JP5809550B2 - CR oscillation circuit and semiconductor integrated device - Google Patents

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本発明は、CR発振回路及びCR発振回路が形成されている半導体集積装置に関する。   The present invention relates to a CR oscillation circuit and a semiconductor integrated device in which the CR oscillation circuit is formed.

ディジタル回路におけるクロックパルスを生成する為の発振回路として、直列に接続された3つのインバータに、コンデンサ及び抵抗で構成されるCR回路を帰還接続することにより正弦波を発生するようにしたCR発振回路が知られている(例えば、特許文献1の図1参照)。かかるCR発振回路では、インバータ12から送出された発振信号を、コンデンサ15を介してインバータ11の入力端に帰還させている。よって、発振信号に伴うコンデンサの過渡現象により、インバータ11の入力端子には、急峻に電源電圧を超えた電圧及び接地電位を下回った電圧が印加される、いわゆるオーバーシュート及びアンダーシュートが生じ、インバータ11の寿命低下を招く虞があった。   As an oscillation circuit for generating a clock pulse in a digital circuit, a CR oscillation circuit that generates a sine wave by feedback-connecting a CR circuit composed of a capacitor and a resistor to three inverters connected in series Is known (see, for example, FIG. 1 of Patent Document 1). In such a CR oscillation circuit, the oscillation signal sent from the inverter 12 is fed back to the input terminal of the inverter 11 via the capacitor 15. Therefore, due to the transient phenomenon of the capacitor accompanying the oscillation signal, the so-called overshoot and undershoot in which the voltage suddenly exceeding the power supply voltage and the voltage lower than the ground potential are applied to the input terminal of the inverter 11 occur. There was a possibility that the life of 11 would be reduced.

そこで、かかるオーバーシュート及びアンダーシュートを抑制させるべく、このCR発振回路には、インバータ11の入力端に第2のコンデンサ16を設けるようにしている。   Therefore, in order to suppress such overshoot and undershoot, this CR oscillation circuit is provided with a second capacitor 16 at the input terminal of the inverter 11.

しかしながら、インバータに比べて素子面積が大となるコンデンサ16を新たに設けなければならない為、CR発振回路全体の規模が大になってしまうという問題があった。   However, since the capacitor 16 having a larger element area than the inverter must be newly provided, there has been a problem that the overall scale of the CR oscillation circuit becomes large.

特開平07−131301号公報Japanese Patent Laid-Open No. 07-131301

本発明は、寿命低下を招くことなく小型で、高密度実装化が可能なCR発振回路、及び半導体集積装置を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a CR oscillation circuit and a semiconductor integrated device that are small in size and capable of high-density mounting without causing a reduction in lifetime.

本発明に係るCR発振回路は、上流から下流に向かって順に直列に接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインと、前記インバータトレイン内の上流から第(2n)番目(nは1以上の整数)に接続されているインバータから送出された信号をコンデンサを介して前記インバータトレイン内の上流から第1番目に接続されているインバータに供給すると共に、前記インバータトレイン内の上流から第(2n+1)番目に接続されているインバータから送出された信号を抵抗を介して前記第1番目のインバータに供給するCR回路と、を有するCR発振回路であって、前記m個のインバータのうちで前記第1番目のインバータを除くインバータの各々は、入力した信号のレベルが所定論理閾値より低い場合には高レベルの信号を出力する一方、前記所定論理閾値よりも高い場合には低レベルの信号を出力し、前記第1番目のインバータは、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値より低い第1論理閾値よりも低い状態から当該第1論理閾値よりも高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する一方、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値よりも高い第2論理閾値よりも高い状態から当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベルの信号を前記次段のインバータに供給する。 A CR oscillation circuit according to the present invention includes an inverter train including m (m is an integer of 3 or more) inverters connected in series in order from upstream to downstream, and (2n) th from the upstream in the inverter train. The signal sent from the inverter connected to the second (n is an integer of 1 or more) is supplied to the first connected inverter from the upstream in the inverter train via a capacitor, and the inverter train a CR oscillating circuit having a CR circuit for supplying to said first first inverter from the upstream first (2n + 1) a signal sent from the connected inverter th through the resistor, the m Each of the inverters excluding the first inverter when the level of the input signal is lower than a predetermined logic threshold value While outputting the high level signal, the predetermined logic is higher than the threshold value and outputs a low level signal, the first numbered inverter, the level of the signal supplied from the CR circuit is the predetermined logic threshold When a transition is made from a state lower than the lower first logic threshold to a state higher than the first logic threshold, a low level signal is supplied to the inverter of the next stage, while the level of the signal supplied from the CR circuit When a transition is made from a state higher than the second logic threshold value higher than the predetermined logic threshold value to a state lower than the second logic threshold value, a high level signal is supplied to the next-stage inverter.

本発明に係る半導体集積装置は、上流から下流に向かって順に直列に接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインと、前記インバータトレイン内の上流から第(2n)番目(nは1以上の整数)に接続されているインバータから送出された信号をコンデンサを介して前記インバータトレインの内の上流から第1番目に接続されているインバータに供給すると共に、前記インバータトレイン内の上流から第(2n+1)番目に接続されているインバータから送出された信号を抵抗を介して前記第1番目のインバータに供給するCR回路と、が形成されている半導体集積装置であって、前記インバータトレイン内の1のインバータから送出された信号を発振信号として出力する発振出力端子を備え、前記m個のインバータのうちで前記第1番目のインバータを除くインバータの各々は、入力した信号のレベルが所定論理閾値より低い場合には高レベルの信号を出力する一方、前記所定論理閾値よりも高い場合には低レベルの信号を出力し、前記第1番目のインバータは、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値より低い第1論理閾値よりも低い状態から高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する一方、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値よりも高い第2論理閾値を超えた後に当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベルの信号を前記次段のインバータに供給する。 The semiconductor integrated device according to the present invention includes an inverter train composed of m (m is an integer of 3 or more) inverters connected in series in order from upstream to downstream, and (2n) th from the upstream in the inverter train. The signal sent from the inverter connected to the second (n is an integer equal to or greater than 1) is supplied to the first connected inverter from the upstream of the inverter train via a capacitor, and the inverter train A CR circuit that supplies a signal sent from the (2n + 1) -th connected inverter from the upstream to the first inverter through a resistor, with an oscillation output terminal for outputting a signal transmitted from the first inverter in the inverter train as an oscillation signal, the m Each of the inverters except the first inverter outputs a high level signal when the level of the input signal is lower than a predetermined logic threshold value, and when the level is higher than the predetermined logic threshold value, When the low-level signal is output and the level of the signal supplied from the CR circuit transits from a state lower than the first logic threshold lower than the predetermined logic threshold to a higher state While a low level signal is supplied to the inverter of the next stage, the level of the signal supplied from the CR circuit is lower than the second logic threshold after exceeding the second logic threshold higher than the predetermined logic threshold. When the transition is made, a high level signal is supplied to the inverter of the next stage.

本発明は、複数のインバータが直列接続されてなるインバータトレインの内の第(2n+1)番目に接続されているインバータから送出された信号、及び第(2n)番目のインバータから送出された信号を夫々抵抗及びコンデンサを介して第1番目のインバータに帰還供給することにより、発振信号を生成するにあたり、第1番目のインバータとして、以下の如きインバータを採用している。すなわち、第1番目のインバータは、上記の如き抵抗及びコンデンサから供給された信号のレベルが第1論理閾値よりも低い状態から高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する。また、第1番目のインバータは、これら抵抗及びコンデンサから供給された信号のレベルが上記した第1論理閾値よりも高い第2論理閾値を一旦超え、その後、この第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合、高レベルの信号を次段のインバータに供給する。   In the present invention, a signal sent from the (2n + 1) -th connected inverter in an inverter train in which a plurality of inverters are connected in series, and a signal sent from the (2n) -th inverter, respectively. The following inverter is used as the first inverter in generating the oscillation signal by feeding back to the first inverter through a resistor and a capacitor. That is, when the level of the signal supplied from the resistor and capacitor as described above transitions from a state lower than the first logic threshold to a high state, the first inverter sends a low level signal to the next stage inverter. Supply. In addition, the first inverter temporarily exceeds the second logic threshold value, which is higher than the first logic threshold value, after which the level of the signal supplied from these resistors and capacitors is lower than the second logic threshold value. When the transition is made, a high level signal is supplied to the inverter of the next stage.

かかる構成によれば、第1番目のインバータの入力端子上に生じるアンダーシュート及びオーバーシュートのピーク電位を低下させることができるので、この第1番目のインバータの素子寿命の低下を抑えることが可能となる。更に、アンダーシュート及びオーバーシュートの量を抑える為のコンデンサが不要となるので、その装置規模を小規模化することが可能となる。   According to such a configuration, since the peak potential of undershoot and overshoot generated on the input terminal of the first inverter can be reduced, it is possible to suppress a reduction in the element life of the first inverter. Become. Furthermore, since a capacitor for suppressing the amount of undershoot and overshoot is not required, the scale of the apparatus can be reduced.

半導体チップ10に形成されている本発明に係るCR発振回路を示す回路図である。1 is a circuit diagram showing a CR oscillation circuit according to the present invention formed in a semiconductor chip 10; FIG. インバータ1〜3の動作を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows operation | movement of the inverters 1-3. CR発振回路の内部動作を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows the internal operation | movement of CR oscillation circuit. CR発振回路の他の一例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows another example of CR oscillation circuit. インバータ11及び12の一例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows an example of the inverters 11 and 12. FIG. 半導体チップ10に形成されるCR発振回路の変形例を示す回路図である。6 is a circuit diagram showing a modification of the CR oscillation circuit formed in the semiconductor chip 10. FIG.

本発明は、複数のインバータ(1〜3)が直列接続されてなるインバータトレイン内の第(2n+1)番目に接続されているインバータ(3)から送出された信号を抵抗(5)を介して第1番目のインバータ(1)に供給すると共に、第(2n)番目のインバータ(2)から送出された信号をコンデンサ(4)を介して第1番目のインバータ(1)に供給することにより、発振信号を生成するCR発振回路である。この際、第1番目のインバータ(1)は、抵抗(5)及びコンデンサ(4)から供給された信号のレベルが第1論理閾値(TH)よりも低い状態から高い状態に遷移した場合には低レベル(GND)の信号を次段のインバータに供給する。また、第1番目のインバータ(1)は、抵抗(5)及びコンデンサ(4)から供給された信号のレベルが第1論理閾値(TH)よりも高い第2論理閾値(TH)を超えた後に当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベル(Vdd)の信号を次段のインバータに供給する。 In the present invention, a signal sent from the (2n + 1) -th connected inverter (3) in an inverter train formed by connecting a plurality of inverters (1 to 3) in series is passed through a resistor (5). By supplying to the first inverter (1) and supplying the signal sent from the (2n) th inverter (2) to the first inverter (1) via the capacitor (4), oscillation It is a CR oscillation circuit that generates a signal. At this time, when the first inverter (1) transitions from a state where the level of the signal supplied from the resistor (5) and the capacitor (4) is lower than the first logic threshold (TH L ) to a higher state. Supplies a low level (GND) signal to the next inverter. Further, the first inverter (1) has a level of a signal supplied from the resistor (5) and the capacitor (4) exceeding a second logic threshold (TH H ) higher than the first logic threshold (TH L ). After that, when the state transitions to a state lower than the second logic threshold value, a high level (Vdd) signal is supplied to the next stage inverter.

図1は、半導体集積装置としての半導体チップ10に形成されているCR発振回路の一例を示す回路図である。   FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a CR oscillation circuit formed in a semiconductor chip 10 as a semiconductor integrated device.

図1に示すように、本発明によるCR発振回路は、インバータ1〜3、コンデンサ4及び抵抗5を含む。   As shown in FIG. 1, the CR oscillation circuit according to the present invention includes inverters 1 to 3, a capacitor 4 and a resistor 5.

図1に示す如く、3つのインバータ1〜3が直列に接続されてなるインバータトレイン内のインバータ1の入力端子及びインバータ2の出力端子間にコンデンサ4が接続されており、インバータ1の入力端子及びインバータ3の出力端子間には抵抗5が接続されている。すなわち、図1に示すように、インバータ1の出力端子がラインL1を介してインバータ2の入力端子に接続されており、インバータ2の出力端子がラインL2を介してインバータ3の入力端子及びコンデンサ4の一端に接続されている。また、インバータ3の出力端子がラインL3を介して抵抗5の一端及び発振出力端子PDに接続されており、コンデンサ4及び抵抗5各々の他端がラインL0を介してインバータ1の入力端子に接続されている。このように、図1に示されるCR発振回路では、インバータ2及び3の出力端子に夫々接続されているコンデンサ4及び抵抗5からなるCR回路で生成された信号が、ラインL0を介してインバータ1の入力端子に供給される。   As shown in FIG. 1, a capacitor 4 is connected between the input terminal of the inverter 1 and the output terminal of the inverter 2 in the inverter train in which three inverters 1 to 3 are connected in series. A resistor 5 is connected between the output terminals of the inverter 3. That is, as shown in FIG. 1, the output terminal of the inverter 1 is connected to the input terminal of the inverter 2 via the line L1, and the output terminal of the inverter 2 is connected to the input terminal of the inverter 3 and the capacitor 4 via the line L2. It is connected to one end. The output terminal of the inverter 3 is connected to one end of the resistor 5 and the oscillation output terminal PD via the line L3, and the other end of each of the capacitor 4 and the resistor 5 is connected to the input terminal of the inverter 1 via the line L0. Has been. As described above, in the CR oscillation circuit shown in FIG. 1, the signal generated by the CR circuit including the capacitor 4 and the resistor 5 connected to the output terminals of the inverters 2 and 3, respectively, is transferred to the inverter 1 via the line L0. To the input terminal.

インバータ1は、第1の論理閾値TH、及びこの第1の論理閾値THよりも高い第2の論理閾値THからなる2つの閾値に基づき、入力信号のレベル反転を行う。すなわち、インバータ1は、その入力端子に供給された、図2に示す如き入力信号INのレベルが第1の論理閾値THよりも低い場合には論理レベル1に対応した高レベル、つまり電源電位Vddを有する反転信号を出力する。この際、図2に示すように、入力信号INのレベルが第1の論理閾値THよりも低い状態から、この第1の論理閾値THよりも高い状態に推移した場合には、インバータ1は、論理レベル0に対応した低レベル、つまり接地電位GNDを有する反転信号を出力する。その後、図2に示すように、入力信号INのレベルが一旦、第2の論理閾値THを超えた後に低下し、再び第2の論理閾値THを下回った状態になった場合に、インバータ1は、論理レベル0に対応した接地電位GNDを有する反転信号を出力する。 Inverter 1, a first logic threshold TH L, and based on the two thresholds comprised of high second logic threshold TH H than the first logical threshold TH L, performs level inversion of the input signal. That is, the inverter 1 has a high level corresponding to the logic level 1, that is, the power supply potential when the level of the input signal IN supplied to its input terminal is lower than the first logic threshold value TH L as shown in FIG. An inverted signal having Vdd is output. At this time, as shown in FIG. 2, when the level of the input signal IN from lower than the first logical threshold TH L, remained in a state higher than the first logical threshold TH L, the inverter 1 Outputs a low level corresponding to the logic level 0, that is, an inverted signal having the ground potential GND. Thereafter, as shown in FIG. 2, when the level of the input signal IN is temporarily lowered after exceeding the second logical threshold TH H, it was in a state of below again second logical threshold TH H, the inverter 1 outputs an inverted signal having the ground potential GND corresponding to the logic level 0.

要するに、直列に接続されたインバータ1〜3の内で、信号の流れる方向に対して上流側から第1番目に接続されているインバータ1は、立ち上がり論理閾値としての第1の論理閾値THに基づき入力信号が論理レベル0から1の状態に遷移する時点を検出し、この際、入力信号の論理レベルを反転させた信号、つまり論理レベル1から0の状態に遷移する反転信号を出力する。また、インバータ1は、立ち下がり論理閾値としての第2の論理閾値THにより、入力信号が論理レベル1から0の状態に遷移する時点を検出し、この際、入力信号の論理レベルを反転させた信号、つまり論理レベル0から1の状態に遷移する反転信号を出力するのでる。尚、第1の論理閾値THは、以下に説明するが如きインバータ2及び3の論理閾値THよりも小である。また、第2の論理閾値THは、インバータ2及び3の論理閾値THよりも大である。 In short, among the inverters 1 to 3 connected in series, the inverter 1 connected first from the upstream side in the signal flow direction has the first logic threshold value TH L as the rising logic threshold value. Based on this, a time point at which the input signal transitions from the logic level 0 to 1 is detected, and at this time, a signal obtained by inverting the logic level of the input signal, that is, an inverted signal from the logic level 1 to 0 is output. The inverter 1, a second logic threshold TH H as falling logic threshold, detects when the input signal transitions to the state 0 and a logic level 1, this time, by inverting the logic level of the input signal Therefore, an inverted signal that transitions from a logic level 0 to a 1 state is output. Note that the first logical threshold value TH L is smaller than the logical threshold value TH M of the inverters 2 and 3 as described below. Further, the second logic threshold value TH H is larger than the logic threshold value TH M of the inverters 2 and 3.

インバータ2及び3は、図2に示すように上記した第1の論理閾値THよりも高く且つ第2の論理閾値THよりも低い第3の論理閾値THに基づき、その入力端子に供給された入力信号のレベル反転を行う。すなわち、インバータ2及び3は、その入力端子に供給された、図2に示す如き入力信号INのレベルが第3の論理閾値THよりも低い場合には、論理レベル1に対応した高レベル、つまり電源電位Vddを有する反転信号を出力する。一方、入力信号INのレベルが第3の論理閾値THよりも高い場合には、インバータ2及び3は、図2に示す如く、論理レベル0に対応した低レベル、つまり接地電位GNDを有する反転信号を出力する。 The inverters 2 and 3 are supplied to their input terminals based on a third logic threshold value TH M that is higher than the first logic threshold value TH L and lower than the second logic threshold value TH H as shown in FIG. The level of the input signal is inverted. That is, when the level of the input signal IN as shown in FIG. 2 supplied to the input terminals of the inverters 2 and 3 is lower than the third logic threshold value TH M , the inverters 2 and 3 have a high level corresponding to the logic level 1; That is, an inversion signal having the power supply potential Vdd is output. On the other hand, if the level of the input signal IN is higher than the third logical threshold TH M, the inverter 2 and 3, as shown in FIG. 2, the low-level corresponding to a logic level 0, i.e. inversion having the ground potential GND Output a signal.

以下に、図1に示すCR発振回路の動作について図3を参照しつつ説明する。   Hereinafter, the operation of the CR oscillation circuit shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG.

先ず、電源投入直後の時点t0では、ラインL0及びL2の電位は論理レベル0に対応した接地電位GNDの状態、つまり低レベルの状態にあり、ラインL1及びL3の電位は論理レベル1に対応した電源電位Vddの状態、つまり高レベルの状態にある。かかる電源投入によってラインL3には電源電位Vddが印加されるので、抵抗5を介してコンデンサ4が充電される。これにより、ラインL0上の電位が図3に示す如く時間経過につれ徐々に上昇する。その後、時点t1にて、ラインL0上の電位がインバータ1の論理閾値THを越えると、インバータ1は、論理レベル0を示す反転信号をラインL1を介してインバータ2に供給する。インバータ1から、論理レベル0を示す反転信号が供給されると、インバータ2は、その論理レベルを反転させた論理レベル1を示す反転信号を図3に示す如くラインL2を介してインバータ3及びコンデンサ4に供給する。これにより、インバータ3は、論理レベル0に対応した接地電位GNDをラインL3を介して抵抗5に供給する。 First, at time t0 immediately after power-on, the potentials of the lines L0 and L2 are in the ground potential GND state corresponding to the logic level 0, that is, the low level state, and the potentials of the lines L1 and L3 correspond to the logic level 1. The power supply potential Vdd is in a high level state. Since the power supply potential Vdd is applied to the line L3 by turning on the power, the capacitor 4 is charged via the resistor 5. As a result, the potential on the line L0 gradually rises with time as shown in FIG. Thereafter, when the potential on the line L0 exceeds the logic threshold value TH L of the inverter 1 at the time t1, the inverter 1 supplies an inverted signal indicating the logic level 0 to the inverter 2 via the line L1. When an inverted signal indicating a logic level 0 is supplied from the inverter 1, the inverter 2 outputs an inverted signal indicating the logic level 1 obtained by inverting the logic level via the line L2 as shown in FIG. 4 is supplied. Thereby, the inverter 3 supplies the ground potential GND corresponding to the logic level 0 to the resistor 5 via the line L3.

尚、図3に示すように、時点t1においてラインL2の電位が接地電位GNDの状態から電源電位Vddの状態に遷移すると、コンデンサ4の過渡現象により、ラインL0上の電位が急峻に増加する。この際、ラインL0上の電位は、インバータ1の論理閾値THを上回り、電源電位Vdd、又はこの電源電位Vddよりも僅かに小なる電位にまで到る。その後、上記した如く、インバータ3によってラインL3上に論理レベル0の反転信号が送出されると、接地電位GNDが抵抗5を介してラインL0上に印加されるので、コンデンサ4が放電状態となる。これにより、ラインL0上の電位が図3に示す如く時間経過に伴い徐々に低下する。その後、時点t2において、ラインL0上の電位がインバータ1の論理閾値THを下回ると、インバータ1は、論理レベル1を示す反転信号をラインL1を介してインバータ2に供給する。この際、インバータ2は、その論理レベルを反転させた論理レベル0を示す反転信号をラインL2を介してインバータ3及びコンデンサ4に供給する。これにより、インバータ3は、図3に示す如く論理レベル1に対応した電源電位Vddを、ラインL3を介して抵抗5に供給する。 As shown in FIG. 3, when the potential of the line L2 transitions from the ground potential GND state to the power supply potential Vdd state at the time t1, the potential on the line L0 increases sharply due to the transient phenomenon of the capacitor 4. At this time, the potential on the line L0, exceeds the logic threshold TH H of the inverter 1, leading to to a power supply potential Vdd, and or slightly smaller becomes potential than the power supply potential Vdd. After that, as described above, when an inverted signal of logic level 0 is sent on the line L3 by the inverter 3, the ground potential GND is applied to the line L0 via the resistor 5, so that the capacitor 4 is discharged. . As a result, the potential on the line L0 gradually decreases with time as shown in FIG. Thereafter, at time t2, the potential on the line L0 is below the logical threshold TH H of the inverter 1, the inverter 1 is supplied to the inverter 2 through the line L1 of the inversion signal indicating a logic level 1. At this time, the inverter 2 supplies an inverted signal indicating a logic level 0 obtained by inverting the logic level to the inverter 3 and the capacitor 4 via the line L2. As a result, the inverter 3 supplies the power supply potential Vdd corresponding to the logic level 1 to the resistor 5 through the line L3 as shown in FIG.

尚、図3に示すように、時点t2においてラインL2の電位が電源電位Vddの状態から接地電位GNDの状態に遷移すると、コンデンサ4の過渡現象により、ラインL0上の電位が急峻に低下する。この際、ラインL0上の電位は、インバータ1の論理閾値THを下回って、接地電位GND、又は接地電位GNDよりも僅かに高い電位にまで到る。その後、上記した如く、インバータ3によってラインL3上に論理レベル1の反転信号が送出されると、電源電位Vddが抵抗5を介してラインL0上に印加されるので、コンデンサ4が充電状態となる。これにより、ラインL0上の電位が図3に示す如く時間経過に伴い徐々に増加する。 As shown in FIG. 3, when the potential of the line L2 transitions from the power supply potential Vdd state to the ground potential GND state at time t2, the potential on the line L0 sharply decreases due to the transient phenomenon of the capacitor 4. At this time, the potential on the line L0 falls below the logic threshold value TH L of the inverter 1 and reaches the ground potential GND or a potential slightly higher than the ground potential GND. Thereafter, as described above, when an inverted signal of logic level 1 is sent on the line L3 by the inverter 3, the power supply potential Vdd is applied to the line L0 via the resistor 5, so that the capacitor 4 is charged. . As a result, the potential on the line L0 gradually increases with time as shown in FIG.

図1に示すCR発振回路は、上述した如き時点t0〜t2の動作を周期的に繰り返すことにより、図3に示す如き周期Tの発振信号を生成し、これをラインL3及び発振出力端子PDを介して出力する。   The CR oscillation circuit shown in FIG. 1 generates an oscillation signal having a period T as shown in FIG. 3 by periodically repeating the operations at the time points t0 to t2 as described above. The CR oscillation circuit is connected to the line L3 and the oscillation output terminal PD. Output via.

ここで、かかるCR発振回路では、直列に接続されたインバータ1〜3の内で、CR回路(4、5)で生成された信号の入力対象となるインバータ1として、以下の如き2つの閾値を有するものを用いている。   Here, in this CR oscillation circuit, among the inverters 1 to 3 connected in series, the following two thresholds are set as the inverter 1 that is the input target of the signal generated by the CR circuit (4, 5). Use what you have.

すなわち、インバータ1は、入力信号が論理レベル0から1に遷移したことを検出する為の論理閾値THとしてインバータ2及び3の論理閾値THよりも低いものを採用し、論理レベル1から0に遷移したことを検出する為の論理閾値THとしてインバータ2及び3の論理閾値THよりも高いものを採用している。つまり、インバータ1では、シュミットトリガ型のインバータとは逆に、論理閾値(TH)が論理閾値(TH)よりも低いのである。 That is, the inverter 1 employs a logic threshold TH L that is lower than the logic threshold TH M of the inverters 2 and 3 for detecting that the input signal has transitioned from the logic level 0 to 1, and the logic level 1 to 0 As the logic threshold value TH H for detecting the transition to, a value higher than the logic threshold value TH M of the inverters 2 and 3 is adopted. That is, in the inverter 1, in contrast to the Schmitt trigger type inverter, the logic threshold value (TH L ) is lower than the logic threshold value (TH H ).

かかるインバータ1によれば、ラインL0上の電位が接地電位GNDの状態から徐々に上昇する区間(t0〜t1)において、インバータ2及び3の論理閾値THよりも低い論理閾値THの時点t1で論理レベル1から0の状態に遷移する信号が次段のインバータ2に供給される。これにより、インバータ2は、論理レベル1に対応した電源電位Vddをコンデンサ4に供給するので、ラインL0上にはコンデンサ4の過渡現象による急峻な電位上昇、いわゆるオーバーシュートが生じる。しかしながら、図3に示すように、インバータ2及び3の論理閾値THよりも低い電位(TH)状態からの電位上昇である為、この論理閾値THと等しい電位状態からオーバーシュートが生じる場合に比してオーバーシュートのピーク電位が低くなる。 According to the inverter 1, in the period (t0 to t1) in which the potential on the line L0 gradually increases from the ground potential GND state, the time point t1 of the logic threshold value TH L lower than the logic threshold value TH M of the inverters 2 and 3 Thus, a signal that transitions from the logic level 1 to the state 0 is supplied to the inverter 2 in the next stage. As a result, the inverter 2 supplies the power supply potential Vdd corresponding to the logic level 1 to the capacitor 4, so that a steep potential increase due to a transient phenomenon of the capacitor 4, so-called overshoot occurs on the line L 0. However, as shown in FIG. 3, since the potential rises from a potential (TH L ) state lower than the logical threshold value TH M of the inverters 2 and 3, overshoot occurs from a potential state equal to the logical threshold value TH M. The peak potential of overshoot is lower than that of.

また、インバータ1によれば、ラインL0上の電位が徐々に低下する区間(t1〜t2)において、インバータ2及び3の論理閾値THよりも高い論理閾値THの時点t2で論理レベル0から1の状態に遷移する信号が次段のインバータ2に供給される。これにより、インバータ2は、論理レベル0に対応した接地電位GNDをコンデンサ4に供給するので、ラインL0上にはコンデンサ4の過渡現象による急峻な電位下降、いわゆるアンダーシュートが生じる。しかしながら、図3に示すように、インバータ2及び3の論理閾値THよりも高い電位(TH)状態からの電位下降である為、この論理閾値THと等しい電位状態からアンダーシュートが生じる場合に比してオーバーシュートのピーク電位が低くなる。 Further, according to the inverter 1, in the interval (t1 to t2) in which the potential on the line L0 is decreased gradually, from a logic level 0 in the logic threshold TH is higher than the M logical threshold TH when the H t2 of the inverter 2 and 3 A signal transitioning to the state 1 is supplied to the inverter 2 in the next stage. As a result, the inverter 2 supplies the ground potential GND corresponding to the logic level 0 to the capacitor 4, so that a steep potential drop due to a transient phenomenon of the capacitor 4, a so-called undershoot occurs on the line L 0. However, as shown in FIG. 3, since the potential drops from a potential (TH H ) state higher than the logical threshold TH M of the inverters 2 and 3, undershoot occurs from a potential state equal to the logical threshold TH M. The peak potential of overshoot is lower than that of.

よって、かかるCR発振回路によれば、ラインL0上にアンダーシュート及びオーバーシュートが生じても、そのピーク電位を低くすることができる。従って、このようなアンダーシュート及びオーバーシュートによってインバータ1の入力端子に印加される電位が電源電位Vdd〜接地電位GNDの範囲を超えてしまうことに起因する素子寿命の低下を抑えることが可能となる。更に、本発明によるCR発振回路によれば、アンダーシュート及びオーバーシュートの量を抑える為のコンデンサが不要となるので、その装置規模を小規模化することが可能となる。   Therefore, according to the CR oscillation circuit, even if undershoot and overshoot occur on the line L0, the peak potential can be lowered. Therefore, it is possible to suppress a decrease in element lifetime due to the potential applied to the input terminal of the inverter 1 exceeding the range of the power supply potential Vdd to the ground potential GND due to such undershoot and overshoot. . Furthermore, according to the CR oscillation circuit according to the present invention, a capacitor for suppressing the amount of undershoot and overshoot is not required, so that the scale of the device can be reduced.

図4は、本発明によるCR発振回路の他の実施例を示す回路図である。   FIG. 4 is a circuit diagram showing another embodiment of the CR oscillation circuit according to the present invention.

尚、図4に示すCR発振回路においては、インバータ1に代えてインバータ1aを採用した点を除く他の構成は図1に示すものと同一である。   4 is the same as that shown in FIG. 1 except that the inverter 1a is used instead of the inverter 1.

図4において、インバータ1aは、2つのインバータ21及び22と、セレクタ23とを含むものである。   In FIG. 4, the inverter 1 a includes two inverters 21 and 22 and a selector 23.

第1のインバータとしてのインバータ21は、その入力端子に供給された入力信号INのレベルが図2に示す如き第1の論理閾値THよりも低い場合には論理レベル1、高い場合には論理レベル0を示す第1反転信号Vをセレクタ23に供給する。第2のインバータとしてのインバータ22は、その入力端子に供給された入力信号INのレベルが図2に示す如き第2の論理閾値THよりも低い場合には論理レベル1、高い場合には論理レベル0を示す第2反転信号Vをセレクタ23に供給する。尚、インバータ21及び22は共に図5に示す如きpチャネルMOS(Metal Oxide Semiconductor)型のトランジスタQ1及びnチャネルMOS型のトランジスタQ2からなる。この際、インバータ21とインバータ22とで、トランジスタQ1及びQ2のゲート幅またはゲート長を個別に設定することにより、夫々の論理閾値TH及びTHを得る。セレクタ23は、インバータ2によってラインL2上に送出された反転信号が論理レベル0を示す低レベルの信号である場合には、インバータ21から供給された第1反転信号V、及びインバータ22から供給された第2反転信号Vの内から第1反転信号Vを選択し、これをラインL1を介して次段のインバータ2に供給する。一方、このインバータ2から送出された反転信号が論理レベル1を示す高レベルの信号である場合には、セレクタ23は、インバータ22から供給された第2反転信号Vを選択し、これをラインL1を介して次段のインバータ2に供給する。 The inverter 21 as the first inverter has a logic level 1 when the level of the input signal IN supplied to its input terminal is lower than the first logic threshold TH L as shown in FIG. supplying a first inverted signal V H indicating a level 0 to the selector 23. The inverter 22 as the second inverter has a logic level 1 when the level of the input signal IN supplied to its input terminal is lower than the second logic threshold value TH H as shown in FIG. A second inverted signal VL indicating level 0 is supplied to the selector 23. The inverters 21 and 22 are each composed of a p-channel MOS (Metal Oxide Semiconductor) type transistor Q1 and an n-channel MOS type transistor Q2 as shown in FIG. At this time, the logic threshold values TH L and TH H are obtained by individually setting the gate widths or gate lengths of the transistors Q1 and Q2 in the inverter 21 and the inverter 22, respectively. The selector 23 supplies the first inverted signal V H supplied from the inverter 21 and the inverter 22 when the inverted signal sent out on the line L2 by the inverter 2 is a low level signal indicating the logic level 0. The first inverted signal V H is selected from the second inverted signals V L thus generated, and is supplied to the inverter 2 at the next stage via the line L1. On the other hand, when the inverted signal sent from the inverter 2 is a high level signal indicating the logic level 1, the selector 23 selects the second inverted signal VL supplied from the inverter 22 and outputs it to the line. It supplies to the inverter 2 of the next stage via L1.

図4に示す如き構成によっても、図1に示す構成を有するCR発振回路と同様な動作、つまり図3に示す如き発振動作が為される。   4 also performs the same operation as the CR oscillation circuit having the configuration shown in FIG. 1, that is, the oscillation operation shown in FIG.

また、図1又は図4では、3つのインバータ1〜3が直列に接続されてなるインバータトレインを含むCR発振回路に本発明を適用した場合の構成を示しているが、このインバータトレイン内のインバータの数は3個に限定されず、4以上の複数個であっても良い。   In addition, FIG. 1 or FIG. 4 shows a configuration when the present invention is applied to a CR oscillation circuit including an inverter train in which three inverters 1 to 3 are connected in series. The number of is not limited to three, and may be four or more.

要するに、信号の流れに沿って上流から下流に向かって順に直列接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインを含むCR発振回路にも同様に適用可能である。この際、CR発振回路としては、インバータトレイン内の上流から第(2n)番目(nは1以上の整数)のインバータから送出された信号がコンデンサを介して、インバータトレイン内の上流から第1番目のインバータに供給されており、上流から第(2n+1)番目に接続されているインバータから送出された信号が抵抗を介して第1番目のインバータに供給される構成となっていれば良いのである。   In short, the present invention can be similarly applied to a CR oscillation circuit including an inverter train including m (m is an integer of 3 or more) inverters connected in series in order from upstream to downstream along the signal flow. At this time, as the CR oscillation circuit, the signal sent from the (2n) th inverter (n is an integer of 1 or more) from the upstream in the inverter train is passed through the capacitor and the first from the upstream in the inverter train. The signal sent from the (2n + 1) th inverter connected from the upstream is only required to be supplied to the first inverter via the resistor.

また、上記実施例においては、CR発振回路を構成する全ての素子(インバータ1〜3、コンデンサ4及び抵抗5)を1つの半導体チップ10に形成するようにしているが、コンデンサ4及び抵抗5については、これらを半導体チップ10内に設けず、この半導体チップ10に外部接続する形態でCR発振回路を構築するようにしても良い。   In the above embodiment, all elements (inverters 1 to 3, capacitor 4 and resistor 5) constituting the CR oscillation circuit are formed on one semiconductor chip 10. The CR oscillation circuit may be constructed in such a manner that these are not provided in the semiconductor chip 10 but are externally connected to the semiconductor chip 10.

例えば、図6(a)に示す如く、図1に示す半導体チップ10からコンデンサ4及び抵抗5を省き、外部接続でコンデンサ4及び抵抗5各々の一端を共通に接続する為の外部端子PDと、外部接続でコンデンサ4の他端をインバータ2の出力端子に接続する為の外部端子PDと、外部接続で抵抗5の他端をインバータ3の出力端子に接続する為の外部端子PDと、を設ける。つまり、上述した如きインバータトレイン内の第1番目のインバータ1の入力端子に接続されている第1の外部端子PDと、第(2n)番目に接続されているインバータ2の出力端子に接続されている第2の外部端子PDと、第(2n+1)番目に接続されているインバータ3の出力端子に接続されている第3の外部端子PDと、を半導体チップ10に設けるのである。 For example, as shown in FIG. 6A, an external terminal PD 1 for omitting the capacitor 4 and the resistor 5 from the semiconductor chip 10 shown in FIG. An external terminal PD 2 for connecting the other end of the capacitor 4 to the output terminal of the inverter 2 by external connection, and an external terminal PD 3 for connecting the other end of the resistor 5 to the output terminal of the inverter 3 by external connection. Are provided. That, is connected to the first external terminal PD 1 which is connected to an input terminal of the first inverter 1 in the inverter train as mentioned above, the output terminal of the inverter 2 connected to the (2n) th and a second external terminal PD 2 has, is of providing a first (2n + 1) 3 which is connected to the output terminal of the inverter 3 connected to the second external terminal PD 3, the semiconductor chip 10.

また、図6(b)に示す如く、図1に示す半導体チップ10からコンデンサ4だけを省き、外部接続でコンデンサ4をインバータ1の入力端子及びインバータ2の出力端子に接続する為の外部端子PD及びPDを設けるようにしても良い。つまり、上述した如きインバータトレイン内の第1番目のインバータ1の入力端子に接続されている第1の外部端子PDと、第(2n)番目に接続されているインバータ2の出力端子に接続されている第2の外部端子PDと、を半導体チップ10に設けるのである。 Further, as shown in FIG. 6B, only the capacitor 4 is omitted from the semiconductor chip 10 shown in FIG. 1, and the external terminal PD for connecting the capacitor 4 to the input terminal of the inverter 1 and the output terminal of the inverter 2 by external connection. 1 and PD 2 may be provided. That, is connected to the first external terminal PD 1 which is connected to an input terminal of the first inverter 1 in the inverter train as mentioned above, the output terminal of the inverter 2 connected to the (2n) th The second external terminal PD 2 is provided on the semiconductor chip 10.

また、図6(c)に示す如く、図1に示す半導体チップ10から抵抗5だけを省き、外部接続で抵抗5をインバータ1の入力端子、及びインバータ3の出力端子に接続する為の外部端子PD及びPDを設けるようにしても良い。つまり、上述した如きインバータトレイン内の第1番目のインバータ1の入力端子に接続されている第1の外部端子PDと、第(2n+1)番目に接続されているインバータ3の出力端子に接続されている第2の外部端子PDと、を半導体チップ10に設けるのである。 6C, only the resistor 5 is omitted from the semiconductor chip 10 shown in FIG. 1, and the external terminal for connecting the resistor 5 to the input terminal of the inverter 1 and the output terminal of the inverter 3 by external connection. PD 1 and PD 2 may be provided. In other words, the first external terminal PD 1 connected to the input terminal of the first inverter 1 in the inverter train as described above and the output terminal of the inverter 3 connected to the (2n + 1) th are connected. The second external terminal PD 2 is provided on the semiconductor chip 10.

又、上記実施例においては、CR発振回路を構成する反転素子としてインバータ1〜3を用いているが、これらインバータに代えてナンドゲート又はノアゲートを用いるようにしても良い。   In the above embodiment, the inverters 1 to 3 are used as the inverting elements constituting the CR oscillation circuit, but a NAND gate or a NOR gate may be used instead of these inverters.

1〜3 インバータ
4 コンデンサ
5 抵抗
1-3 Inverter 4 Capacitor 5 Resistance

Claims (7)

上流から下流に向かって順に直列に接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインと、前記インバータトレイン内の上流から第(2n)番目(nは1以上の整数)に接続されているインバータから送出された信号をコンデンサを介して前記インバータトレイン内の上流から第1番目に接続されているインバータに供給すると共に、前記インバータトレイン内の上流から第(2n+1)番目に接続されているインバータから送出された信号を抵抗を介して前記第1番目のインバータに供給するCR回路と、を有するCR発振回路であって、
前記m個のインバータのうちで前記第1番目のインバータを除くインバータの各々は、入力した信号のレベルが所定論理閾値より低い場合には高レベルの信号を出力する一方、前記所定論理閾値よりも高い場合には低レベルの信号を出力し、
前記第1番目のインバータは、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値より低い第1論理閾値よりも低い状態から当該第1論理閾値よりも高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する一方、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値よりも高い第2論理閾値よりも高い状態から当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベルの信号を前記次段のインバータに供給することを特徴とするCR発振回路。
An inverter train composed of m (m is an integer of 3 or more) inverters connected in series in order from upstream to downstream, and (2n) th (n is an integer of 1 or more) from the upstream in the inverter train The signal sent from the inverter connected to the inverter is supplied to the inverter connected first from the upstream in the inverter train via the capacitor, and (2n + 1) th from the upstream in the inverter train. A CR oscillation circuit having a CR circuit for supplying a signal sent from a connected inverter to the first inverter through a resistor,
Of the m inverters, each of the inverters other than the first inverter outputs a high-level signal when the level of the input signal is lower than a predetermined logic threshold, while the inverter exceeds the predetermined logic threshold. When it is high, it outputs a low level signal,
The first inverter is low when the level of the signal supplied from the CR circuit transitions from a state lower than the first logic threshold lower than the predetermined logic threshold to a state higher than the first logic threshold. While the level signal is supplied to the inverter of the next stage, the level of the signal supplied from the CR circuit is changed from a state higher than the second logic threshold higher than the predetermined logic threshold to a state lower than the second logic threshold. A CR oscillation circuit characterized in that a high-level signal is supplied to the next-stage inverter when a transition is made.
前記第1番目のインバータは、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記第1論理閾値よりも低い場合には高レベルの信号を生成する一方、高い場合には低レベルの信号を生成する第1インバータと、
前記CR回路から供給された信号のレベルが前記第2論理閾値よりも低い場合には高レベルの信号を生成する一方、高い場合には低レベルの信号を生成する第2インバータと、
前記第(2n)番目のインバータから送出された信号のレベルに応じて前記第1及び第2インバータの内の一方から送出された信号を選択しこれを前記次段のインバータに供給するセレクタと、を有することを特徴とする請求項1記載のCR発振回路。
The first inverter generates a high level signal when the level of the signal supplied from the CR circuit is lower than the first logic threshold value, and generates a low level signal when the level is high. A first inverter;
A second inverter that generates a high level signal when the level of the signal supplied from the CR circuit is lower than the second logic threshold, and generates a low level signal when the level is higher;
A selector that selects a signal sent from one of the first and second inverters according to the level of the signal sent from the (2n) -th inverter and supplies the selected signal to the next-stage inverter; CR oscillation circuit according to claim 1, wherein a.
前記セレクタは、前記第(2n)番目のインバータから送出された信号が前記低レベルである場合には前記第1インバータから送出された信号を選択しこれを前記次段のインバータに供給する一方、前記第(2n)番目のインバータから送出された信号が前記高レベルである場合には前記第2インバータから送出された信号を選択しこれを前記次段のインバータに供給することを特徴とする請求項2記載のCR発振回路。 The selector selects the signal sent from the first inverter when the signal sent from the (2n) th inverter is at the low level, and supplies it to the next-stage inverter, When the signal sent from the (2n) th inverter is at the high level, the signal sent from the second inverter is selected and supplied to the next-stage inverter. Item 3. The CR oscillation circuit according to Item 2 . 上流から下流に向かって順に直列に接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインと、前記インバータトレイン内の上流から第(2n)番目(nは1以上の整数)に接続されているインバータから送出された信号をコンデンサを介して前記インバータトレインの内の上流から第1番目に接続されているインバータに供給すると共に、前記インバータトレイン内の上流から第(2n+1)番目に接続されているインバータから送出された信号を抵抗を介して前記第1番目のインバータに供給するCR回路と、が形成されている半導体集積装置であって、
前記インバータトレイン内の1のインバータから送出された信号を発振信号として出力する発振出力端子を備え、
前記m個のインバータのうちで前記第1番目のインバータを除くインバータの各々は、入力した信号のレベルが所定論理閾値より低い場合には高レベルの信号を出力する一方、前記所定論理閾値よりも高い場合には低レベルの信号を出力し、
前記第1番目のインバータは、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値より低い第1論理閾値よりも低い状態から高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する一方、前記CR回路から供給された信号のレベルが前記所定論理閾値よりも高い第2論理閾値を超えた後に当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベルの信号を前記次段のインバータに供給することを特徴とする半導体集積装置
An inverter train composed of m (m is an integer of 3 or more) inverters connected in series in order from upstream to downstream, and (2n) th (n is an integer of 1 or more) from the upstream in the inverter train The signal sent from the inverter connected to the inverter is supplied to the inverter connected first from the upstream in the inverter train via the capacitor, and (2n + 1) th from the upstream in the inverter train. A CR circuit for supplying a signal sent from an inverter connected to the first inverter via a resistor,
An oscillation output terminal for outputting a signal sent from one inverter in the inverter train as an oscillation signal;
Of the m inverters, each of the inverters other than the first inverter outputs a high-level signal when the level of the input signal is lower than a predetermined logic threshold, while the inverter exceeds the predetermined logic threshold. When it is high, it outputs a low level signal,
The first inverter outputs a low level signal in the next stage when the level of the signal supplied from the CR circuit transitions from a state lower than the first logic threshold lower than the predetermined logic threshold to a higher state. While the signal is supplied to the inverter, the level of the signal supplied from the CR circuit exceeds the second logic threshold value higher than the predetermined logic threshold value, and then transitions to a state lower than the second logic threshold value. A semiconductor integrated device, wherein a signal is supplied to the inverter of the next stage .
上流から下流に向かって順に直列に接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインが形成されている半導体集積装置であって、
前記インバータトレイン内の上流から第1番目に接続されているインバータの入力端子に接続されている第1外部端子と、
前記インバータトレイン内の上流から第(2n)番目(nは1以上の整数)に接続されているインバータの出力端子に接続されている第2外部端子と、
前記インバータトレイン内の上流から第(2n+1)番目に接続されているインバータの出力端子に接続されている第3外部端子と、を備え、
前記m個のインバータのうちで前記第1番目のインバータを除くインバータの各々は、入力した信号のレベルが所定論理閾値より低い場合には高レベルの信号を出力する一方、前記所定論理閾値よりも高い場合には低レベルの信号を出力し、
前記第1番目のインバータは、前記入力端子上のレベルが前記所定論理閾値より低い第1論理閾値よりも低い状態から高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する一方、前記入力端子上のレベルが前記所定論理閾値よりも高い第2論理閾値を超えた後に当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベルの信号を前記次段のインバータに供給することを特徴とする半導体集積装置。
(The m 3 or more integer) m pieces which are connected in series in this order toward the upstream to downstream a semiconductor integrated device inverter train consisting of inverters are made form,
A first external terminal connected to the input terminal of the inverter connected first from the upstream in the inverter train;
A second external terminal connected to the output terminal of the inverter connected to the (2n) th (n is an integer of 1 or more) from the upstream in the inverter train ;
A third external terminal connected to the output terminal of the inverter connected to the (2n + 1) th from the upstream in the inverter train,
Of the m inverters, each of the inverters other than the first inverter outputs a high-level signal when the level of the input signal is lower than a predetermined logic threshold, while the inverter exceeds the predetermined logic threshold. When it is high, it outputs a low level signal,
The first inverter supplies a low-level signal to the next-stage inverter when the level on the input terminal transitions from a state lower than the first logic threshold lower than the predetermined logic threshold to a higher state. On the other hand, when the level on the input terminal exceeds the second logic threshold value higher than the predetermined logic threshold value and then transitions to a state lower than the second logic threshold value, a high level signal is sent to the next stage inverter. A semiconductor integrated device.
上流から下流に向かって順に直列に接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインが形成されている半導体集積装置であって、
前記インバータトレイン内の上流から第(2n+1)番目(nは1以上の整数)に接続されているインバータの出力端子、及び前記インバータトレイン内の上流から第1番目に接続されているインバータの入力端子間に接続された抵抗と
前記第1番目インバータの入力端子に接続されている第1外部端子と、
前記インバータトレイン内の上流から第(2n)番目に接続されているインバータの出力端子に接続されている第2外部端子と、を備え、
前記m個のインバータのうちで前記第1番目のインバータを除くインバータの各々は、入力した信号のレベルが所定論理閾値より低い場合には高レベルの信号を出力する一方、前記所定論理閾値よりも高い場合には低レベルの信号を出力し、
前記第1番目のインバータは、前記入力端子上のレベルが前記所定論理閾値より低い第1論理閾値よりも低い状態から高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する一方、前記入力端子上のレベルが前記所定論理閾値よりも高い第2論理閾値を超えた後に当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベルの信号を前記次段のインバータに供給することを特徴とする半導体集積装置。
A semiconductor integrated device in which an inverter train including m (m is an integer of 3 or more) inverters connected in series in order from upstream to downstream is formed,
The output terminal of the inverter connected to the (2n + 1) th (n is an integer equal to or greater than 1) from the upstream in the inverter train, and the input terminal of the inverter connected first from the upstream in the inverter train A resistor connected between ,
A first external terminal connected to an input terminal of the first numbered inverter,
And a second external terminal connected to an output terminal of the inverter from the upstream is connected to the (2n) th in the inverter train,
Of the m inverters, each of the inverters other than the first inverter outputs a high-level signal when the level of the input signal is lower than a predetermined logic threshold, while the inverter exceeds the predetermined logic threshold. When it is high, it outputs a low level signal,
The first inverter supplies a low-level signal to the next-stage inverter when the level on the input terminal transitions from a state lower than the first logic threshold lower than the predetermined logic threshold to a higher state. On the other hand, when the level on the input terminal exceeds the second logic threshold value higher than the predetermined logic threshold value and then transitions to a state lower than the second logic threshold value, a high level signal is sent to the next stage inverter. A semiconductor integrated device.
上流から下流に向かって順に直列に接続されたm個(mは3以上の整数)のインバータからなるインバータトレインが形成されている半導体集積装置であって、
前記インバータトレイン内の上流から第(2n)番目(nは1以上の整数)に接続されているインバータの出力端子、及び前記インバータトレイン内の上流から第1番目に接続されているインバータの入力端子間に接続されたコンデンサと、
前記第1番目のインバータの入力端子に接続されている第1外部端子と、
前記インバータトレイン内の上流から第(2n+1)番目に接続されているインバータの出力端子に接続されている第2外部端子と、を備え、
前記m個のインバータのうちで前記第1番目のインバータを除くインバータの各々は、入力した信号のレベルが所定論理閾値より低い場合には高レベルの信号を出力する一方、前記所定論理閾値よりも高い場合には低レベルの信号を出力し、
前記第1番目のインバータは、前記入力端子上のレベルが前記所定論理閾値より低い第1論理閾値よりも低い状態から高い状態に遷移した場合には低レベルの信号を次段のインバータに供給する一方、前記入力端子上のレベルが前記所定論理閾値よりも高い第2論理閾値を超えた後に当該第2論理閾値よりも低い状態に遷移した場合には高レベルの信号を前記次段のインバータに供給することを特徴とする半導体集積装置
A semiconductor integrated device in which an inverter train including m (m is an integer of 3 or more) inverters connected in series in order from upstream to downstream is formed,
The output terminal of the inverter connected to the (2 n) th (n is an integer equal to or greater than 1) from the upstream in the inverter train, and the input of the inverter connected first from the upstream in the inverter train A capacitor connected between the terminals;
A first external terminal connected to an input terminal of the first inverter;
A second external terminal connected to the output terminal of the inverter connected to the (2n + 1 ) th from the upstream in the inverter train,
Of the m inverters, each of the inverters other than the first inverter outputs a high-level signal when the level of the input signal is lower than a predetermined logic threshold, while the inverter exceeds the predetermined logic threshold. When it is high, it outputs a low level signal,
The first inverter supplies a low-level signal to the next-stage inverter when the level on the input terminal transitions from a state lower than the first logic threshold lower than the predetermined logic threshold to a higher state. On the other hand, when the level on the input terminal exceeds the second logic threshold value higher than the predetermined logic threshold value and then transitions to a state lower than the second logic threshold value, a high level signal is sent to the next stage inverter. A semiconductor integrated device .
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JPS5817723A (en) * 1981-07-23 1983-02-02 Toshiba Corp Oscillation circuit
JP3511753B2 (en) * 1994-09-28 2004-03-29 セイコーエプソン株式会社 Ring oscillator and oscillation method
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