JP5847010B2 - Nondestructive inspection apparatus and nondestructive inspection method - Google Patents
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Description
本発明は、非破壊検査装置および非破壊検査方法に関し、特に、ガイド波を用いて検査する非破壊検査装置および非破壊検査方法に関する。 The present invention relates to a nondestructive inspection apparatus and a nondestructive inspection method, and more particularly to a nondestructive inspection apparatus and a nondestructive inspection method for inspecting using a guide wave.
液体等を貯蔵する鋼製の円筒形タンクは、使用している環境の影響を受けながら時間の経過とともに、胴部の内面または外面から腐食や侵食に伴って劣化が進行し、胴部が減肉することがある。
腐食や浸食がしやすい箇所では、劣化が進行していくと、タンクの内容物の漏洩や破断にいたる事故の要因となるため、事業者は定期的に目視検査や超音波を用いる非破壊検査をすることで、事故を未然に防止し、タンクの健全性維持を確保している。
Steel cylindrical tanks that store liquids, etc., are affected by the environment in which they are used, and over time, deterioration progresses with corrosion and erosion from the inner surface or outer surface of the barrel, reducing the barrel. May be meat.
In areas where corrosion and erosion are likely to occur, deterioration will cause accidents leading to leakage or rupture of tank contents, so operators should regularly conduct visual inspections and non-destructive inspections using ultrasound. By doing so, accidents are prevented and maintenance of the integrity of the tank is ensured.
従来から広く用いられている超音波を用いる非破壊検査として、超音波厚さ計が一般的であるが、幾つかの課題を抱えている。
超音波厚さ計では、人がセンサと被検体との接触面の厚さを、一点一点測定する一点検査となるため、検査範囲が狭く、表面積の大きいタンク検査や大口径の配管検査には長時間を費やし、結果として検査コストが増大する。また、人が立ち入ることが困難な個所の測定では、例えば、高所部位やピット内に設置された被検体の低所部位および狭隘部位の測定などでは、何らかの対応策を施すことになるため、検査の準備に時間を費やすことになり、結果として検査コストが増大する。
As a non-destructive inspection using ultrasonic waves that has been widely used, an ultrasonic thickness gauge is generally used, but has several problems.
The ultrasonic thickness gauge is a single point inspection in which a person measures the thickness of the contact surface between the sensor and the subject point by point, so the inspection range is narrow, tank inspection with a large surface area, and large diameter pipe inspection. Takes a long time, resulting in increased inspection costs. Also, in the measurement of places where it is difficult for humans to enter, for example, in the measurement of the low part and narrow part of the subject installed in the high part or pit, some countermeasures will be taken, It takes time to prepare for the inspection, and as a result, the inspection cost increases.
そこで、特許文献1には、超音波の一種であるガイド波を利用した非破壊検査装置および非破壊検査方法が開示されている。
ガイド波は、配管や板の境界面を有する物体中を伝搬する超音波で、板の厚さや形状が変化する部位、即ち、厚さ方向の断面積が変化する部位で反射する特徴を利用して、配管や板状の内外面を長距離区間一括して検査する方法で用いられる。
Therefore,
Guide waves are ultrasonic waves that propagate through an object having a boundary surface between a pipe and a plate, and use a characteristic that reflects at a portion where the thickness or shape of the plate changes, that is, a portion where the cross-sectional area in the thickness direction changes. In addition, it is used in a method for inspecting pipes and plate-like inner and outer surfaces together in a long distance section.
ガイド波を伝搬させて非破壊検査する技術において、ガイド波検査で用いる単一モードのガイド波は、被検体面を長距離区間伝搬して、形状が変化している部位で一部反射し、更に大部分は送信方向に単一モードのまま伝搬していく。この伝搬していく過程で反射したいろいろな反射信号を受信して、解析することで、反射した位置や反射した大きさなどを推定することができる技術である。
特許文献1のガイド波を用いた非破壊検査装置および非破壊検査方法は、円筒部材の口径に依存することなく、周方向に沿って一部に配置し、円筒部材の軸方向に対して平行または角度をつけて送信して欠陥を検査する装置および検査方法が提案されている。
In the non-destructive inspection technique by propagating the guide wave, the single mode guide wave used in the guide wave inspection propagates through the object surface over a long distance section and is partially reflected at the part where the shape has changed, Further, most of the signal propagates in the transmission direction with a single mode. This is a technique that can estimate the reflected position and the reflected size by receiving and analyzing various reflected signals reflected in the process of propagation.
The nondestructive inspection apparatus and the nondestructive inspection method using the guide wave of
特許文献2の非破壊検査方法は、多数の探触子をアレイ状に配置してフェーズドアレイ探触子を形成し、各探触子群を順次切り換えて超音波の送信波の入射角を変えて送信し、受信された反射波に対応する超音波を送信した探触子群を特定することで、欠陥の高さを評価するフェーズドアレイ探触子方法が提案されている。
In the non-destructive inspection method of
超音波の一種であるガイド波は、被検体面を長距離区間伝搬して、形状が変化している部位(例えば、タンクの胴部が腐食により減肉することで厚さが変化する部位)でガイド波が反射する特徴を利用して、送信して被検体面を伝搬させたガイド波の反射波を受信して受信信号を解析することにより反射箇所の位置や反射箇所の大きさなどを推定している。 A guide wave, which is a type of ultrasonic wave, propagates through the subject surface over a long distance and changes its shape (for example, a portion whose thickness changes due to the thickness of the tank body being reduced by corrosion). By using the characteristic that guide waves are reflected at, the reflected wave of the guide wave that is transmitted and propagated through the subject surface is received and the received signal is analyzed to determine the position of the reflection spot and the size of the reflection spot. Estimated.
ところで、一般に大型タンクは、幾つかの板材を湾曲加工し溶接で接続して円筒形に製造されている。タンクの溶接部である継手溶接部は、直線状でほぼ同一の高さで肉盛施工されているので、板厚より厚く形状変化が生じている。そのためガイド波センサから送信して伝搬させたガイド波は、溶接部(以下、溶接線と記す)を通過する際に、ガイド波の一部が反射し、残りのガイド波は溶接線を通過して送信方向に伝搬していく。 By the way, in general, a large tank is manufactured in a cylindrical shape by bending several plate materials and connecting them by welding. The joint weld, which is a welded portion of the tank, is linear and has been built up at almost the same height, so that the shape change occurs thicker than the plate thickness. Therefore, when the guide wave transmitted and propagated from the guide wave sensor passes through the weld (hereinafter referred to as the weld line), a part of the guide wave is reflected, and the remaining guide wave passes through the weld line. To propagate in the transmission direction.
このような溶接線を有する大型タンクにおいて、タンクを使用している間に腐食が進行して溶接線の近傍に減肉(以下、欠陥と記す)が生成されている場合、ガイド波は溶接線部分と欠陥部分で反射して反射信号として受信される。
このため、特許文献1および特許文献2の非破壊検査方法では、溶接線近傍に欠陥が形成された場合、溶接線部分の反射信号と欠陥部分の反射信号が重なり合って受信し検出されるため、両者の信号を分別して欠陥信号を判定するのは難しい。
また、溶接線の形状変化面積は欠陥の形状変化面積と比べ大きいので、溶接線部分の反射信号は欠陥部分の反射信号と比べて大きくなり、溶接線の近傍にある欠陥からの反射信号の検出をより難しくしている。
In such a large tank having a weld line, when the corrosion progresses during use of the tank and thinning (hereinafter referred to as a defect) is generated in the vicinity of the weld line, the guide wave is Reflected by the part and the defective part and received as a reflected signal.
For this reason, in the nondestructive inspection methods of
Also, since the shape change area of the weld line is larger than the defect shape change area, the reflected signal of the weld line is larger than the reflected signal of the defective part, and detection of the reflected signal from the defect near the weld line is detected. Making it more difficult.
そこで、本発明は、溶接部近傍に生成する欠陥を好適に検出することができる非破壊検査装置および非破壊検査方法を提供することを課題とする。 Then, this invention makes it a subject to provide the nondestructive inspection apparatus and the nondestructive inspection method which can detect suitably the defect produced | generated in the welding part vicinity.
このような課題を解決するために、本発明は、複数個の超音波探触子を等間隔で配列した2列の超音波探触子列を有するガイド波センサを被検体の壁面に設置して、ガイド波を送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して前記被検体の欠陥を探傷する非破壊検査装置であって、ガイド波を前記被検体に形成された溶接線の方向と垂直に送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して得られる第1検査データから減衰校正曲線を取得する減衰校正曲線取得手段と、前記減衰校正曲線から有意な信号レベルで検出できる反射信号の信号閾値を設定する信号閾値設定手段と、フェーズドアレイ送信によって前記ガイド波センサから前記溶接線の方向に対してガイド波を斜めに送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して第2検査データを取得する反射信号取得手段と、前記第2検査データおよび前記信号閾値から前記欠陥を評価する欠陥評価手段と、を備えることを特徴とする非破壊検査装置である。 In order to solve such problems, the present invention provides a guide wave sensor having two rows of ultrasonic probe arrays in which a plurality of ultrasonic probes are arranged at equal intervals on the wall surface of a subject. A non-destructive inspection apparatus for transmitting and propagating a guide wave, receiving a reflected signal of the guide wave, and detecting a defect of the object, wherein the guide wave is transmitted from a welding line formed on the object. An attenuation calibration curve acquisition means for acquiring an attenuation calibration curve from first inspection data obtained by transmitting and propagating perpendicularly to the direction and receiving a reflected signal of the guide wave, and at a significant signal level from the attenuation calibration curve; A signal threshold value setting means for setting a signal threshold value of a reflected signal that can be detected, and a guide wave transmitted obliquely from the guide wave sensor to the direction of the weld line by phased array transmission to propagate the reflected signal of the guide wave Receive the second A reflection signal obtaining means for obtaining 査 data, non-destructive inspection apparatus characterized by comprising a defect evaluation means for evaluating the defect from the second test data and the signal threshold.
また、本発明は、複数個の超音波探触子を等間隔で配列した2列の超音波探触子列を有するガイド波センサを被検体の壁面に設置して、ガイド波を送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して前記被検体の欠陥を探傷する非破壊検査装置の非破壊検査方法であって、ガイド波を前記被検体に形成された溶接線の方向と垂直に送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して得られる第1検査データから減衰校正曲線を取得する第1ステップと、前記減衰校正曲線から有意な信号レベルで検出できる反射信号の信号閾値を設定する第2ステップと、フェーズドアレイ送信によって前記ガイド波センサから前記溶接線の方向に対してガイド波を斜めに送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して第2検査データを取得する第3ステップと、前記第2検査データおよび前記信号閾値から前記欠陥を評価する第4ステップと、を備えることを特徴とする非破壊検査方法である。 In the present invention, a guide wave sensor having two rows of ultrasonic probe arrays in which a plurality of ultrasonic probes are arranged at equal intervals is installed on the wall surface of a subject, and a guide wave is transmitted. A nondestructive inspection method of a nondestructive inspection apparatus for propagating and receiving a reflected signal of the guide wave to detect a defect of the object, wherein the guide wave is perpendicular to a direction of a weld line formed on the object. A first step of acquiring an attenuation calibration curve from the first inspection data obtained by transmitting and propagating the reflected signal and receiving the reflected signal of the guide wave, and a reflected signal that can be detected at a significant signal level from the attenuation calibration curve. A second step of setting a signal threshold; a guide wave is transmitted obliquely from the guide wave sensor in the direction of the weld line by phased array transmission, and a reflected signal of the guide wave is received; Obtain inspection data Step a is a non-destructive inspection method characterized by and a fourth step of evaluating the defect from the second test data and the signal threshold.
本発明によれば、溶接部近傍に生成する欠陥を好適に検出することができる非破壊検査装置および非破壊検査方法を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the nondestructive inspection apparatus and the nondestructive inspection method which can detect suitably the defect produced | generated in the welding part vicinity can be provided.
以下、本発明を実施するための形態(以下「実施形態」という)について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において、共通する部分には同一の符号を付し重複した説明を省略する。 Hereinafter, modes for carrying out the present invention (hereinafter referred to as “embodiments”) will be described in detail with reference to the drawings as appropriate. In each figure, common portions are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
≪非破壊検査装置≫
まず、図1を用いて、本実施形態に係る非破壊検査装置について説明する。図1は、本実施形態に係る非破壊検査装置の構成、被検体であるタンクの構成、および、ガイド波の伝搬経路を説明する構成模式図である。
≪Non-destructive inspection equipment≫
First, the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating a configuration of a nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment, a configuration of a tank that is a subject, and a propagation path of a guide wave.
図1に示すように、非破壊検査装置は、ガイド波(超音波)を送受信するための超音波探触子列2および超音波探触子列3を有するガイド波センサ1と、超音波送受信器4と、コンピュータ5と、を備えている。
そして、非破壊検査装置は、ガイド波センサ1を被検体であるタンク6に設置した状態で、ガイド波センサ1からタンク6にガイド波を送信して、タンク6の欠陥7(後記する図3,図5参照)からの反射波をガイド波センサ1で受信することにより、タンク6の欠陥7の検査を行うことができるようになっている。
As shown in FIG. 1, the nondestructive inspection apparatus includes a
The nondestructive inspection apparatus transmits a guide wave from the
<ガイド波センサ1>
ガイド波センサ1は、超音波送受信器4から送信波形(送信信号)が印加されることによりガイド波(例えば、図1に示すガイド波21,41)を送信し、反射波(例えば、図1に示す反射波22,23、後記する図5に示す反射波51)を受信して、その受信波形(受信信号)を超音波送受信器4に出力するようになっている。
<
The
ガイド波センサ1は、2列の超音波探触子列2,3を有しており、超音波探触子列2,3はそれぞれ複数の超音波探触子が均等に一列に配置されて構成されている。超音波探触子列2と超音波探触子列3との間隔は、ガイド波の波長λの1/4に相当する距離だけ離すことを基本として設置され、ガイド波の送信周波数と被検体におけるガイド波の伝搬速度(音速)で決定されるが、例えば、送信周波数40kHz、被検体の材質が鋼材である場合では、約20mmである。
The
また、ガイド波を一送信方向とするために、超音波探触子列2の超音波探触子とそれに対向する超音波探触子列3の超音波探触子との間には、送信波形(送信信号)の印加時間に約6.2μsの遅延をかけるようになっている。
Further, in order to set the guide wave in one transmission direction, transmission is performed between the ultrasonic probe of the
また、本実施形態に係る非破壊検査装置は、同列の超音波探触子について、同時間に送信信号を印加する場合(後記する図3参照)と、各超音波探触子に印加する送信信号の遅延時間を時間制御する電子スキャン方式のフェーズドアレイ法により送信する場合(後記する図5参照)とがあり、2列に配置した超音波探触子列2および超音波探触子列3を細かく分割して電子的に制御することができるようになっている。このため、超音波探触子列2および超音波探触子列3は同じ個数の超音波探触子が並列に接続され一対一に対応するよう並行に配列した同一構成となっている。
Further, the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment applies a transmission signal to the ultrasonic probes in the same row at the same time (see FIG. 3 to be described later) and transmission applied to each ultrasonic probe. There is a case where transmission is performed by a phased array method of an electronic scan type that controls the delay time of a signal (see FIG. 5 to be described later), and the
超音波探触子は、例えば圧電素子によって構成される。なお、超音波探触子は、単独の圧電素子で構成されていてもよく、複数の圧電素子を並列接続して1つの超音波探触子として構成されていてもよく、送信用の圧電素子および受信用の圧電素子を並列接続して1つの超音波探触子として構成されていてもよい。 The ultrasonic probe is constituted by a piezoelectric element, for example. The ultrasonic probe may be configured by a single piezoelectric element, or may be configured as a single ultrasonic probe by connecting a plurality of piezoelectric elements in parallel. The receiving piezoelectric elements may be connected in parallel to constitute a single ultrasonic probe.
なお、本実施形態に係る非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法において、ガイド波センサ1(超音波探触子列2,3)は、図1に示すように、タンク6の検査対象部分の溶接線W1(または溶接線W2)の方向と平行になるように取り付けられる(後記する図2に示すステップS101参照)。
In the nondestructive inspection method using the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment, the guide wave sensor 1 (
<超音波送受信器4>
超音波送受信器4は、コンピュータ5のガイド波送信指令に基づいてガイド波センサ1からガイド波を送信するために、超音波探触子列2,3の各超音波探触子に送信波形(送信信号)を印加することができるようになっている。また、超音波探触子列2,3の各超音波探触子で受信した反射波の受信波形(受信信号)をコンピュータ5に出力することができるようになっている。
<Ultrasonic transceiver 4>
In order to transmit a guide wave from the
このため、超音波送受信器4は、送受信器制御部10と、信号発生部11と、パワーアンプ12と、受信信号切替部13と、レシーバアンプ14と、高速A/D変換部15と、を備えている。ここで、送受信器制御部10、信号発生部11およびパワーアンプ12は、ガイド波センサ1(超音波探触子列2,3)の該当する各超音波探触子に送信波形(送信信号)を印加するための超音波送信部として機能するようになっている。また、送受信器制御部10、受信信号切替部13、レシーバアンプ14および高速A/D変換部15は、ガイド波センサ1(超音波探触子列2,3)の各超音波探触子から受信した受信波形(受信信号)を増幅してデジタル信号に変換してコンピュータ5に出力する超音波受信部として機能するようになっている。
For this reason, the ultrasonic transmitter / receiver 4 includes a transmitter /
送受信器制御部10は、コンピュータ5のガイド波送信指令に基づいて、信号発生部11に励起信号を発生させる。信号発生部11で発生した励起信号は、パワーアンプ12で増幅され、送信波形(送信信号)として、ガイド波センサ1(超音波探触子列2,3)の該当する各超音波探触子に出力される。なお、送受信器制御部10は、信号発生部11で励起信号を発生させるタイミングを制御して、各超音波探触子を励起させるタイミングを制御することができるようになっている。
The
また、ガイド波センサ1(超音波探触子列2,3)の各超音波探触子が受信した反射波の受信波形(受信信号)は、受信信号切替部13を介してレシーバアンプ14で増幅され、高速A/D変換部15でデジタル信号に変換される。
反射波の受信波形(受信信号)は、デジタル信号として、送受信器制御部10からコンピュータ5に出力するようになっている。
Also, the received waveform (received signal) of the reflected wave received by each ultrasonic probe of the guide wave sensor 1 (
The reception waveform (reception signal) of the reflected wave is output from the
<コンピュータ5>
コンピュータ5は、表示部16と、各超音波探触子の印加時間の遅延を設定する送信時間差設定部17と、受信波形処理演算部18aと、データ記憶部18bと、制御部19と、を備え、超音波送受信器4の送受信器制御部10と通信可能に接続されることにより、非破壊検査装置全体を制御することができるようになっている。
<
The
なお、コンピュータ5は、例えば、電源投入時等のイニシャルブートプログラムが格納されているROM(Read Only Memory)(図示せず)、ワーキングメモリとして使用されるRAM(Random Access Memory)(図示せず)、OS(Operations System)や各種アプリケーションプログラムなどが格納されるとともにデータ記憶部18bとして機能するHDD(Hard Disc Drive)(図示せず)、中央演算処理部としてのCPU(Central Processing Unit)(図示せず)等を備え、CPU(図示せず)が、各種アプリケーションプログラムを実行することにより、送信時間差設定部17、受信波形処理演算部18a、制御部19として機能するようになっている。
The
≪被検体(タンク6)の構成≫
次に、本実施形態に係る非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法における被検体であるタンク6の構成について説明する。
タンク6は、円筒形状の胴部と上下に配置される鏡部からなる容器である。タンク6の胴部は、複数の金属板を溶接して形成される。このため、タンク6の胴部は、軸方向(図1の紙面において上下方向)の溶接線W1,W2を有している。なお、図1において、軸方向の溶接線は、2つ(溶接線W1,W2)であるものとして図示しているが、これに限られるものではなく、3つ以上あってもよい。
また、本実施形態に係る非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法における被検体は、タンク6であるものとして説明するが、これに限られるものではなく、大径配管などの円筒形状構造物に広く適用することができる。
<< Configuration of subject (tank 6) >>
Next, the configuration of the
The
In addition, the subject in the nondestructive inspection method using the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment is described as being the
≪非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法≫
次に、本実施形態に係る非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法について図2から図6を用いて説明する。図2は、本実施形態に係る非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法の処理を説明するフローチャートである。
≪Non-destructive inspection method using non-destructive inspection equipment≫
Next, a nondestructive inspection method using the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a flowchart for explaining processing of a nondestructive inspection method using the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment.
ステップS101において、コンピュータ5の制御部19は、表示部16に、ガイド波センサ1をタンク6の胴部に取り付けることを促す指示画面を表示させる。
作業者は、画面の指示にしたがってガイド波センサ1をタンク6の胴部に取り付ける。ここで、ガイド波センサ1は、タンク6の検査対象部分の溶接線W1(または、溶接線W2)の延びる方向と平行になるようにガイド波センサ1を取り付ける。図1の例において、溶接線W1,W2はタンク6の軸方向に延びているため、タンク6の軸方向に超音波探触子が並ぶようにガイド波センサ1の超音波探触子列2,3が配置される。
ガイド波センサ1の取り付けが終了すると、制御部19の処理はステップS102に進む。
In step S <b> 101, the
The operator attaches the
When the attachment of the
ステップS102において、コンピュータ5の制御部19は、送信時間差設定部17で設定された各超音波探触子の印加時間の遅延情報を含むガイド波送信指令を超音波送受信器4の送受信器制御部10に送信して、ガイド波センサ1から垂直方向にガイド波21を送信させる。
そして、コンピュータ5の制御部19は、ガイド波センサ1で受信した反射波を超音波送受信器4でデジタル信号に変換して受信する。
In step S <b> 102, the
Then, the
ここで、図3を用いてステップS102におけるガイド波の伝搬経路について説明する。図3は、ステップS102においてガイド波センサ1から垂直方向に送信されたガイド波の伝搬経路を示す模式図である。
Here, the propagation path of the guide wave in step S102 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a propagation path of a guide wave transmitted in the vertical direction from the
送受信器制御部10は、ガイド波送信指令に含まれる送信時間差設定部17で設定された各超音波探触子の印加時間の遅延情報に基づいて信号発生部11を制御して、各超音波探触子における送信波形(送信信号)20の印加時間を制御するようになっている。
The
ここでは、溶接線W1の方向にガイド波を送信するとともに、ガイド波の伝搬が強くなるようにするために、送信波形(送信信号)20は、超音波探触子列2と超音波探触子列3の印加時間に遅延を与えて送信方向を制御するようになっている。また、基準反射源としての溶接線W1,W2からの基準反射信号(後述する図4のW22,W23)を取得するため、送信波形(送信信号)20は、超音波探触子列2の超音波探触子同士については同時間に印加するとともに、超音波探触子列3の超音波探触子同士については同時間に印加するようになっている。
このようにして、ガイド波センサ1(超音波探触子列2,3)から超音波探触子列2,3の長手方向に対して垂直方向で、かつ、溶接線W1,W2の方向にガイド波21を送信するようになっている。
Here, in order to transmit the guide wave in the direction of the welding line W1 and to increase the propagation of the guide wave, the transmission waveform (transmission signal) 20 is composed of the
In this way, in the direction perpendicular to the longitudinal direction of the
そして、ガイド波21は、直線状に同一の高さで肉盛されている溶接線W1,W2のように板厚などの形状が変化する箇所で反射する。図3において、ガイド波センサ1と距離L1離れた部位に肉盛されて設けられた溶接線W1は、その厚さが周囲のタンク6の胴部の板厚より厚いため、ガイド波21の一部が反射して反射波22としてガイド波21の送信方向と逆方向に伝搬する。なお、反射率は肉盛の形状で異なるが約十数%反射する。
And the
残りのガイド波21は溶接線W1を通過して送信方向に伝搬していく。溶接線W1を通過したガイド波21aは、次の形状が変化している箇所、ここではガイド波センサ1と距離L2離れた部位に肉盛されて設けられた溶接線W2でガイド波21aの一部が反射して反射波23としてガイド波21の送信方向と逆方向に伝搬する。
そして、残りのガイド波21aは溶接線W2を通過して送信方向に伝搬していく。
The remaining guide waves 21 propagate through the welding line W1 in the transmission direction. The
Then, the remaining
溶接線W1,W2で反射した反射波22,23は、ガイド波センサ1で受信され、超音波送受信器4のレシーバアンプ14で増幅され、高速A/D変換部15でデジタル信号に変換され、送受信器制御部10からコンピュータ5に出力される。
The reflected waves 22 and 23 reflected by the welding lines W1 and W2 are received by the
コンピュータ5に入力された受信波形のデジタル信号は、受信波形処理演算部18aで演算処理されて、受信波形S1(図4(a)参照)として表示部16に表示されるようになっている。図4(a)において、縦軸は反射波の振幅(信号強度)であり、横軸はガイド波センサ1からガイド波を送信してから反射波を受信するまでの伝搬時間とガイド波の伝搬速度から算出したガイド波センサ1から反射源までの距離である。また、受信波形S1はデータ記憶部18bに記憶されるようになっている。
The digital signal of the reception waveform input to the
図2に戻り、ステップS103において、コンピュータ5の受信波形処理演算部18aは、減衰校正曲線31を生成する。ここで、減衰校正曲線31とは、ガイド波および反射波が伝搬することにより振幅(信号強度)が減衰することを校正するための曲線である。
減衰校正曲線31の生成について、まず、受信波形処理演算部18aは、溶接線W1、溶接線W2の肉盛の高さとタンク6の胴部の板厚から、胴部の板厚に対する溶接線肉盛高さの割合を計算で求める。なお、これらのデータはデータ記憶部18bにあらかじめ記憶されている。
そして、受信波形処理演算部18aは、胴部の板厚に対する溶接線肉盛高さの割合と、図4(a)に示す溶接線W1からの反射波22に基づく反射信号W22と、溶接線W2からの反射波23に基づく反射信号W23と、に基づいて、減衰校正曲線31(図4(a)参照)を生成するようになっている。
Returning to FIG. 2, in step S <b> 103, the reception waveform
Regarding the generation of the
Then, the received waveform
図2に戻り、ステップS104において、受信波形処理演算部18aは、ステップS103で生成した減衰校正曲線31にもとづいて、閾値曲線32(図4(b)参照)を生成する。ここで、閾値曲線32とは、反射信号として有意な信号レベルの信号であるか否かを判定するための閾値である。閾値は、非破壊検査の要求仕様、ガイド波センサ1の検出下限レベルやノイズレベルから胴部の板厚に対する割合として設定する。また、検出信号とノイズ信号の比から設定してもよい。
Returning to FIG. 2, in step S104, the received waveform
例えば、図4(b)において、既知の溶接線W1,W2からの反射信号の10%を閾値曲線32と設定した場合を示す。ここで設定した有意な信号レベル(閾値曲線32)は、既知の溶接線W1,W2の信号レベルが板厚と溶接の肉盛りの関係から既知であるので、両者を比較することで設定した信号閾値レベルを算出できる。したがって、本信号閾値レベルと本測定の欠陥信号レベルを比較することで欠陥の大きさ(ガイド波進行方向にみたときの欠陥の断面積)を推定することができる。
For example, in FIG. 4B, a case where 10% of the reflected signal from the known welding lines W1 and W2 is set as the
図2に戻り、ステップS105において、コンピュータ5の送信時間差設定部17は、各超音波探触子の印加時間の遅延時間(送信遅延時間)を設定する。なお、送信遅延時間については、後述するステップS106とともに図5を用いて説明する。
Returning to FIG. 2, in step S105, the transmission time
ステップS106において、コンピュータ5の制御部19は、ステップS105において送信時間差設定部17で設定された各超音波探触子の印加時間の遅延情報(送信遅延時間)を含むガイド波送信指令を超音波送受信器4の送受信器制御部10に送信して、ガイド波センサ1から斜め方向にガイド波41を送信させる。
そして、コンピュータ5の制御部19は、ガイド波センサ1で受信した反射波を超音波送受信器4でデジタル信号に変換して受信する。
In step S106, the
Then, the
ここで、図5を用いてステップS106におけるガイド波の伝搬経路について説明する。図5は、ステップS106においてガイド波センサ1から斜め方向に送信されたガイド波の伝搬経路を示す模式図である。
Here, the propagation path of the guide wave in step S106 will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a propagation path of a guide wave transmitted in an oblique direction from the
送受信器制御部10は、ガイド波送信指令に含まれるステップS105において送信時間差設定部17で設定された各超音波探触子の印加時間の遅延情報(送信遅延時間)に基づいて信号発生部11を制御して、各超音波探触子における送信波形(送信信号)40の印加時間を制御するようになっている。
The
ここで、送信波形(送信信号)40は、測定部位に向けて角度θでガイド波41を送信するように、超音波探触子列2の超音波探触子について、測定部位から最も遠い超音波探触子から順に一定間隔で遅延させるようになっている。超音波探触子列3の超音波探触子についても同様に、測定部位から最も遠い超音波探触子から順に一定間隔で遅延させるようになっている。また、送信波形(送信信号)40は、超音波探触子列2と超音波探触子列3の印加時間に遅延を与えて送信方向を制御するようになっている。
このようにして、ステップS106において、ガイド波センサ1(超音波探触子列2,3)から超音波探触子列2,3の垂直方向に対して角度θで、かつ、溶接線W1,W2の側の方向にガイド波41を送信するようになっている。
Here, the transmission waveform (transmission signal) 40 is an ultrasonic probe farthest from the measurement site with respect to the ultrasonic probes of the
In this way, in step S106, the angle θ with respect to the vertical direction of the
このように、角度θで斜め方向に送信されたガイド波41は、一部が直線状に同一の高さで肉盛されている溶接線W1で反射して反射波42となるとともに、残りのガイド波41は溶接線W1を通過して送信方向に伝搬するガイド波41aとなる。ここで、図5に示すように、直線状の溶接線W1に対して斜めにガイド波41を入射させることにより、反射波42をガイド波41が入射してきた方向と異なる方向とすることができる。
As described above, the
このため、ステップS105において設定される各超音波探触子の印加時間の遅延時間(送信遅延時間)は、図5に示すように、溶接線W1からの反射波42がガイド波センサ1の外領域を伝搬して、ガイド波センサ1で溶接線W1からの反射波42が受信されないガイド波41の送信方向(角度θ)となる送信波形(送信信号)40を生成するように設定される。
Therefore, the delay time (transmission delay time) of the application time of each ultrasonic probe set in step S105 is such that the reflected
また、検査対象部分の溶接線W1の近傍に欠陥7がある場合、胴部の板厚が変化している欠陥7でガイド波41の一部が反射し、その反射波51がガイド波センサ1で検出される。これは、溶接線W1が直線状の一定形状であるため、その反射波は一定の方向(図5に示す反射波42の方向)に伝搬するのに対し、欠陥7が不定形状であるため、その反射波の一部がガイド波センサ1の方向に伝搬する反射波51となり、ガイド波センサ1で検出されるようになっている。
Further, when there is a
欠陥7で反射した反射波51は、ガイド波センサ1で受信され、超音波送受信器4のレシーバアンプ14で増幅され、高速A/D変換部15でデジタル信号に変換され、送受信器制御部10からコンピュータ5に出力される。
The reflected
コンピュータ5に入力された受信波形のデジタル信号は、受信波形処理演算部18aで演算処理されて、受信波形S2(図6参照)として表示部16に表示されるようになっている。図6において、縦軸は反射波の振幅(信号強度)であり、横軸はガイド波センサ1から反射源までの距離である。
The received waveform digital signal input to the
図2に戻り、ステップS107において、受信波形処理演算部18aは、測定信号である受信波形S2(図6参照)を評価する。
受信波形処理演算部18aは、ステップS106で受信した受信波形S2(図6参照)と、ステップS104で生成した閾値曲線32とを比較して、閾値曲線32の値より大きな信号強度となる信号を欠陥7からの信号であると評価する。図6の例において、距離L1の位置にある反射信号P1が閾値曲線32の値より高い信号強度となっているので、距離L1の位置に欠陥7があると評価する。また、反射信号P1のピークの高さH1と、反射信号P1のピークの位置における閾値曲線32の値H2との比(H2/H1)から欠陥7の大きさ(ガイド波進行方向にみたときの欠陥の断面積)を推定することができる。
なお、距離Lが0付近の領域は非破壊検査装置の不感帯であるため、この領域における信号は無視する。
Returning to FIG. 2, in step S <b> 107, the received waveform
The received waveform
In addition, since the area | region where distance L is 0 vicinity is a dead zone of a nondestructive inspection apparatus, the signal in this area | region is disregarded.
ステップS108において、制御部19は、ステップS106で受信した受信波形S2およびステップS107の評価結果(欠陥7の有無、欠陥7までの距離、欠陥7の大きさ)をデータ記憶部18bに記憶する。
In step S108, the
ステップS109において、制御部19は、検査対象である溶接線W1の測定部位の測定が完了したか否かを判定する。
測定が完了していない場合(S109・No)、制御部19の処理はステップS110に進む。
ステップS110において、制御部19は、例えば方向Y1(図5参照)に新たな測定部位を設定する。即ち、ガイド波41の送信方向の角度θを設定する。そして、制御部19の処理はステップS105に戻り、設定された測定部位にガイド波が送信されるように送信遅延時間が設定され、前記した処理(S106〜S108)を実行する。なお、送信遅延時間は、ガイド波センサ1と測定部位との位置関係をコンピュータ5に入力することで自動算出されるようになっている。この処理を繰り返すことにより、方向Y1に測定部位を変えながら測定することができる。
In step S109, the
If the measurement has not been completed (No at S109), the process of the
In step S110, the
一方、ステップS109において、測定が完了した場合(S109・Yes)、制御部19の処理はステップS111に進む。
ステップS111において、制御部19は、検査が終了したか否かを判定する。検査が終了していない場合(S111・No)、制御部19の処理はステップS112に進む。
ステップS112において、制御部19は、表示部16に、タンク6の胴部に取り付けられたガイド波センサ1を移動することを促す指示画面を表示させる。
作業者は、画面の指示にしたがってガイド波センサ1を移動させる。ここで、ガイド波センサ1は、ステップS101と同様に、タンク6の検査対象部分の溶接線W1(または、溶接線W2)の延びる方向と平行になるようにガイド波センサ1を取り付ける。そして、制御部19の処理はステップS105に戻り、前記した処理(S105〜S110)を実行する。
一方、ステップS111において、検査が終了した場合(S111・Yes)、本実施形態に係る非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法の処理を終了する。
On the other hand, when the measurement is completed in step S109 (S109 / Yes), the process of the
In step S111, the
In step S <b> 112, the
The operator moves the
On the other hand, when the inspection is completed in step S111 (S111: Yes), the processing of the nondestructive inspection method using the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment is ended.
<作用・効果>
ここで比較例と対比しつつ本実施形態の作用・効果について説明する。
図9は、比較例に係るガイド波センサ1から垂直方向に送信されたガイド波21の伝搬経路を示す模式図である。図10は、比較例における反射波22Cの受信波形S2を説明するグラフである。
図9に示すように、ガイド波21を垂直方向に送信した場合、溶接線W1の近傍に欠陥7があると、溶接線W1からの反射波および欠陥7からの反射波が重なり合って反射波22Cとなり、図10に示すように、溶接線W1からの反射波に基づく反射信号W22と欠陥7からの反射波に基づく反射信号P1とが重なり合って、欠陥7からの反射波に基づく反射信号P1の検出が困難となる。
<Action and effect>
Here, the operation and effect of the present embodiment will be described in comparison with the comparative example.
FIG. 9 is a schematic diagram illustrating a propagation path of the
As shown in FIG. 9, when the
これに対し、本実施形態に係る非破壊検査装置の非破壊検査方法によれば、図5に示すように、溶接線W1からの反射波42がガイド波センサ1の外領域を伝搬するように、ガイド波41を角度θで斜めに送信することにより、図6に示すように、欠陥7からの反射波に基づく反射信号P1の検出を容易とし、溶接線W1の近傍の欠陥7であっても好適に検出することができる。これにより、欠陥の見落としが防止でき、検査の信頼性を向上させることができる。
On the other hand, according to the nondestructive inspection method of the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment, as shown in FIG. 5, the reflected
また、本実施形態に係る非破壊検査装置の非破壊検査方法によれば、図2のステップS101からステップS104に示すように、タンク6の胴部の形状が変化している部位(例えば、溶接線W1,W2)を基準反射源として利用して、受信信号の振幅と距離との減衰校正曲線31を取得し、減衰校正曲線31に基づいて閾値(閾値曲線32)を決定するようになっている。そして、閾値(閾値曲線32)と欠陥7からの反射波に基づく反射信号P1を比較することにより、欠陥7の大きさも評価することができる。
Moreover, according to the nondestructive inspection method of the nondestructive inspection apparatus according to the present embodiment, as shown in steps S101 to S104 in FIG. Using the lines W1 and W2) as reference reflection sources, an
≪変形例≫
なお、本実施形態に係る非破壊検査装置は、上記実施形態の構成に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の変更が可能である。
≪Modification≫
The nondestructive inspection apparatus according to this embodiment is not limited to the configuration of the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the invention.
ステップS106において、図5に示すように、測定部位から最も遠い超音波探触子から順に一定間隔で遅延させてガイド波41を送信するものとして説明したが、これに限られるものではない。
In step S106, as shown in FIG. 5, it has been described that the
図7は、第1変形例に係るガイド波センサ1から斜め方向に送信されたガイド波41Aの伝搬経路を示す模式図である。
図7に示すように、送信波形(送信信号)40Aは、測定部位の近傍でガイド波の焦点ができるように印加してもよい。このように送信波形(送信信号)40Aを印加することにより、欠陥7からの反射波51Aの振幅(信号強度)を大きくすることができる。なお、溶接線W1からの反射波42Aの振幅(信号強度)も大きくなるが、溶接線W1からの反射波42Aはガイド波センサ1の外領域を伝搬するようになっている。
FIG. 7 is a schematic diagram showing a propagation path of a
As shown in FIG. 7, the transmission waveform (transmission signal) 40 </ b> A may be applied so that the guide wave is focused in the vicinity of the measurement site. By applying the transmission waveform (transmission signal) 40A in this way, the amplitude (signal strength) of the reflected
図8は、第2変形例に係るガイド波センサ1から斜め方向に送信されたガイド波41Bの伝搬経路を示す模式図である。
図7において、測定部位が方向Y1にあるものとして説明したが、図8に示すように、測定部位が方向Y2にあってもよい。
FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a propagation path of a
In FIG. 7, the measurement site is described as being in the direction Y1, but as shown in FIG. 8, the measurement site may be in the direction Y2.
1 ガイド波センサ
2,3 超音波探触子列
4 超音波送受信器
5 コンピュータ
6 タンク(被検体)
7 欠陥
10 送受信器制御部
11 信号発生部
12 パワーアンプ
13 受信信号切替部
14 レシーバアンプ
15 高速A/D変換部
16 表示部
17 送信時間差設定部
18a 受信波形処理演算部
18b データ記憶部
19 制御部
20,40,40A,40B 送信波形
21,41,41A,41B ガイド波
22,42,51,42A,51A,42B,51B 反射波(反射信号)
31 減衰校正曲線
32 閾値曲線(信号閾値)
W1,W2 溶接線
W22,W23 反射信号
S1 受信波形(第1検査データ)
S2 受信波形(第2検査データ)
1
7 Defect 10 Transmitter /
31
W1, W2 Welding lines W22, W23 Reflected signal S1 Received waveform (first inspection data)
S2 Received waveform (second inspection data)
Claims (5)
ガイド波を前記被検体に形成された溶接線の方向と垂直に送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して得られる第1検査データから減衰校正曲線を取得する減衰校正曲線取得手段と、
前記減衰校正曲線から有意な信号レベルで検出できる反射信号の信号閾値を設定する信号閾値設定手段と、
フェーズドアレイ送信によって前記ガイド波センサから前記溶接線の方向に対してガイド波を斜めに送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して第2検査データを取得する反射信号取得手段と、
前記第2検査データおよび前記信号閾値から前記欠陥を評価する欠陥評価手段と、を備える
ことを特徴とする非破壊検査装置。 A guide wave sensor having two rows of ultrasonic probe arrays in which a plurality of ultrasonic probes are arranged at equal intervals is installed on the wall surface of the subject, and a guide wave is transmitted and propagated. A non-destructive inspection apparatus for detecting a defect of the object by receiving a reflected signal of
Attenuation calibration curve acquisition that obtains an attenuation calibration curve from first inspection data obtained by transmitting a guide wave perpendicularly to the direction of the weld line formed on the object and propagating it, and receiving a reflected signal of the guide wave Means,
A signal threshold value setting means for setting a signal threshold value of a reflected signal that can be detected at a significant signal level from the attenuation calibration curve;
Reflected signal acquisition means for transmitting a guide wave obliquely from the guide wave sensor with respect to the direction of the welding line by phased array transmission and propagating it, receiving a reflected signal of the guide wave and acquiring second inspection data; ,
A nondestructive inspection apparatus comprising: defect evaluation means for evaluating the defect from the second inspection data and the signal threshold value.
前記溶接線からの反射信号を用いて前記減衰校正曲線を取得する
ことを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査装置。 The attenuation calibration curve acquisition means includes
The nondestructive inspection apparatus according to claim 1, wherein the attenuation calibration curve is acquired using a reflection signal from the weld line.
前記溶接線からの反射波の伝搬経路が前記ガイド波センサの外となるように前記超音波探触子の印加時間の遅延時間を制御して前記ガイド波センサからフェーズドアレイ送信する
ことを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査装置。 The reflected signal acquisition means includes
A phased array transmission is performed from the guide wave sensor by controlling a delay time of an application time of the ultrasonic probe so that a propagation path of a reflected wave from the weld line is outside the guide wave sensor. The nondestructive inspection device according to claim 1.
送信するガイド波を前記溶接線の部位に焦点を結ぶように前記超音波探触子の印加時間の遅延時間を制御して前記ガイド波センサからフェーズドアレイ送信する
ことを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査装置。 The reflected signal acquisition means includes
The phased array transmission is performed from the guide wave sensor by controlling a delay time of the application time of the ultrasonic probe so that a guide wave to be transmitted is focused on a portion of the weld line. The nondestructive inspection device described.
ガイド波を前記被検体に形成された溶接線の方向と垂直に送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して得られる第1検査データから減衰校正曲線を取得する第1ステップと、
前記減衰校正曲線から有意な信号レベルで検出できる反射信号の信号閾値を設定する第2ステップと、
フェーズドアレイ送信によって前記ガイド波センサから前記溶接線の方向に対してガイド波を斜めに送信して伝搬させ、該ガイド波の反射信号を受信して第2検査データを取得する第3ステップと、
前記第2検査データおよび前記信号閾値から前記欠陥を評価する第4ステップと、を備える
ことを特徴とする非破壊検査方法。 A guide wave sensor having two rows of ultrasonic probe arrays in which a plurality of ultrasonic probes are arranged at equal intervals is installed on the wall surface of the subject, and a guide wave is transmitted and propagated. A non-destructive inspection method for a non-destructive inspection apparatus for receiving a reflected signal of the object and detecting a defect of the object,
A first step of acquiring an attenuation calibration curve from first inspection data obtained by transmitting a guide wave perpendicularly to the direction of the weld line formed on the object and propagating it, and receiving a reflected signal of the guide wave; ,
A second step of setting a signal threshold of the reflected signal that can be detected at a significant signal level from the attenuation calibration curve;
A third step of transmitting and propagating a guide wave obliquely with respect to the direction of the welding line from the guide wave sensor by phased array transmission, receiving a reflected signal of the guide wave, and acquiring second inspection data;
And a fourth step of evaluating the defect from the second inspection data and the signal threshold value.
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