 4 shows a state in which the IC 28 is pressed downward, and in the downward pressed state of the IC 28,
The flexible conductive adhesive ring 500 is compressed and sandwiched between the lower end of the coil contact 21 and the upper surface of the stopper 145 to ensure an electrical connection between the two. That is, the mechanical contact between the coil contact 21 and the stopper 145 of the pin terminal 14 may be insufficient due to manufacturing variations, and proper electrical connection may not be guaranteed. Insufficiency is due to the flexible conductive adhesive ring 500 between the two
The absorption is canceled by interposing.

【0036】図3および図4の実施例は、先の図1およ
び図2の実施例と比較して、コイル接点21の他に下側
コイル接点21’を使用しない点でICソケット全体の
構成が簡略化されて、ICソケット製造コストの観点か
ら好適な実施例である。そして、図4の実施例は柔軟性
導電性接着リング500をコイル接点21の下端部とス
トッパ145の上面の間に介在させる例であるが、ガイ
ド板15に柔軟性異方導電性接着シート50を接合する
実施例と比較して柔軟性異方導電性接着材の使用量を大
きく削減してICソケットの製造コストダウンにつなが
る。更に、柔軟性導電性接着リング500がピン端子1
4に接合一体化されているところから、ピン端子14を
単品状態でコイル接点21と組み立てることができ、I
Cソケットの組み立て作業を簡単化することができる。
The embodiment shown in FIGS. 3 and 4 is different from the previous embodiment shown in FIGS. 1 and 2 in that the lower coil contact 21 'other than the coil contact 21 is not used. Is a preferred embodiment from the viewpoint of IC socket manufacturing cost. 4 is an example in which the flexible conductive adhesive ring 500 is interposed between the lower end of the coil contact 21 and the upper surface of the stopper 145, the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is attached to the guide plate 15. The amount of the flexible anisotropic conductive adhesive used is greatly reduced as compared with the embodiment in which the IC socket is joined, which leads to a reduction in the manufacturing cost of the IC socket. Further, the flexible conductive adhesive ring 500 has the pin terminal 1
4, the pin terminal 14 can be assembled with the coil contact 21 as a single product, and
The assembling work of the C socket can be simplified.

【0037】図5ないし図7を参照してこの発明の更な
る他の実施例を説明する。図5はICソケットを未だバ
ーインボード側に取り付けない未使用の状態を示す図、
図6はICソケットをバーインボード側に取り付けたと
ころを示す図、図7はICの測定状態を示す図である。
この実施例は、図3の実施例において第2のガイド板3
0を省略してガイド15のコイル接点挿通孔151に段
部153を形成することにより、コイル接点挿通孔15
1をコイル接点21のテーパ状小径コイル部211の径
に対応する小径部分と大径コイル部212の径に対応す
る大径部分より成るものとした例である。ガイド15の
コイル接点挿通孔151をこの通りに構成することによ
り、コイル接点21はその全長に亘って長さ方向の直線
性を安定に保証される。
Still another embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 5 is a view showing an unused state in which the IC socket is not yet attached to the burn-in board side,
FIG. 6 is a diagram showing the IC socket attached to the burn-in board side, and FIG. 7 is a diagram showing the IC measurement state.
This embodiment corresponds to the second guide plate 3 in the embodiment of FIG.
By omitting 0 and forming the step portion 153 in the coil contact insertion hole 151 of the guide 15, the coil contact insertion hole 15
In this example, 1 is composed of a small diameter portion corresponding to the diameter of the tapered small diameter coil portion 211 of the coil contact 21 and a large diameter portion corresponding to the diameter of the large diameter coil portion 212. By configuring the coil contact insertion hole 151 of the guide 15 in this way, the coil contact 21 is stably assured of linearity in the longitudinal direction over its entire length.

【0038】図5ないし図7の実施例は、図3および図
4の実施例と比較して、ガイド15の他に第2のガイド
板30を使用しない点でICソケット全体の構成が簡略
化されて、ICソケット製造コストの観点から好適であ
る。図14を参照して第8の実施例を説明する。第8の
実施例も、先の実施例と同様の、IC28の底面にマト
リクス状に配列形成されるバンプ29をコイル接点21
を介してバーインボード6に電気機械的に接続するIC
ソケットである。コイル接点21は上側の小径コイル部
211と下側の小径コイル部211’とこれら両者の間
に一体的に介在形成される中間大径コイル部213の三
者より成る。そして、IC28のバンプ29の配列ピッ
チと同一ピッチでマトリクス状にコイル接点挿通孔15
1を形成したガイド板15を具備し、IC28のバンプ
の配列ピッチ29と同一ピッチでマトリクス状にコイル
接点挿通孔40を形成したベース4を具備し、ここで、
挿通孔40の開口端はコイル接点21の中間大径コイル
部213に対応する拡開開口部400とされている。ま
た、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチで
マトリクス状に貫通孔201を形成すると共にスプリン
グ嵌入孔204とこれに連通するフロートピン嵌合孔2
05が形成されるフロート20を具備している。44は
フロートピンであり、45はフロート20をバイアスす
るフロートスプリングである。
The embodiment shown in FIGS. 5 to 7 has a simplified overall structure of the IC socket in that the second guide plate 30 is not used in addition to the guide 15 as compared with the embodiments shown in FIGS. Therefore, it is preferable from the viewpoint of the IC socket manufacturing cost. The eighth embodiment will be described with reference to FIG. In the eighth embodiment as well, similar to the previous embodiment, the bumps 29 arrayed and formed in a matrix on the bottom surface of the IC 28 are connected to the coil contacts 21.
IC that is electromechanically connected to the burn-in board 6 via the
It is a socket. The coil contact 21 is composed of an upper small-diameter coil portion 211, a lower small-diameter coil portion 211 ', and an intermediate large-diameter coil portion 213 integrally formed therebetween. The coil contact insertion holes 15 are arranged in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28.
1 is provided with the guide plate 15 and the base 4 is provided with the coil contact insertion holes 40 formed in a matrix at the same pitch as the bump arrangement pitch 29 of the IC 28.
The open end of the insertion hole 40 is an expanded opening 400 corresponding to the intermediate large-diameter coil portion 213 of the coil contact 21. Further, the through holes 201 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28, and the spring fitting holes 204 and the float pin fitting holes 2 communicating with the spring fitting holes 204 are formed.
05 is formed on the float 20. 44 is a float pin, and 45 is a float spring that biases the float 20.

【0039】以上の第8の実施例は、先の実施例と比較
して特に異なる点は、図示される通り、コイル接点21
のコイル抵抗を低減するピン端子14をコイル接点21
内部に組み込むことをせず、その分だけ部品点数を減少
させた点である。この減少の分だけICソケット全体の
コストを低減している。仕様、形状構造にも依るが、ピ
ン端子14はコイル接点21と比較して一般に高価であ
るので、多数のコイル接点21を使用するICソケット
全体としてのピン端子14を使用しないことによるコス
ト低減効果は大きい。この第8の実施例はコイル抵抗を
低減する効果は格別期待されないとはいえ、ICソケッ
ト全体としてのコスト低減効果をより重視する場合にお
いて、充分に利用価値のあるICソケットである。そし
て、第8の実施例は、ベース4にコイル接点挿通孔40
を形成し、このコイル接点挿通孔40を、ガイド板15
に形成されるコイル接点挿通孔151とフロート20に
形成される貫通孔201に協働させることによりコイル
接点21を充分に安定して案内保持する構成を具備する
点である。即ち、コイル接点21を、上端部が中間大径
コイル部213に対応する拡開開口部400とされたフ
ロート20のコイル接点挿通孔40と、ガイド板15の
コイル接点挿通孔151と、フロート20の貫通孔20
1に挿通組み込むことにより、中間大径コイル部213
が拡開開口部400に保持されると共にガイド板15の
下面により上向きの移動を阻止され、結局、コイル接点
21は安定して保持案内されることになる。そして、ガ
イド15の他に第2のガイド板を使用しない点でICソ
ケット全体の構成を簡略化、薄型化することができる。
The eighth embodiment described above is different from the previous embodiment in that the coil contact 21 is particularly different.
To the coil contact 21 to reduce the coil resistance of the pin terminal 14
The point is that the number of parts is reduced by that amount without being incorporated inside. The cost of the IC socket as a whole is reduced by this decrease. Although the pin terminal 14 is generally more expensive than the coil contact 21 depending on the specifications and the shape and structure, the cost reduction effect by not using the pin terminal 14 as the whole IC socket using a large number of coil contacts 21 Is big. Although the eighth embodiment is not particularly expected to have the effect of reducing the coil resistance, it is an IC socket that is sufficiently useful when the cost reduction effect of the entire IC socket is more important. Then, in the eighth embodiment, the coil contact insertion hole 40 is formed in the base 4.
To form the coil contact insertion hole 40 in the guide plate 15
The coil contact insertion hole 151 formed in the above and the through hole 201 formed in the float 20 are made to cooperate with each other so as to guide and hold the coil contact 21 sufficiently stably. That is, the coil contact 21 has a coil contact insertion hole 40 of the float 20, the upper end of which is the expansion opening 400 corresponding to the intermediate large-diameter coil portion 213, the coil contact insertion hole 151 of the guide plate 15, and the float 20. Through hole 20
The intermediate large-diameter coil portion 213
Is held in the expanding opening portion 400 and is prevented from moving upward by the lower surface of the guide plate 15, so that the coil contact 21 is stably held and guided. Further, since the second guide plate other than the guide 15 is not used, the overall structure of the IC socket can be simplified and thinned.

【0040】図15および図16を参照して第9の実施
例を説明する。図15はICソケットとバーインボード
の全体を示す図であり、図15(a)は押さえ板なしで
フロート上昇した状態でカバーを閉じたところを示す
図、図15(b)はフロートを降下した状態を示す図、
図15(b)はICを装着してフロートを降下した状態
を示す図である。図16は図15において大きな丸印○
で包囲された部材を拡大して示す図である。第9の実施
例も、ICの底面にマトリクス状に配列形成されるバン
プをコイル接点を介してバーインボードに電気機械的に
接続するICソケットである。第9の実施例の第8の実
施例と異なる点は、第8の実施例と同様にベースにコイ
ル接点挿通孔は形成するが、格別ガイド板を使用するこ
となしに、このコイル接点挿通孔とフロートに形成され
る貫通孔のみによりコイル接点を安定して保持案内する
構成を具備する点である。
The ninth embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 15 is a diagram showing the entire IC socket and burn-in board. FIG. 15 (a) is a diagram showing the cover closed with the float raised without a holding plate, and FIG. 15 (b) lowered the float. Figure showing the state,
FIG. 15B is a diagram showing a state in which the IC is mounted and the float is lowered. 16 is a large circle in FIG.
It is a figure which expands and shows the member enclosed by. The ninth embodiment is also an IC socket in which bumps arranged in a matrix on the bottom surface of the IC are electromechanically connected to the burn-in board via coil contacts. The ninth embodiment differs from the eighth embodiment in that the coil contact insertion hole is formed in the base as in the eighth embodiment, but this coil contact insertion hole is formed without using a special guide plate. And that the coil contact is stably held and guided only by the through hole formed in the float.

【0041】具体的に説明するに、コイル接点21は上
側の小径コイル部211と下側の大径コイル部212の
2段径に構成している。そして、IC28のバンプの配
列ピッチ29と同一ピッチでマトリクス状にコイル接点
挿通孔40を形成したベース4を具備している。ここ
で、この実施例のコイル接点挿通孔40は上側の小径孔
部401と下側の大径孔部402の2段径に構成してい
る。また、フロート20を具備しいる。図15に明示さ
れてはいないが、このフロートも図14に示されるフロ
ートと同様の構成を有し、IC28のバンプ29の配列
ピッチと同一ピッチでマトリクス状に貫通孔201を形
成すると共にスプリング嵌入孔204とこれに連通する
フロートピン嵌合孔205が形成されるフロート20を
具備している。44はフロートピンであり、45はフロ
ート20をバイアスするフロートスプリングである。
More specifically, the coil contact 21 has a two-step diameter including an upper small-diameter coil portion 211 and a lower large-diameter coil portion 212. Further, the base 4 having the coil contact insertion holes 40 formed in a matrix at the same pitch as the bump arrangement pitch 29 of the IC 28 is provided. Here, the coil contact insertion hole 40 of this embodiment has a two-step diameter of an upper small diameter hole portion 401 and a lower large diameter hole portion 402. Further, the float 20 is provided. Although not explicitly shown in FIG. 15, this float also has a configuration similar to that of the float shown in FIG. 14, and the through holes 201 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28 and the spring fitting is performed. The float 20 is provided with a hole 204 and a float pin fitting hole 205 communicating with the hole 204. 44 is a float pin, and 45 is a float spring that biases the float 20.

【0042】22は、コイル接点21を保持するゴム弾
性を有する中間フィルムシートである。ゴム弾性を有す
る中間フィルムシート22に、IC28のバンプ29の
配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に開孔221を
形成する。開孔221は、コイル接点21のテーパ状の
小径コイル部211の外径より僅かに小さい直径の開孔
とされている。これらの開孔221には径方向の切り込
み222を形成している。中間フィルムシート22の開
孔221に、シート下側からコイル接点21の小径コイ
ル部211を挿入することにより、切り込み222を形
成された開孔221が拡開せしめられて、コイル接点2
1は中間フィルムシート22に保持される。この保持力
は、コイル接点21の自重と外部から加えられる振動と
によりコイル接点21が中間フィルムシート22から脱
落しない程度の保持力に設定される。ところで、ICソ
ケットをバーンインボード6に取り付けるに際して、コ
イル接点2を下側より上向きに押し上げる力が発生す
る。この力を中間フィルムシート22により阻止するこ
とはできないが、上述した通り、ベース4のコイル接点
挿通孔40を小径孔部401と大径孔部402の2段径
に構成しておくことにより、同様に、小径コイル部21
1と大径コイル部212の2段径に構成したことによ
り、大径コイル部212が小径孔部401と大径孔部4
02の境界部において受け止められ、そして、ガイド板
15を使用しない点で直前の第8の実施例と比較して更
にICソケット全体の構成を簡略化、薄型化することが
できる。
Reference numeral 22 is an intermediate film sheet having rubber elasticity for holding the coil contact 21. Openings 221 are formed in a matrix in the intermediate film sheet 22 having rubber elasticity at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. The opening 221 has a diameter slightly smaller than the outer diameter of the tapered small-diameter coil portion 211 of the coil contact 21. Radial cuts 222 are formed in these openings 221. By inserting the small-diameter coil portion 211 of the coil contact 21 into the opening 221 of the intermediate film sheet 22 from the lower side of the sheet, the opening 221 formed with the notch 222 is expanded and the coil contact 2 is formed.
1 is held on the intermediate film sheet 22. The holding force is set to such a level that the coil contact 21 does not fall off the intermediate film sheet 22 due to the weight of the coil contact 21 and the vibration applied from the outside. By the way, when the IC socket is attached to the burn-in board 6, a force is generated to push the coil contact 2 upward from below. This force cannot be blocked by the intermediate film sheet 22, but as described above, by configuring the coil contact insertion hole 40 of the base 4 to have a two-step diameter of the small diameter hole portion 401 and the large diameter hole portion 402, Similarly, the small-diameter coil portion 21
1 and the large-diameter coil portion 212, the large-diameter coil portion 212 includes the small-diameter hole portion 401 and the large-diameter hole portion 4.
Since it is received at the boundary of No. 02, and the guide plate 15 is not used, the overall structure of the IC socket can be further simplified and thinned as compared with the immediately preceding eighth embodiment.

【0043】なお、図15において、7はICソケット
のカバーであり、70は押さえ板である。71はカバー
固定軸であり、カバー7を解放する向きにバイアスする
バネによりバイアスされた状態で、カバー7をICソケ
ット本体に軸支している。72はカバー係止部材であ
る。ここで、カバー係止部材72は外してカバー7を解
放し、フロート20の中央部にIC28を装着してか
ら、カバー7を回動して押さえ板70を介してIC28
を押圧し、カバー係止部材72を本体に係止することに
より、IC28はバーインボード6に電気機械的に接続
される。
In FIG. 15, 7 is a cover of the IC socket, and 70 is a holding plate. Reference numeral 71 denotes a cover fixing shaft that pivotally supports the cover 7 on the IC socket main body in a state of being biased by a spring that biases the cover 7 in a releasing direction. 72 is a cover locking member. Here, the cover locking member 72 is disengaged to release the cover 7, the IC 28 is attached to the center of the float 20, and then the cover 7 is rotated to move the IC 28 via the pressing plate 70.
The IC 28 is electromechanically connected to the burn-in board 6 by pressing and locking the cover locking member 72 to the main body.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上の通りであって、この発明の図1お
よび図2の実施例によれば、バーインボードにピン端子
挿入のスルーホール電極を形成せずに、これを平面電極
として下側テーパ状小径コイル部を係合接触する構成を
採用することにより、ピン端子が取り扱い中に変形して
バーインボードに対するICソケットの挿入を困難にす
るという不都合は本来的に解消され、バーインボードの
平面電極周辺における配線設計の自由度を増す。そし
て、バーインボードに対するICソケットの取り付け固
定はそのベースをバーインボードのソケット嵌合孔に嵌
合することにより行われ、ピン端子をバーインボードに
半田付けすることを要しないので、ICソケットの取り
付け取り外しは極く簡単容易になる。
As described above, according to the embodiment of FIGS. 1 and 2 of the present invention, the through hole electrode for inserting the pin terminal is not formed on the burn-in board, and this is used as the planar electrode on the lower side. By adopting a configuration in which the tapered small-diameter coil portion is engaged and contacted, the inconvenience that the pin terminal is deformed during handling and makes it difficult to insert the IC socket into the burn-in board is essentially eliminated, and the flat surface of the burn-in board is eliminated. Increase the flexibility of wiring design around the electrodes. The mounting and fixing of the IC socket to the burn-in board is performed by fitting the base into the socket fitting hole of the burn-in board, and it is not necessary to solder the pin terminals to the burn-in board. Is very easy and easy.

【0045】図3および図4の実施例によれば、先の実
施例と同様に、バーインボードにピン端子挿入のスルー
ホール電極を形成せずにこれを平面電極とし、これにテ
ーパ部と比較して大径のピン接触部を係合接触する構成
を採用することにより、ピン端子が取り扱い中に変形す
るという不都合は解消され、バーインボードの平面電極
周辺における配線設計の自由度を増す。そして、バーイ
ンボードに対するICソケットの取り付け固定はそのベ
ースをバーインボードのソケット嵌合孔に嵌合すること
により行われ、ピン端子をバーインボードに半田付けす
ることを要しないので、ICソケットの取り付け取り外
しは極く簡単容易である。更に、先の図1および図2の
実施例と比較して、コイル接点の他に下側コイル接点を
使用しない点でICソケット全体の構成が簡略化され
て、ICソケット製造コストの観点から好適である。
According to the embodiment shown in FIGS. 3 and 4, as in the previous embodiment, the through hole electrode for inserting the pin terminal is not formed on the burn-in board to form a flat electrode, which is compared with the tapered portion. By adopting a configuration in which the pin contact portion having a large diameter is engaged and contacted, the inconvenience that the pin terminal is deformed during handling is eliminated, and the degree of freedom in wiring design around the plane electrode of the burn-in board is increased. The mounting and fixing of the IC socket to the burn-in board is performed by fitting the base into the socket fitting hole of the burn-in board, and it is not necessary to solder the pin terminals to the burn-in board. Is very easy and easy. Further, as compared with the above-described embodiments of FIGS. 1 and 2, the configuration of the entire IC socket is simplified in that no lower coil contact other than the coil contact is used, which is preferable from the viewpoint of IC socket manufacturing cost. Is.

【0046】図5および図7の実施例によれば、図3お
よび図4の実施例において第2のガイド板を省略してガ
イドのコイル接点挿通孔に段部を形成してコイル接点挿
通孔をコイル接点のテーパ状小径コイル部の径に対応す
る小径部分と大径コイル部の径に対応する大径部分より
成るものとすることにより、ガイド板い枚でコイル接点
はその全長に亘って長さ方向の直線性を安定に保証され
る。ガイドの他に第2のガイド板を使用しない分、IC
ソケット全体の構成が簡略化され、ICソケット製造コ
ストの観点から好都合である。そして、図14の実施例
によれば、コイル接点のコイル抵抗を低減するピン端子
をコイル接点の内部に組み込むことをせず、その分だけ
部品点数を減少させた点で、ICソケット全体のコスト
を低減している。そして、ガイドの他に第2のガイド板
を使用しない点でICソケット全体の構成を簡略化、薄
型化することができる。
According to the embodiment shown in FIGS. 5 and 7, the second guide plate is omitted in the embodiment shown in FIGS. 3 and 4, and a step portion is formed in the coil contact insertion hole of the guide to form the coil contact insertion hole. Is composed of a small-diameter portion corresponding to the diameter of the tapered small-diameter coil portion of the coil contact and a large-diameter portion corresponding to the diameter of the large-diameter coil portion. Stable linearity in the length direction is guaranteed. Since the second guide plate is not used other than the guide, IC
The structure of the entire socket is simplified, which is convenient from the viewpoint of the IC socket manufacturing cost. According to the embodiment of FIG. 14, the pin terminal for reducing the coil resistance of the coil contact is not incorporated inside the coil contact, and the number of parts is reduced by that much. Has been reduced. Further, since the second guide plate is not used other than the guide, the configuration of the entire IC socket can be simplified and thinned.

【0047】また、図15および図16の実施例によれ
ば、コイル接点のコイル抵抗を低減するピン端子をコイ
ル接点の内部に組み込むことをせず、その分だけ部品点
数を減少させた点で、ICソケット全体のコストを低減
している。そして、ガイド板を使用しない点で直前の図
14の実施例と比較して更にICソケット全体の構成を
簡略化、薄型化することができる。
Further, according to the embodiments shown in FIGS. 15 and 16, the pin terminal for reducing the coil resistance of the coil contact is not incorporated inside the coil contact, and the number of parts is reduced accordingly. , The cost of the entire IC socket is reduced. Further, compared to the immediately preceding embodiment of FIG. 14 in that no guide plate is used, the overall structure of the IC socket can be further simplified and made thinner.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例を説明する図。FIG. 1 is a diagram illustrating an example.

【図2】実施例の変形例を説明する図。FIG. 2 is a diagram illustrating a modified example of the embodiment.

【図3】他の実施例を説明する図。FIG. 3 is a diagram illustrating another embodiment.

【図4】他の実施例の変形例を説明する図。FIG. 4 is a diagram illustrating a modified example of another embodiment.

【図5】更なる他の実施例を説明する図。FIG. 5 is a diagram illustrating still another embodiment.

【図6】更なる他の実施例の組み立て状態を示す図。FIG. 6 is a view showing an assembled state of still another embodiment.

【図7】更なる他の実施例の測定状態を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a measurement state of yet another embodiment.

【図8】先行例を説明する図。FIG. 8 is a diagram illustrating a preceding example.

【図9】先行例の測定状態を示す図。FIG. 9 is a diagram showing a measurement state of a prior art example.

【図10】先行例の変形例を説明する図。FIG. 10 is a diagram illustrating a modified example of the preceding example.

【図11】他の先行例を説明する図。FIG. 11 is a diagram illustrating another prior art example.

【図12】他の先行例の測定状態を示す図。FIG. 12 is a diagram showing a measurement state of another prior art example.

【図13】他の先行例の変形例を説明する図。FIG. 13 is a diagram illustrating a modified example of another preceding example.

【図14】第8の実施例を説明する図。FIG. 14 is a diagram illustrating an eighth embodiment.

【図15】第9の実施例を説明する図。FIG. 15 is a diagram illustrating a ninth embodiment.

【図16】第9の実施例の詳細を説明する図。FIG. 16 is a diagram for explaining the details of the ninth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

14 ピン端子 21 コイル接点 211’テーパ状小径コイル部 28 IC 29 バンプ 6 バーインボ
ード 62 平面電極
14-pin terminal 21 Coil contact 211 'Tapered small diameter coil 28 IC 29 Bump 6 Burn-in board 62 Planar electrode

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01R 33/76 H01R 33/76 505Z 505 23/68 303E Fターム(参考) 2G003 AA07 AC01 AD01 AD09 AG01 AG08 AG12 AG16 2G011 AA17 AB01 AB06 AB07 AC31 AE22 AF02 AF07 5E023 AA04 AA22 BB17 BB24 CC02 DD26 EE02 EE16 EE18 FF07 HH06 5E024 CA12 CA18 CB05 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01R 33/76 H01R 33/76 505Z 505 23/68 303E F term (reference) 2G003 AA07 AC01 AD01 AD09 AG01 AG08 AG12 AG16 2G011 AA17 AB01 AB06 AB07 AC31 AE22 AF02 AF07 5E023 AA04 AA22 BB17 BB24 CC02 DD26 EE02 EE16 EE18 FF07 HH06 5E024 CA12 CA18 CB05

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ICの底面にマトリクス状に配列形成さ
れるバンプをピン端子とコイル接点とを介してバーイン
ボードに電気機械的に接続するICソケットにおいて、 バーインボードの表面に形成される平面電極に係合接触
するコイル接点のテーパ状小径コイル部の先端部をピン
端子の先端部より突出せしめたことを特徴とするICソ
ケット。
1. A flat electrode formed on the surface of a burn-in board in an IC socket in which bumps arrayed and formed in a matrix on the bottom surface of the IC are electromechanically connected to the burn-in board through pin terminals and coil contacts. An IC socket characterized in that the tip of the tapered small-diameter coil portion of the coil contact that engages and contacts with is protruded from the tip of the pin terminal.
【請求項2】 請求項1に記載されるICソケットにお
いて、 中間部を膨出したストッパとし、上半部をテーパ部と
し、下半部を下側テーパ部とするピン端子を具備し、 上半部の先端をテーパ状に捲回したテーパ状小径コイル
部とすると共に下半部を大径コイル部とするコイル接点
を具備し、 下半部の先端をテーパ状に捲回した下側テーパ状小径コ
イル部とすると共に上半部を下側大径コイル部とする下
側コイル接点を具備し、 コイル接点の内側にテーパ部を挿通すると共に下側コイ
ル接点の内側に下側テーパ部を挿通した状態でコイル接
点と下側コイル接点をバンプと平面電極の間に介在させ
たことを特徴とするICソケット。
2. The IC socket according to claim 1, further comprising: a pin terminal having a bulged stopper at an intermediate portion, a tapered portion at an upper half portion, and a lower tapered portion at a lower half portion, The lower part of the taper has a taper-shaped small-diameter coil part with the tip of the half part wound in a taper shape and a coil contact with the large-diameter part of the bottom half part. It has a lower coil contact with a small diameter coil part and an upper half part as the lower large diameter coil part.The taper part is inserted inside the coil contact and the lower taper part is inside the lower coil contact. An IC socket characterized in that a coil contact and a lower coil contact are interposed between a bump and a flat electrode when inserted.
【請求項3】 請求項2に記載されるICソケットにお
いて、 何れのテーパ状小径コイル部およびテーパ部も、テーパ
状小径コイル部の内側形状とテーパ部の先端部の外側形
状をほぼ相似形とし、テーパ状小径コイル部にテーパ部
の先端を圧し込んでもテーパ部の先端が突き抜けること
がない形状寸法に形成したことを特徴とするICソケッ
ト。
3. The IC socket according to claim 2, wherein the inner shape of the tapered small diameter coil portion and the outer shape of the tip end portion of the tapered portion are substantially similar to each other in the tapered small diameter coil portion and the tapered portion. An IC socket characterized in that the tapered small-diameter coil portion is formed in a shape and dimension such that the tip of the tapered portion does not penetrate even if the tip of the tapered portion is pressed.
【請求項4】 請求項3に記載されるICソケットにお
いて、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にコイル接点挿通孔を形成したガイド板を具備し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にコイル接点挿通孔を形成したガイド板と同一の構成の
下側ガイド板を具備し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に貫通孔を形成すると共にスプリング嵌入孔とこれに連
通するフロートピン嵌合孔が形成されるフロートを具備
し、 フロートをバイアスするフロートスプリングを具備する
ことを特徴とするICソケット。
4. The IC socket according to claim 3, further comprising: a guide plate in which coil contact insertion holes are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the IC bumps, and the same arrangement pitch as the bumps of the IC. A lower guide plate having the same structure as the guide plate in which the coil contact insertion holes are formed in a matrix at a pitch is provided, and the through holes are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the IC bumps and the spring fitting holes are formed. An IC socket comprising a float having a float pin fitting hole communicating therewith, and a float spring biasing the float.
【請求項5】 請求項2ないし請求項4の内の何れかに
記載されるICソケットにおいて、 ガイド板の下面全面に柔軟性異方導電性接着シートを接
合してコイル接点の下端部とピン端子の中間の膨出した
ストッパの上面との間に介在させると共に、下側ガイド
板の上面全面に下側柔軟性異方導電性接着シートを接合
して下側コイル接点の上端部とピン端子の中間の膨出し
たストッパの下面の間に介在させたことを特徴とするI
Cソケット。
5. The IC socket according to any one of claims 2 to 4, wherein a flexible anisotropic conductive adhesive sheet is bonded to the entire lower surface of the guide plate, and the lower end of the coil contact and the pin are joined. It is interposed between the upper surface of the bulging stopper in the middle of the terminal, and the lower flexible anisotropic conductive adhesive sheet is bonded to the entire upper surface of the lower guide plate to connect the upper end of the lower coil contact and the pin terminal. I is interposed between the lower surfaces of the bulging stoppers in the middle of
C socket.
【請求項6】 ICの底面にマトリクス状に配列形成さ
れるバンプをピン端子とコイル接点とを介してバーイン
ボードに電気機械的に接続するICソケットにおいて、 ピン端子の下半部のピン接触部を上半部のテーパ部と比
較して大径に構成し、 バーインボードの表面に形成される平面電極に係合接触
する大径のピン接触部をコイル接点の先端部より突出せ
しめたことを特徴とするICソケット。
6. An IC socket for electromechanically connecting bumps arrayed and formed in a matrix on a bottom surface of an IC to a burn-in board via pin terminals and coil contacts, in a pin contact portion of a lower half portion of the pin terminal. Has a larger diameter than the tapered portion of the upper half, and the large diameter pin contact portion that engages with the flat electrode formed on the surface of the burn-in board is made to protrude from the tip of the coil contact. Characteristic IC socket.
【請求項7】 請求項6に記載されるICソケットにお
いて、 中間部を膨出したストッパとし、上半部をテーパ部と
し、下半部をピン接触部とするピン端子を具備し、 上半部の先端をテーパ状に捲回したテーパ状小径コイル
部とすると共に下半部を大径コイル部とするコイル接点
を具備し、 コイル接点の内側にテーパ部を挿通した状態でコイル接
点とピン端子をバンプと平面電極の間に介在させたこと
を特徴とするICソケット。
7. The IC socket according to claim 6, further comprising: a pin terminal having a bulged stopper at an intermediate portion, a tapered portion at an upper half portion, and a pin contact portion at a lower half portion. The tip of the part is a taper-shaped small-diameter coil part and the lower half part is equipped with a coil contact with a large-diameter coil part.The coil contact and the pin are inserted with the taper part inserted inside the coil contact. An IC socket characterized in that a terminal is interposed between a bump and a plane electrode.
【請求項8】 請求項7に記載されるICソケットにお
いて、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にピン端子挿通孔が形成される端子ガイドを具備し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に大径コイル部の径に対応するコイル接点挿通孔を形成
したガイド板を具備し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にテーパ状小径コイル部の径に対応するコイル接点挿通
孔を形成される第2のガイド板を具備し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に貫通孔を形成すると共にスプリング嵌入孔とこれに連
通するフロートピン嵌合孔が形成されるフロートを具備
し、 フロートをバイアスするフロートスプリングを具備する
ことを特徴とするICソケット。
8. The IC socket according to claim 7, further comprising: a terminal guide having pin terminal insertion holes formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps of the IC, and the arrangement pitch of the bumps of the IC. Equipped with a guide plate in which coil contact insertion holes corresponding to the diameter of the large-diameter coil portion are formed in a matrix at the same pitch, and the diameter of the tapered small-diameter coil portion is arranged in a matrix at the same pitch as the pitch of the IC bumps. A second guide plate in which coil contact insertion holes are formed, through holes are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of IC bumps, and spring fitting holes and float pin fitting holes communicating therewith are formed. An IC socket, comprising: a float having a groove formed therein; and a float spring biasing the float.
【請求項9】 請求項6および請求項7の内の何れかに
記載されるICソケットにおいて、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にピン端子挿通孔が形成される端子ガイドを具備し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に大径コイル部の径に対応するコイル接点挿通孔を形成
したガイド板を具備し、 コイル接点挿通孔は、これに段部を形成してコイル接点
のテーパ状小径コイル部の径に対応する小径部分と大径
コイル部の径に対応する大径部分より成るものとされ、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に貫通孔を形成すると共にスプリング嵌入孔とこれに連
通するフロートピン嵌合孔が形成されるフロートを具備
し、 フロートをバイアスするフロートスプリングを具備する
ことを特徴とするICソケット。
9. The IC socket according to claim 6, further comprising: a terminal guide having pin terminal insertion holes formed in a matrix at the same pitch as an arrangement pitch of IC bumps. A guide plate having coil contact insertion holes corresponding to the diameter of the large-diameter coil portion is formed in a matrix at the same pitch as the IC bump arrangement pitch, and the coil contact insertion holes have stepped portions formed therein. The coil contact has a small diameter portion corresponding to the diameter of the tapered small diameter coil portion and a large diameter portion corresponding to the diameter of the large diameter coil portion. The through holes are arranged in a matrix at the same pitch as the IC bump arrangement pitch. And a float in which a spring pin fitting hole communicating with the spring fitting hole is formed and a float spring for biasing the float is provided. IC socket to be.
【請求項10】 請求項6ないし請求項9の内の何れか
に記載されるICソケットにおいて、 ピン端子のストッパの上面のそれぞれに柔軟性導電性接
着リングを接合してコイル接点の下端部とストッパの上
面との間に介在させたことを特徴とするICソケット。
10. The IC socket according to any one of claims 6 to 9, wherein a flexible conductive adhesive ring is joined to each of the upper surfaces of the stoppers of the pin terminals to form a lower end portion of the coil contact. An IC socket characterized by being interposed between the stopper and the upper surface.
【請求項11】 ICの底面にマトリクス状に配列形成
されるバンプをコイル接点を介してバーインボードに電
気機械的に接続するICソケットにおいて、 コイル接点は上側の小径コイル部と下側の小径コイル部
とこれら両者の間に一体的に介在形成される中間大径コ
イル部の三者より成り、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にコイル接点挿通孔を形成したガイド板を具備し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にコイル接点挿通孔を形成したベースを具備し、ここ
で、挿通孔の開口端はコイル接点の中間大径コイル部に
対応する拡開開口部とされており、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に貫通孔を形成すると共にスプリング嵌入孔とこれに連
通するフロートピン嵌合孔が形成されるフロートを具備
し、 フロートをバイアスするフロートスプリングを具備する
ことを特徴とするICソケット。
11. An IC socket in which bumps arranged in a matrix on the bottom surface of an IC are electromechanically connected to a burn-in board via coil contacts, wherein the coil contacts are an upper small-diameter coil portion and a lower small-diameter coil. And a large-diameter coil portion integrally formed between the two parts, and a guide plate having coil contact insertion holes formed in a matrix at the same pitch as the pitch of the IC bumps. , A base having coil contact insertion holes formed in a matrix at the same pitch as the bump arrangement pitch of the IC, wherein the opening end of the insertion hole is an expanded opening corresponding to the intermediate large-diameter coil portion of the coil contact. It is said that through holes are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the IC bumps, and the spring fitting holes and the float pin fitting holes communicating therewith are formed. IC socket, characterized in that comprises a float made comprises a float spring for biasing the float.
【請求項12】 ICの底面にマトリクス状に配列形成
されるバンプをコイル接点を介してバーインボードに電
気機械的に接続するICソケットにおいて、 コイル接点は上側の小径コイル部と下側の大径コイル部
の2段径に構成しており、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
にコイル接点挿通孔を形成したベースを具備し、ここ
で、コイル接点挿通孔は上側の小径孔部と下側の大径孔
部の2段径に構成しており、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に貫通孔を形成すると共にスプリング嵌入孔とこれに連
通するフロートピン嵌合孔が形成されるフロートを具備
し、 ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状
に開孔を形成たコイル接点保持用のゴム弾性を有する中
間フィルムシートを具備し、 開孔にコイル接点を挿通した状態で中間フィルムシート
をベース上面とフロートの下面の間に介在させたことを
特徴とするICソケット。
12. An IC socket in which bumps arrayed in a matrix on the bottom surface of an IC are electromechanically connected to a burn-in board via coil contacts, wherein the coil contacts have a small diameter coil portion on the upper side and a large diameter portion on the lower side. It has a two-step diameter of the coil part, and has a base in which coil contact insertion holes are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the IC bumps, where the coil contact insertion holes are the upper small diameter holes. And the large diameter holes on the lower side are formed in two steps, through holes are formed in a matrix at the same pitch as the pitch of the bumps of the IC, and the spring fitting holes and the float pin fitting holes communicating with this are formed. And an intermediate film sheet having rubber elasticity for holding coil contacts, in which openings are formed in a matrix pattern at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps of the IC. , IC socket, characterized in that while inserting the coil contacts opening and the intermediate film sheet is interposed between the lower surface of the base top surface and float.
【請求項13】 請求項12に記載されるICソケット
において、 開孔はコイル接点のテーパ状の小径コイル部の外径より
僅かに小さい直径の開孔とし、開孔には径方向の切り込
みを形成したことを特徴とするICソケット。
13. The IC socket according to claim 12, wherein the opening has a diameter slightly smaller than the outer diameter of the tapered small-diameter coil portion of the coil contact, and the opening has a radial notch. An IC socket characterized by being formed.
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