JP5775408B2 - White curable material for optical semiconductor device, method for producing white curable material for optical semiconductor device, molded article for optical semiconductor device, and optical semiconductor device - Google Patents
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Description
本発明は、光半導体装置において、光半導体素子が搭載されるリードフレーム上に配置される成形体を得るために用いられる光半導体装置用白色硬化性材料及び光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法に関する。また、本発明は、上記半導体装置用白色硬化性材料を用いた光半導体装置用成形体及び光半導体装置に関する。 The present invention relates to a white curable material for an optical semiconductor device and a white curable material for an optical semiconductor device, which are used to obtain a molded body disposed on a lead frame on which an optical semiconductor element is mounted in an optical semiconductor device. Regarding the method. Moreover, this invention relates to the molded object for optical semiconductor devices using the said white curable material for semiconductor devices, and an optical semiconductor device.
発光ダイオード(LED)装置などの光半導体装置の消費電力は低く、かつ寿命は長い。また、光半導体装置は、過酷な環境下でも使用され得る。従って、光半導体装置は、携帯電話用バックライト、液晶テレビ用バックライト、自動車用ランプ、照明器具及び看板などの幅広い用途で使用されている。 An optical semiconductor device such as a light emitting diode (LED) device has low power consumption and long life. Moreover, the optical semiconductor device can be used even in a harsh environment. Accordingly, optical semiconductor devices are used in a wide range of applications such as mobile phone backlights, liquid crystal television backlights, automobile lamps, lighting fixtures, and signboards.
光半導体装置に用いられている発光素子である光半導体素子(例えばLED)が大気と直接触れると、大気中の水分又は浮遊するごみ等により、光半導体素子の発光特性が急速に低下する。このため、上記光半導体素子は、通常、光半導体装置用封止剤により封止されている。また、該封止剤を充填するために、上記光半導体素子が搭載されるリードフレーム上に、枠状の成形体が配置されている。該枠状の成形体の内側に、上記封止剤が充填されている。該成形体は、リフレクター又はハウジングと呼ばれることがある。 When an optical semiconductor element (for example, an LED), which is a light emitting element used in an optical semiconductor device, is in direct contact with the atmosphere, the light emission characteristics of the optical semiconductor element rapidly deteriorate due to moisture in the atmosphere or floating dust. For this reason, the said optical semiconductor element is normally sealed with the sealing compound for optical semiconductor devices. In order to fill the sealing agent, a frame-shaped molded body is disposed on a lead frame on which the optical semiconductor element is mounted. The sealing agent is filled inside the frame-shaped molded body. The molded body is sometimes called a reflector or a housing.
上記成形体を形成するための組成物の一例として、下記の特許文献1には、エポキシ樹脂と硬化剤と硬化促進剤と無機充填材と白色顔料とカップリング剤とを含む硬化性組成物が開示されている。成形温度100〜200℃、成形圧力20MPa以下及び成形時間60〜120秒の条件で、上記硬化性組成物をトランスファー成形した時に生じるバリの長さは5mm以下である。上記硬化性組成物を熱硬化させた後の成形体の波長350〜800nmにおける光反射率は80%以上である。 As an example of a composition for forming the molded body, the following Patent Document 1 includes a curable composition containing an epoxy resin, a curing agent, a curing accelerator, an inorganic filler, a white pigment, and a coupling agent. It is disclosed. The length of the burr produced when the curable composition is transfer molded under the conditions of a molding temperature of 100 to 200 ° C., a molding pressure of 20 MPa or less, and a molding time of 60 to 120 seconds is 5 mm or less. The light reflectance at a wavelength of 350 to 800 nm of the molded product after the above-mentioned curable composition is thermally cured is 80% or more.
また、下記の特許文献2には、トリアジン誘導体エポキシ樹脂と、酸無水物と、酸化防止剤と、硬化触媒と、反射部材と、無機充填材とを含む硬化性組成物が開示されている。 Patent Document 2 below discloses a curable composition containing a triazine derivative epoxy resin, an acid anhydride, an antioxidant, a curing catalyst, a reflective member, and an inorganic filler.
下記の特許文献3には、エポキシ樹脂と硬化剤と硬化促進剤と無機充填材と白色顔料とを含む硬化性組成物が開示されている。また、特許文献3では、硬化性組成物を用いたトランスファー成形によって貫通孔が複数形成された光反射層を配線部材上に形成し、上記貫通孔の一方の開口部を上記配線部材で塞いでなる複数の凹部が形成された成形体を得る工程と、光半導体素子を上記凹部内にそれぞれ配置する工程と、上記光反射層の表面を覆うように上記半導体素子が配置された上記凹部に封止樹脂を供給する工程と、上記封止樹脂を介在させることにより、上記光反射層の上記表面から離間させた状態で上記凹部を覆うレンズを配置した後、上記封止樹脂を硬化させる工程と、上記成形体を上記凹部ごとに分割して複数の光半導体装置を得る工程とを備える光半導体装置の製造方法が開示されている。 Patent Document 3 below discloses a curable composition containing an epoxy resin, a curing agent, a curing accelerator, an inorganic filler, and a white pigment. In Patent Document 3, a light reflection layer having a plurality of through holes formed on a wiring member by transfer molding using a curable composition is formed on a wiring member, and one opening of the through hole is closed with the wiring member. A step of obtaining a molded body in which a plurality of recesses are formed, a step of disposing an optical semiconductor element in each of the recesses, and a sealing in the recess in which the semiconductor element is disposed so as to cover the surface of the light reflecting layer. A step of supplying a stop resin, and a step of curing the sealing resin after disposing a lens covering the recess in a state of being spaced from the surface of the light reflecting layer by interposing the sealing resin. And a method of manufacturing an optical semiconductor device comprising a step of dividing the molded body into the recesses to obtain a plurality of optical semiconductor devices.
特許文献1〜3に記載のような従来の硬化性組成物をトランスファー成形する場合には、硬化性組成物の取り扱い性が低かったり、成形体の金型への充填性が低かったりするという問題がある。さらに、成形体を連続して成形したときに、硬化性組成物の硬化物が金型に付着したり、成形体の金型からの離型性が低かったりする。すなわち、従来の硬化性組成物では、連続成形性が低いという問題がある。 In the case of transfer molding a conventional curable composition as described in Patent Documents 1 to 3, there is a problem that the handleability of the curable composition is low or the moldability of the molded body is low. There is. Furthermore, when the molded body is continuously molded, the cured product of the curable composition adheres to the mold, or the releasability of the molded body from the mold may be low. That is, the conventional curable composition has a problem of low continuous moldability.
本発明の目的は、取り扱い性、成形時の金型への充填性及び連続成形性に優れている光半導体装置用白色硬化性材料及び光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法、並びに該光半導体装置用白色硬化性材料を用いた光半導体装置用成形体及び光半導体装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide a white curable material for an optical semiconductor device that is excellent in handleability, filling into a mold during molding, and continuous moldability, a method for producing the white curable material for an optical semiconductor device, and the light. An object of the present invention is to provide an optical semiconductor device molded body and an optical semiconductor device using a white curable material for a semiconductor device.
本発明の限定的な目的は、取り扱い性、トランスファー成形時のバリの発生の抑制、金型への充填性、および連続成形性に優れた光半導体装置用白色硬化性材料及び光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法、並びに該光半導体装置用白色硬化性材料を用いた光半導体装置用成形体及び光半導体装置を提供することである。 A limited object of the present invention is a white curable material for optical semiconductor devices and a white color for optical semiconductor devices, which are excellent in handling properties, suppression of burrs during transfer molding, filling into a mold, and continuous moldability. It is providing the manufacturing method of a curable material, the molded object for optical semiconductor devices using the white curable material for optical semiconductor devices, and an optical semiconductor device.
本発明の広い局面によれば、白色の硬化性組成物であるか、又は該白色の硬化性組成物を熱処理した熱処理物である光半導体装置用白色硬化性材料であって、上記硬化性組成物が、エポキシ化合物と、硬化剤と、酸化チタンと、酸化チタンとは異なる充填材と、硬化促進剤とを含み、軟化点が60℃以上、120℃未満であり、170℃における粘度が120Pa・sを超え、300Pa・s以下であり、170℃におけるゲルタイムが30秒以上、100秒以下であり、成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さがショアDで70以上である、光半導体装置用白色硬化性材料が提供される。 According to a wide aspect of the present invention, there is provided a white curable material for optical semiconductor devices, which is a white curable composition or a heat-treated product obtained by heat-treating the white curable composition, the curable composition described above. The product includes an epoxy compound, a curing agent, titanium oxide, a filler different from titanium oxide, and a curing accelerator, and has a softening point of 60 ° C. or higher and lower than 120 ° C., and a viscosity at 170 ° C. of 120 Pa.・ After s, 300 Pa · s or less, gel time at 170 ° C. is 30 seconds or more and 100 seconds or less, mold after transfer molding in the mold under the conditions of molding temperature 170 ° C. and molding time 100 seconds. A white curable material for optical semiconductor devices is provided in which when the molded product is taken out from the mold, the hardness of the molded product 5 seconds after being taken out from the mold is 70 or more in Shore D.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料のある特定の局面では、上記硬化剤は、酸無水物硬化剤である。 On the specific situation with the white curable material for optical semiconductor devices which concerns on this invention, the said hardening | curing agent is an acid anhydride hardening | curing agent.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の他の特定の局面では、上記エポキシ化合物は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物及び脂環式骨格を有するエポキシ化合物の内の少なくとも1種を含む。 In another specific aspect of the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, the epoxy compound includes at least one of an epoxy compound having an aromatic skeleton and an epoxy compound having an alicyclic skeleton.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料のさらに他の特定の局面では、上記エポキシ化合物は、上記芳香族骨格を有するエポキシ化合物及び上記脂環式骨格を有するエポキシ化合物の双方を含む。 In still another specific aspect of the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, the epoxy compound includes both the epoxy compound having the aromatic skeleton and the epoxy compound having the alicyclic skeleton.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の別の特定の局面では、上記酸化チタンはルチル型酸化チタンである。 In another specific aspect of the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, the titanium oxide is a rutile type titanium oxide.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料のさらに別の特定の局面では、上記充填材は、平均粒径が1μm以上、10μm未満である第1の充填材と、平均粒径が10μm以上、50μm以下である第2の充填材との双方を含む。 In still another specific aspect of the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, the filler has a first filler having an average particle diameter of 1 μm or more and less than 10 μm, and an average particle diameter of 10 μm or more. , And a second filler that is 50 μm or less.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の他の特定の局面では、該白色硬化性材料は、60〜100℃の温度で10〜60分混練した後、50〜80℃で1〜48時間エイジングすることにより、上記硬化性組成物を熱処理した熱処理物である。 In another specific aspect of the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention, the white curable material is kneaded at a temperature of 60 to 100 ° C. for 10 to 60 minutes and then 1 to 48 at 50 to 80 ° C. A heat-treated product obtained by heat-treating the curable composition by time-aging.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料は、光半導体装置において、光半導体素子が搭載されるリードフレーム上に配置される成形体を得るために用いられる光半導体装置用白色硬化性材料あることが好ましい。 The white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is a white curable material for optical semiconductor devices used for obtaining a molded body disposed on a lead frame on which an optical semiconductor element is mounted in an optical semiconductor device. It is preferable.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料は、光半導体装置において、光半導体素子が搭載されるリードフレーム上にかつ上記光半導体素子の側方に配置され、上記光半導体素子から発せられた光を反射する光反射部を有する成形体を得るために用いられる光半導体装置用白色硬化性材料であることが好ましい。 The white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention is disposed on a lead frame on which an optical semiconductor element is mounted and on a side of the optical semiconductor element in the optical semiconductor device, and is emitted from the optical semiconductor element. It is preferably a white curable material for an optical semiconductor device used for obtaining a molded body having a light reflecting portion that reflects light.
本発明の広い局面によれば、エポキシ化合物と、硬化剤と、酸化チタンと、酸化チタンとは異なる充填材と、硬化促進剤とを含む白色の硬化性組成物を用いて、該白色の硬化性組成物を熱処理して、熱処理物である光半導体装置用白色硬化性材料を得る工程を備え、軟化点が60℃以上、120℃未満であり、170℃における粘度が120Pa・sを超え、300Pa・s以下であり、170℃におけるゲルタイムが30秒以上、100秒以下であり、成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さがショアDで70以上である光半導体装置用白色硬化性材料を得る、光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法が提供される。 According to a broad aspect of the present invention, using a white curable composition comprising an epoxy compound, a curing agent, titanium oxide, a filler different from titanium oxide, and a curing accelerator, the white curing The composition is heat-treated to obtain a white curable material for an optical semiconductor device that is a heat-treated product, the softening point is 60 ° C. or higher and lower than 120 ° C., and the viscosity at 170 ° C. exceeds 120 Pa · s, 300 Pa · s or less, gel time at 170 ° C. being 30 seconds or more and 100 seconds or less, transfer molding in a mold under conditions of a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds, and then removing the molded body from the mold Method for producing a white curable material for an optical semiconductor device, wherein the hardness of the molded product 5 seconds after removal from the mold is 70 or more on Shore D But It is subjected.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法のある特定の局面では、60〜100℃の温度で10〜60分混練した後、50〜80℃で1〜48時間エイジングすることにより、上記硬化性組成物を熱処理した熱処理物である光半導体装置用白色硬化性材料を得る。 In a specific aspect of the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, after kneading at a temperature of 60 to 100 ° C. for 10 to 60 minutes, aging at 50 to 80 ° C. for 1 to 48 hours. A white curable material for an optical semiconductor device, which is a heat-treated product obtained by heat-treating the curable composition, is obtained.
本発明に係る光半導体装置用成形体は、上述した光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させるか、又は上述した光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られた光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる。 The molded article for an optical semiconductor device according to the present invention is a white for an optical semiconductor device obtained by curing the above-described white curable material for an optical semiconductor device or the above-described method for producing a white curable material for an optical semiconductor device. It is obtained by curing a curable material.
本発明に係る光半導体装置は、リードフレームと、該リードフレーム上に搭載された光半導体素子と、該リードフレーム上に配置された成形体とを備えており、上記成形体が、上述した光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させるか、又は上述した光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られた光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる。 An optical semiconductor device according to the present invention includes a lead frame, an optical semiconductor element mounted on the lead frame, and a molded body disposed on the lead frame. It is obtained by curing a white curable material for a semiconductor device or curing a white curable material for an optical semiconductor device obtained by the above-described method for producing a white curable material for an optical semiconductor device.
本発明に係る光半導体装置は、上記成形体が、上記光半導体素子の側方に配置されており、上記成形体の内面が上記光半導体素子から発せられた光を反射する光反射部であることが好ましい。 In the optical semiconductor device according to the present invention, the molded body is disposed on a side of the optical semiconductor element, and an inner surface of the molded body is a light reflecting portion that reflects light emitted from the optical semiconductor element. It is preferable.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料は、白色の硬化性組成物であるか、又は該白色の硬化性組成物を熱処理した熱処理物であり、上記硬化性組成物が、エポキシ化合物と、硬化剤と、酸化チタンと、酸化チタンとは異なる充填材と、硬化促進剤とを含み、更に上記白色硬化性材料では、軟化点が60℃以上、120℃未満であり、170℃における粘度が120Pa・sを超え、300Pa・s以下であり、170℃におけるゲルタイムが30秒以上、100秒以下であり、かつ成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さがショアDで70以上であるので、取り扱い性、成形時の金型への充填性及び連続成形性に優れている。 The white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is a white curable composition or a heat-treated product obtained by heat-treating the white curable composition, and the curable composition is an epoxy compound and And a curing agent, titanium oxide, a filler different from titanium oxide, and a curing accelerator, and the white curable material has a softening point of 60 ° C. or higher and lower than 120 ° C., and a viscosity at 170 ° C. Is over 120 Pa · s, 300 Pa · s or less, the gel time at 170 ° C. is 30 seconds or more and 100 seconds or less, and after transfer molding in a mold under the conditions of a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds. When the molded body is taken out from the mold, the hardness of the molded body after 70 seconds from the mold is 70 or more on Shore D. And ream It is excellent in formability.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法では、エポキシ化合物と、硬化剤と、酸化チタンと、酸化チタンとは異なる充填材と、硬化促進剤とを含む白色の硬化性組成物を用いて、該白色の硬化性組成物を熱処理して、熱処理物である光半導体装置用白色硬化性材料を得る工程を備えており、軟化点が60℃以上、120℃未満であり、170℃における粘度が120Pa・sを超え、300Pa・s以下であり、170℃におけるゲルタイムが30秒以上、100秒以下であり、かつ成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さがショアDで70以上である光半導体装置用白色硬化性材料を得るので、取り扱い性、成形時の金型への充填性及び連続成形性に優れている白色硬化性材料を得ることができる。 In the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, a white curable composition comprising an epoxy compound, a curing agent, titanium oxide, a filler different from titanium oxide, and a curing accelerator. The white curable composition is heat-treated to obtain a white curable material for optical semiconductor devices, which is a heat-treated product, and has a softening point of 60 ° C. or higher and lower than 120 ° C., 170 The viscosity at 120 ° C. exceeds 120 Pa · s, is 300 Pa · s or less, the gel time at 170 ° C. is 30 seconds or more and 100 seconds or less, and is transferred in the mold under the conditions of a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds. After molding, when the molded body is taken out from the mold, a white curable material for an optical semiconductor device having a hardness of 70 or more on Shore D after 5 seconds from the removal from the mold is obtained. , It is possible to obtain handling properties, a white curable material having excellent filling properties and continuous moldability during molding and.
以下、本発明を詳細に説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail.
(光半導体装置用白色硬化性材料及び光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法)
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料は、白色の硬化性組成物であるか、又は該白色の硬化性組成物を熱処理した熱処理物である。上記硬化性組成物は、エポキシ化合物(A)と、硬化剤(B)と、酸化チタン(C)と、酸化チタンとは異なる充填材(D)と、硬化促進剤(E)とを含む。
(White curable material for optical semiconductor devices and method for producing white curable material for optical semiconductor devices)
The white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is a white curable composition or a heat-treated product obtained by heat-treating the white curable composition. The curable composition includes an epoxy compound (A), a curing agent (B), titanium oxide (C), a filler (D) different from titanium oxide, and a curing accelerator (E).
さらに、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の熱硬化前の軟化点は、60℃以上、120℃未満である。また、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の170℃における粘度は120Pa・sを超え、300Pa・s以下である。本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の170℃におけるゲルタイムは30秒以上、100秒以下である。本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料を成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さはショアDで70以上である。 Furthermore, the softening point before thermosetting of the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is 60 ° C. or higher and lower than 120 ° C. The viscosity at 170 ° C. of the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is more than 120 Pa · s and not more than 300 Pa · s. The gel time at 170 ° C. of the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is 30 seconds or more and 100 seconds or less. After the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is transfer molded in a mold under the conditions of a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds, it is taken out from the mold when the molded body is taken out from the mold. After 5 seconds, the hardness of the molded product is 70 or more on Shore D.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法では、エポキシ化合物(A)と、硬化剤(B)と、酸化チタン(C)と、酸化チタンとは異なる充填材(D)と、硬化促進剤(E)とを含む白色の硬化性組成物が用いられる。本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法は、該白色の硬化性組成物を熱処理して、熱処理物である光半導体装置用白色硬化性材料を得る工程を備える。 In the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, an epoxy compound (A), a curing agent (B), titanium oxide (C), a filler different from titanium oxide (D), A white curable composition containing a curing accelerator (E) is used. The manufacturing method of the white curable material for optical semiconductor devices which concerns on this invention comprises the process of heat-processing this white curable composition, and obtaining the white curable material for optical semiconductor devices which is heat processing material.
さらに、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法では、軟化点が60℃以上、120℃未満である白色硬化性材料を得る。また、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法では、170℃における粘度が120Pa・sを超え、300Pa・s以下である白色硬化性材料を得る。本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法では、170℃におけるゲルタイムが30秒以上、100秒以下である白色硬化性材料を得る。本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法では、成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さがショアDで70以上である白色硬化性材料を得る。 Furthermore, in the manufacturing method of the white curable material for optical semiconductor devices which concerns on this invention, the white curable material whose softening point is 60 degreeC or more and less than 120 degreeC is obtained. Moreover, in the manufacturing method of the white curable material for optical semiconductor devices which concerns on this invention, the white curable material whose viscosity in 170 degreeC exceeds 120 Pa.s and is 300 Pa.s or less is obtained. In the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, a white curable material having a gel time at 170 ° C. of 30 seconds or more and 100 seconds or less is obtained. In the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, when the molded body is taken out from the mold after transfer molding in the mold at a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds, A white curable material having a hardness of 70 or more on Shore D after 5 seconds from removal from the mold is obtained.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料は、光半導体装置において、光半導体素子が搭載されるリードフレーム上に配置される成形体を得るために用いられる光半導体装置用白色硬化性材料であることが好ましい。上記成形体は、所定の形状に成形された硬化物である。 The white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention and the white curable material for optical semiconductor devices obtained by the method for producing a white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention are: It is preferably a white curable material for an optical semiconductor device used for obtaining a molded body disposed on a lead frame to be mounted. The molded body is a cured product molded into a predetermined shape.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料を成形して成形体を作製し、該成形体を用いて光半導体装置が得られる。 A white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention and a white curable material for an optical semiconductor device obtained by the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention are molded to produce a molded body, An optical semiconductor device is obtained using the molded body.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法における上述した構成の採用により、該白色硬化性材料の取り扱い性が高くなる。さらに、上記白色硬化性材料の成形時の金型への充填性が良好になる。しかも、上記白色硬化性材料を用いて成形体を連続して成形したときに、金型に硬化物が付着し難くなり、成形体の金型からの離型性が高くなる。すなわち、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法における上述した構成の採用により、連続成形性を高めることができる。 By adopting the above-described configuration in the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention and the method for producing the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention, the handleability of the white curable material is improved. Furthermore, the filling property to the metal mold | die at the time of shaping | molding of the said white curable material becomes favorable. And when a molded object is shape | molded continuously using the said white curable material, hardened | cured material becomes difficult to adhere to a metal mold | die, and the mold release property from the metal mold | die becomes high. That is, by adopting the above-described configuration in the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention and the method for producing the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention, continuous formability can be improved.
さらに、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法における上述した構成の採用により、トランスファー成形時にバリの発生を抑制することもできる。 Furthermore, by adopting the above-described configuration in the method for producing the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention and the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention, it is possible to suppress the generation of burrs during transfer molding. .
また、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法における上記構成を採用することによって、光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる成形体の光の反射率を高めることができる。得られる成形体は、光の反射率が高いので、光半導体素子から発せられる光が成形体に到達したときに光を効果的に反射させる。このため、光半導体装置から取り出される光の明るさを明るくすることができる。 Moreover, the white curable material for optical semiconductor devices is cured by adopting the above-described configuration in the method for producing the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention and the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention. Thus, the light reflectance of the molded product obtained can be increased. Since the obtained molded body has a high reflectance of light, the light is effectively reflected when the light emitted from the optical semiconductor element reaches the molded body. For this reason, the brightness of the light extracted from the optical semiconductor device can be increased.
上記白色硬化性材料の軟化点は、60℃以上、120℃未満である。該軟化点が60℃未満であると、白色硬化性材料の取り扱い性が悪くなる。このため、成形体を得る際の作業性が悪くなる。上記軟化点が120℃以上であると、上記白色硬化性材料の金型への充填性が悪くなる。 The softening point of the said white curable material is 60 degreeC or more and less than 120 degreeC. When the softening point is less than 60 ° C., the handleability of the white curable material is deteriorated. For this reason, workability | operativity at the time of obtaining a molded object worsens. When the softening point is 120 ° C. or higher, the filling property of the white curable material into the mold is deteriorated.
上記白色硬化性材料の170℃における粘度は120Pa・sを超え、300Pa・s以下である。該粘度が120Pa・s以下であると、成形体のトランスファー成形性が悪くなる。具体的には、トランスファー成形時にバリが発生しやすくなる。上記粘度が300Pa・sを超えると、上記白色硬化性材料の金型への充填性が悪くなる。 The white curable material has a viscosity at 170 ° C. of more than 120 Pa · s and not more than 300 Pa · s. When the viscosity is 120 Pa · s or less, the transfer moldability of the molded article deteriorates. Specifically, burrs are likely to occur during transfer molding. When the viscosity exceeds 300 Pa · s, the filling property of the white curable material into the mold is deteriorated.
上記白色硬化性材料の170℃におけるゲルタイムは30秒以上、100秒以下である。該ゲルタイムが30秒未満であると、上記白色硬化性材料の金型への充填性が悪くなる。上記ゲルタイムが100秒を超えると、金型からの成形体の取り出し性が悪くなり、金型からの成形体の離型性が悪くなる。 The gel time at 170 ° C. of the white curable material is 30 seconds or more and 100 seconds or less. When the gel time is less than 30 seconds, the filling property of the white curable material into the mold is deteriorated. When the gel time exceeds 100 seconds, the take-out property of the molded body from the mold is deteriorated, and the releasability of the molded body from the mold is deteriorated.
上記ゲルタイムは、白色硬化性材料0.5gを、170℃に加熱したホットプレート上で、撹拌棒で混ぜたときに、該白色硬化性材料が流動性を失うまでの時間を意味する。 The gel time means a time until the white curable material loses fluidity when 0.5 g of the white curable material is mixed with a stirring bar on a hot plate heated to 170 ° C.
上記白色硬化性材料を成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さはショアDで70以上である。該ショアDが70未満であると、金型からの成形体の取り出し性が悪くなり、金型からの成形体の離型性が悪くなる。 The white curable material is molded by transfer molding in a mold under conditions of a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds, and then molding is performed 5 seconds after the molded body is removed from the mold. The hardness of the body is 70 or more on Shore D. When the Shore D is less than 70, the take-out property of the molded product from the mold is deteriorated, and the releasability of the molded product from the mold is deteriorated.
上記ショアDは、JIS K6253のデュロメータ タイプDによって規定されている硬度である。 The Shore D is a hardness defined by durometer type D of JIS K6253.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料は、60〜100℃の温度で10〜60分混練した後、50〜80℃で1〜48時間エイジングすることにより、上記硬化性組成物を熱処理した熱処理物であることが好ましい。本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法は、60〜100℃の温度で10〜60分混練した後、50〜80℃で1〜48時間エイジングすることにより、上記硬化性組成物を熱処理した熱処理物を得ることが好ましい。このようなエイジングにより、取り扱い性、成形時の金型への充填性及び連続成形性に優れた白色硬化性材料を得ることが容易である。 The white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is heat-treated by kneading at a temperature of 60 to 100 ° C. for 10 to 60 minutes and then aging at 50 to 80 ° C. for 1 to 48 hours. The heat-treated product is preferably used. The manufacturing method of the white curable material for optical semiconductor devices which concerns on this invention knead | mixes for 10 to 60 minutes at the temperature of 60-100 degreeC, Then, the said curable composition is carried out by aging at 50-80 degreeC for 1-48 hours. It is preferable to obtain a heat-treated product obtained by heat-treating the product. By such aging, it is easy to obtain a white curable material excellent in handleability, filling property in a mold during molding, and continuous moldability.
以下、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料に用いられる白色の硬化性組成物(白色硬化性組成物)に含まれている各成分の詳細を説明する。 Hereinafter, the detail of each component contained in the white curable composition (white curable composition) used for the white curable material for optical semiconductor devices which concerns on this invention is demonstrated.
[エポキシ化合物(A)]
上記白色硬化性組成物は、熱の付与によって硬化可能であるように、エポキシ化合物(A)を含む。エポキシ化合物(A)はエポキシ基を有する。熱硬化性化合物としてエポキシ化合物(A)を用いることにより、成形体の耐熱性及び絶縁信頼性が高くなる。エポキシ化合物(A)は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Epoxy compound (A)]
The white curable composition contains the epoxy compound (A) so that it can be cured by application of heat. The epoxy compound (A) has an epoxy group. By using an epoxy compound (A) as a thermosetting compound, the heat resistance and insulation reliability of a molded object become high. As for an epoxy compound (A), only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記エポキシ化合物(A)の具体例としては、ビスフェノール型エポキシ化合物、ノボラック型エポキシ化合物、多塩素酸化合物とエピクロロヒドリンとを反応させて得られるグリシジルエステル型エポキシ化合物、ポリアミン化合物とエピクロロヒドリンとを反応させて得られるグリシジルアミン型エポキシ化合物、グリシジルエーテル型エポキシ化合物、脂肪族エポキシ化合物、水添型芳香族エポキシ化合物、脂環式骨格を有するエポキシ化合物、トリグリシジルイソシアヌレート等の複素環式エポキシ化合物などが挙げられる。上記多塩素酸化合物としては、フタル酸及びダイマー酸等が挙げられる。上記ポリアミン化合物としては、ジアミノジフェニルメタン及びイソシアヌル酸等が挙げられる。 Specific examples of the epoxy compound (A) include bisphenol type epoxy compounds, novolak type epoxy compounds, glycidyl ester type epoxy compounds obtained by reacting polychloric acid compounds with epichlorohydrin, polyamine compounds and epichlorohydrides. Heterocycles such as glycidylamine type epoxy compounds, glycidyl ether type epoxy compounds, aliphatic epoxy compounds, hydrogenated aromatic epoxy compounds, epoxy compounds having an alicyclic skeleton, triglycidyl isocyanurate obtained by reacting with phosphorus And an epoxy compound of the formula. Examples of the polychloric acid compound include phthalic acid and dimer acid. Examples of the polyamine compound include diaminodiphenylmethane and isocyanuric acid.
上記白色樹脂組成物に含まれている上記エポキシ化合物(A)全体のエポキシ当量は好ましくは200以上、好ましくは20000以下である。該エポキシ当量が200以上であると、上記白色硬化性材料の成形性がより一層良好になり、更に成形体が脆くなり難く、成形体の加工性がより一層良好になる。該エポキシ当量が20000以下であると、上記白色硬化性材料の成形性がより一層良好になり、更に成形体の強度がより一層高くなる。上記エポキシ当量は、JIS K7236に準拠して測定される。 The epoxy equivalent of the whole epoxy compound (A) contained in the white resin composition is preferably 200 or more, preferably 20000 or less. When the epoxy equivalent is 200 or more, the moldability of the white curable material is further improved, the molded body is hardly brittle, and the processability of the molded body is further improved. When the epoxy equivalent is 20000 or less, the moldability of the white curable material is further improved, and the strength of the molded body is further increased. The epoxy equivalent is measured according to JIS K7236.
成形体の強度を高め、成形体の加工性をより一層高める観点からは、上記エポキシ化合物(A)は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)及び脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)の内の少なくとも1種を含むことが好ましい。上記エポキシ化合物(A)は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)と脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)との双方を含んでいてもよい。上記白色硬化性組成物は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)のみを含んでいてもよく、脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)のみを含んでいてもよい。 From the viewpoint of increasing the strength of the molded body and further improving the workability of the molded body, the epoxy compound (A) is composed of an epoxy compound (A1) having an aromatic skeleton and an epoxy compound (A2) having an alicyclic skeleton. It is preferable that at least one of these is included. The epoxy compound (A) may contain both an epoxy compound (A1) having an aromatic skeleton and an epoxy compound (A2) having an alicyclic skeleton. The said white curable composition may contain only the epoxy compound (A1) which has an aromatic skeleton, and may contain only the epoxy compound (A2) which has an alicyclic skeleton.
成形体の強度及び耐熱性をより一層高める観点からは、上記エポキシ化合物(A)は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)を含むことが好ましい。上記芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。 From the viewpoint of further enhancing the strength and heat resistance of the molded article, the epoxy compound (A) preferably contains an epoxy compound (A1) having an aromatic skeleton. As for the epoxy compound (A1) which has the said aromatic skeleton, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
リードフレームと成形体との密着性をより一層高める観点からは、上記エポキシ化合物(A)は、脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)を含むことが好ましい。上記脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。 From the viewpoint of further improving the adhesion between the lead frame and the molded body, the epoxy compound (A) preferably includes an epoxy compound (A2) having an alicyclic skeleton. As for the epoxy compound (A2) which has the said alicyclic skeleton, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
成形体の耐熱性をより一層高め、かつリードフレームと成形体との密着性をより一層高める観点からは、上記エポキシ化合物(A)は、芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)と脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)との双方を含むことが特に好ましい。 From the viewpoint of further improving the heat resistance of the molded body and further improving the adhesion between the lead frame and the molded body, the epoxy compound (A) is an alicyclic epoxy compound (A1) having an aromatic skeleton. It is particularly preferable that both the epoxy compound (A2) having a skeleton be included.
上記芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)としては、ビスフェノールA型エポキシ化合物、ビスフェノールF型エポキシ化合物、クレゾールノボラック型エポキシ化合物、フェノールノボラック型エポキシ化合物、芳香族骨格を有する多塩基酸化合物とエピクロロヒドリンとを反応させて得られるグリシジルエステル型エポキシ化合物、及び芳香族骨格を有するグリシジルエーテル型エポキシ化合物等が挙げられる。 Examples of the epoxy compound (A1) having an aromatic skeleton include bisphenol A type epoxy compound, bisphenol F type epoxy compound, cresol novolac type epoxy compound, phenol novolac type epoxy compound, polybasic acid compound having aromatic skeleton and epichloro Examples thereof include glycidyl ester type epoxy compounds obtained by reacting with hydrin and glycidyl ether type epoxy compounds having an aromatic skeleton.
上記成形体の強度及び耐熱性をより一層高める観点からは、上記芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)は、ビスフェノール骨格又はノボラック骨格を有することが好ましい。 From the viewpoint of further enhancing the strength and heat resistance of the molded article, the epoxy compound (A1) having the aromatic skeleton preferably has a bisphenol skeleton or a novolak skeleton.
上記芳香族骨格を有するエポキシ化合物(A1)のエポキシ当量は、好ましくは400以上、好ましくは3000以下である。該エポキシ当量が400以上であると、上記白色硬化性材料の成形性がより一層良好になる。該エポキシ当量が3000以下であると、成形体の強度がより一層高くなる。 The epoxy equivalent of the epoxy compound (A1) having an aromatic skeleton is preferably 400 or more, and preferably 3000 or less. When the epoxy equivalent is 400 or more, the moldability of the white curable material is further improved. When the epoxy equivalent is 3000 or less, the strength of the molded product is further increased.
上記脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)の具体例としては、2−(3,4−エポキシ)シクロヘキシル−5,5−スピロ−(3,4−エポキシ)シクロヘキサン−m−ジオキサン、3,4−エポキシシクロヘキセニルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキセンカルボキシレート、ジシクロペンタジエンジオキシド、ビニルシクロヘキセンモノオキサイド、1,2−エポキシ−4−ビニルシクロヘキサン、1,2:8,9−ジエポキシリモネン、ε−カプロラクトン修飾テトラ(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)ブタンテトラカルボキシレート、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)−1−ブタノールの1,2−エポキシ−4−(2−オキシラニル)シクロヘキサン付加物等が挙げられる。上記成形体の耐熱性をより一層高める観点から、上記脂環式骨格を有するエポキシ化合物(A2)は、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)−1−ブタノールの1,2−エポキシ−4−(2−オキシラニル)シクロヘキサン付加物(ダイセル化学社製「EHPE−3150」)であることが好ましい。 Specific examples of the epoxy compound (A2) having the alicyclic skeleton include 2- (3,4-epoxy) cyclohexyl-5,5-spiro- (3,4-epoxy) cyclohexane-m-dioxane, 3, 4-epoxycyclohexenylmethyl-3 ′, 4′-epoxycyclohexene carboxylate, dicyclopentadiene dioxide, vinylcyclohexene monooxide, 1,2-epoxy-4-vinylcyclohexane, 1,2: 8,9-diepoxy Limonene, ε-caprolactone modified tetra (3,4-epoxycyclohexylmethyl) butanetetracarboxylate, 2,2-bis (hydroxymethyl) -1-butanol added with 1,2-epoxy-4- (2-oxiranyl) cyclohexane Thing etc. are mentioned. From the viewpoint of further improving the heat resistance of the molded article, the epoxy compound (A2) having the alicyclic skeleton is 1,2-epoxy-4- (2,2-bis (hydroxymethyl) -1-butanol. 2-oxiranyl) cyclohexane adduct (“EHPE-3150” manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.) is preferable.
上記エポキシ化合物(A)の配合量は、熱の付与により適度に硬化するように適宜調整され、特に限定されない。上記白色硬化性組成物100重量%中、エポキシ化合物(A)の含有量は好ましくは3重量%以上、より好ましくは5重量%以上、更に好ましくは10重量%以上、好ましくは99重量%以下、より好ましくは95重量%以下、更に好ましくは80重量%以下である。エポキシ化合物(A)の含有量が上記下限以上であると、加熱により白色硬化性材料がより一層効果的に硬化する。エポキシ化合物(A)の含有量が上記上限以下であると、成形体の耐熱性がより一層高くなる。 The compounding quantity of the said epoxy compound (A) is suitably adjusted so that it may harden | cure moderately by provision of heat, and is not specifically limited. In 100% by weight of the white curable composition, the content of the epoxy compound (A) is preferably 3% by weight or more, more preferably 5% by weight or more, still more preferably 10% by weight or more, preferably 99% by weight or less. More preferably, it is 95 weight% or less, More preferably, it is 80 weight% or less. When the content of the epoxy compound (A) is not less than the above lower limit, the white curable material is more effectively cured by heating. When the content of the epoxy compound (A) is not more than the above upper limit, the heat resistance of the molded product is further increased.
[硬化剤(B)]
上記白色硬化性組成物は、熱の付与によって効率的に硬化可能であるように、硬化剤(B)を含む。硬化剤(B)は、エポキシ化合物(A)を硬化させる。硬化剤(B)として、エポキシ化合物(A)の硬化剤として使用される公知の硬化剤が使用可能である。上記硬化剤(B)は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Curing agent (B)]
The said white curable composition contains a hardening | curing agent (B) so that it can harden | cure efficiently by provision of heat. The curing agent (B) cures the epoxy compound (A). As the curing agent (B), a known curing agent used as a curing agent for the epoxy compound (A) can be used. As for the said hardening | curing agent (B), only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記硬化剤(B)としては、酸無水物、ジシアンジアミド、フェノール化合物、ヒドラジド化合物、イミダゾール化合物、トリアジン環を有する化合物、メチル(メタ)アクリレート樹脂又はスチレン樹脂等により形成されたシェルにより、トリフェニルホスフィン(硬化剤)が被覆されている潜在性硬化剤(例えば、日本化薬社製「EPCAT−P」及び「EPCAT−PS」)、ポリウレア系重合体又はラジカル重合体により形成されたシェルにより、アミンなどの硬化剤が被覆されている潜在性硬化剤(特許第3031897号公報及び特許第3199818号公報に記載)、変性イミダゾールなどの硬化剤をエポキシ樹脂中に分散させて閉じ込め、粉砕することにより得られた潜在性硬化剤(旭化成イーマテリアルズ社製「ノバキュアHXA3792」及び「HXA3932HP」)、熱可塑性高分子内に硬化剤を分散させ、含有させた潜在性硬化剤(特許第3098061号公報に記載)、並びにテトラキスフェノール類化合物などにより被覆されたイミダゾール潜在性硬化剤(例えば、日本曹達社製「TEP−2E4MZ」及び「HIPA−2E4MZ」)等が挙げられる。これら以外の硬化剤(B)を用いてもよい。 As the curing agent (B), triphenylphosphine is formed by a shell formed of an acid anhydride, dicyandiamide, a phenol compound, a hydrazide compound, an imidazole compound, a compound having a triazine ring, a methyl (meth) acrylate resin or a styrene resin. A latent curing agent (for example, “EPCAT-P” and “EPCAT-PS” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), a polyurea polymer or a radical polymer formed by a shell formed with a (curing agent) is coated with an amine. It is obtained by dispersing a curing agent such as a latent curing agent (described in Japanese Patent No. 3031897 and Japanese Patent No. 3199818) coated with a curing agent such as modified imidazole in an epoxy resin and confining and grinding. Latent curing agent ("Novakyu" manufactured by Asahi Kasei E-materials HXA3792 "and" HXA3932HP "), a latent curing agent in which a curing agent is dispersed and contained in a thermoplastic polymer (described in Japanese Patent No. 3098061), and an imidazole latency coated with a tetrakisphenol compound or the like Examples thereof include curing agents (for example, “TEP-2E4MZ” and “HIPA-2E4MZ” manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.). A curing agent (B) other than these may be used.
リードフレームと成形体との密着性をより一層高める観点からは、上記硬化剤(B)は、酸無水物硬化剤を含有することがより好ましい。上記白色硬化性組成物は、酸無水物硬化剤を含むことが好ましい。酸無水物硬化剤の使用により、硬化性を高く維持して、成形体の成形むらをより一層抑制できる。上記酸無水物硬化剤としては、芳香族骨格を有する酸無水物及び脂環式骨格を有する酸無水物の内のいずれも使用可能である。 From the viewpoint of further improving the adhesion between the lead frame and the molded body, the curing agent (B) preferably contains an acid anhydride curing agent. The white curable composition preferably contains an acid anhydride curing agent. By using an acid anhydride curing agent, it is possible to maintain high curability and further suppress molding unevenness of the molded body. As the acid anhydride curing agent, any of an acid anhydride having an aromatic skeleton and an acid anhydride having an alicyclic skeleton can be used.
好ましい上記酸無水物硬化剤としては、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水メチルナジック酸、無水ナジック酸、無水グルタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸及びメチルテトラヒドロ無水フタル酸等が挙げられる。 Preferred examples of the acid anhydride curing agent include phthalic anhydride, maleic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyl nadic anhydride, nadic anhydride, glutaric anhydride. And methylhexahydrophthalic anhydride and methyltetrahydrophthalic anhydride.
上記酸無水物硬化剤は、二重結合を有さないことが好ましい。二重結合を有さない好ましい酸無水物硬化剤としては、ヘキサヒドロ無水フタル酸及びメチルヘキサヒドロ無水フタル酸等が挙げられる。 The acid anhydride curing agent preferably does not have a double bond. Preferable acid anhydride curing agents having no double bond include hexahydrophthalic anhydride and methylhexahydrophthalic anhydride.
上記エポキシ化合物(A)と上記硬化剤(B)との配合比率は特に限定されない。エポキシ化合物(A)100重量部に対して、硬化剤(B)の含有量は、好ましくは0.5重量部以上、より好ましくは1重量部以上、更に好ましくは2重量部以上、特に好ましくは3重量部以上、好ましくは500重量部以下、より好ましくは300重量部以下、更に好ましくは100重量部以下である。 The mixing ratio of the epoxy compound (A) and the curing agent (B) is not particularly limited. The content of the curing agent (B) is preferably 0.5 parts by weight or more, more preferably 1 part by weight or more, still more preferably 2 parts by weight or more, particularly preferably 100 parts by weight of the epoxy compound (A). 3 parts by weight or more, preferably 500 parts by weight or less, more preferably 300 parts by weight or less, and still more preferably 100 parts by weight or less.
また、上記白色硬化性組成物中で、エポキシ化合物(A)全体のエポキシ当量と硬化剤(B)の硬化剤当量との当量比(エポキシ当量:硬化剤当量)は、0.3:1〜2:1であることが好ましく、0.5:1〜1.5:1であることがより好ましい。上記当量比(エポキシ当量:硬化剤当量)が上記範囲を満足すると、成形体の耐熱性及び耐候性がより一層高くなる。 Moreover, in the said white curable composition, the equivalent ratio (epoxy equivalent: hardener equivalent) of the epoxy equivalent of the whole epoxy compound (A) and the hardener equivalent of a hardening | curing agent (B) is 0.3: 1. 2: 1 is preferable, and 0.5: 1 to 1.5: 1 is more preferable. When the equivalent ratio (epoxy equivalent: curing agent equivalent) satisfies the above range, the heat resistance and weather resistance of the molded article are further enhanced.
(酸化チタン(C))
上記白色硬化性組成物は酸化チタン(C)を含むので、光の反射率が高い成形体を得ることができる。また、上記酸化チタン(C)の使用によって、酸化チタン(C)とは異なる充填材のみを用いた場合と比較して、光の反射率が高い成形体が得られる。上記白色硬化性組成物に含まれている酸化チタン(C)は特に限定されない。酸化チタン(C)は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
(Titanium oxide (C))
Since the said white curable composition contains a titanium oxide (C), a molded object with a high reflectance of light can be obtained. Further, by using the titanium oxide (C), it is possible to obtain a molded article having a high light reflectance as compared with a case where only a filler different from the titanium oxide (C) is used. The titanium oxide (C) contained in the white curable composition is not particularly limited. As for titanium oxide (C), only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記酸化チタン(C)は、ルチル型酸化チタン又はアナターゼ型酸化チタンであることが好ましく、ルチル型酸化チタンであることがより好ましい。ルチル型酸化チタンの使用により、耐熱性及び耐光性により一層優れた成形体が得られる。上記アナターゼ型酸化チタンは、ルチル型酸化チタンよりも、硬度が低い。このため、アナターゼ型酸化チタンの使用により、上記白色硬化性材料の成形性がより一層高くなる。 The titanium oxide (C) is preferably rutile type titanium oxide or anatase type titanium oxide, and more preferably rutile type titanium oxide. By using rutile-type titanium oxide, a molded article having more excellent heat resistance and light resistance can be obtained. The anatase type titanium oxide has a lower hardness than the rutile type titanium oxide. For this reason, the moldability of the said white curable material becomes still higher by use of anatase type titanium oxide.
上記酸化チタン(C)は、アルミニウム酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンを含むことが好ましい。上記酸化チタン(C)100重量%中、上記アルミニウム酸化物より表面処理されたルチル型酸化チタンの含有量は好ましくは10重量%以上、より好ましくは30重量%以上、100重量%以下である。上記酸化チタン(C)の全量が、上記アルミニウム酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンであってもよい。上記アルミニウム酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンの使用により、成形体の耐熱性がより一層高くなる。 It is preferable that the said titanium oxide (C) contains the rutile type titanium oxide surface-treated with the aluminum oxide. In 100% by weight of the titanium oxide (C), the content of the rutile titanium oxide surface-treated from the aluminum oxide is preferably 10% by weight or more, more preferably 30% by weight or more and 100% by weight or less. The total amount of titanium oxide (C) may be rutile titanium oxide surface-treated with the aluminum oxide. Use of the rutile type titanium oxide surface-treated with the aluminum oxide further increases the heat resistance of the molded body.
上記アルミニウム酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンとしては、例えば、ルチル塩素法酸化チタンである石原産業社製の品番:CR−58や、ルチル硫酸法酸化チタンである石原産業社製の品番:R−630等が挙げられる。 Examples of the rutile-type titanium oxide surface-treated with the aluminum oxide include, for example, a product number manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., which is a rutile chlorine method titanium oxide, and a product number manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., which is a rutile sulfuric acid method titanium oxide. : R-630 and the like.
上記酸化チタン(C)は、ケイ素酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンを含むことが好ましい。上記ケイ素酸化物により表面処理されたルチル型酸化チタンの使用により、成形体の耐熱性がより一層高くなる。 It is preferable that the said titanium oxide (C) contains the rutile type titanium oxide surface-treated with the silicon oxide. By using the rutile type titanium oxide surface-treated with the silicon oxide, the heat resistance of the molded body is further enhanced.
上記白色硬化性組成物100重量%中、上記酸化チタン(C)の含有量は、好ましくは3重量%以上、より好ましくは10重量%以上、更に好ましくは15重量%以上、好ましくは95重量%以下、より好ましくは90重量%以下、更に好ましくは85重量%以下である。酸化チタン(C)の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、成形体の光の反射率がより一層高くなり、更に成形体の耐熱性が高くなって、成形体が高温に晒されたときに黄変し難くなる。 The content of the titanium oxide (C) in 100% by weight of the white curable composition is preferably 3% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, still more preferably 15% by weight or more, preferably 95% by weight. Hereinafter, it is more preferably 90% by weight or less, and still more preferably 85% by weight or less. When the content of titanium oxide (C) is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the light reflectance of the molded body is further increased, the heat resistance of the molded body is further increased, and the molded body is exposed to a high temperature. When it is done, it becomes difficult to yellow.
(充填材(D))
上記充填材(D)は、酸化チタンとは異なる充填材である。上記充填材(D)は特に限定されない。上記充填材(D)は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
(Filler (D))
The filler (D) is a filler different from titanium oxide. The filler (D) is not particularly limited. As for the said filler (D), only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記充填材(D)として、無機充填材及び有機充填材の内のいずれも用いることができる。上記充填材(D)の具体例としては、シリカ、アルミナ、マイカ、ベリリア、チタン酸カリウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、酸化ジルコニウム、酸化アンチモン、ホウ酸アルミニウム、水酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、炭酸アルミニウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸アルミニウム、ケイ酸マグネシウム、リン酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、窒化ケイ素、窒化ホウ素、焼成クレー等のクレー、タルク、炭化ケイ素、架橋アクリルの樹脂粒子及びシリコーン粒子等が挙げられる。上記充填材(D)は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。 Any of an inorganic filler and an organic filler can be used as the filler (D). Specific examples of the filler (D) include silica, alumina, mica, beryllia, potassium titanate, barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, zirconium oxide, antimony oxide, aluminum borate, aluminum hydroxide, Magnesium oxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, aluminum carbonate, calcium silicate, aluminum silicate, magnesium silicate, calcium phosphate, calcium sulfate, barium sulfate, silicon nitride, boron nitride, calcined clay, talc, silicon carbide, cross-linked Examples include acrylic resin particles and silicone particles. As for the said filler (D), only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記充填材(D)はシリカであることが好ましい。シリカの使用により、成形体の強度がより一層高くなる。 The filler (D) is preferably silica. Use of silica further increases the strength of the molded body.
上記白色硬化性材料の成形性をより一層高める観点からは、上記充填材(D)は、平均粒径が10μm以上、50μm以下である充填材を含むことが好ましい。上記白色硬化性材料の成形性をより一層高める観点からは、上記充填材(D)は、平均粒径1μm以上、10μm未満である充填材を含むことが好ましい。上記白色硬化性材料の成形性を更に一層高める観点からは、上記充填材(D)は、平均粒径が10μm以上、50μm以下である第1の充填材と、平均粒径1μm以上、10μm未満である第2の充填材との双方を含むことが特に好ましい。この第1,第2の充填材の併用により、トランスファー成形時にバリがより一層発生し難くなる。 From the viewpoint of further improving the moldability of the white curable material, the filler (D) preferably includes a filler having an average particle size of 10 μm or more and 50 μm or less. From the viewpoint of further improving the moldability of the white curable material, the filler (D) preferably includes a filler having an average particle diameter of 1 μm or more and less than 10 μm. From the viewpoint of further improving the moldability of the white curable material, the filler (D) includes a first filler having an average particle size of 10 μm or more and 50 μm or less, and an average particle size of 1 μm or more and less than 10 μm. It is particularly preferable to include both the second filler and the second filler. Due to the combined use of the first and second fillers, burrs are more unlikely to occur during transfer molding.
上記平均粒径とは、体積基準粒度分布曲線において積算値が50%のときの粒径値である。上記平均粒径は、例えばレーザ光式粒度分布計を用いて測定可能である。該レーザ光式粒度分布計の市販品としては、Beckman Coulter社製「LS13 320」等が挙げられる。 The average particle size is a particle size value when the integrated value is 50% in the volume-based particle size distribution curve. The average particle size can be measured using, for example, a laser beam type particle size distribution meter. As a commercial product of the laser beam type particle size distribution analyzer, “LS13 320” manufactured by Beckman Coulter, Inc., and the like can be given.
上記充填材(D)は、球状充填材を含んでいてもよく、破砕充填材を含んでいてもよく、球状充填材と破砕充填材との双方を含んでいてもよい。 The filler (D) may include a spherical filler, may include a crushed filler, or may include both a spherical filler and a crushed filler.
上記白色硬化性組成物100重量%中、上記充填材(D)の含有量は、好ましくは5重量%以上、より好ましくは10重量%以上、更に好ましくは20重量%以上、好ましくは95重量%以下、より好ましくは90重量%以下、更に好ましくは85重量%以下である。充填材(D)の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、白色硬化性材料の成形性がより一層高くなる。 The content of the filler (D) in 100% by weight of the white curable composition is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, still more preferably 20% by weight or more, preferably 95% by weight. Hereinafter, it is more preferably 90% by weight or less, and still more preferably 85% by weight or less. When the content of the filler (D) is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the moldability of the white curable material is further enhanced.
(硬化促進剤(E))
上記白色硬化性組成物は、上記エポキシ化合物(A)と上記硬化剤(B)との反応を促進するために、硬化促進剤(E)を含む。硬化促進剤(E)の使用により、上記白色硬化性材料の硬化性を高めることができ、更に成形体の耐熱性を高めることができる。硬化促進剤(E)は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
(Curing accelerator (E))
The white curable composition contains a curing accelerator (E) in order to promote the reaction between the epoxy compound (A) and the curing agent (B). By using the curing accelerator (E), the curability of the white curable material can be enhanced, and the heat resistance of the molded body can be further enhanced. As for a hardening accelerator (E), only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記硬化促進剤(E)としては、例えば、ウレア化合物、オニウム塩化合物、イミダゾール化合物、リン化合物、アミン化合物及び有機金属化合物等が挙げられる。 Examples of the curing accelerator (E) include urea compounds, onium salt compounds, imidazole compounds, phosphorus compounds, amine compounds, and organometallic compounds.
上記ウレア化合物としては、ウレア、脂肪族ウレア化合物及び芳香族ウレア化合物等が挙げられる。上記ウレア化合物の具体例としては、ウレア、メチルウレア、1,1−ジメチルウレア、1,3−ジメチルウレア、1,1,3,3−テトラメチルウレア、1,3−ジフェニルウレア及びトリ−n−ブチルチオウレア等が挙げられる。これら以外のウレア化合物を用いてもよい。 Examples of the urea compound include urea, aliphatic urea compounds, and aromatic urea compounds. Specific examples of the urea compound include urea, methylurea, 1,1-dimethylurea, 1,3-dimethylurea, 1,1,3,3-tetramethylurea, 1,3-diphenylurea, and tri-n-. Examples include butylthiourea. Urea compounds other than these may be used.
上記オニウム塩化合物としては、アンモニウム塩、ホスホニウム塩及びスルホニウム塩化合物等が挙げられる。 Examples of the onium salt compounds include ammonium salts, phosphonium salts, and sulfonium salt compounds.
上記イミダゾール化合物としては、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール及び2−フェニル−4−メチル−5−ジヒドロキシメチルイミダゾール等が挙げられる。 Examples of the imidazole compound include 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl- 2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-un Decylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2 ′ -Methyl Midazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6 [2′-Ethyl-4′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine Isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-methylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole and 2-phenyl-4-methyl-5-dihydroxymethylimidazole Can be mentioned.
上記リン化合物は、リンを含有し、リン含有化合物である。上記リン化合物としては、トリフェニルホスフィン、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−テトラフルオロボレート、及びテトラ−n−ブチルホスホニウム−テトラフェニルボレート等が挙げられる。これら以外のリン化合物を用いてもよい。 The phosphorus compound contains phosphorus and is a phosphorus-containing compound. Examples of the phosphorus compound include triphenylphosphine, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, tetra-n-butylphosphonium-o, o-diethylphosphorodithioate, tetra-n-butylphosphonium-tetrafluoroborate, and tetra-n-. Examples thereof include butylphosphonium-tetraphenylborate. Phosphorus compounds other than these may be used.
上記アミン化合物としては、ジエチルアミン、トリエチルアミン、ジエチレンテトラミン、トリエチレンテトラミン、4,4−ジメチルアミノピリジン、ジアザビシクロアルカン、ジアザビシクロアルケン、第4級アンモニウム塩、トリエチレンジアミン、及びトリ−2,4,6−ジメチルアミノメチルフェノールが挙げられる。これらの化合物の塩を用いてもよい。フェニルホスフィン、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−テトラフルオロボレート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−テトラフェニルボレートが挙げられる。 Examples of the amine compound include diethylamine, triethylamine, diethylenetetramine, triethylenetetramine, 4,4-dimethylaminopyridine, diazabicycloalkane, diazabicycloalkene, quaternary ammonium salt, triethylenediamine, and tri-2,4. , 6-dimethylaminomethylphenol. You may use the salt of these compounds. Phenylphosphine, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, tetra-n-butylphosphonium-o, o-diethylphosphorodithioate, tetra-n-butylphosphonium-tetrafluoroborate, tetra-n-butylphosphonium-tetraphenylborate It is done.
上記有機金属化合物としては、アルカリ金属化合物及びアルカリ土類金属化合物等が挙げられる。上記有機金属化合物の具体例としては、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸スズ、オクチル酸コバルト、ビスアセチルアセトナートコバルト(II)及びトリスアセチルアセトナートコバルト(III)等が挙げられる。 Examples of the organometallic compound include alkali metal compounds and alkaline earth metal compounds. Specific examples of the organometallic compound include zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin octylate, cobalt octylate, bisacetylacetonate cobalt (II), and trisacetylacetonate cobalt (III).
上記白色硬化性材料の硬化性をより一層高め、更に成形体の耐熱性をより一層高める観点からは、上記硬化促進剤(E)は、ウレア化合物、オニウム塩化合物又はリン化合物であることが好ましい。上記硬化促進剤(E)は、ウレア化合物であることが好ましく、オニウム塩化合物であることも好ましく、リン化合物であることも好ましい。 From the viewpoint of further enhancing the curability of the white curable material and further enhancing the heat resistance of the molded body, the curing accelerator (E) is preferably a urea compound, an onium salt compound or a phosphorus compound. . The curing accelerator (E) is preferably a urea compound, preferably an onium salt compound, and preferably a phosphorus compound.
上記エポキシ化合物(A)と上記硬化促進剤(E)との配合比率は特に限定されない。エポキシ化合物(A)100重量部に対して、硬化促進剤(E)の含有量は、好ましくは0.01重量部以上、より好ましくは0.1重量部以上、好ましくは100重量部以下、より好ましくは10重量部以下、更に好ましくは5重量部以下である。 The mixing ratio of the epoxy compound (A) and the curing accelerator (E) is not particularly limited. The content of the curing accelerator (E) is preferably 0.01 parts by weight or more, more preferably 0.1 parts by weight or more, preferably 100 parts by weight or less, based on 100 parts by weight of the epoxy compound (A). Preferably it is 10 weight part or less, More preferably, it is 5 weight part or less.
(酸化防止剤(F))
上記酸化防止剤(F)としては、フェノール系酸化防止剤、リン系酸化防止剤及びアミン系酸化防止剤等が挙げられる。
(Antioxidant (F))
As said antioxidant (F), a phenolic antioxidant, a phosphorus antioxidant, an amine antioxidant, etc. are mentioned.
上記フェノール系酸化防止剤の市販品としては、IRGANOX 1010、IRGANOX 1035、IRGANOX 1076、IRGANOX 1135、IRGANOX 245、IRGANOX 259、及びIRGANOX 295(以上、いずれもBASF社製)、アデカスタブ AO−30、アデカスタブ AO−40、アデカスタブ AO−50、アデカスタブ AO−60、アデカスタブ AO−70、アデカスタブ AO−80、アデカスタブ AO−90、及びアデカスタブ AO−330(以上、いずれもADEKA社製)、Sumilizer GA−80、Sumilizer MDP−S、Sumilizer BBM−S、Sumilizer GM、Sumilizer GS(F)、及びSumilizer GP(以上、いずれも住友化学工業社製)、HOSTANOX O10、HOSTANOX O16、HOSTANOX O14、及びHOSTANOX O3(以上、いずれもクラリアント社製)、アンテージ BHT、アンテージ W−300、アンテージ W−400、及びアンテージ W500(以上、いずれも川口化学工業社製)、並びにSEENOX 224M、及びSEENOX 326M(以上、いずれもシプロ化成社製)等が挙げられる。 Examples of commercially available phenolic antioxidants include IRGANOX 1010, IRGANOX 1035, IRGANOX 1076, IRGANOX 1135, IRGANOX 245, IRGANOX 259, and IRGANOX 295 (all of which are manufactured by BASF), ADK STAB AO-30, and ADK STAB AO. -40, ADK STAB AO-50, ADK STAB AO-60, ADK STAB AO-70, ADK STAB AO-80, ADK STAB AO-90, and ADK STAB AO-330 (all of which are manufactured by ADEKA), Sumilizer GA-80, and Sumizer MDP -S, Sumilizer BBM-S, Sumilizer GM, Sumilizer GS (F), and Sumilizer G (All are manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.), HOSTANOX O10, HOSTANOX O16, HOSTANOX O14, and HOSTANOX O3 (all are manufactured by Clariant), Antage BHT, Antage W-300, Antage W-400, and Antage W500 (All as described above, manufactured by Kawaguchi Chemical Industry Co., Ltd.), SEENOX 224M, and SEENOX 326M (all as described above, manufactured by Sipro Kasei Co., Ltd.).
上記リン系酸化防止剤としては、シクロヘキシルフォスフィン及びトリフェニルフォスフィン等が挙げられる。上記リン系酸化防止剤の市販品としては、アデアスタブ PEP−4C、アデアスタブ PEP−8、アデアスタブ PEP−24G、アデアスタブ PEP−36、アデアスタブ HP−10、アデアスタブ 2112、アデアスタブ 260、アデアスタブ 522A、アデアスタブ 1178、アデアスタブ 1500、アデアスタブ C、アデアスタブ 135A、アデアスタブ 3010、及びアデアスタブ TPP(以上、いずれもADEKA社製)、サンドスタブ P−EPQ、及びホスタノックス PAR24(以上、いずれもクラリアント社製)、並びにJP−312L、JP−318−0、JPM−308、JPM−313、JPP−613M、JPP−31、JPP−2000PT、及びJPH−3800(以上、いずれも城北化学工業社製)等が挙げられる。 Examples of the phosphorus antioxidant include cyclohexylphosphine and triphenylphosphine. Commercially available products of the above phosphorus antioxidants include Adeastab PEP-4C, Adeastab PEP-8, Adeastab PEP-24G, Adeastab PEP-36, Adeastab HP-10, Adeastab 2112, Adeastab 260, Adeastab 522A, Adeastab 1178, Adeastab 1500, Adeastab C, Adeastab 135A, Adeastab 3010, and Adeastab TPP (all of which are manufactured by ADEKA), Sandstub P-EPQ, and Hostanox PAR24 (all of which are manufactured by Clariant), and JP-312L, JP -318-0, JPM-308, JPM-313, JPP-613M, JPP-31, JPP-2000PT, and JPH-3800 (all of which are Johoku Manabu Kogyo Co., Ltd.), and the like.
上記アミン系酸化防止剤としては、トリエチルアミン、メラミン、エチルジアミノ−S−トリアジン、2,4−ジアミノ−S−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−トリル−S−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−キシリル−S−トリアジン及び第四級アンモニウム塩誘導体等が挙げられる。 Examples of the amine-based antioxidant include triethylamine, melamine, ethyldiamino-S-triazine, 2,4-diamino-S-triazine, 2,4-diamino-6-tolyl-S-triazine, and 2,4-diamino- Examples include 6-xylyl-S-triazine and quaternary ammonium salt derivatives.
上述した酸化防止剤(F)の中で、フェノール系酸化防止剤がより好ましい。フェノール系酸化防止剤の使用により、耐熱性により一層優れた成形体が得られる。上記フェノール系酸化防止剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。 Of the above-described antioxidants (F), phenolic antioxidants are more preferable. By using a phenol-based antioxidant, a molded article having more excellent heat resistance can be obtained. As for the said phenolic antioxidant, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記エポキシ化合物(A)100重量部に対して、上記酸化防止剤(F)の含有量は好ましくは0.1重量部以上、より好ましくは5重量部以上、好ましくは50重量部以下、より好ましくは30重量部以下である。上記酸化防止剤(F)の含有量が上記下限以上及び上限以下であると、耐熱性により一層優れた成形体が得られる。 The content of the antioxidant (F) is preferably 0.1 parts by weight or more, more preferably 5 parts by weight or more, preferably 50 parts by weight or less, more preferably 100 parts by weight of the epoxy compound (A). Is 30 parts by weight or less. When the content of the antioxidant (F) is not less than the above lower limit and not more than the upper limit, a molded body that is more excellent in heat resistance can be obtained.
(カップリング剤(G))
上記白色硬化性組成物は、カップリング剤(G)をさらに含んでいてもよい。カップリング剤(G)の使用により、成形体において熱硬化性成分と酸化チタン(C)と充填材(D)との接着性が良好になる。カップリング剤(G)は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
(Coupling agent (G))
The white curable composition may further contain a coupling agent (G). By using the coupling agent (G), the adhesiveness between the thermosetting component, titanium oxide (C) and the filler (D) is improved in the molded body. As for a coupling agent (G), only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.
上記カップリング剤(G)としては特に限定されないが、例えば、シランカップリング剤及びチタネート系カップリング剤が挙げられる。該シランカップリング剤としては、一般にエポキシシラン系カップリング剤、アミノシラン系カップリング剤、カチオニックシラン系カップリング剤、ビニルシラン系カップリング剤、アクリルシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤及びこれらの複合系カップリング剤が挙げられる。カップリング剤(G)は、シランカップリング剤であることが好ましい。 Although it does not specifically limit as said coupling agent (G), For example, a silane coupling agent and a titanate coupling agent are mentioned. As the silane coupling agent, generally an epoxy silane coupling agent, an amino silane coupling agent, a cationic silane coupling agent, a vinyl silane coupling agent, an acrylic silane coupling agent, a mercapto silane coupling agent and These composite coupling agents are mentioned. The coupling agent (G) is preferably a silane coupling agent.
上記白色硬化性組成物100重量%中、上記カップリング剤(G)の含有量は好ましくは0.01重量%以上、好ましくは5重量%以下である。 In 100% by weight of the white curable composition, the content of the coupling agent (G) is preferably 0.01% by weight or more, and preferably 5% by weight or less.
(他の成分)
上記白色硬化性組成物は、必要に応じて、離型剤、樹脂改質剤、着色剤、希釈剤、表面処理剤、難燃剤、粘度調節剤、分散剤、分散助剤、表面改質剤、可塑剤、抗菌剤、防黴剤、レベリング剤、安定剤、タレ防止剤又は蛍光体等を含んでいてもよい。上記希釈剤は、反応性希釈剤であってもよく、非反応性希釈剤であってもよい。
(Other ingredients)
The white curable composition comprises a mold release agent, a resin modifier, a colorant, a diluent, a surface treatment agent, a flame retardant, a viscosity modifier, a dispersant, a dispersion aid, and a surface modifier as necessary. , A plasticizer, an antibacterial agent, an antifungal agent, a leveling agent, a stabilizer, an anti-sagging agent or a phosphor may be contained. The diluent may be a reactive diluent or a non-reactive diluent.
上記着色剤としては特に限定されず、フタロシアニン、アゾ化合物、ジスアゾ化合物、キナクリドン、アントラキノン、フラバントロン、ペリノン、ペリレン、ジオキサジン、縮合アゾ化合物、アゾメチン化合物、赤外線吸収剤及び紫外線吸収剤などの各種有機系色素、並びに硫酸鉛、クロムエロー、ジンクエロー、クロムバーミリオン、弁殻、コバルト紫、紺青、群青、カーボンブラック、クロムグリーン、酸化クロム及びコバルトグリーン等の無機顔料等が挙げられる。 The colorant is not particularly limited, and various organic systems such as phthalocyanine, azo compound, disazo compound, quinacridone, anthraquinone, flavantron, perinone, perylene, dioxazine, condensed azo compound, azomethine compound, infrared absorber and ultraviolet absorber Examples of the pigment include inorganic pigments such as lead sulfate, chromium yellow, zinc yellow, chromium vermilion, valve shell, cobalt purple, bitumen, ultramarine, carbon black, chromium green, chromium oxide, and cobalt green.
(光半導体装置用白色硬化性材料の他の詳細、光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法の他の詳細、及び光半導体装置用成形体)
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料は、光半導体装置において、光半導体素子が搭載されるリードフレーム上に配置される成形体を得るために用いられる光半導体装置用白色硬化性材料である。上記リードフレームは、例えば、光半導体素子を支持しかつ固定し、光半導体素子の電極と外部配線との電気的な接続を果たすための部品である。上記成形体は、光半導体装置用成形体であり、光半導体素子搭載用基板であることが好ましい。
(Other details of white curable material for optical semiconductor device, other details of manufacturing method of white curable material for optical semiconductor device, and molded article for optical semiconductor device)
The white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention and the white curable material for optical semiconductor devices obtained by the method for producing a white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention are: It is a white curable material for optical semiconductor devices used for obtaining a molded body placed on a lead frame to be mounted. The lead frame is, for example, a component for supporting and fixing the optical semiconductor element and achieving electrical connection between the electrode of the optical semiconductor element and external wiring. The molded body is a molded body for an optical semiconductor device, and is preferably an optical semiconductor element mounting substrate.
光の反射率が高い成形体が得られるので、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料は、半導体装置において、光半導体素子が搭載されるリードフレーム上にかつ上記光半導体素子の側方に配置され、上記光半導体素子から発せられた光を反射する光反射部を有する成形体を得るために用いられる光半導体装置用白色硬化性材料であることが好ましい。 Since a molded article having high light reflectance is obtained, the white curable material for optical semiconductor devices obtained by the method for producing the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention and the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is obtained. In the semiconductor device, the conductive material is formed on the lead frame on which the optical semiconductor element is mounted and on the side of the optical semiconductor element, and has a light reflecting portion that reflects the light emitted from the optical semiconductor element. It is preferable that it is a white curable material for optical semiconductor devices used for obtaining.
光の反射率が高い成形体が得られるので、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料は、半導体装置において、光半導体素子が搭載されるリードフレーム上にかつ上記光半導体素子を取り囲むように配置され、上記光半導体素子から発せられた光を反射する光反射部を内面に有する成形体を得るために用いられる光半導体装置用白色硬化性材料であることが好ましい。上記成形体は、上記光半導体素子を取り囲む外壁部材であることが好ましく、枠状部材であることが好ましい。なお、上記成形体は、光半導体装置において、光半導体素子を接合(ダイボンディング)するためのダイボンド材とは異なる。 Since a molded article having high light reflectance is obtained, the white curable material for optical semiconductor devices obtained by the method for producing the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention and the white curable material for optical semiconductor devices according to the present invention is obtained. The conductive material is disposed on the lead frame on which the optical semiconductor element is mounted in the semiconductor device so as to surround the optical semiconductor element, and has a light reflecting portion that reflects light emitted from the optical semiconductor element on the inner surface. It is preferably a white curable material for optical semiconductor devices used for obtaining a molded body. The molded body is preferably an outer wall member surrounding the optical semiconductor element, and is preferably a frame-shaped member. In addition, the said molded object differs from the die-bonding material for joining an optical semiconductor element (die bonding) in an optical semiconductor device.
本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料及び本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料は、複数の成形体がリードフレーム及び白色硬化性材料の内の少なくとも一方を介して連なった分割前成形体を得た後に、該分割前成形体を分割して個々の成形体を得るために用いられることが好ましい。分割の方法としては、金型による打ち抜きや、ダイシングなどの方法が挙げられる。 A white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention and a white curable material for an optical semiconductor device obtained by the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention have a lead frame and a white molded body. It is preferably used for obtaining individual molded bodies by dividing the pre-division shaped bodies after obtaining the pre-division shaped bodies connected via at least one of the curable materials. Examples of the dividing method include punching with a mold and dicing.
上記白色硬化性組成物又は上記白色硬化性材料は、エポキシ化合物(A)と硬化剤(B)と酸化チタン(C)と充填材(D)と必要に応じて配合される他の成分とを、従来公知の方法で混合することにより得られる。上記白色硬化性組成物又は上記白色硬化性材料を作製する一般的な方法としては、各成分を押出機、ニーダー、ロール、エクストルーダー等によって混練した後、混練物を冷却し、粉砕する方法が挙げられる。分散性を向上する観点からは、各成分の混練は、溶融状態で行うことが好ましい。混練の条件は、各成分の種類及び配合量により適宜決定される。15〜150℃で5〜60分間混練することが好ましく、20〜100℃で10〜30分間混練することがより好ましい。60〜100℃の温度で10〜60分間混練することがより好ましい。 The white curable composition or the white curable material comprises an epoxy compound (A), a curing agent (B), titanium oxide (C), a filler (D), and other components blended as necessary. It can be obtained by mixing by a conventionally known method. As a general method for producing the white curable composition or the white curable material, there is a method in which each component is kneaded by an extruder, a kneader, a roll, an extruder, etc., and then the kneaded product is cooled and pulverized. Can be mentioned. From the viewpoint of improving dispersibility, the kneading of each component is preferably performed in a molten state. The kneading conditions are appropriately determined depending on the type and amount of each component. Kneading is preferably performed at 15 to 150 ° C. for 5 to 60 minutes, and more preferably kneading at 20 to 100 ° C. for 10 to 30 minutes. It is more preferable to knead for 10 to 60 minutes at a temperature of 60 to 100 ° C.
本発明に係る光半導体装置用成形体は、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させるか、又は本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる。上記光半導体装置用白色硬化性材料は所定の形状に成形される。本発明に係る光半導体装置用成形体は、光半導体装置において金属部と接触するように用いられることが好ましく、電極と接触するように用いられることがより好ましい。上記光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる成形体は、光半導体装置において、光半導体素子から発せられた光を反射するために好適に用いられる。 An optical semiconductor device molded body according to the present invention is an optical semiconductor obtained by curing the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention or the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention. It is obtained by curing a white curable material for equipment. The white curable material for optical semiconductor devices is formed into a predetermined shape. The molded body for an optical semiconductor device according to the present invention is preferably used so as to contact a metal part in the optical semiconductor device, and more preferably used so as to contact an electrode. The molded body obtained by curing the white curable material for an optical semiconductor device is suitably used for reflecting light emitted from the optical semiconductor element in the optical semiconductor device.
上記光半導体装置用白色硬化性材料を用いて上記光半導体装置用成形体を得る方法としては、圧縮成形法、トランスファー成形法、積層成形法、射出成形法、押出成形法及びブロー成形法等が挙げられる。なかでも、トランスファー成形法が好ましい。 Examples of a method for obtaining the molded body for an optical semiconductor device using the white curable material for the optical semiconductor device include a compression molding method, a transfer molding method, a laminate molding method, an injection molding method, an extrusion molding method, and a blow molding method. Can be mentioned. Of these, transfer molding is preferred.
トランスファー成形法では、例えば、成形温度100〜200℃、成形圧力5〜20MPa及び成形時間60〜300秒の条件で、上記光半導体装置用白色硬化性材料をトランスファー成形することにより、成形体が得られる。成形温度は150〜190℃であることがより好ましく、成形時間は60〜200秒であることがより好ましい。なお、上記ショアDを測定するための成形体を得る条件が、成形温度170℃及び成形時間100秒に設定されているのは、上記白色硬化性材料のトランスファー成形時の成形温度及び成形時間は一般に上述した範囲内であるためである。 In the transfer molding method, for example, a molded body is obtained by transfer molding the white curable material for optical semiconductor devices under the conditions of a molding temperature of 100 to 200 ° C., a molding pressure of 5 to 20 MPa, and a molding time of 60 to 300 seconds. It is done. The molding temperature is more preferably 150 to 190 ° C., and the molding time is more preferably 60 to 200 seconds. The conditions for obtaining a molded body for measuring the Shore D are set at a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds. The molding temperature and molding time during transfer molding of the white curable material are as follows. This is because it is generally within the above-mentioned range.
(光半導体装置の詳細及び光半導体装置の実施形態)
本発明に係る光半導体装置は、リードフレームと、該リードフレーム上に搭載された光半導体素子と、上記リードフレーム上に配置された成形体とを備える。該成形体が、本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させるか、又は本発明に係る光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られる光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる。
(Details of optical semiconductor device and embodiment of optical semiconductor device)
An optical semiconductor device according to the present invention includes a lead frame, an optical semiconductor element mounted on the lead frame, and a molded body disposed on the lead frame. A white curable material for an optical semiconductor device obtained by the method, wherein the molded body cures the white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention or is produced by the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to the present invention. It is obtained by curing.
本発明に係る光半導体装置では、上記成形体は、上記光半導体素子の側方に配置されており、上記成形体の内面が上記光半導体素子から発せられた光を反射する光反射部であることが好ましい。 In the optical semiconductor device according to the present invention, the molded body is disposed on a side of the optical semiconductor element, and an inner surface of the molded body is a light reflecting portion that reflects light emitted from the optical semiconductor element. It is preferable.
図1(a)及び(b)に、本発明の一実施形態に係る光半導体装置を断面図及び斜視図で示す。 1A and 1B are a sectional view and a perspective view of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.
本実施形態の光半導体装置1は、リードフレーム2と光半導体素子3と第1の成形体4と第2の成形体5とを有する。光半導体素子3は発光ダイオード(LED)であることが好ましい。第1の成形体4と第2の成形体5とは一体的に形成されておらず、別の2つの部材である。第1の成形体4と第2の成形体5とは一体的に形成されていてもよい。 The optical semiconductor device 1 according to this embodiment includes a lead frame 2, an optical semiconductor element 3, a first molded body 4, and a second molded body 5. The optical semiconductor element 3 is preferably a light emitting diode (LED). The first molded body 4 and the second molded body 5 are not formed integrally, but are two other members. The first molded body 4 and the second molded body 5 may be integrally formed.
リードフレーム2上に、光半導体素子3が搭載され、配置されている。また、リードフレーム2上に、第1の成形体4が配置されている。また、複数のリードフレーム2間とリードフレーム2の下方とには、第2の成形体5が配置されている。第1の成形体4の内側に光半導体素子3が配置されている。光半導体素子3の側方に第1の成形体4が配置されており、光半導体素子3を取り囲むように第1の成形体4が配置されている。第1,第2の成形体4,5は、上述した光半導体装置用白色硬化性材料の硬化物であり、上述した光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる。従って、第1の成形体4は、光反射性を有し、内面4aに光反射部を有する。すなわち、第1の成形体4の内面4aは光反射部である。従って、光半導体素子3の周囲は、第1の成形体4の光反射性を有する内面4aにより囲まれている。 An optical semiconductor element 3 is mounted and arranged on the lead frame 2. A first molded body 4 is arranged on the lead frame 2. A second molded body 5 is disposed between the plurality of lead frames 2 and below the lead frames 2. The optical semiconductor element 3 is disposed inside the first molded body 4. A first molded body 4 is disposed on the side of the optical semiconductor element 3, and the first molded body 4 is disposed so as to surround the optical semiconductor element 3. The 1st, 2nd molded objects 4 and 5 are hardened | cured material of the white curable material for optical semiconductor devices mentioned above, and are obtained by hardening the white curable material for optical semiconductor devices mentioned above. Therefore, the 1st molded object 4 has light reflectivity, and has a light reflection part in the inner surface 4a. That is, the inner surface 4a of the first molded body 4 is a light reflecting portion. Therefore, the periphery of the optical semiconductor element 3 is surrounded by the inner surface 4 a having the light reflectivity of the first molded body 4.
第1の成形体4の内面4aは、内面4aの径が開口端に向かうにつれて大きくなるように形成されている。従って、光半導体素子3から発せられた光のうち、内面4aに到達した矢印Bで示す光が内面4aにより反射され、光半導体素子3の前方側に進行する。 The inner surface 4a of the first molded body 4 is formed such that the diameter of the inner surface 4a increases as it goes toward the opening end. Therefore, of the light emitted from the optical semiconductor element 3, the light indicated by the arrow B reaching the inner surface 4 a is reflected by the inner surface 4 a and travels forward of the optical semiconductor element 3.
光半導体素子3は、リードフレーム2上に、ダイボンド材6を用いて接続されている。光半導体素子3に設けられたボンディングパッド(図示せず)とリードフレーム2とが、ボンディングワイヤー7により電気的に接続されている。光半導体素子3及びボンディングワイヤー7を封止するように、第1の成形体4の内面4aで囲まれた領域内には、封止剤8が充填されている。 The optical semiconductor element 3 is connected to the lead frame 2 using a die bond material 6. A bonding pad (not shown) provided on the optical semiconductor element 3 and the lead frame 2 are electrically connected by a bonding wire 7. A sealing agent 8 is filled in the region surrounded by the inner surface 4 a of the first molded body 4 so as to seal the optical semiconductor element 3 and the bonding wire 7.
光半導体装置1では、光半導体素子3を駆動すると、破線Aで示すように光が発せられる。光半導体装置1では、光半導体素子3からリードフレーム2の上面とは反対側すなわち上方に照射される光だけでなく、第1の成形体4の内面4aに到達した光が矢印Bで示すように反射される光も存在する。従って、光半導体装置1から取り出される光の明るさは明るい。 In the optical semiconductor device 1, when the optical semiconductor element 3 is driven, light is emitted as indicated by a broken line A. In the optical semiconductor device 1, the light reaching the inner surface 4 a of the first molded body 4 as indicated by the arrow B as well as the light irradiated from the optical semiconductor element 3 to the side opposite to the upper surface of the lead frame 2, that is, the upper side. There is also light that is reflected by the light. Therefore, the brightness of the light extracted from the optical semiconductor device 1 is bright.
なお、図1に示す構造は、本発明に係る光半導体装置の一例にすぎず、成形体の構造及び光半導体素子の実装構造等には適宜変形され得る。 The structure shown in FIG. 1 is merely an example of an optical semiconductor device according to the present invention, and can be appropriately modified to a structure of a molded body, a mounting structure of an optical semiconductor element, and the like.
また、図2に示すように、複数の光半導体装置用部品が連なった分割前光半導体装置用部品11を用意して、分割前光半導体装置用部品11を破線Xで示す部分で切断して、個々の光半導体装置用部品を得てもよい。分割前光半導体装置用部品11は、分割前リードフレーム2Aと、分割前第1の成形体4Aと、分割前第2の成形体5Aとを有する。個々の光半導体装置用部品得た後、光半導体素子3を搭載し、該光半導体素子3を封止剤8により封止して、光半導体装置1を得てもよい。分割前リードフレーム2Aを破線Xで示す部分で切断すると、リードフレーム2が得られる。分割前第1の成形体4Aを破線Xで示す部分で切断すると、第1の成形体4が得られる。分割前第2の成形体5Aを破線Xで示す部分で切断すると、第2の成形体5が得られる。 Further, as shown in FIG. 2, a pre-division optical semiconductor device component 11 in which a plurality of optical semiconductor device components are connected is prepared, and the pre-division optical semiconductor device component 11 is cut at a portion indicated by a broken line X. Individual optical semiconductor device components may be obtained. The pre-division optical semiconductor device component 11 includes a pre-division lead frame 2A, a pre-division first molded body 4A, and a pre-division second molded body 5A. After obtaining individual components for an optical semiconductor device, the optical semiconductor device 3 may be mounted, and the optical semiconductor device 3 may be sealed with a sealant 8 to obtain the optical semiconductor device 1. When the pre-division lead frame 2A is cut at a portion indicated by a broken line X, the lead frame 2 is obtained. When the first molded body 4A before division is cut at a portion indicated by a broken line X, the first molded body 4 is obtained. When the second molded body 5A before division is cut at a portion indicated by a broken line X, the second molded body 5 is obtained.
さらに、図3に示すように、複数の分割前光半導体装置が連なった分割前光半導体装置12を用意して、分割前光半導体装置12を破線Xで示す部分で切断して、個々の光半導体装置を得てもよい。分割前光半導体装置12は、分割前リードフレーム2Aと、分割前第1の成形体4Aと、分割前第2の成形体5Aとを有する。また、図1に示す光半導体装置1と同様に、分割前光半導体装置12では、分割前リードフレーム2A上に、光半導体素子3が搭載され、配置されている。なお、図2,3では、分割前光半導体装置用部品及び分割前光半導体装置では、複数の成形体が連なって分割前成形体が形成されているが、複数の成形体が連なっていない分割前光半導体装置用部品及び分割前光半導体装置を分割して、光半導体装置用部品及び光半導体装置を得てもよい。 Further, as shown in FIG. 3, a pre-division optical semiconductor device 12 in which a plurality of pre-division optical semiconductor devices are connected is prepared, and the pre-division optical semiconductor device 12 is cut at a portion indicated by a broken line X to obtain individual light. A semiconductor device may be obtained. The pre-division optical semiconductor device 12 includes a pre-division lead frame 2A, a pre-division first molded body 4A, and a pre-division second molded body 5A. As in the optical semiconductor device 1 shown in FIG. 1, in the pre-division optical semiconductor device 12, the optical semiconductor element 3 is mounted and arranged on the pre-division lead frame 2A. 2 and 3, in the pre-division optical semiconductor device component and the pre-division optical semiconductor device, a plurality of molded bodies are connected to form a pre-division molded body, but a plurality of molded bodies are not connected to each other. The front optical semiconductor device component and the pre-division optical semiconductor device may be divided to obtain the optical semiconductor device component and the optical semiconductor device.
以下、本発明の具体的な実施例及び比較例を挙げることにより、本発明を明らかにする。本発明は以下の実施例に限定されない。 Hereinafter, the present invention will be clarified by giving specific examples and comparative examples of the present invention. The present invention is not limited to the following examples.
実施例、参考例及び比較例では、以下の材料を用いた。 In the examples , reference examples, and comparative examples, the following materials were used.
(エポキシ化合物(A))
1)YD−013(芳香族骨格を有するビスフェノールA型エポキシ樹脂、エポキシ当量850、新日鐵化学社製)
2)YDCN704(芳香族骨格を有するクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、エポキシ当量210、新日鐵化学社製)
3)EHPE3150(脂環式骨格を有するエポキシ樹脂、エポキシ当量180、ダイセル化学社製)
(Epoxy compound (A))
1) YD-013 (bisphenol A type epoxy resin having an aromatic skeleton, epoxy equivalent 850, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.)
2) YDCN704 (Cresol novolac type epoxy resin having an aromatic skeleton, epoxy equivalent 210, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.)
3) EHPE3150 (epoxy resin having an alicyclic skeleton, epoxy equivalent 180, manufactured by Daicel Chemical Industries)
(硬化剤(B))
1)リカシッドHH(ヘキサヒドロ無水フタル酸、新日本理化社製)
2)リカシッドMH−700(ヘキサヒドロ無水フタル酸とメチルヘキサヒドロ無水フタル酸との混合物、新日本理化社製)
3)DICY7(ジシアンジアミド、三菱化学社製)
(Curing agent (B))
1) Ricacid HH (hexahydrophthalic anhydride, manufactured by Shin Nippon Chemical Co., Ltd.)
2) Ricacid MH-700 (mixture of hexahydrophthalic anhydride and methylhexahydrophthalic anhydride, manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd.)
3) DICY7 (dicyandiamide, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
(酸化チタン(C))
1)CR−90(ルチル型酸化チタン、Al,Siにより表面処理されている、石原産業社製)
2)CR−58(ルチル型酸化チタン、Alにより表面処理されている、石原産業社製)
(Titanium oxide (C))
1) CR-90 (rutile titanium oxide, surface-treated with Al, Si, manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd.)
2) CR-58 (rutile titanium oxide, surface treated with Al, manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd.)
(充填材(D))
1)SE−40(球状シリカ、平均粒径37μm、トクヤマ社製)
2)3K−S(破砕シリカ、平均粒径35μm、龍森社製)
3)MSS−7(球状シリカ、平均粒径7μm、龍森社製)
4)XJ−7(破砕シリカ、平均粒径6μm、龍森社製)
(Filler (D))
1) SE-40 (spherical silica, average particle size 37 μm, manufactured by Tokuyama Corporation)
2) 3K-S (crushed silica, average particle size 35 μm, manufactured by Tatsumori)
3) MSS-7 (spherical silica, average particle size 7 μm, manufactured by Tatsumori)
4) XJ-7 (crushed silica, average particle size 6 μm, manufactured by Tatsumori)
(硬化促進剤(E))
1)SA102(DBU−オクチル酸塩、サンアプロ社製)
2)PX−4ET(テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオネート、日本化学工業社製)
(Curing accelerator (E))
1) SA102 (DBU-octylate, manufactured by San Apro)
2) PX-4ET (tetra-n-butylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithionate, manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd.)
(酸化防止剤(F))
1)Irganox1010(フェノール系酸化防止剤、BASF社製)
(Antioxidant (F))
1) Irganox 1010 (phenolic antioxidant, manufactured by BASF)
(実施例1〜9、参考例10、実施例11,12及び比較例1〜5)
下記表1,2に示す各成分を下記表1,2に示す配合量で配合し、混合機(ラボプラストミルR−60、東洋精機製作所製)にて100℃で20分間混合し、溶融混練物を得た。溶融混練物を常温で粉砕した後、70℃のオーブン内で下記の表1,2に示す時間でエイジングを行った後、又はエイジングを行わなかった後(エイジング時間:0時間)、打錠して、白色硬化性材料を得た。
(Examples 1 to 9, Reference Example 10, Examples 11 and 12, and Comparative Examples 1 to 5)
The components shown in Tables 1 and 2 below are blended in the blending amounts shown in Tables 1 and 2 below, and mixed at 100 ° C. for 20 minutes in a mixer (Laboplast Mill R-60, manufactured by Toyo Seiki Seisakusho). I got a thing. After pulverizing the melt-kneaded material at room temperature, after aging in the time shown in Tables 1 and 2 below in an oven at 70 ° C. or after aging was not performed (aging time: 0 hour), tableting was performed. Thus, a white curable material was obtained.
(測定)
(1)軟化点
得られた白色硬化性材料を、DSC(示差走査熱量測定)用のアルミパンに20mg取り出した。0〜150℃の温度範囲で昇温速度10℃/分でDSCにより白色硬化性材料の軟化による吸熱ピークから軟化点を測定した。
(Measurement)
(1) Softening point 20 mg of the obtained white curable material was taken out into an aluminum pan for DSC (differential scanning calorimetry). The softening point was measured from the endothermic peak due to softening of the white curable material by DSC at a temperature rising rate of 10 ° C./min in the temperature range of 0 to 150 ° C.
(2)ゲルタイム
得られた白色硬化性材料を0.5g取り出した。170℃に加熱したホットプレート上で加熱しながらステンレス製のスパチュラで撹拌し、硬化反応によって白色硬化性材料の流動性が失われるまでの時間を評価した。流動性が失われるまでの時間をゲルタイムとした。
(2) Gel time 0.5 g of the obtained white curable material was taken out. The mixture was stirred with a stainless spatula while being heated on a hot plate heated to 170 ° C., and the time until the fluidity of the white curable material was lost due to the curing reaction was evaluated. The time until fluidity was lost was defined as gel time.
(3)粘度
島津製作所社製高化式フローテスターを用いて、温度170℃、荷重20kgf、ダイ穴径1mm及びダイ長さ1mmの条件で、得られた白色硬化性材料の170℃における粘度を測定した。
(3) Viscosity Using a high-pressure flow tester manufactured by Shimadzu Corporation, the viscosity of the obtained white curable material at 170 ° C. under the conditions of a temperature of 170 ° C., a load of 20 kgf, a die hole diameter of 1 mm and a die length of 1 mm. It was measured.
(4)ショアD(硬さ)
銅素材(TAMAC 194)にエッチングにより回路を形成した後、銀メッキを施し、厚み0.2mmのリードフレームを得た。トランスファー成形(成形温度170℃、成形時間100秒)でMAP成形法により上記リードフレーム上に、成形体を備えた光半導体装置搭載用基板を作製した。金型としては、縦15個×横10個のマトリックス状に配置された150個の凹部(光半導体素子搭載部)を有する一括成形用金型を用いた。キャビティサイズは、1個当たり6mm×3mm、深さ5mmとした。得られた成形体を金型から取り出して5秒後に、成形体におけるカル部分の硬さを測定した。この硬さの測定においては、JIS K6253に準拠して、デュロメータ タイプDによって規定されている硬度であるショアDを求めた。
(4) Shore D (hardness)
A circuit was formed on a copper material (TAMAC 194) by etching and then silver plating was performed to obtain a lead frame having a thickness of 0.2 mm. A substrate for mounting an optical semiconductor device provided with a molded body was produced on the lead frame by transfer molding (molding temperature: 170 ° C., molding time: 100 seconds) by the MAP molding method. As the mold, a batch molding mold having 150 concave portions (optical semiconductor element mounting portions) arranged in a matrix of 15 vertical × 10 horizontal was used. The cavity size was 6 mm × 3 mm per piece and the depth was 5 mm. The obtained molded body was taken out of the mold, and 5 seconds later, the hardness of the cull portion in the molded body was measured. In this hardness measurement, Shore D, which is the hardness defined by the durometer type D, was obtained in accordance with JIS K6253.
(評価)
(1)取り扱い性
打錠により得られた白色硬化性材料(以下、タブレットと称す)をアルミバットの上に置き、40℃のオーブン内に入れ、2時間後に取り出した。その後、タブレットをアルミバットから取り出して、タブレットの取り扱い性を下記の基準で判定した。
(Evaluation)
(1) Handling property A white curable material (hereinafter referred to as a tablet) obtained by tableting was placed on an aluminum bat, placed in an oven at 40 ° C., and taken out after 2 hours. Thereafter, the tablet was taken out from the aluminum bat, and the handleability of the tablet was determined according to the following criteria.
[取り扱い性の判定基準]
○:タブレットが軟化しておらず、取り出し後にタブレットがアルミバットに付着していない
×:タブレットの表面が一部軟化しており、取り出し後にタブレットの一部がアルミバットに付着している
[Handling criteria]
○: The tablet is not softened, and the tablet is not attached to the aluminum bat after taking out. ×: The tablet surface is partially softened, and part of the tablet is attached to the aluminum bat after taking out.
(2)成形性(金型への充填性)
銅素材(TAMAC 194)にエッチングにより回路を形成した後、銀メッキを施し、厚み0.2mmのリードフレームを得た。トランスファー成形(成形温度170℃、成形時間100秒)でMAP成形法により上記リードフレーム上に、成形体を備えた光半導体装置搭載用基板を作製した。金型としては、縦15個×横10個のマトリックス状に配置された150個の凹部(光半導体素子搭載部)を有する一括成形用金型を用いた。キャビティサイズは、1個当たり6mm×3mm、深さ5mmとした。得られた光半導体装置搭載用基板を目視により検査し、成形性を下記の基準で判定した。
(2) Formability (fillability into mold)
A circuit was formed on a copper material (TAMAC 194) by etching and then silver plating was performed to obtain a lead frame having a thickness of 0.2 mm. A substrate for mounting an optical semiconductor device provided with a molded body was produced on the lead frame by transfer molding (molding temperature: 170 ° C., molding time: 100 seconds) by the MAP molding method. As the mold, a batch molding mold having 150 concave portions (optical semiconductor element mounting portions) arranged in a matrix of 15 vertical × 10 horizontal was used. The cavity size was 6 mm × 3 mm per piece and the depth was 5 mm. The obtained substrate for mounting an optical semiconductor device was visually inspected, and formability was determined according to the following criteria.
[成形性の判定基準]
○:成形体に充填不良による欠け及びウェルドなどの外観異常がない
×:成形体に充填不良による欠け及びウェルドなどの外観異常が1つ以上ある
[Criteria for moldability]
○: There is no appearance abnormality such as chipping and weld due to poor filling in the molded body ×: There is one or more appearance abnormality such as chipping and welding due to poor filling in the molded body
(3)連続成形性
上記(2)成形性と同じ成形条件で、得られた各白色硬化性材料について50回ずつ成形を行った。連続して成形が可能であった回数を数え、連続成形性を下記の基準で判定した。
(3) Continuous moldability Each of the obtained white curable materials was molded 50 times under the same molding conditions as the above (2) moldability. The number of continuous molding was counted and the continuous moldability was determined according to the following criteria.
[連続成形性の判定基準]
○:50回連続で成形可能であり、金型に硬化物が付着せず、成形体の金型からの離型性が良好であった
×:50回以下の成形回数で、金型に硬化物が付着した
[Criteria for continuous formability]
○: Molding was possible 50 times continuously, the cured product did not adhere to the mold, and the release property of the molded body from the mold was good. Object stuck
(4)バリ長さ
図4(a)及び(b)に示すバリ評価用の金型を用意した。50μmのスリット51aを有する上金型51と、下金型52と、プランジャ53とを用意した。得られた白色硬化性材料が成形された直径11mm×高さ5mmの円柱状の成形体Xを用意した。フローテスターを用いて、温度170℃、荷重300kgf及び加温時間100秒の条件で、得られた成形体X上をプランジャ53で押し込み、スリット51aを流れ出て生じたバリの長さをノギスで求めた。バリの長さを下記の基準で判定した。
(4) Burr length A mold for burr evaluation shown in FIGS. 4 (a) and (b) was prepared. An upper die 51 having a 50 μm slit 51a, a lower die 52, and a plunger 53 were prepared. A cylindrical molded body X having a diameter of 11 mm and a height of 5 mm, on which the obtained white curable material was molded, was prepared. Using a flow tester, press the obtained molded body X with the plunger 53 under the conditions of a temperature of 170 ° C., a load of 300 kgf, and a heating time of 100 seconds. It was. The burr length was determined according to the following criteria.
[バリ長さの判定基準]
○○:バリの長さが1mm未満
○:バリの長さが1mm以上、2mm未満
×:バリの長さが2mm以上
[Burr length criteria]
○○: Burr length is less than 1 mm ○: Burr length is 1 mm or more and less than 2 mm ×: Burr length is 2 mm or more
結果を下記の表1,2に示す。 The results are shown in Tables 1 and 2 below.
1…光半導体装置
2…リードフレーム
2A…分割前リードフレーム
3…光半導体素子
4…第1の成形体
4A…分割前第1の成形体
4a…内面
5…第2の成形体
5A…分割前第2の成形体
6…ダイボンド材
7…ボンディングワイヤー
8…封止剤
11…分割前光半導体装置用部品
12…分割前光半導体装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical semiconductor device 2 ... Lead frame 2A ... Lead frame before division 3 ... Optical semiconductor element 4 ... 1st molded object 4A ... 1st molded object 4a before division | segmentation 5 ... 2nd molded object 5A ... Before division | segmentation 2nd molded object 6 ... Die bond material 7 ... Bonding wire 8 ... Sealant 11 ... Parts for optical semiconductor devices before division 12 ... Optical semiconductor devices before division
Claims (15)
前記硬化性組成物が、エポキシ化合物と、硬化剤と、酸化チタンと、酸化チタンとは異なる充填材と、硬化促進剤とを含み、
前記充填材が、平均粒径が1μm以上、10μm未満である第1の充填材と、平均粒径が10μm以上、50μm以下である第2の充填材との双方を含み、
軟化点が60℃以上、120℃未満であり、
170℃における粘度が120Pa・sを超え、300Pa・s以下であり、
170℃におけるゲルタイムが30秒以上、100秒以下であり、
成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さがショアDで70以上である、光半導体装置用白色硬化性材料。 A white curable composition for optical semiconductor devices, which is a white curable composition or a heat-treated product obtained by heat-treating the white curable composition,
The curable composition includes an epoxy compound, a curing agent, titanium oxide, a filler different from titanium oxide, and a curing accelerator,
The filler includes both a first filler having an average particle diameter of 1 μm or more and less than 10 μm and a second filler having an average particle diameter of 10 μm or more and 50 μm or less,
The softening point is 60 ° C. or higher and lower than 120 ° C.,
The viscosity at 170 ° C. is more than 120 Pa · s and not more than 300 Pa · s,
Gel time at 170 ° C. is 30 seconds or more and 100 seconds or less,
When the molded body is taken out from the mold after transfer molding in the mold at a molding temperature of 170 ° C. and a molding time of 100 seconds, the hardness of the molded body after 5 seconds from the mold is Shore A white curable material for optical semiconductor devices having a D of 70 or more.
軟化点が60℃以上、120℃未満であり、170℃における粘度が120Pa・sを超え、300Pa・s以下であり、170℃におけるゲルタイムが30秒以上、100秒以下であり、成形温度170℃及び成形時間100秒の条件で金型内でトランスファー成形した後、金型から成形体を取り出したときに、金型から取り出されてから5秒後の成形体の硬さがショアDで70以上である光半導体装置用白色硬化性材料を得る、光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法。 An epoxy compound, a curing agent, and titanium oxide, seen containing a different filler, and a curing accelerator and titanium oxide, the filler has an average particle diameter of 1μm or more, the first filler is less than 10μm And a white curable composition containing both of the second filler having an average particle diameter of 10 μm or more and 50 μm or less, and heat-treating the white curable composition, Comprising a step of obtaining a white curable material for a semiconductor device,
The softening point is 60 ° C. or more and less than 120 ° C., the viscosity at 170 ° C. is more than 120 Pa · s, 300 Pa · s or less, the gel time at 170 ° C. is 30 seconds or more and 100 seconds or less, and the molding temperature is 170 ° C. And after the transfer molding in the mold under the condition of molding time of 100 seconds, when the molded body is taken out from the mold, the hardness of the molded body after 70 seconds from the mold is 70 or more on Shore D A method for producing a white curable material for an optical semiconductor device, wherein the white curable material for an optical semiconductor device is obtained.
前記リードフレーム上に搭載された光半導体素子と、
前記リードフレーム上に配置された成形体とを備え、
前記成形体が、請求項1〜8のいずれか1項に記載の光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる、光半導体装置。 A lead frame;
An optical semiconductor element mounted on the lead frame;
A molded body disposed on the lead frame,
The optical semiconductor device obtained by the said molded object hardening | curing the white curable material for optical semiconductor devices of any one of Claims 1-8 .
前記リードフレーム上に搭載された光半導体素子と、
前記リードフレーム上に配置された成形体とを備え、
前記成形体が、請求項9又は10に記載の光半導体装置用白色硬化性材料の製造方法により得られた光半導体装置用白色硬化性材料を硬化させることにより得られる、光半導体装置。 A lead frame;
An optical semiconductor element mounted on the lead frame;
A molded body disposed on the lead frame,
An optical semiconductor device obtained by curing the white curable material for an optical semiconductor device obtained by the method for producing a white curable material for an optical semiconductor device according to claim 9 or 10 .
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