JP4257714B2 - Socket for electrical parts - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、BGA等のIC(電気部品)の電気的テストを行うために使用される電気部品用ソケット及びこの電気部品用ソケットに使用されるコンタクトシートに関する。
【0002】
【従来の技術】
本件出願人は、図15〜図16に示すような電気部品用ソケット100を既に案出し、出願している(特願平10−62228号参照)。この電気部品用ソケット100は、電気部品としてのIC101のバンプ(端子)102に対応する回路パターン(図示せず)が形成された絶縁性樹脂フィルム(コンタクトシート)103と、この絶縁性樹脂フィルム103を支持する絶縁性の樹脂製支持ボード104と、上端が前記回路パターンに接続され、下端が図外の電気的テスト回路に接続されるターミナルピンユニット105とを備えている。そして、IC101が載置される絶縁性樹脂フィルム103の背面には、シリコンゴムプレート106が配置されている。又、支持ボード104の上面には、押圧部材107がソケット本体108を介して開閉できるように取り付けられている。
【0003】
上記のような電気部品用ソケット100は、IC101が押圧部材107により下方へ押圧されると、IC101のバンプ102がシリコンゴムプレート106を弾性変形(凹ませる)させるため、シリコンゴムプレート106の弾性復元力でIC101のバンプ102と回路パターンとを所望の接触圧で接触させることができるようになっている。そして、この電気部品用ソケット100は、ターミナルピンユニット105及び回路パターンを介してIC101と図外の外部電気的テスト回路とを電気的に接続し、正確なバーンインテスト等の電気的テストを行うことができるようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記電気部品用ソケット100は、IC101の略球形のバンプ102の先端が平板状の絶縁性樹脂フィルム103の回路パターンに押圧されるため、図16(b)に示すように、柔らかい半田で形成されたバンプ102の先端102aが変形してしまう虞があった。仮に、IC101のバンプ102の先端102aが変形してしまうと、電気的テスト終了後のIC101実装時に接触不良等の不具合を生じる虞がある。
【0005】
そこで、本発明は、ICのバンプの先端がつぶれないようなコンタクトシートを備えた電気部品用ソケットを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る電気部品用ソケットは、電気部品の略球形の端子に接触する通電可能な接触子が弾性変形可能な絶縁性樹脂フィルムに形成されてなるコンタクトシートと、このコンタクトシートの前記接触子と外部電気的テスト回路とを電気的に接続する接続手段と、この接続手段と前記コンタクトシートが取り付けられる支持ボードと、前記電気部品を前記コンタクトシート側へ押圧する押圧手段と、を備えている。そして、前記コンタクトシートの絶縁性樹脂フィルムには、前記複数の端子に対応するように複数の端子受容穴が形成されている。また、この端子受容穴の開口縁には、前記接触子が前記絶縁性樹脂フィルムの表面側から裏面側まで連続するようにリング状に形成されている。また、前記コンタクトシートの裏面側には回路シートが配置されている。また、前記回路シートは、(1)前記接触子に接触し、前記回路シートを構成する絶縁性樹脂フィルムの裏面側に突出する導電性材料製の通電ピンと、(2)前記回路シートを構成する絶縁性樹脂フィルムの裏面側に形成され、前記外部電気的テスト回路に電気的に接続されるターミナルピンと接触する接続パッドと、(3)前記回路シートを構成する絶縁性樹脂フィルムの裏面側に形成され、前記接触子と前記接続パッドとを接続する回路パターンと、を有している。また、前記接続手段は、前記通電ピンと、前記接続パッドと、前記回路パターンと、前記ターミナルピンと、によって構成されている、
【0007】
このような構成の本発明によれば、電気部品の略球形の端子をリング状の接触子に受容し、略球形の端子と接触子をリング状に接触させた状態で電気部品の電気的テストが行われる。その結果、略球形の端子の先端が接触子に押圧された状態で電気部品の電気的テストが行われるようなことがなくなり、電気部品の電気的テストによって電気部品の端子の先端を変形させてしまうようなことがなくなるため、電気部品の実装時に略球形の端子の変形に起因する不具合を招くことがない。
【0009】
また、このような構成の本発明によれば、接触子がコンタクトシートに形成され、回路パターンが回路シートに形成されており、接触子と回路パターンとがそれぞれ別々に形成されるようになっているため、接触子と回路パターンを同一面に形成する場合に比較して、接続手段を容易に製作でき、ひいては電気部品用ソケットの製作が容易化する。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき詳述する。
【0015】
[第1の実施の形態]
図1〜図2に示すように、本実施の形態の電気部品用ソケット1は、絶縁性樹脂材料(例えば、ポリエーテルイミド)で板状に形成された支持ボード2と、この支持ボード2上に重ね合わせられる回路シート3と、この回路シート3上に重ね合わせられるコンタクトシート4と、このコンタクトシート4上に重ね合わせられる押圧治具5と、を備えている。尚、上記支持ボード2、回路シート3、コンタクトシート4及び押圧治具5は、ねじ6及びナット7からなる締結手段8で一体的に締め付け固定されている。
【0016】
コンタクトシート4は、図1〜図3,図8〜図10に示すように、電気部品としてのIC10のバンプ(端子)11に対応するように、複数の接触子12が絶縁性樹脂フィルム13に形成されている。この接触子12は、絶縁性樹脂フィルム13にレーザビーム等で穴あけ加工された端子受容穴14の開口縁に形成されている。そして、この接触子12は、全体が優れた導電性の材料で略リング状に形成されている。即ち、接触子12は、バンプ11に対向する面である絶縁性樹脂フィルム13の表面側に突出する表面側鍔部12aと、絶縁性樹脂フィルム13の裏面側に突出する裏面側鍔部12bと、これら鍔部12a,12bを接続する筒状部12cとからなり、図10に示すように、穴12d内にIC10のバンプ11を受容し、その穴12dの上端縁でIC10のバンプ11を支持するようになっている。このようにすれば、IC10の電気的テスト時に、柔らかいIC10のバンプ11の先端を変形させることがなく(図19(b)参照)、IC10の実装時の不具合を招くことがない。
【0017】
又、コンタクトシート4は、図1及び図8に示すように、上記接触子12の形成領域の外側位置に、ソケット本体15の下面の位置決め突起16に係合する位置決め穴17が4箇所形成されており、更にこの位置決め穴17の外側に、ねじ6の軸部を受容する穴18が4箇所形成されている。尚、コンタクトシート4は、ソケット本体15の下面の外周縁とほぼ同じ大きさに形成されており、ソケット本体15の下面と同様に矩形形状に形成されている。
【0018】
回路シート3は、図1〜図3,図6及び図7に示すように、コンタクトシート4の接触子12の裏面側鍔部12bに接触する導電性材料製の通電ピン20が絶縁性樹脂フィルム21に複数形成されている。ここで、通電ピン20は、レーザビーム等であけられた絶縁性樹脂フィルム21の穴22内に形成されており、一端(図7(b)中の上端)がコンタクトシート4の接触子12の裏面側鍔部12bに接触し、他端(図7(b)中の下端)の鍔状部20aが絶縁性樹脂フィルム21の裏面(支持ボード2に対向する面)側に突出している。
【0019】
又、回路シート3は、矩形状の絶縁性樹脂フィルム21の裏面側で且つ各端縁側に通電ピン20と同数の接続パッド23が形成されており、各接続パッド23と通電ピン20を接続する導電性材料製の回路パターン24が形成されている。ここで、接続パッド23及び回路パターン24は、絶縁性樹脂フィルム21の下面に銅で所定形状に形成された後、その銅の上にニッケルメッキされ、更にニッケルメッキの上に金,ロジウム又は半田等がメッキされることにより形成される。尚、回路シート3を構成する絶縁性樹脂フィルム21は、支持ボード2の上面2aに重なるように、支持ボード2とほぼ同じ大きさに形成されており、ソケット本体15の下面の位置決め突起16に係合する位置決め穴25が4箇所形成されると共に、ねじ6の軸部を受容する穴26が4箇所形成されている。
【0020】
支持ボード2は、図1〜図5に示すように、IC10とほぼ同じ大きさの矩形状のゴム収容穴27が形成されており、このゴム収容穴27内にシリコンゴムシート28が収容されている。このシリコンゴムシート28は、回路シート3及びコンタクトシート4を介してIC10を弾性的に支持する。又、支持ボード2は、その端縁側で且つ前記回路シート3の接続パッド23に対応する位置に、前記回路シート3の接続パッド23と同数のターミナルピン30が取り付けられている。このターミナルピン30は、導電性の材料で形成されており、その上端が回路シート3の接続パッド23に当接し、支持ボード2の下方に突出する下端部が図外の外部電気的テスト回路の取付穴に嵌合させられるようになっている。
【0021】
尚、支持ボード2は、上面2aが上記回路シート3の裏面側を支持し得るように平面状に形成されており(図2及び図5参照)、この上面2aにソケット本体15下面の位置決め突起16に係合する位置決め穴31が4箇所形成されている。又、位置決め穴31の外側には、ねじ6及びナット7を受容する穴32,33が4箇所形成されている。
【0022】
押圧治具5は、図1〜図3及び図11〜図14に示すように、上記コンタクトシート4及び回路シート3を介して支持ボード2上に固定されるソケット本体15と、このソケット本体15に回動可能に取り付けられ、ソケット本体15の矩形状のIC導入口34を開閉するカバー35とを備えている。
【0023】
このうち、ソケット本体15は、前述のように、その下面に位置決め突起16が形成されており、この位置決め突起16をコンタクトシート4の位置決め穴17、回路シート3の位置決め穴25及び支持ボード2の位置決め穴31に係合することにより、ソケット本体15自体とコンタクトシート4及び回路シート3を支持ボード2に対して位置決めするようになっている。又、ソケット本体15は、矩形状のIC導入口34の4隅に、IC10をコンタクトシート4上の所定位置に案内するガイド壁36が形成されている。このガイド壁36は、上方へ向かうにしたがってIC導入口34を拡大するように傾斜しており、IC10を円滑に案内できるようになっている。ここで、このガイド壁36は、IC10の位置決めを行う位置決め手段として機能する。
【0024】
又、このソケット本体15の一方の側面側には、カバー35を回動可能に取り付けるためのカバー取付部37が形成されている。そして、このカバー取付部37には、カバー35のアーム部38が回動軸40を介して回動できるように取り付けられている。更に、ソケット本体15の他方の側面側には、カバー35の段部41に係合するフック42が回動軸43を介して回動できるように取り付けられている。尚、カバー35は、バネ44で常時図11,12中右回り方向(開く方向)へ付勢されている。又、フック42は、バネ45で常時図11,12中右回り方向(カバー31を閉じる方向)へ付勢されている。
【0025】
カバー35には、IC押圧ブロック46が取り付けられている。このIC押圧ブロック46は、図11,12,14に示すように、カバー35の下面側に形成されたブロック収容凹部47内にスライドできるように収容されており、上部両側に一対形成された舌片48の取付穴50に軸51が嵌着され、その軸51の両端部がそれぞれブロック収容凹部47の側壁52の長穴53にスライドできるように係合されている。そして、カバー35のブロック収容凹部47の上方にはスプリング収容穴54が形成されており、このスプリング収容穴54内には圧縮コイルスプリング55が収容されている。この圧縮コイルスプリング55は、軸51を介してIC押圧ブロック46を常時図11,14中下方へ付勢するようになっており、このIC押圧ブロック46を介してIC10のバンプ11をコンタクトシート4の接触子12に押圧し、バンプ11と接触子12を所望の接触圧で接触させる(図3参照)。
【0026】
ここで、IC押圧ブロック46は、カバー35が開いた状態において、軸51が圧縮コイルスプリング55で押圧されて長穴53の下端に当接する。又、IC押圧ブロック46は、カバー35が閉じられると、IC10の厚みの分だけ圧縮コイルスプリング55を押し縮め、軸51が長穴53内をスライドすると共に、IC押圧ブロック46の側壁46aがブロック収容凹部47の側壁47aにガイドされてスライドする。
【0027】
尚、IC押圧ブロック46は、その下面49がIC10の形状に合わせて矩形状に形成されており、その矩形状の下面49がIC10の上面を押圧するようになっている(図3参照)。従って、IC10は、IC押圧ブロック46の下面によって押圧され、IC10のバンプ11が確実にコンタクトシート4の接触子12に接触する。ここで、上記カバー35,IC押圧ブロック46及び圧縮コイルスプリング55により押圧手段56が構成されている。
【0028】
又、カバー35の段部41の上方には傾斜壁57が形成されている。そのため、フック42先端の操作部42a近傍にフック42を操作するための十分な空間が確保され、フック42を機械又は手動で容易に操作できるようになっている。
【0029】
以上のような構成の電気部品用ソケット1は、フック42とカバー35の段部41との係合を解除すると、カバー35がバネ44の力で図11中右回り方向へ回動し、ソケット本体15のIC導入口34が開く(図12参照)。次いで、IC10がバンプ11を下にした状態でソケット本体15のIC導入口34に挿入される(図1及び図3参照)。この際、IC10は、ソケット本体15のガイド壁36に案内されてコンタクトシート4上の所定位置に載置され、IC10のバンプ11がコンタクトシート4の接触子12に対して位置決めされる(図3参照)。
【0030】
IC10がソケット本体15内に収容された後、カバー35が閉じられ、フック42がカバー35の段部41に係合されると、カバー35がソケット本体15の上部にロックされる。この際、圧縮コイルスプリング55がIC10の厚み分だけ圧縮され、圧縮コイルスプリング55のバネ力がIC押圧ブロック46を介してIC10に作用する。その結果、IC10のバンプ11は、コンタクトシート4及びシリコンゴムシート28を弾性変形させることになり、所望の接触圧でコンタクトシート4の接触子12に接触する。そして、IC10のバンプ11は、コンタクトシート4の接触子12,回路シート3の通電ピン20,回路パターン24,接続パッド23及び支持ボード2のターミナルピン30を介して外部電気的テスト回路に電気的に接続される。尚、ここで、回路シート3の通電ピン20,回路パターン24,接続パッド23及び支持ボード2のターミナルピン30が、IC10のバンプ11と図外の外部電気的テスト回路とを電気的に接続する接続手段60を構成している。
【0031】
以上のように本実施の形態は、IC10のバンプ11に接触するコンタクトシート4の接触子12がリング状に形成されており、このリング状の穴12d内にIC10のバンプ11を受容することにより、IC10のバンプ11と接触子12をリング状に接触させることができるため、IC10の電気的テストによってIC10のバンプ11の先端を変形させてしまうようなことがなく、IC10の実装時にバンプ11の変形に起因する不具合を招くことがない。
【0032】
又、本実施の形態は、上記のように、IC10のバンプ11が接触子12のリング状の穴12dに受容されるようになっているため、IC10のバンプ11が接触子12に押圧されると、IC10のバンプ11が接触子12の穴12dの端縁で擦られて、バンプ11の表面の酸化被膜が剥がされるので、IC10のバンプ11と接触子12の電気的接続状態が良くなるという効果を得ることができる。
【0038】
又、前記第1の実施の形態において、シリコンゴムシート28を省略し、コンタクトシート4及び回路シート3の弾性変形力だけでIC10を支持するようにしてもよい。
【0039】
更に、上記実施の形態に係る電気部品用ソケットは、BGAタイプのICのバーンイン・テスト等の電気的テストに使用される他、LGAタイプのICの電気的テストに使用することが可能である。
【0040】
【発明の効果】
以上の説明のように、本発明は、コンタクトシートの端子受容穴の開口縁にリング状の接触子が形成されており、このリング状の接触子に電気部品の略球形の端子が受容され、接触子と略球形の端子をリング状に接触させた状態で通電できるようになっているため、電気部品の電気的テストによって電気部品のバンプの先端を変形させてしまうようなことがなく、電気部品の実装時にバンプの変形に起因する不具合を招くことがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態に係る電気部品用ソケットの分解斜視図である。
【図2】 同電気部品用ソケットの正面側断面図である。
【図3】 図2の一部拡大図である。
【図4】 本発明の第1の実施の形態に係る支持ボードの平面図である。
【図5】 同支持ボードの断面図である。
【図6】 本発明の第1の実施の形態に係る回路シートの平面図である。
【図7】 同回路シートの一部拡大図である。
図7(a)は一部を拡大して示す平面図、図7(b)は図7(a)のA−A線に沿って切断して示す断面図である。
【図8】 コンタクトシートの平面図である。
【図9】 同コンタクトシートの接触子の一部を拡大して示す平面図である。
【図10】 図9のB−B線に沿って切断して示す断面図である。
【図11】 本発明の第1の実施の形態を示す押圧治具の断面図(図13のC−C線に沿って切断して示す断面図)である。
【図12】 同押圧治具のカバーを開いた状態図である。
【図13】 同押圧治具の一部を切り欠いて示す平面図である。
【図14】 図13のD−D線に沿って切断して示す断面図である。
【図15】 従来の電気部品用ソケットの断面図である。
【図16】 図15の一部詳細図である。
図16(a)は図15の一部を拡大して示す図であり、図16(b)はICの端子変形状態を示す図である。
【符号の説明】
1……電気部品用ソケット、2……支持ボード、3……回路シート、4……コンタクトシート、10……IC(電気部品)、11……バンプ(端子)、12……接触子、13……絶縁性樹脂フィルム、14……端子受容穴、24……回路パターン、30……ターミナルピン、56……押圧手段、60……接続手段 [0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an electrical component socket used for conducting an electrical test of an IC (electrical component) such as a BGA, and a contact sheet used for the electrical component socket.
[0002]
[Prior art]
The present applicant has already devised and applied for an
[0003]
In the
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, the
[0005]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a socket for electrical parts having a contact sheet such as the tip of the bump of the IC does not collapse.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
An electrical component socket according to the present invention includes a contact sheet in which an energizable contact that contacts an approximately spherical terminal of an electrical component is formed on an insulating resin film that is elastically deformable, and the contact of the contact sheet Connecting means for electrically connecting the external electrical test circuit, a support board to which the connecting means and the contact sheet are attached, and a pressing means for pressing the electrical component toward the contact sheet. . A plurality of terminal receiving holes are formed in the insulating resin film of the contact sheet so as to correspond to the plurality of terminals. In addition, at the opening edge of the terminal receiving hole, the contact is formed in a ring shape so as to continue from the front surface side to the back surface side of the insulating resin film. A circuit sheet is disposed on the back side of the contact sheet. The circuit sheet includes: (1) a conductive pin made of a conductive material that comes into contact with the contact and protrudes from a back surface side of an insulating resin film constituting the circuit sheet; and (2) the circuit sheet. A connection pad formed on the back side of the insulating resin film and in contact with a terminal pin electrically connected to the external electrical test circuit; and (3) formed on the back side of the insulating resin film constituting the circuit sheet. And a circuit pattern for connecting the contact and the connection pad. Further, the connection means is constituted by the energization pin, the connection pad, the circuit pattern, and the terminal pin.
[0007]
According to the present invention having such a configuration, the substantially spherical terminal of the electrical component is received by the ring-shaped contact, and the electrical test of the electrical component is performed in a state where the substantially spherical terminal and the contact are in contact with the ring. Is done. As a result, the electrical test of the electrical component is not performed while the tip of the substantially spherical terminal is pressed by the contact, and the tip of the terminal of the electrical component is deformed by the electrical test of the electrical component. Therefore, there is no problem caused by deformation of the substantially spherical terminal during mounting of the electrical component.
[0009]
Further , according to the present invention having such a configuration, the contact is formed on the contact sheet, the circuit pattern is formed on the circuit sheet, and the contact and the circuit pattern are formed separately. because you are, in comparison with the case of forming a contact with the circuit pattern on the same surface, the connecting means can be easily manufactured, you facilitate the thus manufactured electrical component socket.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0015]
[First Embodiment]
As shown in FIGS. 1 to 2, the
[0016]
As shown in FIGS. 1 to 3 and FIGS. 8 to 10, the
[0017]
Further, as shown in FIGS. 1 and 8, the
[0018]
As shown in FIGS. 1 to 3, 6, and 7, the
[0019]
The
[0020]
As shown in FIGS. 1 to 5, the
[0021]
The
[0022]
As shown in FIGS. 1 to 3 and 11 to 14, the
[0023]
Among these, as described above, the
[0024]
Further, on one side surface side of the
[0025]
An
[0026]
Here, in the state where the
[0027]
Note that the
[0028]
An
[0029]
In the
[0030]
After the
[0031]
As described above, in this embodiment, the
[0032]
In the present embodiment, as described above, since the
[0038]
Further, in the first embodiment, the
[0039]
Furthermore, the electrical component socket according to the embodiment of the above you facilities, in addition to be used for electrical test of the burn-in test, and the like of a BGA type IC, can be used for electrical test of the LGA type IC is there.
[0040]
【The invention's effect】
As described above, in the present invention, the ring-shaped contact is formed at the opening edge of the terminal receiving hole of the contact sheet, and the substantially spherical terminal of the electrical component is received by the ring-shaped contact, Since the contact and the substantially spherical terminal can be energized in a ring-like contact state, the electrical test of the electrical component does not deform the tip of the bump of the electrical component. There is no inconvenience caused by deformation of bumps when mounting components.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an exploded perspective view of a socket for electrical parts according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a front cross-sectional view of the electrical component socket.
FIG. 3 is a partially enlarged view of FIG. 2;
FIG. 4 is a plan view of the support board according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a sectional view of the support board.
FIG. 6 is a plan view of the circuit sheet according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a partially enlarged view of the circuit sheet.
FIG. 7A is an enlarged plan view showing a part thereof, and FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 7A.
FIG. 8 is a plan view of a contact sheet.
FIG. 9 is an enlarged plan view showing a part of the contact of the contact sheet.
10 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG.
FIG. 11 is a cross-sectional view of the pressing jig showing the first embodiment of the present invention (cross-sectional view cut along the line CC in FIG. 13).
FIG. 12 is a state diagram in which the cover of the pressing jig is opened.
FIG. 13 is a plan view showing a part of the pressing jig cut out.
14 is a sectional view taken along line D-D in FIG. 13.
FIG. 15 is a cross-sectional view of a conventional socket for electric parts.
16 is a partial detail view of FIG . 15;
FIG. 16A is an enlarged view showing a part of FIG. 15, and FIG. 16B is a view showing a terminal deformation state of the IC.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (1)
このコンタクトシートの前記接触子と外部電気的テスト回路とを電気的に接続する接続手段と、
この接続手段と前記コンタクトシートが取り付けられる支持ボードと、
前記電気部品を前記コンタクトシート側へ押圧する押圧手段と、を備えた電気部品用ソケットであって、
前記コンタクトシートの絶縁性樹脂フィルムには前記複数の端子に対応するように複数の端子受容穴が形成され、
この端子受容穴の開口縁には前記接触子が前記絶縁性樹脂フィルムの表面側から裏面側まで連続するようにリング状に形成され、
前記コンタクトシートの裏面側には回路シートが配置され、
前記回路シートは、(1)前記接触子に接触し、前記回路シートを構成する絶縁性樹脂フィルムの裏面側に突出する導電性材料製の通電ピンと、(2)前記回路シートを構成する絶縁性樹脂フィルムの裏面側に形成され、前記外部電気的テスト回路に電気的に接続されるターミナルピンと接触する接続パッドと、(3)前記回路シートを構成する絶縁性樹脂フィルムの裏面側に形成され、前記接触子と前記接続パッドとを接続する回路パターンと、を有し、
前記接続手段は、前記通電ピンと、前記接続パッドと、前記回路パターンと、前記ターミナルピンと、によって構成されている、
ことを特徴とする電気部品用ソケット。A contact sheet formed by an elastically deformable insulating resin film in which an electrically energizable contact that contacts the substantially spherical terminal of the electrical component;
Connection means for electrically connecting the contact of the contact sheet and an external electrical test circuit;
A support board to which the connection means and the contact sheet are attached;
A pressing means for pressing the electrical component toward the contact sheet, and an electrical component socket comprising:
A plurality of terminal receiving holes are formed in the insulating resin film of the contact sheet so as to correspond to the plurality of terminals,
At the opening edge of this terminal receiving hole, the contact is formed in a ring shape so as to continue from the front surface side to the back surface side of the insulating resin film ,
A circuit sheet is disposed on the back side of the contact sheet,
The circuit sheet includes: (1) a current-carrying pin made of a conductive material that contacts the contact and protrudes from the back side of the insulating resin film that forms the circuit sheet; and (2) an insulating property that forms the circuit sheet. Formed on the back side of the resin film and connected to the terminal pins that are electrically connected to the external electrical test circuit; and (3) formed on the back side of the insulating resin film constituting the circuit sheet, A circuit pattern for connecting the contact and the connection pad;
The connection means includes the energization pin, the connection pad, the circuit pattern, and the terminal pin.
A socket for electrical parts characterized by the above.
Priority Applications (1)
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