JP5784364B2 - 半導体発光素子の駆動方法、発光装置、および当該発光装置を用いた光パルス試験器 - Google Patents
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Description
当該半導体発光素子は、
劈開によって形成された第1の光出射端面と第2の光出射端面とを有してなり、
半導体基板上に、異なる波長帯域に利得波長を有する複数の活性層が、光の導波方向に前記第1の光出射端面から前記第2の光出射端面に向かって前記利得波長の長さが短くなっていく順に光学的に結合されて配置され、前記半導体基板の底面に下部電極が形成されるとともに前記複数の活性層の各々の上方に該複数の活性層の各々に駆動電流を印加するための複数の上部電極が形成され、隣接する2つの活性層のうち、短い利得波長を有する活性層近傍で、且つ、該2つの活性層の境界面近傍に、該短い利得波長に相当するブラッグ波長を有する回折格子が形成されており、
最も長い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記第1の光出射端面と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、短い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記回折格子と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、ともに前記第2の光出射端面から出射される構成でなる、
前記半導体発光素子の駆動方法であって、
前記複数の活性層のうちの1つへ駆動電流を印加するときに、当該駆動電流が印加される活性層に隣接するより短い利得波長を有する活性層へ漏れ電流が流れ込まないように、
該短い利得波長を有する活性層の上方に設けられた前記上部電極と前記半導体基板の底面に設けられた前記下部電極とを短絡することを特徴としている。
劈開によって形成された第1の光出射端面と第2の光出射端面とを有してなり、
半導体基板上に、異なる波長帯域に利得波長を有する複数の活性層が、光の導波方向に前記第1の光出射端面から前記第2の光出射端面に向かって前記利得波長の長さが短くなっていく順に光学的に結合されて配置され、前記半導体基板の底面に下部電極が形成されるとともに前記複数の活性層の各々の上方に該複数の活性層の各々に駆動電流を印加するための複数の上部電極が形成され、隣接する2つの活性層のうち、短い利得波長を有する活性層近傍で、且つ、該2つの活性層の境界面近傍に、該短い利得波長に相当するブラッグ波長を有する回折格子が形成されており、
最も長い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記第1の光出射端面と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、短い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記回折格子と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、ともに前記第2の光出射端面から出射される半導体発光素子と、
前記複数の活性層の各々に駆動電流を印加し、前記複数の活性層のうちの1つへ駆動電流を印加するときに、当該駆動電流が印加される活性層に隣接するより短い利得波長を有する活性層へ漏れ電流が流れ込まないように、該短い利得波長を有する活性層の上方に設けられた前記上部電極と前記半導体基板の底面に設けられた前記下部電極とを短絡する発光素子駆動回路と、を有している。
本発明に係る発光装置の第1の実施形態を図1および図2に示す。発光装置50は、半導体発光素子10と発光素子駆動回路2とから構成されている。
本発明に係る発光装置の第2の実施形態について図面を用いて説明する。第1の実施形態と同様の構成については説明を省略する。本実施形態では、利得波長λ1、λ2、λ3として光パルス試験器で用いる波長1.625μm、1.55μm、1.3μmを例にして説明する。なお、利得波長λ1、λ2、λ3は、それぞれ1.60≦λ1≦1.65、1.52≦λ2≦1.58、1.28≦λ3≦1.34の範囲内の値であってもよい。
の駆動方法について説明する。
複数の異なる波長帯の光を複数の縦モードで発振可能な第1または第2の実施形態の発光装置50、51は、光パルス試験器の光源として用いることができる。以下、発光装置50、51を用いた光パルス試験器の実施形態について図面を用いて説明する。
2、2’ 発光素子駆動回路
3 被測定光ファイバ
4 受光部
5 信号処理部
10、30 半導体発光素子
10a、30a 第1の光出射端面
10b、30b 第2の光出射端面
13a、33a 第1の活性層
13b、33b 第2の活性層
18a 高反射(HR)コート
18b 低反射(LR)コート
19、39a、39b バットジョイント結合部(境界面)
20、40a、40b 回折格子
33c 第3の活性層
50、51 発光装置
55 光パルス試験器
Claims (9)
- 半導体発光素子の駆動方法にして、
当該半導体発光素子は、
劈開によって形成された第1の光出射端面と第2の光出射端面とを有してなり、
半導体基板上に、異なる波長帯域に利得波長を有する複数の活性層が、光の導波方向に前記第1の光出射端面から前記第2の光出射端面に向かって前記利得波長の長さが短くなっていく順に光学的に結合されて配置され、前記半導体基板の底面に下部電極が形成されるとともに前記複数の活性層の各々の上方に該複数の活性層の各々に駆動電流を印加するための複数の上部電極が形成され、隣接する2つの活性層のうち、短い利得波長を有する活性層近傍で、且つ、該2つの活性層の境界面近傍に、該短い利得波長に相当するブラッグ波長を有する回折格子が形成されており、
最も長い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記第1の光出射端面と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、短い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記回折格子と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、ともに前記第2の光出射端面から出射される構成でなる、
前記半導体発光素子の駆動方法であって、
前記複数の活性層のうちの1つへ駆動電流を印加するときに、当該駆動電流が印加される活性層に隣接するより短い利得波長を有する活性層へ漏れ電流が流れ込まないように、該短い利得波長を有する活性層の上方に設けられた前記上部電極と前記半導体基板の底面に設けられた前記下部電極とを短絡することを特徴とする半導体発光素子の駆動方法。 - 前記半導体発光素子の前記第2の光出射端面から出射される光に対する反射率が、前記半導体発光素子の前記第1の光出射端面から出射される光に対する反射率より低く形成されたことを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子の駆動方法。
- 前記半導体発光素子の前記複数の活性層が、第1の活性層および第2の活性層からなり、
前記第1の活性層の前記利得波長が1.52〜1.58μmであり、
前記第2の活性層の前記利得波長が1.28〜1.34μmであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体発光素子の駆動方法。 - 前記半導体発光素子の前記複数の活性層が、第1の活性層、第2の活性層および第3の活性層からなり、
前記第1の活性層の前記利得波長が1.60〜1.65μmであり、
前記第2の活性層の前記利得波長が1.52〜1.58μmであり、
前記第3の活性層の前記利得波長が1.28〜1.34μmであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体発光素子の駆動方法。 - 劈開によって形成された第1の光出射端面と第2の光出射端面とを有してなり、
半導体基板上に、異なる波長帯域に利得波長を有する複数の活性層が、光の導波方向に前記第1の光出射端面から前記第2の光出射端面に向かって前記利得波長の長さが短くなっていく順に光学的に結合されて配置され、前記半導体基板の底面に下部電極が形成されるとともに前記複数の活性層の各々の上方に該複数の活性層の各々に駆動電流を印加するための複数の上部電極が形成され、隣接する2つの活性層のうち、短い利得波長を有する活性層近傍で、且つ、該2つの活性層の境界面近傍に、該短い利得波長に相当するブラッグ波長を有する回折格子が形成されており、
最も長い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記第1の光出射端面と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、短い利得波長を有する活性層で生成された光が、前記回折格子と前記第2の光出射端面とで構成される共振器で発振し、ともに前記第2の光出射端面から出射される半導体発光素子と、
前記複数の活性層の各々に駆動電流を印加し、前記複数の活性層のうちの1つへ駆動電流を印加するときに、当該駆動電流が印加される活性層に隣接するより短い利得波長を有する活性層へ漏れ電流が流れ込まないように、該短い利得波長を有する活性層の上方に設けられた前記上部電極と前記半導体基板の底面に設けられた前記下部電極とを短絡する発光素子駆動回路と、を有することを特徴とする発光装置。
- 前記半導体発光素子の前記第2の光出射端面から出射される光に対する反射率が、前記半導体発光素子の前記第1の光出射端面から出射される光に対する反射率より低く形成されたことを特徴とする請求項5に記載の発光装置。
- 前記半導体発光素子の前記複数の活性層が、第1の活性層および第2の活性層からなり、
前記第1の活性層の前記利得波長が1.52〜1.58μmであり、
前記第2の活性層の前記利得波長が1.28〜1.34μmであることを特徴とする請求項5または請求項6に記載の発光装置。 - 前記半導体発光素子の前記複数の活性層が、第1の活性層、第2の活性層および第3の活性層からなり、
前記第1の活性層の前記利得波長が1.60〜1.65μmであり、
前記第2の活性層の前記利得波長が1.52〜1.58μmであり、
前記第3の活性層の前記利得波長が1.28〜1.34μmであることを特徴とする請求項5または請求項6に記載の発光装置。 - 請求項5乃至8のいずれかに記載の発光装置であって、前記半導体発光素子が光パルスを発するよう、前記発光素子駆動回路が印加する前記駆動電流がパルス状であり、前記半導体発光素子の前記第2の光出射端面から出射された前記光パルスを被測定光ファイバに出力する、前記発光装置と、
前記被測定光ファイバからの前記光パルスの戻り光を電気信号に変換する受光部と、
前記受光部によって変換された電気信号に基づいて前記被測定光ファイバの損失分布特性を解析する信号処理部と、を備えた光パルス試験器。
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