JP5727976B2 - Printed circuit board insulation inspection apparatus and insulation inspection method - Google Patents
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Description
本発明は、プリント基板の回路パターン間の絶縁状態を検査する装置及びその絶縁検査方法に関する。 The present invention relates to an apparatus for inspecting an insulation state between circuit patterns of a printed circuit board and an insulation inspection method thereof.
プリント基板の回路パターン間の絶縁状態を検査する場合、プリント基板の回路パターン間に検査プローブを介して検査電圧を印加して、この検査電圧と検査プローブに流れる電流値とから絶縁抵抗値を求め、その絶縁抵抗値に基づいて絶縁状態が良好であるか否かを検査している。この場合、電圧印加により回路パターン間にスパークが発生することがあり、このスパークが発生した場合には、その基板を不良品として判定することが行われる。 When inspecting the insulation state between circuit patterns on a printed circuit board, an inspection voltage is applied between circuit patterns on the printed circuit board via an inspection probe, and the insulation resistance value is obtained from this inspection voltage and the current value flowing through the inspection probe. Based on the insulation resistance value, it is inspected whether the insulation state is good. In this case, a spark may be generated between the circuit patterns due to voltage application, and when this spark occurs, the substrate is determined as a defective product.
特許文献1には、回路パターンに電圧を印加し、電圧印加開始から所定のタイミングまでの間回路パターン間の電圧を検出し、その間にスパークにより発生する回路パターン間の電圧降下の有無を検出し、電圧降下が検出されると基板を不良品と判定することが開示されている。
この場合、特許文献1の図2に示されるように、試験電圧が回路パターン間に印加された時点からの経過時間をカウントして、回路パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻で絶縁抵抗値を算出するとともに、その時刻までに回路パターン間にスパークが発生したか否かを検出し、スパークが発生しなかったと判定した場合に、測定した抵抗値と閾値との大小を比較することにより、回路パターン間の絶縁状態の良否判定を行う方法と、電圧印加後にスパークが発生したか否かをまず判定し、スパークが発生したときには、その基板が不良品であると判定し、一方、スパークが発生しなかった場合、所定時間経過後に、電圧値と電流を測定して抵抗値を算出し、その抵抗値により良否判定を行う方法とが示されている。
In
In this case, as shown in FIG. 2 of
しかしながら、スパーク発生の有無を検出するためのタイミングの設定が難しく、絶縁抵抗値を算出しつつ、スパーク発生の有無を検出する前者の方法では、電圧が定常状態となった以降にもスパークが発生することがあるため、絶縁抵抗値を算出した後にスパークが発生する場合は不良品判定ができないという問題があり、スパーク発生の有無をまず検出してから絶縁抵抗値を算出する後者の方法でも、スパーク発生の有無の判定から絶縁抵抗値算出までの間に空白時間が生じ、その間に発生したスパークが検出されない不具合がある。 However, it is difficult to set the timing for detecting the presence or absence of sparks. With the former method of detecting the presence or absence of sparks while calculating the insulation resistance value, sparks are generated even after the voltage reaches a steady state. Therefore, if sparks occur after calculating the insulation resistance value, there is a problem that the defective product cannot be determined, and even in the latter method of calculating the insulation resistance value after first detecting the presence or absence of sparks, There is a problem that a blank time occurs between the determination of the occurrence of spark and the calculation of the insulation resistance value, and the spark generated during that time is not detected.
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、スパーク発生を確実に検出して、検査精度を向上させることを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to reliably detect the occurrence of a spark and improve inspection accuracy.
本発明のプリント基板の絶縁検査装置は、プリント基板の回路パターン間に直流電圧を印加し、印加した電圧値と前記回路パターン間に流れる電流値とから算出される絶縁抵抗値に基づいて前記回路パターン間の絶縁状態の良否を判定するプリント基板の絶縁検査装置において、印加電圧を制御する印加電圧制御部と、電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内に、前記回路パターン間に発生するスパークに起因して前記回路パターン間に流れる電流値が所定値以上増加したか否かを検出する電流増加検出部と、該電流増加検出部により前記所定値以上の電流増加が検出された場合に前記プリント基板が不良品であると判定するスパーク判定部と、前記規定時間を設定可能なスパーク検出時間設定部とを有することを特徴とする。 According to the printed circuit board insulation inspection apparatus of the present invention, a DC voltage is applied between circuit patterns of a printed circuit board, and the circuit is based on an insulation resistance value calculated from the applied voltage value and a current value flowing between the circuit patterns. In a printed circuit board insulation inspection device that determines the quality of insulation between patterns, an applied voltage control unit that controls the applied voltage, and a spark detection time from the start of voltage application until the completion of the voltage rise until the specified time elapses A current increase detection unit for detecting whether or not a current value flowing between the circuit patterns has increased by a predetermined value or more due to a spark generated between the circuit patterns, and the current increase detection unit detects the predetermined value. A spark determination unit that determines that the printed circuit board is defective when the above increase in current is detected, and a spark detection time that can set the specified time And having a setting unit.
また、本発明のプリント基板の絶縁検査方法は、プリント基板の回路パターン間に直流電圧を印加し、印加した電圧値と前記回路パターン間に流れる電流値とから算出される絶縁抵抗値に基づいて前記回路パターン間の絶縁状態の良否を判定するプリント基板の絶縁検査方法において、予め、電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間を設定しておき、該スパーク検出時間内に、前記回路パターン間に流れる電流値が所定値以上増加したことが検出された場合に前記プリント基板が不良品であると判定することを特徴とする。 The printed circuit board insulation inspection method of the present invention applies a DC voltage between circuit patterns of the printed circuit board, and based on an insulation resistance value calculated from the applied voltage value and a current value flowing between the circuit patterns. In the insulation inspection method for a printed circuit board for determining whether the insulation state between the circuit patterns is good or not, a spark detection time until a specified time elapses from the start of voltage application to the completion of voltage rise is set in advance. It is determined that the printed circuit board is defective when it is detected that the value of a current flowing between the circuit patterns has increased by a predetermined value or more within a spark detection time.
スパーク検出時間の終了時を電圧上昇完了時から規定時間経過後としたことにより、電圧上昇時だけでなく、その後の電圧安定時でのスパーク発生も確実に検出することができる。そして、そのスパーク検出時間に関して電圧上昇完了時からの規定時間を設定できるようにしたので、プリント基板の製造ロット等に応じて時間設定することにより、スパーク発生を適切に検出することができる。 By setting the end of the spark detection time after the lapse of the specified time from the completion of the voltage rise, it is possible to reliably detect not only the voltage rise but also the subsequent spark occurrence at the time of voltage stabilization. Since the specified time from the completion of the voltage rise can be set with respect to the spark detection time, the occurrence of the spark can be detected appropriately by setting the time according to the production lot of the printed circuit board.
本発明のプリント基板の絶縁検査装置において、前記印加電圧制御部は、前記印加電圧を、前記絶縁抵抗値を求めるための絶縁抵抗検出電圧又は該絶縁抵抗検出電圧よりも高いスパーク検出電圧のいずれかに制御するものであり、前記絶縁状態の良否を判定する絶縁状態判定部は、前記スパーク検出時間経過後に印加される前記絶縁抵抗検出電圧により前記回路パターン間の前記絶縁抵抗値を算出して絶縁状態の良否を判定するものであり、前記電流増加検出部は、前記スパーク検出時間内に印加された前記スパーク検出電圧による電流増加を検出するものであるとよい。 In the printed circuit board insulation inspection apparatus of the present invention, the applied voltage control unit is configured to determine whether the applied voltage is an insulation resistance detection voltage for obtaining the insulation resistance value or a spark detection voltage higher than the insulation resistance detection voltage. The insulation state determination unit for determining whether the insulation state is good or not calculates the insulation resistance value between the circuit patterns by the insulation resistance detection voltage applied after the spark detection time has elapsed. It is preferable to determine whether the state is good or not, and the current increase detection unit may detect an increase in current due to the spark detection voltage applied within the spark detection time.
本発明の絶縁検査方法においては、前記印加電圧を、前記絶縁抵抗値を求めるための絶縁抵抗検出電圧又は該絶縁抵抗検出電圧よりも高いスパーク検出電圧のいずれかに制御するとともに、前記スパーク検出時間内に前記スパーク検出電圧による電流値が所定値以上増加したことが検出された場合に前記プリント基板が不良品であると判定する。 In the insulation inspection method of the present invention, the applied voltage is controlled to either an insulation resistance detection voltage for obtaining the insulation resistance value or a spark detection voltage higher than the insulation resistance detection voltage, and the spark detection time. When it is detected that the current value due to the spark detection voltage has increased by a predetermined value or more, it is determined that the printed circuit board is defective.
スパーク検出のための電圧と絶縁抵抗算出のための電圧とを分けて制御したことにより、それぞれの検査に応じて最適な電圧を設定することができ、また、スパーク検出電圧を高電圧に設定することにより、スパーク発生を確実に検出することができる。 By controlling the spark detection voltage and the insulation resistance calculation voltage separately, the optimum voltage can be set according to each inspection, and the spark detection voltage is set to a high voltage. Thus, occurrence of a spark can be reliably detected.
本発明のプリント基板の絶縁検査装置において、前記印加電圧制御部は、さらに電圧印加開始時から前記電圧上昇完了時までの時間を設定することができる電圧上昇時間設定部を有するとよい。
瞬間的に印加電圧をかけるとスパークが瞬時に発生して検出が難しい場合があるが、そのような状況においても、電圧上昇時間を変更できるようにすることで、確実にスパークの発生を検出することができ、正確に基板の不良品の判定を行うことができる。
In the printed circuit board insulation inspection apparatus according to the present invention, the applied voltage control unit may further include a voltage rise time setting unit capable of setting a time from the start of voltage application to the completion of the voltage rise.
If an applied voltage is applied instantaneously, sparks may occur instantaneously and may be difficult to detect, but even in such situations, the occurrence of sparks can be reliably detected by enabling the voltage rise time to be changed. Therefore, it is possible to accurately determine defective substrates.
本発明のプリント基板の絶縁検査装置において、前記電流増加検出部は、さらに前記所定値以上の電流増加に要した時間を検出するものであり、前記スパーク判定部は、前記電流増加検出部により前記所定値以上の電流増加が検出された場合に、該電流増加に要した時間が予め定めた電流増加判定時間の範囲内であることを検出したときにプリント基板が不良品であると判定するものであるとよい。 In the insulation inspection apparatus for a printed circuit board according to the present invention, the current increase detection unit further detects a time required for the current increase equal to or greater than the predetermined value, and the spark determination unit is configured to detect the time by the current increase detection unit. When a current increase exceeding a predetermined value is detected, it is determined that the printed circuit board is defective when it is detected that the time required for the current increase is within a predetermined current increase determination time. It is good to be.
本発明の絶縁検査方法においては、電流値が所定値以上増加したことが検出された場合に、さらに電流値が所定値以上増加するまでに要した時間を検出し、その時間が予め定めた電流増加判定時間の範囲内であることを検出したときにプリント基板が不良品であると判定する。 In the insulation inspection method of the present invention, when it is detected that the current value has increased by a predetermined value or more, the time required for the current value to further increase by a predetermined value or more is detected, and the current is determined in advance. When it is detected that the increase determination time is within the range, the printed circuit board is determined to be defective.
この場合、前記スパーク判定部は、さらに前記電流増加判定時間を変更することができる電流増加判定時間設定部を有しているとよい。
本発明の絶縁検査方法においては、予め、電圧印加開始時から前記電圧上昇完了時までの時間を設定しておくとよい。
電流増加の検出に加えて、電流増加に要した時間が所定時間の範囲内であることを検出したときにプリント基板が不良品であると判定することで、ノイズによる誤判定を防止することができ、正確に基板の不良品の判定を行うことができる。
In this case, the spark determination unit may further include a current increase determination time setting unit that can change the current increase determination time.
In the insulation inspection method of the present invention, it is preferable to set in advance the time from the start of voltage application to the completion of the voltage increase.
In addition to detecting an increase in current, it is possible to prevent erroneous determination due to noise by determining that the printed circuit board is defective when detecting that the time required for the increase in current is within a predetermined time range. It is possible to accurately determine defective substrates.
また、本発明のプリント基板の絶縁検査方法において、電圧印加開始して所定時間経過後から前記回路パターン間に流れる電流の検出を開始するとよい。
電圧印加開始直後は電気信号の不安定な状態が生じるため、誤判定防止のため、その時間を避けて電流検出を開始する。
In the printed circuit board insulation inspection method of the present invention, detection of a current flowing between the circuit patterns may be started after a predetermined time has elapsed since the start of voltage application.
Immediately after the start of voltage application, an unstable state of the electrical signal occurs, so that current detection is started avoiding that time in order to prevent erroneous determination.
本発明によれば、電圧上昇時だけでなく、その後の電圧安定時でのスパーク発生も確実に検出することができるとともに、そのスパーク検出時間をプリント基板の製造ロット等に応じて設定することにより、スパーク発生を確実に検出して、検査精度を向上させることができる。 According to the present invention, it is possible to reliably detect the occurrence of sparks not only when the voltage rises but also when the voltage is stable thereafter, and by setting the spark detection time according to the production lot of the printed circuit board, etc. The occurrence of sparks can be reliably detected and the inspection accuracy can be improved.
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
第1実施形態におけるプリント基板の絶縁検査装置は、プリント基板1上の複数の回路パターンC1〜C4間の組み合わせについて絶縁検査を行うものであり、各回路パターンC1〜C4に接続される複数の切換スイッチA0〜A4,B0〜B4を有するスイッチ回路2、このスイッチ回路2の各切換スイッチA0〜A4,B0〜B4の開閉を制御するスイッチ切換制御部3、スイッチ回路2を介して回路パターンC1〜C4に電圧を印加する可変電圧源4、印加電圧制御部5、スイッチ回路2により可変電圧源4に接続状態とされた回路パターン間の電圧及び電流を検出する電圧検出部6及び電流検出部7、電圧印加後に電圧上昇が完了したことを検出する電圧上昇完了検出部8、電流値が所定値以上増加したか否かを検出する電流増加検出部9、後述するようにスパーク検出時間を設定するスパーク検出時間設定部10、主制御装置11及び表示装置12を有する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
The printed circuit board insulation inspection apparatus according to the first embodiment performs insulation inspection on a combination of a plurality of circuit patterns C1 to C4 on the
スイッチ回路2は、可変電圧源4の+側に接続された+側主切換スイッチA0、及び−側に接続された−側主切換スイッチB0を有するとともに、+側主切換スイッチA0に、各回路パターンC1〜C4に接続された+側切換スイッチA1〜A4が並列に接続され、−側主切換スイッチB0に、各回路パターンC1〜C4に接続された−側切換スイッチB1〜B4が並列に接続された構成である。
そして、スイッチ切換制御部3により、図1に示す4個の回路パターンC1〜C4の場合、表1に示すように各切換スイッチA0〜A4,B0〜B4の開閉(ON/OFF)が制御される。表1において空欄はOFFの状態を示している。
The
In the case of the four circuit patterns C1 to C4 shown in FIG. 1, the switch
表1に示すように、まず、検査1回目において、回路パターンC1及び回路パターンC2のそれぞれの+側切換スイッチA1,A2を接続状態(ON)とするとともに、回路パターンC3及び回路パターンC4の−側切換スイッチB3,B4を接続状態(ON)とする。このとき、主切換スイッチA0,B0はいずれも開放状態(OFF)としておく。そして、−側主切換スイッチB0から+側主切換スイッチA0の順で接続状態(ON)とすることにより、各回路パターンC1〜C4に電圧を印加する。この検査1回目においては、回路パターンC1と回路パターンC3との間、回路パターンC1と回路パターンC4との間、回路パターンC2と回路パターンC3との間、回路パターンC2と回路パターンC4との間の絶縁状態がそれぞれ検査される。 As shown in Table 1, first, in the first inspection, the + side changeover switches A1 and A2 of the circuit pattern C1 and the circuit pattern C2 are set to the connection state (ON), and the − of the circuit pattern C3 and the circuit pattern C4 is − The side change-over switches B3 and B4 are set to the connected state (ON). At this time, both the main changeover switches A0 and B0 are set in the open state (OFF). And a voltage is applied to each circuit pattern C1-C4 by making it a connection state (ON) in order of-side main selector switch B0 to + side main selector switch A0. In the first inspection, between the circuit pattern C1 and the circuit pattern C3, between the circuit pattern C1 and the circuit pattern C4, between the circuit pattern C2 and the circuit pattern C3, and between the circuit pattern C2 and the circuit pattern C4. Each insulation state is inspected.
次いで、検査2回目では、回路パターンC1の+側切換スイッチA1が接続状態(ON)とされるとともに、回路パターンC2の−側切換スイッチB2が接続状態(ON)とされることにより、両主切換スイッチA0,B0を−側から順に接続状態(ON)とすると、回路パターンC1と回路パターンC2との間の絶縁状態が検査される。
検査3回目においては、回路パターンC3の+側切換スイッチA3が接続状態(ON)とされるとともに、回路パターンC4の−側切換スイッチB4が接続状態(ON)とされることにより、同様に両主切換スイッチA0,B0を−側から順に接続状態(ON)とすると、回路パターンC3と回路パターンC4との間の絶縁状態が検査される。
以上の各切換スイッチの操作により、4個の回路パターンC1〜C4のすべての組み合わせによる絶縁状態が検査される。
Next, in the second inspection, the + side changeover switch A1 of the circuit pattern C1 is connected (ON) and the − side changeover switch B2 of the circuit pattern C2 is connected (ON). When the changeover switches A0 and B0 are sequentially connected from the negative side (ON), the insulation state between the circuit pattern C1 and the circuit pattern C2 is inspected.
In the third inspection, the + side changeover switch A3 of the circuit pattern C3 is connected (ON) and the − side changeover switch B4 of the circuit pattern C4 is connected (ON). When the main changeover switches A0 and B0 are sequentially connected from the negative side (ON), the insulation state between the circuit pattern C3 and the circuit pattern C4 is inspected.
By operating the changeover switches described above, the insulation state of all combinations of the four circuit patterns C1 to C4 is inspected.
印加電圧制御部5は、可変電圧源4による印加電圧を制御するもので、操作者によりその印加電圧を変更することができる機能を備えている。
電圧検出部6及び電流検出部7は、電圧計13又は電流計14からのアナログの検出信号をデジタル信号に変換するA/D変換器を備えており、その検出信号に基づき電圧又は電流を検出する。
電圧上昇完了検出部8は、電圧検出部6から出力される電圧信号を所定周期でサンプリングし、そのサンプリングした電圧信号が印加電圧制御部5で設定した規定電圧に達した場合に、印加電圧の上昇が完了したと検出し、上昇完了信号を出力する。
電流増加検出部9は、電流検出部7から出力される電流信号を所定周期でサンプリングし、前回電流信号と今回電流信号とを比較して、電流値が所定値以上増加した場合に電流増加信号を出力する。
The applied
The
The voltage rise
The current
主制御装置11には、CPU21、メモリ22、各部との間のデータ通信のためのデータ通信部23等が設けられており、スパーク検出時間設定部10により設定されたスパーク検出時間内にスパークが発生したか否かを判定するスパーク判定部25、スパーク検出の後に行われる絶縁検査において絶縁状態を判定する絶縁状態判定部26の機能を備えている。
スパーク検出時間設定部10は、電圧上昇完了検出部8で電圧上昇完了時を検出してからの規定時間を設定するものであり、操作者により規定時間を変更することができる機能を有している。スパーク検出時間は、電圧印加開始してから所定時間経過後に開始し、電圧上昇完了時から規定時間経過後に終了するまでの時間であり、その間に電流増加検出部9により所定値以上の電流増加が検出される。
The
The spark detection
このスパーク検出時間について図2及び図3により説明すると、回路パターン間のスパークは、図2に示すように印加電圧の上昇中に発生する場合と、図3に示すように印加電圧の上昇完了後に発生する場合とがある。
これらの図において、t0は電圧印加開始時であり、このt0から所定時間経過後の時刻t1から電流検出が開始される。このt0からt1までの時間は電圧印加直後の電気信号の不安定な期間であり、誤判定防止のため、この時間経過を待って電流検出される。そして、図2では電圧上昇中にスパークが発生することにより、電圧降下が生じるとともに電流値が瞬間的に増加している。
The spark detection time will be described with reference to FIG. 2 and FIG. 3. A spark between circuit patterns occurs when the applied voltage is increased as shown in FIG. 2, and after the applied voltage is increased as shown in FIG. It may occur.
In these figures, t0 is a voltage application start time, and current detection is started at time t1 after a predetermined time has elapsed from t0. The time from t0 to t1 is an unstable period of the electric signal immediately after the voltage application, and current detection is performed after this time elapses to prevent erroneous determination. In FIG. 2, a spark is generated during the voltage rise, resulting in a voltage drop and an instantaneous increase in the current value.
両図においてt2は電圧上昇完了時を示しており、図3では、この時刻t2以降にスパークが発生し、電圧降下と電流値の瞬間的な増加が生じている。また、t3は電流増加検出の終了時を示しており、電圧上昇完了時t2を起点としt3までの時間が前述した規定時間である。そして、t1からt3までの間が電流増加を検出する時間、すなわちスパーク検出時間である。前述のスパーク検出時間設定部10は、電圧上昇完了時からt3までの規定時間を設定するものであり、このt3は、電圧上昇完了時のt2以降でのみ設定でき、t2に達する前の時刻を設定できないようにロックされている。
なお、前述の電流増加検出部9は、図2及び図3に示すように、所定周期でサンプリングした前回電流信号I1と今回電流信号I2とを比較して、これらの差(I2−I1)が所定値以上増加した場合に電流増加信号を出力する。
In both figures, t2 indicates the time when the voltage increase is completed. In FIG. 3, a spark occurs after this time t2, and a voltage drop and an instantaneous increase in the current value occur. Further, t3 indicates the end of the current increase detection, and the time from the time t2 when the voltage increase is completed to the time t3 is the specified time described above. A period from t1 to t3 is a time for detecting an increase in current, that is, a spark detection time. The spark detection
As shown in FIGS. 2 and 3, the current
スパーク判定部25は、スパーク検出時間内に電流増加検出部9から電流増加信号が出力された場合にスパーク発生と判定する。
絶縁状態判定部26は、電圧検出部6及び電流検出部7からの検出信号をもとに絶縁抵抗値を算出し、この絶縁抵抗値が予め定めた判定抵抗値以下である場合に絶縁不良であると判定する。
The
The insulation
次に、以上のように構成した絶縁検査装置により、プリント基板1の絶縁検査を行う方法の第1実施形態について、図4のフローチャートにしたがって説明する。
まず、印加電圧制御部5により印加すべき電圧を設定するとともに、スパーク検出時間設定部10によりスパーク検出時間(実際には電圧上昇完了時t2からt3までの規定時間)を設定する(ステップS1)。
Next, a first embodiment of a method for performing an insulation inspection of the printed
First, the voltage to be applied is set by the applied
次に、表1にしたがって、+側切換スイッチA1〜A4の中の1つ以上をONとし(ステップS2)、−側切換スイッチB1〜B4の中の1つ以上をONとする(ステップS3)。
そして、−側主切換スイッチB0をONにした(ステップS4)後、+側主切換スイッチA0をONにする(ステップS5)。その後、所定時間(t1−t0)経過を待って(ステップS6)から、電流検出部7により電流検出を開始する(ステップS7)。
Next, according to Table 1, one or more of the + side change-over switches A1 to A4 are turned ON (step S2), and one or more of the − side changeover switches B1 to B4 are turned ON (step S3). .
Then, after the-side main selector switch B0 is turned on (step S4), the + side main selector switch A0 is turned on (step S5). Thereafter, after a predetermined time (t1-t0) has elapsed (step S6), the
そして、電流検出部7から出力される電流信号が所定周期でサンプリングされ、電流増加検出部9において前回電流信号と今回電流信号とが比較され、その結果、電流値が所定値以上増加したことが検出されたか否かを判定する(ステップS8)。ステップS8で所定値以上の電流増加を検出したと判定できない場合(NOの場合)、電圧上昇完了時から規定時間が経過したか否か(つまりスパーク検出時間が経過したか否か)を判定する(ステップS9)。この電圧上昇完了時から規定時間が経過したか否かは、電圧上昇完了検出部8において上昇完了信号が出力されてから、スパーク検出時間設定部10で設定した規定時間が経過したか否かにより判定される。そして、規定時間経過したと判定できない場合(ステップS9でNOの場合)には、ステップS8に戻って、規定時間経過まで所定値以上電流増加したか否かの検出を続ける。ステップS8で、電流増加検出部9からの電流増加信号により、所定値以上の電流増加を検出したと判定された場合(YESの場合)は、スパーク発生を検出したものとして、そのプリント基板が不良品であると判定する(ステップS10)。
Then, the current signal output from the
ステップS9で電圧上昇完了時から規定時間が経過したと判定されたら(YESの場合)、電圧検出部6及び電流検出部7により、電圧Vと回路パターン間に流れる電流iとを検出する(ステップS11)。そして、これら電圧Vと電流iとから絶縁状態判定部26により回路パターン間の抵抗値Rを算出し(ステップS12)、算出した抵抗値Rと予め設定した判定抵抗値Rjとを比較し、算出した抵抗値Rが判定抵抗値Rj以上であるか否かを判定する(ステップS13)。算出した抵抗値Rが判定抵抗値Rj以上であると判定できない場合(ステップS13でNOの場合)は、その回路パターンの組み合わせを絶縁不良箇所として記憶し(ステップS14)、全切換スイッチA0〜A4,B0〜B4をOFFにする(ステップS15)。ステップS13で抵抗値Rが判定抵抗値Rj以上であると判定された場合(YESの場合)には、その回路パターン間の絶縁状態は良好であるので、ステップS15に進む。
If it is determined in step S9 that the specified time has elapsed since the completion of the voltage increase (in the case of YES), the
ステップS15で全切換スイッチA0〜A4,B0〜B4をOFFにした後、全ての回路パターンの組み合わせについての検査が終了したか否かを判定し(ステップS16)、終了したと判定できない場合(NOの場合)は、ステップS2に進み、表1にしたがって次の回路パターンの組み合わせに関して今までと同様の検査を実施する。
ステップS16で全ての回路パターンの組み合わせについての検査が終了したと判定した場合(YESの場合)には、記憶していた絶縁不良箇所があるか否かを判定し(ステップS17)、絶縁不良箇所があると判定した場合(YESの場合)はその基板は不良品であると判定され(ステップ18)、絶縁不良箇所があると判定できない場合(NOの場合)は基板が良品であると判定される(ステップS19)。
最後に、全切換スイッチA0〜A4,B0〜B4をOFFの状態にして(ステップS20)、検査処理を終了する。
After all the switches A0 to A4 and B0 to B4 are turned OFF in step S15, it is determined whether or not the inspection for all the circuit pattern combinations has been completed (step S16). In the case of (1), the process proceeds to step
If it is determined in step S16 that the inspection for all combinations of circuit patterns has been completed (in the case of YES), it is determined whether or not there is a stored insulation failure location (step S17). If it is determined that there is a defect (in the case of YES), it is determined that the substrate is defective (step 18), and if it is not possible to determine that there is a defective insulation portion (in the case of NO), it is determined that the substrate is non-defective. (Step S19).
Finally, all the change-over switches A0 to A4 and B0 to B4 are turned off (step S20), and the inspection process is terminated.
以上の一連の絶縁検査方法において、ステップS1のスパーク検出時間(実際には電圧上昇完了時t2からt3までの規定時間)は、検査対象であるプリント基板1の品種、製造ロット等に応じて適切な値が設定される。この場合、前述したように、電圧上昇完了時からの規定時間経過時刻t3は、電圧上昇完了時t2以降の時間帯でのみ設定でき、t2に至る前の時間帯では設定できないようにされているので、スパーク検出時間としては、t2に至る前の時間帯も含まれ、図2に示す電圧上昇時のスパーク発生を検出できるのはもちろん、図3に示す電圧安定時でのスパーク発生も確実に検出することができる。
また、特許文献1記載の発明のように電圧降下ではなく、所定値以上の電流増加を検出してスパーク発生の有無を検出しているとともに、ステップS7までの間で切換スイッチをONにしてから所定時間(t1−t0)経過した後に電流検出を開始しており、電圧印加直後の電流が不安定な状態の影響を受けることなく、スパーク発生を検出することができる。
In the above series of insulation inspection methods, the spark detection time in step S1 (actually, the specified time from t2 to t3 when the voltage rise is completed) is appropriate according to the type, production lot, etc. of the printed
Further, as in the invention described in
特許文献1記載の発明のように電圧降下によってスパーク発生を検出する場合、印加する電圧を供給する電源性能によっては、例えば定電圧電源等の場合には、スパークにより発生する回路パターン間の電圧降下の値が小さく、このため、電圧降下を検出できずに、スパーク発生を確実に検出することができない可能性がある。また、電圧印加開始から電圧を検出する場合、電圧印加直後に電気信号が不安定となる状態が発生すると、誤って電圧降下として検出してしまい、誤判定となるおそれがある。
本実施形態では、電圧印加直後の不安定期を避けて図2及び図3に示す時刻t1から電流増加を検出するようにしたので、誤判定を生じることなく、確実にスパーク発生を検出することができる。
When the occurrence of a spark is detected by a voltage drop as in the invention described in
In this embodiment, since an increase in current is detected from time t1 shown in FIGS. 2 and 3 while avoiding an unstable period immediately after voltage application, it is possible to reliably detect the occurrence of a spark without causing erroneous determination. it can.
図5及び図6は本発明の第2実施形態のブロック図とフローチャートを示しており、印加電圧に関して、その電圧上昇完了時までの時間を任意の時間に設定することができるようにしたものである。印加電圧制御部5に、電圧印加開始時から電圧上昇完了時までの時間を設定することができる電圧上昇時間設定部31が設けられる。その他の構成要素は図1の実施形態と同様であるので図5に図1と同一符号を付して説明を省略する。また、図6においても図4のフローチャートと共通する処理には同一符号を付して説明を簡略化する(図7以降においても同様とする)。
FIGS. 5 and 6 show a block diagram and a flowchart of the second embodiment of the present invention. The applied voltage can be set to an arbitrary time until the voltage rise is completed. is there. The applied
まず、最初に印加電圧を0Vに設定し、スパーク検出時間を設定するとともに、目標とする電圧上昇時間を設定する(ステップS25)。そして、図4に示す第1実施形態と同様のステップS2〜ステップS5までの処理を実行した後、電圧値と電圧上昇時間から単位時間当たりの電圧上昇値を算出し(ステップS26)、その単位時間当たりの電圧上昇値による電圧上昇を開始する(ステップS27)。そして、第1実施形態と同様のステップS6〜ステップS8までの処理を実行した後、電圧上昇完了検出部8からの上昇完了信号により、設定した電圧上昇時間が経過したか否かを判定し(ステップS28)、電圧上昇時間が経過したと判定された場合(YESの場合)は電圧上昇を停止し(ステップS29)、ステップS9の処理を実行する。ステップS28で電圧上昇時間が経過したと判定できない場合(NOの場合)は、ステップS9の処理に進み、以降、第1実施形態と同様の処理がなされる。
First, the applied voltage is first set to 0 V, the spark detection time is set, and the target voltage rise time is set (step S25). And after performing the process from step S2 to step S5 similar to the first embodiment shown in FIG. 4, a voltage rise value per unit time is calculated from the voltage value and the voltage rise time (step S26), and the unit The voltage increase by the voltage increase value per time is started (step S27). And after performing the process from step S6 to step S8 similar to 1st Embodiment, it is determined by the rise completion signal from the voltage rise
この第2実施形態では、印加電圧開始時から前記電圧上昇完了時までの時間を任意に設定することができるようにしたことにより、瞬間的に印加電圧をかけるとスパークが瞬時に発生して検出が難しい場合でも、電圧上昇時間を適切に設定することで、確実にスパークの発生を検出することができ、正確に基板の不良品の判定を行うことができる。 In the second embodiment, since the time from the start of the applied voltage to the completion of the voltage rise can be arbitrarily set, a spark is instantaneously detected when the applied voltage is applied instantaneously. Even when it is difficult, by appropriately setting the voltage rise time, it is possible to reliably detect the occurrence of sparks and to accurately determine defective substrates.
図7及び図8は本発明の第3実施形態のフローチャートを示しており、スパーク発生検出を所定値以上の電流増加だけでなく、その電流増加に要した時間が予め定めた電流増加判定時間の範囲内であることも要件とした実施形態である。この電流増加に要した時間の検出機能は電流増加検出部9に備えられ、電流増加に関する判定時間の設定及びその判定時間と実際の電流増加に要した時間との比較等の機能はスパーク判定部25に備えられ、スパーク判定部25には、プリント基板のロット等に応じて判定時間を適切な時間に変更することができる電流増加判定時間設定部32が設けられる。そして、電流増加検出部9で、電流増加信号に加えて、電流増加に要した時間に関する信号が出力され、その電流増加時間が電流増加判定時間の範囲内である場合に、スパーク判定部25では、スパークが発生したと判定される。その他の構成要素は図1の実施形態と同様である。
FIG. 7 and FIG. 8 show a flowchart of the third embodiment of the present invention. In addition to the current increase exceeding the predetermined value, the time required for the current increase is determined as a predetermined current increase determination time. It is an embodiment in which the requirement is also within the range. A function for detecting the time required for the current increase is provided in the current
この第3実施形態では、最初に印加電圧を設定し、スパーク検出時間を設定するとともに、電流増加に関する判定時間を設定する(ステップS31)。そして、図4に示す第1実施形態と同様のステップS2〜ステップS5までの処理を実行した後、ステップS8で電流検出部7から出力される電流信号を所定周期でサンプリングし、電流値が所定値以上増加したか否かを判定し、電流増加を検出したと判定された場合(YESの場合)、さらに、その電流増加に要した時間が電流増加判定時間の範囲内であるか否かを判定し(ステップS32)、判定時間の範囲内であると判定された場合(YESの場合)に、スパーク発生を検出したものとして、そのプリント基板が不良品であると判定する(ステップS10)。
ステップS32で電流増加に要した時間が判定時間の範囲内であると判定できない場合(NOの場合)は、ステップS9に進み、以降、図4の第1実施形態と同様の処理がなされる。
このように、電流増加の検出に加えて、電流増加に要した時間が所定の判定時間の範囲内であることを検出したときにプリント基板が不良品であると判定することで、ノイズによる誤判定を防止することができ、正確に基板の不良品の判定を行うことができる。
In the third embodiment, first, an applied voltage is set, a spark detection time is set, and a determination time for current increase is set (step S31). And after performing the process from step S2 to step S5 similar to 1st Embodiment shown in FIG. 4, the current signal output from the electric
If it cannot be determined in step S32 that the time required for the current increase is within the determination time range (in the case of NO), the process proceeds to step S9, and thereafter, the same processing as in the first embodiment of FIG. 4 is performed.
In this way, in addition to detecting an increase in current, it is determined that the printed circuit board is defective when it is detected that the time required for the increase in current is within a predetermined determination time range. The determination can be prevented, and a defective substrate can be accurately determined.
図9は本発明の第4実施形態のフローチャートを示しており、スパーク検出のための印加電圧と、絶縁抵抗算出のための印加電圧とを異なる値で設定するようにした実施形態である。
この実施形態では、印加電圧制御部5は、回路パターン間に印加する電圧を、スパーク発生を検出するためのスパーク検出電圧と、絶縁抵抗を算出するための絶縁抵抗検出電圧とのいずれかに設定する。スパーク検出電圧は絶縁抵抗検出電圧より高圧に設定され、例えば、スパーク検出電圧が200V、絶縁抵抗検出電圧が100Vに設定される。
FIG. 9 shows a flowchart of the fourth embodiment of the present invention, which is an embodiment in which an applied voltage for spark detection and an applied voltage for calculating insulation resistance are set to different values.
In this embodiment, the applied
まず、印加電圧をスパーク検出電圧Vsに設定するとともに、スパーク検出時間を設定する(ステップS35)。そして、図4の第1実施形態と同様のステップS2からステップS9までの処理を実行することにより、電圧上昇完了時から規定時間が経過するまでの間の電流増加信号に基づきスパークが発生したか否かを判定し(ステップS8及びステップS9)、その後、全切換スイッチをOFFにし(ステップS36)、全ての回路パターンの組み合わせについてスパーク検出検査が終了したか否かを判定し(ステップS37)、全ての検査が終了したと判定できない場合(NOの場合)、ステップS2からの処理を表1の順に繰り返す。
そして、ステップS37で全ての検査(スパーク検出検査)が終了したと判定された場合(YESの場合)には、印加電圧を絶縁抵抗検出電圧Viに設定し(ステップS38)、各回路パターン間の絶縁状態が検査される。
First, the applied voltage is set to the spark detection voltage Vs, and the spark detection time is set (step S35). Then, by performing the processing from step S2 to step S9 as in the first embodiment of FIG. 4, has a spark occurred based on the current increase signal from when the voltage increase is completed until the specified time elapses? (Step S8 and Step S9), and then turn off all the changeover switches (Step S36), determine whether or not the spark detection inspection has been completed for all combinations of circuit patterns (Step S37), When it is not possible to determine that all inspections have been completed (in the case of NO), the processing from step S2 is repeated in the order shown in Table 1.
If it is determined in step S37 that all inspections (spark detection inspection) have been completed (YES), the applied voltage is set to the insulation resistance detection voltage Vi (step S38), Insulation state is checked.
すなわち、−側主切換スイッチB0をONにする(ステップS39)とともに、+側主切換スイッチA0をONにし(ステップS40)、表1にしたがって、+側切換スイッチA1〜A4の中の1つ以上をONにし(ステップS41)、−側切換スイッチB1〜B4の中の1つ以上をONにして(ステップS42)、図4の第1実施形態と同様のステップS11以降の電圧V及び電流iから抵抗値Rを算出して絶縁状態の良否判定を行う処理が実行される。
この第4実施形態においては、スパーク検出電圧と絶縁抵抗検出電圧とに分けたので、それぞれの検査に応じて最適な電圧を設定することができ、また、スパーク検出電圧を絶縁抵抗検出電圧より高圧に設定して、より確実にスパーク発生を検出することができる。
That is, the -side main changeover switch B0 is turned on (step S39), the + side main changeover switch A0 is turned on (step S40), and one or more of the + side changeover switches A1 to A4 according to Table 1 are set. Is turned on (step S41), one or more of the negative side switches B1 to B4 are turned on (step S42), and the voltage V and current i after step S11 are the same as in the first embodiment of FIG. A process of calculating the resistance value R and determining whether the insulation state is good or bad is executed.
In the fourth embodiment, since the spark detection voltage and the insulation resistance detection voltage are divided, the optimum voltage can be set according to each inspection, and the spark detection voltage is higher than the insulation resistance detection voltage. It is possible to detect the occurrence of spark more reliably.
以上、本発明の各実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、各実施形態では、ステップS13で抵抗値Rと判定抵抗値Rjとを比較して、算出した抵抗値Rが判定抵抗値Rj以上でないと判定した場合(NOの場合)に、ステップS14で絶縁不良箇所を記憶し、全ての検査終了後に、記憶した絶縁不良箇所があったら不良品と判定したが、ステップS13の判定結果がNOの場合には、全ての検査終了まで処理を実行することなく、不良品であると判定するようにしてもよい。
その他、電流増加検出部9において、電流検出部7からの電流信号をサンプリングする間隔を変更できるようにしてもよく、これにより、ノイズ状態に合わせて検出間隔を設定することで確実にスパークの発生を検出することができ、より正確に不良品の判定を行うことができる。
また、電圧印加開始t0から電流検出開始t1までの時間を適宜に変更できるようにしてもよく、これにより、電圧印加開始直後の電気信号の不安定時間が変化しても、確実にスパークの発生を検出でき、正確に基板の不良品の判定を行うことができる。
While the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
For example, in each embodiment, when the resistance value R and the determination resistance value Rj are compared in step S13 and it is determined that the calculated resistance value R is not equal to or greater than the determination resistance value Rj (in the case of NO), in step S14 Insulation failure location is memorized, and after all the inspections are completed, if there is a memorized insulation failure location, it is determined as a defective product, but if the determination result in step S13 is NO, the processing is executed until all the inspections are completed. Alternatively, it may be determined that the product is defective.
In addition, the current
In addition, the time from the voltage application start t0 to the current detection start t1 may be appropriately changed, so that even if the unstable time of the electric signal immediately after the voltage application starts changes, the occurrence of sparks is ensured. Can be detected, and a defective substrate can be accurately determined.
1…プリント基板、2…スイッチ回路、3…スイッチ切換制御部、4…可変電圧源、5…印加電圧制御部、6…電圧検出部、7…電流検出部、8…電圧上昇完了検出部、9…電流増加検出部、10…スパーク検出時間設定部、11…制御装置、12…表示装置、13…電圧計、14…電流計、21…CPU、22…メモリ、23…データ通信部、24…スパーク検出時間設定部、25…スパーク判定部、26…絶縁状態判定部、31…電圧上昇時間設定部、32…電流増加判定時間設定部、A0…+側主切換スイッチ、A1〜A4…+側切換スイッチ、B0…−側主切換スイッチ、B1〜B4…−側切換スイッチ、C1〜C4…回路パターン
DESCRIPTION OF
Claims (9)
When it is detected that the current value has increased by a predetermined value or more, the time required for the current value to further increase by a predetermined value or more is detected, and the time is within the predetermined current increase determination time. 9. The method for inspecting insulation of a printed circuit board according to claim 6, wherein the printed circuit board is determined to be a defective product when detected.
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