JP5842248B2 - マーカ - Google Patents

マーカ Download PDF

Info

Publication number
JP5842248B2
JP5842248B2 JP2011155630A JP2011155630A JP5842248B2 JP 5842248 B2 JP5842248 B2 JP 5842248B2 JP 2011155630 A JP2011155630 A JP 2011155630A JP 2011155630 A JP2011155630 A JP 2011155630A JP 5842248 B2 JP5842248 B2 JP 5842248B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
marker
ras
pattern
ras marker
observed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011155630A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2012145559A (ja
JP2012145559A5 (enrdf_load_stackoverflow
Inventor
田中　秀幸
秀幸 田中
角　保志
保志 角
吉央 松本
吉央 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP2011155630A priority Critical patent/JP5842248B2/ja
Publication of JP2012145559A publication Critical patent/JP2012145559A/ja
Publication of JP2012145559A5 publication Critical patent/JP2012145559A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5842248B2 publication Critical patent/JP5842248B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
JP2011155630A 2010-12-24 2011-07-14 マーカ Active JP5842248B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011155630A JP5842248B2 (ja) 2010-12-24 2011-07-14 マーカ

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010287944 2010-12-24
JP2010287944 2010-12-24
JP2011155630A JP5842248B2 (ja) 2010-12-24 2011-07-14 マーカ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012145559A JP2012145559A (ja) 2012-08-02
JP2012145559A5 JP2012145559A5 (enrdf_load_stackoverflow) 2014-08-14
JP5842248B2 true JP5842248B2 (ja) 2016-01-13

Family

ID=46789236

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011155630A Active JP5842248B2 (ja) 2010-12-24 2011-07-14 マーカ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5842248B2 (enrdf_load_stackoverflow)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4571248A1 (de) * 2023-12-12 2025-06-18 Hilti Aktiengesellschaft Vorrichtungen und verfahren zur winkelmessung

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6083747B2 (ja) * 2012-10-24 2017-02-22 国立研究開発法人産業技術総合研究所 位置姿勢検出システム
CN105612401B (zh) 2013-09-30 2018-02-23 独立行政法人产业技术综合研究所 标记图像处理系统
JP6512868B2 (ja) 2014-03-18 2019-05-15 株式会社エンプラス 画像表示体
WO2016024555A1 (ja) * 2014-08-12 2016-02-18 国立研究開発法人産業技術総合研究所 マーカとマーカを用いた姿勢推定方法
JP6777079B2 (ja) 2015-07-23 2020-10-28 日本電気株式会社 寸法測定装置、寸法測定システム、及び、寸法測定方法
JP2017058585A (ja) 2015-09-18 2017-03-23 株式会社エンプラス 画像表示体、その製造方法および光学部品
WO2017099007A1 (ja) 2015-12-08 2017-06-15 株式会社エンプラス マーカ
WO2017110779A1 (ja) * 2015-12-22 2017-06-29 株式会社エンプラス マーカ
EP3415863A4 (en) 2016-02-10 2019-10-09 Enplas Corporation MARKER
US10663293B2 (en) 2016-02-24 2020-05-26 Enplas Corporation Marker formed of optically transparent material
KR20160039588A (ko) * 2016-03-22 2016-04-11 주식회사 우리옵토 일정 곡률을 가지는 광학 렌즈상에 마이크로 패턴을 형성하는 방법
EP3470771A4 (en) * 2016-06-09 2020-01-08 Enplas Corporation MARKER PEN
EP3499179A4 (en) 2016-08-09 2020-07-29 Enplas Corporation MARKER PEN
JP6689713B2 (ja) * 2016-08-26 2020-04-28 株式会社エンプラス マーカ
JP6755030B2 (ja) * 2016-09-13 2020-09-16 国立研究開発法人産業技術総合研究所 マーカとマーカを用いた姿勢推定方法
US10466774B2 (en) * 2016-11-22 2019-11-05 Honeywell International Inc. NTE display systems and methods with optical trackers
US11391565B2 (en) 2016-12-12 2022-07-19 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Marker and marker manufacturing method
JP6760835B2 (ja) 2016-12-22 2020-09-23 株式会社エンプラス マーカ
JP2018116037A (ja) * 2017-01-13 2018-07-26 株式会社エンプラス マーカ搭載用ユニットおよびその製造方法
JP2018116035A (ja) * 2017-01-13 2018-07-26 株式会社エンプラス マーカ搭載用ユニット
JP2018116036A (ja) * 2017-01-13 2018-07-26 株式会社エンプラス マーカ搭載用ユニット
JP2018115923A (ja) 2017-01-17 2018-07-26 株式会社エンプラス マーカ
CN110140023B (zh) * 2017-01-17 2021-07-30 国立研究开发法人产业技术综合研究所 标记器和使用了标记器的姿势推定方法及位置姿势推定方法
WO2018147093A1 (ja) 2017-02-10 2018-08-16 株式会社エンプラス マーカ
CN110520688A (zh) 2017-04-19 2019-11-29 恩普乐股份有限公司 标记单元
JP2018194435A (ja) 2017-05-17 2018-12-06 株式会社エンプラス マーカユニット
JP2019027953A (ja) 2017-07-31 2019-02-21 株式会社エンプラス マーカユニット
JP6745252B2 (ja) * 2017-09-20 2020-08-26 株式会社日立ビルシステム ブレーキライニング診断システムおよびブレーキライニング診断装置
US11413755B2 (en) * 2017-12-31 2022-08-16 Sarcos Corp. Covert identification tags viewable by robots and robotic devices
CN112567200A (zh) * 2018-08-15 2021-03-26 国立研究开发法人产业技术综合研究所 标记物
JP2021143876A (ja) * 2020-03-10 2021-09-24 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 位置検出システム
WO2022091739A1 (ja) * 2020-10-26 2022-05-05 国立研究開発法人産業技術総合研究所 垂直器
JP7679028B2 (ja) 2021-06-22 2025-05-19 株式会社豊田自動織機 マーカ

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH041866A (ja) * 1990-04-18 1992-01-07 Toyobo Co Ltd 画像処理方法およびその装置
JP4794708B2 (ja) * 1999-02-04 2011-10-19 オリンパス株式会社 ３次元位置姿勢センシング装置
JP3772063B2 (ja) * 2000-02-28 2006-05-10 オリンパス株式会社 位置検出装置、及び、位置検出システム
JP4337109B2 (ja) * 2000-08-01 2009-09-30 ヤマックス株式会社 虚像現出装飾体
JP2005103908A (ja) * 2003-09-30 2005-04-21 Fancs:Kk 視覚的な動的効果を有するシルクスクリーン印刷物及びその印刷方法
JP2006267879A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Canon Inc 画像処理方法、画像処理装置、マーカ
JP2007313015A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Nippon Seimitsu Sokki Kk 手首血圧計
JP5245345B2 (ja) * 2007-10-10 2013-07-24 富士ゼロックス株式会社 対象物認識装置、認識対象物およびプログラム
JP4307511B1 (ja) * 2008-06-04 2009-08-05 横浜ゴム株式会社 移動体の挙動計測装置および移動体の挙動計測方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4571248A1 (de) * 2023-12-12 2025-06-18 Hilti Aktiengesellschaft Vorrichtungen und verfahren zur winkelmessung

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012145559A (ja) 2012-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5842248B2 (ja) マーカ
EP2188589B1 (en) System and method for three-dimensional measurement of the shape of material objects
JP6261016B2 (ja) マーカ画像処理システム
CN102132125B (zh) 轮廓测量系统的校准
EP3115741A1 (en) Position measurement device and position measurement method
US9495749B2 (en) Method and system for detecting pose of marker
CN102773862B (zh) 用于室内移动机器人的快速精确定位系统及其工作方法
US8019114B2 (en) Position and orientation measurement method and apparatus
Tanaka et al. Avisual marker for precise pose estimation based on lenticular lenses
JP4916167B2 (ja) 指標識別方法及び指標識別装置
EP3048555B1 (en) Image processing device, image processing method, and image processing program
Gschwandtner et al. Infrared camera calibration for dense depth map construction
Fabrizio et al. Calibration of panoramic catadioptric sensors made easier
CN112766008B (zh) 一种基于二维码的物体空间位姿获取方法
US12288364B2 (en) Method for providing calibration data for calibrating a camera, method for calibrating a camera, method for producing at least one predefined point-symmetric region, and device
JP5715793B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
JP2011155412A (ja) 投影システムおよび投影システムにおける歪み修正方法
CN112750165A (zh) 参数标定方法、智能驾驶方法及其装置、设备和存储介质
CN103376897A (zh) 用于确定在所投影的图像的光锥中执行的手势的方法和设备
CN116843748B (zh) 一种远距二维码及其物体空间位姿获取方法及系统
US20130241882A1 (en) Optical touch system and optical touch position detecting method
Chaudhry et al. Deep-BrownConrady: Prediction of Camera Calibration and Distortion Parameters Using Deep Learning and Synthetic Data
CN116222396A (zh) 位移检测方法、系统、装置、电子装置和存储介质
Rijlaarsdam et al. A novel encoding element for robust pose estimation using planar fiducials
JP2006331214A (ja) 物体識別タグ及びこれを使用した物体識別システム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140625

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140627

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150304

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150310

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150508

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151020

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151023

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5842248

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250