JP5804761B2 - 撮像装置及びその制御方法、並びにプログラム - Google Patents
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Description
使用環境により、各構成部材が異なった変形量で変化する事から、変化する隙間の位置と幅に対して温度による補正をかける。
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)がプログラムコードを読み出して実行する処理である。この場合、そのプログラム、及び該プログラムを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
100 カメラユニット
120 メインミラー
120a 上側メインミラー
120b 下側メインミラー
122 隙間
130 測光センサ
133 ペンタプリズム
135 接眼レンズ
140 CMOS
150 焦点検出CCD
152 フィールドレンズ
300 レンズユニット
310 撮像レンズ
312 絞り
Claims (9)
- 撮像レンズを透過した光束を当該光束のうちの一部の光束を除いて反射する反射手段と、前記反射手段により反射された光束が照射される受光面で受光された光束に対して測光する測光手段とを備え、前記反射手段は、複数枚のミラーを並べて反射面を形成し、前記撮像レンズを透過した光束のうち、前記複数枚のミラーの隙間に到達した光束を反射しない撮像装置であって、
前記測光手段により測光された光束の測光値を取得する取得手段と、
前記受光面により受光され、前記測光手段により測光され、前記取得手段により取得された前記一部の光束が除かれた光束の測光値を補正する補正手段と
を備えたことを特徴とする撮像装置。 - 前記補正手段は、前記複数枚のミラーの隙間に関する情報に基づいて、前記取得手段により取得された測光値を補正することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記補正手段は、前記複数枚のミラーの隙間の位置に基づいて、前記取得手段により取得された測光値を補正することを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
- 前記補正手段は、前記複数枚のミラーの隙間の幅に基づいて、前記取得手段により取得された測光値を補正することを特徴とする請求項2又は3に記載の撮像装置。
- 前記補正手段は、瞳情報、及び絞り情報を用いて、前記取得手段により取得された測光値を補正することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記補正手段は、前記受光面を複数の領域に分割することで得られた前記領域ごとに前記測光手段により測光されて前記取得手段により取得された測光値を補正することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記補正手段は、前記反射手段が動作した回数に応じて前記取得手段により取得された測光値を補正することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 撮像レンズを透過した光束を、当該光束のうちの一部の光束を除いて反射する反射手段と、前記反射手段により反射された光束が照射される受光面で受光された光束に対して測光する測光手段とを備え、前記反射手段は、複数枚のミラーを並べて反射面を形成し、前記撮像レンズを透過した光束のうち、前記複数枚のミラーの隙間に到達した光束を反射しない撮像装置の制御方法であって、
前記測光手段により測光された光束の測光値を取得する取得ステップと、
前記受光面により受光され、前記測光手段により測光され、前記取得手段により取得された前記一部の光束が除かれた光束の測光値を補正する補正ステップと
を備えたことを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 撮像レンズを透過した光束を、当該光束のうちの一部の光束を除いて反射する反射手段と、前記反射手段により反射された光束が照射される受光面で受光された光束に対して測光する測光手段とを備え、前記反射手段は、複数枚のミラーを並べて反射面を形成し、前記撮像レンズを透過した光束のうち、前記複数枚のミラーの隙間に到達した光束を反射しない撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記制御方法は、
前記測光手段により測光された光束の測光値を取得する取得ステップと、
前記受光面により受光され、前記測光手段により測光され、前記取得手段により取得された前記一部の光束が除かれた光束の測光値を補正する補正ステップと
を備えたことを特徴とするプログラム。
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