JP5735569B2 - 基板処理装置及び基板処理方法 - Google Patents

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Description

本発明は直接書込み方式に基板上にパターンを形成する基板処理装置及び基板処理方法に関する。
情報処理装置は、多様な形態の機能およびより早い情報処理速度を求めて、急速に発展されている。このような情報処理装置は情報を表示するディスプレー装置を有する。過去には主にディスプレー装置としてCRT管(Cathode ray tube)モニターが使用されたが、現在は液晶表示装置(Liquid Crystal Display:LCD)が主に使用されている。しかし、液晶表示装置は別の光源を必要とし、明るさ、視野角、及び大面積化等に限界があるので、最近では低電圧駆動、磁気発光、軽量薄型、広い視野角、及び速い応答速度等の長所を有する有機発光素子を利用する有機発光表示装置(Organic light emitting diode display)が脚光を浴びている。
有機発光表示装置は基板上に順次形成された薄膜トランジスター(Thin film transistor:TFT)、画素電極、有機発光素子(Organic light emitting diode)、共通電極を含む。有機発光素子は順次形成された正孔注入層(Hole injection layer:HIL)、正孔輸送層(Hole transporting layer:HTL)、有機発光層、電子輸送層(electron transportiong layer:ETL)、電子注入層(electron injection layer:EIL)を含む。基板に有機発光素子をなす各層を形成するために蒸着法が利用される。先ず、1つの層のパターンと同一のパターンを有するファインメタルマスク(fine metal mask)を基板に整列した後、1つの材料を蒸着/パターン化する。以後、基板でファインメタルマスクを1ピクセル程度移動整列した後、他の材料を蒸着パターン化する。しかし、基板にファインメタルマスクが整列される過程で、先に形成された層がファインメタルマスクとの接触によって損傷される。また、蒸着工程が真空中で行われるので、大型有機発光表示装置の製作には多大な費用がかかる。したがって、費用を節減できる有機発光素子の製作工程の開発が要求される。
特開2005−230807号公報
本発明は、基板に有機発光素子となる各層を印刷する基板処理装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、基板に印刷された溶液を直ちに固形化させる基板処理装置を提供することを目的とする。
本発明の一側面によれば、基板が配置される支持部材と、前記基板に溶液を塗布する塗布ユニットを含む塗布ユニットアセンブリーと、前記支持部材の両側へ移動できるように結合され、前記基板に塗布された前記溶液に吸入圧力を提供する固形化ユニットと、を含み、前記塗布ユニットは、前記支持部材の両側へ移動できるように結合される塗布移送部材と、前記塗布移送部材に結合されて、前記基板に前記溶液をインクジェット方式により塗布する塗布部材と、を包含する基板処理装置が提供され得る。
また、前記固形化ユニットは前記塗布移送部材に結合される固形化部材として提供され得る。
また、前記塗布ユニットは、前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記塗布移送部材に結合される走行部材をさらに含み、前記塗布部材及び前記固形化部材は前記走行部材に結合され得る。
また、前記固形化ユニットは、前記支持部材の両側へ移動できるように結合される固形化移送部材と、前記固形化移送部材に結合され、前記基板の上部にある気体を吸入する固形化部材と、を包含することができる。
また、前記塗布ユニットは、前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記塗布移送部材に結合される塗布走行部材をさらに含み、前記塗布部材は前記塗布走行部材に結合され得る。
また、前記固形化ユニットは、前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記固形化移送部材に結合される固形化走行部材をさらに含み、前記固形化部材は前記固形化走行部材に結合され得る。
また、前記固形化部材は第1ラインを通じてポンプと連結され、前記固形化部材はその下面が気体が流入される吸入ホールが形成され得る。
また、前記固形化部材は第2ラインを通じて気体を供給するタンクに連結され、
前記固形化部材の下面には前記第2ラインに供給された気体が噴射される噴射ホールが形成され得る。
また、前記第2ラインには前記気体の温度を調節する温度調節部材が提供され得る。
また、前記温度調節部材は前記気体を加熱するヒーターであり得る。
また、前記温度調節部材は前記気体を冷却するクーラーであり得る。
また、前記塗布ユニットアセンブリーは、前記塗布ユニットを5つ含み、5つの前記塗布ユニットは各々第1溶液、第2溶液、第3溶液、第4溶液及び第5溶液を前記基板に塗布することができる。
また、5つの前記塗布ユニットは前記支持部材の反対側に順次配列され得る。
また、前記第1溶液乃至前記第5溶液は、各々前記基板の上面に正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層及び電子注入層を形成できる。
また、前記支持部材の上部に位置されて、上下に乗降できるように提供されるベーク部材をさらに包含できる。
また、前記ベーク部材はラインによって気体タンクに連結され、前記ラインには前記気体タンクから前記ベーク部材へ供給される気体の量を調節するバルブが提供され得る。
また、前記ラインには前記気体を加熱するヒーターが提供され得る。
また、前記基板の上面を検査する検査ユニットをさらに含み、前記検査ユニットは前記支持部材の両側へ移動できるように結合される検査移送部材と、前記検査移送部材に結合されて、前記基板の上面を撮影する検査部材と、を包含することができる。
また、前記基板の欠陥を補修する補修ユニットを含む補修ユニットアセンブリーをさらに含み、前記補修ユニットは前記塗布ユニットと同一な数に提供され得る。
また、前記補修ユニットは、前記支持部材の両側へ移動できるように結合される補修移送部材と、前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記補修移送部材に結合される補修走行部材と、その長さが前記塗布部材の長さより短く提供され、前記基板に溶液を塗布する補修部材と、を包含することができる。
本発明の他の側面によれば、支持部材に配置された基板の上面に正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層又は電子注入層を形成する溶液の中で1つを塗布した後、前記支持部材に配置された基板の上面に吸入圧力を提供して、前記溶液に固形化工程を遂行する基板処理方法が提供され得る。
また、前記固形化工程が遂行された後、前記支持部材に位置された前記基板を加熱するベーク工程を遂行して、前記基板に塗布された溶液を平坦化することができる。
また、前記溶液を平坦化した後、前記支持部材に位置された前記基板の上面を撮影して、前記基板の上面にある欠陥を検査することができる。
また、前記支持部材に位置された前記基板の上面の中で前記欠陥がある位置に前記溶液を塗布して、前記欠陥を補修することができる。
本発明の一実施形態によれば、基板に有機発光素子の各層を印刷することができる。
また、本発明の一実施形態によれば、基板に印刷された有機発光素子の各層を直ちに固形化させて工程時間を短縮できる。
また、本発明の一実施形態によれば、有機発光素子の各層を検査することができる。
また、本発明の一実施形態によれば、有機発光素子の各層にある欠陥を補修することができる。
本発明の一実施形態による基板処理装置を示す図面である。 図1の基板処理装置の一部を示す図面である。 図1の基板処理装置の一部を示す図面である。 図1の基板処理装置が基板に第1溶液を塗布する形態を示す図面である。 基板に第1溶液が塗布される形態を示した側断面図である。 ベーク工程が遂行される形態を示す図面である。 図1の基板処理装置が検査工程を遂行する形態を示す図面である。 図1の基板処理装置で第1補修ユニットが支持部材方向へ移動される形態を示す図面である。 下部で本補修ユニットを示す図面である。 第1補修ユニットが基板を補修する過程を示す図面である。 図1の基板処理装置で固形化ユニット及び検査ユニットが移動する形態を示す図面である。 図1の基板処理装置が基板に第2溶液を塗布する形態を示す図面である。 基板に第2溶液が塗布される形態を示した側断面図である。 他の実施形態による塗布ユニット及び固形化ユニットを示す図面である。 図12の塗布ユニット及び固形化ユニットの動作を説明する図面である。 他の実施形態による固形化部材を示す図面である。 図14の固形化部材の動作を示す図面である。 他の実施形態による基板処理装置を示す図面である。 その他の実施形態による基板処理装置を示す図面である。 図17の基板処理装置で欠陥ビーム、塗布部材、及び固形化部材の側断面図である。
以下、本発明の実施形態を添付された図面を参照してさらに詳細に説明する。本発明の実施形態は様々な形態に変形されることができ、本発明の範囲は以下の実施形態に限定されて解釈されるものではない。本実施形態は、当業者に本発明をさらに完全に説明するために提供されるものである。したがって、図面において、各要素の形状は、より明確な説明を強調するために誇張されて表現されている。
図1Aは本発明の一実施形態による基板処理装置を示す図面であり、図1B及び図1Cは図1の基板処理装置の一部を示す図面である。
図1A乃至図1Cを参照すれば、基板処理装置10は、支持部材100、塗布ユニットアセンブリー200、固形化ユニット300、ベーク部材400、検査ユニット500、及び補修ユニットアセンブリー600を含む。
以下、第1レール701の横方向(伸延方向)を第1方向(1)、上部から見る時、第1方向(1)と垂直になる方向(第1レール701の幅方向)を第2方向(2)、第1方向1及び第2方向(2)と垂直になる方向(第1レールの高さ方向)を第3方向(3)と称する。そして、第1方向(1)における左側を前方と称し、第1方向(1)から右側を後方と称する。
支持部材100はプレート形状に提供される。支持部材100の上面には処理される基板sが配置される。支持部材100の上面は処理される基板sの面積以上に提供され得る。基板sは、ロボットアーム(図示せず)によって外部から支持部材100の上部へ移送され、また支持部材100の上部から外部へ搬出されることができる。支持部材100にはホール(図示せず)が形成され得る。ホールにはリフトフィン(図示せず)が設けられる。リフトピンは基板sをローディング又はアンローディングすることを補助する。支持部材100は第1方向(1)へ移動できるように提供され得る。
塗布ユニットアセンブリー200は第1塗布ユニット200a、第2塗布ユニット200b、第3塗布ユニット200c、第4塗布ユニット200d、及び第5塗布ユニット200eを含む。第1塗布ユニット200aは第1塗布移送部材201a及び第1塗布部材205aを含む。
第1塗布移送部材201aは第1塗布結合ビーム202a及び第1塗布支持台203aを含む。第1塗布結合ビーム202aは第2方向(2)へ延長された棒形状に提供される。第1塗布結合ビーム202aの両端は第1塗布支持台203aに結合される。第1塗布支持台203aは第3方向(3)へ延長された棒形状に提供される。第1塗布結合ビーム202aは第1塗布支持台203aにしたがって第3方向(3)へ移動できる。支持部材100の両側には第1方向(1)に沿って一対の第1レール701が提供される。第1レール701は第1塗布結合ビーム202aの長さに対応する距離程度、第2方向(2)へ互いに離隔されて位置される。第1塗布支持台203aは第1レール701上に設置される。第1塗布移送部材201aは、第1レール701にしたがって第1方向(1)に移動し、支持部材100の両側へ移動できる。
第1塗布部材205aは第1塗布結合ビーム202aの一面に結合される。一例として、第1塗布部材205aは第1塗布結合ビーム202aの側面又は下面に付着され得る。第1塗布部材205aは第2方向(2)に延長された形状に提供される。第1塗布部材205aの長さは基板sの幅以上に提供され得る。第1塗布部材205aは第1ライン206aによって第1タンク207aに連結される。第1タンク207aは第1塗布部材205aへ第1溶液を供給する。第1塗布部材205aは支持部材100に位置された基板sの上面に第1溶液を塗布する。第1塗布部材205aはインクジェット方式を利用して直接書込み方式に第1溶液を塗布する。第1塗布部材205aの下面には多数の溶液排出部(図3の208a)が形成される。各々の溶液排出部208aは独立的に第1溶液の排出が制御される。一例として、第1塗布部材205aはインクジェットヘッドとして提供され得る。
第2塗布ユニット200bは第2塗布移送部材201b及び第2塗布部材205bを含む。第2塗布部材205bは第2ライン206bによって第2タンク207bに連結される。第2タンク207bは第2溶液を貯蔵する。第2塗布ユニット200bは第1塗布ユニット200aの前方に位置される。第2塗布部材205bは基板sに第2溶液を塗布する。
第3塗布ユニット200cは第3塗布移送部材201c及び第3塗布部材205cを含む。第3塗布部材205cは第3ライン206cによって第3タンク207cに連結される。第3タンク207cは第3溶液を貯蔵する。第3塗布ユニット200cは第2塗布ユニット200bの前方に位置される。第3塗布部材205cは基板sに第3溶液を塗布する。
第4塗布ユニット200dは第4塗布移送部材201d及び第4塗布部材205dを含む。第4塗布部材205dは第4ライン206dによって第4タンク207dに連結される。第4タンク207dは第4溶液を貯蔵する。第4塗布ユニット200dは第3塗布ユニット200cの前方に位置される。第4塗布部材205dは基板sに第4溶液を塗布する。
第5塗布ユニット200eは第5塗布移送部材201e及び第5塗布部材205eを含む。第5塗布部材205eは第5ライン206eによって第5タンク207eに連結される。第5タンク207eは第5溶液を貯蔵する。第5塗布ユニット200eは第4塗布ユニット200dの前方に位置される。第5塗布部材205eは基板sに第5溶液を塗布する。
第2塗布ユニット200b乃至第5塗布ユニット200eの構成は第1塗布ユニット200aに対応するので、重複した説明は省略する。
固形化ユニット300は固形化移送部材301及び固形化部材305を含む。固形化移送部材301は固形化支持台303及び固形化結合ビーム302を含む。
固形化結合ビーム302は第2方向(2)へ延長された棒形状に提供される。固形化結合ビーム302は第1塗布結合ビーム202aより短く形成される。固形化結合ビーム302の両端は第3方向(3)へ移動できるように固形化支持台303に結合される。固形化支持台303は第3方向(3)へ延長された棒形状に提供される。固形化支持台303は第1塗布支持台203aより短く提供される。支持部材100と第1レール701との間には第1方向(1)へ第2レール702が提供される。固形化支持台303は第2レール702に位置される。固形化ユニット300は第2レール702にしたがって第1方向(1)へ移動できる。
固形化部材305は固形化結合ビーム302の一面に結合される。一例として、固形化部材305は固形化結合ビーム302の側面又は下面に結合され得る。固形化部材305はその横方向が第2方向(2)に提供される。固形化部材305の長さは基板sの幅以上に提供され得る。固形化部材305の下面には吸入ホール(図3の306)が形成される。固形化部材305は第6ライン307によってポンプ308に連結される。ポンプ308が動作すれば、固形化部材305の下部にある気体は吸入ホール306へ流入される。
ベーク部材400は支持部材100の上部に位置される。ベーク部材400は支持部材100に対応するプレート形状に提供され得る。ベーク部材400は第7ライン402を通じて気体タンク403に連結される。第7ライン402にはヒーター404及びバルブ405が提供される。ヒーター404はベーク部材400へ供給される気体を一定の温度に加熱する。バルブ405はベーク部材400へ供給される気体の流量を調節する。ベーク部材400の下面には気体が噴射される複数のホール(図示せず)が形成される。ベーク部材400の上面には乗降ロード401が提供される。乗降ロード401はベーク部材400の上面で第3方向(3)へ延長される。乗降ロード401の他端は乗降手段(図示せず)に連結される。一例として、乗降手段は油圧シリンダーで提供され得る。ベーク部材400は乗降ロード401によって第3方向(3)へ移動できる。
検査ユニット500は検査移送部材501及び検査部材505を含む。検査移送部材501は検査支持台503及び検査結合ビーム502を含む。検査結合ビーム502は第2方向(2)へ延長された棒形状に提供される。検査結合ビーム502は第2レール702が第2方向(2)に互いに離隔された距離に対応するように提供される。検査結合ビーム502の両端は検査支持台503に結合される。検査支持台503は第3方向(3)へ延長された棒形状に提供される。検査支持台503は第2レール702に位置される。検査ユニット500は第2レール702にしたがって第1方向(1)へ移動できる。
検査部材505は検査結合ビーム502に結合される。一例として、検査部材505は検査結合ビーム502の下面又は側面に結合されて、第2方向(2)に提供される。検査部材505は基板sの上面を検査して、基板sの欠陥有無を検査する。一例として、検査部材505は基板sの上面を撮影するカメラで提供され得る。
補修ユニットアセンブリー600は第1補修ユニット600a、第2補修ユニット600b、第3補修ユニット600c、第4補修ユニット600d、及び第5補修ユニット600eを含む。
第1補修ユニット600aは第1補修移送部材601a及び第1補修部材605aを含む。
第1補修移送部材601aは第1補修結合ビーム602a及び第1補修支持台603aを含む。第1補修結合ビーム602aは第2方向(2)へ延長された棒形状に提供される。第1補修結合ビーム602aの両端は第1補修支持台603aに結合される。第1補修支持台603aは第3方向(3)へ延長された棒形状に提供される。第1補修結合ビーム602aは第1補修支持台603aにしたがって第3方向(3)へ移動できる。支持部材100と第2レール702との間には第3レール703が提供される。第1補修結合ビーム602aは第3レール703が離隔された距離に対応する長さを有する。第1補修支持台603aは第3レール703上に設置される。第1補修移送部材601aは第3レール703にしたがって第1方向(1)へ移動できる。
第1補修部材605aは第1補修結合ビーム602aの一面に結合される。一例として、第1補修部材605aは第1補修結合ビーム602aの側面又は下面に付着され得る。第1補修部材605aはその横方向が第2方向(2)に提供される。第1補修部材605aの長さは第1塗布部材205aの長さより短く提供される。 第1補修部材605aは第8ライン606aによって第1タンク207aに連結される。
第1補修部材605aは支持部材100に位置された基板sの上面に第1溶液を塗布する。第1補修部材605aはインクジェット方式に第1溶液を塗布する。第1補修部材605aの下面には多数の溶液排出部が形成される。各々の排出部は独立的に第1溶液の排出が制御される。一例として、第1補修部材605aはインクジェットヘッドに提供され得る。
第2補修ユニット600bは第2補修移送部材601b及び第2補修部材605bを含む。第2補修部材605bは第9ライン606bによって第2タンク207bに連結される。第2補修ユニット600bは第1補修ユニット600aの前方に位置される。第2補修部材605bは基板sに第2溶液を塗布する。
第3補修ユニット600cは第3補修移送部材601c及び第3補修部材605cを含む。第3補修部材605cは第10ライン606cによって第3タンク207cに連結される。第3補修ユニット600cは第2補修ユニット600bの前方に位置される。第3補修部材605cは基板sに第3溶液を塗布する。
第4補修ユニット600dは第4補修移送部材601d及び第4補修部材605dを含む。第4補修部材605dは第11ライン606dによって第4タンク207dに連結される。第4補修ユニット600dは第3補修ユニット600cの前方に位置される。第4補修部材605dは基板sに第4溶液を塗布する。
第5補修ユニット600eは第5補修移送部材601e及び第5補修部材605eを含む。第5補修部材605eは第12ライン606eによって第5タンク207eに連結される。第5補修ユニット600eは第4補修ユニット600dの前方に位置される。第5補修部材605eは基板sに第5溶液を塗布する。
第2補修ユニット600b乃至第5補修ユニット600eの構成は第1補修ユニット600aに対応するので、重複した説明は省略する。
図2は図1の基板処理装置が基板に第1溶液を塗布する形態を示す図面であり、図3は基板に第1溶液が塗布される形態を示した側断面図である。
図2及び図3を参照して、基板sの上面に第1溶液を塗布する過程を説明する。
支持部材100の上面には基板sが位置される。たとえば、基板sは有機発光表示装置(Organic light emitting diode display)を製造するのに使用される。基板sには有機発光素子(Organic light emitting diode)として提供される画素のオン/オフを制御する薄膜トランジスター(Thin film transistor:TFT)が形成されている。また、各々の画素に電源を供給する画素電極及び各々の画素を区画する画素壁が形成され得る。
支持部材100の前方には第1塗布ユニット200aが位置される。第1塗布結合ビーム202aが下方へ移動して、第1塗布部材205aは基板sの上面で一定の距離が離隔されて位置される。一例として、第1塗布部材205aが固形化部材305と同一な高さになるように、第1塗布結合ビーム202aが移動され得る。固形化ユニット300は第1塗布ユニット200aと一定の距離が離隔された前方に位置される。以後、第1塗布ユニット200aと固形化ユニット300は互いに一定の距離を維持しながら、前方から後方へ移動される。第1塗布ユニット200aは基板sの上面に提供される画素に第1溶液を塗布する。固形化ユニット300は基板sの上部に吸入圧力を提供する。基板sに塗布された第1溶液に含まれた溶媒は一定量ずつ蒸発される。蒸発された溶媒は固形化ユニット300へ吸入される。したがって、第1溶液で溶媒の蒸発が促進される。溶媒が蒸発されれば、第1溶液は固形化される。
第1溶液は基板sに塗布された後、溶媒が蒸発されて固形化される。溶媒の蒸発のために基板sは追加工程が遂行できる。追加工程を遂行するために基板sを移送する場合、基板sに揺れ又は傾斜が発生できる。その結果、基板sに塗布された第1溶液の面が不均一になる。本発明の実施形態によれば、第1溶液は塗布された直後に固形化が遂行されるので、第1溶液の面が均一になる。また、本発明の実施形態によれば、第1溶液の塗布直後に固形化が遂行されるので、工程時間が短縮される。
図4はベーク工程が遂行される形態を示す図面である。
図4を参照して、ベーク工程を説明する。
基板sの画素に第1溶液が塗布されれば、ベーク部材400が第3方向(3)に沿って支持部材100に接近する方へ移動される。ベーク部材400は基板sの上面で一定の距離が離隔された位置に停止される。気体タンク403から供給される気体はヒーター404によって一定の温度に加熱される。気体が一定の温度に到達すれば、バルブ405が開放される。バルブ405は一定量の気体がベーク部材400へ供給されるように気体の流れを調節する。ベーク部材400から噴射された気体は基板sの上面へ供給される。気体は基板sの上面に熱を供給しながら、流動される。第1溶液で蒸発された溶媒は気体によって、基板sの上面から遠くなる。したがって、基板sの上面には溶媒の量が少なく形成されて、第1溶液で溶媒の蒸発が促進される。また、気体で供給された熱はベーク工程を遂行する。ベーク工程が完了されれば、基板sの上面には正孔注入層(Hole injection layer:HIL)が形成される。
本発明の実施形態によれば、第1溶液が塗布された後、基板sの移送無しでベーク工程が遂行される。したがって、工程時間が短縮される。
図5は図1の基板処理装置が検査工程を遂行する形態を示す図面である。
図5を参照して、検査工程が遂行される過程を説明する。
ベーク工程が完了されれば、ベーク部材400は第3方向(3)に沿って支持部材100から離れる方へ(上部へ)移動される。以後、検査ユニット500は前方から後方へ移動される。検査結合ビーム502が下方へ移動されて、検査部材505は基板sの上面で一定の距離が離隔されるように位置される。検査ユニット500が前方から後方へ移動する間に、検査部材505は正孔注入層にある欠陥を検査する。
図6は図1の基板処理装置で第1補修ユニットが支持部材方向へ移動される形態を示す図面である。
図6を参照すれば、検査工程が完了されれば第1補修ユニット600aは支持部材100方へ移動される。正孔注入層に欠陥が発見されなければ、第1補修ユニット600aは支持部材100を通る。正孔注入層で欠陥が発見されれば、第1補修ユニット600aは補修工程を遂行する。
図7は補修ユニットを下部からみた様子を示す図面である。
図7を参照すれば、第1補修結合ビーム602aには第1補修走行部材603aが提供される。第1補修走行部材603aは第1補修結合ビーム602aの下面又は側面に提供され得る。第1補修走行部材603aは、第1補修結合ビーム602aにしたがって、支持部材100の平面と平行な方向、すなわち第2方向(2)に移動できる。第1補修部材605aは走行部材に固定される。
第2補修ユニット600b、第3補修ユニット600c、第4補修ユニット600d、及び第5補修ユニット600eには各々第2補修走行部材605b、第3補修走行部材605c、第4補修走行部材605d、及び第5補修走行部材605eが提供される。第2補修走行部材605b乃至第5補修走行部材605eの動作は第1補修走行部材603aと同一であるので、重複した説明は省略する。
図8は第1補修ユニットが基板を補修する過程を示す図面である。
図8を参照して、補修工程が遂行される過程を説明する。
第1補修移送部材601aは第1方向(1)へ移動して、欠陥dの位置に対応する所に止められる。以後、第1補修部材605aは第2方向(2)へ移動して、欠陥dの上部に止められる。第1補修部材605aは欠陥dに第1溶液を塗布して、画素に発生された欠陥を補修する。
本発明の実施形態によれば、第1補修部材605aは第1塗布部材205aより幅が狭く提供されて、第1補修部材605aの下面には第1塗布部材205aより溶液排出部の数が少なく提供される。したがって、画素の欠陥がある所のみに第1溶液が排出されるように制御するのが容易である。
また、本発明の実施形態によれば、正孔輸送層が形成され、基板sが移送されず、補修工程が遂行されるので、工程時間が短縮される。
図9は図1の基板処理装置で固形化ユニット300及び検査ユニット500が移動する形態を示す図面である。
図9を参照すれば、基板sに第2溶液が塗布される前に、固形化ユニット300及び検査ユニット500は後方から前方へ移動される。固形化ユニット300又は検査ユニット500は検査工程が遂行する前に移動されるか、或いは検査工程が遂行された後に移動され得る。
図10は図1の基板処理装置が基板に第2溶液を塗布する形態を示す図面であり、図11は基板に第2溶液が塗布される形態を示した側断面図である。
図10及び図11を参照して、基板sの上面に第2溶液を塗布する過程を説明する。
支持部材100の前方には第2塗布ユニット200bが位置される。第2塗布結合ビーム202bが下方へ移動して、第2塗布部材205bは基板sの上面で一定の距離が離隔されて位置される。一例として、第2塗布部材205bが固形化部材305と同一な高さになるように、第2塗布結合ビーム202bが移動され得る。固形化ユニット300は第2塗布ユニット200bと一定の距離が離隔された前方に位置される。以後、第2塗布ユニット200bと固形化ユニット300は互いに一定の距離を維持しながら、前方から後方へ移動される。第2塗布ユニット200bは基板sの上面に提供される画素に第2溶液を塗布する。固形化ユニット300は基板sの上部に吸入圧力を提供する。基板sに塗布された第2溶液に含まれた溶媒は一定量ずつ蒸発される。蒸発された溶媒は固形化ユニット300へ吸入される。したがって、第2溶液で溶媒の蒸発が促進される。溶媒が蒸発されれば、第2溶液は固形化される。
画素に第2溶液が塗布されれば、図4乃至図5のベーク工程、検査工程が遂行される。第2溶液は正孔注入層の上面に正孔輸送層(Hole transporting layer:HTL)を形成する。そして、図6乃至図8の第1補修ユニット600aと同一な方法により第2補修ユニット600bが補修工程を遂行する。
第3塗布ユニット200cと第3補修ユニット600c、第4塗布ユニット200dと第4補修ユニット600d、及び第5塗布ユニット200eと第5補修ユニット600eは類似な工程を反復遂行して、正孔輸送層の上面に有機発光層、電子輸送層(electron transportiong layer:ETL)及び電子注入層(electron injection layer:EIL)を順次的に形成する。第3塗布ユニット200cと第3補修ユニット600c、第4塗布ユニット200dと第4補修ユニット600d、及び第5塗布ユニット200eと第5補修ユニット600eの動作は第1塗布ユニット200a及び第1補修ユニット600aと同一であるので、重複した説明は省略する。
別の実施形態として、第2塗布ユニット200b乃至第5塗布ユニット200eは1つ以上が省略されて実施されてもよい。補修ユニット600a、600b、600c、600d、600eは塗布ユニット200a、200b、200c、200d、200eと同一な数が提供される。
別の実施形態として、塗布ユニットアセンブリー200は第6塗布ユニット及び第7塗布ユニットが追加に提供され得る。第1塗布ユニット200a、第2塗布ユニット200b、第3塗布ユニット200c、第4塗布ユニット200d、第5塗布ユニット200e、第6塗布ユニット、及び第7塗布ユニットから供給される溶液は各々正孔注入層(Hole injection layer:HIL)、正孔輸送層(Hole transporting layer:HTL)、R有機発光層、G有機発光層、B有機発光層、電子輸送層(electron transportiong layer:ETL)及び電子注入層(electron injection layer:EIL)を形成する。
図12は他の実施形態による塗布ユニット及び固形化ユニットを示す図面である。
図12を参照すれば、第1塗布ユニット210aには第1塗布走行部材214aが提供される。第1塗布走行部材214aは第1塗布結合ビーム212aの下面又は側面に提供され得る。第1塗布走行部材214aは、第1塗布結合ビーム212aにしたがって、支持部材100の平面と平行な方向、すなわち第2方向(2)に、移動できる。第1塗布部材215aは第1塗布走行部材214aに固定される。第1塗布部材215aは基板sの第2方向(2)幅より短く提供される。
第2塗布ユニット210b、第3塗布ユニット210c、第4塗布ユニット210d、及び第5塗布ユニット210eには各々第2塗布走行部材214b、第3塗布走行部材214c、第4走行部材塗布214d、及び第5塗布走行部材214eが提供される。第2塗布走行部材214b、第3塗布走行部材214c、第4走行部材塗布214d、及び第5走行部材214eには各々第2塗布部材215b、第3塗布部材215c、第4塗布部材215d、及び第5塗布部材215eが固定される。第2塗布走行部材214b乃至第5塗布走行部材214eの構成は第1塗布走行部材214aと同一であるので、重複した説明は省略する。
固形化ユニット310には固形化走行部材314が提供される。固形化走行部材314は固形化結合ビーム312の下面又は側面に提供され得る。固形化走行部材314は、固形化結合ビーム312にしたがって、支持部材100の平面と平行な方向、すなわち第2方向(2)に移動できる。固形化部材315は固形化走行部材314に固定される。固形化部材315の長さは塗布部材の長さ以上に提供され得る。
図13は図12の塗布ユニット及び固形化ユニットの動作を説明する図面である。
図13を参照すれば、固形化部材315は塗布部材215a、215b、215c、215d、215eのうちの1つと並べて位置される。塗布部材215a、215b、215c、215d、215eうちの1つと固形化ユニット310は一定の間隔を維持しながら、基板sの一端から他端へ移動される。塗布部材は基板sに溶液を塗布し、固形化部材315は基板sに吸入圧力を提供する。塗布部材215a、215b、215c、215d、215eのうちの1つと固形化ユニット310は、基板sの他端に到達すれば、再び基板sの一端へ移動する。この時、塗布部材215a、215b、215c、215d、215eのうちの1つと固形化ユニット310は動作しない。基板sの一端で塗布部材215a、215b、215c、215d、215eのうちの1つと固形化部材315は第2方向(2)へ移動される。塗布部材215a、215b、215c、215d、215eのうちの1つと固形化ユニット310は、基板sの一端から他端へ移動しながら、基板sの上面に溶液の塗布及び気体の吸入を遂行する。このような工程を基板sの上面全てに溶液が塗布される時まで反復遂行する。
図14は他の実施形態による固形化部材を示す図面である。
図14を参照すれば、固形化部材320には吸入ホール321及び噴射ホール322が形成される。吸入ホール321は第1ライン322を通じてポンプ323に連結される。噴射ホール322は第2ライン324を通じてタンク325に連結される。タンク325は噴射ホール322へ気体を供給する。第2ライン324にはバルブ327及び温度調節部材326が提供される。温度調節部材326は第2ライン324へ供給される温度を調節する。一例として、温度調節部材326はヒーター又はクーラーとして提供され得る。又は、温度調節部材326はヒーター及びクーラーを共に含んで、気体の加熱及び冷却を遂行できる。バルブ327は噴射ホール322へ供給される気体の量を調節する。噴射ホール322は吸入ホール321の後方に位置される。
図15は図14の固形化部材の動作を示す図面である。
固形化部材320は基板sの上部を前方から後方へ移動する。基板sの上部の一地点は噴射ホール322が通った後、吸入ホール321が通る。噴射ホール322は第1溶液乃至第5溶液が噴射された基板sの上面に一定の温度の気体を噴射する。噴射された気体は基板sの上部に気流を形成する。気流は溶液及び基板sと熱交換されながら、溶液及び基板sを加熱又は冷却する。また、気流は溶液の溶媒が蒸発されることを促進する。
吸入ホール321は基板sの上面に吸入圧力を提供して、溶媒が固形化されることを促進する。また、吸入ホール321は溶媒が含まれた気体を吸入する。
図16は他の実施形態による基板処理装置を示す図面である。
図16を参照すれば、基板処理装置11は図1の基板処理装置10で検査ユニット500及び補修ユニットアセンブリー600が省略されて実施され得る。支持部材110、塗布ユニットアセンブリー220、固形化ユニット330、及びベーク部材430の動作は図1の基板処理装置10と同一であるので、反複された説明は省略する。
その他の実施形態に、図16の基板処理装置11でベーク部材400が省略されて実施できる。
図17はその他の実施形態による基板処理装置を示す図面であり、図18は欠陥ビーム、塗布部材及び固形化部材の側断面図である。
図17及び図18を参照すれば、基板処理装置12は支持部材140、塗布ユニットアセンブリー240及び固形化ユニット246a、246b、246c、246d、246eを含む。
支持部材140の構成は図1の基板処理装置10と同一である。
塗布ユニットアセンブリー240は第1塗布ユニット240a、第2塗布ユニット240b、第3塗布ユニット240c、第4塗布ユニット240d、及び第5塗布ユニット240eを含む。
第1塗布ユニット240aは第1塗布移送部材241a及び第1塗布部材245aを含む。
第1塗布移送部材241aは第1塗布支持台243a及び第1塗布結合ビーム242aを含む。第1塗布結合ビーム242aは第2方向(2)へ延長された棒形状に提供される。第1塗布結合ビーム242aの両端は第1塗布支持台243aに結合される。第1塗布支持台243aは第3方向(3)へ延長された棒形状に提供される。第1塗布結合ビーム242aは第3方向(3)へ移動できるように第1塗布支持台243aに結合される。支持部材140の両側には第1方向(1)に沿って一対のレール741が提供される。レール741は第1塗布結合ビーム242aの長さに対応する距離程度は第2方向(2)へ離隔されて位置される。第1塗布支持台243aはレール741上に設置される。第1塗布移送部材241aは、レール741にしたがって第1方向(1)に移動し、支持部材100の両側へ移動できる。
第2塗布ユニット240bは第2塗布移送部材241b及び第2塗布部材245bを含む。第3塗布ユニット240cは第3塗布移送部材241c及び第3塗布部材245cを含む。第4塗布ユニット240dは第4塗布移送部材241d及び第4塗布部材245dを含む。そして、第5塗布ユニット240eは第5塗布移送部材241e及び第5塗布部材245eを含む。
図17の基板処理装置12は固形化ユニット246a、246b、246c、246d、246eが固形化部材246a、246b、246c、246d、246eとして提供される。第1塗布部材245a及び第1固形化部材246aは第1塗布結合ビーム242aに結合される。第2塗布部材245b及び第2固形化部材246bは第2塗布結合ビーム242bに結合される。第3塗布部材245c及び第3固形化部材246cは第3塗布結合ビーム242cに結合される。第4塗布部材245d及び第4固形化部材246dは第4塗布結合ビーム242dに結合される。第5塗布部材245e及び第5固形化部材246eは第5塗布結合ビーム242eに結合される。塗布部材245a、245b、245c、245d、245eは各々固形化部材246a、246b、246c、246d、246eの後方に位置される。塗布部材245a、245b、245c、245d、245e及び固形化部材246a、246b、246c、246d、246eの動作は図1の基板処理装置へ提供される塗布部材205a、205b、205c、205d、205e及び固形化部材305と同一である。
別の実施形態として、図17の基板処理装置12は図1の基板処理装置10と同一のベーク部材、検査ユニット、補修ユニットアセンブリーをさらに包含できる。この時、塗布ユニットアセンブリー、検査ユニット、及び補修ユニットアセンブリーは図1と同様に各々異なるレールに位置される。
別の実施形態として、図17の第1塗布移送部材241a、第2塗布移送部材241b、第3塗布移送部材241c、第4塗布移送部材241d、及び第5塗布移送部材241eには各々図12の第1塗布走行部材214a乃至第5塗布走行部材214eと類似な第1走行部材、第2走行部材、第3走行部材、第4走行部材、及び第5走行部材が提供され得る。
第1塗布部材245a乃至第5塗布部材245eと第1固形化部材246a乃至第5固形化部材246eはその長さが基板の長さより短く提供される。
第1塗布部材245a及び第1固形化部材246aは第1走行部材に結合される。第2塗布部材245b及び第2固形化部材246bは第2走行部材に結合される。第3塗布部材245c及び第3固形化部材246cは第3走行部材に結合される。第4塗布部材245d及び第4固形化部材246dは第4走行部材に結合される。第5塗布部材245e及び第5固形化部材246eは第5走行部材に結合される。
第1走行部材乃至第5走行部材の動作は図7の走行部材603a、603b、603c、603d、603eと同一であるので、重複した説明は省略する。
以上の詳細な説明は本発明を例示することに過ぎない。また、前述した内容は本発明の望ましい実施形態を示して説明することであり、本発明は多様な他の組合、変更及び環境で使用することができる。即ち本明細書に開示された発明の概念の範囲、前述した開示内容と均等な範囲及び/又は当業界の技術又は知識の範囲内で変更又は修正が可能である。前述した実施形態は本発明の技術的思想を具現するための最善の状態を説明することであり、本発明の具体的な適用分野及び用途で要求される多様な変更も可能である。したがって以上の発明の詳細な説明は開示された実施状態に本発明を制限しようとすることでない。また、添付された請求の範囲は他の実施状態も含むこととして解釈されなければならない。
100 支持部材、
200 塗布ユニットアセンブリー、
200a〜e 第1〜第5塗布ユニット、
201a〜e 第1〜第5塗布移送部材、
202a〜e 第1〜第5塗布結合ビーム、
203a〜e 第1〜第5塗布支持台、
205a〜e 第1〜第5塗布部材、
206a〜e 第1〜第5ライン、
207a〜e 第1〜第5タンク、
300 固形化ユニット、
301 固形化移送部材、
305 固形化部材、
308 ポンプ、
400 ベーク部材、
404 ヒーター、
500 検査ユニット、
600 補修ユニットアセンブリー、
600a〜e 第1〜第5補修ユニット、
601a〜e 第1〜第5補修移送部材、
701〜703 第1〜第3レール。

Claims (22)

  1. 基板が配置される支持部材と、
    前記基板に溶液を塗布する塗布ユニットを含む塗布ユニットアセンブリーと、
    前記支持部材の両側へ移動できるように結合され、塗布された前記溶液の乾燥のために、前記基板に塗布された前記溶液に吸入圧力を提供する固形化ユニットと、
    前記支持部材の上部に位置し、上下に乗降できるように提供されるベーク部材と、を含み、
    前記塗布ユニットは、前記支持部材の両側へ移動できるように結合される塗布移送部材と、前記塗布移送部材に結合されて、前記ベーク部材および前記基板の間を移動しつつ、前記基板に前記溶液をインクジェット方式により塗布する塗布部材と、を含み、
    前記固形化ユニットは、前記塗布部材と一定の距離を維持しながら、前記塗布部材に追従して、前記ベーク部材および前記基板の間を移動し、
    前記ベーク部材は、前記固形化ユニットが下部を通り過ぎると、前記基板に接近して、塗布された前記溶液を追加乾燥する基板処理装置。
  2. 前記固形化ユニットは前記塗布移送部材に結合される固形化部材として提供される請求項1に記載の基板処理装置。
  3. 前記塗布ユニットは、前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記塗布移送部材に結合される走行部材をさらに含み、
    前記塗布部材及び前記固形化部材は前記走行部材に結合される請求項2に記載の基板処理装置。
  4. 前記固形化ユニットは、
    前記支持部材の両側へ移動できるように結合される固形化移送部材と、
    前記固形化移送部材に結合され、前記基板の上部にある気体を吸入する固形化部材と、を含む請求項1に記載の基板処理装置。
  5. 前記塗布ユニットは、前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記塗布移送部材に結合される塗布走行部材をさらに含み、
    前記塗布部材は前記塗布走行部材に結合される請求項4に記載の基板処理装置。
  6. 前記固形化ユニットは、前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記固形化移送部材に結合される固形化走行部材をさらに含み、
    前記固形化部材は前記固形化走行部材に結合される請求項4又は請求項5に記載の基板処理装置。
  7. 前記固形化部材は第1ラインを通じてポンプと連結され、
    前記固形化部材はその下面に気体が流入される吸入ホールが形成される請求項2に記載の基板処理装置。
  8. 前記固形化部材は第2ラインを通じて気体を供給するタンクに連結され、
    前記固形化部材の下面には前記第2ラインに供給された気体が噴射される噴射ホールが形成される請求項2又は請求項7に記載の基板処理装置。
  9. 前記第2ラインには前記気体の温度を調節する温度調節部材が提供される請求項8に記載の基板処理装置。
  10. 前記温度調節部材は前記気体を加熱するヒーターである請求項9に記載の基板処理装置。
  11. 前記温度調節部材は前記気体を冷却するクーラーである請求項9に記載の基板処理装置。
  12. 前記塗布ユニットアセンブリーは、前記塗布ユニットを5つ含み、
    5つの前記塗布ユニットは各々第1溶液、第2溶液、第3溶液、第4溶液、及び第5溶液を前記基板に塗布する請求項1〜11のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  13. 5つの前記塗布ユニットは前記支持部材の反対側に順次配列される請求項12に記載の基板処理装置。
  14. 前記第1溶液乃至前記第5溶液は、各々前記基板の上面に正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層、及び電子注入層を形成する請求項12または請求項13に記載の基板処理装置。
  15. 前記ベーク部材はラインによって気体タンクに連結され、前記ラインには前記気体タンクから前記ベーク部材へ供給される気体の量を調節するバルブが提供される請求項14に記載の基板処理装置。
  16. 前記ラインには前記気体を加熱するヒーターが提供される請求項15に記載の基板処理装置。
  17. 前記基板の上面を検査する検査ユニットをさらに含み、
    前記検査ユニットは前記支持部材の両側へ移動できるように結合される検査移送部材と、
    前記検査移送部材に結合されて、前記基板の上面を撮影する検査部材と、を含む請求項1〜16のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  18. 前記基板の欠陥を補修する補修ユニットを含む補修ユニットアセンブリーをさらに含み、
    前記補修ユニットは前記塗布ユニットと同一な数に提供される請求項1〜17のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  19. 前記補修ユニットは、
    前記支持部材の両側へ移動できるように結合される補修移送部材と、
    前記支持部材の平面と平行な方向に移動できるように、前記補修移送部材に結合される補修走行部材と、
    その長さが前記塗布部材の長さより短く提供され、前記基板に溶液を塗布する補修部材と、を含む請求項18に記載の基板処理装置。
  20. 基板が配置される支持部材と、
    前記基板に溶液を塗布する塗布ユニットを含む塗布ユニットアセンブリーと、
    前記支持部材の両側へ移動できるように結合され、塗布された前記溶液の乾燥のために、前記基板に塗布された前記溶液に吸入圧力を提供する固形化ユニットと、
    前記支持部材の上部に位置し、上下に乗降できるように提供されるベーク部材と、を用いた基板処理方法であって、
    前記基板および前記ベーク部材間を通るように塗布部材を前記支持部材の両側に移動させて、前記支持部材に配置された基板の上面に正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層又は電子注入層を形成する溶液の中で1つを塗布する工程と、
    前記塗布部材に追従するように前記固形化ユニットを前記支持部材の両側に移動させて、前記支持部材に配置された基板の上面に吸入圧力を提供して、前記溶液を乾燥させる固形化工程と、
    前記固形化工程が完了すると、前記ベーク部材を前記基板に接近して、前記溶液を追加乾燥する追加乾燥工程と、
    を含む基板処理方法。
  21. 前記溶液を平坦化した後、前記支持部材に位置された前記基板の上面を撮影して、前記基板の上面にある欠陥を検査する請求項20に記載の基板処理方法。
  22. 前記支持部材に位置された前記基板の上面の中で前記欠陥がある位置に前記溶液を塗布して、前記欠陥を補修する請求項21に記載の基板処理方法。
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JP2003297569A (ja) * 2002-01-30 2003-10-17 Toshiba Corp 表示装置の製造方法及び製造装置
JP2003243158A (ja) * 2002-02-12 2003-08-29 Seiko Epson Corp 有機el装置の製造方法および製造装置、並びに有機el装置、電子機器および液滴吐出装置
JP3960332B2 (ja) * 2004-11-29 2007-08-15 セイコーエプソン株式会社 減圧乾燥装置
JP2007066561A (ja) * 2005-08-29 2007-03-15 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置の製造装置及び製造方法
KR20070073394A (ko) * 2006-01-05 2007-07-10 삼성전자주식회사 잉크젯 프린팅 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 제조방법
JP5501656B2 (ja) * 2008-05-16 2014-05-28 株式会社半導体エネルギー研究所 組成物、薄膜の作製方法、及び発光素子の作製方法
JP2010067430A (ja) * 2008-09-10 2010-03-25 Seiko Epson Corp 薄膜形成装置

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